JPS63132526A - 入力バツフア回路 - Google Patents

入力バツフア回路

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JPS63132526A
JPS63132526A JP61279936A JP27993686A JPS63132526A JP S63132526 A JPS63132526 A JP S63132526A JP 61279936 A JP61279936 A JP 61279936A JP 27993686 A JP27993686 A JP 27993686A JP S63132526 A JPS63132526 A JP S63132526A
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JP
Japan
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transistor
differential amplifier
circuit
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input buffer
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JP61279936A
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Yoshio Okada
芳夫 岡田
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Toshiba Corp
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00369Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
    • H03K19/00384Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、半導体集積回路で使用される入力バッファ
回路に関する。
(従来の技術) 半導体集積回路は年々高集積化、高速化の道をたどって
いるが、これに伴ってチップ自体が発生する自己ノイズ
の問題も増加する一方である。
この自己ノイズは、チップ内部の配線におけるインダク
タンス成分等によって引き起こされるものであり、特に
高集積化が施されるダイナツクRAMにおいては、この
自己ノイズよる電源線のレベル変動が大きい。
このようなダイナミックRAM等に使用されている入力
バッファ回路は、例えば第2図に示されているような構
成のもので、内部で発生させた基準電位V refと入
力信号Vlnの電位とをフリップフロップ部11で比較
および増幅して次段の回路へ出力するようになっている
上記フリップフロップ部11は、Pチャンネル型トラン
ジスタQl 、、Q2とNチャンネル型トランジスタQ
3 、Q4とを備えており、直列接続されたトランジス
タQl 、Q3の電流通路とトランジスタQ2 、Q4
の電流通路が電源VCCと、ラッチ信号LTCが供給さ
れる制御端子間に並列に接続されている。
トランジスタQlとQ3の接続点Nlには、トランジス
タQ2およびQ4のゲートがそれぞれ接続されると共に
、電源vccと接地端子Vssとの間に直列接続された
Pチャンネル型トランジスタQ5とNチャンネル型トラ
ンジスタQ6との接続点も接続されている。トランジス
タQ5のゲートは接地されており、トランジスタQ6の
ゲートには上記入力信号Vinが供給される。
一方、トランジスタQ2とQ4との接続点N2には、ト
ランジスタQ1およびQ3のゲートがそれぞれ接続され
ると共に、電源Vccと接地端子VSSとの間に直列接
続されたPチャンネル型トランジスタQ7とNチャンネ
ル型トランジスタQ8との接続点も接続されている。ト
ランジスタ7のゲートは接地されており、トランジスタ
Q8のゲートには、上記基準信号V rel’が供給さ
れている。
すなわち、入力信号Vlnの電位が基準信号V rer
の電位よりも大きい場合には、トランジスタQ6のコン
ダクタンスがトランジスタQ8のコンダクタンスよりも
大きくなるので、接続点N1の電位は接続点N2の電位
よりも低くなる。この結果、トランジスタQ2のコンダ
クタンスがトランジスタQ1よりも大きくなると共に、
トランジスタQ3のコンダクタンスがトランジスタQ4
よりも大きくなるので、接続点N2の電位は電源vcc
のレベルすなわち“1”レベルに近付き、接続点Nlの
電位はこの時のラッチ信号LTCのレベルすなわち°0
°レベルに近付く。
したがって、接続点N1を出力ノードとすれば“0°レ
ベルとなる反転出力信号子が得られ、接続点N2を出力
ノードとすれば“1ルベルとなる出力信号aが得られる
また、入力信号Vlnの電位が基準信号V rat’の
電位よりも小さい場合には、トランジスタQ6のコンダ
クタンスがトランジスタQ8よりも小さくなるので、接
続点Nlの電位は接続点N2の電位よりも高くなる。こ
の結果、トランジスタQlのコンダクタンスがトランジ
スタQ2よりも大きくなると共に、トランジスタQ4の
°コンダクタンスがトランジスタQ3よりも大きくなる
ので、接続点Nlの電位は電源Vccのレベルすなわち
al”レベルに近付き、接続点N2の電位はこの時のラ
ッチ信号LTCのレベルすなわち“0”レベルに近付く
したがって、接続点Nlを出力ノードとすれば“1“レ
ベルとなる反転出力信号iが得られ、接続点N2を出力
ノードとすれば“0”レベルとなる出力信号aが得られ
る。
このように、第2図に示した人力バッファ回路は、入力
信号V1nの電位が基■信号V rorの電位に比べて
大きいか小さいかを比較判断して次段への出力を決定す
る形式のものであるので、自己ノイズによる接地電位V
ssのレベル変動が発生してもその変動には直接影響さ
れずに出力信号を得ることができる。
しかしながら、この人力バッフ7回路にあっては、フリ
ップフロップ部11に保持された出力ノードNI SN
2の電位をリセットするためにラッチ信号LTCをハイ
レベルにして出力ノードN1、N2を初期状態の電位に
プリチャージする必要があるため、常にクロックと同期
させてしか入力信号Vinを入力できないと云う欠点が
ある。このため、スタティックRAM等の非同期なデバ
イスには使えないし、ダイナミックRAMでも最近では
カラム方向を非同期に動作させるモード(スタティック
・カラムモード)が要求されており、この場合のカラム
アドレスバッファとしては使用することができない。
第3図はメタティクRAM等の非同期なデバイスに使用
されている入力バッファ回路を示すもので、これはCM
OSインバータ回路から構成されている。
すなわち、電源Vccと接地端子Vssとの間にはPチ
ャンネル型トランジスタQ9とNチャンネル型トランジ
スタQIOの電流通路が直列接続されており、これらの
トランジスタQ9、QIOのゲートには入力信号Vin
が供給され、トランジスタQ9とQIOとの接続点から
出力信号aを取出す構成になっている。
このような人力バッファ回路にあっては、プリチャージ
動作が必要ないのでクロックと同期させる必要はなくな
る。しかしながら、自己ノイズ等による電源Vccまた
は接地電位Vssの変動が発生した場合には、このイン
バータ回路のしきい値も変動してしまうため、自己ノイ
ズに直接その動作が影響されて誤動作を起す場合がある
(発明が解決しようとする問題点) この発明は上記のような点に鑑みなされたもので、従来
の入力バッファ回路ではプリチャージ動作が必要で非同
期に動作させることができなかった点、また非同期に動
作する入力バッファ回路では電源(V cc、 V s
s)のレベル変動が発生した際にそのしきい値も変動し
てしまい正常に動作させることが困難であった点を改汲
し、非同期に動作することができ、且つ電源のレベル変
動に強く動作の信頼性の高い入力バッファ回路を提供し
ようとするものである。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) すなわち、この発明に係る入力バッファ回路にあっては
、しきい値が基準信号V rel’のみによって決定さ
れるため電源の変動には強いがそのコンダクタンスが変
動してしまう差動増幅器と、電源の変動によりしきい値
が変動してしまうがそのコンダクタンスは変動されない
インバータ回路とを入力信号Vlnに対して並列に接続
して入力バッフ7回路を構成し、この差動増幅器とイン
バータ回路とを相補的に動作させるようにしたものであ
る。
(作用) 上記差動増幅器は、非同期に動作し、そのしきい値が基
準信号のみによって決定される構造のためブaセスのバ
ラツキや電源のレベル変動に強いと云う特徴がある。ま
た、差動増幅器のコンダクタンスが極めて小さくなるよ
うな大きな電源ノイズが発生した場合には、上記インバ
ータ回路が作用し、入力バッファ回路全体としての最低
限のコンダクタンスは確保される。したがって、電源の
レベル変動に強く、しかも安定した動作が得られるよう
になる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明の詳細な説明する。第1
図はこの発明の一実施例に係る入力バッファ回路を示す
もので、この人カバツア回路にあっては、差動増幅器1
2とインバータ回路13が相補的に動作する構造となっ
ている。
非同期に動作する差動増幅器12は、Pチャンネル型M
OS)ランジスタQllSQ12と、Nチャンネル型M
OSトランジスタQ13、Q14とを備えており、トラ
ンジスタQllおよびQ12のソースは電源Vce(第
2の電位供給源)にそれぞれ接続され、これらのトラン
ジスタQll、Q12のゲートは互いに接続されている
。またトランジスタQllのゲートはそのドレインに接
続されている。すなわち、トランジスタQllとQ12
から成るカレントミラー回路がこの差動増幅器I2の定
電流源として動作する。
上記トランジスタQllのドレインにはNチャンネル型
MOSトランジスタQ13のドレインが接続され、この
トランジスタQ13のソースは接地すなわち第1の電位
供給源となる接地電源Vssに接続されでいる。また、
上記トランジスタQ12のドレインには、Nチャンネル
型MOS)ランジスタQ14のドレインが接続されてお
り、このトランジスタQ14のソースは接地されている
。すなわち、トランジスタ013、Q14は差動トラン
ジスタ対として動作するもので、トランジスタQL3の
ゲートには内部で発生した基準信号V ra「が供給さ
れ、トランジスタQ14のゲートには外部からの入力信
号Vinが供給される。この差動増幅器12の出力は、
トランジスタQ12とトランジスタQ14との接続点を
出力ノードとして取出される。
上記インバータ回路13は、電?f1.Vccと接地電
源VSSとの間にtF5′/iL通路が直列接続された
Pチャンネル型MOSランジスタQ15とNチャンネル
型MOS)ランジスタQ1Bとから構成されるCMOS
インバータであり、これらのトランジスタQ15、Ql
[iのゲートにも入力信号Vlnが供給される。
このインバータ回路13の出力ノードとなるトランジス
タQ15とQIBとの接続点は、差動増幅器12の出力
ノードに接続されている。したがって、この人力バッフ
ァ回路の出力信号aは、差動増幅器12からの出力とイ
ンバータ回路13からの出力との和になっている。
すなわち、入力信号Vlnの電位が基準信号V ref
’よりも小さい場合には、トランジスタQ13のコンダ
クタンスがトランジスタQ14よりも大きくなり、トラ
ンジスタQllおよびQl3に流れる電流値と等しい電
流が電源Vccから出力ノードNOIに流れ込む。この
結果、出力ノードNOIの電位は電源Vccの値に近付
き“1“レベルとなる。自己ノイズにより接地電位の値
が大きくなっている場合には、トランジスタQ13のコ
ンダクタンスが減少するため、電源VCCから出力ノー
ドNOIに流れる電流が減少して、この差動増幅器12
の動作速度が著しく減少する。しかしながら、この時に
は、インバータ回路13のトランジスタQ15がオン状
態となっているため、トランジスタQ15を介して電源
Vccから出力へ電流が流れ込むので、差動増幅器12
とインバータ回路13とから成る入力バッファ回路全体
として見れば、最低限の動作速度は確保される。
また、入力信号Vlnの電位が基準信号V rel’の
値よりも大きい場合には、トランジスタQL4のコンダ
クタンスがトランジスタQ13のコンダクタンスよりも
大きくなり、出力ノードNotの電位は接地電源Vss
すなわち“0”レベルとなるが、接地電源VSSに正の
ノイズがのっている時には、出力ノードNOIから引抜
かれる電流が減少する。しかしながら、この時には、イ
ンバータ回路13のトランジスタQ1Bがオン状態とな
っているため、このトランジスタQle側へも電流が引
抜かれる。したかって、この場合にも最低限の動作速度
は確保される。
このように、インバータ回路13は、ノイズ発生時にお
ける差動増幅器12のコンダクタンス変動を補うための
ものであるので、その素子面積は比較的小さなもので良
い。もちろん、差動増幅器12とインバータ回路13と
の大きさの関係は、使用する内部回路の特性に合せて決
定すれば良い。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、カレントミラー回路を
負荷とする差動増幅器とインバータ回路とが相補的に動
作することによって、非同期に動作し、且つ電源のレベ
ル変動に強く、シかもコンダクタンスの安定した入力バ
ッファ回路が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係る入力バッファ回路を
説明する回路構成図、第2図および第3図゛はそれぞれ
従来の人力バッファ回路を説明する回路構成図である。 12・・・差動増幅器、13・・・インバータ回路、Q
 11゜Ql2. Ql5・・・Pチャンネル型MOS
トランジスタ、Ql3.  Ql4.  Ql5・・・
Nチャンネ、ル型MOS)ランジスタ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一端が第1の電位供給源に共通接続され、それぞ
    れのゲートに基準信号および入力信号が供給される第1
    および第2のトランジスタと、これらのトランジスタの
    他端と第2の電位 供給源間に設けられるカレントミラー回路と、上記入力
    信号が供給され、その出力端が上 記第1あるいは第2のトランジスタの他端側に接続され
    るインバータ回路とを具備し、 上記インバータ回路の出力端から上記入力 信号に対応した出力信号を得ることを特徴とする入力バ
    ッファ回路。
  2. (2)上記インバータ回路はCMOS構成である特許請
    求の範囲第1項記載の入力バッファ回路。
JP61279936A 1986-11-25 1986-11-25 入力バツフア回路 Granted JPS63132526A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61279936A JPS63132526A (ja) 1986-11-25 1986-11-25 入力バツフア回路

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JP61279936A JPS63132526A (ja) 1986-11-25 1986-11-25 入力バツフア回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63132526A true JPS63132526A (ja) 1988-06-04
JPH0531325B2 JPH0531325B2 (ja) 1993-05-12

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ID=17617977

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61279936A Granted JPS63132526A (ja) 1986-11-25 1986-11-25 入力バツフア回路

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JP (1) JPS63132526A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5019729A (en) * 1988-07-27 1991-05-28 Kabushiki Kaisha Toshiba TTL to CMOS buffer circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5019729A (en) * 1988-07-27 1991-05-28 Kabushiki Kaisha Toshiba TTL to CMOS buffer circuit

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JPH0531325B2 (ja) 1993-05-12

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