JPS63121722A - 温度分布検出装置 - Google Patents

温度分布検出装置

Info

Publication number
JPS63121722A
JPS63121722A JP61267449A JP26744986A JPS63121722A JP S63121722 A JPS63121722 A JP S63121722A JP 61267449 A JP61267449 A JP 61267449A JP 26744986 A JP26744986 A JP 26744986A JP S63121722 A JPS63121722 A JP S63121722A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
light
temperature distribution
reflected
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61267449A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadashi Kimura
匡 木村
Kenichi Noda
健一 野田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOKYO NOUKOU UNIV
Original Assignee
TOKYO NOUKOU UNIV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOKYO NOUKOU UNIV filed Critical TOKYO NOUKOU UNIV
Priority to JP61267449A priority Critical patent/JPS63121722A/ja
Publication of JPS63121722A publication Critical patent/JPS63121722A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光学式温度分布測定装置、特に1個のセンサ
を用いて温度分布を同時に測定できる温度分布測定装置
に関するものである。
(従来の技術) 電気回路をはじめとする種々の装置においては各部分に
おける発熱量が相異し温度分布が生ずる場合が多いため
、温度分布を速やかに測定できる温度分布検出装置の開
発が強く要請されている。
従来、被測定領域の温度分布を測定する場合、例えば熱
電対のような温度センサを用い、複数の温度センサを所
望の位置に個別に配置し、各センサからの検出信号を個
別に増幅し、各測定位置に対応した温度を個別に検出し
て温度分布を検出している。
(発明が解決しようとする問題点) 熱電対等の複数の温度センサを各測定位置毎に配置し、
各温度センサからの検出信号に基づいて温度分布を測定
する方法では、分解能を高めるには多数のセンサが必要
となり、更に各センサ毎に増幅器が必要となり操作装置
の構造が複雑化すると共にコストが高くなる欠点があっ
た。また、1台の増幅器を用い、多数のセンサを順次切
り換えて温度検出して温度分布を求める構成とすれば、
コストを安価にできるが1回の測定に長時間がかかって
しまい、被測定領域の温度が時間と共に変化するため、
正確な温度分布が得られなくなってしまう不具合が生じ
てしまう。
従って、本発明の目的は上述した欠点を解消し、1個の
センサを用いて多数位置の温度をほぼ同時に測定できる
温度分布検出装置を提供するものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明による温度分布測定装置は、所定のパルス幅の光
束を放射する光源と、この光源から放射された光束を伝
送する光路領域を有し、温度に応じて反射が変化する複
数の光学素子が軸線方向に沿って所定の間隔で前記光路
領域内に埋設されている光伝送体と、前記各光学素子で
反射され光伝送体の入射経路に沿って送出される反射光
束を光路長の差に基づいて順次受光してパルス状の光電
出力信号を出力する光検出器と、この光検出器の出力信
号に基づいて温度分布を決定する手段とを具えることを
特徴とするものである。
更に、本発明による別の温度分布測定装置は、所定のパ
ルス幅の光束を放射する光源と、入射端からそれぞれ異
なる光路長の位置に温度に応じて反射率が異なる光学素
子がそれぞれとり付けられている複数の光伝送体からな
る光伝送体の束と、前記光学素子で反射され光伝送体の
入射伝送路に沿って送出されてくる反射光を光路長の差
に基づいて順次受光してパルス状の光電出力信号を出力
する光検出器と、この検出器の出力信号に基づいて温度
分布を決定する手段とを具えることを特徴とするもので
ある。
(作用) 光伝送体の軸線方向に沿って所定の間隔で、温度に応じ
て反射率が変化する複数の光学素子を埋設する。そして
、光伝送体の入射端からパルス状の光束を放射する。こ
の入射光束は光伝送体内を伝播し、入射端に近い側の光
学素子から順次反射される。各光学素子で反射された反
射光は再び入射経路に沿って伝播し、光検出器に順次入
射する。
各光学素子からの反射光は光路長に応じた遅延時間を以
て順次光検出器に入射するから、光検出器から各測定位
置に応じた温度情報を表すパルス状の出力信号が遅延時
間に応じて順次出力され、はぼ同時に複数の測定位置の
温度が測定されることになる。この場合、分解能は光源
から放射される光パルスのパルス幅によって主に定まる
が、I GHz程度の光パルスを放射できるレーザ光源
を用いれば高分解能の温度分布を正確に検出することが
できる。
(実施例) 第1図は本発明による温度分布検出装置の一実施例の構
成を示すものである。トリガパルス発生器1を光パルス
駆動回路2に接続して十分にパルス幅の短いパルス駆動
電流を発生させ、このパルス駆動電流を半導体レーザ3
に供給してパルス状の光束を放射する。この放射光束の
パルス幅は短い程分解能が高くなるため、本例では1 
n5ecのパルス幅の光束を放射するものとする。半導
体レーザ3から放射された光パルスはコリメータレンズ
4によって平行光束とし、ビームスプリッタとして作用
する直角プリズム5に入射する。直角プリズム5を透過
した光パルスは集光レンズ6によって集光されてセンサ
部を構成する光プラスチックファイバ7の入射端7aに
入射する。この光プラスチックファイバ7は、ポリメチ
ルメタクリレートのような光学的に透明で高屈折率材料
から成るファイバの外周面上に低屈折率の被覆層を形成
した構成とし、光路領域の屈折率と外周面上の被覆層の
屈折率との差を利用して入射光を伝播させる。
従って入射した光パルスは外周面で反射を繰り返しなが
ら光路内を伝播する。
第2図a及びbはセンサ部の構成を示す斜視図及び線図
的断面図である。プラスチック光ファイバ7の外周面に
、その長手軸線方向に沿って20cmの間隔で円周方向
に延在する断面がV形の溝を形成し、このV形の溝内に
温度に応じて反射率が変化する光学素子8を埋め込む。
温度に応じて反射率が変化する光学材料として、例えば
液晶材料があり、本例では光学素子8として液晶を用い
る。
尚、光学素子8の配置間隔及び光路内の埋設深さは、光
パルスの入射側に配置した光学素子が後段側の光学素子
の影とならないように配置する。光プラスチックファイ
バ7に入射した光パルスはその外周面で反射を繰り返し
ながら伝播するため、光パルスの一部の光束は光学素子
8aで反射し再び入射経路に沿って入射端7aに向けて
伝播する。
一方、光学素子8aで反射しなかった光束は更に伝播し
、その一部は次段の光学素子8bで反射し再び入射端に
向けて伝播する。更に光学素子8bで反射しなかった光
束は、その一部が次段の光学素子8cで反射し再び入射
端に向けて伝播する。
従って、光プラスチックファイバ7に入射した光パルス
は、その一部分の光束が光学素子8a〜8cによって、
順次反射され入射端に向けて進行することになる。尚、
光プラスチックファイバ7の入射側と反対側の端部7b
には全反射面を形成し、各光学素子によって反射されな
かった光束を入射端に向けて反射するものとする。各光
学素子8a〜8cで反射された光束は再び入射経路を伝
播し、入射端7aを経て集光レンズ6を透過し、直角プ
リズム5の反射面5aで反射され光検出器9に順次入射
する。この光検出器9は数GHzの光パルスを検出でき
るアバランシェフォトダイオードとする。このように構
成すれば、第1番目の光学素子8aで反射した光束が光
検出器9に入射する時刻を基準とすれば、第2番目の光
学素子8bで反射した光束は時間2nd/c(Hは光プ
ラスチックファイバの屈折率、dは光学素子間の距離、
Cは真空中の光速)だけ遅れて光検出器9に入射し、第
3番目の光学素子8Cで反射した光束は時間4nd/C
だけ遅れて入射することになる。従って、光検出器9は
各光学素子8a〜8Cの反射率に応じたパルス状の光電
出力信号を出力する。光検出器9からの光電出力信号を
増幅器10で増幅してからオシロスコープ11に供給し
、トリガパルス発生器1からのトリガ信号に基づいてサ
ンプリングして温度分布を観測する。更に、増幅器10
からの出力信号をウェーブメモリー2に供給し、マイク
ロコンピュータ13の制御のもとて補正処理や平均化等
の種々の処理を行うことができる。
第3図にサンプリングオシロスコープ11に観測される
温度分布の一例を示す。横軸は遅延時間を示し、縦軸は
反射光強度を示す。本例では19個の光学素子を20c
mの間隔で埋め込み、1 n5ecのパルス幅のレーザ
光を投射して温度分布を測定した。
パルス20は光プラスチックファイバの入射端面での反
射光を示し、パルス21は入射端と反対側の端面での反
射光を示す。第3図から明らかなように、光プラスチッ
クファイバの入射端に近い側の光学素子からの反射光か
ら順次パルス状の光電出力信号が観測される。反射光強
度中にはレーリー散乱による要素が含まれており、この
レーリー散乱によって反射光強度は指数関数的に減少す
る。従って、温度分布を決定するにあたりレーリー散乱
による成分(図中、破線で示す)を除去する必要があり
、例えば図中C点においては全反射光強度ACからレー
リー散乱による反射光成分Bcを除去する。
従って0点における反射光強度はABとなる。この結果
、2木の破線によって挟まれた強度分布によって温度分
布が示されることになる。尚、本発明による温度分布検
出装置の分解能は、レーザ光のパルス幅によってほぼ定
まるため、分解能を高めるにはレーザ光のパルス幅をで
きるだけ小さくし、これに応じて光学素子の間隔を小さ
くすることが望ましい。
第4図は本発明による別の温度分布検出装置の構成を示
す線図である。本例ではレーザ光源から放射した光束を
コリメータレンズ30によって比較的大きな光束径の平
行光束とし、この平行光束を複数の光プラスチックファ
イバの束31の入射端31aに入射させる。そして、・
各光プラスチックファイバの長さをそれぞれ所定の距離
dだけ相異させ、各光プラスチックファイバの端部に液
晶を32を固着する。このように構成すれば、各光プラ
スチックファイバを伝播し、端部の液晶で反射した各反
射光が光路差に応じた遅延時間を以て光検出器9に順次
入射するので、各光プラスチックファイバの端部の温度
に応じた光電出力を順次検出して温度分布を求めること
ができる。この結果、1個の光源及び1個の光検出器を
用いて所望の複数の位置の温度を略々同時に検出して温
度分布を測定することができる。特に、光プラスチック
ファイバは可撓性を有しているから、入射端を固定し液
晶が取り付けられている端部を任意の位置に配置するこ
とができ、所望の位置に応じた温度分布を測定すること
ができる。
本発明は上述した実施例だけに限定されるものではなく
種々の変形が可能がある。上述した実施例では光伝送体
として光プラスチックファイバを用いたが、サファイヤ
ロンド等種々の光伝送体を用いることができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、1本の光伝送体の
入射端からそれぞれ光路長の異なる位置に温度に応じて
反射率が変化する光学素子を埋め込み、光路長の差を利
用して各光学素子からの反射光を光検出器で順次受光す
る構成としているから、1個のセンサを用いて複数の位
置の温度をほぼ同時に測定することができる。
また、光路長がそれぞれ異なる複数の光伝送体の束を用
い、各光伝送体の端部にそれぞれ温度に応じて反射率の
異なる光学素子を取り付け、光源からの平行光束を光伝
送体の束の入射端に入射させれば、各光伝送体の光学素
子からの反射光を光路差を利用して順次検出することが
できる。この結果、1回の測定で複数の位置における温
度を同時に測定することができる。特に、光伝送体とし
て可撓性を有する光プラスチックファイバを用いれば複
数の所望の位置における温度を同時に測定することがで
きる。
更に、数GHz程度の光パルスを放射できるレーザダイ
オードが開発されており、このようなレーザダイオード
を用いれば、高分解能で温度分布を測定することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による温度分布検出装置の一例の構成を
示す線図、 第2図a及びbはセンサ部分の構成を示す斜視図及び線
図的断面図、 第3図は観測波形の一例を示すグラフ、第4図は本発明
の温度分布検出装置の別の構成を示す線図である。 1・・・トリガパルス発生器 2・・・光パルス駆動回
路3・・・半導体レーザ 4.30・・・コリメータレンズ 5・・・直角プリズム    6・・・集光レンズ7・
・・光プラスチックファイバ 8・・・光学素子      9・・・光検出器10・
・・増幅器11・・・オシロスコープ12・・・ウェー
ブメモリ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、所定のパルス幅の光束を放射する光源と、この光源
    から放射された光束を伝送する光路領域を有し、温度に
    応じて反射が変化する複数の光学素子が軸線方向に沿っ
    て所定の間隔で前記光路領域内に埋設されている光伝送
    体と、前記各光学素子で反射され光伝送体の入射経路に
    沿って送出される反射光束を光路長の差に基づいて順次
    受光してパルス状の光電出力信号を出力する光検出器と
    、この光検出器の出力信号に基づいて温度分布を決定す
    る手段とを具えることを特徴とする温度分布検出装置。 2、所定のパルス幅の光束を放射する光源と、入射端か
    らそれぞれ異なる光路長の位置に温度に応じて反射率が
    異なる光学素子がそれぞれとり付けられている複数の光
    伝送体からなる光伝送体の束と、前記光学素子で反射さ
    れ光伝送体の入射伝送路に沿って送出されてくる反射光
    を光路長の差に基づいて順次受光してパルス状の光電出
    力信号を出力する光検出器と、この検出器の出力信号に
    基づいて温度分布を決定する手段とを具えることを特徴
    とする温度分布検出装置。
JP61267449A 1986-11-12 1986-11-12 温度分布検出装置 Pending JPS63121722A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61267449A JPS63121722A (ja) 1986-11-12 1986-11-12 温度分布検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61267449A JPS63121722A (ja) 1986-11-12 1986-11-12 温度分布検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63121722A true JPS63121722A (ja) 1988-05-25

Family

ID=17444998

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61267449A Pending JPS63121722A (ja) 1986-11-12 1986-11-12 温度分布検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63121722A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006112826A (ja) * 2004-10-12 2006-04-27 Tokyo Electron Ltd 温度測定装置,温度測定方法,温度測定システム,制御システム,制御方法
JP2007192699A (ja) * 2006-01-20 2007-08-02 Nec Corp 温度センサ及び温度センサシステム
CN112710404A (zh) * 2020-12-17 2021-04-27 电子科技大学 基于压缩感知的光学器件面温度分布检测方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006112826A (ja) * 2004-10-12 2006-04-27 Tokyo Electron Ltd 温度測定装置,温度測定方法,温度測定システム,制御システム,制御方法
JP2007192699A (ja) * 2006-01-20 2007-08-02 Nec Corp 温度センサ及び温度センサシステム
CN112710404A (zh) * 2020-12-17 2021-04-27 电子科技大学 基于压缩感知的光学器件面温度分布检测方法
CN112710404B (zh) * 2020-12-17 2022-04-08 电子科技大学 基于压缩感知的光学器件面温度分布检测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0153924B1 (en) Measuring apparatus and method
US6285446B1 (en) Distributed sensing system
US4653905A (en) Fiber optic range finder systems
AU594693B2 (en) Fibre optic sensor and method of use
US4752799A (en) Optical proximity sensing optics
EP0248111A2 (en) Spectroscopic method and apparatus for optically measuring temperature
KR970075902A (ko) 광산란체의 광학적 측정장치
CN108955655B (zh) 用于确定位置和/或取向的光接收器、方法和存储介质
US4533242A (en) Ranging system which compares an object-reflected component of a light beam to a reference component of the light beam
KR970066557A (ko) 적외선 수분 측정장치 및 적외선 수분 측정방법
JP2002098763A (ja) オブジェクトを検出するためのオプトエレクトロニク装置
US4865416A (en) Optical sensing arrangements
GB2147697A (en) Level measurement method and apparatus
EP0263016B1 (fr) Capteur de déplacement et de proximité à trois fibres optiques
JPS63121722A (ja) 温度分布検出装置
GB2147759A (en) Optical sensor
US11092438B2 (en) Light receiver for position referencing
JPS5828615A (ja) 移動量測定装置
US4176954A (en) Equipment for measuring the length of dielectric elements transmitting optical frequencies
US4077723A (en) Method of measuring thickness
GB2211605A (en) Optical fibre distributor sensor
JPH0282109A (ja) 光学式センサおよびそれを用いた測定装置
GB2184829A (en) Apparatus for measuring an external parameter
JPH11142110A (ja) 電荷結合素子型光検出器及びそれを用いた距離測定装置
RU1777179C (ru) Устройство дл контрол поверхности объекта