JPS63103477A - Minimum bit inversion period detecting circuit - Google Patents

Minimum bit inversion period detecting circuit

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JPS63103477A
JPS63103477A JP24912586A JP24912586A JPS63103477A JP S63103477 A JPS63103477 A JP S63103477A JP 24912586 A JP24912586 A JP 24912586A JP 24912586 A JP24912586 A JP 24912586A JP S63103477 A JPS63103477 A JP S63103477A
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signal
voltage
detection
circuit
sample
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Application number
JP24912586A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Egami
江上 剛
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)

Abstract

PURPOSE:To exactly execute a detection by converting a frequency of a reproducing signal to a voltage, and also, detecting a flat part of a voltage signal by a single frequency signal, sample-holding the voltage signal of the detected flat part, and detecting the minimum bit inversion period of a PCM signal which is reproduced. CONSTITUTION:By a frequency/voltage converting part 12, a frequency of a reproducing signal is converted to a voltage, and also, by a flat part detecting part 13, a flat part of a voltage signal by a single frequency signal is detected, based on a detection of a voltage of a voltage signal of the frequency/voltage converting part 12 and a variation voltage. Also, based on a detecting pulse of the flat part detecting part 13, the voltage signal of the detected flat part is brought to sample-holding by a sample holding part 16, a detecting signal of a voltage being proportional to the minimum bit inversion period of a PCM signal which is reproduced is outputted from the sample-holding part 16, and the minimum bit inversion period is detected.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、少なくともP CM倍信号単一周波数信号
が時分割記録された記録媒体を再生する再生装置、たと
えば回転ヘッド式のデジタルオーディオチーブレコーダ
に設けられ、再生されたPCM信号の最小ビット反転周
期を検出する最小ビット反転周期検出回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a reproducing apparatus for reproducing a recording medium on which at least a PCM multiplied signal single frequency signal is time-divisionally recorded, such as a rotary head type digital audio chip recorder. The present invention relates to a minimum bit inversion period detection circuit that is provided in a PCM signal and detects the minimum bit inversion period of a reproduced PCM signal.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種再生装置の1例である回転ヘッド式のデジ
タルオーディオテープレコーダは、几−DATと呼ばれ
、記録媒体を形成する磁気テープのヘリカルスキャン記
録される各トラックに、PCMオーディオ領域、サブコ
ード領域、トラッキング領域が時分割形成されている。
Conventionally, a rotary head type digital audio tape recorder, which is an example of this type of playback device, is called a 几DAT. A code area and a tracking area are formed in a time division manner.

そして、PCMオーディオ領域には、主情報を形成する
音声情報のPCM信号が記録され、サブコード領域には
副情報を形成する映像あるいは音声情報のPCM信号が
記録され、トラッキング領域にはATFと呼ばれる再生
トラッキング制御用のパイロット信号が記録される。
In the PCM audio area, a PCM signal of audio information forming main information is recorded, in the subcode area a PCM signal of video or audio information forming sub information is recorded, and in the tracking area, a PCM signal called ATF is recorded. A pilot signal for playback tracking control is recorded.

また、各トラックのトレース始、終端および各領域の間
には、重ね記録の防止などを図るため、単一周波数信号
が記録されたマージン領域が設けられている。
Additionally, margin areas in which a single frequency signal is recorded are provided at the beginning and end of each track and between each area in order to prevent overlapping recording.

そして、磁気テープは、1対の回転ヘッドの交互スキャ
ンにより、テープ速度および走行方向が記録時と同一の
標準再生モードあるいは、テープ速度および走行方向の
いずれか一方または両方が記録時と異なる特殊再生モー
ドで再生される。
By alternately scanning a pair of rotating heads, the magnetic tape can be played either in standard playback mode, where the tape speed and running direction are the same as during recording, or in special playback mode, where one or both of the tape speed and running direction are different from those during recording. mode.

このとき、標準再生モードであれば、テープの各トラッ
クが順次にヘリ力ルヌキャンされ、各1スキヤンの再生
信号は、各1トラツクに記録された信号を順次に再生し
た信号になり、特殊再生モードであれば、1スキヤンに
よってテープの複数のトラックが斜めに横切ってスキャ
ンされるため、各1ヌキヤンの再生信号は、複数のトラ
ックそれぞれの一部に記録された信号を合成した信号に
な  “る。
At this time, in the standard playback mode, each track of the tape is sequentially scanned, and the playback signal of each scan is a signal obtained by sequentially playing back the signals recorded on each track, and in the special playback mode. In this case, multiple tracks of the tape are scanned diagonally across in one scan, so the playback signal for each scan is a signal that is a composite of the signals recorded on a portion of each of the multiple tracks. .

そして、再生されたPCM信号(以下再生PC八へ信号
と称する)は、その最小ビット反転周期が、再生モード
によって異なるとともに、再生中のテープ速度の変動な
どによって変化する。
The minimum bit inversion period of the reproduced PCM signal (hereinafter referred to as the signal to the reproduction PC8) differs depending on the reproduction mode and also changes due to fluctuations in the tape speed during reproduction.

したがって、再生モードなどによらず2再生信号から再
生PCM信号を正確に抜取って再生処理するには、たと
えば、再生PCM信号の最小ビット反転周期に追従して
再生PCM信号の抜取りクロック生成回路を制御し、再
生PCM信号の抜取りクロックの周波数を最小ビット反
転周期に追従して可変制御する必要がある。
Therefore, in order to accurately extract the reproduced PCM signal from the 2 reproduced signals and perform reproduction processing regardless of the reproduction mode, for example, the reproduction PCM signal extraction clock generation circuit must be configured to follow the minimum bit inversion period of the reproduced PCM signal. It is necessary to variably control the frequency of the sampling clock of the reproduced PCM signal to follow the minimum bit inversion period.

そして、特願昭61−126719号の出願の明細書お
よび図面には、つぎに説明する第1あるいは第2の構成
の最小ビット反転周期検出回路(チャンネルクロック周
波数検出器)を設け、該検出回路の最小ビット反転周期
に比例した電圧の検出信号にもとづき、抜取りクロック
生成回路の電圧制御発振器の発振周波数可変範囲を再生
モードに応じて移動可変し、再生モードによらず、抜取
りクロックの周波数を常に再生PCM信号の最小ビット
反転周期に追従して制御することが記載されている。
In the specification and drawings of Japanese Patent Application No. 126719/1984, a minimum bit inversion period detection circuit (channel clock frequency detector) of the first or second configuration described below is provided, and the detection circuit Based on the detection signal of the voltage proportional to the minimum bit inversion period of It is described that control is performed by following the minimum bit inversion period of a reproduced PCM signal.

つぎに、第1.第2の構成の最小ビット反転周期検出回
路それぞれを説明する。
Next, the first. Each of the minimum bit inversion period detection circuits of the second configuration will be explained.

まず、第1の構成の最小ビット反転周期検出回路を説明
する。当該検出回路はほぼ第13図に示すように横殴さ
れ、同図において、(1)は回転ヘッドの再生信号(以
下ItF信号と称する)の入力端子、(2)はヘッド切
換え用のパルス信号(以下SW倍信号称する)の入力端
子、(3) 、 (4)は入力端子(1)に接続された
周波数/@圧変換回路、AM検波回路、(5)は非反転
入力端子(+)が検波回路(4)に接続された電圧比較
回路であり、反転入力端子←)に基準電圧端子(61の
オン・トラック状態検出用の基準電圧が印加されている
First, a first configuration of the minimum bit inversion period detection circuit will be explained. The detection circuit is horizontally mounted as shown in Fig. 13, in which (1) is the input terminal for the rotary head playback signal (hereinafter referred to as ItF signal), and (2) is the pulse signal for head switching. (hereinafter referred to as SW multiplier signal) input terminals, (3) and (4) are the frequency/pressure conversion circuit and AM detection circuit connected to the input terminal (1), (5) is the non-inverting input terminal (+) is a voltage comparison circuit connected to the detection circuit (4), and a reference voltage for detecting the on-track state of the reference voltage terminal (61) is applied to the inverting input terminal ←.

(7)は入力端子(2)に接続されたゲート回路、(8
)は比較回路(5)、ゲート回路(7)の出力信号が入
力されるアンドゲート、(9)はアンドゲート(8)の
出力信号によって変換回路(3)の出力信号をサンプル
ホールドするサンプルホールトロ路であり、ホールド信
号を検出出力端子aQに出力する。
(7) is a gate circuit connected to input terminal (2), (8
) is an AND gate into which the output signals of the comparison circuit (5) and gate circuit (7) are input, and (9) is a sample hole that samples and holds the output signal of the conversion circuit (3) using the output signal of the AND gate (8). A hold signal is output to the detection output terminal aQ.

そして、第13図の検出回路は、前述のマージン領域に
記録された単一周波数信号の再生周波佐の変動から再生
PCM信号の最小ビット反転周期の変動を検出する。
The detection circuit shown in FIG. 13 detects the variation in the minimum bit inversion period of the reproduced PCM signal from the variation in the reproduction frequency of the single frequency signal recorded in the margin area.

すなわち、入力端子(1) 、 (21に第14図(a
) 、 (1))のRF倍信号SW倍信号入力されると
、変換回路(3)によってRF倍信号周波数が電圧に変
換されるとともに、変換回路(4)によってRF倍信号
八人1検波され、変換回路(4)から比較回路(5)に
同図(c)の検波信号が出力される。
That is, the input terminals (1) and (21 in FIG. 14(a)
), (1)) When the RF multiplied signal SW multiplied signal is input, the RF multiplied signal frequency is converted into voltage by the conversion circuit (3), and the RF multiplied signal is detected by the conversion circuit (4). , the detection signal shown in FIG. 4(c) is output from the conversion circuit (4) to the comparison circuit (5).

さらに、変換回路(4)の検波信号の電圧と、入力端子
(6)の基準電圧、すなわち第14図(C)の1点鎖線
の基準電圧が比較回路(5)によって比較され、このと
き比較回路(5)からは、同図(d)に示すように、オ
ン・トラック状態のRF信号期間のパルス幅のゲート信
号が出力される。
Furthermore, the voltage of the detection signal of the conversion circuit (4) and the reference voltage of the input terminal (6), that is, the reference voltage indicated by the dashed line in FIG. 14(C), are compared by the comparison circuit (5). The circuit (5) outputs a gate signal having a pulse width of the RF signal period in the on-track state, as shown in FIG. 4(d).

また、入力端子(2)のS W信号にもとづき、ゲート
回路(7)は第14図(e)のゲート信号、すなわち検
出すべき単一周波数信号が記録てれたマージン領域の再
生予想期間のパルス幅のゲート信号を形成して出力する
Further, based on the SW signal of the input terminal (2), the gate circuit (7) detects the gate signal shown in FIG. Forms and outputs a pulse-width gate signal.

そして、比較回路(5)、ゲート回路(7)のゲート信
号が重なる期間、すなわち検出すべき単一周波数信号の
再生検出期間に、アンドゲート(8)からサンプルホー
ルド 出力され、該ゲート信号により、サンプルホールド回路
(9)が変換回路(3)の出力信号をサンプルホールド
し、このとき変換回路(3)の出力信号の電圧がRF倍
信号含まれた単一周波数信号の再生周波数に応じて変化
するため、サンプルホールド回路(9)から出力端子G
Oに出力されるホールド信号の電圧も、単一周波数信号
の再生周波数に応じて変化し、該ホールド信号が再生P
CΔ(信号の最小ビット反転周期の検出信号になる。
Then, during the period when the gate signals of the comparator circuit (5) and the gate circuit (7) overlap, that is, during the reproduction detection period of the single frequency signal to be detected, the AND gate (8) samples and holds the output, and the gate signal causes The sample and hold circuit (9) samples and holds the output signal of the conversion circuit (3), and at this time, the voltage of the output signal of the conversion circuit (3) changes according to the reproduction frequency of the single frequency signal containing the RF multiplied signal. Therefore, from the sample hold circuit (9) to the output terminal G
The voltage of the hold signal output to O also changes depending on the reproduction frequency of the single frequency signal, and the hold signal is output to P
CΔ (becomes the detection signal of the minimum bit inversion period of the signal.

なお、出力端子Q(lの信号は、電圧制御発振器のPL
L制御回路内の加算器に入力でれ、該加算器により、P
LL制御によって形成された制御電圧信号と出力端子(
10の信号とが加算され、加算器の出力信号により、電
圧制御発振器が制御される。
Note that the signal at the output terminal Q (l) is the PL of the voltage controlled oscillator.
is input to the adder in the L control circuit, and the adder causes
The control voltage signal formed by LL control and the output terminal (
10 signals are added, and the voltage controlled oscillator is controlled by the output signal of the adder.

つぎに、第2の構成の最小ビット反′転周期検出回路を
説明する。当該検出回路は、回転ヘッドの回転速度すな
わちスキャン速度の検出信号とテープ走行速度の検出信
号とにもとづき、予め設定された演算式の演算を行なう
演算回路からなり、演算によって出力端子(1Gの信号
と同様の信号を出力する。
Next, a minimum bit inversion period detection circuit having a second configuration will be explained. The detection circuit is composed of an arithmetic circuit that calculates a preset arithmetic expression based on a detection signal of the rotational speed of the rotary head, that is, a detection signal of the scanning speed, and a detection signal of the tape running speed. Outputs a signal similar to .

すなわち、几−DATには、再生モードによらず、再生
PCM信号に追従して抜取りクロックの周波数を制御し
、再生PCM信号の再生を行なうため,従来、前述の第
1あるいは第2の構成の最小ビット反転周期検出回路が
設けられている。
In other words, in order to reproduce the reproduced PCM signal by controlling the frequency of the sampling clock in accordance with the reproduced PCM signal, regardless of the reproduction mode, the R-DAT conventionally has the above-mentioned first or second configuration. A minimum bit inversion period detection circuit is provided.

なお、抜取りクロックの周波数を制御する代わりに、た
とえば最小ビット反転周期検出回路の検出信号により、
再生サーボ回路を制御して回転ヘッドのスキャン速度を
制御し、テープとヘッドの相対速度を、再生PCM信号
に追従して可変制御し、再生PCM信号を再生すること
も可能である。
In addition, instead of controlling the frequency of the sampling clock, for example, by the detection signal of the minimum bit inversion period detection circuit,
It is also possible to reproduce the reproduced PCM signal by controlling the reproduction servo circuit to control the scanning speed of the rotary head and variably controlling the relative speed between the tape and the head in accordance with the reproduction PCM signal.

また、R− D A T以外の回転ヘッド式のテープレ
コーダおよびディスク再生装置などのこの種再生装置,
すなわち少なくともPCM信号と単一周波数信号が時分
割記録された磁気テープ、磁気ディスクなどの記録媒体
を再生する再生装置においても、再生P C M信号の
再生などを行なうため、前述の第1、第2の構成の最小
ビット反転周期検出回路と同様の最小ビット反転周期検
出回路を設ける必要がある。
In addition, this type of playback device such as a rotary head type tape recorder and a disk playback device other than R-DAT,
That is, even in a reproducing apparatus that reproduces a recording medium such as a magnetic tape or a magnetic disk on which at least a PCM signal and a single frequency signal are time-divisionally recorded, in order to reproduce the reproduced PCM signal, the above-mentioned first and second It is necessary to provide a minimum bit inversion period detection circuit similar to the minimum bit inversion period detection circuit of configuration 2.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところで、前記第1の構成の最小ビット反転周期検出回
路の場合、RF倍信号AM検波レしルが。
By the way, in the case of the minimum bit inversion period detection circuit of the first configuration, the RF multiplied signal AM detection level is as follows.

テープの材質,記録状態の違いおよびRF倍信号ドロッ
プアウト、経年変化などによっても変化するため、比較
回路(5)のゲート信号を正確に形成することが困難に
なるとともに、ゲート回路(7)のゲート信号が、S 
W信号を基準にして形成されているため、検出すべき単
一周波数信号の記録されたマージン領域が狭いときなど
には、ゲート回路(7)のゲート信号を正確に形成する
ことも困難になる。
It also changes due to differences in tape material, recording conditions, RF multiplied signal dropout, aging, etc., making it difficult to form the gate signal of the comparison circuit (5) accurately, and also making it difficult to form the gate signal of the gate circuit (7). The gate signal is S
Since it is formed based on the W signal, it is difficult to form the gate signal of the gate circuit (7) accurately when the margin area where the single frequency signal to be detected is recorded is narrow. .

シタがって、サンプルホールド回路(9)により、検出
すべき単一周波数信号の記録されたマージン領域のRF
倍信号もとづく変換回路(3)の出力信号のミラ正確に
サンプルホールドすることができず、最小ビット反転周
期の検出が正確に行なえない問題点がある。
Then, the sample and hold circuit (9) detects the RF of the margin area where the single frequency signal to be detected is recorded.
There is a problem in that the output signal of the conversion circuit (3) based on the doubled signal cannot be accurately sampled and held, and the minimum bit inversion period cannot be detected accurately.

また、第2の構成の最小ピット反転周期検出口なる問題
点があるとともに、RF倍信号用いずに、回転ヘッドの
スキャン速度の検出信号とテープ速度の検出信号とによ
って間接的に最小ビット反転周期を検出するため、検出
精度をある程度以上に高めることが困難になり、第1の
構成の場合と同様、最小ビット反転周期の検出が正確に
行なえない問題点がある。
In addition, there is a problem with the minimum pit inversion period detection port of the second configuration, and the minimum bit inversion period is indirectly detected by the detection signal of the scanning speed of the rotary head and the detection signal of the tape speed without using the RF multiplied signal. As a result, it is difficult to increase the detection accuracy beyond a certain level, and as with the first configuration, there is a problem that the minimum bit inversion period cannot be detected accurately.

〔問題点を解決するだめの手段〕[Failure to solve the problem]

この発明は,前記の諸点に留意してなをれたものであり
、少なくともPCM信号,単一周波数信号が時分割記録
された記録媒体を再生する再生装置に設けられ、再生さ
れた前記PCM信号の最小ビット反転周期を検出する最
小ビット反転周期検出回路において、 ≠会得生信号の周波数を電圧に変換し、前記再生信号の
周波数に比例して変化する電圧信号を出力する周波数/
電圧変換部と、 前記電圧信号と前記単一周波数信号の再生周波数範囲の
検出基準電圧の比較および前記電圧信号の変動電圧と前
記電圧信号の平坦部の検出基準電圧の比較にもとづき、
前記単一周波数信号による前記電圧信号の平坦部を検出
して検出パルスを出力する平坦部検出部と。
The present invention has been developed with the above-mentioned points in mind, and is provided in a reproducing apparatus for reproducing a recording medium on which at least a PCM signal and a single frequency signal are time-divisionally recorded, and the reproducing apparatus is provided to reproduce the reproduced PCM signal. In the minimum bit inversion period detection circuit that detects the minimum bit inversion period of
a voltage conversion unit; based on a comparison between the voltage signal and a detection reference voltage of a reproduction frequency range of the single frequency signal, and a comparison between a fluctuation voltage of the voltage signal and a detection reference voltage of a flat portion of the voltage signal;
a flat part detection section that detects a flat part of the voltage signal based on the single frequency signal and outputs a detection pulse;

前記検出パフレスにもとづき前記平坦部の前記電圧信号
をサンプルホールド部し、ホールドした電圧信号を前記
最小ビット反転周期の検出信号として出力するサンプル
ホールド 備えたことを特徴とする最小ビット反転周期検出回路で
ある。
A minimum bit inversion period detection circuit comprising a sample and hold unit that samples and holds the voltage signal of the flat portion based on the detection puffless and outputs the held voltage signal as a detection signal of the minimum bit inversion period. be.

〔作 用〕[For production]

したがって、周波数/電圧変換部により、再生信号の周
波数が電圧に変換されるとともに、平坦部検出部により
、周波数/電圧変換部の電圧信号の電圧および該電圧信
号の変動電圧の検出にもとづき、ヘッド切換信号などか
らゲート信号を生成することなく、単一周波数信号によ
る電圧信号の平坦部が検出される。
Therefore, the frequency/voltage converter converts the frequency of the reproduced signal into a voltage, and the flat part detector detects the voltage of the voltage signal of the frequency/voltage converter and the fluctuation voltage of the voltage signal, and detects the head A flat portion of a voltage signal due to a single frequency signal is detected without generating a gate signal from a switching signal or the like.

さらに、平坦部検出部の検出パフレスにもとづき、サン
プルホールド部により、検出された平坦部の電圧信号が
サンプルホールドされ、再生されたPCM信号の最小ビ
ット反転周期に比例した電圧の検出信号がサンプルホー
ルド部から出力てれ、最小ビット反転周期が検出される
Furthermore, based on the detected puff frequency of the flat part detection part, the sample and hold part samples and holds the voltage signal of the detected flat part, and the detection signal of the voltage proportional to the minimum bit inversion period of the reproduced PCM signal is sampled and held. The minimum bit inversion period is detected.

〔実施例〕〔Example〕

つぎに、この発明を.その実施例を示した第1図ないし
第12図とともに詳細に説明する。
Next, this invention. This embodiment will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 12 showing examples thereof.

(第1実施例) まず、第1実施例を示しだ第1図ないし第8図について
説明する。
(First Embodiment) First, the first embodiment will be explained with reference to FIGS. 1 to 8 showing the first embodiment.

第1図はR−DATに適用した場合を示し、同図例おい
て、αBは再生信号の入力端子、(6)は入力端子qυ
に接続された周波数/電圧変換部、CI4は変換部(2
)に接続された平坦部検出部、(14)は検出部(至)
に接続されたゲートパルス発生回路、αQは変換部(2
)の出力信号を発生回路α司のサンプフレゲート信号に
よってサンプルホールドするサンプルホールド回路であ
り、発生回路Q4)とともにサンプルホールド部Qfj
を形成する。
Figure 1 shows the case where it is applied to R-DAT. In the example in the figure, αB is the input terminal of the reproduced signal, and (6) is the input terminal qυ
The frequency/voltage converter CI4 is connected to the converter (2
) is connected to the flat part detection section, (14) is the detection section (to)
The gate pulse generation circuit connected to
) is a sample-and-hold circuit that samples and holds the output signal of the generator circuit α using the sump frequency gate signal of the generator circuit α.
form.

そして、変換部亜は第2図に示すように、比較器0η,
単安定マルチバイグレータ(以下M Mと称する)(ト
)、低域通過フィルり(11からなり、入力端子0時の
再生信号,すなわち回転ヘッドのRF倍信号FM復調回
路を形成する。
As shown in FIG.
It consists of a monostable multivibrator (hereinafter referred to as MM) (g), a low-pass filter (11), and forms a reproduced signal when the input terminal is 0, that is, an RF multiplied signal FM demodulation circuit of the rotary head.

ところで、標準再生モードのときの入力端子(1)のR
F倍信号、回転ヘッドの各1スキヤン毎に第3図(a)
に示すように、各1トラツクに記録された信号になる。
By the way, R of input terminal (1) in standard playback mode
Figure 3 (a) for each scan of the F-fold signal and the rotating head.
As shown in the figure, the signals are recorded on each track.

なお、第3図(a)において、( A) 、 C B)
はトレース始,終端のマージン領域、(C)はPCMオ
ーディオ領域、(D)、(E)はそれぞれサブコード領
域、(F)。
In addition, in Fig. 3(a), (A), CB)
(C) is the PCM audio area, (D) and (E) are the subcode areas, and (F) are the margin areas at the start and end of the trace.

(G)はそれぞれトラッキング領域、(E()、 (I
)、(J)はそれぞれ中間のマージン領域でるる。
(G) are tracking regions, (E(), (I
) and (J) are the intermediate margin areas, respectively.

そして、領域(C)、(D)、(E)にはそれぞれPC
M信号が記録され、領域( F) 、 CG)にはそれ
ぞれパイロット信号が記録され、領域(A)、(B)I
H)、(I)、(J)にはそれぞれマージン用の単一周
波数信号が記録される。
And areas (C), (D), and (E) each have a PC.
M signal is recorded, pilot signals are recorded in areas (F) and CG), and areas (A) and (B) I
Single frequency signals for margin are recorded in H), (I), and (J), respectively.

なお、領域(、 F) 、 (G)のパイロット信号は
、各1−局波数信号,すなわち検出に用いない単一周波
信号より高周波数の信号である。
Note that the pilot signals in regions (, F) and (G) are signals with a higher frequency than each 1-station wave number signal, that is, a single frequency signal not used for detection.

一方、特殊再生モードのとき,たとえば正方向に高速再
生するサーチモードのときの入力端子(1ンのRF倍信
号、回転ヘッドの1スキヤン毎にほぼ第4図(a)に示
すように、複数のトラックを斜めに横切って得た信号に
なり、このとき図中の(A)’。
On the other hand, in the special playback mode, for example, in the search mode for high-speed playback in the forward direction, the input terminal (one RF multiplied signal, as shown in FIG. 4(a), The signal is obtained by diagonally crossing the track of (A)' in the figure.

CB)’ 、−、 (I )’ 、(J)’が第3図(
a)の各領域(A)、(B)。
CB)', -, (I)', (J)' are shown in Figure 3 (
Each area (A), (B) of a).

・・・、 (I)、(J)それぞれに対応する領域の信
号部分になるとともに、逆アジマス部分などのスキャン
によって再生レベルが大きく変動する。
. . . In addition to the signal portions of the regions corresponding to (I) and (J), the reproduction level varies greatly due to scanning of the reverse azimuth portion, etc.

そして、比較器a力は第8図(a)、第4図(a)のス
レッシレベルVsにもとづき、入力されたRF倍信号m
埋0.Iのデジタル信号に変換し、MM(至)は、比較
器0ηの出力信号にもとづき、出力信号のデユーティサ
イクルが、入力されたRF倍信号周波数に応じて変化す
る。
Then, the power of the comparator a is determined based on the threshold level Vs of FIGS. 8(a) and 4(a), and the input RF multiplied signal m
0. Based on the output signal of the comparator 0η, the duty cycle of the output signal changes according to the input RF multiplied signal frequency.

さらに、M M (1印の出力信号が入力されるフィル
タ09は、単一周波数信号の検出に必要な低周波成分の
みを抽出し、このときフィルタミツの出力信号の電圧が
抽出した低周波成分の周波数に比例して変化する。
Furthermore, the filter 09 to which the output signal of M changes in proportion to the frequency of

すなわち、変換部(2)はRF倍信号周波数を電圧に変
換し、単一周波数の検出に必要な低周波成分の周波数を
電圧に変換した電圧信号を出力する。
That is, the converter (2) converts the RF multiplied signal frequency into a voltage, and outputs a voltage signal obtained by converting the frequency of the low frequency component required for single frequency detection into a voltage.

そして、第3図(a)、第4図(a)のRF倍信号対す
る変換部αつの電圧信号は第3図(b)、第4図(b)
それぞれに示すようになり、単一周波数信号の部分では
再生周波数が一定になるため、基本的には一定レベルに
なるが、たとえば第4図(1))の変動部(α)に示す
ように、RF倍信号レベルが低いときなどにはレベル変
動が生じる。
The voltage signals of the converter α for the RF multiplied signals in FIGS. 3(a) and 4(a) are shown in FIGS. 3(b) and 4(b).
As shown in each figure, since the reproduction frequency is constant in the single frequency signal part, it is basically at a constant level, but for example, as shown in the fluctuating part (α) in Figure 4 (1)), , when the RF multiplied signal level is low, level fluctuations occur.

つぎに、変換部(6)の電圧信号が入力される検出部0
3は第5図に示すように、4個の比較器(イ)、(21
1゜■、@と、コンデンサ(CI)、抵抗(R1)が形
成する微分回路(24Iと、抵抗(R2) 、コンデン
サ(C2)が形成する充電回路内と、波形整形用ゲート
■とからなる。なお、図中の(十B)は正電源電圧端子
である。
Next, the detection unit 0 to which the voltage signal of the conversion unit (6) is input
3 has four comparators (A), (21
1゜■, @, a differential circuit (24I) formed by a capacitor (CI), a resistor (R1), a charging circuit formed by a resistor (R2), a capacitor (C2), and a waveform shaping gate ■ Note that (10B) in the figure is the positive power supply voltage terminal.

そして、比較器−,Q1)は単一周波数信号の再生周波
数範囲の電圧信号を検出するために設けられ、比較器−
の非反転入力端子(+)、比較器(2IIの反転入力端
子(−)に、基準電圧端子(イ)、(図の検出基準電圧
、すなわち単一周波数信号の最大、最小周波数の電圧信
号の電圧Vh、VOそれぞれが印加されている。
The comparator Q1) is provided to detect the voltage signal in the reproduction frequency range of the single frequency signal, and the comparator
The non-inverting input terminal (+) of the comparator (2II), the reference voltage terminal (A), Voltages Vh and VO are applied respectively.

また、比較器に、(23Iは電圧信号の平坦部を検出す
るために設けられ、比較器−の非反転入力端子(+)、
比較器Gの反転入力端子(−)に、基準電圧端子器、C
30+の検出基準電圧、すなわち単一周波数信号にもと
づく電圧信号のゆるやかな電圧変動範囲の正、負限界の
電圧Vp、Vnそれぞれが印加されている。
Further, in the comparator, (23I is provided to detect the flat part of the voltage signal, and the non-inverting input terminal (+) of the comparator -,
A reference voltage terminal, C, is connected to the inverting input terminal (-) of comparator G.
30+ detection reference voltages, that is, positive and negative limit voltages Vp and Vn of a gradual voltage fluctuation range of a voltage signal based on a single frequency signal, respectively, are applied.

そして、変換部@の電圧信号は、比較器−の反転入力端
子(−)2比較器因の非反転入力端子(+)それぞれに
入力されるとともに、微分回路内で微分された後、比較
器のの反転入力端子(−)、比較器123)の非反転入
力端子(+)それぞれに入力される。
The voltage signal of the converter @ is input to the inverting input terminal (-) of the comparator and the non-inverting input terminal (+) of the comparator, respectively, and after being differentiated in the differentiating circuit, the voltage signal is The signal is input to the inverting input terminal (-) of the comparator 123 and the non-inverting input terminal (+) of the comparator 123).

いま、第6図(a)に示すように、たとえば第3図(b
)の領域(J)の部分の電圧信号が検出部αJに入力さ
れたとする。
Now, as shown in Fig. 6(a), for example, Fig. 3(b)
) is input to the detection unit αJ.

なお、第6図(a)の時間軸は第3図(b)より伸張さ
れている。また、第6図(a)の(β)、(γ)はノイ
ズなどによる変動部を示す。
Note that the time axis in FIG. 6(a) has been expanded from that in FIG. 3(b). Further, (β) and (γ) in FIG. 6(a) indicate fluctuations due to noise or the like.

そして、比較器−,[21+により、電圧信号の電圧が
Vh〜v6の範囲の電圧か否かが検出され、vh〜Vl
の範囲の電圧であれば、比較器(イ)、 1211の出
力段のトランジスタが共にオフする。
Then, the comparators - and [21+ detect whether the voltage of the voltage signal is in the range of Vh to v6, and
If the voltage is in the range of , both the comparator (a) and the transistor in the output stage of 1211 are turned off.

まだ、第6図(a)の電圧信号にもとづき、微分回路内
から比較器の、のに同図(b)の微分信号が入力され、
比較器の、(231により、微分信号の電圧がVp〜V
nの範囲の電圧であるか否かが検出され、Vp〜Vnの
範囲の電圧であれば、比較器tn、(231の出力段の
トランジスタが共にオフする。
Still, based on the voltage signal of FIG. 6(a), the differential signal of FIG. 6(b) is input from the differentiating circuit to the comparator,
The comparator (231) changes the voltage of the differential signal from Vp to V
It is detected whether the voltage is in the range of n, and if the voltage is in the range of Vp to Vn, both the comparator tn and the transistor in the output stage of (231) are turned off.

したがって、電圧信号の電圧がvh〜V6の範囲の電圧
になり、かつ電圧信号の変動電圧がVp〜Vnの範囲の
電圧になるとき、すなわち単一周波数信号による平坦部
の電圧になるときにのみ、すべての比較器(4)〜のの
終段のトランジスタがオフする。
Therefore, only when the voltage of the voltage signal becomes a voltage in the range of vh to V6 and the fluctuating voltage of the voltage signal becomes a voltage in the range of Vp to Vn, that is, the voltage of the flat part due to a single frequency signal. , all the final stage transistors of comparators (4) to are turned off.

ところで、各比較器端〜(231の終段のトランジスタ
は、エミッタがアースされるとともにコレクタが抵抗(
R2) 、コンデンサ(C2)の接続点に接続されてい
る。
By the way, the emitter of the final stage transistor of each comparator (231) is grounded, and the collector is connected to a resistor (231).
R2) is connected to the connection point of the capacitor (C2).

そして、すべての比較器−〜C31の終段のトランジス
タがオフしたときにのみ、第6図(C)に示すようにコ
ンデンサ(C2)が充電され、比較器(イ)〜ののいず
れか1つでも終段のトランジスタがオンすれば、コンデ
ンサ(C2)は直ちにリセットされて放電する。
Then, only when the final stage transistors of all the comparators C31 are turned off, the capacitor (C2) is charged as shown in FIG. If the final stage transistor turns on at any time, the capacitor (C2) is immediately reset and discharged.

さらに、コンデンサ(C2)が一定期間充電されて充電
電圧が第6図(C)に示すゲー) 261のスレツシレ
ベ)v Vs ’に達すると、ゲート■の出力信号は同
図(d)に示すようにハイレベルに立上り、コンデンサ
(C2)がリセットされて放電されるまでの間、ゲート
のの出力信号がハイレベルに保持される。
Furthermore, when the capacitor (C2) is charged for a certain period of time and the charging voltage reaches the threshold level of gate (261) v Vs' shown in FIG. The output signal of the gate is held at a high level until the capacitor (C2) is reset and discharged.

すなわち、検出部側は、単一周波数信号による電圧信号
の平坦部を検出し、このときノイズなどによって電圧信
号がサンプルホールド部QQのサンプルホールド期間に
変動するのを防止するだめ、電圧信号が前述の一定期間
以上平坦になる平坦部の検出時にのみ、ゲート■の出力
信号からなるハイレベルの検出パルスを出力する。
That is, the detection unit side detects the flat part of the voltage signal based on the single frequency signal, and at this time, in order to prevent the voltage signal from fluctuating during the sample and hold period of the sample and hold unit QQ due to noise etc., the voltage signal is A high-level detection pulse consisting of the output signal of gate (2) is output only when a flat portion that remains flat for a certain period of time or more is detected.

つぎに、発生回路α→、サンプルホールド回路αQは第
7図に示すように構成され、発生回路a→がMM C3
]) カラなり、サンプルホールド回路α9が第1゜第
2サンプルホールド回路t32) 、 (33+からな
る。
Next, the generation circuit α→ and the sample hold circuit αQ are configured as shown in FIG.
]) The sample hold circuit α9 consists of the first sample hold circuit α9, the second sample hold circuit t32), and (33+).

そして、MMC3])は検出パルスの立上りによってト
リガされ、時定数によって設定される期間τ。
MMC3]) is triggered by the rising edge of the detection pulse and has a period τ set by a time constant.

すなわちサンプルホールドに必要な期間τだけ、Q出力
端子(q)がハイレベルになるとともにる出力端子(q
)がローレベルになり、る出力端子(q)から第1サン
7’yvホールド回路+321にサンプルボールド用の
第1ゲート信号Gaを出力し、Q出力端子(q)から第
2サンプルホールド回路別)にサンプルホールド用の第
2ゲート信号Gbを出力する。
In other words, for the period τ required for sample and hold, the Q output terminal (q) goes high and the output terminal (q
) becomes low level, the first gate signal Ga for sample bold is output from the Q output terminal (q) to the first sample hold circuit +321, and the second gate signal Ga is output from the Q output terminal (q) to the second sample hold circuit +321. ) outputs a second gate signal Gb for sample and hold.

また、縦列接続された両すンプルホールド回路□□□、
 +331は、たとえばサンプルホールドチ、コンデン
サおよび出力バッファ用のアンプを用いて同一に構成さ
れるとともに、第1,第2ゲート信号Ga,Gbにより
、相互に逆にサンプルモードとホールドモードに制御さ
れる。
In addition, both sample hold circuits connected in series □□□,
+331 are configured in the same manner using, for example, a sample and hold circuit, a capacitor, and an amplifier for output buffer, and are controlled to be in sample mode and hold mode inversely with each other by first and second gate signals Ga and Gb. .

なお、サンプルホールド回路(32)は、第1ゲート信
号Gaのハイレベルの間にサンプルホールド用のスイッ
チがオンしてサンプルモードになり、サンプルホールド
回路33)は、第2ゲート信号Gbのハイレベルの間に
サンプルホールド用のスイッチがオンしてサンプフレモ
ードになる。
Note that the sample and hold circuit (32) turns on the sample and hold switch while the first gate signal Ga is at the high level and enters the sample mode, and the sample and hold circuit (33) enters the sample mode when the second gate signal Gb is at the high level. During this time, the sample hold switch is turned on and the sample hold mode is entered.

そして、サンプルホールド回路+315に第8図(a)
に示す第3図(b)の領域(J)の部分の電圧信号が入
力されるときは、第6図(d)の検出パルス、すなわち
第8図(b)に示す検出パルスがM M (3])に入
力され、このときMMe3υのる出力端子a)から出力
される同図(C)の第1ゲート信号Gaにもとづき、サ
ンプルホールド回路(?zは、検出パルスの前縁から期
間τだけホールドモードになる。
Then, the sample hold circuit +315 is shown in FIG. 8(a).
When the voltage signal in the region (J) of FIG. 3(b) shown in FIG. 3(b) is input, the detection pulse of FIG. 6(d), that is, the detection pulse shown in FIG. 3]) and is output from the output terminal a) of MMe3υ at this time. only goes into hold mode.

したがって、サンプルホールド 号は、同図(d)に示すように検出パルスの前縁から期
間τに、検出パルスの直前に入力された電圧信号,すな
わち検出された平坦部の電圧信号になる。
Therefore, the sample and hold signal becomes a voltage signal input immediately before the detection pulse, ie, a voltage signal of the detected flat portion, during the period τ from the leading edge of the detection pulse, as shown in FIG. 2(d).

さらに、検出パルスにもとづきMM(3υのQ出力端子
(q)からサンプルホールド回路(33)に出力される
第8図(e)の第2ゲート信号Gbにもとづき、サンプ
ルホールド にのみ、サンプルホールド ドになる。
Furthermore, based on the second gate signal Gb in FIG. 8(e) which is output from the Q output terminal (q) of MM (3υ) to the sample and hold circuit (33) based on the detection pulse, the sample and hold circuit is activated only for the sample and hold. become.

したがって、サンプルホールド回路i331の出力信号
は、第8図(r)に示すように、サンプルホールド回路
i33)のホールドモードの出力信号,すなわち検出さ
れた平坦部の信号になり、その電圧が単一周波数信号の
再生周波数に正確に比例して変化する。
Therefore, the output signal of the sample and hold circuit i331 becomes the hold mode output signal of the sample and hold circuit i33), that is, the signal of the detected flat part, as shown in FIG. The frequency changes in exact proportion to the reproduction frequency of the signal.

すなわち、サンプルホールド部αGは、検出部α場の検
出パルスにもとづき、検出された平坦部の電圧信号をサ
ンプルホールド ホールド回路!(8)の出力信号の電圧が単一周波数信
号の再生周波数に比例して変化し、単一周波数信号の再
生周波数が再生PCM信号の最小ビット反転周期に比例
するため、ホールドした電圧信号であるサンプルホール
ド回路(33)の出力信号を、再生PCM信号の最小ビ
ット反転周期の検出信号として出力する。
That is, the sample and hold section αG samples and holds the voltage signal of the detected flat part based on the detection pulse of the detection section α field! The voltage of the output signal in (8) changes in proportion to the reproduction frequency of the single frequency signal, and the reproduction frequency of the single frequency signal is proportional to the minimum bit inversion period of the reproduction PCM signal, so it is a held voltage signal. The output signal of the sample hold circuit (33) is output as a detection signal of the minimum bit inversion period of the reproduced PCM signal.

そして、第1図の最小ビット反転周期検出回路の場合は
、ヘッド切換パルス信号などを用いることなく、RF倍
信号変換した変換部(2)の電圧信号のみを用いて、単
一周波数信号にもとづく電圧信号の平坦部を直接検出す
るとともに、検出した平坦部の電圧信号をサンプルホー
ルド ト反転周期を検出するため、RF倍信号再生レベ/L/
CAM検波しベ/L/ )がテープの材質,記録状態の
違いなどによって変化しても、正確かつ確実に最小ビッ
ト反転周期を検出することができる。
In the case of the minimum bit inversion period detection circuit shown in Fig. 1, the detection circuit is based on a single frequency signal, using only the voltage signal of the converter (2) which has been converted into an RF multiplied signal, without using a head switching pulse signal or the like. In order to directly detect the flat part of the voltage signal and to detect the sample-hold inversion cycle of the detected flat part of the voltage signal, the RF multiplied signal reproduction level /L/
Even if the CAM detection signal (L/) changes due to differences in tape material, recording conditions, etc., the minimum bit inversion period can be detected accurately and reliably.

また、複雑な演算回路などを必要としないため、構成が
簡素化して安価になるとともに、たとえばヘッド切換パ
ルス信号を用いるときなどに比して、調整なども簡素化
する。
In addition, since no complicated arithmetic circuit is required, the configuration is simplified and the cost is reduced, and adjustment is also simpler than, for example, when a head switching pulse signal is used.

ところで、比較器(n 、 f21+の比較にもとづき
、電圧端子方、@の検出基準電圧Vh、V6によって設
定されるvb〜V6の範囲の電圧信号、すなわち単一周
波数信号の再生周波数範囲の電圧信号の平坦部を検出す
るため、vh〜Vlの範囲外の電圧になるPCM信号、
パイロット信号などの電圧信号の平坦部を誤検出するこ
とがない。
By the way, based on the comparison of the comparator (n, f21+), a voltage signal in the range of vb to V6 set by the detection reference voltage Vh and V6 of the voltage terminal, that is, a voltage signal in the reproduction frequency range of the single frequency signal is detected. In order to detect the flat part of the PCM signal whose voltage is outside the range of vh to Vl,
There is no possibility of erroneously detecting a flat part of a voltage signal such as a pilot signal.

そして、単一周波数信号と異なる単一周波数のパイロッ
ト信号にもとづく誤検出が防止されるため、R−D A
 T以外の再生装置に適用した場合、たとえば再生信号
に、P CM信号、検出すべき単一周波数信号とともに
、周波数の異なる1つまたは複数の検出しない単一周波
数の信号が含まれていても、検出しない各単一周波数の
信号の再生周波数範囲の電圧がVh −Vlに重ならな
い限り、検出すべき単一周波数信号にもとづく電圧信号
の平坦部を正確に検出し、再生PCM信号の最小ピット
反転周期を正確に検出することができる。
Since false detection based on a single frequency pilot signal different from a single frequency signal is prevented, R-D A
When applied to a playback device other than T, for example, even if the playback signal includes a PCM signal, a single frequency signal to be detected, and one or more single frequency signals with different frequencies that are not detected, As long as the voltage in the reproduced frequency range of each single frequency signal to be detected does not overlap Vh - Vl, the flat part of the voltage signal based on the single frequency signal to be detected is accurately detected, and the minimum pit inversion of the reproduced PCM signal is achieved. The cycle can be detected accurately.

(第2実施例) つぎに、第2実施例を示した第9図ないし第11図につ
いて説明する。
(Second Embodiment) Next, FIGS. 9 to 11 showing a second embodiment will be described.

第9図において、第1図ないし第8図と同一記号は同一
のものを示し、第1実施例と異なる点は、第1図のゲー
トパルス発生回路0弔の代わりに、第1、第2ゲートパ
ルス発生回路(341、0151およびリセット回路(
7)からなるゲートパルス発生回路37)を設けた点で
ある。
In FIG. 9, the same symbols as in FIGS. 1 to 8 indicate the same things, and the difference from the first embodiment is that instead of the gate pulse generating circuit 0 in FIG. Gate pulse generation circuit (341, 0151 and reset circuit (
7) is provided with a gate pulse generation circuit 37).

そして、発生回路+341 、1351およびリセット
回路(至)は第10図に示すように構成され、同図にお
いて、μs、 (39+ 、 I401は型番74 I
(CI 28の集積回路からなるMMであり、それぞれ
時定数用の抵抗(R8)、(R4) 。
The generation circuits +341, 1351 and the reset circuit (to) are configured as shown in FIG.
(It is a MM consisting of a CI 28 integrated circuit, and has resistors (R8) and (R4) for time constants, respectively.

(R5)およびコンデンサ(C3)、 (C4)、(C
5)によって時定数が設定されるとともに、クリア端子
<ce)が電源端子(十B)に接続され、M M f3
81の立上りトリガ端子(i)に変換部(至)の検出パ
ルスが入力される。
(R5) and capacitors (C3), (C4), (C
5), the time constant is set, and the clear terminal <ce) is connected to the power supply terminal (10B), and M M f3
The detection pulse of the converter (to) is input to the rising trigger terminal (i) of 81.

(41)は型番74HC74の集積回路からなるフリッ
プフロップ(以下FFと称する)であり、データ入力端
子(d)、クリア端子(C6)に検出部(至)の検出パ
ルスが入力されるとともに、クロック端子にMMQOI
のる出力端子苗)の出力信号が入力され、唖出力端子α
)の出力信号をM M ’39iの立下りトリガ端子(
i)に出力する。
(41) is a flip-flop (hereinafter referred to as FF) made of an integrated circuit with model number 74HC74, and the detection pulse of the detection section (to) is input to the data input terminal (d) and the clear terminal (C6), and the clock MMQOI on terminal
The output signal of the output terminal (Nae) is input, and the output signal of the output terminal
) output signal to the falling trigger terminal of M M '39i (
i).

(421,t、43+はM M !381のQ出力端子
(Q) 、 M M (391のQ出力端子α)それぞ
れに接続されたインバータであり、インバータ!4zカ
ラサンプルホールド回路t3aに第1ゲート信号Gaの
代わりの第3ゲート信号Gcが出力され、インバータ(
転)からサンプルホールド回路G31に第2ゲート信号
GbO代わりの第4ゲート信号Gdが出力される。
(421, t, 43+ are inverters connected to the Q output terminal (Q) of M M!381 and the Q output terminal α of M M (391), respectively, and the first gate is connected to the inverter!4z color sample hold circuit t3a. A third gate signal Gc instead of the signal Ga is output, and the inverter (
A fourth gate signal Gd instead of the second gate signal GbO is output from the sample-and-hold circuit G31.

なお、MM曽の立下りトリガ端子(T)はアースされ、
M N i3り! 、顛の立上りトリガ端子(i)およ
びFFHnのプリセット端子(pr)は電源端子(十B
)に接続されている。
In addition, the falling trigger terminal (T) of MM So is grounded,
MN i3ri! , the rising trigger terminal (i) of FFHn and the preset terminal (pr) of FFHn are connected to the power supply terminal (10B
)It is connected to the.

また、M M !3&!のる出力端子G)がM M (
4■の立下りトリガ端子(T)に接続され、M M f
39)の頂出力端子面と電源端子(十B)との間にはプ
ルアップ用の抵抗(R6)が設けられている。
Also, MM! 3&! output terminal G) is M M (
Connected to the falling trigger terminal (T) of 4■, M M f
A pull-up resistor (R6) is provided between the top output terminal surface of 39) and the power supply terminal (10B).

そして、入力端子α刀に第11図(a)に示す電圧信号
、すなわちRF倍信号レベル低下、ノイズなどにもとづ
く変動部(δ)が単一周波数信号の領域に存在する電圧
信号が入力された場合、検出部餞において比較器輸〜の
の伝達時間などにもとづき、充電回路に1の充、放電に
遅れが生じるため、正確には、充電電圧が同図(b)に
示すように遅れ時間ΔTだけ遅れて変化し、そのため、
検出パルスの立上り、立下りが同図(C)に示すように
ΔTだけ遅れて出力され、このとき検出パルスの立上り
が変動部(δ)の位置までずれることがある。なお5第
11図(b)。
Then, the voltage signal shown in FIG. 11(a), that is, the voltage signal in which the fluctuation part (δ) due to RF multiplied signal level drop, noise, etc. exists in the region of a single frequency signal, is input to the input terminal α. In this case, there is a delay in the charging and discharging of 1 in the charging circuit based on the transmission time of the comparator in the detection part, so to be more precise, the charging voltage is delayed by the delay time as shown in Figure (b). It changes with a delay of ΔT, so
The rising and falling edges of the detection pulse are output with a delay of ΔT as shown in FIG. Note 5 Figure 11(b).

(e)のts 、 ts’は充電電圧がスレッシレベル
Vs’に達して検出パルスが立上るタイミングそれぞれ
を示す。
ts and ts' in (e) indicate the timings at which the charging voltage reaches the threshold level Vs' and the detection pulse rises, respectively.

ところで、第1実施例の場合、検出パルスの立上りによ
って第1.第2ゲート信号Ga、Gbが反転し、サンプ
ルホールド回路+3z、 (3(至)がホールドモード
、サンプルモードそれぞれになるだめ、たとえば検出パ
ルスの立上りtsが変動部(δ)の位置までずれると、
サンプルホールド部αQのホールド電圧が、変動部(δ
)の乱れた電圧になり、最小ビット反転周期を誤検出す
る恐れがある。
By the way, in the case of the first embodiment, the first . The second gate signals Ga and Gb are inverted, and the sample and hold circuit +3z, (3 (to) becomes the hold mode and sample mode respectively. For example, if the rising edge ts of the detection pulse shifts to the position of the fluctuation part (δ),
The hold voltage of the sample and hold section αQ is
), which may result in erroneous detection of the minimum bit inversion period.

そこで、この実施例では、とくにリセット回路(至)を
設け、検出パルスが立上りから遅れ時間ΔTより少し長
い期間ΔT′内に立下がらないときにのみ、サンプルホ
ールド回路(33)をホールドモードに制御し、前述の
誤検出を防止する。
Therefore, in this embodiment, a reset circuit (to) is especially provided to control the sample and hold circuit (33) to the hold mode only when the detection pulse does not fall within a period ΔT' that is slightly longer than the delay time ΔT from the rise. This prevents the above-mentioned false detection.

すなわち、第10図において、第11図(C)の検出パ
ルス信号がM M !381に入力されると、M M 
GFAは検出パルスの立上りts 、 ts’それぞれ
でトリガされ、抵抗(R8) 、コンデンサ(C3)に
よって設定てれる期間τ′だけ、M M +38iのQ
出力端子(q)の呂カ信号、G出力端子(q)の出力信
号がハイレベル、ローレベルそれぞれになり、このとき
MMI381のQ出力端子(9)の出力信号がインバー
タ+42)によって反転され、インバータ(421から
サンプルホールド回路f3Zに、同図(d)に示す第3
ゲート信号Gcが出力される。
That is, in FIG. 10, the detection pulse signal of FIG. 11(C) is M M ! 381, M M
The GFA is triggered at each of the rising edges ts and ts' of the detection pulse, and the Q of M M +38i is maintained for a period τ' set by a resistor (R8) and a capacitor (C3).
The output signal of the output terminal (q) and the output signal of the G output terminal (q) become high level and low level, respectively, and at this time, the output signal of the Q output terminal (9) of the MMI381 is inverted by the inverter +42), From the inverter (421) to the sample hold circuit f3Z, the third
A gate signal Gc is output.

また、M M 138+の葛出力端子面の出力信号がM
 M(4Qニ入力サレ、M M (401u、M M 
+38i OQ 出力端子G)の出力信号の立下りそれ
ぞれ、すなわち検出パルスの立上りts 、 ts’そ
れぞれでトリガされ、抵抗(R4)。
Also, the output signal from the Kuzu output terminal surface of M M 138+ is M
M (4Q double input sale, M M (401u, M M
+38i OQ is triggered at each falling edge of the output signal of the output terminal G), that is, each rising edge ts, ts' of the detection pulse, and resistor (R4).

コンデンサ(C4)で設定される期間ΔT′だけG出力
端子面の出力信号がハイレベルになる。
The output signal on the G output terminal surface becomes high level for a period ΔT' set by the capacitor (C4).

さらに、ハイレベルの検出パルスが入力されない間、F
F(411は、クリアリセットに保持されてQ出力端子
面)の出力信号がハイレベルになるとともに、ハイレペ
/しの検出パルスが入力される間において、M M (
4010る出力端子面の出力信号が立下ったときにのみ
、セットされてる出力端子(q)の出力信号がローレベ
ルに立下る。
Furthermore, while a high level detection pulse is not input, F
M
Only when the output signal on the output terminal surface 4010 falls, the output signal on the set output terminal (q) falls to low level.

すなわち、FF(41+のる出力端子G)の出力信号は
、検出パルスが立上りから期間ΔT′以上の期間出力さ
れ続け、単一周波数信号の平坦部が検出パルスの立上り
から期間ΔTより長い期間変動しないときにのみ、第1
1図(e)に示すように検出パルスの立上りから期間Δ
T′経過後に、ローレベルに立下り、検出パフレスの立
下りまでローレベルに保持される。
That is, the output signal of the FF (41 + output terminal G) continues to be output for a period longer than the period ΔT' from the rise of the detection pulse, and the flat part of the single frequency signal fluctuates for a period longer than the period ΔT from the rise of the detection pulse. 1st only when not
As shown in Figure 1 (e), the period Δ from the rise of the detection pulse
After T' has elapsed, it falls to a low level and is held at a low level until the detection puffless falls.

さらに、F F (411のる出力端子G)の出力信号
の立下りにより、MRN39)はトリガされてる出力端
子G)の出力信号がローレベルに立下り、抵抗(R5)
 、コンデンサ(C5)で設定される期間τだけローレ
ベルになる。
Furthermore, due to the fall of the output signal of F
, becomes low level for a period τ set by the capacitor (C5).

そして、M M 色9)のる出力端子α)の出方信号が
インバータ(431によって反転され、インバータ(4
3からサンプルホールド回路但3)に、第1t図(f)
に示す第4ゲート信号Gdが出力される。
Then, the output signal of the output terminal α) connected to M M color 9) is inverted by the inverter (431),
From 3 to sample hold circuit (3), Fig. 1t (f)
A fourth gate signal Gd shown in is output.

すなわち、発生回路計は検出パルスの立上りに同期して
ローレベルに立下る第3ゲート信号Gcをサンプルホー
ルド回路[3Zに出力し、該サンプルボールド回路13
Zをサンプルモードからホールドモードに切換える。
That is, the generator circuit outputs the third gate signal Gc falling to a low level in synchronization with the rise of the detection pulse to the sample hold circuit [3Z, and outputs the third gate signal Gc to the sample bold circuit 13
Switch Z from sample mode to hold mode.

このとき、検出パルスの立上りの遅れにもとづき、サン
プルホールド回路134のモード切換えが、たとえば変
動部(δ)の位置までずれると、サンプルホールド回路
+321の出力信号が変動部(δ)によって乱れる。
At this time, if the mode switching of the sample-and-hold circuit 134 deviates to the position of the variation part (δ), for example, based on the delay in the rise of the detection pulse, the output signal of the sample-and-hold circuit +321 is disturbed by the variation part (δ).

一方、リセット回路(至)は、検出パルスが立上りから
期間217以内に立下るとき、すなわちサンプルホール
ド回路(3′Aの出力信号が変動部(δ)などによって
乱れる恐れのある場合、FF(41+のG出力端子(q
)の出力信号からなるリセット信号をハイレベルに保持
して発生回路(351をリセット保持し、検出パルスが
立上りから期間ΔT′以上遅れて立下る場合にのみ、検
出パルスの立上りから期間ΔT′経過後にリセット信号
をローレベルにして発生回路側のリセットを解除する。
On the other hand, when the detection pulse falls within a period of 217 from the rising edge of the reset circuit (to), that is, when the output signal of the sample and hold circuit (3'A) may be disturbed by the fluctuation part (δ), etc., the FF (41 + G output terminal (q
) is held at a high level to reset and hold the generating circuit (351), and only when the detection pulse falls with a delay of more than a period ΔT' from the rise, the period ΔT' has elapsed since the rise of the detection pulse. Afterwards, the reset signal is set to low level to release the reset on the generating circuit side.

さらに、発生回路(351はリセットが解除されたとき
にのみ、リセット信号の立下りに同期して立上る第4ゲ
ート信号Gdをサンプルホールド回路133)に出力し
、該サンプルホールド回路133)を第4ゲート信号G
d ノハイレベルの期間だけサンプルモードに切換える
Further, the generation circuit (351) outputs the fourth gate signal Gd that rises in synchronization with the falling edge of the reset signal to the sample and hold circuit 133) only when the reset is released, and the sample and hold circuit 133) 4 gate signal G
d Switch to sample mode only during the high level period.

そして、サンプルホールド回路G3+は、サンプルホー
ルド回路の2のホールドモードの出力信号が変動部(δ
)などの影響を受けていないときにのみ、サンプルホー
ルド回路口4のホールドモードの出力信号をサンプルホ
ールドする。
Then, the sample and hold circuit G3+ is configured such that the output signal of the second hold mode of the sample and hold circuit is in the variation section (δ
), etc., the output signal of the hold mode of the sample and hold circuit port 4 is sampled and held.

したがって、サンプルホールド部0Qのホールド電圧、
すなわち最小ビット反転周期の検出信号の電圧は、充電
回路のの充、放電の遅れなどの影響を受けることがなく
、第1実施例の場合より、さらに正確に再生PCM信号
の最小ビット反転周期の検出が行なえる。
Therefore, the hold voltage of sample and hold section 0Q,
In other words, the voltage of the detection signal of the minimum bit inversion period is not affected by charging and discharging delays of the charging circuit, and more accurately detects the minimum bit inversion period of the reproduced PCM signal compared to the first embodiment. Detection can be performed.

なお、サンプルホールド回路G2がサンプルモードに切
換わる前に、サンプルホールド回路f331をホー/レ
ドモードに切換えるため、第4ゲート信号Gdの立下り
が第3ゲート信号Gcの立上りより期間ΔT′だけ前に
なるように、M M @9iの時定数などが設定されて
いる。
Note that in order to switch the sample and hold circuit f331 to the ho/read mode before the sample and hold circuit G2 switches to the sample mode, the fall of the fourth gate signal Gd is set before the rise of the third gate signal Gc by a period ΔT'. The time constant of M M @9i etc. are set so that.

(第3実施例) つぎに、第3実施例を示した第12図について説明する
(Third Embodiment) Next, FIG. 12 showing a third embodiment will be described.

第12図において、031′は第1実施例の検出部α1
の代わりに設けられた平坦部検出部であり、検出部αJ
の充電回路G、ゲートノの代わりに、カウンタ(42,
インバータ(431を用いて形成されている。
In FIG. 12, 031' is the detection unit α1 of the first embodiment.
It is a flat part detection section provided in place of , and the detection section αJ
In the charging circuit G, a counter (42,
It is formed using an inverter (431).

研は第1実施例の発生回路α4の代わりに設けられたゲ
ートパルス発生回路であり、M M(至)の代わりに、
F F f44) 、カウンタ(4均、インバータ←0
およびナントゲートt471 、アントゲ−) 148
1を用いて形成されている。
KE is a gate pulse generation circuit provided in place of the generation circuit α4 of the first embodiment, and instead of M M (to),
F F f44), counter (4 equal, inverter ←0
and Nante Gate T471, Anto Game) 148
It is formed using 1.

そして、カウンタ(42は、クリア端子(CIりがプル
アップ用の抵抗(R7)を介して電源端子(十B)に接
続されるとともに各比較器−〜(231の出力端子に接
続され、かつクロック端子にクロック端子(49)の計
数用の基準クロックが入力されるとともに、出力端子(
qn)の出力信号がインバータ(431を介してイネー
ブル端子(en)に帰還される。
The counter (42) has a clear terminal (CI) connected to the power supply terminal (10B) via a pull-up resistor (R7), and is connected to the output terminal of each comparator (231), and The reference clock for counting of the clock terminal (49) is input to the clock terminal, and the output terminal (
The output signal of qn) is fed back to the enable terminal (en) via an inverter (431).

また、FF(441は、クロック端子がカウンタ(4り
の出力端子(Qn)に接続されるとともに、データ入力
端子(d)が電源端子(十B)に接続され、Q出力端子
(q)がカウンタ(4〔のクリア端子((4りおよびナ
ントゲート(4η、アンドゲート(48に接続されてい
る。
In addition, the clock terminal of the FF (441) is connected to the output terminal (Qn) of the counter (4), the data input terminal (d) is connected to the power supply terminal (10B), and the Q output terminal (q) is connected to the output terminal (Qn) of the FF (441). The clear terminal of the counter (4) and the Nant gate (4η) are connected to the AND gate (48).

さらに、カウンタ(451は、クロック端子が入力端子
ケ9)に接続されるとともに、出力端子(qn)がイン
バータ+46)を介してFFけ4)のクリア端子<ce
>およびナントゲートuη、アンドゲートt48)に接
続されている。
Furthermore, the counter (451) has a clock terminal connected to the input terminal 9), and an output terminal (qn) connected to the clear terminal of the FF 4) via the inverter +46).
>, a Nant gate uη, and an AND gate t48).

そして、比較器−〜詔の終段のトランジスタがスヘてオ
フすると、カウンタは4のクリアリセットが解除され、
カウンタu4が入力端子(49)の基準クロックを計数
し、充電回路□□□のコンデンサ(C2)の充電電圧が
スレッシレベルVs’に達するまでの一定時間に等しい
時間が経過したときに、カウンタ(4りの出力端子(q
n)の出力信号がローレベルからハイレベルに反転する
Then, when the transistor at the final stage of the comparator ~ edict is turned off, the counter clear reset of 4 is released,
The counter u4 counts the reference clock of the input terminal (49), and when a period of time equal to the fixed time required for the charging voltage of the capacitor (C2) of the charging circuit to reach the threshold level Vs' has elapsed, the counter u4 counts the reference clock of the input terminal (49). output terminal (q
The output signal of n) is inverted from low level to high level.

なお、比較器(1)〜(ハ)のいずれかIの終端のトラ
ンジスタがオフすると、カウンタa7Jは直ちにクリア
リセットされる。
Note that when the terminal transistor of any one of the comparators (1) to (c) turns off, the counter a7J is immediately cleared and reset.

また、カウンタ!4zの出力端子(Qn)の出力信号が
ハイレベルに立上ると、カウンタ(47Jのイネーブル
端子(en)がローレベルに立下り、このときカウンタ
(4zは計数動作を停止する。
Also, the counter! When the output signal of the output terminal (Qn) of 4z rises to high level, the enable terminal (en) of counter 47J falls to low level, and at this time, counter 4z stops counting operation.

しだがって、カウンタL、A’2 、 (431が充電
回路G、ゲートのと同様に作用し、検出部03′からは
検出部α3の検出パルスと同様の検出パルスが出力され
る。
Therefore, the counters L, A'2, (431) act in the same manner as the charging circuit G and the gate, and the detection unit 03' outputs a detection pulse similar to the detection pulse of the detection unit α3.

つぎに、カウンタ(4zの出力端子((In)の出力信
号が立上ると、FF(44)のQ出力端子(q)の出力
信号がハイレベlしに立上り、このときカウンタ(45
1のクリアリセットが解除される。
Next, when the output signal of the output terminal ((In) of the counter (4z) rises, the output signal of the Q output terminal (q) of the FF (44) rises to a high level, and at this time, the output signal of the counter (45)
1 clear reset is canceled.

そして、カウンタ(451が入力端子(49)の基準ク
ロックを計数し、MMCIυの時定数によって設定され
た期間τが経過したときに、カウンタ(4151の出力
端子(Qn)の出力信号がハイレベルに立上る。
Then, the counter (451) counts the reference clock of the input terminal (49), and when the period τ set by the time constant of MMCIυ has elapsed, the output signal of the output terminal (Qn) of the counter (4151) becomes high level. stand up

ところで、FF(2)のQ出力端子(q)の出力信号が
ハイレベルに立上ったときは、カウンタ(4(ト)の出
力端子(Qn)の出力信号がローレベルに保持されてい
るため、ナントゲートt471の出力信号がローレベル
に立下るとともに、アンドゲート(4〜の出力信号がハ
イレベルニ立上ル。
By the way, when the output signal of the Q output terminal (q) of the FF (2) rises to a high level, the output signal of the output terminal (Qn) of the counter (4 (g)) is held at a low level. Therefore, the output signal of the Nandt gate t471 falls to a low level, and the output signals of the AND gates (4 to 4) rise to a high level.

そして、カウンタ(451の出力端子(qn)の出力信
号がハイレベルに立上ると、このときF F (441
のQ出力端子(q)の出力信号がハイレベルに保持され
ているため、ナントゲート(471の出力信号がハイレ
ベルに立上るとともに、アントゲ−1481の出力信号
がローレベルに立下る。
Then, when the output signal of the output terminal (qn) of the counter (451) rises to a high level, at this time F F (441
Since the output signal of the Q output terminal (q) of the NAND gate 471 is held at a high level, the output signal of the NAND gate 471 rises to a high level, and the output signal of the NAND gate 1481 falls to a low level.

また、カウンタ(4均の出力端子(q的の出力信号がハ
イレベρに立下ることにより、FF(441は、クリア
リセットされてQ出力端子(q)の出力信号がローレベ
ルに立下る。
Further, when the output signal of the counter (441) output terminal (q) falls to a high level ρ, the FF (441) is cleared and reset, and the output signal of the Q output terminal (q) falls to a low level.

したがって、ナンドゲー) 17]の出力信号がMMO
υのQ出力端子(q)の出力信号と同様に変化し、アン
トゲ−14(至)の出力信号がMMC3υのQ出力端子
(q)の出力信号と同様に変化する。
Therefore, the output signal of Nando Game) 17] is MMO
It changes in the same way as the output signal of the Q output terminal (q) of υ, and the output signal of the Antogame 14 (to) changes in the same way as the output signal of the Q output terminal (q) of MMC3υ.

そして、ナントゲート←ηの出力信号が第1ゲート信号
Gaとして第7図のサンプルホーtv )’ II i
J (3’Aに出力され、アンドゲート(49の出力信
号が第2ゲート信号として同図のサンプルホールド回路
+33+に出力されるため、発生回路α4が発生回路a
<と同様に動作する。
Then, the output signal of the Nantes gate ←η is used as the first gate signal Ga as the sample ho tv )' II i in FIG.
Since the output signal of the AND gate (49) is output as the second gate signal to the sample hold circuit +33+ in the same figure, the generation circuit α4 is output to the generation circuit a
Works the same as <.

そして、この実施例の場合は、充電回路(251,MM
 (391などの代わりに、カウンター2 、 +4+
5) 、 F F←(1)などを用いて形成することが
でき、とくに充電回路(鴬を設けないため、回路の集積
化を図ることができる利点も有する。
In the case of this embodiment, the charging circuit (251, MM
(Instead of 391 etc., counter 2, +4+
5), FF←(1), etc., and has the advantage of being able to integrate the circuit, especially since no charging circuit is provided.

なお、前記各実施例では、R−DATに適用した場合に
ついて説明したが、 R−DAT以外の種々の再、主装
置に適用できるのは勿論であり、この場合、第1実施例
で説明したように、記録媒体に、PCM信号、単−周波
′e!1信号とともに、該単一周波数信号と異なる周波
数の1つまたは複数の単一周波数の信号が時分割記録き
れていても、単一周波数信号にもとづく電圧信号の平坦
部を検出し、最小ビット反転周期を検出することができ
る。
In each of the above embodiments, the case where the present invention is applied to the R-DAT has been described, but it is of course applicable to various other main devices other than the R-DAT, and in this case, the present invention can be applied to various main devices other than the R-DAT. As in, a PCM signal, a single frequency 'e! Even if one or more single-frequency signals with frequencies different from the single-frequency signal have been time-divisionally recorded together with the single-frequency signal, the flat part of the voltage signal based on the single-frequency signal is detected, and the minimum bit inversion is performed. Periods can be detected.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明の最小ビットf転周期検出回路
によると、周波数/電圧変換部により、再生信号の周波
数を電圧に変換するとともに、平坦部検出部により、周
波数/電圧変換部の電圧信号の電圧および該電圧信号の
変動電圧の検出にもとづき、ヘッド切換信号などからゲ
ート信号を生成することなく、単一周波数信号による電
圧信号の平坦部を検出し、かつ、平坦部検出部の検出パ
ルスにもとづき、サンプルホールド 出された平坦部の電圧信号をサンプルホールドし、再生
されたPCM信号の最小ビット反転周期を検出したこと
により、簡単な溝成で再生されたPCM信号の最小ビッ
ト反転周期を正確に検出することができるものである。
As described above, according to the minimum bit f inversion period detection circuit of the present invention, the frequency/voltage converter converts the frequency of the reproduced signal into a voltage, and the flat part detector converts the voltage signal of the frequency/voltage converter into a voltage. Based on the detection of the voltage of the voltage signal and the voltage fluctuation of the voltage signal, the flat part of the voltage signal by the single frequency signal is detected without generating a gate signal from the head switching signal etc., and the detection pulse of the flat part detection part is detected. Based on this, we sampled and held the output voltage signal of the flat part and detected the minimum bit inversion period of the reproduced PCM signal. It can be detected accurately.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図ないし第8図はこの発明の最小ビット反転周期検
出回路の第1実施例を示し、第1図はブロック図、第2
図および第5図,第7図は各部の詳細なブoツク図、第
3図(a) 、 (b) 、第4図(a) 、 (b)
および第6図(a)〜(d)、第8図(a)〜(f)は
各部の動作説明用のタイミングチャート、第9図はこの
発明の第2実施例のブロック図、第10図は第9図の一
部の詳細な結線図、第11図(a)〜(f)は第10図
の動作説明用のタイミングチャート、第12図は第14
図(a)〜(f)は第13図の動作説明用のタイミング
チャートである。 □□□・・・周波数/電圧変換部、(13 、αa′・
・・平坦部検出部、αG 、 ae′・・・サンプルホ
ールド部。
1 to 8 show a first embodiment of the minimum bit inversion period detection circuit of the present invention, FIG. 1 is a block diagram, and FIG.
Figures 5 and 7 are detailed book diagrams of each part, Figure 3 (a), (b), and Figure 4 (a), (b).
6(a) to (d) and FIG. 8(a) to (f) are timing charts for explaining the operation of each part, FIG. 9 is a block diagram of the second embodiment of the present invention, and FIG. 10 is a detailed wiring diagram of a part of FIG. 9, FIGS. 11(a) to (f) are timing charts for explaining the operation of FIG. 10, and FIG.
Figures (a) to (f) are timing charts for explaining the operation of Figure 13. □□□・・・Frequency/voltage converter, (13, αa′・
... Flat part detection section, αG, ae'... Sample hold section.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)少なくともPCM信号、単一周波数信号が時分割
記録された記録媒体を再生する再生装置に設けられ、再
生された前記PCM信号の最小ビット反転周期を検出す
る最小ビット反転周期検出回路において、 再生信号の周波数を電圧に変換し、前記再 生信号の周波数に比例して変化する電圧信号を出力する
周波数/電圧変換部と、 前記電圧信号と前記単一周波数信号の再生周波数範囲の
検出基準電圧の比較および前記電圧信号の変動電圧と前
記電圧信号の平坦部の検出基準電圧の比較にもとづき、
前記単一周波数信号による前記電圧信号の平坦部を検出
して検出パルスを出力する平坦部検出部と、 前記検出パルスにもとづき前記平坦部の前記電圧信号を
サンプルホールドし、ホールドした電圧信号を前記最小
ビット反転周期の検出信号として出力するサンプルホー
ルド部とを 備えたことを特徴とする最小ビット反転周期検出回路。
(1) A minimum bit inversion period detection circuit, which is provided in a reproducing device for reproducing a recording medium on which at least a PCM signal and a single frequency signal are time-divisionally recorded, and detects the minimum bit inversion period of the reproduced PCM signal, a frequency/voltage conversion unit that converts the frequency of the reproduced signal into a voltage and outputs a voltage signal that changes in proportion to the frequency of the reproduced signal; and a detection reference voltage for the reproduced frequency range of the voltage signal and the single frequency signal. Based on the comparison of the fluctuation voltage of the voltage signal and the detection reference voltage of the flat part of the voltage signal,
a flat part detection unit that detects a flat part of the voltage signal based on the single frequency signal and outputs a detection pulse; 1. A minimum bit inversion period detection circuit, comprising: a sample hold section that outputs a minimum bit inversion period detection signal.
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