JPS6285859A - ステンレス被覆管の超音波探傷方法 - Google Patents
ステンレス被覆管の超音波探傷方法Info
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- JPS6285859A JPS6285859A JP60213448A JP21344885A JPS6285859A JP S6285859 A JPS6285859 A JP S6285859A JP 60213448 A JP60213448 A JP 60213448A JP 21344885 A JP21344885 A JP 21344885A JP S6285859 A JPS6285859 A JP S6285859A
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- Japan
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- probe
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、ステンレス被覆管の超音波探傷方法に関し、
高速増殖炉（ＦＢＲ）のステンレス燃料被覆管等の健全
性を保証するために実施するものである。
高速増殖炉（ＦＢＲ）のステンレス燃料被覆管等の健全
性を保証するために実施するものである。
（従来の技術）
高速増殖炉に用いるステンレス燃料被覆管は・材中の微
少底の存在も許されず、非常に厳格な健全性が要求され
る。
少底の存在も許されず、非常に厳格な健全性が要求され
る。
そこで、被覆管を水中に浸漬し、斜角式の超音波探触子
より超音波ビームを被覆管に対して発信して内部欠陥を
探傷する水浸法によって超音波探傷する方法を採ってい
る。
より超音波ビームを被覆管に対して発信して内部欠陥を
探傷する水浸法によって超音波探傷する方法を採ってい
る。
（発明が解決しようとする問題点）
この種の被覆管は、使用上６５０℃のクリープ強度が重
要であり、また特性上は結晶粒度番号（ＧＳ。
要であり、また特性上は結晶粒度番号（ＧＳ。
ｋ）６．０より細粒であることが望ましい。
しかし、従来の超音波探傷技術では、ＧＳ、ｍが８．３
より粗粒にすると、超音波の散乱と減衰により微小底の
探傷ができなかった。そのため、ＧＳ。
より粗粒にすると、超音波の散乱と減衰により微小底の
探傷ができなかった。そのため、ＧＳ。
迎８．３より細粒を目標として製作していることから、
材質特性を充分活用した使用方法がなされていない問題
があった。
材質特性を充分活用した使用方法がなされていない問題
があった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑み、ＧＳ。
患が８．３よりも粗粒のステンレス被覆管でも超音波探
傷が可能な探傷方法を提供するものである。
傷が可能な探傷方法を提供するものである。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、前述のような問題点を解決するための手段と
して、ステンレス被覆管を水中に１是項し、斜角式の超
音波探触子よりステンレス被覆管に対して超音波ビーム
を発信させて探傷するステンレス被覆管の超音波探傷方
法において、５〜１５ ＭＨｚの広帯域型周波数特性を
持った超音波探傷器と超音波探触子と用いると共に、該
超音波探触子を、指向性が鋭くなるように超音波ビーム
径を絞った集束型とし、かつ波長がステンレス被覆管の
結晶粒径よりも大きくなるように試験周波数を低くする
ものである。
して、ステンレス被覆管を水中に１是項し、斜角式の超
音波探触子よりステンレス被覆管に対して超音波ビーム
を発信させて探傷するステンレス被覆管の超音波探傷方
法において、５〜１５ ＭＨｚの広帯域型周波数特性を
持った超音波探傷器と超音波探触子と用いると共に、該
超音波探触子を、指向性が鋭くなるように超音波ビーム
径を絞った集束型とし、かつ波長がステンレス被覆管の
結晶粒径よりも大きくなるように試験周波数を低くする
ものである。
（実施例）
以下、図示の実施例について本発明探傷方法を説明する
。
。
第１図は本発明探傷方法を実施するための超音波探傷装
置の概要を示し、１は水槽、２は被検材であるステンレ
ス被覆管で、水槽１の水３の中に浸漬されており、図外
の駆動装置により軸心廻りに回転駆動されると共に、軸
心方向に送られる。
置の概要を示し、１は水槽、２は被検材であるステンレ
ス被覆管で、水槽１の水３の中に浸漬されており、図外
の駆動装置により軸心廻りに回転駆動されると共に、軸
心方向に送られる。
４は被覆管２に対して超音波ビームを発信しかつ反射エ
コーを受信する超音波探触子であって、斜角式集束型と
されている。５は超音波探傷器で、電源部６、同期回路
７、パルス送信回路８、受信回路９、掃引回路１０、時
間軸回路１１、ブラウン管表示部１２等から構成されて
いる。
コーを受信する超音波探触子であって、斜角式集束型と
されている。５は超音波探傷器で、電源部６、同期回路
７、パルス送信回路８、受信回路９、掃引回路１０、時
間軸回路１１、ブラウン管表示部１２等から構成されて
いる。
被覆管３を水浸法によって超音波探傷する際には、被覆
管３を軸心廻りに回転させながら軸心方向に送り、これ
に対して探触子４より横波の超音波ビームを発信し、そ
の反射エコーを受信する。
管３を軸心廻りに回転させながら軸心方向に送り、これ
に対して探触子４より横波の超音波ビームを発信し、そ
の反射エコーを受信する。
この場合、探傷器５には、５〜１５ ＭＨｚの広帯域型
周波数特性を有するものを用いる。従って、これによっ
て、高い周波数成分は材中で減衰しても、低い周波数成
分が残ることになり、欠陥エコーが高く得られ、Ｓ／Ｎ
が向上する。
周波数特性を有するものを用いる。従って、これによっ
て、高い周波数成分は材中で減衰しても、低い周波数成
分が残ることになり、欠陥エコーが高く得られ、Ｓ／Ｎ
が向上する。
また、探傷器５に対して探触子４としても、５〜１５
ＭＨｚの広帯域型周波数特性を持つものを使用する。広
帯域型の周波数特性の場合、パルス幅が狭いため、時間
間陽内に探触子４に受信される林状エコー（シャワーエ
コー）が少なくなり、林状エコーをできるだけ受信しな
いように配慮できる。
ＭＨｚの広帯域型周波数特性を持つものを使用する。広
帯域型の周波数特性の場合、パルス幅が狭いため、時間
間陽内に探触子４に受信される林状エコー（シャワーエ
コー）が少なくなり、林状エコーをできるだけ受信しな
いように配慮できる。
これは、次式に示す林状エコー高さの理論式より明らか
なように、林状エコー高さがパルス幅の１／２乗に比例
するためである。
なように、林状エコー高さがパルス幅の１／２乗に比例
するためである。
Ｐｒ：遠距離音場における林状エコーの音圧Ｃ：音 速
Ｔ：パルス幅
Ｓ：振動子面積
探傷子４は、その集束型音響レンズを従来の０゜５１１
φから０．３鶴φに絞り、指向性の鋭いビーム幅の超音
波ビームを発信するようにする。超音波ビーム幅を０．
３龍φに絞ることによって、被覆管２の材中の結晶粒界
からの反射エコー、取分は林状エコーの受信量を減らし
、Ｓ／Ｎ比を２ｄＢ程度向上することができる。なお、
探触子４はジルコンチタン酸鉛系磁気（ＰＺＴ）が適当
である。これを用いれば、ｉａ械的Ｑ値が低いため、感
度は低くなるが、分解能は向上する。
φから０．３鶴φに絞り、指向性の鋭いビーム幅の超音
波ビームを発信するようにする。超音波ビーム幅を０．
３龍φに絞ることによって、被覆管２の材中の結晶粒界
からの反射エコー、取分は林状エコーの受信量を減らし
、Ｓ／Ｎ比を２ｄＢ程度向上することができる。なお、
探触子４はジルコンチタン酸鉛系磁気（ＰＺＴ）が適当
である。これを用いれば、ｉａ械的Ｑ値が低いため、感
度は低くなるが、分解能は向上する。
試験周波数は７ ＭＨｚ程度に低くする。即ち、結晶粒
の大きな材料中に超音波を伝搬すると、粒界により超音
波ビームが散乱し、林状エコーとなる。
の大きな材料中に超音波を伝搬すると、粒界により超音
波ビームが散乱し、林状エコーとなる。
そこで、試験に際しては、波長が結晶粒径よりも大きく
なるように低い周波数を選択し、試験周波数を従来の１
０ Ｍｌｌｚから７ ＭＨｚ程度に変更する。
なるように低い周波数を選択し、試験周波数を従来の１
０ Ｍｌｌｚから７ ＭＨｚ程度に変更する。
（発明の臨界的異議）
次に実際の探傷機器を用いて実験を行い、その結果に従
って各条件についての臨界的意渡を説明する。なお、供
試材、試験装置は次のものを使用する。
って各条件についての臨界的意渡を説明する。なお、供
試材、試験装置は次のものを使用する。
次 葉
供試材 （寸法：６．５■ｘｏ、４７” ｘ６００ｇ”
）ＳｕＳ ３１６試験装置 ■、超音波探触子の特性 ・探触子の有効ビーム径について 水中に固定した６１−φの鋼球を用いて、探触子の音圧
分布図を作成し、−３ｄＢ位置の有効ビーム径を測定し
た。
）ＳｕＳ ３１６試験装置 ■、超音波探触子の特性 ・探触子の有効ビーム径について 水中に固定した６１−φの鋼球を用いて、探触子の音圧
分布図を作成し、−３ｄＢ位置の有効ビーム径を測定し
た。
試験周波数がｌＱ ＭＢ２の場合の特性を第２図、７−
（１） ＭＨｚを第３図、７− （２１ＭＨｚを第４図
に夫々示す。
（１） ＭＨｚを第３図、７− （２１ＭＨｚを第４図
に夫々示す。
これらからも明らかなように、有効ビーム径は、１０
ＭＨｚの場合０．４Ｔｏｍφ、７−（１） Ｍ）Ｉｚの
場合０．３鶴φ、７−（２） ＭＨｚの場合Ｑ 、５
ｕ＋φである。
ＭＨｚの場合０．４Ｔｏｍφ、７−（１） Ｍ）Ｉｚの
場合０．３鶴φ、７−（２） ＭＨｚの場合Ｑ 、５
ｕ＋φである。
探触子の周波数解析
探触子の発信周波数並びに送信パルスＲＦ信号を周波数
解析して特性を調べた。
解析して特性を調べた。
この場合の各探触子の周波数特性及びダンピング波形を
第５図（１）〜（３）に示す。
第５図（１）〜（３）に示す。
１０ ＭＨｚの場合は、周波数特性（ｆ特性）がＮ・Ｂ
型で、ダンピングが小、中心周波数が９゜４ ＭＨｚ
である。？ −（２） ＭＨｚの場合はｊ−Ｂ型で、ダ
ンピングが中、中心周波数が７ ＭＨｚである。７
（１１ＭＨｚの場合は、Ｂ＝Ｂ型で、ダンピングが大、
中心周波数が３ ＭＨｚである。
型で、ダンピングが小、中心周波数が９゜４ ＭＨｚ
である。？ −（２） ＭＨｚの場合はｊ−Ｂ型で、ダ
ンピングが中、中心周波数が７ ＭＨｚである。７
（１１ＭＨｚの場合は、Ｂ＝Ｂ型で、ダンピングが大、
中心周波数が３ ＭＨｚである。
なお、Ｎ−Ｂ型は非帯域型、Ｂ−Ｂ型は広帯域型をいう
。
。
■、最適周波数と探傷器の周波数波定
・試験周波数と探傷器について、
各標準欠陥を基準感度として最適探傷条件を設定する。
最適探傷条件は、各ＳＴＢ ３２μｄ相当の内面欠陥が
同等となる探傷角度１８〜２５である。次に供試材１２
本の軸方向、周方向の探傷を行い、夫々について林状エ
コーレヘルを調べる。各探触子と探傷器は、次表に示す
二元配置法により試験を行う。また管送り２０００ ｒ
ｐｍ、オーバラップ５０％とする。７ ＭＨｚについ
ては、ビーム径Ｑ 、３ ＋ｕφを使用する。
同等となる探傷角度１８〜２５である。次に供試材１２
本の軸方向、周方向の探傷を行い、夫々について林状エ
コーレヘルを調べる。各探触子と探傷器は、次表に示す
二元配置法により試験を行う。また管送り２０００ ｒ
ｐｍ、オーバラップ５０％とする。７ ＭＨｚについ
ては、ビーム径Ｑ 、３ ＋ｕφを使用する。
なお、表中の記号は第６図及び第７図の記号に対応する
。
。
この試験結果のＳ／Ｎを各探傷方向毎に第６図及び第７
図に示す。即ち、第６図は周方向探傷のＳ／Ｎを示し、
第７図は軸方向探傷のＳ／Ｎを示す。
図に示す。即ち、第６図は周方向探傷のＳ／Ｎを示し、
第７図は軸方向探傷のＳ／Ｎを示す。
代表探傷チャートは第８図乃至第１１圓に示す通りであ
る。第８図は探傷器が０Ｍ７３１で周波数が１０ Ｍ）
Ｉｚ、第９図はＭａｒｋ ＩＩで１０ ＭＨｚ、第１Ｏ
図はＵＭ ７３１で７ Ｍ）Ｉｚ、第１１図はＭａｒｋ
ＩＩで７ＭＨｚのときの周方向探傷結果を示す。
る。第８図は探傷器が０Ｍ７３１で周波数が１０ Ｍ）
Ｉｚ、第９図はＭａｒｋ ＩＩで１０ ＭＨｚ、第１Ｏ
図はＵＭ ７３１で７ Ｍ）Ｉｚ、第１１図はＭａｒｋ
ＩＩで７ＭＨｚのときの周方向探傷結果を示す。
機器の組合せと探傷可否は次表に示す。
なお、Ｓ／ＮはＧＳ、Ｎ１１７を対象とする。
○： Ｓ／Ｎ ３ｄＢ以上深傷可能
△： Ｓ／Ｎ ３ｄＢ以下探傷難しいＸ：ノイズレベ
ル高く探傷不可 この探傷結果から判るように、Ｓ／Ｎを向上させるため
の最適条件は、探傷器の周波数特性が広帯域型（Ｂ −
Ｂ）、探触子の周波数特性が広帯域型（Ｂ −Ｂ）、試
験周波数が７ ＭＨｚの組合せで行えれば、基準欠陥エ
コー３２μ深に対して林状エコーレベルを一３ｄＢ以下
に抑えることができる。また従来の探傷技術に比べＳ／
Ｎを６ｄＢ向上できた。
ル高く探傷不可 この探傷結果から判るように、Ｓ／Ｎを向上させるため
の最適条件は、探傷器の周波数特性が広帯域型（Ｂ −
Ｂ）、探触子の周波数特性が広帯域型（Ｂ −Ｂ）、試
験周波数が７ ＭＨｚの組合せで行えれば、基準欠陥エ
コー３２μ深に対して林状エコーレベルを一３ｄＢ以下
に抑えることができる。また従来の探傷技術に比べＳ／
Ｎを６ｄＢ向上できた。
本試験では、広帯域型の探触子及び探傷器を用いること
によりＳ／Ｎを向上させることができたのは、次の理由
によるものである。
によりＳ／Ｎを向上させることができたのは、次の理由
によるものである。
即ち、高分解能型の探触子を用い、送信パルス幅を狭く
することにより、パルス時間間隔内に受信される林状エ
コーを少なくすることが可能となる。また広帯域型探傷
器は、周波数帯域が広いため、高い周波数成分が材中で
減衰しても、まだ低い周波数成分が残ることにより欠陥
エコーが高く得られ、Ｓ／Ｎが向上する。更に林状エコ
ー高さは、林状エコー高さの理論式よりパルス幅の１／
２乗に比例するから、広帯域型の探触子を用いることに
よりパルス幅が狭くなれば、林状エコーを低くすること
ができる。
することにより、パルス時間間隔内に受信される林状エ
コーを少なくすることが可能となる。また広帯域型探傷
器は、周波数帯域が広いため、高い周波数成分が材中で
減衰しても、まだ低い周波数成分が残ることにより欠陥
エコーが高く得られ、Ｓ／Ｎが向上する。更に林状エコ
ー高さは、林状エコー高さの理論式よりパルス幅の１／
２乗に比例するから、広帯域型の探触子を用いることに
よりパルス幅が狭くなれば、林状エコーを低くすること
ができる。
■、超音波ビーム径の決定
試験周波数７ ＭＨｚ （周波数特性： Ｂ−Ｂ型）
超音波ビーム径０．５關φ、０．３■φの２（［ｌｉＩ
の探触子を用いて、Ｂ−Ｂ型組音波探傷器により比較テ
ストする。
超音波ビーム径０．５關φ、０．３■φの２（［ｌｉＩ
の探触子を用いて、Ｂ−Ｂ型組音波探傷器により比較テ
ストする。
この試験結果を第１１図乃至第１３図に示す。第１１図
は、０．５ ｎφの場合の代表チャートを示し、第１２
図は、０．３ ｎφの場合の代表チャートを示す。第１
３図は、軸方向及び周方向探傷結果について超音波ビー
ム径とＳ／Ｎとを比較したものである。
は、０．５ ｎφの場合の代表チャートを示し、第１２
図は、０．３ ｎφの場合の代表チャートを示す。第１
３図は、軸方向及び周方向探傷結果について超音波ビー
ム径とＳ／Ｎとを比較したものである。
これらからも判るように、超音波ビーム径を集束型の０
．３ｆｉφに絞ることによって、０．５鶴φビーム径に
比べて、１〜２ｄＢ程度Ｓ／Ｎは向上する。耶ち、ビー
ム径を絞ることは、できるだけ林状エコーを受信しない
（音圧上昇防止）ことに効果がある。
．３ｆｉφに絞ることによって、０．５鶴φビーム径に
比べて、１〜２ｄＢ程度Ｓ／Ｎは向上する。耶ち、ビー
ム径を絞ることは、できるだけ林状エコーを受信しない
（音圧上昇防止）ことに効果がある。
■、自然欠陥の確認
試験周波数の１０ ＭＨｚと７ ＭＨｚを用いて、最適
探傷条件の組合せにより同寸法管の自然欠陥を探傷し、
試験周波数と欠陥検出精度とについて調べる。
探傷条件の組合せにより同寸法管の自然欠陥を探傷し、
試験周波数と欠陥検出精度とについて調べる。
試験条件は、次の通りである。
（１）管送り： ２０００ ｒｐｍ オーバラップ
：５０％（２） 探傷器：型式Ｍａｒｋ Ｕ （３）探触子 １０ ＭＨｚ、型式Ｕ−１０ノルティッ
ク社７ ＭＨｚ 型式ＫＢ−α ブランソン社（４
）供試材：６本 （５）感 度：３２μ深欠陥を１５ｍｍ設定する。
：５０％（２） 探傷器：型式Ｍａｒｋ Ｕ （３）探触子 １０ ＭＨｚ、型式Ｕ−１０ノルティッ
ク社７ ＭＨｚ 型式ＫＢ−α ブランソン社（４
）供試材：６本 （５）感 度：３２μ深欠陥を１５ｍｍ設定する。
上記試験による供試材６本の探傷記録と破壊試験結果を
参考図１乃至参考図６に示す。また試験周波数と探傷精
度の相関を第１４図に示す。
参考図１乃至参考図６に示す。また試験周波数と探傷精
度の相関を第１４図に示す。
これらから明らかなように、各々の周波数別の相関係数
ｒは、１０ Ｍｔｌｚの場合には ｒ ＝０．９７．７
ＭＨｚの場合には ｒ＝０．９５となり、周波数によ
る欠陥検出精度は殆ど同等である。
ｒは、１０ Ｍｔｌｚの場合には ｒ ＝０．９７．７
ＭＨｚの場合には ｒ＝０．９５となり、周波数によ
る欠陥検出精度は殆ど同等である。
（発明の効果）
以上、実施例に詳述したように本発明方法によれば、５
〜１５ Ｈｚの広帯域型周波数特性を持った超音波探傷
器と超音波探触子と用いると共に、該超音波探触子を、
上向性が鋭（なるように超音波ビーム径を絞った集束型
とし、かつ波長がステンレス被覆管の結晶粒径よりも大
きくなるように試験周波数を低くすることによって、従
来に比べてＳ／Ｎを著しく向上することができ、ＧＳ、
ｔｈ ７．０程度までの粗粒材を超音波探傷すること
が可能である。従って、高クリープ強度を有するステン
レス被覆管の製造・検査及び使用が可能である。また試
験周波数をｌＱ Ｍｌｌｚから７ ＭＨｚに変更しても
、自然欠陥の検出精度に差が生じることはない。
〜１５ Ｈｚの広帯域型周波数特性を持った超音波探傷
器と超音波探触子と用いると共に、該超音波探触子を、
上向性が鋭（なるように超音波ビーム径を絞った集束型
とし、かつ波長がステンレス被覆管の結晶粒径よりも大
きくなるように試験周波数を低くすることによって、従
来に比べてＳ／Ｎを著しく向上することができ、ＧＳ、
ｔｈ ７．０程度までの粗粒材を超音波探傷すること
が可能である。従って、高クリープ強度を有するステン
レス被覆管の製造・検査及び使用が可能である。また試
験周波数をｌＱ Ｍｌｌｚから７ ＭＨｚに変更しても
、自然欠陥の検出精度に差が生じることはない。
図面は本発明の一実施例を示し、第１図は超音波探傷装
置の概略説明図、第２図乃至第４図は探触子の周波数特
性を示す図、第５図（１）乃至（３）は各探触子の周波
数特性を示す図、第６図は周方向探傷のＳ／Ｎを示す図
、第７図は軸方向探傷のＳ／Ｎを示す図、第８図乃至第
１２図は周方向探傷結果を示す図、第１３図は超音波ビ
ーム径とＳ／Ｎとの関係を示す図、第１４図は試験周波
数と探傷精度との関係を示す図である。 １・・・水槽、２・・・ステンレス被覆管、４・・・超
音波探触子、５・・・超音波探傷器。 特 許 出 願 人 株式会社神戸製鋼所第５図 肩７１−一 第６図 ＡＳＴＭ ６５ Ｎｔ＝ 第７図 ＡＳＴＭ （ｒｓ ｋｂ 第１３図 第７４図
置の概略説明図、第２図乃至第４図は探触子の周波数特
性を示す図、第５図（１）乃至（３）は各探触子の周波
数特性を示す図、第６図は周方向探傷のＳ／Ｎを示す図
、第７図は軸方向探傷のＳ／Ｎを示す図、第８図乃至第
１２図は周方向探傷結果を示す図、第１３図は超音波ビ
ーム径とＳ／Ｎとの関係を示す図、第１４図は試験周波
数と探傷精度との関係を示す図である。 １・・・水槽、２・・・ステンレス被覆管、４・・・超
音波探触子、５・・・超音波探傷器。 特 許 出 願 人 株式会社神戸製鋼所第５図 肩７１−一 第６図 ＡＳＴＭ ６５ Ｎｔ＝ 第７図 ＡＳＴＭ （ｒｓ ｋｂ 第１３図 第７４図
Claims (1)
- １、ステンレス被覆管を水中に浸漬し、斜角式の超音波
探触子よりステンレス被覆管に対して超音波ビームを発
信させて探傷するステンレス被覆管の超音波探傷方法に
おいて、５〜１５ＭＨｚの広帯域型周波数特性を持った
超音波探傷器と超音波探触子と用いると共に、該超音波
探触子を、指向性が鋭くなるように超音波ビーム径を絞
った集束型とし、かつ波長がステンレス被覆管の結晶粒
径よりも大きくなるように試験周波数を低くすることを
特徴とするステンレス被覆管の超音波探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60213448A JPH0668484B2 (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | ステンレス被覆管の超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60213448A JPH0668484B2 (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | ステンレス被覆管の超音波探傷方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6285859A true JPS6285859A (ja) | 1987-04-20 |
| JPH0668484B2 JPH0668484B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=16639390
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60213448A Expired - Fee Related JPH0668484B2 (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | ステンレス被覆管の超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0668484B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01161144A (ja) * | 1987-12-16 | 1989-06-23 | Japan Steel Works Ltd:The | 円柱材の焼入硬化深度測定方法 |
| US5150181A (en) * | 1990-03-27 | 1992-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Amorphous thin film semiconductor device with active and inactive layers |
| SG118100A1 (en) * | 2001-11-23 | 2006-01-27 | Singapore Tech Aerospace Ltd | An apparatus for ultrasonic inspection of flawed materials |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58198755A (ja) * | 1982-05-14 | 1983-11-18 | Nippon Steel Corp | オ−ステナイト系ステンレス溶接鋼管の超音波探傷方法 |
-
1985
- 1985-09-25 JP JP60213448A patent/JPH0668484B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58198755A (ja) * | 1982-05-14 | 1983-11-18 | Nippon Steel Corp | オ−ステナイト系ステンレス溶接鋼管の超音波探傷方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01161144A (ja) * | 1987-12-16 | 1989-06-23 | Japan Steel Works Ltd:The | 円柱材の焼入硬化深度測定方法 |
| US5150181A (en) * | 1990-03-27 | 1992-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Amorphous thin film semiconductor device with active and inactive layers |
| SG118100A1 (en) * | 2001-11-23 | 2006-01-27 | Singapore Tech Aerospace Ltd | An apparatus for ultrasonic inspection of flawed materials |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0668484B2 (ja) | 1994-08-31 |
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