JPS6282363A - インピ−ダンス測定装置 - Google Patents
インピ−ダンス測定装置Info
- Publication number
- JPS6282363A JPS6282363A JP22440285A JP22440285A JPS6282363A JP S6282363 A JPS6282363 A JP S6282363A JP 22440285 A JP22440285 A JP 22440285A JP 22440285 A JP22440285 A JP 22440285A JP S6282363 A JPS6282363 A JP S6282363A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- impedance
- frequency
- outputs
- spectrum
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、抵抗・コンデンサなどの電子部品の特性、特
にインピーダンスの周波数特性を測定する装置に関する
。
にインピーダンスの周波数特性を測定する装置に関する
。
従来、電子部品におけるインピーダンスの周波数特性は
、通常のインピーダンス測定装置で、特定の測定周波数
を設定してその周波数におけるインピーダンス測定後、
さらに別の測定周波数に切替えて測定するようにして、
順次インピーダンス測定を行なうことで行なっていた。
、通常のインピーダンス測定装置で、特定の測定周波数
を設定してその周波数におけるインピーダンス測定後、
さらに別の測定周波数に切替えて測定するようにして、
順次インピーダンス測定を行なうことで行なっていた。
上記のようにζ従来の装置ｉＩｔ′に用い、必要な周波
数帯域にわたって、測定用発振器の周波数の切替、測定
の繰返しなど行なうことは多大な測定時間を要し、電子
部品工場等の測定としては不適当であった。
数帯域にわたって、測定用発振器の周波数の切替、測定
の繰返しなど行なうことは多大な測定時間を要し、電子
部品工場等の測定としては不適当であった。
本発明の目的は、上記欠点全除去し、迅速にインピーダ
ンスの周波数特性測定を行なうことのできる測定装置ｆ
ｔ−提供することＫある。
ンスの周波数特性測定を行なうことのできる測定装置ｆ
ｔ−提供することＫある。
本発明のインピーダンス測定装置は、出力に周波数成分
としてＪ”ｐ ２ｆ’ｐ・・・（ｎ−１）ｆｌ １、−
含む関数発生器と、該関数発生器によって駆動される被
測定試料の電圧および電流値をそれぞれ増幅して電圧Ｅ
ｚ、 Ｅｌとして出力する測定増幅部と。
としてＪ”ｐ ２ｆ’ｐ・・・（ｎ−１）ｆｌ １、−
含む関数発生器と、該関数発生器によって駆動される被
測定試料の電圧および電流値をそれぞれ増幅して電圧Ｅ
ｚ、 Ｅｌとして出力する測定増幅部と。
前記電圧Ｅｚ、 Ｅｉ ｋ １／ｆｔ 周期内におい
て１／ｆ１ｘ２ｎの周期で同時にサンプリングし、各サ
ンプリング値ｋ １／ｆ＋ｘ２ｎ周期内でＥｚ、 Ｅｉ
系列を交互にスイッチにより切替えてＶｏ変換器に導＜
Ａ／Ｄ変換部と、前記人／′Ｄ変換部の出力ｉ Ｅ、
Ｅｉ系列ごとにフーリエ変換してｆ’＝ ２ｆ’、
・・・（ｎ−＋）ｆ＋ （Ｄ各局波数のスペクトラムを
計算するフーリエ２ｍ部と、前記Ｅｚ、 Ｅｌ系列のス
ペクトラムから被測定資料のインピーダンスの周波数ス
ペクトラムを与える演算部とを含むものである。
て１／ｆ１ｘ２ｎの周期で同時にサンプリングし、各サ
ンプリング値ｋ １／ｆ＋ｘ２ｎ周期内でＥｚ、 Ｅｉ
系列を交互にスイッチにより切替えてＶｏ変換器に導＜
Ａ／Ｄ変換部と、前記人／′Ｄ変換部の出力ｉ Ｅ、
Ｅｉ系列ごとにフーリエ変換してｆ’＝ ２ｆ’、
・・・（ｎ−＋）ｆ＋ （Ｄ各局波数のスペクトラムを
計算するフーリエ２ｍ部と、前記Ｅｚ、 Ｅｌ系列のス
ペクトラムから被測定資料のインピーダンスの周波数ス
ペクトラムを与える演算部とを含むものである。
本発明では、関数発生器は、ｆ’＋ ２ｆ１、・・・（
ｎ−リｆ１のように等比級数である。し友がって１／ｊ
’１Ｘ２ｎ周期ごとに、かつ１／ｆ１ 期間内のサン
プル値についてスペクトラム計算を行なうものであるか
ら、各周波数ｆ１．２ｆ’＃ ・・・成分の信号につい
て端数の周波数成分が計算の結果でてくることがなく正
しいスペクトラム成分計算ができる。
ｎ−リｆ１のように等比級数である。し友がって１／ｊ
’１Ｘ２ｎ周期ごとに、かつ１／ｆ１ 期間内のサン
プル値についてスペクトラム計算を行なうものであるか
ら、各周波数ｆ１．２ｆ’＃ ・・・成分の信号につい
て端数の周波数成分が計算の結果でてくることがなく正
しいスペクトラム成分計算ができる。
なお、測定対象である電子部品は線形素子として取扱い
うるから、上記のサンプル値と含まれる各周波数との関
係が関数発生器の性質から保九れているのである。
うるから、上記のサンプル値と含まれる各周波数との関
係が関数発生器の性質から保九れているのである。
図面？参照して１本発明の一実施例につき説明する。先
ず第１図に示す回路ブロックで、装置の概略構成を述べ
る。関数発生器１０の出力は測定増幅部２０において、
被測定試料２１に印加さｎ、その端子電圧ｅを差動増幅
器２２で増幅するとともに、その電流ｉを電流電圧変換
器２５で電圧値に変換増幅して出力する。各増幅出力を
ＥちＥｌとする。Ｅｚ、ＥｌはサンプルされＡ／Ｄ変換
ｓ６０で、交替してテイジタル値として出力さｎる。
ず第１図に示す回路ブロックで、装置の概略構成を述べ
る。関数発生器１０の出力は測定増幅部２０において、
被測定試料２１に印加さｎ、その端子電圧ｅを差動増幅
器２２で増幅するとともに、その電流ｉを電流電圧変換
器２５で電圧値に変換増幅して出力する。各増幅出力を
ＥちＥｌとする。Ｅｚ、ＥｌはサンプルされＡ／Ｄ変換
ｓ６０で、交替してテイジタル値として出力さｎる。
このティジタルＥちＥｌからフーリエ変換ｓ４０で、Ｅ
ｚ、 Ｅｉ系列ごとにスペクトラム金求め、演算部４１
で、スペクトラム成分ごとに比を求めることでインピー
ダンスの周波数ごとの振幅・位相？計算する。そして要
すれば表示器４２でインピーダンス全表示する。
ｚ、 Ｅｉ系列ごとにスペクトラム金求め、演算部４１
で、スペクトラム成分ごとに比を求めることでインピー
ダンスの周波数ごとの振幅・位相？計算する。そして要
すれば表示器４２でインピーダンス全表示する。
次に、第２図のタイムチャートラ参照して、本装置の動
作につき、さらに詳細な説明を行なう。
作につき、さらに詳細な説明を行なう。
関数発生器１０は、クロックパルス発生器の出カバルス
をカウンタ回路でカウントして、その出力ｉ ＲＯＭ
のアドレス信号として供給し、さらにＲＯＭに書込ま
れ之関数波形データの出力信号ｉ Ｄ／Ａ変換器ｖｃよ
りアナログ信号に変換して任意の関数波形を得る従来の
関数発生器の構成を使用する。ＲＯＭの波形データとし
ては、周波数ｆ１． ｆ’、 −、１ｎ−１’ｉｔ：含
み、かつ周波数ｆ’＋ ｆ”Ｈ・・・、ｆｎ−１が１１
の等比級数、すなわちｆａｒ ２ｆ＋・・；（ｎ−
リｆ１の周波数成分ｔ−有するような例えばのこぎジ阪
を発生する関数波形データｔ−誓きこんでおく。
をカウンタ回路でカウントして、その出力ｉ ＲＯＭ
のアドレス信号として供給し、さらにＲＯＭに書込ま
れ之関数波形データの出力信号ｉ Ｄ／Ａ変換器ｖｃよ
りアナログ信号に変換して任意の関数波形を得る従来の
関数発生器の構成を使用する。ＲＯＭの波形データとし
ては、周波数ｆ１． ｆ’、 −、１ｎ−１’ｉｔ：含
み、かつ周波数ｆ’＋ ｆ”Ｈ・・・、ｆｎ−１が１１
の等比級数、すなわちｆａｒ ２ｆ＋・・；（ｎ−
リｆ１の周波数成分ｔ−有するような例えばのこぎジ阪
を発生する関数波形データｔ−誓きこんでおく。
被測定試料２１に、関数発生器１０の出力ｅｏｔ印加し
、その端子電圧ｅを差動増幅器２２で増＠−Ｅｚとして
出力するとともに、電流ｉＴｈ演算増幅器による電流・
電圧変換器２３ ＫよってＥｌとして出力する。Ｅｚ、
ＥｉはＡ／Ｄ 変換部３０の低域通過フィルタ３１ 、
３３に入力し、さらにそれぞれサンプルホールド回路５
２．５４を介してスイッチ回路６５の端子３１ａ、Ｓ１
ｂに導かれる。低域通過フィルタ３１．３３はアンチエ
イリアスフィルタとして動作し、ｆｎ−１に超える周波
数成分を除去するためのフィルタである。サンプルホー
ルド回路３４３４はタイミング信号発生器３６のＳ／Ｈ
信号でサンプルホールドされる。第２図に示すようにＳ
／Ｈ信号は１／ｆ１×２ｎ周期であって、同じ時点でＥ
ｚ、 Ｅｉ ｆサンプルホールドする。この周期の中間
でタイミング信号発生器３６はスイッチ切替信号Ａ／Ｂ
ｉ ” １°１．“０“ と変化してスイッチ回路３
５を切習える。し九がってＥ為Ｅｌ （ぎ号が交互にい
変換器３７に入カレ、ま几Ａ／Ｄ変換スタートパルスＳ
ｔでＡ／Ｄ変換全スタートさせる。したがってＡ／Ｄ変
換器３７ハ図示のようにＢｚ（ｏ）ｐ Ｅｉ（ｏ）＋
ＥＺ（す。
、その端子電圧ｅを差動増幅器２２で増＠−Ｅｚとして
出力するとともに、電流ｉＴｈ演算増幅器による電流・
電圧変換器２３ ＫよってＥｌとして出力する。Ｅｚ、
ＥｉはＡ／Ｄ 変換部３０の低域通過フィルタ３１ 、
３３に入力し、さらにそれぞれサンプルホールド回路５
２．５４を介してスイッチ回路６５の端子３１ａ、Ｓ１
ｂに導かれる。低域通過フィルタ３１．３３はアンチエ
イリアスフィルタとして動作し、ｆｎ−１に超える周波
数成分を除去するためのフィルタである。サンプルホー
ルド回路３４３４はタイミング信号発生器３６のＳ／Ｈ
信号でサンプルホールドされる。第２図に示すようにＳ
／Ｈ信号は１／ｆ１×２ｎ周期であって、同じ時点でＥ
ｚ、 Ｅｉ ｆサンプルホールドする。この周期の中間
でタイミング信号発生器３６はスイッチ切替信号Ａ／Ｂ
ｉ ” １°１．“０“ と変化してスイッチ回路３
５を切習える。し九がってＥ為Ｅｌ （ぎ号が交互にい
変換器３７に入カレ、ま几Ａ／Ｄ変換スタートパルスＳ
ｔでＡ／Ｄ変換全スタートさせる。したがってＡ／Ｄ変
換器３７ハ図示のようにＢｚ（ｏ）ｐ Ｅｉ（ｏ）＋
ＥＺ（す。
Ｅｌ（す・・・のようにＥｚ、 Ｅｌ系列が交互に出力
される。
される。
こ＼でサフイクス（０）は１回目のサンプル値、（１）
は２回目のサンプル値・・・である。
は２回目のサンプル値・・・である。
フーリエ変換部４０は、Ａ／Ｄ変換終了パル瓦ＯＣ全受
けて、データを取シこむ。フーリエ変換部４０ハ、Ｅｚ
（ＣＩ、Ｅｚ（＋）、−、Ｅｚ、（２ｎ−Ｑのデータか
ら、Ｅｚ系列１ｃついてフーリエ変換してスペクトラム
ＥＺ？！−次式により得る。
けて、データを取シこむ。フーリエ変換部４０ハ、Ｅｚ
（ＣＩ、Ｅｚ（＋）、−、Ｅｚ、（２ｎ−Ｑのデータか
ら、Ｅｚ系列１ｃついてフーリエ変換してスペクトラム
ＥＺ？！−次式により得る。
Ｆｚ ＝ Ｆｚ（０） ＋ Ｆｚ（す＋−−−−−−
＋ Ｆｚ（２ｎ−＋ ）（）内の数値は周波数に対応
し、Ｆｚ（りは周波数１１ の成分、Ｆυ（りけ周波
数ｆ２の成分、・・・６Ｆｚ（ｎ−１）は周波数ｆ１−
＋ の成分を表わす。Ｆｚｊ〜はＦｚ（ｋ） ＝ Ｒ
６） ＋ ｊ Ｊｚ（ｋ）ｐ＝０ に＝Ｕ、 １．２． ”・、 （２ｎ−ｖ）として求
められる。
＋ Ｆｚ（２ｎ−＋ ）（）内の数値は周波数に対応
し、Ｆｚ（りは周波数１１ の成分、Ｆυ（りけ周波
数ｆ２の成分、・・・６Ｆｚ（ｎ−１）は周波数ｆ１−
＋ の成分を表わす。Ｆｚｊ〜はＦｚ（ｋ） ＝ Ｒ
６） ＋ ｊ Ｊｚ（ｋ）ｐ＝０ に＝Ｕ、 １．２． ”・、 （２ｎ−ｖ）として求
められる。
以上はＥｚ系列についてであるが、Ｅｉ系列についても
同様にスペクトラムＦｉｔ求ａ６る。
同様にスペクトラムＦｉｔ求ａ６る。
次に演算部４１は、フーリエ変換部４０で求め几Ｆｚ、
Ｆｉの各成分から、インピーダンスの振幅・位相を次
式で求める。
Ｆｉの各成分から、インピーダンスの振幅・位相を次
式で求める。
先ず、各周波数における被測定資料２１の電圧・電流の
振幅・位相を計算する。
振幅・位相を計算する。
電圧は、１１周波数において、
振幅 Ａｚｌ ＝ １ｚ（ｔ５ ＋ Ｊｚ（＋）’／
Ａｙ位相 Φｚｚ ＝ ｔａｎＱ ・’ （Ｊｚ（す
／Ｒｚ（１） ）以下、同様にｆｚｆｓ、・・・＋ ｆ
ｎ−’周波数について求める。こ＼でＡｖ は差動増
幅器２２の利得で、Ｅｚｆ Ａｖで除算し、被測定試料
２１の端子電圧ｅに換算している。
Ａｙ位相 Φｚｚ ＝ ｔａｎＱ ・’ （Ｊｚ（す
／Ｒｚ（１） ）以下、同様にｆｚｆｓ、・・・＋ ｆ
ｎ−’周波数について求める。こ＼でＡｖ は差動増
幅器２２の利得で、Ｅｚｆ Ａｖで除算し、被測定試料
２１の端子電圧ｅに換算している。
全く同様に、電流は−ｆ＋周波数において、振＠
Ａｉｌ ＝ Ｒ１Ｌｌ’＋ ＪＫ’）’ンＲｉ位相
Φｉ１＝ ｔａｎ−ｔ （Ｊｉ（１／Ｒ１（す１以下
、同様にｆ２．ｆｓ＃ ・・・＊ ｆｎ−’周波数につ
いて求める。こ＼で斑は第１図の電流・電圧変換器２３
における演算増幅器の帰還抵抗であって、Ｅｌから電流
１に換算している。
Ａｉｌ ＝ Ｒ１Ｌｌ’＋ ＪＫ’）’ンＲｉ位相
Φｉ１＝ ｔａｎ−ｔ （Ｊｉ（１／Ｒ１（す１以下
、同様にｆ２．ｆｓ＃ ・・・＊ ｆｎ−’周波数につ
いて求める。こ＼で斑は第１図の電流・電圧変換器２３
における演算増幅器の帰還抵抗であって、Ｅｌから電流
１に換算している。
したがって、各周波数におけるインピーダンスは、
Ｚ＋ ＝ Ａｚ ｔ／Ａｉ＋ ｌ−Φｚ＋４ｉｒＺ２
＝ Ａｚ ２／Ａｔ ２ ｌΦｚｚ−Ｊｉ２Ｚｎ−１
＝ Ａｚｎ−１／Ａ１ｎ−１−とΦｚｎ−４−Φ１ｎ−
１として振幅・位相角が求めらｎる。
＝ Ａｚ ２／Ａｔ ２ ｌΦｚｚ−Ｊｉ２Ｚｎ−１
＝ Ａｚｎ−１／Ａ１ｎ−１−とΦｚｎ−４−Φ１ｎ−
１として振幅・位相角が求めらｎる。
表示器４２け、例えばブラウン管上に振幅・位相角をグ
ラフと己て表示することで、直ちにインピーダンスを見
られるようにしたものである。
ラフと己て表示することで、直ちにインピーダンスを見
られるようにしたものである。
以上説明し次ように本発明によれば１／ｆ１周期内でサ
ンプリングし九人／Ｄ変換データ列の７−リエ変換と演
ＪＩＣよジ被測廻試料の周波数ｆ１゜ｆ２．・・・、ｆ
ｎ−＋ｌＣわたるインピーダンスの周波数特性を極めて
短時間に求めることができる。
ンプリングし九人／Ｄ変換データ列の７−リエ変換と演
ＪＩＣよジ被測廻試料の周波数ｆ１゜ｆ２．・・・、ｆ
ｎ−＋ｌＣわたるインピーダンスの周波数特性を極めて
短時間に求めることができる。
さらに上記のこと全定量的Ｖｃ睨明すると、従来のイン
ピーダンス測定装［を便用してＩ ＫＨｚから１２７
ＫＨ２までの周改数にわたる被測定試料のインピーダン
ス周波数特性の測定には１回の周波数切替に５０ｍ５．
１回のインピーダンス測定に１００ ｍｓ’ｉｚ要し、
合計（５０ｍｓ ＋ １００ｒｒ１ａ）Ｘ１２７＝１９
．０５秒全必要とし几。一方１本発明のインピーダンス
測定装置においては、ｆ＋＝Ｉ ＫＨｚ としてサンプ
リングに１ｍｓ、フーリエ変換および演算に約２秒を要
し、従来のインピーダンス測定装置と比較して約９，５
倍の速さが得られ友。
ピーダンス測定装［を便用してＩ ＫＨｚから１２７
ＫＨ２までの周改数にわたる被測定試料のインピーダン
ス周波数特性の測定には１回の周波数切替に５０ｍ５．
１回のインピーダンス測定に１００ ｍｓ’ｉｚ要し、
合計（５０ｍｓ ＋ １００ｒｒ１ａ）Ｘ１２７＝１９
．０５秒全必要とし几。一方１本発明のインピーダンス
測定装置においては、ｆ＋＝Ｉ ＫＨｚ としてサンプ
リングに１ｍｓ、フーリエ変換および演算に約２秒を要
し、従来のインピーダンス測定装置と比較して約９，５
倍の速さが得られ友。
第１図は本発明の一実施例の回路ブロック図、第２図は
第１図の実施例の動作説明の丸めのタイミングチャート
である。 １０・・・関数発生器、 ２０・・・測定増幅部
、２１・・・被測定資料、 ２２・・・差動増幅器
、２５・・・電流電圧変換器、 ３０・・・Ａ／Ｄ変
換部、３１、５５ ・・・低域通過フィルタ、５２．
５４・・・サンプリングホールド回路、５５・・・スイ
ッチ回路、 ３６・・・タイミング信号発生器、
３７・・・Ａ／Ｄ変換器、 ４０・・・フーリエ
変換部、４１・・・演算部、 ４２・・・表
示器。
第１図の実施例の動作説明の丸めのタイミングチャート
である。 １０・・・関数発生器、 ２０・・・測定増幅部
、２１・・・被測定資料、 ２２・・・差動増幅器
、２５・・・電流電圧変換器、 ３０・・・Ａ／Ｄ変
換部、３１、５５ ・・・低域通過フィルタ、５２．
５４・・・サンプリングホールド回路、５５・・・スイ
ッチ回路、 ３６・・・タイミング信号発生器、
３７・・・Ａ／Ｄ変換器、 ４０・・・フーリエ
変換部、４１・・・演算部、 ４２・・・表
示器。
Claims (1)
- 出力に周波数成分としてｆ＿１、２ｆ＿１、・・・（ｎ
−１）ｆ＿１を含む関数発生器と、該関数発生器によつ
て駆動される被測定試料の電圧および電流値をそれぞれ
増幅して電圧Ｅｚ、Ｅｉとして出力する測定増幅部と、
前記電圧Ｅｚ、Ｅｉを１／ｆ＿１周期内において１／ｆ
＿１×２ｎの周期で同時にサンプリングし、各サンプリ
ング値を１／ｆ＿１×２ｎ周期内でＥｚ、Ｅｉ系列を交
互にスイッチにより切替えてＡ／Ｄ変換器に導くＡ／Ｄ
変換部と、前記Ａ／Ｄ変換部の出力をＥｚ、Ｅｉ系列ご
とにフーリエ変換してｆ＿１、２ｆ＿１、・・・（ｎ−
１）ｆ＿１の各周波数のスペクトラムを計算するフーリ
エ変換部と、前記Ｅｚ、Ｅｉ系列のスペクトラムから被
測定資料のインピーダンスの周波数スペクトラムを与え
る演算部とを含むことを特徴とするインピーダンス測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22440285A JPS6282363A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | インピ−ダンス測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22440285A JPS6282363A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | インピ−ダンス測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6282363A true JPS6282363A (ja) | 1987-04-15 |
Family
ID=16813191
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22440285A Pending JPS6282363A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | インピ−ダンス測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6282363A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4854725A (en) * | 1988-06-10 | 1989-08-08 | Texaco Inc. | Multi-sensor steam quality monitoring means and method |
| EP2340608B1 (de) * | 2008-10-22 | 2019-06-12 | General Electric Technology GmbH | Vorrichtung und verfahren zur überwachung und/oder analyse von rotoren von elektrischen maschinen im betrieb |
| GB2613929A (en) * | 2021-11-09 | 2023-06-21 | Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd | Windowing filter for amplifier device |
-
1985
- 1985-10-07 JP JP22440285A patent/JPS6282363A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4854725A (en) * | 1988-06-10 | 1989-08-08 | Texaco Inc. | Multi-sensor steam quality monitoring means and method |
| EP2340608B1 (de) * | 2008-10-22 | 2019-06-12 | General Electric Technology GmbH | Vorrichtung und verfahren zur überwachung und/oder analyse von rotoren von elektrischen maschinen im betrieb |
| GB2613929A (en) * | 2021-11-09 | 2023-06-21 | Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd | Windowing filter for amplifier device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6970738B1 (en) | Complex impedance spectrometer using parallel demodulation and digital conversion | |
| JPS6282363A (ja) | インピ−ダンス測定装置 | |
| Koukourlis et al. | Differential synchronous demodulation for small signal amplitude estimation | |
| KR19990044983A (ko) | 실효값의 빠른 계측을 얻을 수 있는 실효값 변환기 | |
| GB1562853A (en) | Corona discharge detection apparatus | |
| JPH0496733A (ja) | 生体インピーダンス測定装置 | |
| JP4903312B2 (ja) | 重量測定装置 | |
| Märtens et al. | Multifrequency bio-impedance measurement: undersampling approach | |
| JP2911064B2 (ja) | インパルス性雑音平均値測定表示装置 | |
| JPH06160448A (ja) | 電流ベクトルによる受動素子値測定装置 | |
| RU2235336C1 (ru) | Измеритель мощности свч | |
| SU752206A1 (ru) | Способ измерени погрешностей цифро-аналогового преобразовани | |
| KR101886965B1 (ko) | 근사 사인파 발생기 및 스위칭 회로를 이용한 교류전압비 및 교류전압 측정 시스템 | |
| JPH01273423A (ja) | アナログデジタル変換器の校正方法 | |
| JP3284145B2 (ja) | Ｐｌｌ同期式測定装置 | |
| JPS61176863A (ja) | 交流信号の振幅．位相測定回路 | |
| US10511317B2 (en) | Electric quantity measuring device comprising an analog-digital converter | |
| SU978064A1 (ru) | Анализатор амплитуды и фазы гармоник периодических напр жений | |
| SU822051A1 (ru) | Устройство дл измерени уровн гАРМОНичЕСКиХ СОСТАВл ющиХ элЕКТРи-чЕСКиХ СигНАлОВ | |
| RU2061231C1 (ru) | Способ определения концентрации газа при помощи датчика с нелинейной характеристикой | |
| SU792171A1 (ru) | Анализатор спектра | |
| SU708252A2 (ru) | Устройство дл измерени основной частоты в цепи переменного тока | |
| SU1690194A1 (ru) | Способ контрол бипол рных цифро-аналоговых преобразователей | |
| SU1000933A1 (ru) | Преобразователь параметров трехэлементных двухполюсников | |
| RU2247995C2 (ru) | Цифровой измеритель гармонических искажений |