JPS6279157U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6279157U JPS6279157U JP16914485U JP16914485U JPS6279157U JP S6279157 U JPS6279157 U JP S6279157U JP 16914485 U JP16914485 U JP 16914485U JP 16914485 U JP16914485 U JP 16914485U JP S6279157 U JPS6279157 U JP S6279157U
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- JP
- Japan
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- terminals
- potential difference
- measuring
- power supply
- terminal
- Prior art date
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- Granted
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
第１図は本考案の第１の実施例を示すプローブ
の斜視図、第２図は第１図に示すプローブの制御
回路図、第３図は第１図に示すプローブの使用状
態を示す断面図、第４図は第２の実施例を示すプ
ローブの斜視図、第５図は第４図に示すプローブ
の底面図、第６図は従来のプローブの斜視図であ
る。 １……プローブ、２……給電用端子、３……電
位差測定用端子、５……切り換え用回路、７……
微小デジタル電圧計、８……制御箱、１１……被
検査体。
の斜視図、第２図は第１図に示すプローブの制御
回路図、第３図は第１図に示すプローブの使用状
態を示す断面図、第４図は第２の実施例を示すプ
ローブの斜視図、第５図は第４図に示すプローブ
の底面図、第６図は従来のプローブの斜視図であ
る。 １……プローブ、２……給電用端子、３……電
位差測定用端子、５……切り換え用回路、７……
微小デジタル電圧計、８……制御箱、１１……被
検査体。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被検査体に対して給電端子と電位差測定用
端子を配置し、これら端子間の電位差を測定する
ことにより被検査体に生じた損傷、劣化などを発
見しかつその程度を測定するものにおいて、プロ
ーブに対して複数の給電端子と電位差測定用端子
とを各々環状に配置し、各給電端子と電位差測定
用端子とは、所定の直線上に位置する端子の組を
それぞれ形成するよう配置し、かつ所定の組の端
子間における電位差を測定し得るよう、電位差測
定の切り換え回路を形成したことを特徴とする材
料劣化測定装置。 (2) 実用新案登録請求の範囲第(1)項記載におい
て、前記複数の給電端子と電位差測定用端子とを
、同心円を構成する仮想円上に各々配置し、各端
子の組はこの仮想円の所定の直径上に位置するよ
う構成したことを特徴とする材料劣化測定装置。 (3) 実用新案登録請求の範囲第(2)項記載におい
て、電位差測定用端子を、同心円を構成する２以
上の仮想円上に各々配置し、各端子の組における
電位差測定用端子の配置数を４以上としたことを
特徴とする材料劣化測定装置。 (4) 実用新案登録請求の範囲第(1)項記載におい
て、前記切り換え回路を制御箱に接続し、各端子
の組の切り換えをこの制御箱の指令信号により行
うよう構成したことを特徴とする材料劣化測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16914485U JPH0412452Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16914485U JPH0412452Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6279157U true JPS6279157U (ja) | 1987-05-20 |
| JPH0412452Y2 JPH0412452Y2 (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=31102673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16914485U Expired JPH0412452Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0412452Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014126375A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Ntn Corp | 焼入れ品質検査装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100559808B1 (ko) * | 2001-11-14 | 2006-03-15 | 가부시끼가이샤 도시바 | 검사 장치 및 초음파 검사 장치 |
-
1985
- 1985-11-05 JP JP16914485U patent/JPH0412452Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014126375A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Ntn Corp | 焼入れ品質検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0412452Y2 (ja) | 1992-03-25 |