JPS6275714A - プロセス制御装置 - Google Patents
プロセス制御装置Info
- Publication number
- JPS6275714A JPS6275714A JP21454985A JP21454985A JPS6275714A JP S6275714 A JPS6275714 A JP S6275714A JP 21454985 A JP21454985 A JP 21454985A JP 21454985 A JP21454985 A JP 21454985A JP S6275714 A JPS6275714 A JP S6275714A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sampling period
- substance
- degree
- unsteadiness
- calculation means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、物質精製用プロセス計装制御や分散形ディジ
タル計装制御等に使用されるプロセス制御装置に係わり
、特に制御周期の可変手段を改良してなるプロセス制御
装置に関する。
タル計装制御等に使用されるプロセス制御装置に係わり
、特に制御周期の可変手段を改良してなるプロセス制御
装置に関する。
プロセス計装制御ではアナログ制御とディジタル制御に
大別できるが、特にアナログ制(財)に比べてディジタ
ル制御はP− 1 −Dパラメータの外にもう1つサン
プリング周期という調節可能なパラメータをもっている
。
大別できるが、特にアナログ制(財)に比べてディジタ
ル制御はP− 1 −Dパラメータの外にもう1つサン
プリング周期という調節可能なパラメータをもっている
。
ところで、従来のディジタル制御は、間欠制御の欠陥を
補なう意味からサンプリング周期を出来る限り短く設定
してアナログ制御に接近させ、コントローラとしてのマ
イクロコンピュータが負荷として許す得る最小のサンプ
リング周期に固定した状態で制御している。また、従来
、サンプリング周期を変化させて制御するものもあるが
、これは人間がプロセス制(社)系の落着き具合を見計
らって予め定められたサンプリング周期を選択すること
により行っている。つまり、従来のディジタル制御はサ
ンプリング周期を積極的かつ自動的に変化させるものは
なかった。
補なう意味からサンプリング周期を出来る限り短く設定
してアナログ制御に接近させ、コントローラとしてのマ
イクロコンピュータが負荷として許す得る最小のサンプ
リング周期に固定した状態で制御している。また、従来
、サンプリング周期を変化させて制御するものもあるが
、これは人間がプロセス制(社)系の落着き具合を見計
らって予め定められたサンプリング周期を選択すること
により行っている。つまり、従来のディジタル制御はサ
ンプリング周期を積極的かつ自動的に変化させるものは
なかった。
従って、以上のようなディジタル制(社)、待にP・■
・Dパラメータだけを用いたものは遅れ時間や無駄時間
の大きな制御系の場合に制御性が著しく悪化し、一方、
人為的にサンプリング周期を選択して制御するものは操
作の繁雑さおよび遅れ時間や無駄時間の大きな制御系の
場合には前述と同様にプロセス制御系を適切に制御でき
ない問題があった。
・Dパラメータだけを用いたものは遅れ時間や無駄時間
の大きな制御系の場合に制御性が著しく悪化し、一方、
人為的にサンプリング周期を選択して制御するものは操
作の繁雑さおよび遅れ時間や無駄時間の大きな制御系の
場合には前述と同様にプロセス制御系を適切に制御でき
ない問題があった。
(発明の目的)
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、プロセス制
御系の定常度を把握してサンプリング周期を変化させ、
ディジタル制御の持つ有効性を十分に発揮させて良好な
制御性を確保するプロセス制御装置を提供することにあ
る。
御系の定常度を把握してサンプリング周期を変化させ、
ディジタル制御の持つ有効性を十分に発揮させて良好な
制御性を確保するプロセス制御装置を提供することにあ
る。
本発明は、第1の物質に加熱媒体を与えてこの第1の物
質から第2の物質を得る装置において、前記第2の物質
の発生量に基づいてディジタル調節演算を行って前記加
熱媒体の供給流量を制御するとともに、前記物質の物質
収支および前記物質における熱収支からプロセス制御系
の非定常度を判断し、この非定常度に基づいて前記ディ
ジタル調節演算のサンプリング周期を可変制御するよう
にしたものである。
質から第2の物質を得る装置において、前記第2の物質
の発生量に基づいてディジタル調節演算を行って前記加
熱媒体の供給流量を制御するとともに、前記物質の物質
収支および前記物質における熱収支からプロセス制御系
の非定常度を判断し、この非定常度に基づいて前記ディ
ジタル調節演算のサンプリング周期を可変制御するよう
にしたものである。
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。第1図は装置全体の構成を示す図であって、物質発
生用ドラム11には原料供給配管系12を通って第1の
物質である原料液13が供給されるようになっている。
る。第1図は装置全体の構成を示す図であって、物質発
生用ドラム11には原料供給配管系12を通って第1の
物質である原料液13が供給されるようになっている。
この原料供給配管系12には温度計14、流」計15お
よび原料液流量調節弁16等が設けられ、これらの温度
計14および流量計15により原料液温度T1、原料液
流ff1F1が測定され、またドラム11に液体レベル
計17を設けこのレベル計17によりドラム11内の原
料液13と蒸気22の圧力差から原料液13のレベルL
1を検出し、このレベルに応じて流最調節弁16を調茄
制(社)する構成となっている。
よび原料液流量調節弁16等が設けられ、これらの温度
計14および流量計15により原料液温度T1、原料液
流ff1F1が測定され、またドラム11に液体レベル
計17を設けこのレベル計17によりドラム11内の原
料液13と蒸気22の圧力差から原料液13のレベルL
1を検出し、このレベルに応じて流最調節弁16を調茄
制(社)する構成となっている。
そして、以上のように供給された物質発生用ドラム11
の原料液13は加熱媒体配管系21より送り込まれる加
熱用蒸気によって熱交換され、蒸気22となって発生す
る。この加熱媒体配管系21には同様に温度計23、流
量計24および加熱用蒸気流量調節弁等25が設置され
、温度計23および流量計24によりドラム入口側蒸気
温度T3および蒸気流ff1F3が測定され、また後述
するディジタル調節演算手段によって得られた出力を目
標値としこの目標値と前記蒸気流fiF3とから蒸気流
分調節弁25の操作出力を得る蒸気流量調節計26が設
けられている。27はドラム11の出口側蒸気温度T4
を測定する温度計である。
の原料液13は加熱媒体配管系21より送り込まれる加
熱用蒸気によって熱交換され、蒸気22となって発生す
る。この加熱媒体配管系21には同様に温度計23、流
量計24および加熱用蒸気流量調節弁等25が設置され
、温度計23および流量計24によりドラム入口側蒸気
温度T3および蒸気流ff1F3が測定され、また後述
するディジタル調節演算手段によって得られた出力を目
標値としこの目標値と前記蒸気流fiF3とから蒸気流
分調節弁25の操作出力を得る蒸気流量調節計26が設
けられている。27はドラム11の出口側蒸気温度T4
を測定する温度計である。
次に、物質発生用ドラム11内の上部に位置する蒸気部
分から発生蒸気移送用配管系31が導出され、これには
温度計32、発生蒸気流量調節弁33および発生蒸気流
量計34等が設けられ、この発生蒸気流m調節弁33は
ドラム11内の蒸気温度を測定する温度計35の出力を
受けて発生蒸気流」調節計36によって制御されるよう
になっている。37は発生蒸気を冷却する冷却器、38
は冷却器37により冷却して得られた椿製物質である精
製液を一時貯留するレシーバ、39はレシーバ38内の
粘製液とそれ以外の部分の圧力差から精製液のレベルを
測定する精製液レベル計である。 しかして、以上のよ
うなプロセス制御系において、前記精製液測定レベルP
■とレベル目標値Svの偏差に応じてP(比例)・1(
積分)・D(微分)調節演算を行うディジタル調節演算
手段40が設けられ、この調節演算手段40により得ら
れた出力は加熱用蒸気流出の目標値として前記蒸気流m
調節計26に供給されるようになっている。また、この
ディジタル調節演算手段40の内部または図示する如く
外部には各信号Pv、S■および調節出力をサンプリン
グする機械的なサンプラまたは電気的な手段により構成
されるハードまたはソフトなサンプラ41.42が設け
られ、これらのサンプラ41.42は非定常度判断部に
よって決定されるサンプリング周期△tにより制御され
るようになっている。
分から発生蒸気移送用配管系31が導出され、これには
温度計32、発生蒸気流量調節弁33および発生蒸気流
量計34等が設けられ、この発生蒸気流m調節弁33は
ドラム11内の蒸気温度を測定する温度計35の出力を
受けて発生蒸気流」調節計36によって制御されるよう
になっている。37は発生蒸気を冷却する冷却器、38
は冷却器37により冷却して得られた椿製物質である精
製液を一時貯留するレシーバ、39はレシーバ38内の
粘製液とそれ以外の部分の圧力差から精製液のレベルを
測定する精製液レベル計である。 しかして、以上のよ
うなプロセス制御系において、前記精製液測定レベルP
■とレベル目標値Svの偏差に応じてP(比例)・1(
積分)・D(微分)調節演算を行うディジタル調節演算
手段40が設けられ、この調節演算手段40により得ら
れた出力は加熱用蒸気流出の目標値として前記蒸気流m
調節計26に供給されるようになっている。また、この
ディジタル調節演算手段40の内部または図示する如く
外部には各信号Pv、S■および調節出力をサンプリン
グする機械的なサンプラまたは電気的な手段により構成
されるハードまたはソフトなサンプラ41.42が設け
られ、これらのサンプラ41.42は非定常度判断部に
よって決定されるサンプリング周期△tにより制御され
るようになっている。
前記非定常度判断部43は、供給原料液と発生蒸気との
物質収支の不一致量を求める物質収支演算手段51と、
前記物質における熱収支の不一致量を求める熱収支演算
手段52と、これらの演算手段51.52によって求め
られた物質収支の不一致量および熱収支の不一致量を用
いて非定常度を求める非定常度演算手段53と、この非
定常度演算手段53によって求められた非定常度に基づ
いてサンプリング周期△tを決定するサンプリング周期
決定部5によって構成されている。
物質収支の不一致量を求める物質収支演算手段51と、
前記物質における熱収支の不一致量を求める熱収支演算
手段52と、これらの演算手段51.52によって求め
られた物質収支の不一致量および熱収支の不一致量を用
いて非定常度を求める非定常度演算手段53と、この非
定常度演算手段53によって求められた非定常度に基づ
いてサンプリング周期△tを決定するサンプリング周期
決定部5によって構成されている。
次に、以上のように構成されたi置の動作を説明する。
先ず、プロセス制御系においては、液体レベル計17に
よりドラム11内の原料液レベルL1を測定し、この測
定レベルに応じて流量調節弁16をWA節副制御ながら
原料供給配管系12を用いてドラム11に原料液13が
所定のレベルとなるように供給される。
よりドラム11内の原料液レベルL1を測定し、この測
定レベルに応じて流量調節弁16をWA節副制御ながら
原料供給配管系12を用いてドラム11に原料液13が
所定のレベルとなるように供給される。
以上のようにしてドラム11に供給された原料液13は
加熱媒体配管系21から送り込まれるカロ熱用蒸気によ
り熱交換されてドラム11の上部に蒸気22が精製され
る。ここで、発生された蒸気22はドラム内の蒸気温度
を受けて発生蒸気流量調節針36により制御されながら
発生蒸気移送用配管系31を通って送り出されるが、そ
の途中において冷却器37によって冷却されて液化され
、この11tJ液がレシーバ38に一時蓄えられた後、
所定の場所に送り出される。
加熱媒体配管系21から送り込まれるカロ熱用蒸気によ
り熱交換されてドラム11の上部に蒸気22が精製され
る。ここで、発生された蒸気22はドラム内の蒸気温度
を受けて発生蒸気流量調節針36により制御されながら
発生蒸気移送用配管系31を通って送り出されるが、そ
の途中において冷却器37によって冷却されて液化され
、この11tJ液がレシーバ38に一時蓄えられた後、
所定の場所に送り出される。
このとき、前記レシーバ38において物質の精製量をレ
ベル計39により測定し、この測定値Pに基づいてディ
ジタル調節演算手段40がP−1−Dパラメータおよび
サンプラ41.42を介してサンプリング周明へtを可
変パラメータとして加熱用蒸気流量の目標値を得、これ
を蒸気流m調節計26に与えて実際の蒸気流IF3と比
較しながら加熱用蒸気流量を制御している。
ベル計39により測定し、この測定値Pに基づいてディ
ジタル調節演算手段40がP−1−Dパラメータおよび
サンプラ41.42を介してサンプリング周明へtを可
変パラメータとして加熱用蒸気流量の目標値を得、これ
を蒸気流m調節計26に与えて実際の蒸気流IF3と比
較しながら加熱用蒸気流量を制御している。
しかして、前記ディジタル調節演算手段40は、所望の
サンプリング周期へtによりサンプリングされた精製量
を受けてP−1−D調節演算を行うものであるが、この
サンプリング周期へtは非定常度判断部43によりプロ
セス制御系を考慮し、かつ特定された指標を用いて演算
式により求められる。
サンプリング周期へtによりサンプリングされた精製量
を受けてP−1−D調節演算を行うものであるが、この
サンプリング周期へtは非定常度判断部43によりプロ
セス制御系を考慮し、かつ特定された指標を用いて演算
式により求められる。
次に、サンプリング周期の決定動作について説明する。
一般に、プロセス制御系が定常であれば、物質収支と熱
収支はそれぞれ一致するはずである。
収支はそれぞれ一致するはずである。
従って、逆に非定常の度合はこれら収支の不一致Iの大
きさで表わすことができる。例えば物質収支が不一致の
場合、ドラム11の液レベルが何れかの方向に変化しい
ているか、または変化していないときでもドラム11内
の滞留総重量は何れかの方向に変化していて必ず液レベ
ルが変化してくるものである。そのため液レベルの調節
動作が動いて原料供給流量は変化するはずであり、その
意味では現在のプロセス制剖系は定常とは言えない。
きさで表わすことができる。例えば物質収支が不一致の
場合、ドラム11の液レベルが何れかの方向に変化しい
ているか、または変化していないときでもドラム11内
の滞留総重量は何れかの方向に変化していて必ず液レベ
ルが変化してくるものである。そのため液レベルの調節
動作が動いて原料供給流量は変化するはずであり、その
意味では現在のプロセス制剖系は定常とは言えない。
一方、非定常時であっても変動の途中でたまたまある時
刻において物質および熱の収支が成立することがあるの
で、ある時間区間だけ積分するのが評価法として望まし
く、また現在の収支子一致暑が最も大きく過去に遡るに
従って小さい方が評価として有効なものと言える。
刻において物質および熱の収支が成立することがあるの
で、ある時間区間だけ積分するのが評価法として望まし
く、また現在の収支子一致暑が最も大きく過去に遡るに
従って小さい方が評価として有効なものと言える。
そこで、本装置は、以上のような事柄を前提としつつ物
質収支の不一致量の大きさに時間重み係数(現在時刻か
らどれたけ遡ったかを表わす係数)をかけた後、適当な
時間[の区分で積分したものと、熱収支不一致量の大き
さに時間重み係数をかけ、同(薬に時間りの区分で積分
したものとをそれぞれ適宜な定数で結合し、プロセス1
l11(社)系の非定常度を判断する。そして、この非
定常度が大きくなればそれに従って大きくなるようなサ
ンプリング周期を例えば1次式により決定するものであ
る。
質収支の不一致量の大きさに時間重み係数(現在時刻か
らどれたけ遡ったかを表わす係数)をかけた後、適当な
時間[の区分で積分したものと、熱収支不一致量の大き
さに時間重み係数をかけ、同(薬に時間りの区分で積分
したものとをそれぞれ適宜な定数で結合し、プロセス1
l11(社)系の非定常度を判断する。そして、この非
定常度が大きくなればそれに従って大きくなるようなサ
ンプリング周期を例えば1次式により決定するものであ
る。
以下、サンプリング周期の決定について更に具体的に述
べると、原料供給配管系12および発生蒸気移送用配管
系31に設置される流量計15.34によって測定され
た原料液11F1および発生蒸気流11F2を第2図に
示す物質収支演算手段51に導入し、ここで次のような
演算式により物質収支の不一致1eFを求める。
べると、原料供給配管系12および発生蒸気移送用配管
系31に設置される流量計15.34によって測定され
た原料液11F1および発生蒸気流11F2を第2図に
示す物質収支演算手段51に導入し、ここで次のような
演算式により物質収支の不一致1eFを求める。
eF−l Fl−F2 l −−−−−−−・−
(1)そして、(1)式に基づいて求めた物質収支の不
一致11eFを非定常度演算手段53に供給する。
(1)そして、(1)式に基づいて求めた物質収支の不
一致11eFを非定常度演算手段53に供給する。
一方、熱収支の不一致Me)−1については、前記流儂
F1.F2のほかに、各温度計14.32゜23.27
により測定された原料液温度T1.発生蒸気温度T2.
入口側蒸気温度T3および出口側蒸気温度T4をそれぞ
れ熱収支演算手段52に供給し、これに更に?R量計2
4で測定された加熱用蒸気流ff1F3を導入し、各原
料液エンタルピh1、発生蒸気エンタルピh2.加熱用
蒸気エンタルピh3を用いて下式に示す演算式により求
める。
F1.F2のほかに、各温度計14.32゜23.27
により測定された原料液温度T1.発生蒸気温度T2.
入口側蒸気温度T3および出口側蒸気温度T4をそれぞ
れ熱収支演算手段52に供給し、これに更に?R量計2
4で測定された加熱用蒸気流ff1F3を導入し、各原
料液エンタルピh1、発生蒸気エンタルピh2.加熱用
蒸気エンタルピh3を用いて下式に示す演算式により求
める。
eH= l Fl hl (TI )+F3
h3 (T3)−F2t12 (T2)−F3h3
(T4) 1・・・・・・・・・・・・・・・
(2)以上のようにして求めた物質収支不一致量eFお
よび熱収支不一致flea(はそれぞれ非定常度演算手
段53に導入され、ここで適当な定数C1゜C2および
物質収支不一致量時間重み係数WFおよび熱収支不一致
量時間重み係数WHを用いである時間りの区間について
積分し、下式に基づいてプロセス制御系の非定常度μを
演算により求める。
h3 (T3)−F2t12 (T2)−F3h3
(T4) 1・・・・・・・・・・・・・・・
(2)以上のようにして求めた物質収支不一致量eFお
よび熱収支不一致flea(はそれぞれ非定常度演算手
段53に導入され、ここで適当な定数C1゜C2および
物質収支不一致量時間重み係数WFおよび熱収支不一致
量時間重み係数WHを用いである時間りの区間について
積分し、下式に基づいてプロセス制御系の非定常度μを
演算により求める。
u=01 WF(t−r)eF(r)dr+02
WH(t−r)eH(r)dr−(3)但し、tは現在
時刻、τはプロセス制御系の時定数を示す。次に、以上
のような式により非定常度μを求めたならば、これをサ
ンプリング周期決定部54に導入し、こここで適宜な定
数C3゜C4を用い、かつ上述したような1次式つまり
下式に基づいてサンプリング周期Δtを決定するもので
ある。
WH(t−r)eH(r)dr−(3)但し、tは現在
時刻、τはプロセス制御系の時定数を示す。次に、以上
のような式により非定常度μを求めたならば、これをサ
ンプリング周期決定部54に導入し、こここで適宜な定
数C3゜C4を用い、かつ上述したような1次式つまり
下式に基づいてサンプリング周期Δtを決定するもので
ある。
△t−C3μ+C4・・・・・・・・・・・・・・・(
4)そして、以上のようにして決定されたサンプリング
周期へtを用いて前記ディジタル調節演算手段40のサ
ンプラ41.42を制御し、物質精製量に基づいて加熱
用蒸気流量の目標圃を定め、この目標値に従って加熱用
蒸気流量を制御するものである。
4)そして、以上のようにして決定されたサンプリング
周期へtを用いて前記ディジタル調節演算手段40のサ
ンプラ41.42を制御し、物質精製量に基づいて加熱
用蒸気流量の目標圃を定め、この目標値に従って加熱用
蒸気流量を制御するものである。
従って、以上のような実施例の構成によれば、P−1−
Dパラメータのみならず、ディジタル制御の特長である
サンプリング周期をパラメータとしてプロセス制御系を
調節制御できるとともに、プロセス制御系の確実な指標
を用い、かつ物質収支および熱収支の不一致最から非定
常度を把握しこれによりサンプリング周期を決定してい
るので、人間の助および経験等に頼ることなくプロセス
の状況に応じて自動的にサンプリング周期を可変してデ
ィジタル制園を実行できる。この結果、例えば遅れ時間
や無駄時間の大きいプロセス制御系のディジタル制御に
おいてはサンプリング周期が長く設定され、プロセス制
御系の発散振動現象を未然に防止することができ、従来
に比べて大幅に制御性を改善することができる。
Dパラメータのみならず、ディジタル制御の特長である
サンプリング周期をパラメータとしてプロセス制御系を
調節制御できるとともに、プロセス制御系の確実な指標
を用い、かつ物質収支および熱収支の不一致最から非定
常度を把握しこれによりサンプリング周期を決定してい
るので、人間の助および経験等に頼ることなくプロセス
の状況に応じて自動的にサンプリング周期を可変してデ
ィジタル制園を実行できる。この結果、例えば遅れ時間
や無駄時間の大きいプロセス制御系のディジタル制御に
おいてはサンプリング周期が長く設定され、プロセス制
御系の発散振動現象を未然に防止することができ、従来
に比べて大幅に制御性を改善することができる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではない。
例えばディジタル調節演算手段40は、P−I−D調節
演算に限らず、別の制御アルゴリズムであってもよく、
例えばP・■制御アルゴリズムを用いてもよい。また、
物質収支の不一致伍として原料液流IF1および発生蒸
気流IF2を用いたが、このF2の代りにレシーバ38
の出力流量を用いてもよい。また、熱収支不一致当につ
いては(2)式に限らず例えばドラム11から放出され
る熱量を含めて考えてもよい。さらに、非定常度判断に
使用する時間重み係数は種々の式あるいは表にし、プロ
セス制御系の種々の条件に応じて使い分けてもよい。ま
た、非定常度は物質収支不一致量および熱収支−数量を
加算したが、これらの積結合として表わしてもよい。ま
た、サンプリング周期は(4)式に限る必要はなく、要
は非定常度が大きくなればそれに従って大きくなればよ
く、例えば非定常度に応じて単調増加または折線増加す
る関数発生器を用いてもよいものである。その他、本発
明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施でき
る。
演算に限らず、別の制御アルゴリズムであってもよく、
例えばP・■制御アルゴリズムを用いてもよい。また、
物質収支の不一致伍として原料液流IF1および発生蒸
気流IF2を用いたが、このF2の代りにレシーバ38
の出力流量を用いてもよい。また、熱収支不一致当につ
いては(2)式に限らず例えばドラム11から放出され
る熱量を含めて考えてもよい。さらに、非定常度判断に
使用する時間重み係数は種々の式あるいは表にし、プロ
セス制御系の種々の条件に応じて使い分けてもよい。ま
た、非定常度は物質収支不一致量および熱収支−数量を
加算したが、これらの積結合として表わしてもよい。ま
た、サンプリング周期は(4)式に限る必要はなく、要
は非定常度が大きくなればそれに従って大きくなればよ
く、例えば非定常度に応じて単調増加または折線増加す
る関数発生器を用いてもよいものである。その他、本発
明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施でき
る。
(発明の効果)
以上詳記したように本発明によれば、人為的な操作を伴
うことなく物質収支および熱収支からプロセスの遅れ時
間や無駄時間に応じてサンプリング周期を自助的に変更
し得、よってプロセス制御系の発散撮動現象を未然に防
止でき、制御性を大幅に改善でき、ディジタル制御系の
利点を十分発揮させ得るプロセス制御装置を提供できる
。
うことなく物質収支および熱収支からプロセスの遅れ時
間や無駄時間に応じてサンプリング周期を自助的に変更
し得、よってプロセス制御系の発散撮動現象を未然に防
止でき、制御性を大幅に改善でき、ディジタル制御系の
利点を十分発揮させ得るプロセス制御装置を提供できる
。
第1間は本発明装置の一実施例を示す構成図、第2図は
第1図の非定常度判断部の一例を示す構成図である。 11・・・物質精製用ドラム、13・・・原料液、22
・・・発生蒸気、26・・・加熱用蒸気流量調節計、4
0・・・ディジタル調節演算手段、41.42・・・サ
ンプラ、43・・・非定常度判断部、51・・・物質収
支演障手段、52・・・熱収支演算手段、53・・・非
定常度演算手段、54・・・サンプリング周期決定部。 z 第2図
第1図の非定常度判断部の一例を示す構成図である。 11・・・物質精製用ドラム、13・・・原料液、22
・・・発生蒸気、26・・・加熱用蒸気流量調節計、4
0・・・ディジタル調節演算手段、41.42・・・サ
ンプラ、43・・・非定常度判断部、51・・・物質収
支演障手段、52・・・熱収支演算手段、53・・・非
定常度演算手段、54・・・サンプリング周期決定部。 z 第2図
Claims (3)
- (1)第1の物質に加熱媒体を与えてこの第1の物質か
ら第2の物質を得る装置において、前記第2の物質の発
生量に基づいてディジタル調節演算を行つて前記加熱媒
体の供給流量を制御するディジタル調節演算手段と、前
記物質の物質収支および前記物質における熱収支から制
御系の非定常度を判断し、この非定常度に基づいて前記
ディジタル調節演算手段のサンプリング周期を可変制御
する非定常度判断部とを備えたことを特徴とするプロセ
ス制御装置。 - (2)ディジタル調節演算手段は、P・I・D調節演算
またはP・I調節演算を行うものである特許請求の範囲
第1項記載のプロセス制御装置。 - (3)非定常度判断部は、前記物質の物質収支不一致量
を求める物質収支演算手段と、前記物質における熱収支
の不一致量を求める熱収支演算手段と、これらの演算手
段によつて求められた物質収支不一致量および熱収支不
一致量を用いて非定常度を求める非定常度演算手段と、
この非定常度演算手段によつて求められた非定常度に基
づいてサンプリング周期を決定するサンプリング周期決
定部とを有するものである特許請求の範囲第1項記載の
プロセス制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21454985A JPS6275714A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | プロセス制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21454985A JPS6275714A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | プロセス制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6275714A true JPS6275714A (ja) | 1987-04-07 |
Family
ID=16657576
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21454985A Pending JPS6275714A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | プロセス制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6275714A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02123408A (ja) * | 1988-11-02 | 1990-05-10 | Rinnai Corp | 加熱装置の温度制御装置 |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP21454985A patent/JPS6275714A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02123408A (ja) * | 1988-11-02 | 1990-05-10 | Rinnai Corp | 加熱装置の温度制御装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Gandin et al. | Orientation dependence of primary dendrite spacing | |
US2067645A (en) | Apparatus for measuring flowing gaseous fluids | |
FI950850A (fi) | Virtausmittari | |
Kirmse | Investigations of pulsating turbulent pipe flow | |
JPS6275714A (ja) | プロセス制御装置 | |
RU2551386C2 (ru) | Способ определения истинного объемного паросодержания и скоростей фаз потока влажного пара в паропроводе после узла смешения потоков перегретого пара и воды | |
Scott | III. A determination of the vapour pressures of cœsium and rubidium, and a calculation of their chemical constants | |
CN107764350A (zh) | 质量流量测量方法和质量流量计 | |
US2886478A (en) | Method and control apparatus for carburizing ferrous objects | |
US2909919A (en) | Constituent potential measuring apparatus | |
JPS62246700A (ja) | 蒸気使用機器の運転管理装置 | |
US4009614A (en) | Apparatus for monitoring two-phase flow | |
JP2934883B2 (ja) | 気化方式によるガス発生装置 | |
JPH06318102A (ja) | センサ補償装置 | |
JPH07248304A (ja) | 熱伝導率計 | |
JPH11349097A (ja) | 液体の定量充填方法及び装置 | |
SU894473A1 (ru) | Устройство дл измерени в зкости расплавов металла | |
SU935887A1 (ru) | Устройство дл программного регулировани температуры газа | |
SU1615573A1 (ru) | Способ определени холодопроизводительности аммиачной холодильной установки | |
SU909410A1 (ru) | Устройство дл измерени степени сухости влажного пара | |
RU2035705C1 (ru) | Способ зингера а.м. измерения температуры | |
JPH09120315A (ja) | 蒸留塔の液位制御システム | |
SU506765A1 (ru) | Устройство дл проверки расходометров и счетчиков газа | |
SU815657A1 (ru) | Пр моотсчетный калориметрическийВАТТМЕТР | |
Kenning et al. | Boiling heat transfer in the annular flow regime |