JPS6267668A - Testing device - Google Patents
Testing deviceInfo
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- JPS6267668A JPS6267668A JP60207856A JP20785685A JPS6267668A JP S6267668 A JPS6267668 A JP S6267668A JP 60207856 A JP60207856 A JP 60207856A JP 20785685 A JP20785685 A JP 20785685A JP S6267668 A JPS6267668 A JP S6267668A
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- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は例えば人工衛星の機能や性能を地上で試験し
確認する試験、装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to testing and equipment for testing and confirming the functions and performance of, for example, artificial satellites on the ground.
従来の人工衛星の試験装置は、第４図に示すように大別
すると１人工衛星の各サブシステムごとに試験するサブ
システム試験装置と、このサブシステム試験装置からの
データを処理するデータ処理装置とから成っていた。図
において（１１は機能や性能の試験を地上で受ける人工
衛星、（２）は人工衛星の各サブシステム、例えば９人
工衛星の各部へ電力を供給する電源系や姿勢・軌道制御
を行う姿勢・軌道制御系等の各サブシステムごとの試験
を行うサブシステム試験装置、（３）は上記データ処理
装置である。Conventional satellite testing equipment can be roughly divided into subsystem testing equipment, which tests each subsystem of a single satellite, and data processing equipment, which processes data from this subsystem testing equipment, as shown in Figure 4. It consisted of. In the figure (11 is an artificial satellite undergoing function and performance tests on the ground, (2) is an artificial satellite's subsystems, such as the power supply system that supplies power to each part of the 9 artificial satellites and the attitude system that controls the attitude and orbit. A subsystem testing device (3) is the data processing device mentioned above, which tests each subsystem such as the orbit control system.
サブシステム試験装置（２）は１人工衛星のサブシステ
ム即ち、電源系サブシステム、テレメトリ／コマンド系
サブシステム、姿勢・軌道制御系サブシステム、推進系
サブシステム、熱制御系サブシステムの機能と性能が設
計通りであるかどうかの試験を地上で行う為のものであ
る。The subsystem test equipment (2) tests the functions and performance of the subsystems of one satellite, namely the power subsystem, telemetry/command subsystem, attitude/orbit control subsystem, propulsion subsystem, and thermal control subsystem. This is to conduct a test on the ground to see if it is as designed.
例えば姿勢・軌道制御系サブシステムの機能試験では、
設計通りの姿勢制御を行う上で、姿勢検出センサ、姿勢
制御電気回路、姿勢制御手駆動機構部品等が正常に動作
するかどうかを試験する。For example, in a functional test of the attitude/orbit control subsystem,
In order to perform posture control as designed, we test whether the posture detection sensor, posture control electric circuit, posture control hand drive mechanism parts, etc. operate normally.
さらに性能試験では、姿勢制御精度、制御速度が設計値
の範囲内に入っているかどうかを試験する。Furthermore, the performance test will test whether the attitude control accuracy and control speed are within the design value range.
上記した各サブシステムごとの試験の出力データは全て
データ処理装置（３）へ送られる。データ処理装置（３
）の中にはソフトウェアとしての試験データ処理手段が
組み込まれており、試験データのデータ処理／編集を行
う。例えば姿勢・軌道制御サブシステム試験の出力デー
タとしては、姿勢検出センサの検出感度を示す電圧値、
％気回路の各所の電流値、電圧値等のアナログデータと
共に、各スイッチの０Ｎ１０ＦＦ状態を示す２進数のデ
ィジタルデータ、制御速度を表わす回転数等の２進数の
ディジタルデータ等が上記データ処理装置（３）に入力
され、上記試験データ処理手段でデータ処理／編集が行
われる。データ処理装置（３１としては一般に汎甲の大
型コンピュータやミニコンピユータが使用され、上記試
験の出力データは全て２進数デイジタルデータで処理／
編集される。All of the test output data for each subsystem described above is sent to the data processing device (3). Data processing device (3
) has built-in test data processing means as software, and processes/edits test data. For example, the output data of the attitude/orbit control subsystem test includes a voltage value indicating the detection sensitivity of the attitude detection sensor,
The above data processing device ( 3), and data processing/editing is performed by the test data processing means. The data processing device (31) is generally a large Panko computer or a minicomputer, and all the output data of the above test is processed as binary digital data.
Edited.
データ処理装置（３）でのデータ処理／編集の内容は、
主として、２進数データを１０進数に変換し工学値単位
に単位変換する工学値変換処理と、各時刻ごとに集めら
れた各種データを分類して表にまとめたわ、数値データ
の変化する様子をグ→フにまとめたりする編集が主体で
ある。そして上記データ処理／編集後のデータはライン
プリンタやブモウン管上に出力される。The content of data processing/editing in the data processing device (3) is as follows:
Mainly, the engineering value conversion process that converts binary data into decimal numbers and unit conversion into engineering value units, and the various data collected at each time were classified and summarized in a table, showing how the numerical data changes. The main activity is editing that organizes things from "G" to "F". The data after the data processing/editing is output to a line printer or a tube.
人工衛星の専門家はこれらの出力結果を見ながら試験デ
ータの診断を実施する。試験データの診断とは人工衛星
の各サブシステムの機能と性能が設計通りに出ているか
どうかの良否の判定をすることであり、この判定基準は
設計値が用いられる。Satellite experts diagnose the test data while looking at these output results. Diagnosis of test data means determining whether the functions and performance of each subsystem of the satellite are performing as designed, and the design values are used as the criteria for this determination.
さらに、設計値を満足しな一試験データから、サブシス
テムのどこが故障しているか等の不具合箇所の推定を過
去の経験や知識から判断して行う。Furthermore, based on test data that does not satisfy the design values, the location of the failure, such as where in the subsystem is malfunctioning, is estimated based on past experience and knowledge.
従来の人工衛星試験装置は上記のように構成すれ２人工
衛星の各サブシステムの試験データの診断は全て人手に
よるもので９人工衛星専門家により、試験データの良否
の判定と不具合箇所の推定が行われていた。Conventional satellite test equipment is configured as described above.2 Diagnosis of the test data of each subsystem of the satellite is all done manually.9 Satellite experts judge whether the test data is good or bad and estimate the location of the failure. It was done.
〔発明が解決しようとする問題点９
以上説明したように、従来の人工衛星試験装置では、膨
大な試験データの診断を人手に頼っていたため、多数の
人工衛星専門家を必要とし、かつ人手によるデータ診断
のため、専門家が設計時の図面や設計データと比較して
試験データの良否の判定を行ったね、不具合箇所の推定
を行う作業に要する時間も膨大となる問題点があった。[Problem to be Solved by the Invention 9] As explained above, conventional satellite testing equipment relies on manual diagnosis of a huge amount of test data, requiring a large number of satellite experts, and For data diagnosis, experts compared the test data with design drawings and design data to judge whether the test data was good or bad.There was also the problem that it took a huge amount of time to estimate the location of the problem.
この発明は上述した問題点を解消するためのもので、従
来のデータ処理装置にデータ診断装置を接続して、試験
データの診断を自動化して、試験の省力化と試験時間の
短縮化を目的とする。This invention is intended to solve the above-mentioned problems, and aims to save labor and shorten testing time by connecting a data diagnostic device to a conventional data processing device and automating the diagnosis of test data. shall be.
この発明に係る試験装置は、従来のデータ処理装置にデ
ータ診断装置を接続し、このデータ診断装置には知識工
学や人工知能分野で通称となっている「エキスパートシ
ステム」が試験データ診断用にソフトウェア（手段）と
して構築されている。The test device according to the present invention connects a data diagnosis device to a conventional data processing device, and this data diagnosis device includes software for diagnosing test data called an “expert system” commonly known in the fields of knowledge engineering and artificial intelligence. It is constructed as a (means).
この「エキスパートシステム」はここでは診断手段と呼
び、知識データベース部と推論機能部とから成っている
。知識データベース部には、試験データ診断用の判定基
準が規則（ルール）化古れてデータベースとして入って
おり、この判定基準は人工衛星の設計時の設計値を基準
値としている。This "expert system" is referred to herein as a diagnostic means and consists of a knowledge database section and an inference function section. The knowledge database section contains a database of judgment criteria for test data diagnosis that have been converted into outdated rules, and these judgment criteria use the design values at the time of designing the artificial satellite as reference values.
推論機能部は、いわゆる三段論法等の論法で結果を推論
スるアルゴリズムがソフトウェアとして組み込まれてい
るもので、上記の知識データベース中のルール「もし〜
ならば〜である」の集合体かニ診断結果を推論するとき
に便甲される。The inference function section is a software built-in algorithm that infers the result using so-called syllogisms, etc.
Then, it is a collection of ``2'' is used when inferring a diagnostic result.
上記したデータ診断装置としては２通称「人工知能言語
」としてのリスプ言語やプロログ言語で書かれたソフト
ウェア（プログラム）を高速で処理することのできる１
通称「推論マシン」を使用する。推論マシン例としては
、遂次型推論マシン等が発表され実際に稼動している。The above-mentioned data diagnosis device is capable of processing software (programs) written in Lisp language or Prolog language, commonly known as ``artificial intelligence language'', at high speed.
Uses what is commonly known as an "inference machine." As an example of an inference machine, a sequential inference machine has been announced and is actually in operation.
Ｃ作戸〕
この発明においては、試験データ診断用ルールを持つ知
識データベース部と推論機能部とから成る診断手段によ
り試験データの診断を自動化すると共に、専甲のデータ
診断装置を接続したことによる試験データ診断処理の高
速化、すなわち試験時間の短縮化を実現できる。C Sakuto] In this invention, the diagnosis of test data is automated by a diagnostic means consisting of a knowledge database section having rules for diagnosing test data and an inference function section, and the test is performed by connecting a specialized data diagnosis device. It is possible to speed up data diagnosis processing, that is, shorten test time.
第１図はこの発明の一実施例の全体構成を２、−ドウエ
フを中心に示すものであり、（１）〜（３）は上記従来
の装置と同一のものである。（４）はデータ診断装置で
あり、従来のデータ処理装置（３）に接続されている。FIG. 1 shows the overall configuration of an embodiment of the present invention, centering on the 2-double head, and (1) to (3) are the same as the above-mentioned conventional device. (4) is a data diagnostic device, which is connected to the conventional data processing device (3).
上記データ処理装置（３）とデータ診断装置（４）には
ソフトウェアが手段として組み込まれており、各処理を
アルゴリズムに従って実行する。上記データ処理装置（
３）、データ診断装置（４）に組み込まれているソフト
ウェアの構成を第２図に示す。Software is incorporated into the data processing device (3) and data diagnosis device (4) as means, and each process is executed according to an algorithm. The above data processing device (
3) The configuration of the software built into the data diagnosis device (4) is shown in FIG.
この図の中で、試験データ処理手段（１１１はデータ処
理装置（３１に組み込まれており、従来の手段と同一で
ある。In this figure, the test data processing means (111) is incorporated in the data processing device (31) and is the same as the conventional means.
次に診断手段αａはデータ診断装Ｍ（４）に組み込まれ
ているソフトウェアで、知識データベース部ａ３と推論
機能部α４１．Ｌ−から成っている。Next, the diagnostic means αa is software built into the data diagnostic device M(4), and includes a knowledge database section a3 and an inference function section α41. It consists of L-.
上記のように構成された人工衛星試験装置においては１
人工衛星からの試験データはサブシステム試験装置（２
）を経由して、データ処理装置（３）へ入力さし、試験
データ処理手段（１１）によりデータ処理／編集が行わ
れる。ここまでの処理は上記した従来装置と同一である
。In the satellite test equipment configured as above, 1
Test data from the satellite is sent to the subsystem test equipment (2
) is input to the data processing device (3), and data processing/editing is performed by the test data processing means (11). The processing up to this point is the same as that of the conventional device described above.
上記試験データ処理手段ａυで処理／編集された試験デ
ータはデータ診断装置（４）へ入力され９診断手段α邊
により試験データの診断が実施される。The test data processed/edited by the test data processing means aυ is input to the data diagnosis device (4), and the test data is diagnosed by the 9 diagnosis means α.
診断手段α２は、知識工学や人工知能分野で通称「エキ
スパートシステム」と呼ばれているソフトウェア（プロ
グラム、手段）で、知識データベース部α３と推論機能
部（１４１から成っており、上記したデータ診断装置（
４）の中で動作し、試験データの診断処理を行う。The diagnostic means α2 is software (program, means) commonly called an "expert system" in the fields of knowledge engineering and artificial intelligence, and consists of a knowledge database part α3 and an inference function part (141), and is a data diagnostic device as described above. (
4) and performs diagnostic processing on test data.
知識データベース部Ｑ３は、試験データ診断用の判定基
準がルール（規則）化されて、ルールの集合体としての
データベースを構成している。試験データ診断用ルール
の一例を第３図に示し以下説明する。In the knowledge database section Q3, judgment criteria for test data diagnosis are converted into rules, and a database is configured as a collection of rules. An example of the test data diagnosis rule is shown in FIG. 3 and will be described below.
第３図においては、５個のルールを０１１から（至）に
示している。各ルールは仮定部（至）と結論部Ｃ３７）
から成っており、仮定部（至）は「もし〜ならば」に相
当し、結論部Ｇっは「〜である」に相当する。例えばこ
の図において、ルール５３Ｓの意味するところは「もし
姿勢検出センサＮ０．１が正常で、ジャイロＮｏ、１が
正常で、ホイールＮｏ、 １が異常ならば。In FIG. 3, five rules are shown from 011 to (to). Each rule consists of a hypothesis part (to) and a conclusion part C37)
The hypothesis part (to) corresponds to "if..." and the conclusion part G corresponds to "is...". For example, in this figure, Rule 53S means, ``If attitude detection sensor N0.1 is normal, gyro No. 1 is normal, and wheel No. 1 is abnormal.
姿勢・軌道サブシステム１はホイールに不具合の可能性
がある。そして対策として、ホイールの駆動回路と入力
信号レベルをチェックせよ」を表わして論る。Attitude/orbit subsystem 1 may have a problem with the wheels. As a countermeasure, check the wheel drive circuit and input signal level.''
以上説明したようにこれらのルールの集合体が知識デー
タベース部（１３である。As explained above, the collection of these rules is the knowledge database section (13).
次に推論機能部Ｉは知識工学や人工知能分野で通称「推
論エンジン」等と呼ばれてｂる一般的なアルゴリズムで
構成されて因るもので、いわゆる三段論法等の論法で、
結果を推論するアルゴリズムがソフトウェアで作成され
ており、上記ルール「もし〜ならば〜である」の集合体
から診断結果を推論するときに使用される。Next, the inference function unit I is commonly called an "inference engine" in the fields of knowledge engineering and artificial intelligence, and consists of general algorithms such as so-called syllogisms.
An algorithm for inferring the result is created in software and is used when inferring the diagnostic result from the collection of the above-mentioned "if... then..." rules.
上記した知識データベース部αｊと推論機能部（Ｉ４）
を使用して、試験データの診断が実施され、試験データ
から正常か異常を判定し、異常データから不具合箇所の
推定とそのときの対策を自動的に決めて表示する。The above-mentioned knowledge database section αj and inference function section (I4)
is used to diagnose the test data, determine whether the test data is normal or abnormal, and automatically determine and display the location of the problem based on the abnormal data and countermeasures.
ところで上記説明では、この発明を人工衛星の試験装置
に利用する場合につめて述べたが２人工衛星に限らず、
航空機や船舶や車等にも利用でき。By the way, in the above explanation, the present invention was only applied to a test device for an artificial satellite, but it is not limited to two artificial satellites.
It can also be used for aircraft, ships, cars, etc.
診断を必要とする一般的な試験装置に利用できることは
いうまでもなり０
〔発明の効果〕
以上説明した↓うに、この発明は従来のデータ処理装置
にデータ診断装置を接続して１人手による試験データ診
断作業を機械化したので２例えば人工衛星の試験データ
の診断を自動化でき、試験作業の省力化と高速化を行う
効果がある。It goes without saying that it can be used in general test equipment that requires diagnosis. [Effects of the Invention] As explained above, this invention connects a data diagnosis device to a conventional data processing device to perform testing by one person. Since the data diagnosis work has been mechanized, it is possible to automate the diagnosis of, for example, test data of artificial satellites, which has the effect of saving labor and speeding up the test work.
第１図はこの発明の実施例による全体システム構成図、
第２図はこの発明の実施例に示すソフトウェアを手段と
して示したソフトウェア構成図。
第３図は第２図に示した診断手段の知識データベース部
を説明した図、第４図は従来の人工衛星試験装置を示す
全体システム構成図である。
図中（３）はデータ処理装置、（４）はデータ診断装置
。
αａは診断手段、αｊは知識データベース部、α瘤は推
論機能部である。
なお２図中同一符号は同−又は相当部分を示す。FIG. 1 is an overall system configuration diagram according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a software configuration diagram showing software as a means according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram illustrating the knowledge database section of the diagnostic means shown in FIG. 2, and FIG. 4 is an overall system configuration diagram showing a conventional artificial satellite testing device. In the figure, (3) is a data processing device, and (4) is a data diagnostic device. αa is a diagnostic means, αj is a knowledge database section, and α aneurysm is an inference function section. Note that the same reference numerals in the two figures indicate the same or equivalent parts.
Claims (1)
置と、ルール化された試験データ診断用判定基準がルー
ルの集合体としてのデータベースを構成する知識データ
ベース部、この知識データベース中のルールの集合体か
ら試験データの診断結果を推論する推論機能部からなる
診断手段を有し、上記試験データの診断を行うデータ診
断装置とを具備したことを特徴とする試験装置。A data processing device for processing/editing test data of a device under test, a knowledge database section in which rule-based test data diagnosis criteria constitute a database as a collection of rules, and a collection of rules in this knowledge database. What is claimed is: 1. A test device comprising: a diagnostic means comprising an inference function section that infers a diagnostic result of test data from a test data; and a data diagnostic device that diagnoses the test data.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60207856A JPS6267668A (en) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | Testing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60207856A JPS6267668A (en) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | Testing device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6267668A true JPS6267668A (en) | 1987-03-27 |
Family
ID=16546663
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60207856A Pending JPS6267668A (en) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | Testing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6267668A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0335380A2 (en) * | 1988-03-30 | 1989-10-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Testing apparatus |
| JP2019507706A (en) * | 2016-03-07 | 2019-03-22 | オープン コスモス リミテッド | Apparatus and method for satellite payload development |
-
1985
- 1985-09-20 JP JP60207856A patent/JPS6267668A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0335380A2 (en) * | 1988-03-30 | 1989-10-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Testing apparatus |
| JP2019507706A (en) * | 2016-03-07 | 2019-03-22 | オープン コスモス リミテッド | Apparatus and method for satellite payload development |
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