JPS6263868A - 容量素子の絶縁抵抗測定方法 - Google Patents
容量素子の絶縁抵抗測定方法Info
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- JPS6263868A JPS6263868A JP20296285A JP20296285A JPS6263868A JP S6263868 A JPS6263868 A JP S6263868A JP 20296285 A JP20296285 A JP 20296285A JP 20296285 A JP20296285 A JP 20296285A JP S6263868 A JPS6263868 A JP S6263868A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は例えばコンデンサのような容量素子の絶縁抵
抗を測定する容量素子の絶縁抵抗測定方法に関する。
抗を測定する容量素子の絶縁抵抗測定方法に関する。
「従来技術」
従来容量素子の絶縁抵抗は第４図及び第５図に示すよう
な測定回路によって測定している。第４図に示す測定回
路はＪＩＳ −Ｃ５１０２で規定さ几た測定方法を示す
。また第５図に示す測定回路ばＪＩＳ−Ｃ１３０３で規
定された測定回路である。
な測定回路によって測定している。第４図に示す測定回
路はＪＩＳ −Ｃ５１０２で規定さ几た測定方法を示す
。また第５図に示す測定回路ばＪＩＳ−Ｃ１３０３で規
定された測定回路である。
第４図に示す測定回路においてｌは被測定体、２は保護
抵抗器、３は標準抵抗器、４は直流電源、５は検流計、
６は分流器、Ｓｌは検流計Ｇａをシ、−トしておくシャ
ントスイッチ、Ｓ２は切替スイッチをそれぞれ示す。
抵抗器、３は標準抵抗器、４は直流電源、５は検流計、
６は分流器、Ｓｌは検流計Ｇａをシ、−トしておくシャ
ントスイッチ、Ｓ２は切替スイッチをそれぞれ示す。
測定時はシャントスイッチＳ１をオフにし、切替スイッ
チＳ２を接点９に投入する。このときの検流計５の振れ
をｄ。とする。またこのときの分流器６の分流比をＳ。
チＳ２を接点９に投入する。このときの検流計５の振れ
をｄ。とする。またこのときの分流器６の分流比をＳ。
とする。次に切替スイッチＳ２を接点すに倒す。このと
きの検流計５の振れをｄｘとする。またこのときの分流
器６０分流比をＳｘとする。
きの検流計５の振れをｄｘとする。またこのときの分流
器６０分流比をＳｘとする。
標準抵抗器３の抵抗値をＲ８とすると、被測定体１の絶
縁抵抗Ｒは によって求められる。
縁抵抗Ｒは によって求められる。
第５図に示す測定回路において１は被測定体、３は標準
抵抗器、４は直流電源、７は例えばデイノボルのような
入力インピーダンスが高い電圧測定器、Ｓ２は切替スイ
ッチを示す。
抵抗器、４は直流電源、７は例えばデイノボルのような
入力インピーダンスが高い電圧測定器、Ｓ２は切替スイ
ッチを示す。
この測定回路では切替スイッチＳ２を平素は接点ａに接
触させておき被測定体１の電荷を放出しておく、測定時
は切替スイッチＳ２を接点すに切替え直流電源４から被
測定体１と標準抵抗３から成る直列回路に直流電圧を印
加する。被測定体１に対する充電電流がゼロになった時
点で標準抵抗器３の両端に発生している電圧を電圧測定
器７によって測定する。その測定値をＶ とすれば絶縁
抵抗値Ｒは で求められる。ここでＶＢは直流電源４の電圧、Ｒ８は
標準抵抗器３の抵抗値である。
触させておき被測定体１の電荷を放出しておく、測定時
は切替スイッチＳ２を接点すに切替え直流電源４から被
測定体１と標準抵抗３から成る直列回路に直流電圧を印
加する。被測定体１に対する充電電流がゼロになった時
点で標準抵抗器３の両端に発生している電圧を電圧測定
器７によって測定する。その測定値をＶ とすれば絶縁
抵抗値Ｒは で求められる。ここでＶＢは直流電源４の電圧、Ｒ８は
標準抵抗器３の抵抗値である。
「発明が解決しようとする問題点」
第４図に示す測定方法において検流計５の振れｄｘを読
取るタイミングは被測定体１を流れる充電電流がゼロに
達した時点でなければならない。このためＪＩＳ−Ｃ５
１０２では切替スイッチＳ２を接点すに切替だ直後から
１分±５秒後に読取った値を採用している。
取るタイミングは被測定体１を流れる充電電流がゼロに
達した時点でなければならない。このためＪＩＳ−Ｃ５
１０２では切替スイッチＳ２を接点すに切替だ直後から
１分±５秒後に読取った値を採用している。
従って測定に少なくとも１分程度の時間を必要とするた
めコンデンサの製造工場において製造されるコンデンサ
を全量検査しようとすると１個当りの検査時間が長くな
るだめ多くの検査員を配置して掛らなければ検査が間に
含なくなる不都合がある。第５図に示す測定回路でも同
様の欠点がある。また容量が大きいコンデンサの場合は
１分を経過しても未だ充電電流が流れていることもあり
、容量の大きいコンデンサに対して正確な絶縁抵抗値を
測定できない不都合もある。
めコンデンサの製造工場において製造されるコンデンサ
を全量検査しようとすると１個当りの検査時間が長くな
るだめ多くの検査員を配置して掛らなければ検査が間に
含なくなる不都合がある。第５図に示す測定回路でも同
様の欠点がある。また容量が大きいコンデンサの場合は
１分を経過しても未だ充電電流が流れていることもあり
、容量の大きいコンデンサに対して正確な絶縁抵抗値を
測定できない不都合もある。
この発明の目的はコンデンサのような容量素子の絶縁抵
抗を短時間に測定することができる絶縁抵抗測定方法を
提供しようとするものである。
抗を短時間に測定することができる絶縁抵抗測定方法を
提供しようとするものである。
「問題点を解決するための手段」
この発明では容量素子に既知の直流電圧を印加すると共
て、直流電圧を印加した直後から一定時間毎に少なくと
も三点以上にわたって容ｊｔＸ子を流れる電流を測定し
、この三つの電流値と直流電圧値及び直列抵抗値とから
容量素子の絶縁抵抗を算出するようにしたものである。
て、直流電圧を印加した直後から一定時間毎に少なくと
も三点以上にわたって容ｊｔＸ子を流れる電流を測定し
、この三つの電流値と直流電圧値及び直列抵抗値とから
容量素子の絶縁抵抗を算出するようにしたものである。
つまりこの発明による測定方法は直流電圧Ｖを印加した
直後から例えば１秒間隔で三点にわたって容量素子を流
れる電流を測定することにより三つの電流測定値１１．
Ｉ２． Ｉ３を求め、この三つの測定値Ｉ、 、 Ｉ
２． Ｉ、と測定回路内の直列抵抗値ｒとから容量素子
の絶縁抵抗Ｒを によって算出するものである。
直後から例えば１秒間隔で三点にわたって容量素子を流
れる電流を測定することにより三つの電流測定値１１．
Ｉ２． Ｉ３を求め、この三つの測定値Ｉ、 、 Ｉ
２． Ｉ、と測定回路内の直列抵抗値ｒとから容量素子
の絶縁抵抗Ｒを によって算出するものである。
この発明の絶縁抵抗測定方法によれば少なくとも３秒程
度の時間で容量素子の絶縁抵抗を測定することができる
。よって従来と比較して極めて短時間に容量素子の絶縁
抵抗を測定することができる。
度の時間で容量素子の絶縁抵抗を測定することができる
。よって従来と比較して極めて短時間に容量素子の絶縁
抵抗を測定することができる。
「実施例」
第１図にこの発明の一実施例を示す。第１図において１
は被測定体となる容量素子を示す。この容量素子ｌを詳
しく描くと、容量ＩＡと直列抵抗成分ＩＢ及びこれら容
量ＩＡと直列抵抗成分ＩＢの直列回路と並列に絶縁抵抗
ＩＣが存在する。
は被測定体となる容量素子を示す。この容量素子ｌを詳
しく描くと、容量ＩＡと直列抵抗成分ＩＢ及びこれら容
量ＩＡと直列抵抗成分ＩＢの直列回路と並列に絶縁抵抗
ＩＣが存在する。
容量素子１は始めに切替スイッチＳ２の接点ａによって
両端が短絡された状態とされ容量ＩＡの電荷を放電させ
ておく、測定時は直流電源、１から容量素子１に既知の
直流電圧■を印加する。ここで抵抗器８は直流電源４の
内部抵抗及び直流電源４と直列接続した保護抵抗器等を
総称して示す。またその抵抗値ｒは直流電源の内部抵抗
、保護抵抗器及び後述する電流検出用抵抗器９Ａの抵抗
値を含めたものとする。
両端が短絡された状態とされ容量ＩＡの電荷を放電させ
ておく、測定時は直流電源、１から容量素子１に既知の
直流電圧■を印加する。ここで抵抗器８は直流電源４の
内部抵抗及び直流電源４と直列接続した保護抵抗器等を
総称して示す。またその抵抗値ｒは直流電源の内部抵抗
、保護抵抗器及び後述する電流検出用抵抗器９Ａの抵抗
値を含めたものとする。
９は電流測定手段を示す。電流測定手段９は容量素子１
と直流電圧源４との間に直列接続した既知の抵抗値を持
つ電流検出用抵抗器９Ａと、この電流検出用抵抗器９Ａ
に発生する電圧を測定するディジタルデルトメータのよ
うな人力インピーダンスが高い電圧測定手段９Ｂとによ
って構成される。
と直流電圧源４との間に直列接続した既知の抵抗値を持
つ電流検出用抵抗器９Ａと、この電流検出用抵抗器９Ａ
に発生する電圧を測定するディジタルデルトメータのよ
うな人力インピーダンスが高い電圧測定手段９Ｂとによ
って構成される。
１１は電流測定手段９から出力される電流検出信号を一
定時間毎に取込んで記憶し、その記憶した複数の電流値
と直列抵抗値ｒとから容量素子１の絶縁抵抗Ｒを算出す
る制御器である。
定時間毎に取込んで記憶し、その記憶した複数の電流値
と直列抵抗値ｒとから容量素子１の絶縁抵抗Ｒを算出す
る制御器である。
この制御器１１は例えば中央処理装置１１Ａと、ＲＯＭ
１１ Ｂと、ＲＡＭ １１ Ｃと、入力ポートｌＩＤ
と、出力ポート１１Ｅとから成るマイクロコンピュータ
によって構成することができる。制御器１１の出力ポー
ト１１Ｅから切替スイッチＳ２に切替制御信号を与える
と共に電圧測定手段９Ｂに測定開始指令信号を与える。
１１ Ｂと、ＲＡＭ １１ Ｃと、入力ポートｌＩＤ
と、出力ポート１１Ｅとから成るマイクロコンピュータ
によって構成することができる。制御器１１の出力ポー
ト１１Ｅから切替スイッチＳ２に切替制御信号を与える
と共に電圧測定手段９Ｂに測定開始指令信号を与える。
これと共に制御器１１は電圧測定手段９Ｂからディ・ゾ
タル信号の形態で出力される電流測定値を例えばｔ１秒
間隔で入力ポート１１Ｄを通じて取込み、例えば第２図
に示す３点の電流値１１． Ｉ２． Ｉ３をＲＡＭ １
１ Ｃに記憶する。
タル信号の形態で出力される電流測定値を例えばｔ１秒
間隔で入力ポート１１Ｄを通じて取込み、例えば第２図
に示す３点の電流値１１． Ｉ２． Ｉ３をＲＡＭ １
１ Ｃに記憶する。
この記憶した電流値１１． Ｉ２． Ｉ、と直流電圧源
４の電圧値Ｖ及び直列抵抗値ｒとから絶縁抵抗Ｒを、に
より算出し、表示器１２にその数値を表示する。
４の電圧値Ｖ及び直列抵抗値ｒとから絶縁抵抗Ｒを、に
より算出し、表示器１２にその数値を表示する。
ここで第１式が成り立つ理由について説明する。
容量素子１の絶縁抵抗ＩＣの抵抗値をＲ１，８歇Ｉへの
容量値をＣ２その直列抵抗成分ＩＢの抵抗値をＲ１とし
たとき測定回路のインピーダンスＺは■ 電流検出用抵抗器１１． Ａに流れる電流Ｉは、■ ｒ＝−、ｖは直流電圧源４の電圧。
容量値をＣ２その直列抵抗成分ＩＢの抵抗値をＲ１とし
たとき測定回路のインピーダンスＺは■ 電流検出用抵抗器１１． Ａに流れる電流Ｉは、■ ｒ＝−、ｖは直流電圧源４の電圧。
ｒ＋Ｚ
■
Ｒ＞＞ Ｒ１＋ ｒとすると、
切替スイッチＳ２を接点ａがらｂに倒したときの電流１
は経過時間をｔとすると、 Ｒ＞＞ｒとすると、 ｔ１＊ ２ｔ１＋ ３ｔ、のタイミングにおける測定電
流をＩｌ、 Ｉ、 、 Ｉ３とすると、 （６）式から（５）式を差し引くと。
は経過時間をｔとすると、 Ｒ＞＞ｒとすると、 ｔ１＊ ２ｔ１＋ ３ｔ、のタイミングにおける測定電
流をＩｌ、 Ｉ、 、 Ｉ３とすると、 （６）式から（５）式を差し引くと。
（７）式から（６）式を差し引くと、
（９）式を（８）式で割り算すると、
（５）式から
１１（ｒ＋Ｒ）（ｒ十Ｒ，）＝Ｖ（ｒ＋Ｒ，）＋ＶＡ（
ｒ＋Ｒ）（６）式から Ｉ２（ｒ＋Ｒ）（ｒ＋Ｒ，） 二Ｖ（ｒ＋Ｒ４）＋ＶＡ
２（ｒ＋Ｒ）（Ｉ ２ （ｒ 十Ｒ） Ｖ ｌ （ｒ
＋ Ｒ１） ＝ ＶＡ （ｒ ＋ Ｒ）０９式を代
入して よって四式より （Ｉ２ｒ＋４２Ｒ−Ｖ）（Ｉ２−Ｉ、）＝（Ｉ３−Ｉ２
）（１１ｒ十Ｉ １Ｒ−Ｖ）（Ｉ２ｒ−Ｖ）（Ｉ２−Ｉ
、）＋ｌ２（Ｉ２−Ｉ、）Ｒ＝ （Ｉ、−Ｉ２）（Ｉ、
ｒ−Ｖ）−ｔ−ｔ、（ｘ、ｘ２）ｕ（Ｉ２（Ｉ２−１１
）−Ｉ、（Ｉ、−Ｉ２） ＪＲ＝ ｌ３１１ｒ−Ｉ３Ｖ
−Ｉ２ｉ、ｒ＋ｌ２Ｖ−Ｉ２ｒ＋Ｉ２１１ｒ＋ＶＩ２−
４１Ｖ（Ｉ、’−Ｉ、ｌ３）Ｒ＝（Ｉ、Ｉ、−Ｉ２）ｒ
十（２Ｉ２−Ｉ３−Ｉ、）Ｖとなる。
ｒ＋Ｒ）（６）式から Ｉ２（ｒ＋Ｒ）（ｒ＋Ｒ，） 二Ｖ（ｒ＋Ｒ４）＋ＶＡ
２（ｒ＋Ｒ）（Ｉ ２ （ｒ 十Ｒ） Ｖ ｌ （ｒ
＋ Ｒ１） ＝ ＶＡ （ｒ ＋ Ｒ）０９式を代
入して よって四式より （Ｉ２ｒ＋４２Ｒ−Ｖ）（Ｉ２−Ｉ、）＝（Ｉ３−Ｉ２
）（１１ｒ十Ｉ １Ｒ−Ｖ）（Ｉ２ｒ−Ｖ）（Ｉ２−Ｉ
、）＋ｌ２（Ｉ２−Ｉ、）Ｒ＝ （Ｉ、−Ｉ２）（Ｉ、
ｒ−Ｖ）−ｔ−ｔ、（ｘ、ｘ２）ｕ（Ｉ２（Ｉ２−１１
）−Ｉ、（Ｉ、−Ｉ２） ＪＲ＝ ｌ３１１ｒ−Ｉ３Ｖ
−Ｉ２ｉ、ｒ＋ｌ２Ｖ−Ｉ２ｒ＋Ｉ２１１ｒ＋ＶＩ２−
４１Ｖ（Ｉ、’−Ｉ、ｌ３）Ｒ＝（Ｉ、Ｉ、−Ｉ２）ｒ
十（２Ｉ２−Ｉ３−Ｉ、）Ｖとなる。
従って直流電源４の電圧Ｖと直列抵抗値ｒが既知である
から電流値Ｉ４． Ｉ２． Ｉ３が得られれば絶縁抵抗
Ｒを算出することができる。
から電流値Ｉ４． Ｉ２． Ｉ３が得られれば絶縁抵抗
Ｒを算出することができる。
第３図に制御器１１を構成するマイクロコンピュータの
プログラムの概要をフローチャートで示す０ 「発明の効果」 上述したようにこの発明によれば容量素子１に既知の電
圧Ｖを印加した直後から一定時間毎に少なくとも３回電
流を測定し、電流値Ｉ４． Ｉ２． Ｉ。
プログラムの概要をフローチャートで示す０ 「発明の効果」 上述したようにこの発明によれば容量素子１に既知の電
圧Ｖを印加した直後から一定時間毎に少なくとも３回電
流を測定し、電流値Ｉ４． Ｉ２． Ｉ。
を得ることにより絶縁抵抗Ｒを求めることができる。従
って例えば測定時間間隔ｔ１をｔ１＝１秒程度に選定す
れば３秒で測定を終了し、絶縁抵抗Ｒを算出することが
できる。
って例えば測定時間間隔ｔ１をｔ１＝１秒程度に選定す
れば３秒で測定を終了し、絶縁抵抗Ｒを算出することが
できる。
またこの発明によれば電圧印加直後の電流の減少速度を
測定して絶縁抵抗値Ｒを算出する思想であるため容量Ｉ
Ａに対する充電電流がゼロに達しなくても絶縁抵抗値Ｒ
を算出することができる。
測定して絶縁抵抗値Ｒを算出する思想であるため容量Ｉ
Ａに対する充電電流がゼロに達しなくても絶縁抵抗値Ｒ
を算出することができる。
この結果容量１直Ｃが大きいコンデンサでも短時間に絶
縁抵抗値を求めることができ、然もその算出した絶縁抵
抗値は正確な値と見ることができ信頼性が高い。
縁抵抗値を求めることができ、然もその算出した絶縁抵
抗値は正確な値と見ることができ信頼性が高い。
尚上述では測定回数を３回としたが、３回以上採っても
よく、測定回数は３回に限られるものではない。
よく、測定回数は３回に限られるものではない。
第１図はこの発明による測定方法を用いる装置の一例を
示すブロック図、第２図はこの発明による測定方法を説
明するためのグラフ、第３図は第１図に示した装置に用
いるプログラムの概要を説明するためのフローチャート
、第４図及び第５図は従来の絶縁抵抗測定方法を説明す
るための接続図である。 １：容量素子、ＩＡ：容量、ＩＢ＝直列抵抗成分、ＩＣ
＝絶縁抵抗、Ｓ２：切替スイッチ、４：直流電源、８：
直列抵抗、９：電流測定手段、１１・・・制御器、１２
：表示器。
示すブロック図、第２図はこの発明による測定方法を説
明するためのグラフ、第３図は第１図に示した装置に用
いるプログラムの概要を説明するためのフローチャート
、第４図及び第５図は従来の絶縁抵抗測定方法を説明す
るための接続図である。 １：容量素子、ＩＡ：容量、ＩＢ＝直列抵抗成分、ＩＣ
＝絶縁抵抗、Ｓ２：切替スイッチ、４：直流電源、８：
直列抵抗、９：電流測定手段、１１・・・制御器、１２
：表示器。
Claims (1)
- （１）容量素子に既知の直流電圧を印加すると共に直流
電圧を印加した直後から一定時間毎に少なくとも三点以
上にわたって上記容量素子を流れる電流を測定し、この
三つの電流測定値と上記直流電圧の値及び直列抵抗の値
とから上記容量素子の絶縁抵抗値を算出するようにした
容量素子の絶縁抵抗測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20296285A JPS6263868A (ja) | 1985-09-13 | 1985-09-13 | 容量素子の絶縁抵抗測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20296285A JPS6263868A (ja) | 1985-09-13 | 1985-09-13 | 容量素子の絶縁抵抗測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6263868A true JPS6263868A (ja) | 1987-03-20 |
Family
ID=16466046
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20296285A Pending JPS6263868A (ja) | 1985-09-13 | 1985-09-13 | 容量素子の絶縁抵抗測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6263868A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0638065U (ja) * | 1992-10-16 | 1994-05-20 | キヤノン電子株式会社 | ヘッド駆動装置 |
| JP2019095396A (ja) * | 2017-11-28 | 2019-06-20 | ファナック株式会社 | モータ駆動装置および測定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6078359A (ja) * | 1983-10-05 | 1985-05-04 | Hitachi Ltd | 静止レオナ−ド装置 |
-
1985
- 1985-09-13 JP JP20296285A patent/JPS6263868A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6078359A (ja) * | 1983-10-05 | 1985-05-04 | Hitachi Ltd | 静止レオナ−ド装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0638065U (ja) * | 1992-10-16 | 1994-05-20 | キヤノン電子株式会社 | ヘッド駆動装置 |
| JP2019095396A (ja) * | 2017-11-28 | 2019-06-20 | ファナック株式会社 | モータ駆動装置および測定方法 |
| US10768237B2 (en) | 2017-11-28 | 2020-09-08 | Fanuc Corporation | Motor driving device and measuring method |
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