JPS626138A - 光フアイバ校正器 - Google Patents
光フアイバ校正器Info
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- JPS626138A JPS626138A JP14541785A JP14541785A JPS626138A JP S626138 A JPS626138 A JP S626138A JP 14541785 A JP14541785 A JP 14541785A JP 14541785 A JP14541785 A JP 14541785A JP S626138 A JPS626138 A JP S626138A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/08—Testing mechanical properties
- G01M11/088—Testing mechanical properties of optical fibres; Mechanical features associated with the optical testing of optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
- G01L1/242—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet the material being an optical fibre
- G01L1/243—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet the material being an optical fibre using means for applying force perpendicular to the fibre axis
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は架空地線の中に光ファイバを収納して構成さ
れた０ＰＧＷ （Ｏｐｔｉｃａｌ Ｇｒｏｕｎｄ Ｗ
ｉｒｅ、光複合架空地線）の各種負荷履歴時における光
伝送損失変化測定用及び光伝送損失の校正器として利用
される光ファイバ校正器に関する。
れた０ＰＧＷ （Ｏｐｔｉｃａｌ Ｇｒｏｕｎｄ Ｗ
ｉｒｅ、光複合架空地線）の各種負荷履歴時における光
伝送損失変化測定用及び光伝送損失の校正器として利用
される光ファイバ校正器に関する。
０ＰＧＷの断面構造は第３図に示す。
近年情報の高速化、大容量化の要求を満す情報伝送路と
して光ファイバが開発され、既に公衆通信ケはじめ各種
分野でその実用化が進んでいる。
して光ファイバが開発され、既に公衆通信ケはじめ各種
分野でその実用化が進んでいる。
特に電力分野では光ファイバの低損失、広帯域及び無誘
導性の優れた点に早くから着目し、マイクロ波通信に替
る信頼性の高い情報伝送路を構築するため電力会社にお
いて光ケーブルの実用線路への積極的な導入が推進され
ている。その−環として架空地線の中に光ファイバを収
納した前記０ＰＧＷが開発され実証試験により電力用通
信線として経済性、信頼性の面で有利であるとの評価を
得て応用面でその用途開発が進められている。０ＰＧＷ
の横断面構造を第３図に示す。図において３１は耐熱光
ファイバでＵ型溝付アルミスペーサ３２のあらかじめ設
定された溝に前記光ファイバ３１が挿入係止されて前記
スペーサ３２はあらかじめ設定された間隔でアルミチュ
ーブ３３内に該アルミチューブ３３に嵌合するよう設け
て、該アルミチューブ３８内に耐熱光ファイバ３１を配
設し、葭アルミチューブ３３の外周に外接し、かつ互に
外接するようアルミ被覆銅線３４が撚巻被覆されている
。この様に構成された０ＰＧＷより線性能試験として、
その架線時を想定した圧潰試験、金車試験、事故時の短
絡電流を想定した短絡試験、と−トサイクル試験、架線
後の状態を想定した引張試験、応力、伸び試験量種々の
性能把握試験が実施される。前記性能試験の目的は複合
架空地線０ＰＧＷの各種負荷履歴時における光伝送損失
変化を把握することにある。なぜならば光情報伝送シス
テム構築の設計根本思想の一つに光損失のマージン（許
容損失）をいくらにとるかという問題があり、通常は５
ｄＢ のマージンが採用されている。−力先ファイバ
には光減衰等の損失があり、シングルモード光ファイバ
で０．２６Ｂ／ｒ、の損失がある。光ファイバを融着接
続したり、あるいは測定器どうしコネクタ接続すると接
続損失が発生する。これら接続損失は避けられないもの
であるが、電線性能試験で伝送損失変化が増大したり残
留すれば設計マージンの値に影響を及ぼしシステムの根
底をゆるがす問題となる。より線性能試験では叙上の背
景により各種負荷履歴時の伝送損失変化分把握を行うが
、変化分として測定するレベルは０．０１ｄＢ〜５ｄＢ
程度である。測定系は第２図に示すように一定波長光出
射光源２１（光源）に被測定光ファイバ２２を溶融スプ
ライス接続された光ファイバ２３を介して接続し、該フ
ァイバ２２から伝達された光をセンサである光−電気変
換器（０／Ｅ）２４に送り該０／Ｅ ２４により約５０
ｄＢの電気レベルに変換し、該電気レベルを光パワメー
タ２５ ）Ｃ負荷し該パワメータ２５の出力を増幅器２
６を介してベンＬ／ ＝ｒ ｆ ２７ ニ負荷してペ
ンレコーダ２７を作動せしめて被測定光ファイバ２２の
光伝送損失変化をパワレベルで記録測定している。とこ
ろが前記伝送損失変化の校正値例えば０．１ｄＢのレベ
ルをペンレコーダ２７に校正値としてあらかじめ記録さ
せる時、光源２１及び光パワメータ２５には適当な光減
衰校正出力装置部が装着されていない。
導性の優れた点に早くから着目し、マイクロ波通信に替
る信頼性の高い情報伝送路を構築するため電力会社にお
いて光ケーブルの実用線路への積極的な導入が推進され
ている。その−環として架空地線の中に光ファイバを収
納した前記０ＰＧＷが開発され実証試験により電力用通
信線として経済性、信頼性の面で有利であるとの評価を
得て応用面でその用途開発が進められている。０ＰＧＷ
の横断面構造を第３図に示す。図において３１は耐熱光
ファイバでＵ型溝付アルミスペーサ３２のあらかじめ設
定された溝に前記光ファイバ３１が挿入係止されて前記
スペーサ３２はあらかじめ設定された間隔でアルミチュ
ーブ３３内に該アルミチューブ３３に嵌合するよう設け
て、該アルミチューブ３８内に耐熱光ファイバ３１を配
設し、葭アルミチューブ３３の外周に外接し、かつ互に
外接するようアルミ被覆銅線３４が撚巻被覆されている
。この様に構成された０ＰＧＷより線性能試験として、
その架線時を想定した圧潰試験、金車試験、事故時の短
絡電流を想定した短絡試験、と−トサイクル試験、架線
後の状態を想定した引張試験、応力、伸び試験量種々の
性能把握試験が実施される。前記性能試験の目的は複合
架空地線０ＰＧＷの各種負荷履歴時における光伝送損失
変化を把握することにある。なぜならば光情報伝送シス
テム構築の設計根本思想の一つに光損失のマージン（許
容損失）をいくらにとるかという問題があり、通常は５
ｄＢ のマージンが採用されている。−力先ファイバ
には光減衰等の損失があり、シングルモード光ファイバ
で０．２６Ｂ／ｒ、の損失がある。光ファイバを融着接
続したり、あるいは測定器どうしコネクタ接続すると接
続損失が発生する。これら接続損失は避けられないもの
であるが、電線性能試験で伝送損失変化が増大したり残
留すれば設計マージンの値に影響を及ぼしシステムの根
底をゆるがす問題となる。より線性能試験では叙上の背
景により各種負荷履歴時の伝送損失変化分把握を行うが
、変化分として測定するレベルは０．０１ｄＢ〜５ｄＢ
程度である。測定系は第２図に示すように一定波長光出
射光源２１（光源）に被測定光ファイバ２２を溶融スプ
ライス接続された光ファイバ２３を介して接続し、該フ
ァイバ２２から伝達された光をセンサである光−電気変
換器（０／Ｅ）２４に送り該０／Ｅ ２４により約５０
ｄＢの電気レベルに変換し、該電気レベルを光パワメー
タ２５ ）Ｃ負荷し該パワメータ２５の出力を増幅器２
６を介してベンＬ／ ＝ｒ ｆ ２７ ニ負荷してペ
ンレコーダ２７を作動せしめて被測定光ファイバ２２の
光伝送損失変化をパワレベルで記録測定している。とこ
ろが前記伝送損失変化の校正値例えば０．１ｄＢのレベ
ルをペンレコーダ２７に校正値としてあらかじめ記録さ
せる時、光源２１及び光パワメータ２５には適当な光減
衰校正出力装置部が装着されていない。
これは０．０１ｄＢの電気的な校正路を形成することは
発光ダイオードの温度特性等から非常に困難であり、そ
のため測定時０．０１〜０．１ｄＢの値をペンレコーダ
に記録させるには被測定光ファイバを適度に湾曲させ該
ファイバ内で光損失を強制的に発生させてその出力をペ
ンレコーダに記録させている。
発光ダイオードの温度特性等から非常に困難であり、そ
のため測定時０．０１〜０．１ｄＢの値をペンレコーダ
に記録させるには被測定光ファイバを適度に湾曲させ該
ファイバ内で光損失を強制的に発生させてその出力をペ
ンレコーダに記録させている。
すなわち０．０１ｄＢオーダの安定した発光ダイオード
（ＬＥＤ ）やレーザダイオード（ＬＤ）がないのでパ
ワレベルにおける光伝送損失測定時ンζおいて必要とす
る増幅及び減衰を可能とするパワレベル校正器が装着さ
れていない。又光減衰器は製品として市販されているが
、下記に記載する欠点がある。
（ＬＥＤ ）やレーザダイオード（ＬＤ）がないのでパ
ワレベルにおける光伝送損失測定時ンζおいて必要とす
る増幅及び減衰を可能とするパワレベル校正器が装着さ
れていない。又光減衰器は製品として市販されているが
、下記に記載する欠点がある。
すなわち市販の光減衰器は光強度に一定の減衰量を与え
て光通過部に金属膜フィルタを入れ光の一部を遮蔽、反
射、吸収、偏光させる光学系方法を使用している。とこ
ろが市販の減衰器は最小感度は０．１ｄＢであり減衰器
自体の損失は測定系の中に入り損失分として重畳するこ
とになる。伝送損失量変化の測定には可能な限りたとえ
減衰校正器といえども余計な損失増加をもたらす要素は
零であるのが理想であり、更に又性能把握の伝送損失変
化分測定で光減衰とは反対の光増幅の変化もありプラス
ゲインの校正レベルも必要であるが、この面からのプラ
スゲイン光レベル校正器はない等の不具合がある。
て光通過部に金属膜フィルタを入れ光の一部を遮蔽、反
射、吸収、偏光させる光学系方法を使用している。とこ
ろが市販の減衰器は最小感度は０．１ｄＢであり減衰器
自体の損失は測定系の中に入り損失分として重畳するこ
とになる。伝送損失量変化の測定には可能な限りたとえ
減衰校正器といえども余計な損失増加をもたらす要素は
零であるのが理想であり、更に又性能把握の伝送損失変
化分測定で光減衰とは反対の光増幅の変化もありプラス
ゲインの校正レベルも必要であるが、この面からのプラ
スゲイン光レベル校正器はない等の不具合がある。
この発明は成上に鑑みなされたもので、光学的手段を用
いることなく光ファイバに機械的湾曲、圧潰力を与え光
伝送変化（パワレベル）プラス又はマイナス変化を発生
させて光ファイバ伝送損失変化（パワレベル）を測定し
なり、光伝送損失（パワレベル）を校正したりすること
のできる光ファイバ較正器パワレベルを提供することを
その目的とする。
いることなく光ファイバに機械的湾曲、圧潰力を与え光
伝送変化（パワレベル）プラス又はマイナス変化を発生
させて光ファイバ伝送損失変化（パワレベル）を測定し
なり、光伝送損失（パワレベル）を校正したりすること
のできる光ファイバ較正器パワレベルを提供することを
その目的とする。
この発明の要旨は成上の特許請求の範囲に記載した光フ
ァイバ校正器（パワレベル）の構成にある。
ァイバ校正器（パワレベル）の構成にある。
以下この発明の作用をその構成と共に一実施例を示した
図面を参照しながら詳細に説明する。第１図はこの発明
の一実施例の説明用ケース内口面図である。図において
１はアルミ等から形成されたケースであり、対向する側
壁にそれぞれ光源からの入力及び被測定光ファイバへ出
力させるためのアダプタ２．２．を対向するよう取付は
固定し、校正用光ファイバケーブル３の両端末にそれぞ
れ固定して取付けられた光コネクタ４４をそれぞれアダ
プタ２，２に接続し、ケース１内のファイバ固定台５の
上面に刻設されたファイバ固定用溝５′内に前記校正用
光ファイバケーブル３を挿入して前記光ファイバケーブ
ル３を固定状態とする。この固定状態光ファイバケーブ
ル３に圧潰力を負荷するため等間隔シー圧潰力負荷用治
具６を前記固定状態の光ファイバケーブル３の上縁部分
を覆うよう配設して該上縁部分に接触せしめてこの圧潰
力負荷用治具６を介して前記校正用光ファイバケーブル
３に圧潰力を与えるようになっている。圧潰力はそれぞ
れの圧潰力負荷用治具６にそれぞれ垂直方向に設けられ
ケース１部に固定された雌ねじに螺合する雄ねじが刻設
されてケース１の上面を貫通して突出した部分に圧潰力
調整ダイアル７′が固定された圧潰力伝達軸７の雄ねじ
部を前記雌ねじに螺合せしめ前記ダイアル７′を前記伝
達軸７の螺進方向に回転すれば該軸７の先端は螺進して
前記圧潰力負荷用治具６の表面に接触し、なお螺進を進
めれば前記圧潰力負荷用治具６を介して圧潰力を固定さ
れた光ファイバケーブル３に与える。前記圧潰力調整ダ
イアル７′を反対方向）ζ回転すれば圧潰力は軽減又は
解放される゛こ・とけ言うまでない。
図面を参照しながら詳細に説明する。第１図はこの発明
の一実施例の説明用ケース内口面図である。図において
１はアルミ等から形成されたケースであり、対向する側
壁にそれぞれ光源からの入力及び被測定光ファイバへ出
力させるためのアダプタ２．２．を対向するよう取付は
固定し、校正用光ファイバケーブル３の両端末にそれぞ
れ固定して取付けられた光コネクタ４４をそれぞれアダ
プタ２，２に接続し、ケース１内のファイバ固定台５の
上面に刻設されたファイバ固定用溝５′内に前記校正用
光ファイバケーブル３を挿入して前記光ファイバケーブ
ル３を固定状態とする。この固定状態光ファイバケーブ
ル３に圧潰力を負荷するため等間隔シー圧潰力負荷用治
具６を前記固定状態の光ファイバケーブル３の上縁部分
を覆うよう配設して該上縁部分に接触せしめてこの圧潰
力負荷用治具６を介して前記校正用光ファイバケーブル
３に圧潰力を与えるようになっている。圧潰力はそれぞ
れの圧潰力負荷用治具６にそれぞれ垂直方向に設けられ
ケース１部に固定された雌ねじに螺合する雄ねじが刻設
されてケース１の上面を貫通して突出した部分に圧潰力
調整ダイアル７′が固定された圧潰力伝達軸７の雄ねじ
部を前記雌ねじに螺合せしめ前記ダイアル７′を前記伝
達軸７の螺進方向に回転すれば該軸７の先端は螺進して
前記圧潰力負荷用治具６の表面に接触し、なお螺進を進
めれば前記圧潰力負荷用治具６を介して圧潰力を固定さ
れた光ファイバケーブル３に与える。前記圧潰力調整ダ
イアル７′を反対方向）ζ回転すれば圧潰力は軽減又は
解放される゛こ・とけ言うまでない。
シングルモード単心光ファイバの圧潰力と伝送損失変化
測定例を下記に示す。
測定例を下記に示す。
圧潰力負荷治具寸法 圧潰力 伝送損失変化１０ａｍ
３４Ｋｐ １ｄＢＢＯｙａｕｔ
１２Ｋｙ ０．１ ｄＢ４０Ｂｄ
ｌＫｐ ０．０１ ｄＢ叙成上実施例においては校
正用光ファイバケーブル３が１条の場合を説明したが、
この校正用光ファイバケーブルは必ずしも１条に限定さ
れるものではなく互に平行に被測定光ファイバケーブル
の条数に対応して複数条、ケース１内に装着してそれぞ
れの校正用光ケーブルにそれぞれ成上にて説明したよう
な圧潰力を与える構成を施し複数条の光ファイバケーブ
ルの伝送損失量の変化を能率よ（０，０１ｄＢ のオー
ダまで正確に測定でき測定後は圧潰力を解除するので校
正減衰量が被測定光）［ アイμに重畳することはない。又この発明にか−１６光
、アイ２１校ＪＥｉよおい−Ｃ９よ被測定光、アイ２．
［の伝送損失変化量の測定を簡便迅速にするため前記圧
潰力伝達軸を別々に三本設け、それぞれ０．０１〜０．
１ｄＢ 測定用０．１ｄＢ−１ｄＢ測定用、１ｄＢ−１
０ｄＢ ′測定用とし前記それぞれに対応する圧潰
力負荷用治具もそれぞれ４０ｕｔｄ、 ２０ｔｕｔｕｔ
、 １Ｏａｕｕｒの金属製円板とし、それぞれの圧潰力
伝達軸のケース１の頂板貫通部の頂板上部分に前記伝達
軸が回転自在に回転するようｄＢ目盛板８が、圧潰力伝
達軸７の先端が圧潰力負荷用治具６の上面に接触した時
圧潰力調整ダイアル７′に一体的に形成されたポインタ
７′がそれぞれのｄＢ 目盛板８の始値と一致するよ
う固定されている。したがって圧潰力調整ダイアル７′
の回動により圧潰力を測定し、該圧潰力に対応する校正
光ファイバケーブル３の光伝送損失変化を前記ｄＢ
目盛板８で読み取ることができる。
３４Ｋｐ １ｄＢＢＯｙａｕｔ
１２Ｋｙ ０．１ ｄＢ４０Ｂｄ
ｌＫｐ ０．０１ ｄＢ叙成上実施例においては校
正用光ファイバケーブル３が１条の場合を説明したが、
この校正用光ファイバケーブルは必ずしも１条に限定さ
れるものではなく互に平行に被測定光ファイバケーブル
の条数に対応して複数条、ケース１内に装着してそれぞ
れの校正用光ケーブルにそれぞれ成上にて説明したよう
な圧潰力を与える構成を施し複数条の光ファイバケーブ
ルの伝送損失量の変化を能率よ（０，０１ｄＢ のオー
ダまで正確に測定でき測定後は圧潰力を解除するので校
正減衰量が被測定光）［ アイμに重畳することはない。又この発明にか−１６光
、アイ２１校ＪＥｉよおい−Ｃ９よ被測定光、アイ２．
［の伝送損失変化量の測定を簡便迅速にするため前記圧
潰力伝達軸を別々に三本設け、それぞれ０．０１〜０．
１ｄＢ 測定用０．１ｄＢ−１ｄＢ測定用、１ｄＢ−１
０ｄＢ ′測定用とし前記それぞれに対応する圧潰
力負荷用治具もそれぞれ４０ｕｔｄ、 ２０ｔｕｔｕｔ
、 １Ｏａｕｕｒの金属製円板とし、それぞれの圧潰力
伝達軸のケース１の頂板貫通部の頂板上部分に前記伝達
軸が回転自在に回転するようｄＢ目盛板８が、圧潰力伝
達軸７の先端が圧潰力負荷用治具６の上面に接触した時
圧潰力調整ダイアル７′に一体的に形成されたポインタ
７′がそれぞれのｄＢ 目盛板８の始値と一致するよ
う固定されている。したがって圧潰力調整ダイアル７′
の回動により圧潰力を測定し、該圧潰力に対応する校正
光ファイバケーブル３の光伝送損失変化を前記ｄＢ
目盛板８で読み取ることができる。
この発明の一実施例は作用の項にてその実施例を示した
第１図を参照して詳細しで説明した通りである。
第１図を参照して詳細しで説明した通りである。
この発明は成上の作用の項にて記載した構成及び作用を
有するので、この発明に従えば光ファイバ自体に直接所
定の圧潰力を与え該光ファイバを構成するクラッド及び
コアの外径をそれぞれ変化させることにより光の伝送量
を変化せしめるものであるからパワレベルの伝送損失の
変化測定時変化量の校正が簡便となると共に校正時の圧
潰力を加えて校正レベルを記録した後圧潰力を解放して
零とするので校正減衰量が被測定光ファイバに重畳する
ことが除去され正しい校正レベルを記録することができ
るので工業上の効果は極めて著しい。
有するので、この発明に従えば光ファイバ自体に直接所
定の圧潰力を与え該光ファイバを構成するクラッド及び
コアの外径をそれぞれ変化させることにより光の伝送量
を変化せしめるものであるからパワレベルの伝送損失の
変化測定時変化量の校正が簡便となると共に校正時の圧
潰力を加えて校正レベルを記録した後圧潰力を解放して
零とするので校正減衰量が被測定光ファイバに重畳する
ことが除去され正しい校正レベルを記録することができ
るので工業上の効果は極めて著しい。
第１図はこの発明にか−る光ファイバ校正器すなわち光
ファイバ伝送損失校正器の格納ケース−内における側面
図、第２図は従来の光ファイバ伝送損失変化測定回路図
、第３図は光複合架空地線すなわち０ＰＧＷの構造を示
す横断面図である。 １−−−ケース、２−ｍ−アダプタ、３−−一校正用光
ファイバケーブル、４−・光コネタ、５−−−光ファイ
バ固定台 ５／−−一光ファイバ固定用溝、６−・圧潰
力負荷用治具、７−−−圧潰力伝達軸、７′−ｍ−圧潰
力調整ダイアル、７′−ｍ−圧潰力調整ダイアルポイン
タ、８−・・ｄＢ目盛板。
ファイバ伝送損失校正器の格納ケース−内における側面
図、第２図は従来の光ファイバ伝送損失変化測定回路図
、第３図は光複合架空地線すなわち０ＰＧＷの構造を示
す横断面図である。 １−−−ケース、２−ｍ−アダプタ、３−−一校正用光
ファイバケーブル、４−・光コネタ、５−−−光ファイ
バ固定台 ５／−−一光ファイバ固定用溝、６−・圧潰
力負荷用治具、７−−−圧潰力伝達軸、７′−ｍ−圧潰
力調整ダイアル、７′−ｍ−圧潰力調整ダイアルポイン
タ、８−・・ｄＢ目盛板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、両端末にそれぞれ光コネクタを接続した単数本もし
くは複数本の校正用光ファイバケーブルに該光ファイバ
ケーブルをそれぞれ固定するよう表面に刻設された単数
条もしくは複数条の溝部を有する一台もしくは複数台の
前記光ファイバの固定台と、前記固定台の溝に固定され
た前記光ファイバにそれぞれ圧潰力を負荷する一個もし
くは複数個の圧潰力負荷用治具と、前記それぞれの治具
に圧潰力を下端の螺進接触圧により伝達する圧潰力伝達
軸と、該伝達軸が回転自在に貫通し前記治具により前記
固定台の溝に固定された前記光ファイバに負荷された圧
潰力による該光ファイバの光伝送損失をｄＢ単位で目盛
つて適宜固定された目盛板と、前記それぞれの圧潰力伝
達軸の上端部に固着された圧潰力調整ダイアルとを具え
てなることを特徴とする光ファイバ校正器。 ２、校正用光ファイバケーブルがマルチモード光ファイ
バケーブル単心型又は多心型もしくはシングルモード光
ファイバケーブル単心型又は多心型である特許請求の範
囲第１項記載の光ファイバ校正器。 ３、端末光コネクタが調心型もしくはフエルール型もし
くはボールロッド型の単心型もしくは多心型である特許
請求の範囲第１項記載の光ファイバ校正器。 ４、圧潰力負荷治具が金属もしくは合成樹脂にて形成さ
れた円板もしくは角板からなる特許請求の範囲第１項記
載の光ファイバ校正器。 ５、光ファイバ固定台表面に刻設された溝の断面がＶ字
形もしくは台形もしくは円形部分に形成した特許請求の
範囲第１項記載の光ファイバ校正器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14541785A JPS626138A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | 光フアイバ校正器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14541785A JPS626138A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | 光フアイバ校正器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS626138A true JPS626138A (ja) | 1987-01-13 |
Family
ID=15384767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14541785A Pending JPS626138A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | 光フアイバ校正器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS626138A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2929398A1 (fr) * | 2008-10-24 | 2009-10-02 | Technip France | Procede d'etalonnage d'un dispositif de controle optique |
| JP2012185017A (ja) * | 2011-03-04 | 2012-09-27 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 伝送装置、ｓパラメータ測定方法、およびゲイン調整方法 |
-
1985
- 1985-07-02 JP JP14541785A patent/JPS626138A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2929398A1 (fr) * | 2008-10-24 | 2009-10-02 | Technip France | Procede d'etalonnage d'un dispositif de controle optique |
| WO2010046602A1 (fr) * | 2008-10-24 | 2010-04-29 | Technip France | Procede d'etalonnage d'un dispositif de controle optique de courbure |
| US8451441B2 (en) | 2008-10-24 | 2013-05-28 | Technip France | Method for calibrating a device for optical curvature monitoring |
| AU2009306163B2 (en) * | 2008-10-24 | 2013-08-22 | Technip France | Method for calibrating a device for optical curvature monitoring |
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