JPS6258484A - ヘリウム封入形磁気デイスク装置 - Google Patents
ヘリウム封入形磁気デイスク装置Info
- Publication number
- JPS6258484A JPS6258484A JP19729185A JP19729185A JPS6258484A JP S6258484 A JPS6258484 A JP S6258484A JP 19729185 A JP19729185 A JP 19729185A JP 19729185 A JP19729185 A JP 19729185A JP S6258484 A JPS6258484 A JP S6258484A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- helium
- magnetic disk
- air
- temperature resistance
- disk device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、磁気ディスク装置に関するものであり、更に
詳述するならば、簡単な構成により空気混入の監視が可
能なヘリウム封入形磁気ディスク装置に関するも″ので
ある。
詳述するならば、簡単な構成により空気混入の監視が可
能なヘリウム封入形磁気ディスク装置に関するも″ので
ある。
従来の技術
現在、磁気ディスク装置は、ヘリウム封入形磁気ディス
ク装置が広く使用されている。その理由は、（１）ヘリ
ウムの密度が空気と比べて約１桁小さいので、ディズク
回転による風損が小さい、（２）ヘリウムの熱伝導率が
空気に比べて約６倍と大きく、熱を比較的よく逃がすこ
とができることのために、ディスク回転モータ、ポジシ
ョナモータ駆動による装置の温度上昇が小さい、等の特
長をもっていることである。
ク装置が広く使用されている。その理由は、（１）ヘリ
ウムの密度が空気と比べて約１桁小さいので、ディズク
回転による風損が小さい、（２）ヘリウムの熱伝導率が
空気に比べて約６倍と大きく、熱を比較的よく逃がすこ
とができることのために、ディスク回転モータ、ポジシ
ョナモータ駆動による装置の温度上昇が小さい、等の特
長をもっていることである。
しかし、封入されるヘリウムは長時間の使用によって、
容器から漏れたり、文通に空気の容器への混入が懸念さ
れる。
容器から漏れたり、文通に空気の容器への混入が懸念さ
れる。
ヘリウム封入形磁気ディスク装置に、ある程度の空気が
混入すると、ディスク回転による風損の増加およびディ
スク回転モータ、ポジショナモータなどの内部発熱体か
らの熱伝達率の低下により装置の温度が上昇する。この
ような機械的な問題だけでなく、空気の混入は、後述す
るように記録・再生の品質の低下をもたらす。
混入すると、ディスク回転による風損の増加およびディ
スク回転モータ、ポジショナモータなどの内部発熱体か
らの熱伝達率の低下により装置の温度が上昇する。この
ような機械的な問題だけでなく、空気の混入は、後述す
るように記録・再生の品質の低下をもたらす。
そこで、ヘリウム封入形磁気ディスク装置のヘリウムが
封入されている容器への空気の混入を監視し、上述した
不都合が生じる前に必要に応じてヘリウムの再注入など
を行うことが好ましい。
封入されている容器への空気の混入を監視し、上述した
不都合が生じる前に必要に応じてヘリウムの再注入など
を行うことが好ましい。
そのようなヘリウムへの空気の混入の監視方法として、
ディスク回転モータの消費電力あるいは装置の温度を測
定する方法が考えられる。しかし、ディスク回転モータ
の消費電力には、軸受けの摩擦損失なども含まれ、これ
が温度条件などによっても変化するため、空気混入率の
高精度な測定はできない。また、装置の温度も周囲温度
あるいはポジショナの稼動率など他の要因によって大き
く左右されるため、空気混入率の高精度測定はできない
。
ディスク回転モータの消費電力あるいは装置の温度を測
定する方法が考えられる。しかし、ディスク回転モータ
の消費電力には、軸受けの摩擦損失なども含まれ、これ
が温度条件などによっても変化するため、空気混入率の
高精度な測定はできない。また、装置の温度も周囲温度
あるいはポジショナの稼動率など他の要因によって大き
く左右されるため、空気混入率の高精度測定はできない
。
そこで、空気混入率の高精度測定のために他の測定法、
例えば酸素センサあるいはガスクロマトグラフを利用す
ることも考えられるが、装置が大型化しまた価格が著し
く増大し、現実的でない。
例えば酸素センサあるいはガスクロマトグラフを利用す
ることも考えられるが、装置が大型化しまた価格が著し
く増大し、現実的でない。
一方、磁気ディスクに用いられている浮動形磁気ヘッド
の浮上量は、ヘリウム雰囲気中と空気雰囲気中では大幅
に異なり、分子平均自由行程の長いヘリウム雰囲気中の
方が浮上量が小さいことは、この分野の技術者には公知
である。また、ヘリウム封入形磁気ディスク用として設
計された浮動形磁気ヘッドは、空気の混入によって浮上
量が増加し、磁気ヘッドの記録・再生特性が悪化する。
の浮上量は、ヘリウム雰囲気中と空気雰囲気中では大幅
に異なり、分子平均自由行程の長いヘリウム雰囲気中の
方が浮上量が小さいことは、この分野の技術者には公知
である。また、ヘリウム封入形磁気ディスク用として設
計された浮動形磁気ヘッドは、空気の混入によって浮上
量が増加し、磁気ヘッドの記録・再生特性が悪化する。
この記録・再生特性の変化を利用して空気混入率を測定
することも可能であるが、磁気ディスク記憶装置として
の性能が悪化して始めて空気混入量が検知されるのでは
意味がない。上述したように、記憶装置としての性能悪
化が始まる前に、空気混入を検知し、ヘリウムの再注入
などのメンテナンスを行うことが必要である。
することも可能であるが、磁気ディスク記憶装置として
の性能が悪化して始めて空気混入量が検知されるのでは
意味がない。上述したように、記憶装置としての性能悪
化が始まる前に、空気混入を検知し、ヘリウムの再注入
などのメンテナンスを行うことが必要である。
発明が解決しようとする問題点
そこで、本発明は、上記した欠点を解決して、実際に記
録・再生の品質の低下が発生する前に必要な処理を講じ
ることができるように、ヘリウムへの空気の混入を高い
精度で検出することができるヘリウム封入形磁気ディス
ク装置を提供せんとするものである。
録・再生の品質の低下が発生する前に必要な処理を講じ
ることができるように、ヘリウムへの空気の混入を高い
精度で検出することができるヘリウム封入形磁気ディス
ク装置を提供せんとするものである。
更に詳述するならば、本発明は、ヘリウム封入形磁気デ
ィスク装置の構造を複雑にすることもなく且つ価格を著
しく増大することもなく、また、ヘリウムの漏洩や空気
の混入の可能性を増大する恐れなく、ヘリウムへの空気
の混入を高い精度で検出することができるヘリウム封入
形磁気ディスク装置を提供せんとするものである。
ィスク装置の構造を複雑にすることもなく且つ価格を著
しく増大することもなく、また、ヘリウムの漏洩や空気
の混入の可能性を増大する恐れなく、ヘリウムへの空気
の混入を高い精度で検出することができるヘリウム封入
形磁気ディスク装置を提供せんとするものである。
問題点を解決するための手段
そこで、本発明の発明者は種々研究し、ヘリウムの熱伝
導率が空気に比べて約６倍と大きい特性に注目して、ヘ
リウムへの空気混入検出方法を探求した。熱伝導率が大
きいということは、ヘリウム雰囲気内に所定の熱入力の
発熱体を置いたとき、その発熱体から効率的に熱を逃が
すことができ、そのため、その発熱体の温度上昇が制限
され、また、そのようなヘリウム雰囲気内に空気が混入
すると、発熱体からの熱吸収が低下し、発熱体の温度が
上昇することを意味する。それ故、ヘリウム雰囲気内に
、所定の熱入力の発熱体を置いてその発熱体の温度を測
定することにより、ヘリウム雰囲気内への空気の混入を
検出することができる。
導率が空気に比べて約６倍と大きい特性に注目して、ヘ
リウムへの空気混入検出方法を探求した。熱伝導率が大
きいということは、ヘリウム雰囲気内に所定の熱入力の
発熱体を置いたとき、その発熱体から効率的に熱を逃が
すことができ、そのため、その発熱体の温度上昇が制限
され、また、そのようなヘリウム雰囲気内に空気が混入
すると、発熱体からの熱吸収が低下し、発熱体の温度が
上昇することを意味する。それ故、ヘリウム雰囲気内に
、所定の熱入力の発熱体を置いてその発熱体の温度を測
定することにより、ヘリウム雰囲気内への空気の混入を
検出することができる。
一方、発熱体に温度抵抗変化素子を使用するならば、温
度抵抗変化素子はその温度と抵抗値との間に所定の関係
があるから、温度抵抗変化素子の抵抗すなわち温度抵抗
変化素子の両端間の電圧または温度抵抗変化素子を流れ
る電流を測定することにより、温度を測定することがで
きる。また、そのような温度抵抗変化素子を検出素子と
して使用するならば、ヘリウム封入形磁気ディスク装置
の容器の気密封止を損なうことなく信号をとることが容
易である。
度抵抗変化素子はその温度と抵抗値との間に所定の関係
があるから、温度抵抗変化素子の抵抗すなわち温度抵抗
変化素子の両端間の電圧または温度抵抗変化素子を流れ
る電流を測定することにより、温度を測定することがで
きる。また、そのような温度抵抗変化素子を検出素子と
して使用するならば、ヘリウム封入形磁気ディスク装置
の容器の気密封止を損なうことなく信号をとることが容
易である。
本発明は、上記した知見に基づいてなさだものであり、
すなわち、本発明によるならば、磁気ディスク容器内に
温度抵抗変化素子を備えるとともに、それに接続した外
部出力端子を有することを特徴とするヘリウム封入形磁
気ディスク装置が提供される。
すなわち、本発明によるならば、磁気ディスク容器内に
温度抵抗変化素子を備えるとともに、それに接続した外
部出力端子を有することを特徴とするヘリウム封入形磁
気ディスク装置が提供される。
一作Ｊ
以上のようにヘリウム封入形磁気ディスク装置を構成す
るならば、外部出力端子を介して容器内の温度抵抗変化
素子に電圧を印加して所与のエネルギーで発熱させると
共にその両端の抵抗すなわち電圧を測定することにより
、適時空気混入率をモニタすることができる。従って、
−元以上の空気が混入した場合、磁気ディスク装置のヘ
リウムの再封入によって再び使用可能とすることができ
る。
るならば、外部出力端子を介して容器内の温度抵抗変化
素子に電圧を印加して所与のエネルギーで発熱させると
共にその両端の抵抗すなわち電圧を測定することにより
、適時空気混入率をモニタすることができる。従って、
−元以上の空気が混入した場合、磁気ディスク装置のヘ
リウムの再封入によって再び使用可能とすることができ
る。
実施例
以下、添付図面を参照して本発明によるヘリウム封入形
磁気ディスク装置の実施例を説明する。
磁気ディスク装置の実施例を説明する。
第１図は、本発明の実施例を極めて概略的に図示した図
であり、ヘリウム封入形磁気ディスク装置１は、ヘリウ
ムが封入されているその容器２内に磁気ディスク３及び
その回転駆動装置４などを有している。しかし、ヘリウ
ム封入形磁気ディスク装置自体は従来知られているので
、その構造及び動作の説明は省略する。そのようなヘリ
ウム封入形磁気ディスク装置１の容器２内に、本発明に
より温度抵抗変化素子５が配置され、その温度抵抗変化
素子５の両端は、容器２に気密状態に取りつけられた外
部出力端子６を介して外部に引き出されている。
であり、ヘリウム封入形磁気ディスク装置１は、ヘリウ
ムが封入されているその容器２内に磁気ディスク３及び
その回転駆動装置４などを有している。しかし、ヘリウ
ム封入形磁気ディスク装置自体は従来知られているので
、その構造及び動作の説明は省略する。そのようなヘリ
ウム封入形磁気ディスク装置１の容器２内に、本発明に
より温度抵抗変化素子５が配置され、その温度抵抗変化
素子５の両端は、容器２に気密状態に取りつけられた外
部出力端子６を介して外部に引き出されている。
その温度抵抗変化素子５は、封入ヘリウム雰囲気内にあ
れば足りるので容器２内のどこに配置してもよい。また
、温度抵抗変化素子５は、小型なものが入手容易であり
、従って、容器２自体を従来に比して大きくする必要が
ないので現在の磁気ディスク装置の規格を変えることな
く組み込むことができる。そして、外部出力端子６も容
器２の壁に取り付けるだけであるので、簡単に気密装着
できる。
れば足りるので容器２内のどこに配置してもよい。また
、温度抵抗変化素子５は、小型なものが入手容易であり
、従って、容器２自体を従来に比して大きくする必要が
ないので現在の磁気ディスク装置の規格を変えることな
く組み込むことができる。そして、外部出力端子６も容
器２の壁に取り付けるだけであるので、簡単に気密装着
できる。
前述したように、ヘリウムは空気の熱伝導率の約６倍に
も達する。従って、温度抵抗変化素子５に一定電流を流
し１００ ｔ〜３００ ｔに加熱すると、微量の空気の
混入による熱伝導率の変化が素子温度の変化即ち素子端
子電圧の変化として外部から測定できる。
も達する。従って、温度抵抗変化素子５に一定電流を流
し１００ ｔ〜３００ ｔに加熱すると、微量の空気の
混入による熱伝導率の変化が素子温度の変化即ち素子端
子電圧の変化として外部から測定できる。
これを確認するために以下の実験を行った。
第２図は、温度ゲージを空気中とヘリウム中で通電加熱
した場合の電流電圧特性である。用いた温度ゲージの特
性は以下の通りである。
した場合の電流電圧特性である。用いた温度ゲージの特
性は以下の通りである。
Ｒ＝４９．６０Ω（０℃）
ΔＲ／Ｒ／℃＝３．８６×１０−３／℃第３図はサーミ
スタを空気中とヘリウム中で通電加熱した場合の電流電
圧特性である。用いたサーミスタの特性は以下の通りで
ある。
スタを空気中とヘリウム中で通電加熱した場合の電流電
圧特性である。用いたサーミスタの特性は以下の通りで
ある。
Ｒ＝４にΩ（２００℃）
Ｂ定数＝４７００に
第２図、第３１ｍから判るように、両温度抵抗変化素子
は、同一電流を供給すると、ヘリウム中と空気中とで端
子電圧に差を生ずる。従って、この差電圧をヘリウムへ
の空気の混入率に対応して予め校正しておくことにより
、空気の混入率を十分な精度を持って測定することがで
きる。
は、同一電流を供給すると、ヘリウム中と空気中とで端
子電圧に差を生ずる。従って、この差電圧をヘリウムへ
の空気の混入率に対応して予め校正しておくことにより
、空気の混入率を十分な精度を持って測定することがで
きる。
なお、温度抵抗変化素子は、温度ゲージやサーミスタに
限らず、抵抗値が温度と共に変化する小型な電気的発熱
素子であるならば、どのような素子も使用することは可
能である。
限らず、抵抗値が温度と共に変化する小型な電気的発熱
素子であるならば、どのような素子も使用することは可
能である。
発明の詳細
な説明したように、本発明によるヘリウム封入形磁気デ
ィスク装置によれば、ヘリウムへの空気混入率の他の測
定法、例えば酸素センサあるいはガスクロマトグラフを
利用するのに比べ、測定素子が低価格であり、又ディス
ク容器の変更は極めて僅かであるので、ヘリウム封入形
磁気ディスク装置の価格をほとんど増大することなく、
ヘリウムへの空気の混入を精度良く測定することができ
る。また、適時ディスク容器内の空気混入率を精度良く
測定できるので、ある許容値以上の空気の混入を確実に
検出することができ、そのようなディスク装置は、ヘリ
ウムの再封入によって再び使用が可能となる。
ィスク装置によれば、ヘリウムへの空気混入率の他の測
定法、例えば酸素センサあるいはガスクロマトグラフを
利用するのに比べ、測定素子が低価格であり、又ディス
ク容器の変更は極めて僅かであるので、ヘリウム封入形
磁気ディスク装置の価格をほとんど増大することなく、
ヘリウムへの空気の混入を精度良く測定することができ
る。また、適時ディスク容器内の空気混入率を精度良く
測定できるので、ある許容値以上の空気の混入を確実に
検出することができ、そのようなディスク装置は、ヘリ
ウムの再封入によって再び使用が可能となる。
第１図は、本発明の実施例を示すヘリウム封入形磁気デ
ィスク装置の概略図である。 第２図は、温度ゲージのヘリウム中と空気中における電
流電圧特性である。 第３図は、サーミスタのヘリウム中と空気中における電
流電圧特性である。 〔主な参照番号〕 １・・ヘリウム封入磁気ディスク装置 ２・・容器 ３・・磁気ディスク ４・・磁気ディスクの回転駆動装置 ５・・温度抵抗変化素子、 ６・・外部出力端子
ィスク装置の概略図である。 第２図は、温度ゲージのヘリウム中と空気中における電
流電圧特性である。 第３図は、サーミスタのヘリウム中と空気中における電
流電圧特性である。 〔主な参照番号〕 １・・ヘリウム封入磁気ディスク装置 ２・・容器 ３・・磁気ディスク ４・・磁気ディスクの回転駆動装置 ５・・温度抵抗変化素子、 ６・・外部出力端子
Claims (4)
- （１）磁気ディスク容器内に温度抵抗変化素子を備える
とともに、それに接続した外部出力端子を有することを
特徴とするヘリウム封入形磁気ディスク装置。 - （２）前記温度抵抗変化素子は温度ゲージであることを
特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載のヘリウム封
入形磁気ディスク装置。 - （３）前記温度抵抗変化素子はサーミスタであることを
特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載のヘリウム封
入形磁気ディスク装置。 - （４）前記温度抵抗変化素子には一定電流が供給される
ことを特徴とする特許請求の範囲第（１）項から第（３
）項までのいずれか１項に記載のヘリウム封入形磁気デ
ィスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19729185A JPS6258484A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | ヘリウム封入形磁気デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19729185A JPS6258484A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | ヘリウム封入形磁気デイスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6258484A true JPS6258484A (ja) | 1987-03-14 |
Family
ID=16372019
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19729185A Pending JPS6258484A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | ヘリウム封入形磁気デイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6258484A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7268966B2 (en) | 2004-09-30 | 2007-09-11 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | System and method for adjusting fly heights in a hard disk drive having multiple heads |
| US8687307B1 (en) | 2010-11-18 | 2014-04-01 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive detecting gas leaking from head disk assembly |
| US8947822B1 (en) | 2009-06-04 | 2015-02-03 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive adjusting fly height based on air density measured from rate of temperature change |
-
1985
- 1985-09-06 JP JP19729185A patent/JPS6258484A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7268966B2 (en) | 2004-09-30 | 2007-09-11 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | System and method for adjusting fly heights in a hard disk drive having multiple heads |
| US8947822B1 (en) | 2009-06-04 | 2015-02-03 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive adjusting fly height based on air density measured from rate of temperature change |
| US8687307B1 (en) | 2010-11-18 | 2014-04-01 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive detecting gas leaking from head disk assembly |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4272330A (en) | Transient mode oxygen sensor and method | |
| US4075481A (en) | Medical-analytical gas detector | |
| US4517838A (en) | Thermal mass flow meter | |
| US3576730A (en) | Nickel/nickel oxide reference electrodes for oxygen partial preddure measurements | |
| JPS6258484A (ja) | ヘリウム封入形磁気デイスク装置 | |
| Mortimer et al. | The use of thermistors for the measurement of lake temperatures: With 2 tables and 14 figures in the text | |
| US3187558A (en) | Solid state portable gas leak detector | |
| US3199356A (en) | Pressure gauge | |
| JPH01500535A (ja) | 低温冷却形温度検出装置 | |
| Gilchrist et al. | Rapid low-temperature dielectric studies | |
| White | Specific heat of single crystal NiO from 3.2 to 18.75 K | |
| US20110094293A1 (en) | Oxygen Monitor | |
| CN108088961B (zh) | 一种气敏特性响应曲线测试装置 | |
| JPS59104515A (ja) | 液面検出装置 | |
| JP2003098012A (ja) | 温度測定装置およびこれ用いたガス濃度測定装置 | |
| US3564920A (en) | Temperature sensing in centrifuges | |
| CA2000001A1 (en) | Oxygen sensing method and apparatus | |
| RU2104507C1 (ru) | Теплоэлектрический вакуумметр | |
| Hutchinson et al. | A simple microcalorimeter for heat of solution measurements | |
| CN108241006B (zh) | 一种带搅拌叶的气敏特性响应曲线测试装置 | |
| Arajs et al. | An Automatic Temperature Controller for Cryogenic Systems | |
| McDonald | Determination of Air Temperature in the Upper Atmosphere with Multiple Sensor Thermometry. | |
| CN2358451Y (zh) | 永磁体热稳定性检测装置 | |
| Martin et al. | Thermistors as Cryogenic Temperature Sensors | |
| Maher | A sensitive thermometer |