JPS6258425A - 光ビ−ム照射位置検出装置 - Google Patents
光ビ−ム照射位置検出装置Info
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- JPS6258425A JPS6258425A JP19711485A JP19711485A JPS6258425A JP S6258425 A JPS6258425 A JP S6258425A JP 19711485 A JP19711485 A JP 19711485A JP 19711485 A JP19711485 A JP 19711485A JP S6258425 A JPS6258425 A JP S6258425A
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- disk
- light beam
- pickup
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
この発明は、例えば光学式ディスクに光ビームを照射す
ることによって情報信号を記録可能な光学式ディスク記
録再生装置に係り、特にディスク上の光ビームの照射位
置を検出可能とする光ビーム照射位置検出装置に関する
。
ることによって情報信号を記録可能な光学式ディスク記
録再生装置に係り、特にディスク上の光ビームの照射位
置を検出可能とする光ビーム照射位置検出装置に関する
。
[発明の技術的背景とその問題点]
近時、光ビームによって情報信号の記i及び再生を可能
とする種々の光学式ディスクの記録再生方式が開発され
ている。その方式の一つとして、光学式ディスクの信号
記録面上にトラッキング用案内溝を複数の同心円あるい
は螺旋状に形成しておき、情報信号に応じて点滅あるい
は変化する光ビームを上記ディスクの案内溝上に照射し
て、その案内溝上に情報信号に応じた記録ビット(深さ
0.1−程度の穴)あるいは化学変化部(記録層の化学
変化により反射率の異なる部分)でなる信号列を形成す
ることにより、情報信号を記録する方式が考えられてい
る。
とする種々の光学式ディスクの記録再生方式が開発され
ている。その方式の一つとして、光学式ディスクの信号
記録面上にトラッキング用案内溝を複数の同心円あるい
は螺旋状に形成しておき、情報信号に応じて点滅あるい
は変化する光ビームを上記ディスクの案内溝上に照射し
て、その案内溝上に情報信号に応じた記録ビット(深さ
0.1−程度の穴)あるいは化学変化部(記録層の化学
変化により反射率の異なる部分)でなる信号列を形成す
ることにより、情報信号を記録する方式が考えられてい
る。
ところで、上記のようにディスクに情報信号を記録する
場合、光ビームを目的とする記録溝上に照射するために
、ディスクの信号記録面上の光ビームの照射位置をなる
べく正確に検出する必要がある。この場合、例えばCD
(コンパクトディスク)方式にもみられるように、既記
録部分の情報信号にはそれが記録されているディスク上
の位置を表わす情報を含むようにした方式では光ビーム
で信号列をトレースして情報信号を読取れば、光ビーム
がディスク上のどの位置にあるかを容易に検出すること
ができる。しかしながら、未記録部分または既記録部分
でも記録情報内に記録位置を表わす情報を含まないよう
にした方式の場合、何の位置情報も得られないため、光
ビームの照射位置を正確に検出することは極めて困難で
ある。
場合、光ビームを目的とする記録溝上に照射するために
、ディスクの信号記録面上の光ビームの照射位置をなる
べく正確に検出する必要がある。この場合、例えばCD
(コンパクトディスク)方式にもみられるように、既記
録部分の情報信号にはそれが記録されているディスク上
の位置を表わす情報を含むようにした方式では光ビーム
で信号列をトレースして情報信号を読取れば、光ビーム
がディスク上のどの位置にあるかを容易に検出すること
ができる。しかしながら、未記録部分または既記録部分
でも記録情報内に記録位置を表わす情報を含まないよう
にした方式の場合、何の位置情報も得られないため、光
ビームの照射位置を正確に検出することは極めて困難で
ある。
このような問題を改善するために、従来では第7図及び
第8図にそれぞれ示すような光ビーム照射位置検出装置
が考えられている。まず、第7図に示す装置について説
明すると、aは光学式ディスク、bはディスクモータ、
Cはピックアップ、dは送りモータで、ピックアップC
は送りモータdによってディスクaの半径方向に移動可
能となされている。このピックアップCには摺動子eが
取付けられている。この摺動子eは、ピックアップCの
移動に伴って、位置検出部fを構成しディスクaの半径
方向に延在された抵抗体q上を摺動するようになされて
いる。上記抵抗体qには電圧+Eが印加されている。こ
のため、上記摺動子eからピックアップCの移動位置に
対応した電圧Vを取出すことができる。この電圧■は光
ビーム照射位置に対応するものである。
第8図にそれぞれ示すような光ビーム照射位置検出装置
が考えられている。まず、第7図に示す装置について説
明すると、aは光学式ディスク、bはディスクモータ、
Cはピックアップ、dは送りモータで、ピックアップC
は送りモータdによってディスクaの半径方向に移動可
能となされている。このピックアップCには摺動子eが
取付けられている。この摺動子eは、ピックアップCの
移動に伴って、位置検出部fを構成しディスクaの半径
方向に延在された抵抗体q上を摺動するようになされて
いる。上記抵抗体qには電圧+Eが印加されている。こ
のため、上記摺動子eからピックアップCの移動位置に
対応した電圧Vを取出すことができる。この電圧■は光
ビーム照射位置に対応するものである。
次に、第8図に示す装置について説明するが、第7図と
同一部分には同一符号を付して示し、ここでは異なる部
分について述べる。すなわち、上記ピックアップCには
位置検出用の例えばフォトトランジスタ等の発光素子り
が取付けられており、その照射方向にはフォトダイオー
ド等の受光素子を多数ディスク半径方向に配列させた受
光部iが設けられている。この受光部1の各受光素子出
力はそれぞれパラレルに信号処理回路jに導出される。
同一部分には同一符号を付して示し、ここでは異なる部
分について述べる。すなわち、上記ピックアップCには
位置検出用の例えばフォトトランジスタ等の発光素子り
が取付けられており、その照射方向にはフォトダイオー
ド等の受光素子を多数ディスク半径方向に配列させた受
光部iが設けられている。この受光部1の各受光素子出
力はそれぞれパラレルに信号処理回路jに導出される。
この信号処理回路j′は受光部iの出力信号から上記発
光素子りの光ビームが受光部iのどの位置に照射されて
いるかを検出するもので、その検出データはディスクa
の信号記録面上の光ビーム照射位置に対応する。
光素子りの光ビームが受光部iのどの位置に照射されて
いるかを検出するもので、その検出データはディスクa
の信号記録面上の光ビーム照射位置に対応する。
ところが、第7図に示したような装置では、摺動子eが
抵抗体qに接触しているため、ピックアップ送り機構に
負担がかかり、高速にピックアップを送ることができな
くなる。また、抵抗体qの摩耗によって経年変化をまぬ
がれない。一方、第8図に示した装置では、発光素子を
ピックアップに新たに設けなければならず、その発光素
子の駆動回路が必要となる等の欠点がある。
抵抗体qに接触しているため、ピックアップ送り機構に
負担がかかり、高速にピックアップを送ることができな
くなる。また、抵抗体qの摩耗によって経年変化をまぬ
がれない。一方、第8図に示した装置では、発光素子を
ピックアップに新たに設けなければならず、その発光素
子の駆動回路が必要となる等の欠点がある。
さらに、上記2つの装置は、上記光ビームを発生してデ
ィスクの信号記録面に照射する光学式ピックアップ自体
の位置を検出することにより、光ビームの照射している
位置を判断しようとするものであるが、これでは検出精
度が悪いばかりでなく、上記案内溝の中心とディスクの
回転中心とが異なるいわゆる偏心があると、ディスク回
転の中心に対する絶対的な位置は検出できるものの、案
内溝の中心に対する相対的な位置を検出できないため、
例えば光ビームを目的とする案内溝へ移動させることが
できない。
ィスクの信号記録面に照射する光学式ピックアップ自体
の位置を検出することにより、光ビームの照射している
位置を判断しようとするものであるが、これでは検出精
度が悪いばかりでなく、上記案内溝の中心とディスクの
回転中心とが異なるいわゆる偏心があると、ディスク回
転の中心に対する絶対的な位置は検出できるものの、案
内溝の中心に対する相対的な位置を検出できないため、
例えば光ビームを目的とする案内溝へ移動させることが
できない。
[発明の目的]
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもので
、ディスクの案内溝あるいは信号列の偏心による誤差が
なく、極めて正確に光ビームの照射位置を検出すること
のできる光ビーム照射位置検出装置を提供することを目
的とする。
、ディスクの案内溝あるいは信号列の偏心による誤差が
なく、極めて正確に光ビームの照射位置を検出すること
のできる光ビーム照射位置検出装置を提供することを目
的とする。
[発明の概要コ
すなわち、この発明に係る光ビーム照射位置検出装置は
、信号記録面上に形成されたトラッキング用案内溝ある
いは情報信号に応じた反射率の異なる信号列と同一の中
心を持つリング状の光透過制御部を形成してなるディス
クと、このディスクの半径方向に移動しながら前記情報
信号に応じて変化する光ビームを前記案内溝に照射して
情報信号を前記ディスクに記録するあるいは前記ディス
クの半径方向に移動しながら前記ディスクに所定波長の
光ビームを照射し前記信号列によって変化を受けた光ビ
ームの反射光を受光することにより前記ディスクに記録
された情報信号を読取るピックアップと、前記ディスク
の一方面側の光透過制御部付近に光を照射する光源と、
前記ディスクの他方面側の前記光源と対向する位置に同
サイズの複数個の受光素子を前記ディスクの半径方向に
配置してなる第1の受光部と、前記ピックアップの移動
方向にその移動範囲に渡って同サイズの複数の受光素子
を配置してなる第2の受光部と、前記ピックアップで発
生される光ビームの一部を前記第2の受光部に照射する
ビーム照射手段と、前記第1及び第2の受光部の各受光
素子の出力から前記ディスクの光透過制御部に対して相
対的な光ビーム照射位置を算出する位置算出手段とを具
備したことを特徴とするものである。
、信号記録面上に形成されたトラッキング用案内溝ある
いは情報信号に応じた反射率の異なる信号列と同一の中
心を持つリング状の光透過制御部を形成してなるディス
クと、このディスクの半径方向に移動しながら前記情報
信号に応じて変化する光ビームを前記案内溝に照射して
情報信号を前記ディスクに記録するあるいは前記ディス
クの半径方向に移動しながら前記ディスクに所定波長の
光ビームを照射し前記信号列によって変化を受けた光ビ
ームの反射光を受光することにより前記ディスクに記録
された情報信号を読取るピックアップと、前記ディスク
の一方面側の光透過制御部付近に光を照射する光源と、
前記ディスクの他方面側の前記光源と対向する位置に同
サイズの複数個の受光素子を前記ディスクの半径方向に
配置してなる第1の受光部と、前記ピックアップの移動
方向にその移動範囲に渡って同サイズの複数の受光素子
を配置してなる第2の受光部と、前記ピックアップで発
生される光ビームの一部を前記第2の受光部に照射する
ビーム照射手段と、前記第1及び第2の受光部の各受光
素子の出力から前記ディスクの光透過制御部に対して相
対的な光ビーム照射位置を算出する位置算出手段とを具
備したことを特徴とするものである。
[発明の実施例コ
以下、第1図乃至第6図を参照してこの発明の一実施例
を説明する。但し、第1図乃至第6図において、同一部
分には同一符号を付して示し、ここではそれぞれ異なる
部分についてのみ述べる。
を説明する。但し、第1図乃至第6図において、同一部
分には同一符号を付して示し、ここではそれぞれ異なる
部分についてのみ述べる。
第1図はその構成を示すもので、図中符号11はディス
クである。このディスク11は半透明な樹脂でドーナツ
状に形成されたもので、その図中下側の面には図示しな
いがトラッキング用案内溝が内周から外周にかけて螺旋
状に形成されている。さらに、この案内溝より内周には
案内溝と同一の中心を持つリング状の光透過部111が
形成されている。このディスク11はディスクモータ1
2によって所定速度で回転される。
クである。このディスク11は半透明な樹脂でドーナツ
状に形成されたもので、その図中下側の面には図示しな
いがトラッキング用案内溝が内周から外周にかけて螺旋
状に形成されている。さらに、この案内溝より内周には
案内溝と同一の中心を持つリング状の光透過部111が
形成されている。このディスク11はディスクモータ1
2によって所定速度で回転される。
また、ディスク11の図中下部には光学式ピックアップ
13が設けられている。この光学式ピックアップ13は
、情報記録時において、記録すべき情報信号に応じて点
滅あるいは変化する光ビームAを上記ディスク11の案
内溝上に照射することにより。
13が設けられている。この光学式ピックアップ13は
、情報記録時において、記録すべき情報信号に応じて点
滅あるいは変化する光ビームAを上記ディスク11の案
内溝上に照射することにより。
そこに情報信号に対応した記録ピットあるいは化学変化
部なる信号列を形成する。また、情報再生時において、
ディスク11の信号列上に光ビームAを照射し、その信
号列によって変化を受けた反射光を受光することによっ
て、ディスク11に記録されている情報信号を読み出す
ものである。
部なる信号列を形成する。また、情報再生時において、
ディスク11の信号列上に光ビームAを照射し、その信
号列によって変化を受けた反射光を受光することによっ
て、ディスク11に記録されている情報信号を読み出す
ものである。
このピックアップ13は図示しないフォーカスサーボ回
路及びトラッキングサーボ回路にによって制御される。
路及びトラッキングサーボ回路にによって制御される。
すなわち、これらのサーボ回路はピックアップ13の出
力信号から上記光ヒームAの焦点ずれに対応したフォー
カスエラー信号及び光ビー・ムの案内溝に対する位置ず
れに対応したトラッキングエラー信号を生成し、各エラ
ー信号に基づいて上記ピックアップ13の対物レンズ(
図示せず)をディスク11の信号記録面垂直方向及び半
径方向に移動制御して、常に光ビームAの焦点をディス
ク11の信号記録面上に合わせ、この光ビームAを案内
溝上あるいは信号列上に照射させるフォーカスサーボ及
びトラッキングサーボを施すものである。さらに、上記
ピックアップ13は送りモータ14によってトラッキン
グサーボに追従してディスク11の半径方向に移動可能
となされており、また強制的に移動させることもできる
ようになっている。
力信号から上記光ヒームAの焦点ずれに対応したフォー
カスエラー信号及び光ビー・ムの案内溝に対する位置ず
れに対応したトラッキングエラー信号を生成し、各エラ
ー信号に基づいて上記ピックアップ13の対物レンズ(
図示せず)をディスク11の信号記録面垂直方向及び半
径方向に移動制御して、常に光ビームAの焦点をディス
ク11の信号記録面上に合わせ、この光ビームAを案内
溝上あるいは信号列上に照射させるフォーカスサーボ及
びトラッキングサーボを施すものである。さらに、上記
ピックアップ13は送りモータ14によってトラッキン
グサーボに追従してディスク11の半径方向に移動可能
となされており、また強制的に移動させることもできる
ようになっている。
また、上記ディスク11の光透過部111の図中下部に
はディスク110半径方向に長い光源15が設けられて
いる。この光源15は光ビームBを発生し、この光ビー
ムBを上記光透過部111を通して第1の受光部16に
照射するものである。この第1の受光部16はディスク
11の図中上部の上記光源15と対向する位置に、同一
の幅を有する複数個の受光素子(例えばフォトダイオー
ド)をディスク11の半径方向に配置させたものである
。一方、上記ピックアップ13から照射された光ビーム
Aはディスク11の信号記録面に当たって一部反射され
、上述したようにピックアップ13に戻って信号再生に
供されるが、その一部はディスク11を透過して第2の
受光部17に照射される。この第2の受光部17は、デ
ィスク11の図中上部の上記ピックアツプ13移動部と
対向する位置に、同一の幅を有する複数個の受光素子〈
例えばフォトダイオード)をディスク11の半径方向に
配置してなるものである。
はディスク110半径方向に長い光源15が設けられて
いる。この光源15は光ビームBを発生し、この光ビー
ムBを上記光透過部111を通して第1の受光部16に
照射するものである。この第1の受光部16はディスク
11の図中上部の上記光源15と対向する位置に、同一
の幅を有する複数個の受光素子(例えばフォトダイオー
ド)をディスク11の半径方向に配置させたものである
。一方、上記ピックアップ13から照射された光ビーム
Aはディスク11の信号記録面に当たって一部反射され
、上述したようにピックアップ13に戻って信号再生に
供されるが、その一部はディスク11を透過して第2の
受光部17に照射される。この第2の受光部17は、デ
ィスク11の図中上部の上記ピックアツプ13移動部と
対向する位置に、同一の幅を有する複数個の受光素子〈
例えばフォトダイオード)をディスク11の半径方向に
配置してなるものである。
上記第1及び第2の受光部16.17の各受光素子で光
電変換されたパラレルデータはそれぞれ位置検出回路1
8の第1及び第2のヘッドアンプ19.20で増幅され
た後、第1及び第2のシフトレジスタ21、22に供給
される。これら第1及び第2のシフトレジスタ21.2
2はそれぞれパラレル入力シリアル出力型であり、ラッ
チパルス発生回路23からのラッチパルスLPによって
入力データをラッチし、クロックパルス発生回路24か
らのクロックパルスCPによって順次ラッチデータをシ
リアルデータ化するものである。これらのシフトレジス
タ21゜22から出力されるシリアルデータはそれぞれ
第1及び第2のカウンタ25.26の出力制御端子に供
給される。これらの第1及び第2のカウンタ25.26
はそれぞれ上記ラッチパルスLPによってリセットされ
た後、上記クロックパルスCPをカウントし、出力制御
端子に供給されるシリアルデータがハイレベルとなると
きのカウント値を出力するもので、これらのカウント値
はそれぞれ第1及び第2のラッチ回路27.28にラッ
チされる。これらのラッチ回路27.28はそれぞれラ
ッチしたカウント値を減算回路29に出力した後、上記
ラッチパルスLPによってリセットされる。上記減算回
路29は第1及び第2のラッチ回路27.28からの各
カウント値の差を演算するもので、その演算データは位
置データとして取出される。尚、上記ラッチパルス発生
回路23はクロックパルス発生回路24からのりOツク
パルスCPを第2の受光部17の受光素子数分カウント
したときラッチパルスLPを発生するものである。
電変換されたパラレルデータはそれぞれ位置検出回路1
8の第1及び第2のヘッドアンプ19.20で増幅され
た後、第1及び第2のシフトレジスタ21、22に供給
される。これら第1及び第2のシフトレジスタ21.2
2はそれぞれパラレル入力シリアル出力型であり、ラッ
チパルス発生回路23からのラッチパルスLPによって
入力データをラッチし、クロックパルス発生回路24か
らのクロックパルスCPによって順次ラッチデータをシ
リアルデータ化するものである。これらのシフトレジス
タ21゜22から出力されるシリアルデータはそれぞれ
第1及び第2のカウンタ25.26の出力制御端子に供
給される。これらの第1及び第2のカウンタ25.26
はそれぞれ上記ラッチパルスLPによってリセットされ
た後、上記クロックパルスCPをカウントし、出力制御
端子に供給されるシリアルデータがハイレベルとなると
きのカウント値を出力するもので、これらのカウント値
はそれぞれ第1及び第2のラッチ回路27.28にラッ
チされる。これらのラッチ回路27.28はそれぞれラ
ッチしたカウント値を減算回路29に出力した後、上記
ラッチパルスLPによってリセットされる。上記減算回
路29は第1及び第2のラッチ回路27.28からの各
カウント値の差を演算するもので、その演算データは位
置データとして取出される。尚、上記ラッチパルス発生
回路23はクロックパルス発生回路24からのりOツク
パルスCPを第2の受光部17の受光素子数分カウント
したときラッチパルスLPを発生するものである。
上記のような構成において、以下第2図を参照してその
動作について説明する。
動作について説明する。
まず・上記クロックパルス発生回路24から第2図(a
)に示すようなりロックパルスCPが出力され、このク
ロックパルスCPに基づいてラッチパルス発生回路23
から同図(b)に示すようなラッチパルスLPが出力さ
れるものとする。一方、同5(c)、(d)に示すよう
に、上記第1の受光部16では光源15から発生される
光ビームBがディスク11の光透過部111を通過して
ディスク中心側から3番目の受光素子に照射され、また
第2の受光部11ではピックアップ13から照射される
光ビームAがディスク11を透過してディスク中心側か
ら10番目の受光素子に照射されるものとする。
)に示すようなりロックパルスCPが出力され、このク
ロックパルスCPに基づいてラッチパルス発生回路23
から同図(b)に示すようなラッチパルスLPが出力さ
れるものとする。一方、同5(c)、(d)に示すよう
に、上記第1の受光部16では光源15から発生される
光ビームBがディスク11の光透過部111を通過して
ディスク中心側から3番目の受光素子に照射され、また
第2の受光部11ではピックアップ13から照射される
光ビームAがディスク11を透過してディスク中心側か
ら10番目の受光素子に照射されるものとする。
この状態で、上記第1及び第2の受光部10.17の各
受光素子で光電変換することによって得られるデータは
それぞれヘッドアンプ19.20を介してパラレルにシ
フトレジスタ21.22に伝送される。
受光素子で光電変換することによって得られるデータは
それぞれヘッドアンプ19.20を介してパラレルにシ
フトレジスタ21.22に伝送される。
これらのシフトレジスタ21.22は上記ラッチパルス
LPを入力することにより上記第1及び第2の受光部1
6.17からのパラレルデータをラッチし、このラッチ
データを上記クロックパルスCPに応じてディスク中心
側のデータから順次カウンタ25゜26の出力制御端子
に送る。つまり、第1のシフトレジスタ21は同図(e
)に示すように3番目のクロックパルスCPを入力した
ときハイレベルのデータをカウンタ25に送り、第2の
シフトレジスタ22は同図(f)に示すように10番目
のクロックパルスCPを入力したときハイレベルのデー
タをカウンタ26に送る。
LPを入力することにより上記第1及び第2の受光部1
6.17からのパラレルデータをラッチし、このラッチ
データを上記クロックパルスCPに応じてディスク中心
側のデータから順次カウンタ25゜26の出力制御端子
に送る。つまり、第1のシフトレジスタ21は同図(e
)に示すように3番目のクロックパルスCPを入力した
ときハイレベルのデータをカウンタ25に送り、第2の
シフトレジスタ22は同図(f)に示すように10番目
のクロックパルスCPを入力したときハイレベルのデー
タをカウンタ26に送る。
これらのカウンタ25.26はそれぞれ上記ラッチパル
スLPでリセットされた後、上記クロックパルスCPを
カウントしている。そして、出力制御端子の入力データ
がハイレベルとなったときのカウント値をラッチ回路2
7.28に送る。すなわち。
スLPでリセットされた後、上記クロックパルスCPを
カウントしている。そして、出力制御端子の入力データ
がハイレベルとなったときのカウント値をラッチ回路2
7.28に送る。すなわち。
カウンタ25はクロックパルスCPを3fffilカウ
ントしたとき出力制御端子の入力データがハイレベルと
なるので、カウント値゛3°′をランチ回路27に送っ
てラッチさせ、またカウンタ26はクロックパルスCP
を10個カウントしたとき出力制ill Di子の入力
データがハイレベルとなるので、カウント値1110
I+をラッチ回路28に送ってラッチさせる。
ントしたとき出力制御端子の入力データがハイレベルと
なるので、カウント値゛3°′をランチ回路27に送っ
てラッチさせ、またカウンタ26はクロックパルスCP
を10個カウントしたとき出力制ill Di子の入力
データがハイレベルとなるので、カウント値1110
I+をラッチ回路28に送ってラッチさせる。
これらのラッチ回路27..28でラッチされた各カウ
ント値゛3″及び“” i o ”は減算回路29に送
られる。そして、この減算回路29によって両カウント
値113 I+及び’ 10 ”の差11711が求め
られる。
ント値゛3″及び“” i o ”は減算回路29に送
られる。そして、この減算回路29によって両カウント
値113 I+及び’ 10 ”の差11711が求め
られる。
つまり、この差データ゛7″はディスク11の光透過部
111に対する相対的な光ビームへの照射位置である。
111に対する相対的な光ビームへの照射位置である。
ここで、上記ディスク11の案内溝あるいは信号列に偏
心があるとするとピックアップ13から照射される光ビ
ームAはその偏心に応じてディスク11の半径方向に動
くため、第2の受光部17に対する照射位置も移動する
。ところが、上記案内溝あるいは信号列の中心と光透過
部111の中心とは一致しているため、第2の受光部1
6に対する光ビームBの照射位置もディスク偏心に応じ
て変化する。
心があるとするとピックアップ13から照射される光ビ
ームAはその偏心に応じてディスク11の半径方向に動
くため、第2の受光部17に対する照射位置も移動する
。ところが、上記案内溝あるいは信号列の中心と光透過
部111の中心とは一致しているため、第2の受光部1
6に対する光ビームBの照射位置もディスク偏心に応じ
て変化する。
このため、第1及び第2の受光部16.17に対する各
光ビームB、Aの照射位置間の距離はディスク偏心によ
らず一定である。つまり、減算回路29がら取出される
位置データにもディスク偏心による誤差成分は含まれな
い。
光ビームB、Aの照射位置間の距離はディスク偏心によ
らず一定である。つまり、減算回路29がら取出される
位置データにもディスク偏心による誤差成分は含まれな
い。
したがって、上記のように構成した光ビーム照射位置検
出装置を用いれば、ディスク偏心による誤差を除去して
、正確な光ビームの照射位置情報を得ることができる。
出装置を用いれば、ディスク偏心による誤差を除去して
、正確な光ビームの照射位置情報を得ることができる。
さらに、上記第1及び第2の受光部の受光素子数を多く
することにより、より一層正確な位置情報を得ることが
できる。
することにより、より一層正確な位置情報を得ることが
できる。
尚、この発明は上記実施例に限定されるものではなく、
例えば部品取付は等の都合により、第3図に示すように
上記光源15と第1の受光部16の取付は位置をディス
ク11に対して逆にしてもよい。
例えば部品取付は等の都合により、第3図に示すように
上記光源15と第1の受光部16の取付は位置をディス
ク11に対して逆にしてもよい。
また、上記光源15に代わって、第4図に示すように、
上記ピックアップ13で発生される光ど一層の一部A′
を取出して、ディスク11の光透過部111の下部に配
置させたミラー30に向けて照射させ、その反射光A′
を光ビームBとしてミラー3oの角度を調整して光透過
部111付近に照射するようにしてもよい。これによっ
て、光透退部検出用の専用光源が必要なくなる。
上記ピックアップ13で発生される光ど一層の一部A′
を取出して、ディスク11の光透過部111の下部に配
置させたミラー30に向けて照射させ、その反射光A′
を光ビームBとしてミラー3oの角度を調整して光透過
部111付近に照射するようにしてもよい。これによっ
て、光透退部検出用の専用光源が必要なくなる。
さらに、上記光透過部111に代わって、第5図に示す
ように、遮光部112を形成するようにしてもよい。こ
の場合、上記光源15からの光ビームBは遮光部112
形成部を除いてディスク11を透過し、第1の受光部1
6に照射されるが、この第1の受光部16の各受光素子
出力を反転ヘッドアンプ19−を介して上記シフトレジ
スタ21に導出するようにすれば、上記実施例と同様な
作用効果が得られるものである。
ように、遮光部112を形成するようにしてもよい。こ
の場合、上記光源15からの光ビームBは遮光部112
形成部を除いてディスク11を透過し、第1の受光部1
6に照射されるが、この第1の受光部16の各受光素子
出力を反転ヘッドアンプ19−を介して上記シフトレジ
スタ21に導出するようにすれば、上記実施例と同様な
作用効果が得られるものである。
さらにまた、第6図に示すように、上記第2の受光部1
7をピックアップ13の移動方向に沿って配置させ、こ
の第2の受光部17にピックアップ13がら光ビームA
の一部A ”を取出して照射させるようにしても上記実
施例と同様にディスク11の光透過部111に対する光
ビームAの照射位置を検出することができる。この構成
はディスク11の光透過率が低い場合に大変有効である
。
7をピックアップ13の移動方向に沿って配置させ、こ
の第2の受光部17にピックアップ13がら光ビームA
の一部A ”を取出して照射させるようにしても上記実
施例と同様にディスク11の光透過部111に対する光
ビームAの照射位置を検出することができる。この構成
はディスク11の光透過率が低い場合に大変有効である
。
以上の実施例では、第1及び第2の受光部16゜17の
各受光素子としてフォトダイオードを用いて説明したが
、CODあるいはアモルファスシリコン密着センサ等の
多画素イメージセンサを用いれば、より一層分解能を上
げることができる。また、PSDのような非分割形の受
光素子を用いて構成すれば、光ビームが照射している案
内溝あるいは信号列まで判別することも可能である。
各受光素子としてフォトダイオードを用いて説明したが
、CODあるいはアモルファスシリコン密着センサ等の
多画素イメージセンサを用いれば、より一層分解能を上
げることができる。また、PSDのような非分割形の受
光素子を用いて構成すれば、光ビームが照射している案
内溝あるいは信号列まで判別することも可能である。
[発明の効果コ
以上詳述したようにこの発明によれば、ディスクの案内
溝あるいは信号列の偏心による誤差がなく、極めて正確
に光ビームの照射位置を検出することのできる光ビーム
照射位置検出装置を提供することができる。
溝あるいは信号列の偏心による誤差がなく、極めて正確
に光ビームの照射位置を検出することのできる光ビーム
照射位置検出装置を提供することができる。
第1因はこの発明に係る光ビーム照射位置検出装置の一
実施例を示す構成図、第2図は同実施例の動作を説明す
るためのタイミング図、第3図乃至第6図はそれぞれこ
の発明に係る他の実施例を示す構成図、第7図及び第8
図はそれぞれ従来の光ビーム照射位置検出装置を示す構
成図である。 11・・・ディスク111・・・光透過部、112・・
・遮光部、12・・・ディスクモータ、13・・・ピッ
クアップ、14・・・送りモータ、15・・・光源、1
6・・・第1の受光部、11・・・第2の受光部、18
・・・位置検出回路、19.20・・・ヘッドアンプ、
21.22・・・シフトレジスタ、23・・・ラッチパ
ルス発生回路、24・・・クロックパルス発生回路、2
5゜26・・・カウンタ、27.28・・・ラッチ回路
、29・・・減算回路、30・・・ミラー。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 (e) 丁 −−−−−−−一−・−
築2図
実施例を示す構成図、第2図は同実施例の動作を説明す
るためのタイミング図、第3図乃至第6図はそれぞれこ
の発明に係る他の実施例を示す構成図、第7図及び第8
図はそれぞれ従来の光ビーム照射位置検出装置を示す構
成図である。 11・・・ディスク111・・・光透過部、112・・
・遮光部、12・・・ディスクモータ、13・・・ピッ
クアップ、14・・・送りモータ、15・・・光源、1
6・・・第1の受光部、11・・・第2の受光部、18
・・・位置検出回路、19.20・・・ヘッドアンプ、
21.22・・・シフトレジスタ、23・・・ラッチパ
ルス発生回路、24・・・クロックパルス発生回路、2
5゜26・・・カウンタ、27.28・・・ラッチ回路
、29・・・減算回路、30・・・ミラー。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 (e) 丁 −−−−−−−一−・−
築2図
Claims (2)
- (1)信号記録面上に形成されたトラッキング用案内溝
あるいは情報信号に応じた反射率の異なる信号列と同一
の中心を持つリング状の光透過制御部を形成してなるデ
ィスクと、このディスクの半径方向に移動しながら前記
情報信号に応じて変化する光ビームを前記案内溝に照射
して情報信号を前記ディスクに記録するあるいは前記デ
ィスクの半径方向に移動しながら前記ディスクに所定波
長の光ビームを照射し前記信号列によつて変化を受けた
光ビームの反射光を受光することにより前記ディスクに
記録された情報信号を読取るピックアップと、前記ディ
スクの一方面側の光透過制御部付近に光を照射する光源
と、前記ディスクの他方面側の前記光源と対向する位置
に同サイズの複数個の受光素子を前記ディスクの半径方
向に配置してなる第1の受光部と、前記ピックアップの
移動方向にその移動範囲に渡つて同サイズの複数の受光
素子を配置してなる第2の受光部と、前記ピックアップ
で発生される光ビームの一部を前記第2の受光部に照射
するビーム照射手段と、前記第1及び第2の受光部の各
受光素子の出力から前記ディスクの光透過制御部に対し
て相対的な光ビーム照射位置を算出する位置算出手段と
を具備したことを特徴とする光ビーム照射位置検出装置
。 - (2)前記光源は前記ピックアップから照射される光ビ
ームの一部を取出して前記ディスクの光透過制御部に照
射することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光
ビーム照射位置検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19711485A JPS6258425A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | 光ビ−ム照射位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19711485A JPS6258425A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | 光ビ−ム照射位置検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6258425A true JPS6258425A (ja) | 1987-03-14 |
Family
ID=16368962
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19711485A Pending JPS6258425A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | 光ビ−ム照射位置検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6258425A (ja) |
-
1985
- 1985-09-06 JP JP19711485A patent/JPS6258425A/ja active Pending
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