JPS6256832A - 光フアイバ不規則曲がりの測定方法 - Google Patents
光フアイバ不規則曲がりの測定方法Info
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- JPS6256832A JPS6256832A JP19659485A JP19659485A JPS6256832A JP S6256832 A JPS6256832 A JP S6256832A JP 19659485 A JP19659485 A JP 19659485A JP 19659485 A JP19659485 A JP 19659485A JP S6256832 A JPS6256832 A JP S6256832A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- measurement
- transmission loss
- measuring
- irregular
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ファイバの被覆化工程、ケーブル化工程な
どの製造工程において発生する光ファイバの不規則曲が
りの平均曲率、平均継続長、平均個数を測定する光ファ
イバ不規則曲がりの測定方法に関する。
どの製造工程において発生する光ファイバの不規則曲が
りの平均曲率、平均継続長、平均個数を測定する光ファ
イバ不規則曲がりの測定方法に関する。
本発明は、光ファイバの製造工程において発生する不規
則曲がり特性を測定する光ファイバ不規則曲がりの測定
方法において、 測定用の単一モード光ファイバと測定用の被屈折光ファ
イバとを、被試験光ファイバと同一条件で製造工程に流
し、上記単一光ファイバについての伝送損失増および複
屈折光ファイバについての消光比劣化量を測定ことによ
り、 均率１／Ｒ１単位長当たりの平均個数Ｎおよび平均継続
長Ｗを求めるようにしたものである。
則曲がり特性を測定する光ファイバ不規則曲がりの測定
方法において、 測定用の単一モード光ファイバと測定用の被屈折光ファ
イバとを、被試験光ファイバと同一条件で製造工程に流
し、上記単一光ファイバについての伝送損失増および複
屈折光ファイバについての消光比劣化量を測定ことによ
り、 均率１／Ｒ１単位長当たりの平均個数Ｎおよび平均継続
長Ｗを求めるようにしたものである。
光ファイバの被覆化またはケーブル化工程などで発生す
る不規則面がりの曲率等の測定方法については、従来報
告が見られない。
る不規則面がりの曲率等の測定方法については、従来報
告が見られない。
ところで、光ファイバの製造工程に中に発生する不規則
面がりは、光ファイバの伝送損失の増大、あるいは結合
の度合いを示す消光比を劣化させるで、その特性を測定
して明らかにすることが強く望まれている。これは、光
ファイバの不規則面がり特性を明らかにすることにより
、ケーブル構造や被覆材質等の改良を図るためである。
面がりは、光ファイバの伝送損失の増大、あるいは結合
の度合いを示す消光比を劣化させるで、その特性を測定
して明らかにすることが強く望まれている。これは、光
ファイバの不規則面がり特性を明らかにすることにより
、ケーブル構造や被覆材質等の改良を図るためである。
本発明の目的は、上記の要望を満足させることにより、
製造工程中に発生ずる光ファイバの不規則面がり特性を
適確に測定できる光ファイバ不規則曲がりの測定方法を
提供することにある。
製造工程中に発生ずる光ファイバの不規則面がり特性を
適確に測定できる光ファイバ不規則曲がりの測定方法を
提供することにある。
本発明の光ファイバ不規則曲がりの測定方法は、光ファ
イバの製造工程において発生する光ファイバの不規則面
がり特性を測定する方法において、伝送損失が既知の単
一モード光ファイバからなる第一測定用光ファイバと、
消光比が既知の複屈折光ファイバからなる第二測定用光
ファイバとを、被試験用光ファイバと実質的に同一条件
で同一製造工程に取り込み製造を行い、上記第一測定用
光ファイバについて伝送損失増を、上記第二測定用光フ
ァイバについて消光比劣化量をそれぞれ測定することに
より、上記被試験用光ファイバに発生たりの平均個数Ｎ
および平均継続長Ｗを求めることを特徴とする。
イバの製造工程において発生する光ファイバの不規則面
がり特性を測定する方法において、伝送損失が既知の単
一モード光ファイバからなる第一測定用光ファイバと、
消光比が既知の複屈折光ファイバからなる第二測定用光
ファイバとを、被試験用光ファイバと実質的に同一条件
で同一製造工程に取り込み製造を行い、上記第一測定用
光ファイバについて伝送損失増を、上記第二測定用光フ
ァイバについて消光比劣化量をそれぞれ測定することに
より、上記被試験用光ファイバに発生たりの平均個数Ｎ
および平均継続長Ｗを求めることを特徴とする。
また本発明の光ファイバ不規則曲がりの測定方法は、製
造工程が光ファイバの被覆化またはケーブル化工程であ
って、被試験光ファイバと同一ユニット内に、第一、第
二測定用光ファイバを実装することが好ましい。
造工程が光ファイバの被覆化またはケーブル化工程であ
って、被試験光ファイバと同一ユニット内に、第一、第
二測定用光ファイバを実装することが好ましい。
次に、本発明の作用をもたらす原理について説明する。
比較的に比屈折率差の小さい単一モード光ファイバにお
いて、誘起された不規則面がりの二乗平均曲率を（１／
Ｒ）” 、平均ｍ続長をＷ、単位長当たりの平均個数
をＮとし、光フアイバ長手方向に分布する曲がりの曲率
がガウス分布形で表されると仮定すると、波長λの光に
対する伝送損失増Δα（λ） （ｄＢ／ｋｍ）は次式で
与えられる（文献；フルヤ、スエマツ、応用光学、１９
巻、頁１４９３−１５００．１９８０年： Ｓ、Ｆｕｒ
ｕｙａ ａｎｄ Ｙ、Ｓｕｅｍａｔｓｕ、 Ａｐｐｌ。
いて、誘起された不規則面がりの二乗平均曲率を（１／
Ｒ）” 、平均ｍ続長をＷ、単位長当たりの平均個数
をＮとし、光フアイバ長手方向に分布する曲がりの曲率
がガウス分布形で表されると仮定すると、波長λの光に
対する伝送損失増Δα（λ） （ｄＢ／ｋｍ）は次式で
与えられる（文献；フルヤ、スエマツ、応用光学、１９
巻、頁１４９３−１５００．１９８０年： Ｓ、Ｆｕｒ
ｕｙａ ａｎｄ Ｙ、Ｓｕｅｍａｔｓｕ、 Ａｐｐｌ。
Ｏｐｔ 、 Ｖｏｌ、 １９． ｐｐ１４９３−１５
００．１９８０ ）。
００．１９８０ ）。
ｅｘｐ （−Ｙ（）” ） ・・・（１）λゎ
ただし、Δは比屈折率差、れは力・７トオフ波長、ｎは
光フアイバコアの屈折率、ＸおよびＹは（λ／λＣ）の
値によって決まる定数でである。
光フアイバコアの屈折率、ＸおよびＹは（λ／λＣ）の
値によって決まる定数でである。
従って、単一モード光ファイバについて、製造ことによ
り、（１）式よりＮ（１／Ｒ）ゞおよびＷを求めること
ができる。
り、（１）式よりＮ（１／Ｒ）ゞおよびＷを求めること
ができる。
一方、複屈折光ファイバにおいては、製造工程中に誘起
された不規則面がりに基づいた直交偏波モード間の結合
の度合いである消光比η（ｄＢ）は次式で表される（文
献；岡本他、「米国電子電気学会、量子エレクトロニク
ス、ＱＥ−１８巻、頁１８９０−１８９９．１９８２年
Ｊ Ｋ、 Ｏｋａｍｏｔｏ ｅｔ ａｌ、 ＴＥＥＥ
Ｊ。
された不規則面がりに基づいた直交偏波モード間の結合
の度合いである消光比η（ｄＢ）は次式で表される（文
献；岡本他、「米国電子電気学会、量子エレクトロニク
ス、ＱＥ−１８巻、頁１８９０−１８９９．１９８２年
Ｊ Ｋ、 Ｏｋａｍｏｔｏ ｅｔ ａｌ、 ＴＥＥＥ
Ｊ。
Ｑｕａｎｔａｍ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ、 Ｖｏｌ
ＱＥ−１８＋ ｐｐ１８９０−１８９９゜１９８２）。
ＱＥ−１８＋ ｐｐ１８９０−１８９９゜１９８２）。
ただし、ｋは光の波数、Ｅはガラスのヤング率、ｂは光
フアイバ外半径、Ｃは光弾性定数、Ｌは光ファイバ長、
Ｂは光ファイバの複屈折率である。
フアイバ外半径、Ｃは光弾性定数、Ｌは光ファイバ長、
Ｂは光ファイバの複屈折率である。
従って、複屈折光ファイバについて、消光比ηを測定す
ることにより、Ｎ （１／Ｒ）’ｗ２とｗ２を未知項
とする定量式が得られる。
ることにより、Ｎ （１／Ｒ）’ｗ２とｗ２を未知項
とする定量式が得られる。
ところで本発明では、上記単一モード光ファイバと、上
記複屈折光ファイバとを被試験光ファイバとを、例えば
ケーブル化工程で同一ユニット内に実装することにより
、被試験光ファイバと同一条件で製造工程に流すので、
上記即−モード光ファイバおよび複屈折光ファイバに発
生する不規則面がりは、被試験光ファイバに発生ずる不
規則面がりと同じであると見てよい。
記複屈折光ファイバとを被試験光ファイバとを、例えば
ケーブル化工程で同一ユニット内に実装することにより
、被試験光ファイバと同一条件で製造工程に流すので、
上記即−モード光ファイバおよび複屈折光ファイバに発
生する不規則面がりは、被試験光ファイバに発生ずる不
規則面がりと同じであると見てよい。
従って、（１）式で求められたＮ （１／ＲνとＷと
を（２）式に代入することにより、Ｎおよび１／Ｒが求
められる。
を（２）式に代入することにより、Ｎおよび１／Ｒが求
められる。
かくして、単一モード光ファイバについての伝送損失増
Δα（λ）および複屈折光ファイバについての消光比η
を測定することにより、平均面がりの平均曲率１／Ｒ１
単位長さ当たりの平均個数Ｎおよび平均継続Ｗを求める
ことができる。
Δα（λ）および複屈折光ファイバについての消光比η
を測定することにより、平均面がりの平均曲率１／Ｒ１
単位長さ当たりの平均個数Ｎおよび平均継続Ｗを求める
ことができる。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
以下説明する実施例は、単一モード光ファイバからなる
第−測定用光ファイバと、複屈折光ファイバからなる第
二測定用光ケーブルとを、同一形状にして同一ユニット
内に被試験用ファイバとともに収納し、ケーブル化工程
に流した場合のものである。
第−測定用光ファイバと、複屈折光ファイバからなる第
二測定用光ケーブルとを、同一形状にして同一ユニット
内に被試験用ファイバとともに収納し、ケーブル化工程
に流した場合のものである。
第１図は単一モード光ファイバについての伝送損失α（
λ）の波長特性を素線とぞのケーブル化後について示し
たものである。そして第２図は第１図の結果から伝送損
失増Δα（λ）を求めたもので、同図で黒丸は測定値、
破線は（１）式に基づき最小二乗適合されたものである
。これにより、Ｎ （１／Ｒ）”＝ １４．１７、−
：１Ｗ＝１．３９ｆｌ と求められる。
λ）の波長特性を素線とぞのケーブル化後について示し
たものである。そして第２図は第１図の結果から伝送損
失増Δα（λ）を求めたもので、同図で黒丸は測定値、
破線は（１）式に基づき最小二乗適合されたものである
。これにより、Ｎ （１／Ｒ）”＝ １４．１７、−
：１Ｗ＝１．３９ｆｌ と求められる。
第３図は、（２）式より得られた複屈折光ファイバにつ
いての消光比ηと不規則面がりの二乗平均曲率（１／Ｒ
）”の関係を示したものである。なお本実施例で用いた
複屈折光ファイバでは、λ −１，３−・ Ｅ ＝ ７８３０ ｋｇ−ｗｔ／ ｗ”
、ｂ ＝ １００ ｔｒｍ。
いての消光比ηと不規則面がりの二乗平均曲率（１／Ｒ
）”の関係を示したものである。なお本実施例で用いた
複屈折光ファイバでは、λ −１，３−・ Ｅ ＝ ７８３０ ｋｇ−ｗｔ／ ｗ”
、ｂ ＝ １００ ｔｒｍ。
Ｃ＝ ３．３ ｘ ｌＱ’ｍ鳳／ｋｇ−智
ｔ 、Ｂ ＝ ４ Ｘ １０’、 Ｌ ＝ １．２ ｋｍ である。そして本実施例ではケーブル化後、消光比ηが
２７ｄＢに劣化したため、（２）式はη ＝ １．０２
−’Ｘ （１／Ｒ）”となる。これにより １／Ｒ＝ １．４ｘｌＯ”、 Ｎ ＝ ７．１Ｘ１０’−’ と評価できる。
ｔ 、Ｂ ＝ ４ Ｘ １０’、 Ｌ ＝ １．２ ｋｍ である。そして本実施例ではケーブル化後、消光比ηが
２７ｄＢに劣化したため、（２）式はη ＝ １．０２
−’Ｘ （１／Ｒ）”となる。これにより １／Ｒ＝ １．４ｘｌＯ”、 Ｎ ＝ ７．１Ｘ１０’−’ と評価できる。
以上説明したように、本実施例においては、同一ユニッ
ト内に比較的比屈折率差の小さい単一モード光ファイバ
と複屈折光ファイバとを収納しており、同一ユニット内
の光フアイバ心線は同様な不規則面がり分布を持つと考
えられるので、上記の測定により、被試験光ファイバの
不規則面がり特性が評価される。
ト内に比較的比屈折率差の小さい単一モード光ファイバ
と複屈折光ファイバとを収納しており、同一ユニット内
の光フアイバ心線は同様な不規則面がり分布を持つと考
えられるので、上記の測定により、被試験光ファイバの
不規則面がり特性が評価される。
なお、上記実施例においては製造工程としてケーブル化
工程を取り上げたけれども、本発明はこれに限定される
ことなく、第一、第二測定用光ファイバを被試験光ファ
イバと同一条件で同一製造工程に流すことにより、他の
製造工程にも適用できることはもちろんである。
工程を取り上げたけれども、本発明はこれに限定される
ことなく、第一、第二測定用光ファイバを被試験光ファ
イバと同一条件で同一製造工程に流すことにより、他の
製造工程にも適用できることはもちろんである。
さらに、本発明においては、場合により被試験光ファイ
バと第一、第二測定用光ファイバのいずれか一方が同一
であってもよいことは明らかである。
バと第一、第二測定用光ファイバのいずれか一方が同一
であってもよいことは明らかである。
以上説明したように、本発明は測定用の単一モード光フ
ァイバおよび複屈折光ファイバを被試験光ファイバと同
一条件で同一製造工程に流し、上記単一モード光ファイ
バについて伝送損失増Δα（λ）を、複屈折光ファイバ
について消光比劣化量を測定することにより、発生した
不規則面がりの平均率１／Ｒ１単位長当たりの平均個数
Ｎおよび平均継続長Ｗを求めることができる効果がある
。
ァイバおよび複屈折光ファイバを被試験光ファイバと同
一条件で同一製造工程に流し、上記単一モード光ファイ
バについて伝送損失増Δα（λ）を、複屈折光ファイバ
について消光比劣化量を測定することにより、発生した
不規則面がりの平均率１／Ｒ１単位長当たりの平均個数
Ｎおよび平均継続長Ｗを求めることができる効果がある
。
従って本発明を用いることにより、ケーブル構造や、被
覆材質、光ファイバの外径等の違いによる伝送特性が、
定量的に把握でき、偏波保持光ファイバの設計指針が得
られ、また長距離光ケーブルで生じる伝送損失の推定も
可能となるなど、光ファイバの設計・製造上に与える効
果は大きい。
覆材質、光ファイバの外径等の違いによる伝送特性が、
定量的に把握でき、偏波保持光ファイバの設計指針が得
られ、また長距離光ケーブルで生じる伝送損失の推定も
可能となるなど、光ファイバの設計・製造上に与える効
果は大きい。
第１図は測定用単一モード光ファイバの素線およびケー
ブル化後の伝送損失波長特性。 第２図は第１図より求められた伝送損失増の波長依存特
性。 第３図は測定用複屈折光ファイバの不規則面がりの二乗
平均曲率（１／Ｒ）２と消光比の関係を示す特性図。
ブル化後の伝送損失波長特性。 第２図は第１図より求められた伝送損失増の波長依存特
性。 第３図は測定用複屈折光ファイバの不規則面がりの二乗
平均曲率（１／Ｒ）２と消光比の関係を示す特性図。
Claims (2)
- （１）光ファイバの製造工程において発生する光ファイ
バの不規則曲がり特性を測定する方法において、 伝送損失が既知の単一モード光ファイバからなる第一測
定用光ファイバと、消光比が既知の複屈折光ファイバか
らなる第二測定用光ファイバとを、被試験用光ファイバ
と実質的に同一条件で同一製造工程に取り込み製造を行
い、 上記第一測定用光ファイバについて伝送損失増を、上記
第二測定用光ファイバについて消光比劣化量をそれぞれ
測定することにより、 上記被試験用光ファイバに発生する不規則曲がりの平均
曲率１／Ｒ、単位長さ当たりの平均個数Ｎおよび平均継
続長ｗを求める ことを特徴とする光ファイバ不規則曲がりの測定方法。 - （２）製造工程が光ファイバの被覆化またはケーブル化
工程であって、被試験光ファイバと同一ユニット内に、
第一、第二測定用光ファイバを実装する特許請求の範囲
第（１）項に記載の光ファイバ不規則曲がりの測定方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19659485A JPS6256832A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | 光フアイバ不規則曲がりの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19659485A JPS6256832A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | 光フアイバ不規則曲がりの測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6256832A true JPS6256832A (ja) | 1987-03-12 |
Family
ID=16360333
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19659485A Pending JPS6256832A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | 光フアイバ不規則曲がりの測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6256832A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5092442A (en) * | 1990-02-28 | 1992-03-03 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Clutch cover assembly |
-
1985
- 1985-09-05 JP JP19659485A patent/JPS6256832A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5092442A (en) * | 1990-02-28 | 1992-03-03 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Clutch cover assembly |
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