JPS6249451A - Information processor - Google Patents

Information processor

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JPS6249451A
JPS6249451A JP60188908A JP18890885A JPS6249451A JP S6249451 A JPS6249451 A JP S6249451A JP 60188908 A JP60188908 A JP 60188908A JP 18890885 A JP18890885 A JP 18890885A JP S6249451 A JPS6249451 A JP S6249451A
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shift register
shift
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Abstract

PURPOSE:To make it possible to execute writing or reading operation within the shortest time by selecting plural memory elements included in a shift register and connecting memory elements mutually to form a new shift register. CONSTITUTION:A shift register designating signal 100 that selects a shift register 2b from a shift register designating circuit 3 is supplied to a decoder 5, a SI selecting circuit 10 and an SO selecting circuit 11. As the result, a clock signal 103 is supplied from a clock supply circuit 4 to the shift register 2b through the decoder 5, and data 111 from an SI input control circuit 9 is inputted to the shift in terminal of the shift register 2b through the SI selecting circuit 10. Further, output data 106 from the shift out terminal of the shift register 2b outputted to an SO output control circuit 12 through the SO selecting circuit 11.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置の診断手段に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a diagnostic means for an information processing device.

特に、シフトパスを用いたレジスタ診断手段に関する。In particular, the present invention relates to register diagnostic means using shift paths.

〔概要〕〔overview〕

シフトレジスタを備え、このシフトレジスタ中の所望の
記憶素子にデータの書き込みおよび読み出しが行われる
情報処理装置において、上記シフトレジスタを縦続接続
されたシフト数の少ないシフトレジスタに分断して、こ
の分断されたシフトレジスタを選択して所望の記憶素子
にデータ書き込みおよび読み出しを実行することにより
、 所望の記憶素子に対するデータ書き込みおよび読出し時
間を短縮することができるようにしたものである。
In an information processing device that is equipped with a shift register and in which data is written to and read from a desired storage element in the shift register, the shift register is divided into cascade-connected shift registers with a small number of shifts, and the divided By selecting a selected shift register to write and read data to and from a desired memory element, it is possible to shorten the time required to write and read data from and to a desired memory element.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

シフトパスを用いて初期設定および診断を行う必要のあ
るレジスタを備えた論理・装置を含む情報処理装置では
、あらかじめ定められた複数のシフトレジスタを形成す
るように論理装置内の記憶素子が相互に接続されている
。したがって、一つのシフトレジスタ中に含まれる記憶
素子の個数および接続の順序などは固定されている。
In an information processing device that includes logic/devices equipped with registers that require initial setting and diagnosis using shift paths, storage elements within the logic device are interconnected to form a plurality of predetermined shift registers. has been done. Therefore, the number of storage elements included in one shift register, the order of connection, etc. are fixed.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

このような従来例情報処理装置では、一つのシフトレジ
スタ中に含まれる記憶素子の個数および接続の順序なと
が固定されているので、一つのシフトレジスタ中の一部
の記憶素子に所定の値を設定する場合でも、対象になる
記憶素子を含むシフトレジスタ全体を出力し、出力デー
タのなかの対象になる記憶素子の位置に所定の値を設定
した後に、再びシフトレジスタに入力する必要があった
In such a conventional information processing device, the number and connection order of storage elements included in one shift register are fixed, so some storage elements in one shift register are set to a predetermined value. Even when setting , it is necessary to output the entire shift register including the target storage element, set a predetermined value at the position of the target storage element in the output data, and then input it to the shift register again. Ta.

したがって、一部の記憶素子のデータの書き込みまたは
読み出しを行う場合でも、対象となる記憶素子を含むシ
フトレジスタ全体を出力しなければならず時間がかかる
欠点があった。さらに、シフトバスを用いて初期設定お
よび診断を行う必要のあるレジスタを具備する論理装置
を含む情報処理装置では、初期設定時間および診断時間
が長引き、装置の平均修復時間が長くなる欠点があった
Therefore, even when data is to be written or read from a part of the memory elements, the entire shift register including the target memory elements must be output, which has the disadvantage of taking time. Furthermore, information processing equipment that includes logic devices that have registers that require initial settings and diagnostics using a shift bus has the disadvantage that the initial settings and diagnostics times take longer, and the average repair time of the equipment increases. .

〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、複数の記憶素子を有する第一のシフトレジス
タと、この記憶素子のうちの所望の記憶素子に対してデ
ータの書き込みおよび読み出しを行う入出力手段とを備
えた情報処理装置において、上記第一のシフトレジスタ
は、縦続接続された複数の第二のシフトレジスタで構成
され、上記所望の記憶素子を含む第二のシフトレジスタ
に対する上記入出力手段を有効にする制御手段を備えた
ことを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a first shift register having a plurality of memory elements, and an input/output means for writing and reading data into and from a desired memory element among the memory elements. In the information processing device, the first shift register is configured of a plurality of cascade-connected second shift registers, and the input/output means for the second shift register including the desired storage element is provided. The present invention is characterized by comprising a control means for enabling.

〔作用〕[Effect]

シフトレジスタ中の一部の記憶素子に対して実行される
書込みおよび読出しは、例えば、シフトバスを用いた初
期設定および診断時に実行される。
Writing and reading to some storage elements in the shift register are performed, for example, during initialization and diagnosis using the shift bus.

この際にシフトレジスタ全体に対しての入出力を行わず
に、対象になる記憶素子を含むシフトレジスタの部分に
限って実行される。この部分は制御装置により選択され
、他の部分は切り離される。
At this time, input/output is not performed for the entire shift register, but only for the portion of the shift register that includes the target storage element. This part is selected by the control device and the other parts are cut off.

これにより、初期設定および診断に要する時間が短縮さ
れる。
This reduces the time required for initial setup and diagnosis.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例装置を図面に基づいて説明する。 DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be explained based on the drawings.

図は本発明実施例装置の構成を示すブロック構成図であ
る。
The figure is a block configuration diagram showing the configuration of an apparatus according to an embodiment of the present invention.

まず、この実施例装置の構成を図に基づいて説明する。First, the configuration of this embodiment device will be explained based on the drawings.

この実施例装置は、複数の記憶素子15と、この記憶素
子15を相互に接続する論理回路網1と、シフトレジス
タ2a、:l’bおよび2Cと、シフトレジスタ2a、
2bおよび2cから所望のシフトレジスタを選択するシ
フトレジスタ指定回路3と、シフトレジスタ指定回路3
からのシフトレジスタ指定信号100に基づいてシフト
インデータの入力指定を行うシフトイン選択回路(以下
、SI選択回路という。)10と、シフトレジスタ指定
回路3からのシフトレジスタ指定信号100に基づいて
シフトアウトデータの出力指定を行うシフトアウト選択
回路(以下、SO選択回路という。)11と、クロック
信号101を生成するり゛ロック供給回路4と、シフト
レジスタ指定信号100をデコードした結果に従いクロ
ック供給回路4からのクロック信号101を新たに形成
された一つのシフトレジスタに供給するデコーダ5と、
1人力信号113を生成する1入力回路6と、0人力信
号112を生成する0入力回路7と、クロック信号10
1の供給に応じてシフトバッファ13の出力108と、
0入力回路7の出力112と、1入力回路6の出力11
3のうちの一つを選択してこのシフトレジスタ2a、2
bおよび2cに直列データ111を入力するシフトイン
入力制御回路(以下、Sl入力制御回路という、)9と
、クロック信号101の供給に応じてシフトレジスタ2
a、2bおよび2cがら直列データ107を出力するシ
フトアウト出力制御回路(以下SO出力制御回路という
。)14と、シフトレジスタ2a、2bおよび2cのシ
フトイン入力およびシフトアウト出力動作を有効にする
シフトモード指定回路8点、SO出力制御回路12によ
り出力されたデータ107をとりこみ、Sl入力制御回
路9にデータ108を供給するシフドパ、7フア13と
、前記シフトバッファ13にデータを入出力する診断装
置14とを備える。
This embodiment device includes a plurality of memory elements 15, a logic circuit network 1 that interconnects the memory elements 15, shift registers 2a, :l'b and 2C, shift registers 2a,
a shift register designation circuit 3 that selects a desired shift register from 2b and 2c; and a shift register designation circuit 3
A shift-in selection circuit (hereinafter referred to as SI selection circuit) 10 performs input designation of shift-in data based on a shift register designation signal 100 from the shift register designation circuit 3; A shift out selection circuit (hereinafter referred to as SO selection circuit) 11 that specifies output of out data, a lock supply circuit 4 that generates a clock signal 101, and a clock supply circuit according to the result of decoding the shift register designation signal 100. a decoder 5 that supplies the clock signal 101 from 4 to one newly formed shift register;
A 1-input circuit 6 that generates a 1-manpower signal 113, a 0-input circuit 7 that generates a 0-manpower signal 112, and a clock signal 10.
The output 108 of the shift buffer 13 in response to the supply of 1;
Output 112 of 0 input circuit 7 and output 11 of 1 input circuit 6
Select one of the shift registers 2a, 2.
A shift-in input control circuit (hereinafter referred to as Sl input control circuit) 9 that inputs serial data 111 to b and 2c, and a shift register 2 in response to the supply of a clock signal 101.
A shift-out output control circuit (hereinafter referred to as SO output control circuit) 14 that outputs serial data 107 from a, 2b, and 2c, and a shift circuit that enables shift-in input and shift-out output operations of shift registers 2a, 2b, and 2c. 8 mode designation circuits, a shift buffer 13 that takes in data 107 output by the SO output control circuit 12 and supplies data 108 to the Sl input control circuit 9, and a diagnostic device that inputs and outputs data to the shift buffer 13. 14.

次に、シフトレジスタ2に含まれる複数の記憶素子を選
択して新たに形成される一つのシフトレジスタ2bにデ
・−夕の書き込みを行う場合の動作を説明する。
Next, the operation when selecting a plurality of storage elements included in the shift register 2 and writing data into one newly formed shift register 2b will be described.

まず、シフトレジスタ指定回路3からシフトレジスタ2
bを選択するシフトレジスタ指定信号100がデコーダ
5、SII択回路10およびSO選択回路11に供給さ
れる。その結果として、デコーダ5を介してシフトレジ
スタ2bにクロック供給回路4からクロック信号103
が供給され、またS■選択回路10を介してシフトレジ
スタ2bのシフトイン端子にSl入力制御回路9からめ
データ111が入力され、またSO選択回路11を介し
てシフトレジスタ2bのシストアウト端子からの出力デ
ータ106がSO出力制御回路12に出力される。シフ
トモード指定回路8によりシフトモードが「1」にされ
クロック供給回路4からシフトレジスタ2bのみにクロ
ックが供給され、シフトレジスタ2bのシストアウト端
子から「1」ビットずつがSO出力制御回路12を介し
てシストバッファ13にとりこまれる。このときに、S
l入力制御回路9で選択され出力されるO入力信号11
2がシフトレジスタ2bのシストイン端子に入力される
。このようにして、シフトレジスタ2bの全記憶素子の
内容がシフトバッファ13に移送されると、シフトレジ
スタ2bにはすべて「0」が格納されているはずである
が、さらに−回だけクロックがシフトレジスタ2bに供
給されてシフトアウト端子から出力されるビットが「0
」であることがSO出力制御回路12でチェックされる
。このとき、シフトレジスタ2bの記憶素子が「1」に
スタックされた障害状態になっていると、シフトアウト
端子から出力されるビットは「1」になり、rlJ故障
を検出することが可能である。チェックの結果が正常で
あれば、さらに−回りロフクがシフトレジスタ2bに供
給されてシフトイン端子にrlJが入力される。これに
よりシフトレジスタ2bは、シフトイン入力端子側の記
憶素子が「1」ビ・ノドだけ「1」で他の記憶素子はす
べて「0」になる。以下この「1」をL S D (L
AST [)IGIT)と呼び、またこのような手順で
シフトレジスタ2の内容がシフトバッファ13に移送さ
れることをスキャンアウトと呼ぶ。ひきつづき、診断装
置14から書き込み゛データ109がシフトバッファ1
3に移送される。
First, from the shift register designation circuit 3 to the shift register 2
A shift register designation signal 100 for selecting b is supplied to the decoder 5, the SII selection circuit 10, and the SO selection circuit 11. As a result, the clock signal 103 is sent from the clock supply circuit 4 to the shift register 2b via the decoder 5.
is supplied, data 111 from the SL input control circuit 9 is input to the shift-in terminal of the shift register 2b via the S selection circuit 10, and data 111 from the shift-out terminal of the shift register 2b is input via the SO selection circuit 11. Output data 106 is output to SO output control circuit 12. The shift mode designation circuit 8 sets the shift mode to "1", and the clock supply circuit 4 supplies a clock only to the shift register 2b, and each "1" bit is sent from the shift register 2b's cystout terminal via the SO output control circuit 12. and is taken into the cyst buffer 13. At this time, S
O input signal 11 selected and output by l input control circuit 9
2 is input to the cyst-in terminal of the shift register 2b. In this way, when the contents of all the storage elements of the shift register 2b are transferred to the shift buffer 13, all "0"s should be stored in the shift register 2b, but the clock is shifted an additional - times. The bit supplied to register 2b and output from the shift out terminal is “0”.
” is checked by the SO output control circuit 12. At this time, if the storage element of the shift register 2b is in a fault state where it is stuck at "1", the bit output from the shift out terminal becomes "1", and it is possible to detect the rlJ failure. . If the check result is normal, the -rotation clock is further supplied to the shift register 2b, and rlJ is input to the shift-in terminal. As a result, in the shift register 2b, only the memory element on the shift-in input terminal side becomes "1", and only the memory element on the shift-in input terminal side becomes "1", and all other memory elements become "0". Hereinafter, this “1” will be referred to as L S D (L
AST[)IGIT), and transferring the contents of the shift register 2 to the shift buffer 13 through such a procedure is called scan out. Continuing, the data 109 written from the diagnostic device 14 is transferred to the shift buffer 1.
Transferred to 3.

次に、シフトバッファ13に移送されたシフトレジスタ
2bの書き込みデータをスキャンアウトした後のシフト
レジスタ2bに移送する手順を説明する。はじめに、所
望のレジスタ2bを選択するシフトレジスタ指定信号1
00がシフトレジスタ指定回路3からデコーダ5と、S
I選選択回路l台よびSO選択回路11に供給される。
Next, a procedure for transferring the write data of the shift register 2b transferred to the shift buffer 13 to the shift register 2b after being scanned out will be explained. First, shift register designation signal 1 to select the desired register 2b
00 from the shift register designation circuit 3 to the decoder 5 and S
The signal is supplied to l I selection selection circuits and SO selection circuit 11.

その結果としてデコーダ5を介してシフトレジスタ2b
のみにクロック供給回路4からクロック信号103を用
いてクロックが供給され、またSII択回路10を介し
てシフトアウト2bのシフトイン端子にS)入力制御回
路9からのデータ111が入力され、SO選択回路11
を介してシフトレジスタ2bのシフトアウト端子からの
出力データ106がSO出力制御回路12に出力される
。シフトモード指定回路8によりシフトモードが[1]
に設定されてクロック供給回路4からシフトレジスタ2
bのみにクロック信号103が供給されて、シフトレジ
スタ2bのシフトイン端子から「1」ビットずつがSl
入力制御回路9を介してシフトレジスタ2bに移送され
る。
As a result, the shift register 2b is transferred to the shift register 2b via the decoder 5.
A clock is supplied from the clock supply circuit 4 using the clock signal 103 to the S) input control circuit 9, and the data 111 from the input control circuit 9 is input to the shift-in terminal of the shift-out 2b via the SII selection circuit 10. circuit 11
Output data 106 from the shift out terminal of shift register 2b is output to SO output control circuit 12 via. The shift mode designation circuit 8 sets the shift mode to [1].
from the clock supply circuit 4 to the shift register 2
The clock signal 103 is supplied only to the shift register 2b, and each “1” bit is transferred from the shift-in terminal of the shift register 2b to the Sl
It is transferred to the shift register 2b via the input control circuit 9.

このときに、シフトアウト出力端子より出力されるデー
タ106がSO出力制御回路12でrlJか「0」かの
チェックが行われる。「1」である場合には、さらにS
O出力制御回路12でシフトレジスタ2bの全ビット数
だけクロックを供給されたかどうかがチェックされて、
全ビット数だけクロックが供給されていれば正常終了に
みなされ、供給されていなければ異常終了とみなされる
。この理由は[1」が出力されるのはあらかじめスキャ
ンアウト動作正常終了時に最後のシフトインしたLSD
がシフトアウトされるとき、すなわち全ビット数だけク
ロックを供給したときのみに限られることにある。また
、シフトアウト出力端子より出力されるデータが「0」
のときは、さらに、SO出力制御回路12でシフトレジ
スタ2bの全ビット数だけクロックを供給したかどうか
がチェックされて、供給未了であればシフトバッファ1
3からシフトレジスタ2bへのシフトインが継続され、
すでに全ビット数だけクロックを供給しているのにまだ
シフトアウト出力が「0」のときは、シフトレジスタ2
bのある記憶素子が「0」にスタックされている障害で
あるので異常終了になる。以下、このよ・うな手順でシ
フトバッファ13の内容をシフトレジスタ2に移送され
ることをスキャンインと呼ぶ。スキャンアウト動作とス
キャンイン動作の後に、シフトレジスタ2bに対して所
望のデータの書き込みを行うことができる。
At this time, the SO output control circuit 12 checks whether the data 106 output from the shift-out output terminal is rlJ or "0". If it is “1”, then S
The O output control circuit 12 checks whether clocks have been supplied for the total number of bits of the shift register 2b.
If the clock is supplied for the total number of bits, it is considered to be a normal end, and if not, it is considered to be an abnormal end. The reason for this is that [1] is output from the LSD that was last shifted in when the scan-out operation ended normally.
This is limited to only when the bit is shifted out, that is, when the clock is supplied for the entire number of bits. Also, the data output from the shift out output terminal is "0".
In this case, the SO output control circuit 12 further checks whether clocks have been supplied for the entire number of bits of the shift register 2b, and if the supply has not been completed, the clocks are
3 continues to be shifted into the shift register 2b,
If the shift-out output is still “0” even though the clock has already been supplied for the entire number of bits, shift register 2
Since the fault is that a certain storage element b is stuck at "0", the process ends abnormally. Hereinafter, transferring the contents of the shift buffer 13 to the shift register 2 through such a procedure will be referred to as scan-in. After the scan-out operation and scan-in operation, desired data can be written to the shift register 2b.

以上、書き込み動作を説明したが、読み出し動作の場合
には、スキャンアウト動作の後にスキャンイン動作を実
行することにより、シフトバッファ13に残されている
シフトレジスタ2bのデータ110を診断装置14に読
み出すことができる。
The write operation has been described above, but in the case of a read operation, the data 110 of the shift register 2b remaining in the shift buffer 13 is read out to the diagnostic device 14 by executing a scan-in operation after a scan-out operation. be able to.

〔発明の効果) 本発明は、以上説明したように、シフトレジスタの一つ
に含まれる複数の記憶素子を選択して新たな一つのシフ
トレジスタを形成するように記憶素子を相互に接続する
ことにより、一部の記憶素子のデータの書き込みまた読
み出しを行う場合に、対象となる記憶素子を含む最小規
模構成の新たな一つのシフトレジスタに対してシフトレ
ジスタの入出力動作を行うことができるので、最小の時
間で書き込みまたは読み出し動作を実行できる効果があ
る。
[Effects of the Invention] As explained above, the present invention provides a method for selecting a plurality of memory elements included in one shift register and connecting the memory elements to each other so as to form a new shift register. Therefore, when writing or reading data in some memory elements, it is possible to perform shift register input/output operations on a new shift register with the minimum scale configuration that includes the target memory element. , there is an effect that a write or read operation can be executed in a minimum time.

したがって、シフトバスを用いて初期設定および診断を
行う必要のあるレジスタを備える論理装置を含む情報処
理装置では、初期設定時間および診断時間を短縮するこ
とができて装置の平均修復時間を短くできる効果がある
Therefore, in an information processing device that includes a logic device that includes a register that requires initialization and diagnosis using a shift bus, the initialization time and diagnosis time can be shortened, and the average repair time of the device can be shortened. There is.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図は本発明実施例装置の構成を示すブロック構成図。 1・・・論理回路網、2・・・シフトレジスタ、3・・
・シフトレジスタ指定回路、4・・・クロック供給回路
、訃・・デコーダ、6・・・1入力回路、7・・・0入
力回路、8・・・シフトモード指定回路、9・・・SI
人力制御回路、10・・・SI選択回路、11・・・S
O選択回路、12・・・SO出力制御回路、13・・・
シフトバッファ、14・・・診断装置、15・・・記憶
素子。
The figure is a block configuration diagram showing the configuration of an apparatus according to an embodiment of the present invention. 1...Logic circuit network, 2...Shift register, 3...
・Shift register specifying circuit, 4... Clock supply circuit, Decoder, 6... 1 input circuit, 7... 0 input circuit, 8... Shift mode specifying circuit, 9... SI
Human control circuit, 10...SI selection circuit, 11...S
O selection circuit, 12... SO output control circuit, 13...
Shift buffer, 14...Diagnostic device, 15...Storage element.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数の記憶素子を有する第一のシフトレジスタと
、 この記憶素子のうちの所望の記憶素子に対してデータの
書き込みおよび読み出しを行う入出力手段と を備えた情報処理装置において、 上記第一のシフトレジスタは、縦続接続された複数の第
二のシフトレジスタで構成され、 上記所望の記憶素子を含む第二のシフトレジスタに対す
る上記入出力手段を有効にする制御手段を備えたことを
特徴とする情報処理装置。
(1) In an information processing device comprising a first shift register having a plurality of memory elements, and an input/output means for writing and reading data into and from a desired memory element among the memory elements, the above-mentioned The first shift register is composed of a plurality of cascade-connected second shift registers, and is characterized by comprising a control means for enabling the input/output means for the second shift register including the desired storage element. Information processing equipment.
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