JPS6243946A - Test signal transmitter and receiver of time division channel - Google Patents

Test signal transmitter and receiver of time division channel

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JPS6243946A
JPS6243946A JP18301685A JP18301685A JPS6243946A JP S6243946 A JPS6243946 A JP S6243946A JP 18301685 A JP18301685 A JP 18301685A JP 18301685 A JP18301685 A JP 18301685A JP S6243946 A JPS6243946 A JP S6243946A
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植竹 芳勝
Harutoshi Kameda
亀田 晴俊
Masaharu Okayasu
岡安 正晴
Jinko Saito
斉藤 仁孝
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Abstract

PURPOSE:To obtain a test signal transmitter/receiver for a time division channel with a compact constitution by providing the 1st selection information selecting a highway to insert a test data and the 2nd selection information selecting highway to extract the test data. CONSTITUTION:The test signal of the time division channel is extracted from a time division connector TDC to a channel test equipment SPTE by selecting either a forward highway or a backward highway. Further the test signal is inserted from the time division connector TDC to the time division channel by selecting either the forward highway or the backward highway. Then the circuit relating to the test data transmission/reception of the time division connector TDC is simplified, the quantity of cables for transmitting/receiving a signal is reduced and the installation space is less.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は時分割交換システム、より詳細には、時分割交
換システムの時分割通話路を試験するため1時分割通話
路と通話路試験装置の間で試験信号を送受信する装置に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to a time division switching system, more specifically, to a time division switching system and a communication path testing device for testing a time division switching system. This relates to a device that transmits and receives test signals between

(従来の技術) たとえば(財)11本電気通信共済会発行[D70形ロ
動交換a [11]J第69〜81頁(昭和58ベト)
には070形自動交換機の通話路(sp)バス制御装置
が記載されている。このようなSPババス御装置に適用
される通話路試験装置として従来1時分割・空間分割・
時分割通話路(TST)構成のハイウェイスイッチネッ
トワークに時分割コネクタ装置(丁DC)を介して接続
される方式のものがある。
(Prior art) For example, 11 published by the Telecommunications Mutual Aid Association (Foundation) [D70 type rotary exchange a [11] J pages 69-81 (Showa 58 Bet)
describes a speech path (SP) bus control device for a 070 type automatic switch. Traditionally, time division, space division,
There is a system that connects to a highway switch network with a time division communication path (TST) configuration via a time division connector device (DC).

これによる従来の装置構成では、時分割コネクタ装置お
よび通話路試験装置はそれぞれ、時分割交換系のディジ
タル同期端局装置からの時分割されたフォワードハイウ
ェイに試験データ信号を挿入し、またこれから試験デー
タ信号を抽111する機能部と、ディジタル回期端局装
置への時分割されたバックワードハイウェイに試験デー
タ信号を挿入し、またこれから試験データ信号を抽1會
1する機能部とにわかれている。
In this conventional device configuration, the time-division connector device and the channel test device each insert a test data signal into the time-division forward highway from the digital synchronous terminal device of the time-division switching system, and also insert the test data signal into the time-division forward highway from the digital synchronous terminal device of the time-division switching system. It is divided into a functional unit that extracts the signal, and a functional unit that inserts the test data signal into the time-divided backward highway to the digital terminal station equipment and extracts the test data signal from this. .

たとえば、フォワードハイウェイにおける試験データ信
号の挿入および抽出は、フォワードハイウェイディジタ
ルインタフェース装置、フォワード試験信号挿入TlI
C選択回路、フォワードネットワークデコーダ回路、フ
ォワード試験ハイウェイ選択回路およびモードデコーダ
回路などの様々なフォワード側の回路を使用して、保守
スイッチおよび試験モード展開回路から行なわれる。
For example, the insertion and extraction of test data signals in the forward highway is performed by the forward highway digital interface device, the forward test signal insertion TlI.
Various forward side circuits such as a C select circuit, a forward network decoder circuit, a forward test highway select circuit and a mode decoder circuit are used from the maintenance switch and test mode deployment circuits.

また、バックワードハイウェイにおける試験データ信号
の挿入および抽出は、バックワードハイウェイディジタ
ルインタフェース装置、バックワード試験信号挿入TD
C選択回路、バックワードネットワークデコーダ回路、
バックワード試験ハイウェイ選択回路およびモードデコ
ーダ回路などの様々なバックワード側の回路を使用して
、保守スイッチおよび試験モード展開回路から行なわれ
る。
Insertion and extraction of test data signals on the backward highway are performed using a backward highway digital interface device, a backward test signal insertion TD.
C selection circuit, backward network decoder circuit,
Backward testing is performed from the maintenance switch and test mode deployment circuits using various backward side circuits such as highway selection circuits and mode decoder circuits.

この従来例では、被試験回線の引込み操作を行なわない
平常モード、スタンバイ側の試験を行なうオンライン試
験モード、アクティブ側の試験を行なうオンライン試験
モード、および回線開通時などに行なう出合試験モード
の4つのモードをとることができる。これらのモードで
は、それぞれに関連する回路要素を使用して通話路試験
が行なわれる。
In this conventional example, there are four modes: a normal mode in which the line under test is not pulled in, an online test mode in which the standby side is tested, an online test mode in which the active side is tested, and a meeting test mode in which the line is opened. mode can be taken. In these modes, a call path test is performed using each associated circuit element.

(発明が解決しようとする問題点) しかし、これらの試験モードのすべてについて装置内各
部の回路要素が常に関係しているのではなく、通常は、
フォワード側およびバックワード側の要素の一部が関連
しているにすぎない、したがって、装置の機能のわりに
は装置構成が複雑で回路要素が多く、また再装置の間の
信号送受信のための布設ケーブルの皺が多く、したがっ
て装置全体のスペースを多くとり、コンパクトな装置を
実現できない欠点があった。
(Problem to be Solved by the Invention) However, not all of these test modes are always related to circuit elements in each part of the device;
Only some of the elements on the forward and backward sides are related; therefore, the device configuration is complex and has many circuit elements, compared to the functionality of the device, and the wiring for signal transmission and reception between the devices is complicated. The cable has a lot of wrinkles, and therefore the entire device takes up a lot of space, making it impossible to realize a compact device.

本発明はこのような従来技術の欠点を解消し。The present invention overcomes these drawbacks of the prior art.

コンパクトな構成の時分割通話路の試験信号送受信装置
を提供することを目的とする。
It is an object of the present invention to provide a test signal transmitting/receiving device for a time-division communication path with a compact configuration.

(問題点を解決するための手段) 本発明は上述の問題点を解決するために、複数のフォワ
ードハイウェイおよびバンクワードハイウェイを含む時
分割通話路を試験する通話路試験手段と、通話路試験手
段を11シ分−9通話路に接続する時分:1コネクタF
段とを4ノする時分割通話路の試験41号送受信装置に
おいて、通話路試験手段は、複数のフォワードハイウェ
イおよびパックワードハイウェイのうち試験データを挿
入すべきハイウェイを選択する第1の選択情報、試験デ
ータを抽出すべきハイウェイを選択する第2の選択情報
、および試験データを時分割コネクタ「段に送出し、時
分割コネクタ[段は、通話路試験手段から第1の選択情
報および試験データを受け、第1の選択情報に応したハ
イウェイを選択してこれに試験データを挿入する選択挿
入手段と、通話路試験手段から第2の選択情報を受け、
第2の選択情報に応1したハイウェイを選択し、これよ
り試験データを抽出して通話路試験丁8段に送出する選
択抽出手段とを有する。
(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a communication path testing means for testing a time-division communication path including a plurality of forward highways and bankward highways, and a communication path testing means. Time to connect to 11 minutes - 9 communication path: 1 connector F
Test No. 41 of a time-division communication path with four steps, in which the communication path testing means includes first selection information for selecting a highway into which test data is to be inserted from among a plurality of forward highways and packward highways; second selection information for selecting the highway from which test data is to be extracted, and the test data to the time-sharing connector stage; receiving, selecting and inserting means for selecting a highway corresponding to the first selection information and inserting test data therein; and receiving second selection information from the communication route testing means;
Selecting and extracting means selects a corresponding highway in accordance with the second selection information, extracts test data from the highway, and sends it to the eight communication route test stations.

(作 用) 本発明によれば、時分割通話路の時分割コネクデータの
時分割通話路への挿入は、0′S1の選択情報を通話路
試験F段から受看;し、これに従ってフォワードハイウ
ェイまたはバンクワードハイウェイのいずれか 力を選
択して行なう。また、通++1’l路試験手段への試験
データの抽出は、第2の選択情報を通話路試験手段から
受帖し、これに従ってフォワードハイウェイまたはパン
クワードハイ(実施例) 次に添付図面を参1jlAして本発明による時分割通話
路の試験信号送受鳴1装置の実施例を詳細に説明する。
(Function) According to the present invention, the time-division connection data of the time-division communication path is inserted into the time-division communication path by receiving the selection information of 0'S1 from the communication path test stage F, and forwarding accordingly. Choose either Highway or Bankward Highway. In addition, the test data is extracted to the communication path test means by receiving the second selection information from the communication path test means and selecting forward highway or puncture word high (example) according to the second selection information. 1j1A, an embodiment of a test signal transmitting/receiving device for a time-division communication channel according to the present invention will be described in detail.

第1A図および第1B図を参照すると、本発明の特定の
実施例は、たとえば時分割電話交換システムに有利に適
用され、時分割コネクタ装置TDCおよび通話路試験装
置5PTEからなる0通話路試験装置5PTEには本実
施例では16台の時分割コネクタ装置TDCが収容可能
である。自装置の間は、図示のような信号を伝送するケ
ーブルにて接続されている。
With reference to FIGS. 1A and 1B, a particular embodiment of the present invention is advantageously applied, for example, to a time-sharing telephone switching system and comprises a time-sharing connector device TDC and a channel testing device 5PTE. In this embodiment, 16 time-sharing connector devices TDC can be accommodated in 5PTE. The devices are connected by cables that transmit signals as shown in the figure.

時分割コネクタ装置TDCは、8本の時分割多重フォワ
ードハイウェイFHWO〜FHW7.2重化された時分
割ディジタルスイッチネットワークTDNWOおよびT
DNwI 、ならびに8本の時分割多重バックワードハ
イウェイBHIilO〜BHW7と1通話路試験装置5
PTEとのインタフェースをとる装置である。
The time-division connector device TDC consists of eight time-division multiplex forward highways FHWO to FHW7. Duplexed time-division digital switch networks TDNWO and T
DNwI, and 8 time-division multiplexed backward highways BHIilO to BHW7 and 1 communication path test device 5
This is a device that interfaces with the PTE.

フォワードハイウェイFHWO〜FH17は、時分割交
換系におけるディジタル同期端局装置からの時分割多重
されたハイウェイである0時分割ディジタルスイッチネ
ットワークTDNWQおよびTDNIIIIは、時分1
@・空間分割・時分割通話路(TST)構成の時分割デ
ィジタルスイッチネットワークであり、アクティブ(A
CT)側とスタンバイ(SBY)側に2重化されている
。バックワードハイウェイ811 W O〜B)117
は、ディジタル同期端局装置への時分割多重されたハイ
ウェイである。
Forward highways FHWO to FH17 are time-division multiplexed highways from digital synchronous terminal equipment in a time-division switching system. Time-division digital switch networks TDNWQ and TDNIII are
It is a time-division digital switch network with a space-division and time-division channel (TST) configuration, and an active (A
CT) side and standby (SBY) side. Backward Highway 811 W O ~ B) 117
is the time division multiplexed highway to the digital synchronous terminal equipment.

これらのハイウェイはそれぞれ、本実施例ではlフレー
ムが128のタイムスロットで構成され、lタイムスロ
ットは直列8ビツトで構成されている。したがって1フ
レームは1024ビツトである。
In each of these highways, in this embodiment, an l frame consists of 128 time slots, and an l time slot consists of 8 serial bits. Therefore, one frame has 1024 bits.

時分割コネクタ装置TDCは、受信回路RFCと、送信
回路SNDと、インタフェース回路CDおよびCRと、
ネットワーク選択回路N5ELと、試験上1)挿入回路
INsと、試験ハイウェイ選択回路S[!LOと、試験
モード制御回路CTLとより構成されている。
The time division connector device TDC includes a receiving circuit RFC, a transmitting circuit SND, interface circuits CD and CR,
The network selection circuit N5EL, the test 1) insertion circuit INs, and the test highway selection circuit S[! It consists of a LO and a test mode control circuit CTL.

受信回路REDは、ディジタル同期端局装置からのフォ
ワードハイウェイFowo〜FHW?を受信する回路で
あり、フォワードハイウェイ対応に設けられている。送
信回路SNDは、ディジタル同期端局装置へのバックワ
ードハイウェイBHWO〜BHW7を送信する送信回路
であり、バックワードハイウェイ対応に設けられている
The receiving circuit RED receives the forward highway Fowo~FHW? from the digital synchronous terminal equipment. This is a circuit that receives the information, and is designed to support forward highways. The transmitting circuit SND is a transmitting circuit that transmits the backward highways BHWO to BHW7 to the digital synchronous terminal device, and is provided to support the backward highway.

インタフェース回路CDおよびCRは、ネットワークT
DNWOおよびTDNWI とインタフェースする回路
であり、各スイッチネットワーク対応に設けられている
。ネットワーク選択回路N5ELは、ネットワークTD
NWOまたはTDNWIを選択する選択回路であり、ス
イッチネットワークの組ごとに設けられている。
Interface circuits CD and CR connect to network T
This is a circuit that interfaces with the DNWO and TDNWI, and is provided for each switch network. The network selection circuit N5EL selects the network TD
This is a selection circuit that selects NWO or TDNWI, and is provided for each set of switch networks.

試験信号挿入回路INSは、通話路試験装置5PTEか
らの様々な挿入試験データ信号CIDTを被試験ノ\イ
ウエイに挿入する回路であり、図示のように、アクティ
ブおよびスタンバイ側のフォワードハイウェイと、バッ
クワードハイウェイにそれぞれ設けられている。
The test signal insertion circuit INS is a circuit that inserts various insertion test data signals CIDT from the communication path test equipment 5PTE into the way under test. They are located on each highway.

試験ハイウェイ選択回路5ELOは、通話路試験装置i
 5PTEからの選択信号C1]SE、!l−NO[l
E DECの条件によりフォワードハイウェイ又は、ス
タンバイ側バックワードハイウェイ又は、アクティブ側
バックワードハイウェイのハイウェイのうちから被試験
ハイウェイを選択し、そのハイウェイから抽出試験デー
タ信号CDDTを抽出して通話路試験装置t 5PTH
に出力する回路である。
The test highway selection circuit 5ELO is connected to the communication route test device i.
Selection signal C1 from 5PTE]SE,! l-NO[l
E Select the highway to be tested from among the forward highway, standby side backward highway, or active side backward highway according to the DEC conditions, extract the extracted test data signal CDDT from the selected highway, and use the communication path test device t. 5PTH
This is a circuit that outputs to.

また試験モード制御回路CTLは、試験モードに応じて
被試験ハイウェイとタイミングを選択し、すなわち挿入
試験データ信号CIDTを挿入すべき挿入回路INSを
選択する回路であり、ネットワークデコーダ回路DEC
O1およびモードデコーダMODEDECからなる。ネ
ットワークデコーダ回路DECOは、通話路試験装置i
 5PTEからの試験信号挿入回路選択信号Cl5Eに
応じて挿入試験データ信号CIDTを挿入すべき挿入回
路INSを選択し、これとともにタイミング指定信号C
IENでその挿入タイミングを指定することによって、
試験信号を挿入するハイウェイを選択する回路である。
The test mode control circuit CTL is a circuit that selects the highway under test and timing according to the test mode, that is, selects the insertion circuit INS into which the insertion test data signal CIDT is to be inserted, and the network decoder circuit DEC
It consists of O1 and a mode decoder MODEDEC. The network decoder circuit DECO is the communication path test equipment i
The insertion circuit INS to which the insertion test data signal CIDT is to be inserted is selected in accordance with the test signal insertion circuit selection signal Cl5E from 5PTE, and the timing designation signal C15E is selected.
By specifying the insertion timing with IEN,
This circuit selects the highway into which the test signal is inserted.

モードデコーダにODE DECは、通話路試験装置5
PTEからの試験モードを指定するモード指定信号1l
lO口Eに応じて試験モードを選択し、試験信号挿入回
路INSのうちのいずれかを選択することによって、ハ
イウェイを切り換える回路である。
The ODE DEC is the mode decoder, and the communication path test equipment 5
Mode designation signal 1l that designates the test mode from PTE
This circuit switches the highway by selecting a test mode according to the lO port E and selecting one of the test signal insertion circuits INS.

−・方、通話路試験装置5PTEは、時分割通話路の多
重化されたハイウェイの任意のタイムスロットにアクセ
スして時分割コネクタ装置丁DCから信号を挿入および
抽出を行ない、これによって通話路系の各種装置の障害
の再現や、障害復旧後の確認などを行なう機能を有する
。これは、本実施例では最大16台の時分割コネクタ装
M TDCと保守装置とのインタフェースをとり、保守
系装置インタフェース回路INFと、試験モード展開回
路CTL FFと、コモンハイウェイディジタルインタ
フェース装置1cDIEと、保守スイッチMSWと、試
験信号挿入TDC選択回路口EC1より構成される。
- On the other hand, the communication path testing device 5PTE accesses any time slot of the multiplexed highway of the time-division communication path, inserts and extracts signals from the time-division connector device DC, and thereby It has functions such as reproducing failures of various devices and checking after failure recovery. In this embodiment, this interfaces a maximum of 16 time-sharing connector devices MTDC and maintenance equipment, and includes a maintenance equipment interface circuit INF, a test mode deployment circuit CTL FF, a common highway digital interface equipment 1cDIE, It consists of a maintenance switch MSW and a test signal insertion TDC selection circuit port EC1.

保守系装置インタフェース回路INFは、本装置が適用
される時分割電話交換システ1、の保守系装置2 置との間で、たとえば中央処理系からのバスを通してイ
ンタフェースする回路であり、試験を実行する時分割コ
ネクタ装置i TDCの番号、ハイウェイ番号、タイム
スロット番号および試験モードなどの試験情報を本シス
テムの中央制御系からデータワードの形で受信する。
The maintenance equipment interface circuit INF is a circuit that interfaces with the maintenance equipment 2 of the time division telephone exchange system 1 to which this equipment is applied, for example, through a bus from the central processing system, and is used to perform tests. Time division connector device i receives test information such as TDC number, highway number, time slot number and test mode from the central control system of the system in the form of data words.

保守スイッチMSWは、挿入試験データ信号C1口丁を
含む試験情報をやはり本システムの中央制御系からデー
タワードの形で受信し、また、コモンハイウェイディジ
タルインタフェース装置1cDIEからは抽出試験デー
タ信号を含む試験結果の情報を中央制御系へデータワー
ドの形で送信するスイッチ回路である。
The maintenance switch MSW also receives test information in the form of data words from the central control system of the system, including an inserted test data signal C1, and also receives test information including an extracted test data signal from the common highway digital interface device 1cDIE. It is a switch circuit that sends the resulting information to the central control system in the form of data words.

試験モード展開回路CTL FFは、これら受信した試
験情報がセットされるフリップフロップ群からなり、信
号CD5E、 Cl5E、 MODEなどを含む様々な
試験情報を展開して、被試験ハイウェイが収容された時
分割コネクタ装71 TDCに制御信号を分配し。
The test mode development circuit CTL FF consists of a group of flip-flops to which the received test information is set, and develops various test information including signals CD5E, Cl5E, MODE, etc., to time-sharing the highway under test. Connector unit 71 Distributes control signals to TDC.

その各部を制御する回路である。This is a circuit that controls each part.

コモンハイウェイディジタルインタフェース装置CDI
Fは、被試験峙分割コネクタ装W1選択回路SEL 1
とディジタルインタフェース回路量とからなる0選択回
路SEL lは、最大16台の時分割コネクタ装置TD
Cのうちから被試験時分割コネクタ装置を選択し、任7
aのタイトスロットにおける抽出試験データ信号CDI
)Tを抽出して保守スイッチNSWを通してインタフェ
ース回路INFに出力する選択回路である。また、挿入
試験データ信号CIDTは、保守スイッチXSWからデ
ィジタルインタフェース回路量を通して挿入回路INS
に送IHされる。
Common Highway Digital Interface Device CDI
F is the divided connector unit under test W1 selection circuit SEL 1
The 0 selection circuit SEL1, which consists of
Select the time-sharing connector device to be tested from C.
Extraction test data signal CDI in tight slot of a
) is a selection circuit that extracts T and outputs it to the interface circuit INF through the maintenance switch NSW. In addition, the insertion test data signal CIDT is sent from the maintenance switch XSW to the insertion circuit INS through the digital interface circuit.
It will be sent to IH.

ディジタルインタフェース回路DIは、保守スイッチM
SIdとの間で、時分割コネクタ装置TDCへの挿入試
験データ信号CIIIT、およびそれからの抽出試験デ
ータ信号CDDTの送受を試験モード展開回路CTL 
FFのセット状態に応して切り換える切換え回路である
。すなわち1時分割ハイウェイへの挿入試験データ信号
CIDTは、保守スイッチMS−から時分割コネクタ装
置TDCへ、また時分割ハイウェイからの抽出試験デー
タ信号crlD丁は、時分割コネクタ装置’l TDC
から保守スイッチにSWへ、それぞれディジタルインタ
フェース回路量によって切り分けられる。
Digital interface circuit DI is maintenance switch M
The test mode expansion circuit CTL transmits and receives the insertion test data signal CIIIT to the time-sharing connector device TDC and the extraction test data signal CDDT from the time-sharing connector device TDC to and from the SId.
This is a switching circuit that switches according to the set state of the FF. That is, the insertion test data signal CIDT to the time division highway is sent from the maintenance switch MS- to the time division connector device TDC, and the extraction test data signal crlD from the time division highway is sent to the time division connector device TDC.
From maintenance switches to SWs, each is divided according to the amount of digital interface circuitry.

試験信号挿入TDC選択回路DECIは、岐人16台の
時分割コネクタ装fl’t TDCのうちから被試験時
分割コネクタ装置を選択する選択回路である。この選択
は、試験モード展開回路CTL FFにセットされた時
分割コネクタ番号によって行なわれる。
The test signal insertion TDC selection circuit DECI is a selection circuit that selects a time division connector device to be tested from among the 16 time division connector devices fl't TDCs. This selection is made by the time division connector number set in the test mode expansion circuit CTL FF.

本装置における試験モードには次の4114類、すなわ
ち?密状態(モードO)、オフライン試験モート、オン
ライン試験モードおよび出合試験モードがある。
The test mode in this device includes the following 4114 types, namely ? There are closed state (mode O), offline test mode, online test mode and encounter test mode.

まず平常状態は、通話路系装置が通常運転中でア4J、
コモンハイウェイディジタルインタフェース装置cDI
Eによる被試験回線の引込み操作を行なわない状態であ
る。
First of all, under normal conditions, the communication line equipment is in normal operation and A4J,
Common Highway Digital Interface Device cDI
This is a state in which E does not pull in the line under test.

オフライン試験モードでは、Y−愉または障害状態にあ
る通話路系装置の試験モードであり、通話踏量共通制御
装置からスタンバ((SBY)側スイッチネットワーク
↑DN−の指示と、このモードとを指定することによっ
て、現運転状態における予備系通話路のハイウェイから
1タイツ、スロットを引き込み、フォワードハイウェイ
FHWでフォワード挿入試験データ信号FID↑を挿入
し、パックワードハイウェイ81(Wでそれによるバッ
クワード抽出試験データ信I BDDTを抽出する。な
おこの場合、フォワードハイウェイFHWのフォワード
抽出試験データ信号FDDTの抽出、およびへツクワー
ドハイウェイBMWのパックワード挿入試験データ信号
旧DTの挿入は行なわない。
The offline test mode is a test mode for the communication line equipment in the Y-Y or failure state, and the standby ((SBY) side switch network ↑DN- instruction and this mode are specified from the communication control common control device. By doing this, one tight slot is drawn in from the highway of the standby communication path in the current operating state, the forward insertion test data signal FID↑ is inserted at the forward highway FHW, and the backward extraction test is performed using the packword highway 81 (W). The data signal I BDDT is extracted.In this case, the forward extraction test data signal FDDT of the forward highway FHW is not extracted, and the packed word insertion test data signal old DT of the backward highway BMW is not inserted.

オンライン試験モードはアクティブ(ACT)系ネット
ワークの試験モードであり、モード(りおよび(2)が
ある、これらのモードでは、任意の1タイムスロツトに
ついてフォワードハイウェイFHW伝送側から信号FD
DTを抽出し、パックワードハイウェイBHWに信号B
IIITを挿入することができる。また、フォワードハ
イウェイFHWで交換機側への41号挿入を行ない、ネ
ットワーク7口Nwを経由させてパックワードハイウェ
イBHWで交換機側から抽出することが↑きる。
The online test mode is an active (ACT) network test mode, and there are modes (2) and (2).In these modes, the signal FD from the forward highway FHW transmission side is
Extract DT and signal B to Packward Highway BHW
IIIT can be inserted. In addition, No. 41 is inserted into the exchange side at the forward highway FHW, and it can be extracted from the exchange side at the packward highway BHW via the network 7 port Nw.

出合試験モードは、回線開通の出合試験に適用5れるモ
ードであり、被試験タイムスロットおよび打合せ用タイ
ムスロットの2JI類のタイムスロットを引き込むこと
ができる。このモードでは、フォワードハイウェイF)
1wで伝送側からの信号FDDTの抽出、およびパック
ワードハイウェイBHWで伝送路側への信号BIDTの
挿入が0■能である。なおフォワードハイウェイFHW
での交換機側への信号FIDTの挿入、およびパックワ
ードハイウェイBHWでの信号BDDTの抽IHは1本
実施例では行なわない。
The meeting test mode is a mode that is applied to the meeting test for line opening, and can draw in 2JI type time slots, which are the time slots under test and the time slots for meetings. In this mode, forward highway F)
It is possible to extract the signal FDDT from the transmission side with 1w and insert the signal BIDT into the transmission line side with the packed word highway BHW. Furthermore, Forward Highway FHW
Insertion of the signal FIDT into the exchange side at , and extraction IH of the signal BDDT at the packed word highway BHW are not performed in this embodiment.

時分割通話路の試験を行なう際、通話路試験装置5PT
Hには、試験を実行する時分割コネクタ装置TDCの番
号、ハイウェイ番号、タイムスロット番号および試験モ
ードなどの試験情報を示す制御信号が保守装置から送ら
れ、これはインタフェース回路INFを通して試験モー
ド展開回路CTL FFにセットされる。そこで試験モ
ード展開回路CTL FFかも被試験ハイウェイが収容
されている時分割コネクタ装置TDCに、試験に心安な
制御信号が送出され、時分割通話路の試験が行なわれる
When testing a time division communication path, the communication path test device 5PT
A control signal indicating test information such as the number, highway number, time slot number and test mode of the time-sharing connector device TDC that executes the test is sent to H from the maintenance device, and this is transmitted to the test mode deployment circuit through the interface circuit INF. Set to CTL FF. Therefore, a test-safe control signal is sent to the time division connector device TDC in which the test mode development circuit CTL FF accommodates the highway under test, and the time division communication path is tested.

そこでまず、試験モード信号MODEが試験モード展開
制御回路CTL FFから時分割コネクタ装置1’l 
Tl)Cの試験モード制御回路CTLのモードブコータ
MODE DECに送IHされ、モードデコータ’14
0口E DECにて復号される。この復号結果によりハ
イウェイの切換え制御が行なわれる。また、通話路試験
装置5PTEの試験モード展開回路CTL FFから被
試験時分割コネクタ装置TDCの番号が試験信号挿入T
DC選択回路DEC1にセットされ、被試験時分割コネ
クタ装置l TlICが選択される。
Therefore, first, the test mode signal MODE is transmitted from the test mode development control circuit CTL FF to the time division connector device 1'l.
It is sent to the mode decoder MODE DEC of the test mode control circuit CTL of Tl)C, and is sent to the mode decoder '14.
Decoded by 0-bit E DEC. Highway switching control is performed based on this decoding result. Also, the number of the time division connector device TDC under test is changed from the test mode development circuit CTL FF of the communication path test device 5PTE to the test signal insertion T
It is set in the DC selection circuit DEC1, and the time division connector device under test lTIIC is selected.

次に時分割コネクタ装置TUGに対する試験信号の挿入
および抽出の動作について説明する。挿入する試験デー
タ信号C1口丁は、保守装置からインタフェース回路I
NFを通して保守スイッチMSWにセットされる。挿入
試験データ信号CIDTを挿入するために、試験モード
展開回路CTL FFからの選択信号CD5Hによって
ディジタルインタフェース回路DIが試験データ信号挿
入状態にり1り換えられる。
Next, the operation of inserting and extracting test signals into and from the time-sharing connector device TUG will be explained. The test data signal C1 to be inserted is connected from the maintenance device to the interface circuit I.
It is set to the maintenance switch MSW through NF. In order to insert the insertion test data signal CIDT, the digital interface circuit DI is switched to the test data signal insertion state by the selection signal CD5H from the test mode expansion circuit CTL FF.

なお、挿入試験データ信号CIDTは後述のように、フ
ォワード挿入試験データ信号FID↑、およびバックワ
ード挿入試験データ信号BIDTからなる。
Note that, as described later, the insertion test data signal CIDT consists of a forward insertion test data signal FID↑ and a backward insertion test data signal BIDT.

また試験モード展開回路CTL FFにセットされたハ
イウェイ番号に応じた挿入ハイウェイ選択信号Cl5E
が時分割コネクタ装置1T口Cのネットワークデコーダ
回路DECOに転送され、試験信号挿入回路INSが選
択される。また、試験モード展開回路CTL FFにセ
ットされたタイムスロット番号に応じたタイミングで、
被試験TDC番号に従って試験信号挿入TDG選択回路
DEC1で展開された時分割コネクタ装置TrJCのネ
ットワークデコーダ回路口ECOに信号CIENが出力
される。これによってネットワークデコーダ回路DEC
:0が付勢され、挿入試験データ信号CIDTを挿入す
べき挿入回路INS、すなわち被試験時分割ハイウェイ
が選択される。
In addition, the insertion highway selection signal Cl5E corresponds to the highway number set in the test mode development circuit CTL FF.
is transferred to the network decoder circuit DECO of the time division connector device 1T port C, and the test signal insertion circuit INS is selected. Also, at the timing according to the time slot number set in the test mode expansion circuit CTL FF,
A signal CIEN is outputted to the network decoder circuit port ECO of the time division connector device TrJC developed by the test signal insertion TDG selection circuit DEC1 according to the TDC number to be tested. This allows the network decoder circuit DEC
:0 is activated, and the insertion circuit INS into which the insertion test data signal CIDT is to be inserted, that is, the time-division highway under test, is selected.

これとともに、抽出試験データ信号CDDTの抽出のた
め、試験モード展開回路CTL FFは、同じTDC番
号に対応する選択信号CD5Eを試験ハイウェイ選択回
路5ELOに送り、抽出試験データ信号CDDTを抽出
すべきハイウェイを選択する。また、抽…試験データ信
号CDD丁を抽出するために、試験モード展開回路CT
L FFからの選択信号CD5Eによってディジタルイ
ンタフェース回路旧が試験データ信号抽出状態に切り換
えられる。これによって抽出試験データ信号CDDTが
被試験ハイウェイ選択回路5ELOおよび被試験TDC
選択回路SEL 1にて抽出され、ディジタルインタフ
ェース回路DIを通して保守スイッチNSWにセットさ
れる。これは後に、インタフェース回路INFを通して
中央処理系に読み込まれる。
At the same time, in order to extract the extracted test data signal CDDT, the test mode expansion circuit CTL FF sends the selection signal CD5E corresponding to the same TDC number to the test highway selection circuit 5ELO, and selects the highway from which the extracted test data signal CDDT is to be extracted. select. In addition, in order to extract the test data signal CDD, the test mode development circuit CT
The selection signal CD5E from the LFF switches the digital interface circuit OLD to the test data signal extraction state. As a result, the extracted test data signal CDDT is transferred to the highway under test selection circuit 5ELO and the under test TDC.
It is extracted by the selection circuit SEL1 and set to the maintenance switch NSW through the digital interface circuit DI. This is later read into the central processing system through the interface circuit INF.

なお、抽出試験データ信号CDDTは後述のように、フ
ォワード抽111試験データ信号FDDT、およびバッ
クワード抽出試験データ信号験データ信からなる。
Note that the extracted test data signal CDDT is composed of a forward extracted test data signal FDDT and a backward extracted test data signal as described later.

これらのフォワード抽出試験データ信号FDDTおよび
バックワード抽出試験データ信号BDDTは、フォワー
ド挿入試験データ信号FIDTおよびバックワード挿入
試験データ信号BI[lTも含めて、コモンハイウェイ
ディジタルインフェース装PtcDIRと時分割コネク
タ装@ TWIGの間で送受信される。
These forward extraction test data signal FDDT and backward extraction test data signal BDDT, including the forward insertion test data signal FIDT and the backward insertion test data signal BI[IT, are connected to the common highway digital interface device PtcDIR and the time division connector device. Transmitted and received between @TWIG.

たとえばオフラインモードが指定されると。For example, if offline mode is specified.

フォワード挿入試験データ信号FIDTを挿入するため
、スタンバイ側の挿入回路INSが選択される。
In order to insert the forward insertion test data signal FIDT, the standby side insertion circuit INS is selected.

また、スタンバイ側のバックワード抽出試験データ信号
B口DTを抽出するため、試験ハイウェイ選択回路5E
LOは、フォワード抽出試験データ信号FDOfと、ス
タンバイ側のバックワード抽出試験データ信号BOOT
およびアクティブ側のバックワード抽出試験データ信号
BDDTのうちスタンバイ側のバックワード抽出試験デ
ータ信号BDDTを選択する。
In addition, in order to extract the backward extraction test data signal B port DT on the standby side, the test highway selection circuit 5E
LO is a forward extraction test data signal FDOf and a backward extraction test data signal BOOT on the standby side.
And the standby side backward extraction test data signal BDDT is selected from among the active side backward extraction test data signal BDDT.

オンラインモード(1)が指定されると、フォワード挿
入試験データ信号FIDTの挿入のため、スタンバイ側
およびアクティブ側の挿入回路INSが選択される。こ
れとともに、アクティブ側のバックワード抽出試験デー
タ信号BDDTを抽出するため、試験ハイウェイ選択回
路5ELOは、アクティブ側のバックワード抽出試験デ
ータ信号BOOTを選択する。
When online mode (1) is designated, the standby side and active side insertion circuits INS are selected for insertion of the forward insertion test data signal FIDT. At the same time, in order to extract the backward extraction test data signal BDDT on the active side, the test highway selection circuit 5ELO selects the backward extraction test data signal BOOT on the active side.

オンラインモード(2)が指定されると、試験ハイウェ
イ選択回路5ELOは、フォワード抽出試験データ信1
5FDDTの抽出のため、フォワード抽出試験データ信
号FロロTを選択するとともに、パックワード挿入試験
データ信号旧DTを挿入するため、バックワード挿入回
路INSが選択される。
When the online mode (2) is designated, the test highway selection circuit 5ELO selects the forward extraction test data signal 1.
In order to extract 5FDDT, the forward extraction test data signal FRoroT is selected, and in order to insert the packed word insertion test data signal old DT, the backward insertion circuit INS is selected.

出合試験モードが指定されると、オンラインモード指定
(2)と同じハイウェイの!+lJ換えがモートチコー
タMODE DECにより行なわれる。
When the encounter test mode is specified, the same highway as the online mode specification (2)! +lJ change is performed by the motor chicotor MODE DEC.

フォワード抽1t+試験データ信号FDDTの抽出は次
のようにして行なわれる。試験モード展開回路CTL 
FFにTDCJ号およびハイウェイ番号がセット5れ、
これからのドロップハイウェイ選択信号CD5Eにより
時分割コネクタ装置 TDCおよびハイウェイが選択さ
れる。選択された時分割コネクタ装置TDCの試験ハイ
ウェイ選択回路5ELOで、信号CD5Eとモートチコ
ータMODE DECにおける復号結果との論理積がと
られる。これにより、フォワード抽出試験データ信1)
FDDTの抽出ための1つのフォワードハイウェイFH
Wが選択される。これとともに、通話路試験装2!1S
PTEの被試験TDC選択回路SEL Iで被試験時分
割コネクタ装置IITDCが選択5れ、これはディジタ
ルインタフェース回路旧を通バックワード抽出試験デー
タ信号6口DTの抽出は同様にして次のように行なわれ
る。試験モード展開回路CTL FFにTDC4号およ
びハイウェイ番t)がセットされ、これからのドロップ
ハイウェイ選択信号CD5Hにより時分割コネクタ装f
i TDCおよびハイウェイが選択される0選択された
時分割コネクタ装置TDCの試験ハイウェイ選択回路5
ELOで、信号CD5EとモードデコーダMODE D
ECにおける復号結果との論理績がとられる。これによ
り、バックワード抽出試験データ信号BDDTの抽出た
めの1つのバックワードハイウェイBHIIIが選択さ
れる。これとともに、通話路試験装置5PTHの被試験
TDC選択回路5ELIで被試験時分割コネクタ装′I
!1TDCが選択され、これはディジタルインタフェー
ス回路DIを通して保守スイッチMSWに収容される。
The forward extraction 1t+test data signal FDDT is extracted as follows. Test mode deployment circuit CTL
TDCJ number and highway number are set to FF,
The time division connector device TDC and the highway are selected by the upcoming drop highway selection signal CD5E. In the test highway selection circuit 5ELO of the selected time-sharing connector device TDC, the signal CD5E is ANDed with the decoding result in the mote coder MODE DEC. This allows forward extraction test data transmission1)
One forward highway FH for extraction of FDDT
W is selected. Along with this, the communication path test equipment 2!1S
The time-sharing connector device IITDC to be tested is selected by the TDC selection circuit SEL I of the PTE, which is backward extracted through the digital interface circuit.Extraction of the six test data signals DT is performed in the same manner as follows. It will be done. TDC4 and highway number t) are set in the test mode expansion circuit CTL FF, and the time division connector f is set by the drop highway selection signal CD5H from now on.
i TDC and highway selected 0 selected time sharing connector device TDC test highway selection circuit 5
At ELO, signal CD5E and mode decoder MODE D
A logical score is taken with the decoding result in the EC. As a result, one backward highway BHIII is selected for extracting the backward extraction test data signal BDDT. At the same time, the TDC selection circuit under test 5ELI of the communication path test device 5PTH
! 1TDC is selected and is accommodated in the maintenance switch MSW through the digital interface circuit DI.

フォワード挿入試験データ信号FIDTの挿入は次のよ
うにして行なわれる。試験モード展開回路CTL FF
にTDC番号およびハイウェイ番号がセットされ、これ
からのインサートハイウェイ選択信号Cl5Eにより時
分割コネクタ装置1 TDCおよびハイウエイが選択さ
れる。これとともに、インサートイネーブル信号CIE
Hにより挿入タイムスロットが指定される。フォワード
挿入試験データ信号FIDTは、保守スイッチMSWか
らディジタルインタフェース回路旧な通して各時分割コ
ネクタ装置TDCの挿入回路INSに入力される。これ
は、試験モード条件とネットワークデコーダDECOか
らの挿入イネーブル信号との論理積条件によりフォワー
ドハイウェイFHWに挿入される。
Insertion of the forward insertion test data signal FIDT is performed as follows. Test mode deployment circuit CTL FF
The TDC number and highway number are set in , and the TDC and highway of the time division connector device 1 are selected by the insert highway selection signal Cl5E from now on. Along with this, insert enable signal CIE
H specifies the insertion time slot. The forward insertion test data signal FIDT is inputted from the maintenance switch MSW through the digital interface circuit to the insertion circuit INS of each time division connector device TDC. It is inserted into the forward highway FHW by the AND condition of the test mode condition and the insertion enable signal from the network decoder DECO.

ネットワークデコータ回路DECOから送出される挿入
イネーブル信号は、試験モード展開回路CTLFFから
のハイウェイ#1)により挿入ハイウェイが指定され、
かつ試験上()挿入TDC選択回路DEC1から信号C
IENが出力されるという論理積条件で送出される。試
験信号挿入TDC選択回路DEC1は、試験モード展開
回路CTL FFよりTDC#に+とタイムスロット番
号を受け、被試験時分割コネクタ装置TDCに、指定さ
れたタイムスロットの時間位置で信号CIENを送出す
る。
The insertion enable signal sent from the network decoder circuit DECO is designated as the insertion highway by the highway #1) from the test mode development circuit CTLFF.
And on test () insert signal C from TDC selection circuit DEC1
It is sent under the logical AND condition that IEN is output. The test signal insertion TDC selection circuit DEC1 receives + and the time slot number in TDC# from the test mode expansion circuit CTL FF, and sends the signal CIEN to the time division connector device under test TDC at the time position of the designated time slot. .

バックワード挿入試験データ信号BIDTの挿入は、試
験モード展開回路CTL FFに〒DO番号およびハイ
ウェイ番号がセットされ、これからのインサートハイウ
ェイ選択信号Cl5Hにより時分割コネクタ装@ TD
Cおよびハイウェイが選択される。これとともに、イン
サートイネーブル信号CIEHにより挿入タイムスロッ
トが指定される。以降の制御動作は、前述のフォワード
挿入試験データ信号BID丁の挿入動作と同様である。
To insert the backward insertion test data signal BIDT, the DO number and highway number are set in the test mode development circuit CTL FF, and the time division connector installation @ TD is performed by the future insert highway selection signal Cl5H.
C and Highway are selected. At the same time, an insertion time slot is designated by the insert enable signal CIEH. The subsequent control operation is similar to the insertion operation of the forward insertion test data signal BID described above.

ところで、比較のために第2A図および第2B図に従来
技術による試験信号送受信装置の例を示す。
Incidentally, for comparison, FIGS. 2A and 2B show an example of a test signal transmitting/receiving device according to the prior art.

これかられかるように、時分割コネクタ装置丁DCおよ
び通話路試験装置5PTEは、フォワードハイウェイF
HMに挿入試験データ信号F EDTを挿入し、またこ
れから抽出試験データ信号FDDTを抽出する部分と、
バックワードハイウェイB)Iwに挿入試験データ信号
BID↑を挿入し、またこれから抽出試験データ信号B
D[]丁を抽出する部分とにわかれている。これらの部
分は同図では、第1A図および第1B図に示されている
対応する要素の参照符号に、フォワード側は参照符号”
F”が、またバックワード側は同“B”がそれぞれ付加
されて示されている。それら以外の部分は、前述の本発
明の実施例の対応する部分と実質的に同じように構成さ
れている。
As you will see, the time-sharing connector device 5PTE and the forward highway F
a part for inserting the inserted test data signal FEDT into the HM and extracting the extracted test data signal FDDT from the inserted test data signal FDDT;
Backward highway B) Insert the insertion test data signal BID↑ into Iw, and extract the test data signal B from this
It is divided into a part for extracting D[]d. These parts are designated in this figure by the reference numerals of the corresponding elements shown in FIGS. 1A and 1B, and on the forward side by the reference numerals "".
"F" and "B" are added on the backward side.The other parts are configured substantially the same as the corresponding parts of the embodiment of the present invention described above. There is.

たとえば、アクティブ側フォワードハイウェイへの挿入
試験データ信号FIDTの挿入は、フォワードハイウェ
イディジタルインタフェース装置FDIE、フォワード
試験信号挿入TDC選択回路FDECI、フォワードネ
ットワークデコーダ回路FDECOおよびモードデコー
ダに0[IE DECを使用して保守スイッチXSWお
よび試験モード展開回路CTLFFから行なわれる。同
様に、アクティブ側フォワードハイウェイからの抽出試
験データ信号FDDTの抽出は、フォワードハイウェイ
ディジタルインタフェース装置FIIIE、フォワード
試験ハイウェイ選択回路FSELOおよびモードデコー
ダN0口E DECを使用して保守スイッチMSwおよ
び試験モード展開回路CTL FFから行なわれる。
For example, insertion of the insertion test data signal FIDT into the active side forward highway is performed using 0 [IE DEC in the forward highway digital interface device FDIE, the forward test signal insertion TDC selection circuit FDECI, the forward network decoder circuit FDECO, and the mode decoder. This is done from the maintenance switch XSW and the test mode deployment circuit CTLFF. Similarly, the extraction test data signal FDDT from the active side forward highway is extracted using the forward highway digital interface device FIIIE, the forward test highway selection circuit FSELO, and the mode decoder N0 E DEC to the maintenance switch MSw and the test mode deployment circuit. This is done from CTL FF.

またバックワードハイウェイにおける挿入試験データ信
号BIDTの挿入および抽出試験データ信号BDDTの
抽出は、バックワードハイウェイディジタルインタフェ
ース装2!B口IE、バックワード試験信号挿入TDC
選択回路BDECI、バックワードネットワークデコー
ダ回路BDEGO、バックワード試験ハイウェイ選択回
路BSELOおよびモードデコーダMODEDECを使
用して保守スイッチMSwおよび試験モード展開回路C
丁L FFから行なわれる。
Insertion of the insertion test data signal BIDT and extraction of the extraction test data signal BDDT on the backward highway are performed by the backward highway digital interface device 2! B-port IE, backward test signal insertion TDC
Maintenance switch MSw and test mode deployment circuit C using selection circuit BDECI, backward network decoder circuit BDEGO, backward test highway selection circuit BSELO and mode decoder MODEDEC
Performed from Ding L FF.

この構成によって前述の4つのモードをとり、それぞれ
の通話路試験を行なうことができる。しかし、これらの
試験モードのすべてについてこれらの回路要素が常に関
係しているのではなく、通常は、フォワード側およびバ
ックワード側の要素の一部が関連しているにすぎない、
したがって、装置の機能のわりには、装置構成が複雑で
回路要素が多く、また装置間の信号送受信のための布設
ケーブルの量が多く、したがって装置のスペースを多く
とり、コンパクトな装置を実現できなかった。
With this configuration, it is possible to take the four modes described above and perform communication path tests for each mode. However, these circuit elements are not always involved for all of these test modes, typically only some of the forward and backward side elements are involved.
Therefore, compared to the functionality of the device, the device configuration is complex, has many circuit elements, and requires a large amount of laying cables for signal transmission and reception between devices, thus taking up a large amount of space and making it impossible to realize a compact device. Ta.

しかし前述のように本発明の実施例によれば、時分割通
話路の試験信号の時分割コネクタ装置TDCから通話路
試験装!t SP丁Eへの抽出は、フォワードハイウェ
イまたはバックワードハイウェイのいずれか一方を選択
して行なっている。また時分割コネクタ装置TUGから
時分割通話路への試験信号の挿入は、通話路試験装J(
5PTEから受信した試験信号をフォワードハイウェイ
またはバックワードハイウェイのいずれか一方を選択し
て行なっている。
However, as described above, according to the embodiment of the present invention, the time-division channel test signal is transmitted from the time-division connector device TDC to the channel test device! Extraction to tSP-E is performed by selecting either the forward highway or the backward highway. In addition, the insertion of the test signal from the time division connector device TUG to the time division communication path is performed by the communication path test equipment J (
The test signal received from the 5PTE is tested by selecting either the forward highway or the backward highway.

したがって次のような効果が期待できる。まず、時分割
コネクタ装置↑DCの試験データ送受信に関係する回路
が簡素化される。これとともに、信号の送受信のための
ケーブル最が減少し、したがってその布設スペースも少
なくてよい、また。
Therefore, the following effects can be expected. First, the circuits related to the transmission and reception of test data of the time-sharing connector device ↑DC are simplified. At the same time, the number of cables for transmitting and receiving signals is reduced, and therefore less space is required for their installation.

通話路試験装置5PTHの信号送受信回路およびディジ
タルインタフェース回路の構成が簡素化される。これら
の理由により、装置全体がコンパクトに構成される。
The configurations of the signal transmitting/receiving circuit and the digital interface circuit of the communication path testing device 5PTH are simplified. For these reasons, the entire device is constructed compactly.

(発明の効果) このように本発明によれば、時分割通話路の試験信壮の
抽出は、フォワードハイウェイまたはパックワードハイ
ウェイのいずれか・力を選択して行ない、また時分割通
話路への試験上1;の挿入は、フォワードハイウェイま
たはバックワードハイウェイのいずれか・力を選択して
行なっている。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, the test credibility of the time-division communication path is extracted by selecting either the forward highway or the packward highway, and the test integrity of the time-division communication path is selected. Test 1; was inserted by selecting either forward highway or backward highway force.

したがって、時分割コネクタ装置の試験データ送受信に
関係する回路が簡素化され、信号の送受信のためのケー
ブルVが減少し、したがってそれらのスペースも少なく
てよい、また、通話路試験装置の信号送受信回路やディ
ジタルインタフェース回路の構成も簡素化され、装置全
体がコンパクトに構成される。
Therefore, the circuits related to the test data transmission and reception of the time-sharing connector device are simplified, the cables V for signal transmission and reception are reduced, and therefore the space required for them is also reduced. The configuration of the digital interface circuit and digital interface circuit are also simplified, and the entire device is configured compactly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は第1A図および第1B図の配置を示す図、 第1A図および第18図は、本発明による時分割通話路
の試験信号送受信装置を詩分割電話交換システムに適用
した特定の実施例を示す方式構成図、 第2図は第2A図および第2B図の配置を示す図、 第2A図および第2B図は、従来技術による時分割通話
路の試験信号送受信装置の構成例を示す方式構成図であ
る。 −L11部−分の符号の説明 CDIE、 、 、コモンハイウェイディジタルインタ
フェース装置 CTL、、、、試験モード制御回路 CTL FF、 、試験モート展開回路ロEGG、、、
ネットワークデコータ回路DEC1、 、 、試験信号
挿入↑oc 1択回路旧909.ディジタルインタフェ
ース回路INF、、、、保守系装置インタフェース回路
INS、、 、 、試験信号挿入回路 MODE DEC,モートデコーダ MSW、、 、 、保守スイッチ N5EL、 、 、ネットワーク選択回路SELO,、
、試験ハイウェイ選択回路5EL1. 、 、被試験T
a1c選択回路5PTE、 、 、通話路試験装置 TDC,、、、時分割コネクタ装置 特許出願人 沖電気り業株式会社 代 理 人 沓取 1雄 犬山 隆夫
FIG. 1 is a diagram showing the arrangement of FIGS. 1A and 1B, and FIGS. 1A and 18 are diagrams showing a specific implementation in which the test signal transmitting/receiving device for a time division communication path according to the present invention is applied to a division telephone switching system. FIG. 2 is a diagram showing the arrangement of FIGS. 2A and 2B; FIG. 2A and 2B are diagrams showing an example of the configuration of a test signal transmitting/receiving device for a time-division channel according to the prior art. It is a system block diagram. Explanation of codes for the -L11 part CDIE, , , Common highway digital interface device CTL, , Test mode control circuit CTL FF, , Test mote deployment circuit RoEGG, , ,
Network decoder circuit DEC1, , test signal insertion ↑oc 1 selection circuit old 909. Digital interface circuit INF, , , Maintenance equipment interface circuit INS, , , Test signal insertion circuit MODE DEC, Mote decoder MSW, , , Maintenance switch N5EL, , Network selection circuit SELO, ,
, test highway selection circuit 5EL1. , , Tested T
a1c selection circuit 5PTE, , , communication path test device TDC, ..., time division connector device patent applicant Oki Electric Rigyo Co., Ltd. Agent Kutsutori 1 Takao Oinuyama

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、複数のフォワードハイウェイおよびバックワードハ
イウェイを含む時分割通話路を試験する通話路試験手段
と、 該通話路試験手段を時分割通話路に接続する時分割コネ
クタ手段とを有する時分割通話路の試験信号送受信装置
において、 前記通話路試験手段は、前記複数のフォワードハイウェ
イおよびバックワードハイウェイのうち試験データを挿
入すべきハイウェイを選択する第1の選択情報、試験デ
ータを抽出すべきハイウェイを選択する第2の選択情報
、および試験データを前記時分割コネクタ手段に送出し
、 該時分割コネクタ手段は、 前記通話路試験手段から第1の選択情報および試験デー
タを受け、第1の選択情報に応じたハイウェイを選択し
てこれに該試験データを挿入する選択挿入手段と、 前記通話路試験手段から第2の選択情報を受け、第2の
選択情報に応じたハイウェイを選択し、これより試験デ
ータを抽出して該通話路試験手段に送出する選択抽出手
段とを有することを特徴とする時分割通話路の試験信号
送受信装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記通
話路試験手段には、前記時分割コネクタ手段が複数接続
され、 該通話路試験手段は、該複数の時分割コネクタ手段を選
択する選択手段を有し、 該選択手段は、該選択された時分割コネクタ手段に含ま
れる前記選択挿入手段に第1の選択情報を送出し、該選
択された時分割コネクタ手段に含まれる前記選択抽出手
段に第2の選択情報を送出してこれから試験データを受
けることを特徴とする試験信号送受信装置。 3、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記時
分割通話路は、2重化された時分割スイッチネットワー
クを含み、 前記選択挿入手段は、該2重化された時分割スイッチネ
ットワークの0系のフォワードハイウェイ、1系のフォ
ワードハイウェイ又はバックワードハイウェイいずれか
一方を選択して試験データを挿入することを特徴とする
試験信号送受信装置。 4、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記時
分割通話路は、2重化された時分割スイッチネットワー
クを含み、 前記選択抽出手段は、該2重化された時分割スイッチネ
ットワークのフォワードハイウェイ又は、0系のバック
ワードハイウェイ又は、1系のバックワードハイウェイ
よりいずれか一ハイウェイを選択して試験データを抽出
することを特徴とする試験信号送受信装置。
[Claims] 1. A communication path testing means for testing a time-division communication path including a plurality of forward highways and backward highways, and a time-division connector means for connecting the communication path testing means to the time-division communication path. In the time-division communication path test signal transmitting/receiving device, the communication path testing means extracts test data and first selection information for selecting a highway into which test data is to be inserted from among the plurality of forward highways and backward highways. sending second selection information for selecting a highway to be used and test data to the time division connector means, the time division connector means receiving first selection information and test data from the communication route testing means; selecting and inserting means for selecting a highway according to the first selection information and inserting the test data therein; receiving second selection information from the communication path testing means and selecting a highway according to the second selection information; 1. A test signal transmitting/receiving device for a time-division communication path, comprising: a selection extraction means for extracting test data from the test data and sending it to the communication path testing means. 2. The device according to claim 1, wherein a plurality of the time-sharing connector means are connected to the communication path testing means, and the communication path testing means has a selection function for selecting the plurality of time-sharing connector means. means, the selection means transmits first selection information to the selection insertion means included in the selected time division connector means, and the selection extraction means included in the selected time division connector means. A test signal transmitting/receiving device characterized in that the test signal transmitting/receiving device transmits second selection information to and receives test data. 3. In the device according to claim 1, the time-division communication path includes a duplex time-division switch network, and the selective insertion means includes a duplex time-division switch network. A test signal transmitting/receiving device characterized in that test data is inserted by selecting either a 0-system forward highway, a 1-system forward highway, or a backward highway. 4. The device according to claim 1, wherein the time division communication path includes a duplex time division switch network, and the selection and extraction means selects the duplex time division switch network. A test signal transmitting/receiving device that extracts test data by selecting one of a forward highway, a 0-series backward highway, or a 1-series backward highway.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432749A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Oki Electric Ind Co Ltd Pilot test system

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JPS56125187A (en) * 1980-03-06 1981-10-01 Nec Corp Network continuity test system

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