JPS6243650A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

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Publication number
JPS6243650A
JPS6243650A JP18182985A JP18182985A JPS6243650A JP S6243650 A JPS6243650 A JP S6243650A JP 18182985 A JP18182985 A JP 18182985A JP 18182985 A JP18182985 A JP 18182985A JP S6243650 A JPS6243650 A JP S6243650A
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JP
Japan
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layer
barrier layer
photosensitive body
diamond
corona
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Application number
JP18182985A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsumasa Nakamura
中村 勝匡
Kenji Hayashi
健二 林
Kenji Hatada
研司 畑田
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Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
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Abstract

PURPOSE:To prevent the deterioration of a photosensitive body by corona impression so as to extend the life of the photosensitive body and to upgrade printing resistance so as to prevent the character flow and toner flow during printing by incorporating specific impurity atoms into an a-Si barrier layer on a conductive substrate. CONSTITUTION:The impurity atoms consisting of the group III element are incorporated into the barrier layer of the photosensitive body constituted by successively laminating the barrier layer consisting of a-Si, photosensitive layer consisting of a-Si and protective layer consisting of a diamond-like carbon film on the conductive substrate. B is preferable as such group III element and is incorporated therein a 5X10<-5>-2.0X10<-3> ratio by the number of atom of Si. The group III or/and group V element, for example, B or/and P are preferably added to the diamond-like carbon film of the protective layer. Such photosensitive body is free from a decrease in the receptive potential even when subjected continuously to the repetition of the corona impression for a long period of time. The semi-permanent use is thus made possible and such is advantageous for maintenance. Since the impression of a high voltage to the photosensitive body is possible, uneven copying hardly arises in a copying stage and the photosensitive body having the long life is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、電子写真感光体に関するものであり、ざらに
詳しくは、コロナ印加に対してコロナ劣化現染を生ぜず
、長期寿命を有するアモルファスシリコン電子写真感光
体に関するものである。
Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor, and more specifically, it relates to an amorphous photoreceptor that does not cause corona deterioration and staining when applied with corona and has a long lifespan. This invention relates to a silicon electrophotographic photoreceptor.

(従来技術〕 従来、電子写真感光体としては、Se、 5e−Te、
あるいは、5e−AS系およびCdS系、2nO系等が
用いられてきた。CdSにおいては、高湿度下で複写芸
能が劣ることや有害物質であるという基本的欠陥を有し
ている。また、Se系においても同様に有害物質である
うえ、耐熱性が悪く、感光体自身の温度が40’C以上
に上昇すると複写機能が劣ることや硬度が小さいことか
ら耐摩耗性に問題が残り耐刷性が充分とはいえない。
(Prior Art) Conventionally, electrophotographic photoreceptors include Se, 5e-Te,
Alternatively, 5e-AS systems, CdS systems, 2nO systems, etc. have been used. CdS has basic defects such as poor reproduction performance under high humidity and being a toxic substance. In addition, Se-based materials are similarly harmful substances and have poor heat resistance.If the temperature of the photoconductor itself rises above 40'C, the copying function will be poor and the hardness will be low, leaving problems with wear resistance. Printing durability is not sufficient.

そこで、近年、アモルファスシリコン感光体が、無公害
、高感度、高い硬度、耐磨耗性(長寿命)の点から注目
をあびてきている。ところで、電子写真工程には周知の
通り、コロナ放電による静電気印加工程と、露光工程、
トナーの転写工程、クリーニング工程があり、どれ一つ
欠陥があってもその長寿命化は達成できない。
Therefore, in recent years, amorphous silicon photoreceptors have attracted attention because of their non-polluting properties, high sensitivity, high hardness, and abrasion resistance (long life). By the way, as is well known in the electrophotographic process, there is an electrostatic charge application process using corona discharge, an exposure process,
There is a toner transfer process and a cleaning process, and even if any one of them is defective, a long life cannot be achieved.

中でも、アモルファスシリコン感光体は、コロナ被爆を
受けることによりコロナ劣化を誘発し、感光体表面に所
望の電荷が印加されず現像時にトナー流れや欠陥が発生
し、現像が困難になると言う重大な問題が残されている
のが実情である。これらの問題に対しているいろ検討は
されていて例えば、特開昭60−61761M公報にあ
るように、アモルファスシリコン感光層上に炭素と水素
からなるダイヤモンド状カーボン膜を保護層として設け
る方法があるが、この場合、確かに保護膜を有するため
コロナ照射に対しては有効であるが、長時間印刷を繰り
返すと感光体表層に乗る電荷量が次第に減少して印刷に
必要な受容電位を保持できず、字流れやトナー流れを誘
発させ、結局、長寿命が得られないと言う重大な欠点を
有している。
Among these, amorphous silicon photoreceptors suffer from serious problems such as corona deterioration caused by exposure to corona, which prevents the desired charge from being applied to the photoreceptor surface and causes toner flow and defects during development, making development difficult. The reality is that there remains. Various studies have been carried out to solve these problems, and for example, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-61761M, there is a method of forming a diamond-like carbon film made of carbon and hydrogen as a protective layer on an amorphous silicon photosensitive layer. However, in this case, it is certainly effective against corona irradiation because it has a protective film, but if printing is repeated for a long time, the amount of charge on the surface of the photoreceptor gradually decreases, making it impossible to maintain the receptive potential necessary for printing. However, it has the serious drawback that it induces streaks and toner flow, and as a result, long life cannot be obtained.

(発明が解決しようとする問題点〕 本発明の目的は、かかる従来技術の欠点を除き耐刷性が
高くしかも、印刷時の字流れ、トナー流れ等を発生させ
ない長寿命を有するアモルファスシリコン電子写真感光
体を提供することにある。
(Problems to be Solved by the Invention) It is an object of the present invention to eliminate the drawbacks of the prior art and to provide an amorphous silicon electrophotographic device that has high printing durability and has a long life that does not cause cursive lines or toner flow during printing. The purpose is to provide a photoreceptor.

(問題点を解決するための手段〕 本発明とは、導電性基体上にアモルファスシリコンから
なるバリヤー層、アモルファスシリコンからなる感光層
およびダイヤモンド状カーボン膜からなる保護層を順次
積層してなるアモルファスシリコン電子写真感光体にお
いて、該バリヤー層中に、周期律表第■族の元素からな
る不純物原子を含有してなることを特徴とする電子写真
感光体である。
(Means for Solving the Problems) The present invention is an amorphous silicon film formed by sequentially laminating a barrier layer made of amorphous silicon, a photosensitive layer made of amorphous silicon, and a protective layer made of a diamond-like carbon film on a conductive substrate. The electrophotographic photoreceptor is characterized in that the barrier layer contains an impurity atom consisting of an element of group Ⅰ of the periodic table.

本発明にあける導電性基体とは、電気抵抗率が1×10
3Ω・cm以下の金属または、金属の酸化物、あるいは
、有穀物、態様物で構成された基体を言い、A1、Fe
、 Ni5Cr、等の金属あるいは、ステンレスなどの
合金で電気抵抗率が1Ω・cm以下のものが好ましい。
The conductive substrate according to the present invention has an electrical resistivity of 1×10
Refers to a substrate composed of a metal, a metal oxide, or a grained material with a resistance of 3 Ω・cm or less, and includes A1, Fe,
, Ni5Cr, etc., or alloys such as stainless steel with an electrical resistivity of 1 Ω·cm or less are preferable.

より好ましくはAIである。勿論これらの金属中には、
少量の非金属元素が含まれていてもよい。基体の厚みは
、特に制限されず数十人から数cmの範囲のものが使用
できる。また、基体の表面形状は可能なかぎり鏡面の方
が感光体の特性上好ましい。
More preferred is AI. Of course, among these metals,
A small amount of nonmetallic elements may also be included. The thickness of the substrate is not particularly limited and can range from several tens of centimeters to several centimeters. Furthermore, it is preferable for the surface shape of the substrate to be mirror-like as much as possible in view of the characteristics of the photoreceptor.

本発明で言うアモルファスシリコンからなる感光層(以
下アモルファスシリコン感光層と称す。)とは、感光層
そのものが主にシリコン原子と水素原子または/および
フッ素原子から構成され、かつ非晶質構造を有し、しか
も光の明・暗の差によって電気抵抗の変化を生ずるもの
を言う。感光層中への他原子、例えばB 、O、N S
Ca、 C、Ge等を不純物原子として含むことについ
ては特に制約を受けないが、その感光層を構成する原子
数の10%以上がSi原子を含有し、かつ光導電性を有
するものであることが望ましい。さらに、本発明におけ
るアモルファスシリコン感光層としては、これら不純物
原子を適当に含むアモルファスシリコン層あるいは、含
まないアモルファスシリコン図を適当な組合せで積層し
たものであってもかまわない。
In the present invention, a photosensitive layer made of amorphous silicon (hereinafter referred to as an amorphous silicon photosensitive layer) is a photosensitive layer that is mainly composed of silicon atoms, hydrogen atoms, and/or fluorine atoms, and has an amorphous structure. However, it also refers to something that causes changes in electrical resistance due to differences in brightness and darkness of light. Other atoms into the photosensitive layer, such as B, O, N S
There are no particular restrictions on the inclusion of Ca, C, Ge, etc. as impurity atoms, but the photosensitive layer must contain at least 10% of Si atoms and have photoconductivity. is desirable. Further, the amorphous silicon photosensitive layer in the present invention may be a layer formed by laminating amorphous silicon layers appropriately containing these impurity atoms or amorphous silicon layers not containing these impurity atoms in an appropriate combination.

また、感光層中に少量の微結晶シリコンを含有したアモ
ルファスシリコン感光層の場合でも問題なく使用可能で
ある。
Furthermore, an amorphous silicon photosensitive layer containing a small amount of microcrystalline silicon can also be used without problems.

アモルファスシリコン感光層の厚みは、伯の要素(複写
機の性能、感光体の構成、等)との関係を考慮して適宜
決定されるが、通常10μm〜50μmの範囲が好まし
い。アモルファスシリコン感光層の製法については、特
に限定されるものではなく、蒸着法、プラズマCVD法
、スパッタ法、常圧CVD法、光CVD法、等のいずれ
でも良い。
The thickness of the amorphous silicon photosensitive layer is appropriately determined in consideration of the relationship with other factors (the performance of the copying machine, the structure of the photoreceptor, etc.), and is usually preferably in the range of 10 μm to 50 μm. The method for producing the amorphous silicon photosensitive layer is not particularly limited, and may be any of vapor deposition methods, plasma CVD methods, sputtering methods, normal pressure CVD methods, photo-CVD methods, and the like.

中でもプラズマCVD法は不純物制御が容易にできるこ
とから好ましい。ここで使用されるプラズマ源としては
、直流プラズマや交流プラズマでも良いが中でも高周波
(10KH2〜14HH2)プラズマを使用するのが原
料ガスの分解性から好ましい。また、反応カスとしては
、シラン(SiH4)、ジシラン(Si2H6)あるい
は、高次シラン等が好ましく使用できる。
Among these, the plasma CVD method is preferable because impurities can be easily controlled. The plasma source used here may be direct current plasma or alternating current plasma, but it is preferable to use high frequency (10KH2 to 14HH2) plasma from the viewpoint of decomposition of the raw material gas. Further, as the reaction residue, silane (SiH4), disilane (Si2H6), higher order silane, etc. can be preferably used.

本発明において感光層上に積層される保護層とは、アモ
ルファスシリコン感光層上に積層されて、電子写真工程
からくる各種の刺激作用から感光層を保護する働きをす
る層または膜のことを言い、これらの二層の接合面は、
化学的に結合されたものでも、物理的に接合されたもの
でもよい。本発明で用いる保護層は、これを構成する主
構成原子か炭素と水素または/およびフッ素とからなる
ダイヤモンド状カーボン膜であり、主構成原子が全構成
原子数の90%以上であることが重要である。
In the present invention, the protective layer laminated on the photosensitive layer refers to a layer or film that is laminated on the amorphous silicon photosensitive layer and serves to protect the photosensitive layer from various stimulation effects caused by the electrophotographic process. , the joint surface of these two layers is
They may be chemically bonded or physically bonded. The protective layer used in the present invention is a diamond-like carbon film composed of main constituent atoms, carbon, hydrogen, and/or fluorine, and it is important that the main constituent atoms account for 90% or more of the total number of constituent atoms. It is.

アモルファスシリコン感光層を積層中に逐次炭素、水素
、フッ素か増やされ主構成原子が最終的に仝偶成原子の
90%以上を構成する場合も本発明で言う保冷層に該当
する。該保護層は、アモルファスシリコン感光層をコロ
ナ照射の刺激から保護しコロナ劣化を防ぐ動きを主目的
とするが、摩耗に対する保護も可能である。
A case where carbon, hydrogen, and fluorine are sequentially increased during the lamination of an amorphous silicon photosensitive layer so that the main constituent atoms eventually constitute 90% or more of the constituent atoms also corresponds to the cold insulation layer in the present invention. The main purpose of the protective layer is to protect the amorphous silicon photosensitive layer from stimulation by corona irradiation and prevent corona deterioration, but it can also protect against abrasion.

本発明で言う、ダイヤモンド状カーボン層とは、主に炭
素と水素、フッ素原子で構成されているもので、その層
を構成する主構成原子(炭素と水素、フッ素〉が全構成
原子数の90%以上である層を言う。
The diamond-like carbon layer referred to in the present invention is mainly composed of carbon, hydrogen, and fluorine atoms, and the main constituent atoms (carbon, hydrogen, and fluorine) making up the layer account for 90% of the total number of constituent atoms. % or more.

主構成原子数の炭素に対する水素、フッ素の割合は0.
1より大で0.4以下であるものが好ましい。主構成原
子数の全構成原子数のυ1合が90%未満では、コロナ
照射に対する効果が弱くなり良くない。
The ratio of hydrogen and fluorine to carbon, which is the number of main constituent atoms, is 0.
Preferably, it is greater than 1 and less than or equal to 0.4. If the ratio υ1 of the number of main constituent atoms to the total number of constituent atoms is less than 90%, the effect against corona irradiation will be weak, which is not good.

ざらに本発明において、保護層中に周期率表の■族元素
または/およびV族元素からなる元素を不純物原子とし
て添加することがより好ましい。
Generally speaking, in the present invention, it is more preferable to add an element consisting of a Group I element and/or a Group V element in the periodic table as an impurity atom to the protective layer.

■族の場合、好ましくは、ボロン(B)、あるいは、ア
ルミニウム(A1)であり、より好ましくは、ボロン(
B)である。また、V族元素としては、ヒ素(AS)、
窒素(N)、リン(P)が比較的簡単にドーピング制御
できることから好ましく、より好ましくは、膜の特性上
リン(P)が良い。
In the case of group (3), boron (B) or aluminum (A1) is preferable, and boron (A1) is more preferable.
B). In addition, as group V elements, arsenic (AS),
Nitrogen (N) and phosphorus (P) are preferable because doping can be controlled relatively easily, and phosphorus (P) is more preferable because of the characteristics of the film.

不純物原子を膜中に添加する場合の含有量は、膜中の炭
素に対する原子数比が1x10−7〜8×10−4の範
囲か好ましく、より好ましくは2×10〜4×10−4
である。
When adding impurity atoms to the film, the content is preferably such that the atomic ratio to carbon in the film is in the range of 1x10-7 to 8x10-4, more preferably 2x10-4x10-4.
It is.

その他の不純物としては、膜を作成する際に微1u混入
してくる酸素、窒素かあるが微量であれば1)に問題な
い。
Other impurities include oxygen and nitrogen that are mixed in at a minute amount during film formation, but if the amount is minute, there is no problem with 1).

ダイヤモンド状カーボン層の構造は、結晶構造、アモル
ファス構造、おるいは、アモルファス構造中に微量の結
晶か含有されている構造のものでもよいが、成形上の容
易さからはアモルファス構造か好ましい。アモルファス
構造の中でも炭素の結合状態において3p3の電子配置
(炭素の一重結合〉が好ましいが微量のSp2電子配置
(炭素の二重結合)が含まれていてもよい。
The structure of the diamond-like carbon layer may be a crystalline structure, an amorphous structure, or a structure containing a small amount of crystals in the amorphous structure, but an amorphous structure is preferable from the viewpoint of ease of molding. In the amorphous structure, a 3p3 electron configuration (carbon single bond) is preferred in the carbon bond state, but a trace amount of Sp2 electron configuration (carbon double bond) may be included.

しかし高い抵抗値のものか得られる点からsp2の電子
配置は少ない方がより好ましい。
However, from the viewpoint of obtaining a high resistance value, it is more preferable to have fewer sp2 electron configurations.

このようなダイヤモンド状カーボン層は、炭化水素ある
いは固体炭素を主原料として、化学蒸着(CVD)法、
あるいは、プラズマCVD法、イオンビーム蒸若法など
により減圧容器中で形成される。
Such a diamond-like carbon layer is produced using hydrocarbon or solid carbon as the main raw material, using a chemical vapor deposition (CVD) method,
Alternatively, it is formed in a reduced pressure container by a plasma CVD method, an ion beam evaporation method, or the like.

即ち、減圧容器中に固体炭素をターゲットとして不活性
ガスと反応性ガス、例えば水素ガス、または、水素ガス
とデボラン(B2 H6)ガス、または水素ガスと、ホ
スフィン(PH3>ガスを導入してスパッタする方法、
あるいは、減圧容器中で、カーボン、または、カーボン
と水素を含む原料を蒸発源とし、反応性ガスとして水素
、デボラン(82H6)、ホスフィン(PH3)ガスを
使用する反応性蒸着法などがある。反応性蒸着法の場合
、蒸発源の加熱の方法は、抵抗加熱でも電子ビーム加熱
でもよい。
That is, sputtering is performed by introducing an inert gas and a reactive gas, such as hydrogen gas, hydrogen gas and deborane (B2 H6) gas, or hydrogen gas and phosphine (PH3> gas) into a vacuum vessel using solid carbon as a target. how to,
Alternatively, there is a reactive vapor deposition method in which carbon or a raw material containing carbon and hydrogen is used as an evaporation source in a vacuum vessel, and hydrogen, deborane (82H6), or phosphine (PH3) gas is used as a reactive gas. In the case of the reactive deposition method, the method of heating the evaporation source may be resistance heating or electron beam heating.

また、他の方法は、炭化水素から構成されたガスとキャ
リヤーガスとして水素ガス、または水素ガスとドーピン
グガスの82 H6ガス、または、PH3ガスを混合し
減圧容器中に導き、直流、あるいは、交流を減圧容器中
に配置された電極に印加しプラズマを発生させるいわゆ
るプラズマCVD法がある。
Another method is to mix a gas composed of hydrocarbons and hydrogen gas as a carrier gas, or hydrogen gas and 82 H6 gas as a doping gas, or PH3 gas, and introduce the mixture into a vacuum container, and then use direct current or alternating current. There is a so-called plasma CVD method in which a plasma is generated by applying a plasma to an electrode placed in a reduced pressure container.

保護層の製膜にあっては、設(クム、装置の点からプラ
ズマCVD法がより好ましい。この場合基板の温度を1
00〜200℃の間で適宜選定することによりダイヤモ
ンド状カーボンが得られる。原料ガスとしては、飽和炭
化水素、あるいは、不飽和炭化水素等があるが、ガスの
分解性からエチレン、メタン、アセチレンが好ましい。
For forming the protective layer, the plasma CVD method is more preferable from the viewpoint of equipment and equipment.In this case, the temperature of the substrate is lowered to 1
Diamond-like carbon can be obtained by appropriately selecting a temperature between 00 and 200°C. The raw material gas includes saturated hydrocarbons and unsaturated hydrocarbons, but ethylene, methane, and acetylene are preferable from the viewpoint of gas decomposability.

固体炭素原料としては、グラファイト、グラジ−カーボ
ン等が使用される。保護層がダイヤモンド状カーボンか
どうかは保護層中の炭素の結合状態をエネルギーロス・
スペクトルアナライザー(E、L、S、)で測定するこ
とにより確認できる。すなわち、スペクトルにおいて5
〜7eVに吸収ピークが現れる(sp2電子配@)か否
かにより確認できる。
As the solid carbon raw material, graphite, grady carbon, etc. are used. Whether the protective layer is diamond-like carbon or not depends on the energy loss and bonding state of carbon in the protective layer.
This can be confirmed by measuring with a spectrum analyzer (E, L, S,). That is, 5 in the spectrum
This can be confirmed by whether an absorption peak appears at ~7 eV (sp2 electron configuration).

また、赤外吸収スペクトルからは、2920cm″l付
近の吸収の有無により、水素と結合した一重結合炭素(
C−H)の存在を判定できる。
In addition, from the infrared absorption spectrum, depending on the presence or absence of absorption near 2920 cm''l, single bonded carbon bonded to hydrogen (
The presence of C-H) can be determined.

ざらに結晶状態を確認するには、ラマンスペクトルを測
定することによりアモルファス状態を確認できる。すな
わち、1580cm’付近に強い吸収が現れ、1350
層m−”に弱いピークが現れることから判断される。
To roughly confirm the crystalline state, the amorphous state can be confirmed by measuring a Raman spectrum. That is, strong absorption appears near 1580 cm', and 1350 cm'
This is determined from the appearance of a weak peak in layer m-''.

保護層の厚みは100大から20μの範囲が好ましく、
更に、好ましくは1’50人から5000大であり、よ
り好ましくは、200大から2000人である。100
人未満の厚みでは、電子写真工程における耐コロナ印加
、光照射、摩耗の繰り返し特性において、長時間連続の
コロナ照q」に対して弱くなり好ましくない。保護層の
厚みが20μを越える場合、膜厚が厚くなるため、光線
透過率が低下しそのため感光体の光感度が悪くなり好ま
しくない。
The thickness of the protective layer is preferably in the range of 100 μm to 20 μm,
Furthermore, the number is preferably 1'50 to 5,000 people, more preferably 200 to 2,000 people. 100
A thickness less than that of a human being is not preferable because it becomes weak against long-term continuous corona irradiation in terms of resistance to corona application, light irradiation, and repeated abrasion in the electrophotographic process. When the thickness of the protective layer exceeds 20 μm, the film thickness becomes thick, and the light transmittance decreases, which deteriorates the photosensitivity of the photoreceptor, which is not preferable.

本発明においてバリヤー層とは、アモルファスシリコン
からなり、かつ周期律表第■族の元素を不純物原子とし
て含むもので、導電性基体とアモルファスシリコン感光
層との間に設けられるものである。アモルファスシリコ
ンは、主にシリコン原子と水素原子または/およびフッ
素原子から構成され、かつ非晶質構造を有するものであ
る。但し層中に少最の微結晶シリコンを含有していても
よい。アモルファスシリコン中の不純物原子としては、
ボロン(B)、アルミニウム(A1)、ガリウム(Ga
)が好ましく、より好ましくはボロン(B)である。そ
のボロン(B)の量は、シリコン原子に対する原子数比
で5X10−5〜2.0X10−3の範囲が好ましい。
In the present invention, the barrier layer is made of amorphous silicon and contains an element of Group 1 of the periodic table as an impurity atom, and is provided between the conductive substrate and the amorphous silicon photosensitive layer. Amorphous silicon is mainly composed of silicon atoms, hydrogen atoms, and/or fluorine atoms, and has an amorphous structure. However, the layer may contain a small amount of microcrystalline silicon. As impurity atoms in amorphous silicon,
Boron (B), aluminum (A1), gallium (Ga
) is preferred, and boron (B) is more preferred. The amount of boron (B) is preferably in the range of 5.times.10@-5 to 2.0.times.10@-3 in terms of atomic ratio to silicon atoms.

より好ましくは、5X10”5〜8×10−4の範囲で
ある。5X10−5未満の伍では長期間の耐コロナ性に
弱く受容電位の低下を起こすことがある。2.0X10
−3を越える含有量では、長期間の耐コロナ性は強いも
のの本来の受容電位が低くなるおそれがある。
More preferably, it is in the range of 5 x 10"5 to 8 x 10-4. If it is less than 5 x 10-5, the long-term corona resistance will be poor and the acceptance potential may decrease.2.0 x 10
If the content exceeds -3, although long-term corona resistance is strong, the original acceptance potential may be lowered.

バリヤー層の厚みは、特に限定されるものではないが、
薄い場合は耐コロナ性が弱くなり、厚い場合は、受容電
位が低くなることもあり、好ましい膜厚としては0.2
〜1.0μmであり、より好ましくは0.2〜0.5μ
mである。
The thickness of the barrier layer is not particularly limited, but
If it is thin, the corona resistance will be weak, and if it is thick, the acceptance potential will be low, so the preferred film thickness is 0.2
~1.0μm, more preferably 0.2~0.5μm
It is m.

成膜方法としては、アモルファスシリコン感光層を成膜
する方法と同様な方法が採用される。
As a film forming method, a method similar to the method of forming an amorphous silicon photosensitive layer is adopted.

層の区分としては、バリヤー層と感光層を連続的に成膜
(この場合不純物ガス添加量を変更しながら)してもよ
く、あるいは断続的に成膜してもかまわない。
Regarding the layer division, the barrier layer and the photosensitive layer may be formed continuously (in this case, while changing the amount of impurity gas added), or may be formed intermittently.

バリヤー層を導電性基体上に堆積する場合の基体の前処
理として、膜の堆積直前にArイオンによるボンバード
処理を施すのが感光体の特性、特に帯電能の点で好まし
い。
When a barrier layer is deposited on a conductive substrate, it is preferable to perform a bombardment treatment with Ar ions immediately before film deposition in view of the properties of the photoreceptor, particularly the charging ability.

本発明において導電性基体上に形成される層構成として
は、必ずしも3層に限定されるものではなく、例えばバ
リヤー層と感光層の間、或いは感光層と保護層の間にゲ
ルマニウム(Ge)、あるいは、スズ(sn)等を含ん
だ層を設けて四層構成としてもよい。
In the present invention, the layer structure formed on the conductive substrate is not necessarily limited to three layers; for example, between the barrier layer and the photosensitive layer, or between the photosensitive layer and the protective layer, germanium (Ge), Alternatively, a four-layer structure may be provided by providing a layer containing tin (sn) or the like.

(発明の作用〕 本発明の電子写真感光体は、バリヤー層を周期律表第■
族元素を不純物として含有するアモルファスシリコンで
構成するとともに、その上にアモルファスシリコン感光
層および、コロナ劣化から感光層を保護するダイヤモン
ド状カーボン膜からなる保護層を積層しているため、表
層のコロナ刺激から感光層を保護し、導電性基体(電極
)から注入してくる電子、および各種不純物イオンの注
人を防止するため長1男間連続的にコロナ照q41.l
I3よび電子写真の繰り返しを行なっても受容電位の低
下を起さず鮮明な画像が19られるのである。
(Function of the invention) The electrophotographic photoreceptor of the present invention has a barrier layer that is listed in the periodic table.
It is composed of amorphous silicon that contains group elements as impurities, and is laminated with a protective layer consisting of an amorphous silicon photosensitive layer and a diamond-like carbon film that protects the photosensitive layer from corona deterioration, so that corona stimulation of the surface layer is avoided. In order to protect the photosensitive layer from the electroconductive substrate (electrode) and prevent the injection of various impurity ions and electrons from the conductive substrate (electrode), the first son was continuously exposed to corona light q41. l
Even if I3 and electrophotography are repeated, clear images can be obtained without any decrease in acceptance potential.

i子来のバリヤー層のないアモルファスシリコン感光体
(導電性基体/′アモルファスシリコン感光[凶、/ダ
イヤモンド状カーボン層〉は、電子の障壁層(バリヤー
層)がないため暗状態で感光体表面に正印力りを行なっ
た場合、静電誘導で基体表面に発く[じた電子が簡単に
感光層中に注入されて感光体の表、層付近で再結合され
受容電位を下げることによるものと考えられる。しかも
(コロナ印加−[16減衰−明減衰)を繰り返すと更に
基体側から電子の注入か起り易くなり、このためこの繰
り返しを艮ル1間11なうと次第に受容電位か低下して
くるものとイえられる。
Since an amorphous silicon photoreceptor without a barrier layer (conductive substrate/'amorphous silicon photoreceptor/diamond-like carbon layer) does not have an electron barrier layer (barrier layer), the surface of the photoreceptor does not reach the surface in the dark. When a positive impression is applied, electrons generated on the surface of the substrate due to electrostatic induction are easily injected into the photosensitive layer and recombined on the surface of the photosensitive member near the layer, lowering the acceptance potential. Moreover, if (corona application - [16 attenuation - bright attenuation)] is repeated, electron injection from the substrate side becomes more likely to occur, and therefore, if this is repeated for 1 time, the acceptance potential will gradually decrease. It can be considered as a thing.

本発明者らはこのため、各種のバリヤー層を検討しでみ
た。5i02、SiOx膜をバリヤー層とした場合、確
かに、受容電位は高まるが、コロナ印加の繰り返しを行
なうと、次第に残留電位が高くなる、しかも受容電位の
低下を起す。これは基体側に堆積したバリヤー層中の不
純物が感光層中に拡散して来たためと考えられる。
For this reason, the present inventors have investigated various barrier layers. 5i02, when a SiOx film is used as a barrier layer, the acceptance potential increases, but if corona application is repeated, the residual potential gradually increases and, moreover, the acceptance potential decreases. This is considered to be because impurities in the barrier layer deposited on the substrate side diffused into the photosensitive layer.

これに対し、例えばボロン(B)を含有するアモルファ
スシリコン膜でバリヤー層を形成すると、コロナ繰り返
しを行なっても受容電位は全く低下せず、驚くべきこと
に繰り返しにともない若干高まる傾向を示した。明確な
理由づけはできないが、これはバリヤー層中の不純物(
ボロン:(B3)が感光層中に拡散して来て、感光層が
正孔richの層に変化して来たためと考えられる。し
かしながらこの様な現象が起っても他の感光特性には全
く変化ないのである。
On the other hand, when the barrier layer was formed of an amorphous silicon film containing boron (B), for example, the acceptance potential did not decrease at all even after repeated corona cycles, but surprisingly showed a tendency to increase slightly with repeated cycles. Although no clear reasoning can be given, this may be due to impurities in the barrier layer (
This is thought to be because boron (B3) diffused into the photosensitive layer and the photosensitive layer changed into a hole-rich layer. However, even if such a phenomenon occurs, other photosensitive characteristics do not change at all.

また保護層は、ダイヤモンド構造に近い炭素結合を有す
るため、その結合エネルギーは高く、しかも硬度と電気
抵抗を高めるため不純物をドープしているため感光体表
面に印加されるコロナから完璧に保護している。
In addition, the protective layer has a carbon bond similar to that of a diamond structure, so its bond energy is high, and it is doped with impurities to increase hardness and electrical resistance, so it perfectly protects the photoreceptor from the corona applied to the surface. There is.

この様に導電性基体側に不純拡散を逆に利用するバリヤ
ー層を設け、保護層として憧めて有効な保護層を設けた
本発明のアモルファスシリコン感光体は長寿命を有する
理想的な感光体である。
In this way, the amorphous silicon photoreceptor of the present invention, which has a barrier layer on the conductive substrate side that utilizes impurity diffusion inversely and provides an effective protective layer, is an ideal photoreceptor with a long life. It is.

[発明の効果] 本発明の電子写真感光体はバリヤー苦を周期律表第1I
I b’i元素からなる不純物原子を含んだアモルファ
スシリコンで構成するとともにダイヤモンド′臥カーボ
ンからなる保護層を設けるようにしたためコロナ印加の
繰り返しを長期間連続に行なっても全く受容電位を低下
さt!ないため、その感光体(よ、 イ) 従来、数万枚の複写毎に複写機の心臓部である感
光ドラムを交換していたが、半永久的使用か可能となり
そのメンテノーンスの点で有利となる。
[Effects of the Invention] The electrophotographic photoreceptor of the present invention has barrier properties that are as low as 1I of the periodic table.
Since it is made of amorphous silicon containing impurity atoms consisting of the I b'i element and is provided with a protective layer made of diamond-backed carbon, the acceptance potential does not drop at all even if corona application is repeated continuously for a long period of time. ! Previously, the photosensitive drum, which is the heart of a copying machine, had to be replaced every time tens of thousands of copies were made, but now it can be used semi-permanently, which is advantageous in terms of maintenance costs. .

口) コロナ劣化を起さないため、従来の感光体より高
電圧の印加が可能であり複写工程において複写ムラを起
しにくいなどの効果が期待できる。
Since it does not cause corona deterioration, it is possible to apply a higher voltage than conventional photoreceptors, and it can be expected to have effects such as less unevenness in copying during the copying process.

以下実施例にて本発明を説明づる。なお、実施例中の測
定項目は、下記の方法で測定した。
The present invention will be explained below with reference to Examples. Note that the measurement items in the examples were measured by the following methods.

(特性の測定方法、評価基準〕 (1)各層の厚み:CAMECA社(仏画)製IMS−
3F型質量分析計を使用し、二次イオン質量分析法(S
IMS)により感光体表面から深さく厚さ)方向に元素
分析を行なうことにより各層の厚みを求めた。
(Method of measuring characteristics, evaluation criteria) (1) Thickness of each layer: IMS- manufactured by CAMECA (French painting)
Secondary ion mass spectrometry (S
The thickness of each layer was determined by conducting elemental analysis in the depth direction from the surface of the photoreceptor using IMS).

(2)  電子写真感光体の帯電能;静電記録評価毀器
(川口電器(株)製、sp−428型)により、印加極
性(+)、電圧6.Qkv、印加時間6゜0秒、暗減時
間5.0秒、露光時間10秒、露光条件は、タングステ
ンランプ(色温度2856に°)光2.0Iuxに設定
して測定を行なった。測定雰囲気は23±1°C160
%R11に設定した。帯電能は、印加開始後6秒時の表
面電位を感光層の厚みで除した値とした。
(2) Charging ability of electrophotographic photoreceptor; applied polarity (+), voltage 6. Qkv, application time: 6°0 seconds, darkening time: 5.0 seconds, exposure time: 10 seconds. The exposure conditions were a tungsten lamp (color temperature: 2856°) and 2.0 Iux of light. Measurement atmosphere is 23±1°C160
%R was set at 11. The charging ability was defined as the value obtained by dividing the surface potential 6 seconds after the start of application by the thickness of the photosensitive layer.

(3)ダイヤモンド状カーボン層の同定;(1)の31
)Isの測定結果から炭素と水素の原子数比を求めた。
(3) Identification of diamond-like carbon layer; 31 of (1)
) The atomic ratio of carbon and hydrogen was determined from the measurement results of Is.

ダイヤモンド状カーボン層に不純物(ボロン:(8)、
またはリン(P))を添加した膜についても(1)と同
様の方法で炭素に対するボロン、または、リンなどの原
子数比を求めた。この場合の更生および補正は、ダイヤ
モンド状カーボン膜にボロンをイオン注入した既知試料
を利用し行なった。
Impurities (boron: (8),
Also for films to which phosphorus (P) was added, the atomic ratio of boron, phosphorus, etc. to carbon was determined in the same manner as in (1). Rehabilitation and correction in this case were carried out using a known sample in which boron ions were implanted into a diamond-like carbon film.

構造解析は、ラマン分光分析により構造解析(結晶、非
晶状態の確認)を行ない、E、L。
Structural analysis was performed by Raman spectroscopy (confirmation of crystalline and amorphous states).

S、(エネルギーロス・スペクトルアナライザー)の測
定により炭素の結合状態を測定した。
The bonding state of carbon was measured by S, (energy loss spectrum analyzer).

なお、ラマン分光スペクトルの測定装置は、U−100
0型(仏、Jobin−Yuon社製)ヲ使用し、アル
ゴンイオンレザー(波長5145人)を使用して測定し
た。またE、L、S、はEscalab 5型(英、バ
キュームジェネレーターサイエンチフィツク社製)を使
用し、入射電子エネルギー1200eV、アナライザー
、CAEモード、パスエネルギー20evで測定した。
The Raman spectrum measurement device is U-100
The measurement was carried out using a type 0 (manufactured by Jobin-Yuon, France) and an argon ion laser (wavelength 5145). Further, E, L, and S were measured using Escalab type 5 (manufactured by Vacuum Generator Scientific, UK) with incident electron energy of 1200 eV, analyzer, CAE mode, and pass energy of 20 ev.

ダイヤモンド状カーボン層は、ラマン分光においては、
1550〜1600cm’に強いバンドピークを有し、
1350Cm−1付近に弱いピークを示すことから確認
した。
In Raman spectroscopy, the diamond-like carbon layer is
It has a strong band peak at 1550-1600 cm',
This was confirmed by showing a weak peak near 1350 Cm-1.

E、L、S、においでは、ダイヤモンド状カーボン層は
、5〜7evにピークを示さないことから炭素の結合状
態において二重結合、三重結合、でなく−重結合の3p
3の混成軌道を有することがわかる。またC−C結合は
赤外吸収スペクトルにより2000cm゛1.2500
cm−’に強い吸収が現れるか否かにより確認できる。
In terms of E, L, and S odors, the diamond-like carbon layer does not show a peak at 5 to 7 eV, so the bonding state of carbon is not a double bond, a triple bond, but a 3p - double bond.
It can be seen that it has 3 hybrid orbitals. In addition, the C-C bond is 2000cm゛1.2500 according to the infrared absorption spectrum.
This can be confirmed by whether strong absorption appears in cm-'.

(4)  赤外吸収スペクトルの測定;シリコンウェハ
ー基体上に膜を堆積した試料を用いて微小透過赤外吸収
スペクトル((FT−IR)、デジラボ社(米)製〕に
より測定した。
(4) Measurement of infrared absorption spectrum: Measurement was performed using a sample in which a film was deposited on a silicon wafer substrate using a micro-transmission infrared absorption spectrum ((FT-IR), manufactured by DigiLab (USA)).

(5)  バリヤー層中の不純物(B)の測定:(1)
の5I)Isの測定結果からシリコン原子に対するボロ
ン(B)の原子数比を求めた。
(5) Measurement of impurities (B) in barrier layer: (1)
5I) From the measurement results of Is, the atomic ratio of boron (B) to silicon atoms was determined.

〔実施例1〜9〕 表1は、感光層、保護層の成膜条件を一定にして、バリ
ヤー層の成膜条件(不純物ドープ貫)を変更した実験で
ある。
[Examples 1 to 9] Table 1 shows experiments in which the film-forming conditions for the photosensitive layer and the protective layer were kept constant, and the film-forming conditions for the barrier layer (impurity doping) were changed.

まず、実施例1〜9は、スライドグラス/AI蒸着膜(
約0.6μm)の基体を平板二極の電極配置のプラズマ
CVDIJ(中に配置し、1X10−6Torr以下に
排気した後、A「ガスを流しA「イオンによるボンバー
ド処理(Arガス: 5 、03CCI(、基体温度;
15〜20″C、ガス圧;0.05Torr、高周波(
13、56)111Z)出力;50W、処理時間;10
分間)を行なった。次に、アモルファスシリコン膜のバ
リヤー層を以下の条件で時間を調整し5000人(オン
グストローム)の厚みとした。
First, in Examples 1 to 9, slide glass/AI vapor deposited film (
A substrate with a diameter of about 0.6 μm) was placed in a plasma CVDIJ (with a flat plate bipolar electrode arrangement), and after being evacuated to 1X10-6 Torr or less, a gas was passed through it and bombarded with ions (Ar gas: 5,03 CCI). (, substrate temperature;
15~20″C, gas pressure: 0.05 Torr, high frequency (
13, 56) 111Z) Output; 50W, processing time; 10
minutes). Next, the barrier layer of the amorphous silicon film was formed to a thickness of 5000 angstroms by adjusting the time under the following conditions.

この時の条件は、原料ガス(10vo1%3iH4in
H2ガス)と不純物ガス(401)911182 He
 1nH2ガス)の流量を表1に示すようにかえ、その
他の条件は、高周波(13,568H7)出力;60W
、ガス圧0.9Torr、基体温度;200℃と同じに
した。この際単結晶シリコンウェハー(P型、電気抵抗
10〜20Ω−cm、厚み:525μm)上にも膜を堆
積させた、3i原子数に対するボロン(B)の原子数比
を5I)Isにより測定し、ボロン原子の含有田を測定
した。その結果を表1に示す。
The conditions at this time are raw material gas (10vo1%3iH4in
H2 gas) and impurity gas (401) 911182 He
The flow rate of 1nH2 gas) was changed as shown in Table 1, and the other conditions were: high frequency (13,568H7) output; 60W
, gas pressure of 0.9 Torr, and substrate temperature of 200°C. At this time, a film was also deposited on a single crystal silicon wafer (P type, electrical resistance 10 to 20 Ω-cm, thickness: 525 μm), and the atomic ratio of boron (B) to the number of 3i atoms was measured using 5I)Is. , the content of boron atoms was measured. The results are shown in Table 1.

次に、感光層を上記の試料を基体として次の条件で時間
を調整し、15.0μmの感光層を基体上に積層した。
Next, a 15.0 μm thick photosensitive layer was laminated on the substrate using the above sample as a substrate and adjusting the time under the following conditions.

条件は、”IQV01%3i1−14inf−12カス
: 25SCC)I、40p1)m B2 H61nH
2ガス:2.9SCCH1基体温度:200’C、ガス
圧;0゜95Torr、高周波(13、568111)
出カニ60Wとした。
The conditions are “IQV01%3i1-14inf-12cas: 25SCC)I, 40p1)m B2 H61nH
2 gases: 2.9SCCH1 Substrate temperature: 200'C, gas pressure: 0°95Torr, high frequency (13, 568111)
It was set to 60W.

次に原料ガスを変更し上記の試料を基体として、保護層
を下記の条件で、時間を調整し800人の厚みの膜を基
体上に積層した。条件はエチレン(C2H4>ガス; 
’l 5CC)I水素ガス(ト12):25SCCH1
高周波(13、56M1ll)出カニ50W、基体温度
;150℃、ガス圧カニ0.9Torrとした。
Next, by changing the raw material gas and using the above sample as a substrate, a protective layer was laminated on the substrate with a thickness of 800 people under the following conditions and by adjusting the time. Conditions are ethylene (C2H4>gas;
'l 5CC) I hydrogen gas (t12): 25SCCH1
High frequency (13, 56 M1ll) output 50W, substrate temperature 150°C, gas pressure 0.9 Torr.

なおこの際、上記保護層を分析するため、上記の基体の
他にシリコンウェハー(P型、電気抵抗;10〜20Ω
−cm、厚み;525μm)柱上にも膜を堆積した。こ
れらを構造解析した結果、ラマン分光スペクトルでは、
1550Cm−1〜1600cm’に強いバンドピーク
を有し、また、E、L。
At this time, in order to analyze the protective layer, a silicon wafer (P type, electrical resistance: 10 to 20 Ω) was used in addition to the above substrate.
-cm, thickness: 525 μm) The film was also deposited on the pillars. As a result of structural analysis of these, the Raman spectra show that
It has a strong band peak at 1550 Cm-1 to 1600 cm', and also E, L.

S、の測定においては、5〜7eVにピークを示さない
ことから炭素の結合状態が一重結合のSp3の混成軌道
であることがわかった。さらに、赤外吸収スペクトルか
らは、2000cm−1,2500CIl+ ’に強い
ピークを示しC−C結合であることかわかった。これら
のことから、この保護膜がグイ)フ[ント状カーホン(
α−CiH)膜であることかわかった。
In the measurement of S, it was found that the carbon bond state was a single bond Sp3 hybrid orbital because no peak was shown at 5 to 7 eV. Furthermore, the infrared absorption spectrum showed a strong peak at 2000 cm-1, 2500 CIl+', indicating that it was a C--C bond. For these reasons, this protective film is very durable.
It was found that it was an α-CiH) film.

1スートの3層溝成したアモルファスシリコン感光体の
′15f1(帯電能、コロナ印加繰り返し2000回l
l島の保持5し)とバリヤー層中の3i原子に対するホ
ロンFB)の原子数比を表1に示す。
'15f1 of an amorphous silicon photoreceptor with 1 soot and 3-layer grooves (charging ability, 2000 corona application cycles)
Table 1 shows the atomic ratio of the holons FB) to the 3i atoms in the barrier layer.

表]のごとく、本発明の感光体では帯電能も高く、また
コロナ印加に対する耐久性も高い。但しボロンの添加量
が少ないとコロナ耐久性の改良のレベルか若干低く、添
加量か多くなると帯電能か名干低下覆ることから、より
好ましい添7JlI Biは原子数比で1.0X10 
〜8.0X10−’である。
As shown in Table 1, the photoreceptor of the present invention has high charging ability and high durability against corona application. However, if the amount of boron added is small, the level of improvement in corona durability will be slightly low, and if the amount added is large, the charging ability will be significantly reduced.
~8.0X10-'.

比較例1 比較例1は、実施例と同様にAI”イオンホンバードを
施した基体上に不純物ガス(40ppmB21−1 e
 1nl−12>を添加しないアモルファスシリコン膜
のバリヤー層を5000人堆積した。他の条件は実施例
と同条件で行なった。次に実施例と同様にして感光層、
保護層と順次積層した、この感光体の特性を表1に示す
Comparative Example 1 In Comparative Example 1, impurity gas (40 ppm B21-1 e
5000 barrier layers of amorphous silicon film without addition of 1nl-12> were deposited. Other conditions were the same as in the examples. Next, a photosensitive layer was prepared in the same manner as in the example.
Table 1 shows the characteristics of this photoreceptor, which was laminated with a protective layer in sequence.

この時も実施例と同様にして保護膜の構造解析を行ない
、ダイヤモンド状カーボン膜であることを確認した。
At this time as well, the structure of the protective film was analyzed in the same manner as in the example, and it was confirmed that it was a diamond-like carbon film.

この感光体の特性(帯電能、コロナ印加繰り返し200
0回時の保持率)を表1に示す。バリヤー層中にボロン
(B)を含まないとコロナ印加繰り返し2000回時の
保持率の低下が著しい。
Characteristics of this photoreceptor (charging ability, corona application repetition 200
Table 1 shows the retention rate at 0 times. If boron (B) is not included in the barrier layer, the retention rate after repeated corona application 2000 times will drop significantly.

表  1 実施例10〜13 表2は、ボロン(B)ドープのアモルファスシリコンバ
リヤー層、感光層の成膜条件を一定に保って、保護層の
成膜条件(不純物トープ聞)を変更した実験結果である
Table 1 Examples 10 to 13 Table 2 shows the experimental results in which the deposition conditions of the boron (B)-doped amorphous silicon barrier layer and the photosensitive layer were kept constant and the deposition conditions of the protective layer (impurity tope ratio) were changed. It is.

実施例10〜13はスライドグラス/AI蒸着膜(約0
.6μm)の基体を平版二極の電極配置のプラスV C
V D HH中に配置し、1 x 10−6Torr以
下に排気した後、Arカスを流しArイオンによるボン
バード処理(Arガス:5,03CCH1基体温度:1
5〜20°C、ガス圧;Q、Q5Torr、高周波(1
3、56H1IZ)出カニ50W、処理時間;10分間
)を行なった。次にボロン(B)ドープのアモルファス
シリコン膜のバリヤー層を以下の条件で成膜した。1Q
vo1%3i H41nH2ガス;17゜Q SCCH
1401)pm B2 H61nH2ガス:8SCCH
1高周波出カニ60W、ガス圧;Q、9Torr、基体
温度: 200℃、膜厚みは、時間を調整し5000人
とした。
Examples 10 to 13 are slide glass/AI vapor deposited film (approximately 0
.. 6 μm) substrate with a plus V C of a planographic bipolar electrode arrangement.
After placing it in V D HH and evacuation to 1 x 10-6 Torr or less, Ar gas was flowed and bombarded with Ar ions (Ar gas: 5,03CCH1 Substrate temperature: 1
5-20°C, gas pressure: Q, Q5Torr, high frequency (1
3, 56H1IZ) De-kani 50W, processing time: 10 minutes) was performed. Next, a barrier layer of an amorphous silicon film doped with boron (B) was formed under the following conditions. 1Q
vo1%3i H41nH2 gas; 17°Q SCCH
1401) pm B2 H61nH2 gas: 8SCCH
1 High frequency output crab 60W, gas pressure: Q, 9 Torr, substrate temperature: 200°C, film thickness was 5000 by adjusting time.

この時の膜を実施例1〜9と同様に5IIISによりシ
リコン原子に対するボロン(B)の原子数比を求めた結
果、3.8X10’であった。次にアモルファスシリコ
ン感光層を実施例1〜9と同様に上記の試料上に15.
0μm積層した。
The atomic ratio of boron (B) to silicon atoms was determined to be 3.8×10′ using 5IIIS in the same manner as in Examples 1 to 9. Next, an amorphous silicon photosensitive layer was placed on the above sample in the same manner as in Examples 1 to 9 for 15 minutes.
The layers were laminated to a thickness of 0 μm.

次に、ボロン(8)または、リン(P)を含有するダイ
ヤモンド状カーボン膜を上記の試IIを基体として80
0人の膜厚を積層した。表2のAは、ボロン(B)をド
ープした時の02 H4ガスに対する不純物ガス(B2
 Ha >の添加量と炭素に対するボロン(B)の原子
数比と帯電能を示す。Bは、リン(P)をドープした時
のそれぞれの値を示す。成膜条件は、表2に示す不純物
ドープ量以外すべて実施例1〜9の保IF5成膜条件と
同じくした。これらの感光体について、帯電能、おりf
コロナ印加線り返し2000回時の保持二i 調べたが
、いずれも表2のごとく好ましい結果(゛あった。
Next, a diamond-like carbon film containing boron (8) or phosphorus (P) was deposited on the above sample II as a substrate.
The film thickness of 0 people was laminated. A in Table 2 shows the impurity gas (B2
The amount of addition of Ha>, the atomic ratio of boron (B) to carbon, and the charging ability are shown. B indicates each value when doped with phosphorus (P). The film forming conditions were all the same as the IF5 film forming conditions of Examples 1 to 9 except for the impurity doping amount shown in Table 2. Regarding these photoreceptors, charging ability, f
The retention of the corona application wire after 2000 repetitions was investigated, and all had favorable results as shown in Table 2.

表  2Table 2

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)導電性基体上にアモルファスシリコンからなるバ
リヤー層、アモルファスシリコンからなる感光層および
ダイヤモンド状カーボン膜からなる保護層を順次積層し
てなるアモルファスシリコン電子写真感光体において、
該バリヤー層中に周期律表第III族の元素からなる不純
物原子を含有してなることを特徴とする電子写真感光体
(1) In an amorphous silicon electrophotographic photoreceptor in which a barrier layer made of amorphous silicon, a photosensitive layer made of amorphous silicon, and a protective layer made of a diamond-like carbon film are sequentially laminated on a conductive substrate,
An electrophotographic photoreceptor characterized in that the barrier layer contains an impurity atom consisting of an element of Group III of the periodic table.
(2)周期律表第III族の元素からなる不純物原子がボ
ロン(B)であることを特徴とする特許請求の範囲第(
1)項記載の電子写真感光体。
(2) Claim No. (2) characterized in that the impurity atom consisting of an element of Group III of the periodic table is boron (B).
The electrophotographic photoreceptor described in item 1).
(3)バリヤー層中のボロン(B)がシリコン原子に対
する原子数比で5×10^−^5〜2.0×10^−^
3の範囲であることを特徴とする特許請求の範囲第(1
)項記載の電子写真感光体。
(3) Boron (B) in the barrier layer has an atomic ratio of 5 x 10^-^5 to 2.0 x 10^-^ to silicon atoms.
Claim No. 3 (1)
) The electrophotographic photoreceptor described in item 2.
(4)保護層であるダイヤモンド状カーボン膜中に周期
律表第III族または/および第V族の元素を不純物原子
として含有することを特徴とする特許請求の範囲第(1
)項記載の電子写真感光体。
(4) Claim (1) characterized in that the diamond-like carbon film serving as the protective layer contains elements of Group III and/or Group V of the periodic table as impurity atoms.
) The electrophotographic photoreceptor described in item 2.
(5)ダイヤモンド状カーボン膜中の不純物原子がボロ
ン(B)または/および(P)であることを特徴とする
特許請求の範囲第(4)項記載の電子写真感光体。
(5) The electrophotographic photoreceptor according to claim (4), wherein the impurity atoms in the diamond-like carbon film are boron (B) and/or (P).
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS62276558A (en) * 1986-05-26 1987-12-01 Canon Inc Light receiving member
JPS62276559A (en) * 1986-05-26 1987-12-01 Canon Inc Light receiving member
US6664026B2 (en) 2001-03-22 2003-12-16 International Business Machines Corporation Method of manufacturing high aspect ratio photolithographic features

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