JPS62276558A - Light receiving member - Google Patents

Light receiving member

Info

Publication number
JPS62276558A
JPS62276558A JP61119289A JP11928986A JPS62276558A JP S62276558 A JPS62276558 A JP S62276558A JP 61119289 A JP61119289 A JP 61119289A JP 11928986 A JP11928986 A JP 11928986A JP S62276558 A JPS62276558 A JP S62276558A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
atoms
conditions
drums
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61119289A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0766196B2 (en
Inventor
Tetsuya Takei
武井 哲也
Keishi Saito
恵志 斉藤
Tatsuyuki Aoike
達行 青池
Yasushi Fujioka
靖 藤岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP61119289A priority Critical patent/JPH0766196B2/en
Publication of JPS62276558A publication Critical patent/JPS62276558A/en
Publication of JPH0766196B2 publication Critical patent/JPH0766196B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08285Carbon-based
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/043Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure
    • G03G5/0433Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure all layers being inorganic
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/14Inert intermediate or cover layers for charge-receiving layers
    • G03G5/147Cover layers
    • G03G5/14704Cover layers comprising inorganic material

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent degradation of the surface of a light receiving member by using a diamond-like carbon thin film containing at least on of H or halogen as a surface protective layer. CONSTITUTION:A photoconductive layer 102 and the surface protective layer 103 of the diamond-like carbon thin film containing at least one of H or halogen are formed in this order on a support 101, and this layer 103 has a free surface 107. The addition of at least one of H or halogen permits the noncombined valence of the diamond-like carbon to be compensated and the surface protective layer 103 very few in defect to be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、シリコン原子を母体とするアモルファスシリ
コンで構成された先導電層を有する光受容部材、特に優
れた特性を有する表面保護層を前記光導電層上に設けた
電子写真用感光体に適した光受容部材に関する。
Detailed Description of the Invention 3. Detailed Description of the Invention [Technical Field to Which the Invention Pertains] The present invention relates to a light-receiving member having a leading conductive layer made of amorphous silicon having silicon atoms as a matrix, and a light-receiving member having particularly excellent characteristics. The present invention relates to a light-receiving member suitable for an electrophotographic photoreceptor, in which a surface protective layer having the following is provided on the photoconductive layer.

(従来技術の説明) 従来、電子写真用感光体等に用いられる光受容部材とし
ては、その光感度領域の整合性が他の種類の光受容部材
と比へて優れているのに加えて、ビッカース硬度が高く
、公害の問題が少ない等の点から、例えば特開昭54−
86341号公報や特開昭56−83746号公報にみ
られるようなシリコン原子を母体とし水素原子又はハロ
ゲン原子のうちの少なくともいずれか一方を含有するア
モルファス材料(以後、’a−5i()l、X)」と表
記する)光受容部材が注目されている。
(Description of the Prior Art) Conventionally, light-receiving members used for electrophotographic photoreceptors, etc., have superior consistency in their photosensitivity regions compared to other types of light-receiving members. Because of its high Vickers hardness and low pollution problems, for example, JP-A-54-
Amorphous materials containing at least one of hydrogen atoms and halogen atoms (hereinafter referred to as 'a-5i()l, The light-receiving member (denoted as “X)” is attracting attention.

ところでこうした光受容部材は、支持体上に、a−Si
()I、X)で構成される光導電層を有するものである
ところ、該光導電層が帯!@埋を受けた際に自由表面側
から光導電層中に電荷が注入されるのを阻止するととも
に、該光導電層の耐湿性、連続繰り返し使用特性、電気
的耐圧性、使用環境特性、および耐久性等を向上せしめ
、長期間安定した画像品質を得るために、該光導電層上
に表面保護層を設けることが知られている。
By the way, such a light-receiving member has a-Si on a support.
()I, It prevents charge from being injected into the photoconductive layer from the free surface side when buried, and also improves the moisture resistance, continuous repeated usage characteristics, electrical pressure resistance, usage environment characteristics, and In order to improve durability and obtain stable image quality over a long period of time, it is known to provide a surface protective layer on the photoconductive layer.

そして、前記表面保護層については、前述の各種機能を
効率的に発揮することが要求されるところ、種々の高抵
抗でかつ充分な光透過性を有する材料の1つとしてダイ
ヤモンド状炭素薄膜を用いることが知られている。(特
開昭60−61761号公報参照) しかし、前記ダイヤモンド状炭素薄膜を表面保護層とし
て用いた場合、クリーニングブレード等の接触をはじめ
とする種々の機械的損傷を防止し、更に帯電時のコロナ
放電で生じるオゾンやイオンによる光受容部材表面の変
質を防止するのに特に有効ではあるが、該表面保護層を
用いた光受容部材は、帯電能および暗減衰等の電子写真
特性が不充分であって、こうした光受容部材を用いて画
像形成を行なう場合には画像上にゴーストが生じる等の
画像品質の劣化となって現われる場合もあるという問題
がある。
As for the surface protective layer, a diamond-like carbon thin film is used as one of various materials having high resistance and sufficient light transmittance, since it is required to efficiently exhibit the various functions described above. It is known. (Refer to Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-61761.) However, when the diamond-like carbon thin film is used as a surface protective layer, it prevents various mechanical damages such as contact with cleaning blades, etc., and also prevents corona during charging. Although it is particularly effective in preventing deterioration of the surface of the light-receiving member due to ozone and ions generated by discharge, the light-receiving member using the surface protective layer has insufficient electrophotographic properties such as charging ability and dark decay. However, when an image is formed using such a light-receiving member, there is a problem in that image quality may deteriorate, such as ghosts appearing on the image.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、電子写真用感光体等に用いられる光受容部材
における表面保護層に関わる上述の問題を解決して、長
期間にわたって所望の機能を奏するものとした改善され
た表面保護層を有する光受容部材を提供することを主た
る目的とするものである。
The present invention solves the above-mentioned problems related to the surface protective layer of a light-receiving member used in electrophotographic photoreceptors, etc., and provides a light-emitting device having an improved surface protective layer that exhibits desired functions over a long period of time. The main purpose is to provide a receiving member.

本発明の他の目的は、常時安定した帯電能を有し、長期
間にわたって優れた品質の画像が得られる電子写真用感
光体等に用いられる光受容部材を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a light-receiving member for use in electrophotographic photoreceptors and the like, which has a stable charging ability at all times and provides images of excellent quality over a long period of time.

(発明の構成) 本発明者らは、電子写真用感光体等に用いられる光受容
部材における表面保護層に関わる前述の諸問題を解決し
、上述の本発明の目的を達成すべく鋭意研究を重ねたと
ころ、水素原子又はハロゲン原子の少なくとも一方を含
有するダイヤモンド状炭素薄膜を表面保護層として用い
ることにより、前述の諸問題が解決するという知見を得
た。
(Structure of the Invention) The present inventors have conducted extensive research in order to solve the above-mentioned problems related to the surface protective layer of a light-receiving member used in an electrophotographic photoreceptor, etc., and to achieve the above-mentioned object of the present invention. As a result, it was found that the above-mentioned problems can be solved by using a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms as a surface protective layer.

即ち、水素原子又はハロゲン原子の少なくとも一方を含
有するダイヤモンド状炭素薄膜を電子写真感光体用光受
容部材の表面保護層として用いる場合、ダイヤモンド状
炭素R腹中に含有せしめた水素原子(H)又はハロゲン
原子(X)の少なくとも一方によってダイヤモンド状炭
素の未結合手が補償され、欠陥が非常に少ない表面保護
層が得られる6更に、ダイヤモンド薄膜中に水素原子又
はハロゲン原子の少なくとも一方が含有されることによ
り、ダイヤモンド薄膜を構成する夫々の原子の実効的な
配位数が減少し、該薄膜の欠陥が減少するとともに、該
層の下に設けられた他の層との音着性も改善されるとこ
ろとなる。
That is, when a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms is used as a surface protective layer of a light-receiving member for an electrophotographic photoreceptor, hydrogen atoms (H) or The dangling bonds of the diamond-like carbon are compensated by at least one of the halogen atoms (X), and a surface protective layer with very few defects is obtained.6 Furthermore, at least one of a hydrogen atom or a halogen atom is contained in the diamond thin film. As a result, the effective coordination number of each atom constituting the diamond thin film is reduced, defects in the thin film are reduced, and the adhesion with other layers provided below the layer is also improved. It will be a place where you can

こうしたことから、水素原子又はハロゲン原子の少なく
とも一方を含有するダイヤモンド状炭素薄膜で構成され
た表面保護層を存する電子写真感光体用の光受容部材は
、f電能が高く、暗減衰が少なく、高感光で、画像流れ
のない等の電子写真用感光体が有するべき諸特性に優れ
、更にm成約強度が強く、耐境性の良好なものを得るこ
とができる。
For these reasons, a light-receiving member for an electrophotographic photoreceptor that has a surface protective layer composed of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms has high f-power, low dark decay, and high It is possible to obtain a photoreceptor that is excellent in various characteristics that an electrophotographic photoreceptor should have, such as being photosensitive and free from image smearing, and further has a strong m contract strength and good environmental resistance.

本発明は、該知見に基づいて完成せしめたものであって
、その骨子とするところは、支持体と、該支持体上に、
シリコン原子を母体とし、水素原子又は、ハロゲン原子
のうちの少なくともいずれか一方を含有するアモルファ
ス材料で構成された光導電層と、表面保護層とを少なく
とも有する光受容層とからなる光受容部材において、前
記表面保護層が、水素原子又はハロゲン原子の少なくと
も一方を含有するダイヤモンド状炭素薄膜で11ζ成さ
れている光受容部材にある。
The present invention has been completed based on this knowledge, and its main points are a support, and on the support,
A photoreceptive member comprising a photoconductive layer made of an amorphous material based on silicon atoms and containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms, and a photoreceptor layer having at least a surface protective layer. In the light-receiving member, the surface protective layer is made of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms and halogen atoms.

本発明により提供される光受容部材は、その表面保護層
に特徴を有するものであるところ、支持体はもとより、
光導電層を始めとする他の構成層は用途目的に応じて任
意に選択することができる、 したがって以下に本発明
の光受容部材についてその層構成の典型例を、電子写真
用のものにする場合について説明するが本発明の光受容
部材はこれにより限定されるものではない。
The light-receiving member provided by the present invention is characterized by its surface protective layer, and in addition to the support,
Other constituent layers including the photoconductive layer can be arbitrarily selected depending on the purpose of use. Therefore, below, typical examples of the layer structure of the photoreceptive member of the present invention will be those for electrophotography. Although the case will be explained, the light receiving member of the present invention is not limited thereto.

第1(^)乃至(1)図は、電子写真用のものにした本
発明の光受容部材の層構成の典型的な例を模式的に示す
図である。
FIGS. 1(^) to (1) are diagrams schematically showing typical examples of the layer structure of the light-receiving member of the present invention for use in electrophotography.

第1(A)図に示す例は、支持体101上に、光導電層
102及び表面像jfF11o3をこの順に設けたもの
であり、表面保護層103は自由表面+07を有してい
る。
In the example shown in FIG. 1(A), a photoconductive layer 102 and a surface image jfF11o3 are provided in this order on a support 101, and a surface protective layer 103 has a free surface +07.

第1(B)図に示す例は、支持体上101に、電荷注入
阻止層104、光導電層102及び表面保護層LQIを
この順に設けたものである。
In the example shown in FIG. 1(B), a charge injection blocking layer 104, a photoconductive layer 102, and a surface protection layer LQI are provided in this order on a support 101.

第1 (C1図に示す例は、支持体上101に、長波長
光吸収層105、光導電層1G2及び表面保護層103
をこの順に設けたものである。
First (the example shown in FIG.
are arranged in this order.

第1(D)図に示す例は、支持体上ioiに、密着1i
110B、光導電層102及び表面保護F1103をこ
の順に設けたものである。
In the example shown in FIG. 1(D), the contact 1i is
110B, the photoconductive layer 102, and the surface protection F1103 are provided in this order.

第1(E)図に示す例は、電荷注入阻止W1104、密
着層106、光導電層102及び表面保護層103をこ
の順に設けたものであり、3@1(F)に示す例は、長
波長光吸収@ 105.密着1i1108.光4電層1
02及び表面保護層103をこの順に設けたものである
The example shown in FIG. 1(E) is the one in which the charge injection blocking W1104, the adhesive layer 106, the photoconductive layer 102, and the surface protective layer 103 are provided in this order, and the example shown in FIG. Wavelength light absorption @ 105. Close contact 1i1108. Photo 4 electric layer 1
02 and the surface protective layer 103 are provided in this order.

第1(6)図に示す例は、支持体上101に、長波長光
吸収層ios、電荷注入阻止層104、光導電層102
及び表面保護層103をこの順に設けたものであり、該
例においては長波長光吸収層105、及び電荷注入阻止
層104の順序を入れかえることもできる。
In the example shown in FIG. 1(6), a long wavelength light absorption layer ios, a charge injection blocking layer 104, a photoconductive layer 102 are provided on a support 101.
and a surface protection layer 103 are provided in this order, and in this example, the order of the long wavelength light absorption layer 105 and the charge injection blocking layer 104 can be changed.

第1(H)図に示す例は、支持体上101に、長波長光
吸収層105、電荷注入阻止191104.光導電層L
Q2及び表面保護層103をこの順に設けたものである
The example shown in FIG. 1(H) includes a support 101, a long wavelength light absorption layer 105, a charge injection blocking layer 191104. Photoconductive layer L
Q2 and the surface protection layer 103 are provided in this order.

第1(11図に示す例は、支持体上101に、電荷注入
阻止FJto4.光導電層102、中間1+ji 10
8及び表面保護層103をこの順に設けたものである。
1st (the example shown in FIG. 11 is a photoconductive layer 102, a charge injection blocking FJto4.
8 and the surface protective layer 103 are provided in this order.

本発明の光受容部材に用いる支持体+01は、導電性の
ものであっても、また電気絶縁性のものであってもよい
、導電性支持体としては、例えば、NiCr、ステンレ
ス、AQ、 I:r、Mo、^u、 Nb、 Ta、V
、 Ti、Pt、Pb等の金属又はこれ等の合金が挙げ
られる。
The support +01 used in the light-receiving member of the present invention may be electrically conductive or electrically insulating. Examples of the electrically conductive support include NiCr, stainless steel, AQ, I :r, Mo, ^u, Nb, Ta, V
, Ti, Pt, Pb, or alloys thereof.

電気絶縁性支持体としては、ポリエステル、ポリエチレ
ン、ポリカーボネート、セルロースアセテート、ポリプ
ロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリ
スチレン、ポリアミド等の合成樹脂のフィルム又はシー
ト、ガラス、セラミック、紙等が挙げられる。これ等の
電気絶縁支持体は、好適には少なくともその一方の表面
を導電処理し、該1電処理された表面側に先受客層を設
けるのが望ましい。
Examples of the electrically insulating support include films or sheets of synthetic resins such as polyester, polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polystyrene, and polyamide, glass, ceramic, paper, and the like. It is preferable that at least one surface of these electrically insulating supports is electrically conductive treated, and that a pre-ordered customer layer is provided on the electrically conductive treated surface side.

例えばガラスであれば、その表面に、NiCr、ハQ、
   Cr、Mo、Au、Ir、Nb、Ta、V、Ti
、Pt、Pd、+nO3、ITO(Inxo、+Sn)
等から成る薄膜を設けることによって導電性を付与し、
或いはポリエステルフィルム等の合成樹脂フィルムであ
れば、NiCr、八Q、 Ag、Pb、Zn、Ni、^
u、Cr、Mo、Ir、Nb、Ta、V、TIQ、Pt
等の金属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタ
リング等でその表面に設け、又は前記金属でその表面を
ラミネート処理して、その表面に導電性を付与する。支
持体の形状は平滑表面或いは凹凸表面の板状無端ベルト
状又は円筒状等であることができ、その厚さは、所望通
りの光受容部材を形成しつる用に適宜決定するが、光受
容部材としての可撓性が要求される場合には、支持体と
しての機能が充分発揮される範囲内で可能な限り薄くす
ることができる。しかしながら、支持体の製造上及び取
り扱い上、機成的強度等の点から、通常は、10μ以上
とされる。
For example, if it is glass, NiCr, HaQ,
Cr, Mo, Au, Ir, Nb, Ta, V, Ti
, Pt, Pd, +nO3, ITO (Inxo, +Sn)
By providing a thin film consisting of etc., conductivity is imparted,
Or, if it is a synthetic resin film such as polyester film, NiCr, 8Q, Ag, Pb, Zn, Ni, ^
u, Cr, Mo, Ir, Nb, Ta, V, TIQ, Pt
Conductivity is imparted to the surface by providing a thin film of metal such as by vacuum evaporation, electron beam evaporation, sputtering, etc., or by laminating the surface with the metal. The shape of the support can be a plate, an endless belt, a cylinder, etc. with a smooth surface or an uneven surface, and its thickness is determined as appropriate to form a desired light-receiving member. When flexibility as a member is required, it can be made as thin as possible within a range that allows the function as a support to be fully exhibited. However, from the viewpoint of manufacturing and handling of the support, mechanical strength, etc., the thickness is usually set to 10μ or more.

第1(8)図に示す本発明の光受容部材において、支持
体101 と光導電N102の間に設けられる電荷注入
阻止層+04は、光4電層102がf電処理を受けた際
に支持体側から光導電層102中に電子がイ王大される
ことを阻止するために設けられる層であり、該電荷注入
阻止層104は、水素、又は多結晶シリコン(以後、’
p01y−5i (H,X)、と呼称する、)、あるい
は両者を含むいわゆる非単結晶シリコン(以後、’No
n−5t (11,X) J と呼称する。)〔なお、
微結晶質シリコンと通称されるものはa−S+に分類さ
れる。〕に、周期律表第1II族に属する原子(以後、
車に「第1II族原子」と称す。)または周期律表第V
族に属する原子(以後、車に「第V族原子」と称す、)
を含有せしめたもので構成されている。
In the photoreceptive member of the present invention shown in FIG. 1 (8), the charge injection blocking layer +04 provided between the support 101 and the photoconductive layer 102 supports This layer is provided to prevent electrons from being injected into the photoconductive layer 102 from the body side, and the charge injection blocking layer 104 is made of hydrogen or polycrystalline silicon (hereinafter referred to as '').
p01y-5i (H,
It is called n-5t (11,X) J. )〔In addition,
What is commonly called microcrystalline silicon is classified as a-S+. ], atoms belonging to Group 1II of the periodic table (hereinafter,
Cars are called "Group 1 II atoms". ) or periodic table V
Atoms belonging to Group V (hereinafter referred to as "Group V atoms")
It is made up of something containing.

該電荷注入阻止層104に含有せしめる第1II族原子
としては、具体的には、B(硼素)、M (アルミニウ
ム)、Ga(ガリウム)、In(インジウム1.Tl1
l(タリウム)等を用いることができるが、特に好まし
いものは、B、Gaである。また第V族原子としては、
具体的には、P(燐)、As(砒素)、sb(アンチそ
ン)、Bi  (ビスマス)等を用いることができるが
、特に好ましいものはP、Asである。そして電荷注入
阻止層:層104に含有せしめる第1II族原子又は第
V族原子の量は3〜5 X lO’atomic pp
m、好ましくは50〜1  x  lo’atomic
  ppm、   1  x  10”  〜 5  
x  103atoIIlicpp111 とすること
が望ましい。
Specifically, the Group 1 II atoms contained in the charge injection blocking layer 104 include B (boron), M (aluminum), Ga (gallium), In (indium 1.Tl1
Although thallium (l) and the like can be used, particularly preferred are B and Ga. In addition, as group V atoms,
Specifically, P (phosphorus), As (arsenic), sb (antisulfur), Bi (bismuth), etc. can be used, but P and As are particularly preferred. The amount of Group 1 II atoms or Group V atoms contained in the charge injection blocking layer 104 is 3 to 5 X lO'atomic pp.
m, preferably 50 to 1 x lo'atomic
ppm, 1 x 10” ~ 5
x 103atoIIlicpp111 is preferable.

又、電荷注入阻止層104中に含有せしめるハロゲン原
子又は水素原子の量は、lXl0’〜7×10’ at
omic ppmとし、特にpoly−5i(H,Xl
で構成される場合には好ましくはI X 103〜2 
X 105105ato ppmとし、a−5i(H,
X) で構成される場合にはI X 10’ 〜6 x
 lo’atomjc ppmとすることが望ましい、
 更に、本発明の光受容部材の電荷注入阻止層+04の
層厚は0.03〜15μ、好ましくは004〜lOμ、
最適には005〜8μとするのが望ましい。
Further, the amount of halogen atoms or hydrogen atoms contained in the charge injection blocking layer 104 is lXl0' to 7x10' at
omic ppm, especially poly-5i (H,
Preferably I x 103~2
X 105105ato ppm, a-5i(H,
X) if it is composed of I X 10' ~ 6 x
It is desirable to set lo'atomjc ppm,
Furthermore, the layer thickness of the charge injection blocking layer +04 of the photoreceptive member of the present invention is 0.03 to 15μ, preferably 004 to 1Oμ,
The optimum value is 005 to 8μ.

纂1 (C>図に示す本発明の光受容部材において、支
持体101と光導電N102との間に設けられる長波長
光吸収層+05は、ゲルマニウム原子(Ge)又はスズ
原子(Sn)のうちの少なくとも一方を含有するNon
−5i (H,X)で構成される層であり、露光光源と
してレーザー光等の長波長光を用いた際に、光導電N1
02において吸収しきれなかった長波長光を該長波長光
吸収層105が効率的に吸収することにより、支持体1
01表面での長波長光の反射による干渉現象の現出を顕
著に防止する機能を存するものである。そして該長波長
光@収jig 105中に含有せしめるGe原子の量又
はSn原子の量あるいはそれらの和は、1〜lO’at
omic ppm、好ましくは1x 102〜9 X 
10’ Mtomic ppm、より好ましくは5x 
10’ 〜8 x 10’ atomic ppmとす
ることが望ましい。また長波長光吸収層105中に含有
せしめる水素原子又はハロゲン原子の量は、好ましくは
1×10’ 〜3 x 10’atomic ppmと
することが望ましく、特にpoly−3i (Ge、S
n) (H,X)の場合好ましくは1 x 103〜2
 X 105atollIic ppm とし、a−5
1(Ge。
Summary 1 (C> In the light-receiving member of the present invention shown in the figure, the long-wavelength light absorption layer +05 provided between the support 101 and the photoconductive layer 102 is composed of germanium atoms (Ge) or tin atoms (Sn). Non containing at least one of
-5i (H,
02, the long wavelength light absorption layer 105 efficiently absorbs the long wavelength light that could not be completely absorbed in the support 1.
It has the function of significantly preventing the appearance of interference phenomena due to reflection of long wavelength light on the 01 surface. The amount of Ge atoms, the amount of Sn atoms, or the sum thereof contained in the long wavelength light @ collection jig 105 is 1 to lO'at
omic ppm, preferably 1x 102-9X
10' Mtomic ppm, more preferably 5x
It is desirable to set it as 10'-8 x 10' atomic ppm. Further, the amount of hydrogen atoms or halogen atoms contained in the long wavelength light absorption layer 105 is preferably 1 x 10' to 3 x 10' atomic ppm, particularly poly-3i (Ge, S
n) (H,X) preferably 1 x 103~2
X 105atollic ppm, a-5
1 (Ge.

Sn) (l(、X)の場合好ましくはl XIO’ 
〜6 XIO’atomic ppmとすることが望ま
しい。
Sn) (In the case of l(,X), preferably l XIO'
It is desirable to set it as 6 XIO'atomic ppm.

更に本発明の光受容部材における長波長光吸収層105
の層厚は、0.05〜25μ、好ましくは007〜20
μ、最適には、0.1〜15μとするのが望ましい。
Furthermore, the long wavelength light absorption layer 105 in the light receiving member of the present invention
The layer thickness is 0.05-25μ, preferably 0.07-20μ
μ, optimally, it is desirable to set it to 0.1 to 15 μ.

”51 (D)図に示す本発明の光受容部材において、
支持体lot と光導電層102との間に設けられる密
着層106は、支持体101 と光導電層102 との
密着性を改善せしめる機能を奏する層であって、酸素原
子、炭素原子および窒素原子の中から選ばれる少なくと
も一種を含有するNon−5i [)1.X) I以後
、’Non−5i(0,(:、N) (H,X)Jと表
記する。)で構成されている。そして該密着層106中
に含有せしめる酸素原子炭素原子、窒素原子の量、又は
それらの中の少なくとも2つ以上の和は、100〜9 
X 10’atomic ppm好ましくは 1O(1
−4X 10’ atomic ppmとすることが望
ましい。また、該密着層106中に含有せしめる水素原
子又はハロゲン原子の量あるいはそれらの和は好ましく
はlO〜7 X I05atomicppI11とし、
特にpoly−5+(0,C,N) (H,X)の場合
には10〜2 x lO’atomic ppm、a−
5i(0,C,N) (H,X)の場合にはI x 1
03〜7 x lo5atomic ppmとすること
が望ましい。
"51 (D) In the light receiving member of the present invention shown in FIG.
The adhesive layer 106 provided between the support 101 and the photoconductive layer 102 is a layer that functions to improve the adhesion between the support 101 and the photoconductive layer 102, and contains oxygen atoms, carbon atoms, and nitrogen atoms. Non-5i containing at least one selected from the following [)1. X) After I, it is composed of 'Non-5i (denoted as 0, (:, N) (H, X) J). The amount of oxygen atoms, carbon atoms, and nitrogen atoms contained in the adhesive layer 106, or the sum of at least two of them, is 100 to 9.
X 10'atomic ppm preferably 1O(1
-4X 10' atomic ppm is desirable. Further, the amount of hydrogen atoms or halogen atoms contained in the adhesion layer 106 or the sum thereof is preferably lO~7 x I05atomicppI11,
Especially in the case of poly-5+(0,C,N)(H,X), 10 to 2 x lO'atomic ppm, a-
5i(0,C,N) (H,X) then I x 1
It is desirable to set it as 03-7 x lo5 atomic ppm.

ところで、本発明の光受容部材における電荷注入阻止層
+04、長波長光吸収層+05及び密着層105は、こ
れらを組み合わせて用いることが可能であり、その典型
的な例を示したものが第1(E)図乃至(1()図であ
る。
By the way, the charge injection blocking layer +04, the long wavelength light absorbing layer +05, and the adhesion layer 105 in the light receiving member of the present invention can be used in combination, and the first example shows a typical example thereof. (E) to (1()).

更に、本発明の光受容部材においては、電荷注入阻止層
【04又は長波長光吸収層105中に酸素原子、炭素原
子及び窒素原子の中から選ばれる少なくとも一種を含有
せしめることにより、これらの層に密着層としての機能
を兼ねそなえさせることも可能であり、また、長波長光
吸収層105中に第1I+族原子又は第■族原子を含有
せしめるか、あるいは電荷注入阻止層104中にゲルマ
ニウム原子又はスズ原子を含有せしめることにより、こ
れら両層の機能を兼ねそなえた層とすることができる。
Furthermore, in the light-receiving member of the present invention, by containing at least one selected from oxygen atoms, carbon atoms, and nitrogen atoms in the charge injection blocking layer 04 or the long wavelength light absorption layer 105, these layers It is also possible to make the long-wavelength light absorption layer 105 contain Group I+ atoms or Group II atoms, or the charge injection blocking layer 104 may contain germanium atoms. Alternatively, by containing tin atoms, a layer having both of the functions of these layers can be obtained.

ところで、本発明の光受容部材における電荷注入阻止層
104、長波長光吸収層105及び密着1i110Bは
、 Non−5i (H,X)を母体とする材料で構成
されているが、poly−Si (H,X)で構成され
る層を形成するについては種々の方法があり、例えば次
のような方法があげられる。
By the way, the charge injection blocking layer 104, the long wavelength light absorption layer 105, and the adhesion layer 1i 110B in the light receiving member of the present invention are made of a material based on Non-5i (H,X), but poly-Si ( There are various methods for forming a layer composed of H, X), including the following methods.

その1つの方法は、基体温度を高温、具体的には400
〜450℃に設定し、該基体上にプラズマCVD法によ
り膜を堆積せしめる方法である。
One method is to raise the substrate temperature to a high temperature, specifically 400℃.
In this method, the temperature is set at ~450° C., and a film is deposited on the substrate by plasma CVD.

他の方法は、基体表面に先ずアモルファス状の膜を形成
、即ち、基体温度を約250℃にした基体上にプラズマ
CVD法により膜を形成し、該アモルファス状の膜をア
ニーリング処理することによりpoly化する方法であ
る。該アニーリング処理は、基体を400〜450℃に
約20分間加熱するか、あるいは、レーザー光を約20
分間照射することにより行なわれる。
Another method is to first form an amorphous film on the surface of the substrate, that is, to form the film by plasma CVD on the substrate whose temperature is about 250°C, and then annealing the amorphous film. This is a method of The annealing process involves heating the substrate to 400-450°C for about 20 minutes, or applying laser light for about 20 minutes.
This is done by irradiating for a minute.

本発明の光受容部材の光導電層102は、a−5t(H
The photoconductive layer 102 of the light receiving member of the present invention is a-5t(H
.

X)またはa−5t(Ge、Sn) ()1.X)で構
成され、先導仏性を有する層であって、該層にはさらに
、第1II族原子又は第■族原子又は/及び酸素原子、
炭素原子及び窒素原子の中から選ばれる少なくとも一種
を含有せしめることができる。
X) or a-5t(Ge, Sn) ()1. X) and has a leading-edge property, the layer further contains a group 1II atom or a group Ⅰ atom or/and an oxygen atom,
At least one type selected from carbon atoms and nitrogen atoms can be contained.

光導電層102中に含有せしめるハロゲン原子(X)と
しては、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げ
られ、特にフッ素、塩素を好適なものとして挙げること
ができる。そして光4電層102中に含有せしめる水素
原子(H)の量又はハロゲン原子(X)の王、あるいは
水素原子とハロゲン原子の量の和(H十X)は、好まし
くは1〜40atoa+ic魁より好ましくは5〜30
atomic ’l+とするのが望ましい。 また、光
導電層102中に第1II族原子原子又は第V族原子を
含有せしめる目的は、光導電層+02の伝導性を制御す
ることにある。このような第11+族原子及び第V族原
子としては、前述の電荷注入阻止層104中に含有せし
めるものと同様のものを用いることができるが、光導電
層102に含有せしめる場合には、電荷注入阻止層10
4に含有せしめたものとは逆の極性のものを含有せしめ
るか、あるいは電荷注入阻止層104に含有せしめたも
のと同極性のものを該層104に含有される量より一段
と少ない量にして含有せしめることができる。
Specific examples of the halogen atoms (X) contained in the photoconductive layer 102 include fluorine, chlorine, bromine, and iodine, with fluorine and chlorine being particularly preferred. The amount of hydrogen atoms (H) or the amount of halogen atoms (X) contained in the photovoltaic layer 102, or the sum of the amounts of hydrogen atoms and halogen atoms (H×X) is preferably from 1 to 40 atoa+ic. Preferably 5-30
It is desirable to use atomic 'l+. Further, the purpose of containing Group 1 II atoms or Group V atoms in the photoconductive layer 102 is to control the conductivity of the photoconductive layer +02. As such Group 11+ atoms and Group V atoms, the same atoms as those contained in the charge injection blocking layer 104 described above can be used, but when they are contained in the photoconductive layer 102, charge Injection blocking layer 10
4 contains a substance of opposite polarity to that contained in the charge injection blocking layer 104, or contains a substance of the same polarity as that contained in the charge injection blocking layer 104 in an amount much smaller than that contained in the layer 104. You can force it.

光導電層102中に含有せしめる第1II族原子又は第
V族原子の量は、好ましくはI X 10−3〜1×t
o’ atomic ppm、より好ましくは5xlO
−2〜5x10’ atomic ppIll、最適に
はI X 10−’〜2 X 102102ato p
pmとすることが望ましい。
The amount of Group 1 II atoms or Group V atoms contained in the photoconductive layer 102 is preferably I x 10-3 to 1 x t
o' atomic ppm, more preferably 5xlO
-2 to 5x10' atomic ppIll, optimally I x 10-' to 2 x 102102ato p
It is desirable to set it to pm.

また光導電層102中に、酸素原子、炭素原子及び窒素
原子の中から運ばれる少なくとも一種を含有せしめる目
的は、光4電層102の高暗抵抗化をはかるとともに、
光導電層102の膜品買を向上せしめることにある。そ
して、光導電層102に含有せしめるこうした原子の量
は、好ましくは1×10−’〜50atomic%、よ
り好ましくは2 X 10−’ 〜40atomicl
、最適には3 x to−3〜3Gatomic%とす
るのが望ましい。
Further, the purpose of containing at least one type of oxygen atom, carbon atom, and nitrogen atom in the photoconductive layer 102 is to increase the dark resistance of the photoconductive layer 102 and to
The objective is to improve the film quality of the photoconductive layer 102. The amount of these atoms contained in the photoconductive layer 102 is preferably 1 x 10-' to 50 atomic%, more preferably 2 x 10-' to 40 atomic%.
, it is optimally desirable to set it to 3 x to-3 to 3 Gatomic%.

更に、光導電F1102中に、ゲルマニウム原子(Ge
)又はスズ原子(Sn)のうちの少なくとも一方を含有
せしめることができるが、こうした原子を含有せしめる
目的は、レーザー光などの長波長光に対する感度を向上
せしめることにあり、この場合、光導電層102中に含
有せしめるこれらの原子の量は、好ましくは1〜9.5
 x lO’ajomic ppmとするのが望ましい
Furthermore, germanium atoms (Ge) are added to the photoconductive F1102.
) or tin atoms (Sn), but the purpose of containing such atoms is to improve the sensitivity to long wavelength light such as laser light, and in this case, the photoconductive layer The amount of these atoms contained in 102 is preferably 1 to 9.5
It is desirable to set the amount to x lO'ajomic ppm.

また、本発明の光受容部材において、光導電層の層厚は
、本発明の目的を効率的に達成するには重要な要因の1
つであって、光受容部材に所望の特性が与えられるよう
に、光受容部材の設計の際には充分な注意を払う必要が
あり、通常は1〜100μとするが、好ましくは3〜8
0μ、最適には5〜50μとする。
In addition, in the light-receiving member of the present invention, the layer thickness of the photoconductive layer is one of the important factors for efficiently achieving the object of the present invention.
In order to give the light-receiving member the desired characteristics, it is necessary to pay sufficient attention when designing the light-receiving member, and the thickness is usually 1 to 100μ, but preferably 3 to 8
0μ, optimally 5 to 50μ.

本発明の光受容部材において特徴とするところの表面保
護層103は、前述の光導電層102上に位置して設け
られ、自由表面107を有するものである。そして該表
面保護層103は、光受容部材に要求される諸特性、即
ち、耐湿性、連続繰り返し使用特性、電気的耐圧性、使
用環境特性、および耐久性等を向上せしめる、特に光受
容部材表面の機械的損傷おおよびコロナ放電により生じ
るイオンやオゾンにより変質を防止する機能を有すると
共に、帯電能および暗減衰等の電子写真特性が優れてお
り、画像形成時における画像流れや残留電位の発生を有
効に防止する機能を奏するものである。
The surface protection layer 103, which is a feature of the light-receiving member of the present invention, is provided on the photoconductive layer 102 described above and has a free surface 107. The surface protective layer 103 improves various properties required of a light-receiving member, such as moisture resistance, continuous repeated usage characteristics, electrical pressure resistance, use environment characteristics, and durability, and particularly, the surface of the light-receiving member. It has the function of preventing mechanical damage and deterioration due to ions and ozone generated by corona discharge, and has excellent electrophotographic properties such as charging ability and dark decay, and prevents image deletion and residual potential during image formation. It has an effective prevention function.

かくなる本発明の光受容部材の表面保護FiL(13は
、水素原子又はハロゲン原子の少なくとも一方を含有す
るダイヤモンド状炭素薄膜で構成されるものであり、該
表面保護層103中に含有せしめる水素原子又はハロゲ
ン原子の量、あるいはそれらの量の和は、1 x 10
’ 〜4 x 10’ atomic ppmとする。
The surface protection FiL of the light receiving member of the present invention (13 is composed of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms, and the hydrogen atoms contained in the surface protection layer 103) Or the amount of halogen atoms or the sum of those amounts is 1 x 10
'~4 x 10' atomic ppm.

本発明の光受容部材においては、表面保護層103の層
厚も本発明の目的を効率的に達成するために重要な要因
の1つであり、所望の目的に応じて適宜決定されるもの
であるが、表面保護層に含有せしめる構成原子の量、あ
るいは表面保護層に要求される特性に応じて相互的かつ
有機的関連性の下に決定する必要がある。更に生産性や
量産性も加味した経済性の点においても考慮する必要も
ある。
In the light-receiving member of the present invention, the layer thickness of the surface protective layer 103 is also one of the important factors for efficiently achieving the purpose of the present invention, and may be determined as appropriate depending on the desired purpose. However, it is necessary to decide based on mutual and organic relationships depending on the amount of constituent atoms contained in the surface protective layer or the properties required of the surface protective layer. Furthermore, it is also necessary to consider economic efficiency, including productivity and mass production.

こうしたことから、本発明の光受容部材の表面保護層1
03の層厚は、好ましくは0.003〜30μ、より好
ましくは0.004〜20μ、最適には0.005〜1
0μである。
For these reasons, the surface protective layer 1 of the light-receiving member of the present invention
The layer thickness of 03 is preferably 0.003-30μ, more preferably 0.004-20μ, optimally 0.005-1
It is 0μ.

更に本発明の光受容部材においては、前述の表面保護層
103 と光導;層102 との間に中間層108を形
成せしめてもよい、該中間層108は、炭素原子を含有
するa−5i(H,X)又はpoly−5i (H,X
)で構成されており、該中間層108中に含有せしめる
炭素原子の量は、好ましくは20〜90atomic%
、より好ましくは30〜85aセom1c%、最適には
40〜80atomic%とすることが望ましい、また
該中間層108中に含有せしめる水素原子(H)の量、
ハロゲン原子(×)の量、及び水素原子+ハロゲン原子
(H+X)の量は、好ましくは1〜70atomic%
、より好ましくは2〜65atomfc%、最適には5
〜60ajomic%とするのが望ましい。さらに該中
間層108の層厚は、好ましくは0.003〜30μ転
より好ましくは0.0G4〜20μm、最適には0.0
05〜10μmとするのが望ましい。
Furthermore, in the light-receiving member of the present invention, an intermediate layer 108 may be formed between the surface protective layer 103 and the light-guiding layer 102, and the intermediate layer 108 is composed of a-5i ( H,X) or poly-5i (H,X
), and the amount of carbon atoms contained in the intermediate layer 108 is preferably 20 to 90 atomic%.
The amount of hydrogen atoms (H) contained in the intermediate layer 108 is more preferably 30 to 85 atomic %, and most preferably 40 to 80 atomic %.
The amount of halogen atoms (x) and the amount of hydrogen atoms + halogen atoms (H + X) are preferably 1 to 70 atomic%
, more preferably 2 to 65 atom fc%, optimally 5
It is desirable to set it to 60 ajomic%. Further, the layer thickness of the intermediate layer 108 is preferably 0.003 to 30 μm, more preferably 0.0G4 to 20 μm, and most preferably 0.0G4 to 20 μm.
It is desirable to set it as 05-10 micrometers.

次に、本発明の光受容部材の構成層の形成方法について
説明する。
Next, a method for forming the constituent layers of the light-receiving member of the present invention will be explained.

本発明の光受容部材を構成する非晶質材料は、いずれも
グロー放電法(低周(fLCVD、高周波CVO又はマ
イクロ彼CVD等の交流数T1.CvD、あるいは直流
放電CVD等)、スパッタリング法、真空蒸着法、イオ
ンブレーティング法、光CVD法、熱CVD法などの種
々の薄膜堆積法によって成形することができる。これら
の薄膜堆積法は、製造条件、設備資本投下の負荷程度、
製造規模、作成される光受容部材に所望される特性等の
要因によって適宜選択されて採用されるが、所望の特性
を有する光受容部材を製造するに当っての条件の制御が
比較的容易であり、シリコン原子と共にハロゲン原子及
び水素原子の導入を容易に行い得る等のことからして、
グロー放電法或いはスパッタリング法が好適である。そ
して、グロー放電法とスパッタリング法とを同一装置系
内で併用して形成してもよい。
The amorphous material constituting the light-receiving member of the present invention can be prepared using a glow discharge method (low frequency (fLCVD, high frequency CVO or micro-CVD, AC frequency T1.CvD, or direct current discharge CVD, etc.), sputtering method, etc. It can be formed by various thin film deposition methods such as vacuum evaporation, ion blating, photo CVD, and thermal CVD.
The method is selected and adopted as appropriate depending on factors such as the production scale and the desired characteristics of the light-receiving member to be produced, but it is relatively easy to control the conditions for producing a light-receiving member with the desired characteristics. However, since halogen atoms and hydrogen atoms can be easily introduced together with silicon atoms,
Glow discharge method or sputtering method is suitable. Further, the glow discharge method and the sputtering method may be used together in the same apparatus system.

例えば、グロー放電法により、水素原子又はハロゲン原
子の少なくとも一方を含有するダイヤモンド状炭素薄膜
で構成される表面保護層を形成するには、基本的には炭
素原子(C)を供給し得るC供給用の原料ガスと、窒素
原子(N)を供給し得るN供給用の原料ガスと、必要に
応じて水素原子(H)4人用又は/及びハロゲン原子(
X) 4人用の原料ガスとを、内部が減圧にし得る堆積
室内に8人して、該堆積室内にグロー放電を生起させ、
堆積膜を形成する。
For example, in order to form a surface protective layer composed of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms by a glow discharge method, basically a C supply that can supply carbon atoms (C) is required. A raw material gas for N supply that can supply nitrogen atoms (N), and a raw material gas for N supply that can supply hydrogen atoms (H) or/and halogen atoms (
X) A source gas for 4 people is placed in a deposition chamber that can have a reduced pressure inside, and 8 people are placed in the deposition chamber to generate a glow discharge in the deposition chamber,
Form a deposited film.

前記C供給用の原料ガスとしては、飽和炭化水素化合物
(CnH2n−2,n≦10)、エチレン系炭化水素化
合物(CnH2n、n≦10)、アセチレン系炭化水素
化合物(’:nH2n−2.n≦lO)、環状炭化水素
化合物アルいはこれらのハロゲン化化合物等のガス状態
の又はガス化しつる化合物が挙げられる。具体的には、
飽和炭化水素化合物又はハロゲン化飽和炭化水素化合物
としてClh 、C2H6、C5Hs、CF4、CH3
F、C2H3F 、CCl4等、エチレン系炭化水素化
合物としてC21(4、GHz−C)I−CHt等、環
状炭化水素化合物としてベンゼン、トルエン、キシレン
、アダマンタノン等があげられる。
The raw material gas for C supply includes saturated hydrocarbon compounds (CnH2n-2, n≦10), ethylene hydrocarbon compounds (CnH2n, n≦10), and acetylene hydrocarbon compounds (':nH2n-2.n). ≦lO), cyclic hydrocarbon compounds, or halogenated compounds thereof, which are in a gaseous state or can be gasified. in particular,
Clh, C2H6, C5Hs, CF4, CH3 as saturated hydrocarbon compounds or halogenated saturated hydrocarbon compounds
Examples of the cyclic hydrocarbon compounds include benzene, toluene, xylene, adamantanone, and the like.

また、前記H供給用の原料ガスおよびX供給用原料ガス
としては、水素ガス、フッ素、塩素、臭素、オウ素のハ
ロゲンガス、HF、 1−ICI 、 HBr、HI、
等のハロゲン化水素化合物、BrF 、 CIF 、 
(Ih、BrF、、[1rF3、[Ft 、Ill:l
 、EBr等のハロゲン間化合物等のガス状態の又はガ
ス化し得る化合物があげられる。
In addition, the raw material gas for supplying H and the raw material gas for supplying X include hydrogen gas, halogen gases such as fluorine, chlorine, bromine, and urin, HF, 1-ICI, HBr, HI,
Hydrogen halides such as BrF, CIF,
(Ih, BrF, , [1rF3, [Ft , Ill:l
Examples include gaseous or gasifiable compounds such as interhalogen compounds such as , EBr, and the like.

また、スパッタリング法によって表面保護層を形成する
には、ターゲットとしてC(グラファイト)ターゲット
を用い、前記H供給用原料ガス及び/又はX供給用原料
ガスを計等の不活性ガスと共に堆積室内に導入してプラ
ズマ雰囲気を形成し、前記Cターゲットをスパッタリン
グすることによって形成される。
In addition, in order to form a surface protective layer by a sputtering method, a C (graphite) target is used as a target, and the raw material gas for H supply and/or the raw material gas for X supply is introduced into the deposition chamber together with an inert gas such as a gas. The C target is formed by sputtering the C target in a plasma atmosphere.

また、グロー放電法によって、a−5i(H,X)で構
成される層を形成するには、基本的にはシリコン原子(
Si)を供給し得るSi供給用の原料ガスと共に、水素
原子(+1)導入用の文は/及びハロゲン原子(×)導
入用の原料ガスを、内部が減圧にし得る堆積室内に導入
して、該堆積室内にグロー放電を生起させ、予め所定位
置に設置した所定の支持体表面上にa−5t(H,X)
から成る層を形成する。
Furthermore, in order to form a layer composed of a-5i(H,X) by the glow discharge method, basically silicon atoms (
Introducing a source gas for introducing hydrogen atoms (+1) and/or a source gas for introducing halogen atoms (x) into a deposition chamber whose interior can be made under reduced pressure, along with a source gas for supplying Si that can supply Si), A glow discharge is generated in the deposition chamber, and a-5t (H,
form a layer consisting of

前記Si供給用のガスとしては、SiH4,5i2)1
..5iJ6、SiJ+o等のガス状態の又はガス化し
得る水素化硅素(シラン類)が挙げられ、特に、層形成
作業のし易さ、Si供給効率の良さ等の点で、51+1
4、Si2H6が好ましい。
The gas for supplying Si is SiH4,5i2)1
.. .. Examples include silicon hydride (silanes) in a gaseous state or that can be gasified, such as 5iJ6 and SiJ+o. In particular, 51+1
4, Si2H6 is preferred.

また、前記ハロゲン原子導入用の原料ガスとしては、多
くのハロゲン化合物が挙げられ、例えばハロゲンガス、
ハロゲン化物、ハロゲン間化合物、ハロゲンで置換され
たシラン誘導体等のガス状態の又はガス化しつるハロゲ
ン化合物が好ましい。具体的にはフッ素、塩素、臭素、
ヨウ素のハロゲンガス、BrF、 (:IF、(:IF
s、BrF5. BrF5、IFy、[1、IBr等の
ハロゲン間化合物、およびSiF4、Si、F6.5i
l14.5i8r4等のハロゲン化硅素が挙げられる。
Further, as the raw material gas for introducing halogen atoms, there are many halogen compounds, such as halogen gas,
Gaseous or gasified halogen compounds such as halides, interhalogen compounds, and halogen-substituted silane derivatives are preferred. Specifically, fluorine, chlorine, bromine,
Iodine halogen gas, BrF, (:IF, (:IF
s, BrF5. Interhalogen compounds such as BrF5, IFy, [1, IBr, etc., and SiF4, Si, F6.5i
Examples include silicon halides such as 114.5i8r4.

上述のごときハロゲン化硅素のガス状態の又はガス化し
うるものを用いる場合には、Si供給用の原料ガスを別
途使用することなくして、ハロゲン原子を含有するa−
5iで構成された層が形成できるので、特に有効である
When using a gaseous silicon halide or one that can be gasified as described above, a-
This is particularly effective since a layer composed of 5i can be formed.

また、前記水素原子供給用の原料ガスとしては、水素ガ
ス、HF、 HCI 、 )IBr 、 HI等のハロ
ゲン化物、S+H4,5lz)Is 、5t=Ha 、
5I4H1゜等の水素化硅素、あるいは5i)12F2
.5i)1,1□、5iH2C1□、Sil+Ch、5
iH2Br2 、5iHBr3、等のハロゲン買換水素
化硅素等のガス状態の又はガス化しつるものを用いるこ
とができ、これらの原料ガスを用いた場合には、電気的
あるいは充電的特性の制御という点で極めて有効である
ところの水素原子(H)の含有量の制御を容易に行うこ
とができるため、有効である。
Further, as the raw material gas for supplying hydrogen atoms, hydrogen gas, HF, HCI, halides such as )IBr, HI, S+H4,5lz)Is, 5t=Ha,
Silicon hydride such as 5I4H1゜, or 5i) 12F2
.. 5i) 1,1□, 5iH2C1□, Sil+Ch, 5
Gaseous or gasified materials such as halogen-purchased silicon hydrides such as iH2Br2 and 5iHBr3 can be used, and when these raw material gases are used, there are problems in terms of controlling electrical or charging characteristics. This is effective because the content of hydrogen atoms (H), which is extremely effective, can be easily controlled.

そして、前記ハロゲン化水素又は前記ハロゲン置換水素
化硅素を用いた場合にはハロゲン原子の導入と同時に水
素原子(H)も導入されるので、特に有効である。
When the hydrogen halide or the halogen-substituted silicon hydride is used, hydrogen atoms (H) are also introduced at the same time as the halogen atoms, which is particularly effective.

反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依ってa−5i(l(、X)から成る層を形成するには
、例えばスパッタリング法の場合には、ハロゲン原子を
導入するについては、前記のハロゲン化合物又は前記の
ハロゲン原子を含む硅素化合物のガスを堆積室中に導入
して該ガスのプラズマ7囲気を形成してやればよい。
In order to form a layer consisting of a-5i(l(, The silicon compound gas containing the halogen atoms described above may be introduced into the deposition chamber to form a plasma 7 surrounding the gas.

又、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料ガス、例えば、+2或いは前記したシラン類等のガス
をスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプラ
ズマ;囲気を形成してやればよい。
In addition, when introducing hydrogen atoms, a raw material gas for introducing hydrogen atoms, such as +2 or the above-mentioned silane gases, is introduced into the deposition chamber for sputtering to form a plasma of the gas; an surrounding atmosphere. Bye.

例えば、反応スパッタリング法の場合には、Siターゲ
ットを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH2ガス
を必要に応じてHe、 Ar等の不活性ガスも含めて堆
積室内に導入してプラズマ;囲気を形成し、前記Siタ
ーゲットをスパッタリングすることによりて、支持体上
にa−Si(H,X)から成る層を形成する。
For example, in the case of the reactive sputtering method, a Si target is used, and gas for introducing halogen atoms and H2 gas, including inert gases such as He and Ar as necessary, are introduced into the deposition chamber to generate plasma; A layer made of a-Si(H,X) is formed on the support by sputtering the Si target.

グロー放電法によってa−5iGe (H,X)で構成
される層を形成するには、シリコン原子(Si)を供給
しうるSi供給用の原料ガスと、ゲルマニウム原子(G
e)を供給しうるGe供給用の原料ガスと、水素原子(
H)又は/及びハロゲン原子(X)を供給しつる水素原
子(H)又は/及びハロゲン原子(X)供給用の原料ガ
スを内部を減圧にしつる堆積室内に所望のガス圧状態で
導入し、該堆積室内にグロー放電を生起せしめて、予め
所定位置に設置しである所定の支持体表面上に、a−5
iGe (H,X)で構成される層を形成する。
To form a layer composed of a-5iGe (H,
e) and a raw material gas for Ge supply that can supply hydrogen atoms (
Introducing a raw material gas for supplying hydrogen atoms (H) and/or halogen atoms (X) into a deposition chamber at a desired gas pressure while reducing the internal pressure; A glow discharge is generated in the deposition chamber, and a-5
A layer composed of iGe (H,X) is formed.

S1供給用の原料ガス、ハロゲン原子供給用の原料ガス
、及び水素原子供給用の原料ガスとなりつる物質として
は、前述のa−5i(H,X)で構成される層を形成す
る場合に用いたものがそのまま用いられる。
The materials that can be used as the raw material gas for supplying S1, the raw material gas for supplying halogen atoms, and the raw material gas for supplying hydrogen atoms are used when forming the layer composed of the above-mentioned a-5i (H, X). What you have is used as is.

また、前記Ge供給用の原料ガスとなりつる物質として
は、GeHa、Ge2116 、 Ge31(6、Ge
4)1+o、Ge511+z、Ge、旧4、Ge711
+s、GeaH16,Ge*Hzo等のガス状態の又は
ガス化しつる水素化ゲルマニウムを用いることができる
。特に、層作成作業時の取扱易さ、Ge供給効率の良さ
等の点から、GeH4、Ge2Hs 、およびGe3H
aが好ましい。
In addition, as the material gas for supplying Ge, GeHa, Ge2116, Ge31(6, Ge
4) 1+o, Ge511+z, Ge, old 4, Ge711
Germanium hydride in a gaseous state or in a gasified state such as +s, GeaH16, Ge*Hzo, etc. can be used. In particular, from the viewpoint of ease of handling during layer creation work and good Ge supply efficiency, GeH4, Ge2Hs, and Ge3H
a is preferred.

スパッタリング法によってa−5iGa(H,X)で構
成される層を形成するには、シリコンから成るターゲッ
トと、ゲルマニウムから成るターゲットとの二枚を、あ
るいは、シリコンとゲルマニウムからなるターゲットを
用い、これ等を所望のガス7囲気中でスパッタリングす
ることによって行なう。
To form a layer composed of a-5iGa(H, etc., by sputtering in an atmosphere of a desired gas.

イオンブレーティング法を用いてa−5iGe (H,
X)で構成される層を形成する場合には、例えば、多結
晶シリコン又は牟結晶シリコンと多結晶ゲルマニウム又
はまた!#結晶ゲルマニウムとを夫々蒸発源として蒸着
ボートに収容し、この蒸発源を抵抗加熱法あるいはエレ
クトロンビーム法(E、B、法)等によって加熱蒸発さ
せ飛■蒸発物を所望のガスプラズマ雰囲気中を通過せし
めることで行ない得る。
a-5iGe (H,
When forming a layer consisting of X), for example, polycrystalline silicon or crystalline silicon and polycrystalline germanium or! #Crystalline germanium is placed in a deposition boat as an evaporation source, and the evaporation source is heated and evaporated by a resistance heating method or an electron beam method (E, B, method), etc., and the evaporated material is evaporated into a desired gas plasma atmosphere. This can be done by letting it pass.

スパッタリング法およびイオンブレーティング法のいず
れの場合にも、形成する層中にハロゲン原子を含有せし
めるには、前述のハロゲン化物又はハロゲン原子を含む
硅素化合物のガスを堆積室中に導入し、該ガスのプラズ
マ雰囲気を形成すればよい。又、水素原子を導入する場
合には、水素原子供給用の原料ガス、例えばH2あるい
は前記した水素化シラン類又は/及び水素化ゲルマニウ
ム等のガス類をスパッタリング用の堆積室内に導入して
これ等のガス類のプラズマ雰囲気を形成すればよい。さ
らにハロゲン原子供給用の原料ガスとしては、前記のハ
ロゲン化物或いはハロゲンを含む硅素化合物が有効なも
のとして挙げられるが、その他に、HF、 HCI 、
 HBr 、 )II等のハロゲン化水素、5iH2h
、5iH2h、5jH2C12,5iHC13,5iH
2Br2.5iHBr3、等のハロゲン置1^水素化硅
素、およびGeHF1  、  GeHBr3、 Ge
H3F  、  GeHCl、、 Ge)I、C12、
GeH3f:l、GeHBr3、Ga)12Br2. 
Ge1(3ir、 GeHI*、Ge2116GeH3
1等の水素化ハロゲン化ゲルマニウム等、GeF4、G
eCl4. GeBra 、 GeI4、GaF、、G
aC11、GeBr2、Ge12等のハロゲン化ゲルマ
ニウム等々のガス状態の又はガス化しつる物質も有効な
出発物質として使用できる。
In both the sputtering method and the ion blasting method, in order to contain halogen atoms in the layer to be formed, a gas of the above-mentioned halide or a silicon compound containing halogen atoms is introduced into the deposition chamber, and the gas is It is sufficient to form a plasma atmosphere of In addition, when introducing hydrogen atoms, a raw material gas for supplying hydrogen atoms, such as H2 or the above-mentioned gases such as hydrogenated silanes and/or germanium hydride, is introduced into the deposition chamber for sputtering. What is necessary is to form a plasma atmosphere of the following gases. Further, as the raw material gas for supplying halogen atoms, the above-mentioned halides or silicon compounds containing halogen are effective, but in addition, HF, HCI,
Hydrogen halides such as HBr, )II, 5iH2h
, 5iH2h, 5jH2C12, 5iHC13, 5iH
2Br2.5iHBr3, etc. 1^ silicon hydride, and GeHF1, GeHBr3, Ge
H3F, GeHCl, Ge) I, C12,
GeH3f:l, GeHBr3, Ga)12Br2.
Ge1(3ir, GeHI*, Ge2116GeH3
1st class hydrogenated germanium halide etc., GeF4, G
eCl4. GeBra, GeI4, GaF,,G
Gaseous or gasified materials such as germanium halides such as aC11, GeBr2, Ge12, etc. can also be used as effective starting materials.

グロー放電法、スパッタリング法あるいはイオンブレー
ティング法を用いて、スズ原子を含有するアモルファス
シリコン(以下、’a−5iSn(II、X)」と表記
する。)で構成される光受容層を形成するには、上述の
a−5iGe 01.X)で構成される層の形成の際に
、ゲルマニウム原子供給用の出発物質を、スズ原子(S
nl供給用の出発物質にかえて使用し、形成する層中へ
のその量を制御しながら含有せしめることによって行な
う。
A photoreceptive layer made of amorphous silicon containing tin atoms (hereinafter referred to as 'a-5iSn(II,X)') is formed using a glow discharge method, a sputtering method or an ion blating method The above-mentioned a-5iGe 01. During the formation of a layer consisting of
This is done by using it in place of the starting material for supplying nl and controlling its amount in the layer to be formed.

前記スズ原子(Sn)供給用の原料ガスとなりうる物質
としては、水素化スズ(SnH4)やSnF、、5nF
4.5nC12,5nCI4. SnBr2 、 Sn
Br4.5nlz、5n14等のハロゲン化スズ等のガ
ス状態の又はガス化しつるものを用いることができ、ハ
ロゲン化スズを用いる場合には、所定の支持体上にハロ
ゲン原子を含有するa−5Lで構成される層を形成する
ことができるので、特に有効である。なかでも、層作成
作業時の取り扱い易さ、Sn供給効率の良さ等の点から
、Sr+I:14が好ましい。
Substances that can be used as raw material gas for supplying the tin atoms (Sn) include tin hydride (SnH4), SnF, 5nF, etc.
4.5nC12, 5nCI4. SnBr2, Sn
Gaseous or gasified tin halides such as Br4.5nlz, 5n14, etc. can be used. When using tin halides, a-5L containing halogen atoms can be used on a predetermined support. This is particularly effective because it allows the formation of layers consisting of Among them, Sr+I:14 is preferable from the viewpoint of ease of handling during layer forming work and good Sn supply efficiency.

そして、5nC14をスズ原子(Sn)供給用の出発物
質として用いる場合、これをガス化するには、固体状の
5nCLaを加熱するとともに、A「、He等の不活性
ガスを吹き込み、該不活性ガスを用いてバブリングする
のが望ましく、こうして生成したガスを、内部を減圧に
した堆積室内に所望のガス圧状態で導入する。
When 5nC14 is used as a starting material for supplying tin atoms (Sn), in order to gasify it, solid 5nCLa is heated and an inert gas such as A', He is blown into the inert gas. It is preferable to use a gas for bubbling, and the gas thus generated is introduced at a desired gas pressure into a deposition chamber whose interior is kept under reduced pressure.

グロー放電法、スパッタリング法、あるいはイオンブレ
ーティング法を用いて、a−5i(H,X) に第1I
I族原子又は第■族原子、窒素原子、酸素原子あるいは
炭素原子を含有せしめた非晶質材料で構成された層を形
成するには、a−5i(H,X)の層の形成の際に、第
1II族原子又は第V族原子導入用の出発物質、酸素原
子導入用の出発物質、窒素原子導入用の出発物質、ある
いは炭素原子導入用の出発物質を、前述したa−5t 
(H,X)形成用の出発物質と共に使用して、形成する
層中へのそれらの量を制御しながら含有せしめてやるこ
とによって行なう。
Using the glow discharge method, sputtering method, or ion blating method, a-5i(H,
In order to form a layer composed of an amorphous material containing a group I atom or a group I atom, a nitrogen atom, an oxygen atom, or a carbon atom, when forming a layer of a-5i (H, X), The starting material for introducing a Group 1 II atom or a Group V atom, a starting material for introducing an oxygen atom, a starting material for introducing a nitrogen atom, or a starting material for introducing a carbon atom is added to the a-5t described above.
This is done by using them together with the starting materials for the formation of (H,

例えば、グロー放電法を用いて、原子(0,C,N)を
含有するa−5t(H,X) で構成される層を形成す
るには、前述のa−5t (H,X)で構成される層を
形成する際に、原子(0,(:、N)導入用の出発物質
をa−5i(l(、Xl形成用の出発物質とともに使用
して形成する層中へのそれらの量を制御しながら含有せ
しめることによって行なう。
For example, in order to form a layer composed of a-5t(H,X) containing atoms (0, C, N) using the glow discharge method, When forming the layer composed of atoms, a starting material for introducing atoms (0, (:, N) is used together with a starting material for forming a-5i (l(, This is done by controlling the amount.

このような原子(0,C,N)導入用の出発物質として
は、少なくとも原子(0,C,N)を構成原子とするガ
ス状の物質又はガス化し得る物質であれば、はとんどの
ものが使用できる。
As a starting material for such introduction of atoms (0, C, N), most of the gaseous substances or substances that can be gasified have at least atoms (0, C, N) as constituent atoms. Things can be used.

具体的には酸素原子(0)導入用の出発物質として、例
えば、酸素(0□)、オゾン(0,)、−酸化窒素(N
O)、−二酸化窒素(N20)、三二酸化窒素(N20
3)、四三酸化窒素(N204)、三二酸化窒素(N2
05)、三酸化窒素(NO3)、シリコン原子(Sl)
と酸素原子(0)と水素原子(H) とを構成原子とす
る例えばジシロキサン(11,5iO5+)H3)、 
トリシロキサy (JSiOSiH20Sit(、)等
の低級シロキサン等が挙げられ、炭素原子(C)導入用
の出発物質としては、例えば、メタン(CH4) 、 
エタン((:2H6)、プロパン(csoa)、n−ブ
タン(n−c4H,a) 、ペンタン(C8H12)等
の炭素数1〜5の飽和炭化水素、エチレン(C2H4)
、プロピレン(Ctllsl、ブテン−t (C414
6)、ブテン−2(C41(a)、イソブチレン(ca
nal、ペンテン(CsH+o)等の炭素数2〜5のエ
チレン系炭化水素、アセチレン(II:2H2)、メチ
ルアセチレン(C3H4)、ブチン(C4116)等の
、炭素数2〜4のアセチレン系炭化水素が挙げられ、窒
素原子fN)導入用の出発物質としては、例えば、窒素
(N2)、アンモニア(NHi)、ヒドラジン(H,、
NNL)、アジ化水素(HN*) 、アジ化アモニウム
(NLNs) 、三弗化窒素(F3N) 、四Z弗化窒
素(F4N)が挙げられる。
Specifically, as starting materials for introducing oxygen atoms (0), for example, oxygen (0□), ozone (0,), -nitrogen oxide (N
O), -nitrogen dioxide (N20), nitrogen sesquioxide (N20
3), trinitrogen tetraoxide (N204), nitrogen sesquioxide (N2
05), nitrogen trioxide (NO3), silicon atom (Sl)
For example, disiloxane (11,5iO5+)H3) whose constituent atoms are an oxygen atom (0) and a hydrogen atom (H),
Examples include lower siloxanes such as trisiloxane (JSiOSiH20Sit(,), etc., and starting materials for introducing carbon atoms (C) include, for example, methane (CH4),
Saturated hydrocarbons with 1 to 5 carbon atoms such as ethane ((:2H6), propane (csoa), n-butane (n-c4H,a), pentane (C8H12), ethylene (C2H4)
, propylene (Ctllsl, butene-t (C414
6), butene-2 (C41(a), isobutylene (ca
Ethylene hydrocarbons with 2 to 5 carbon atoms such as nal and pentene (CsH+o), acetylene hydrocarbons with 2 to 4 carbon atoms such as acetylene (II:2H2), methylacetylene (C3H4), butyne (C4116), etc. Examples of starting materials for introducing nitrogen atoms (fN) include nitrogen (N2), ammonia (NHi), hydrazine (H,
NNL), hydrogen azide (HN*), ammonium azide (NLNs), nitrogen trifluoride (F3N), and nitrogen tetrafluoride (F4N).

例えば酸素原子を含有する層又は層領域を形成するのに
グロー放電法を用いる場合には、前記した光受容部材層
形成用の出発物質の中から所望に従って選択されたもの
に酸素原子導入用の出発物質が加えられる。その様な酸
素原子導入用の出発物質としては、少なくとも酸素原子
を構成原子とするガス状の物質又はガス化し得る物質で
あればほとんどのものが使用できる。
For example, when a glow discharge method is used to form a layer or layer region containing oxygen atoms, a material for introducing oxygen atoms is added to a starting material selected as desired from among the starting materials for forming the photoreceptor layer described above. Starting materials are added. As such a starting material for introducing oxygen atoms, almost any gaseous substance or substance that can be gasified can be used as long as it has at least an oxygen atom as a constituent atom.

例えばシリコン原子(S +)を構成原子とする原料ガ
スと、酸素原子(0)を構成原子とする原料ガスと、必
要に応じて水素原子(H)又は/及びハロゲン原子(X
)を構成原子とする原料ガスとを所望の混合比で混合し
て使用するか、又は、シリコン原子(Si)を構成原子
とする原料ガスと、酸素原子(0)及び水素原子(H)
を構成原子とする原料ガスとを、これも又所望の混合比
で混合するか、或いは、シリコン原子(Si)を構成原
子とする原料ガスと、シリコン原子(Si)、酸素原子
(0)及び水素原子(H)の3つを構成原子とする原料
ガスとを混合して使用することができる。
For example, a raw material gas containing silicon atoms (S+), a raw material gas containing oxygen atoms (0), and hydrogen atoms (H) or/and halogen atoms (X
) with a raw material gas having constituent atoms at a desired mixing ratio, or a raw material gas having silicon atoms (Si) with oxygen atoms (0) and hydrogen atoms (H).
A raw material gas having constituent atoms is mixed at a desired mixing ratio, or a raw material gas having silicon atoms (Si), oxygen atoms (0), and It can be used in combination with a raw material gas having three hydrogen atoms (H) as its constituent atoms.

又、別には、シリコン原子(S【)と水素原子(14)
とを構成原子とする原料ガスに酸素原子(01を構成原
子とする原料ガスを混合して使用してもよい。
Also, separately, silicon atoms (S[) and hydrogen atoms (14)
A raw material gas containing oxygen atoms (01 as constituent atoms) may be mixed with a raw material gas containing oxygen atoms (01 as constituent atoms).

具体的には、例えば酸素(C2)、オゾン(0,)、−
酸化窒素(NO)、二酸化窒素(N(b)、 −二酸化
窒素(N20)、三二酸化窒素(N203)、四二酸化
窒素(N204)三二酸化窒素(N2os)、三酸化窒
素(NO3)、シリコン原子(Si)と酸素原子(0)
と水素原子(H)とを構成原子とする例えばジシロキサ
ン(l(ssLGsi)Is) 、 トリシロキサン(
HsSiO5iHzO5ith)等の低級シロキチン等
が挙げられ、挙げることができる。
Specifically, for example, oxygen (C2), ozone (0,), -
Nitrogen oxide (NO), nitrogen dioxide (N(b), -nitrogen dioxide (N20), nitrogen sesquioxide (N203), nitrogen tetroxide (N204), nitrogen sesquioxide (N2os), nitrogen trioxide (NO3), silicon atoms (Si) and oxygen atom (0)
For example, disiloxane (l(ssLGsi)Is), trisiloxane (
Examples include lower silochitins such as HsSiO5iHzO5ith).

スパッタリング法によって、酸素原子を含有する層また
は層領域を形成するには、単結晶又はStウェーハ又は
SiO2ウェーハ、又はStとSiO□が混合されて含
有されているウェーハをターゲットとして、これ等を種
々のガス雰囲気中でスパッタリングすることによって行
なえばよい。
In order to form a layer or a layer region containing oxygen atoms by sputtering, a single crystal, a St wafer, a SiO2 wafer, or a wafer containing a mixture of St and SiO□ is used as a target, and various types of these are used. This can be done by sputtering in a gas atmosphere of

例えば、Siミラニーへターゲットとして使用すれば、
酸素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲン原
子を導入する為の原料ガスを必要に応じて希釈ガスで希
釈して、スパッター用の堆積室内に導入し、これ等のガ
スのガスプラズマを形成して前記51ウエー八をスパッ
タリングすればよい。
For example, if you use it as a target for Si Milani,
A raw material gas for introducing oxygen atoms and hydrogen atoms and/or halogen atoms as necessary is diluted with a diluent gas as necessary, and introduced into a deposition chamber for sputtering to generate a gas plasma of these gases. What is necessary is just to form and sputter the said 51 way 8.

又、別にはStと5I02とは別々のターゲットとして
、又はSiと5i02の混合した一枚のターゲットとを
使用することによって、スパッター用のとしての希釈ガ
スの7囲気中で又は少なくとも水素原子(l()又は/
及びハロゲン原子(X)を構成原子として含有するガス
雰囲気中でスパッタリングすることによって形成できる
。酸素原子導入用の原料ガスとしては、前述したグロー
放電の例で示した原料ガスの中の酸素原子導入用の原料
ガスが、スパッタリングの場合にも有効なガスとして使
用できる。
Alternatively, by using St and 5I02 as separate targets or using a single mixed target of Si and 5i02, at least hydrogen atoms (l () or /
It can be formed by sputtering in a gas atmosphere containing halogen atoms (X) as constituent atoms. As the raw material gas for introducing oxygen atoms, the raw material gas for introducing oxygen atoms among the raw material gases shown in the example of glow discharge described above can be used as an effective gas also in the case of sputtering.

また、例えば炭素原子を含有するアモルファスシリコン
で構成される層をグロー放電法により形成するには、シ
リコン原子(St)を構成原子とする原料ガスと、炭素
原子(C)を構成原子とする原料ガスと、必要に応じて
水素原子(H)又は/及びハロゲン原子(X)を構成原
子とする原料ガスとを所望の混合比で混合して使用する
か、又はシリコン原子(Si)を構成原子とする原料ガ
スと、炭素原子(C)及び水素原子(+1)を構成原子
とする原料ガスとを、これも又所望の混合比で混合して
使用するか、或いはシリコン原子(Si)を構成原子と
する原料ガスと、シリコン原子(S i)、炭素原子(
C)及び水素原子()l)を構成原子とする原料ガスを
混合するか、更にまた、シリコン原子、水素原子を構成
原子とする原料ガスを混合して使用する。
For example, in order to form a layer made of amorphous silicon containing carbon atoms by a glow discharge method, a raw material gas containing silicon atoms (St) and a raw material gas containing carbon atoms (C) are used. The gas and, if necessary, a raw material gas containing hydrogen atoms (H) and/or halogen atoms (X) as constituent atoms are mixed at a desired mixing ratio, or silicon atoms (Si) are used as constituent atoms. A raw material gas consisting of carbon atoms (C) and hydrogen atoms (+1) is mixed at a desired mixing ratio, or a raw material gas consisting of silicon atoms (Si) is used. Raw material gas to be atoms, silicon atoms (S i), carbon atoms (
A raw material gas containing C) and hydrogen atoms ()l) as constituent atoms is mixed together, or a raw material gas containing silicon atoms and hydrogen atoms as constituent atoms is mixed and used.

このような原料ガスとして有効に使用されるのは、Si
とHとを構成原子とする5in4、Si、II6.5i
3H。
Si is effectively used as such raw material gas.
5in4, Si, II6.5i with and H as constituent atoms
3H.

S i a II lo等のシラン(Silanel類
等の水素化硅素ガス、CとHとを構成原子とする、例え
ば炭素数1〜4の飽和炭化水素、炭素数2〜4のエチレ
ン系炭化水素、炭素数2〜3のアセチレン系炭化水素等
が挙げられる。
Silanes such as Si a II lo (silicon hydride gases such as Silanels, saturated hydrocarbons containing C and H as constituent atoms, for example, having 1 to 4 carbon atoms, ethylene hydrocarbons having 2 to 4 carbon atoms, Examples include acetylene hydrocarbons having 2 to 3 carbon atoms.

具体的には飽和炭化水素としては、例えば、メタン(C
H4)、エタン(c2oe)、プロパン(c3oa)、
n−ブタン(n−CaHta) 、ヘンタ’J (C5
H+t) 、エチレン系炭化水素としては、エチレン(
C2H6) 、プロピレン(C3HJ、ブテン−1(C
411a)、ブテン−2(c4oa)、イソブチレン(
C4116)、ペンテン(CsH+。)アセチレン系炭
化水素としては、アセチレン(c2Hz)、メチルアセ
チレン(c3H41、ブチン(C4H6)等が挙げられ
る。
Specifically, examples of saturated hydrocarbons include methane (C
H4), ethane (c2oe), propane (c3oa),
n-Butane (n-CaHta), Henta'J (C5
H+t), ethylene hydrocarbons include ethylene (
C2H6), propylene (C3HJ, butene-1 (C
411a), butene-2 (c4oa), isobutylene (
C4116), pentene (CsH+). Examples of acetylene hydrocarbons include acetylene (c2Hz), methylacetylene (c3H41), butyne (C4H6), and the like.

SLとCとHとを構成原子とする原料ガスとしては、S
t ([:H3) 4.5r(C2Hs)4等のケイ化
アルキルを挙げることができる。これ等の原料ガスの他
、H導入用の原料ガスとしては勿論H7も使用できる。
As a raw material gas containing SL, C, and H as constituent atoms, S
Examples include alkyl silicides such as t ([:H3) 4.5r(C2Hs)4. In addition to these raw material gases, H7 can of course also be used as the raw material gas for H introduction.

スパッタリング法によってa−5iC(l(、X)で構
成される層を形成するには、!#結晶又は多結晶のSj
ウニiハ又はC(グラファイト)ウェーハ、又はSiと
Cが混合されているウェーハをターゲットとして、これ
等を所望のガス雰囲気中でスパッタリングすることによ
って行なう。
To form a layer composed of a-5iC(l(,X) by sputtering method, !# crystal or polycrystalline Sj
This is carried out by sputtering a sea urchin wafer, a C (graphite) wafer, or a wafer containing a mixture of Si and C in a desired gas atmosphere.

例えば、Stウェー八へターゲットとして使用する場合
には、炭素原子、および水素原子又は/及びハロゲン原
子を導入する為の原料ガスを、必要に応じてA「、tl
e等の希釈ガスで希釈して、スパッタリング用の堆積室
内に導入し、これ等のガスのガスプラズマを形成して前
記Siミラニーへスパッタリングすればよい。
For example, when using St wafer 8 as a target, raw material gas for introducing carbon atoms, hydrogen atoms, and/or halogen atoms may be used as necessary.
The diluent gas may be diluted with a diluent gas such as E and introduced into a deposition chamber for sputtering to form a gas plasma of these gases and sputtered onto the Si Milani.

又、別にはSlとCは別々のターゲットとするか、ある
いはSIとCの混合した一枚のターゲットととして使用
する場合には、スパッタリング用のガスとして水素原子
又は/及びハロゲン原子導入用の原料ガスを、必要に応
じて希釈ガスで希釈して、スパッタリング用の堆fi!
室内に導入し、ガスプラズマを形成してスパッタリング
すればよい。
In addition, if SI and C are used as separate targets, or if SI and C are used as a mixed target, the raw material for introducing hydrogen atoms and/or halogen atoms may be used as sputtering gas. The gas is diluted with a diluent gas as needed to prepare the deposit for sputtering!
What is necessary is to introduce it into a room, form a gas plasma, and perform sputtering.

該スパッタリング法に用いる各原子の導入用の原料ガス
としては、前述のグロー放電法に用いる原料ガスがその
まま使用できる。
As the raw material gas for introducing each atom used in the sputtering method, the raw material gas used in the glow discharge method described above can be used as is.

例えば窒素原子を含有する層又は層領域を形成するのに
グロー放電法を用いる場合には、前記した光受容層形成
用の出発物質の中から所望に従って選択されたものに窒
素原子導入用の出発物質を加える。その様な窒素原子導
入用の出発物質としては、少なくとも窒素原子を構成原
子とするガス状の物質又はガス化し得る物質であればほ
とんどのものが使用できる。
For example, when a glow discharge method is used to form a layer or layer region containing nitrogen atoms, a starting material for introducing nitrogen atoms is added to a starting material selected as desired from among the starting materials for forming the photoreceptive layer described above. Add substance. As the starting material for introducing nitrogen atoms, almost any gaseous substance or gasifiable substance having at least nitrogen atoms as a constituent atom can be used.

例えばシリコン原子(Si)を構成原子とする原料ガス
と、窒素原子(N)を構成原子とする原料ガスと、必要
に応じて水素原子(H)又は/及びハロゲン原子(X)
を構成原子とする原料ガスとを所望の混合比で混合して
使用するか、又は、シリコン原子(St)を構成原子と
する原料ガスと、窒素原子(N)及び水素原子(H)を
構成原子と原料ガスとを、これも又所望の混合比で混合
するかして使用することができる。
For example, a source gas containing silicon atoms (Si), a source gas containing nitrogen atoms (N), and hydrogen atoms (H) or/and halogen atoms (X) as necessary.
A raw material gas containing constituent atoms is mixed at a desired mixing ratio, or a raw material gas containing silicon atoms (St) and nitrogen atoms (N) and hydrogen atoms (H) are used. The atoms and source gas can also be used in a desired mixing ratio.

又、別には、シリコン原子(Si)と水素原子(11)
とを構成原子とする原料ガスに酸素原子(0)を構成原
子とする原料ガスを混合して使用してもよい。
Also, separately, silicon atoms (Si) and hydrogen atoms (11)
You may mix and use the raw material gas which has an oxygen atom (0) as a constituent atom with the raw material gas which has a constituent atom.

窒素原子を含有する層または層領域を形成する際に使用
する窒素元素(N)導入用の原料ガスとして有効に使用
される出発物質は、Nを構成原子とするか或いはNとH
とを構成原子とする例えば窒素(N2)、アンモニア(
NH3) 、ヒドラジン()12NNHtlアジ化水素
()lN3) 、アジ化アンモニウム(NH4N3)等
のガス状の又はガス化し得る窒素、窒化ホウ素物及びア
ジ化物等の窒素化合物を挙げることができる。この他に
、窒素原子の導入に加えて、ハロゲン原子の導入も行な
えるという点から、三弗化窒素(F3N+ 、四弗化窒
素(F4N1等のハロゲン化窒素化合物を挙げられる。
A starting material that is effectively used as a raw material gas for introducing nitrogen element (N) used when forming a layer or layer region containing nitrogen atoms is one that has N as a constituent atom or a mixture of N and H.
For example, nitrogen (N2), ammonia (
Mention may be made of gaseous or gasifiable nitrogen such as hydrazine (NH3), hydrazine ()12NNHtl, hydrogen azide ()1N3), ammonium azide (NH4N3), and nitrogen compounds such as boron nitrides and azides. In addition to the above, halogenated nitrogen compounds such as nitrogen trifluoride (F3N+) and nitrogen tetrafluoride (F4N1) can be mentioned since they can also introduce halogen atoms in addition to nitrogen atoms.

スパッタリング法によって、窒素原子を含有する層また
は層領域を形成するには、単結晶又はSiウェーハ又は
多結晶のSiウニ−八、又はSi3N、ウェーハ、又は
Siとは5i384が混合されて含有されているウェー
ハをターゲットとして、これ等を種々のガス雰囲気中で
スパッタリングすることによって行なえばよい。
To form a layer or layer region containing nitrogen atoms by a sputtering method, a monocrystalline or Si wafer or a polycrystalline Si Uni-8, or a Si3N, wafer, or a mixture of Si and 5i384 is used. This can be carried out by sputtering these wafers in various gas atmospheres using a wafer as a target.

例えば、Siウェーハをターゲットとして使用すれば、
窒素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲン原
子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて希釈ガスで
希釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ等の
ガスのガスプラズマを形成して前記Siウェーハをスパ
ッタリングすればよい。
For example, if a Si wafer is used as a target,
A raw material gas for introducing nitrogen atoms and hydrogen atoms or/and halogen atoms as necessary is diluted with a diluent gas as necessary and introduced into a deposition chamber for sputtering. The Si wafer may be sputtered by forming plasma.

又、別にはSiと5iJ4とは別々のターゲットとして
、又はSiとSi、N4の混合した一枚のターゲットを
使用することによって、スパッター用のガスとしての希
釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子(H)又は
/及びハロゲン原子(×)を構成原子として含有するガ
ス7囲気中でスパッタリングすることによって形成でき
る。酸素原子導入用の原料ガスとしては、先述したグロ
ー放電の例で示した原料ガスの中の窒素原子導入用の原
料ガスが、スパッタリングの場合にも有効なガスとして
使用できる。
Alternatively, by using Si and 5iJ4 as separate targets, or by using a single target containing Si, Si, and N4, it is possible to use at least hydrogen atoms ( It can be formed by sputtering in a gas atmosphere containing H) or/and halogen atoms (x) as constituent atoms. As the raw material gas for introducing oxygen atoms, the raw material gas for introducing nitrogen atoms among the raw material gases shown in the glow discharge example described above can be used as an effective gas also in the case of sputtering.

また、グロー放電法、スパッタリング法、あるいはイオ
ンブレーティング(去を用いて、第1II族原子又は第
■族原子を含有するa−5i(H,X)で構成される層
の形成の際に、第1II族原子又は第V族原子導入用の
出発物質を、a−5i()I、X)形成用の出発物質と
共に使用して、形成する層中へのそれらの量を制御しな
がら含有せしめてやることによって行なう。
In addition, when forming a layer composed of a-5i (H, Starting materials for the introduction of Group 1 II atoms or Group V atoms are used together with the starting materials for forming a-5i()I,X) to control their amount in the layer being formed. Do it by doing it.

第■族原子導入用の出発物質として具体的には硼素原子
導入用としては、+12)18、B4HIO、R5He
、BsHz 、BsHz。、 BsH+z 、 B6H
I4等の水素化硼素、BF、 、 BCI、、BBr、
等のハロゲン化硼素等が挙げられる。この他、Al13
、Ga(:Ls、Ga (CH312、InCl3、T
ΩC1,等も挙げることができる。
Specifically, starting materials for introducing group (III) atoms include +12)18, B4HIO, R5He
, BsHz, BsHz. , BsH+z, B6H
Boron hydride such as I4, BF, , BCI, , BBr,
Examples include boron halides such as. In addition, Al13
, Ga(:Ls, Ga (CH312, InCl3, T
ΩC1, etc. can also be mentioned.

第V族原子導入用の出発物質として具体的には燐原子導
入用としてはPH,、PJ、等の水素化燐pH,I、p
F3.PFS、 P(:13、Pct、、PBrs、P
Brs、PI3等のハロゲン化燐が挙げられる。この他
、八sH,、八sF=、 八5C13、八5Brs、 
八sFs、 5bHs、 SbF3、 SbF、。
As a starting material for introducing a group V atom, specifically, for introducing a phosphorus atom, hydrogenated phosphorus such as PH, PJ, etc. is used.
F3. PFS, P(:13, Pct, PBrs, P
Examples include phosphorus halides such as Brs and PI3. In addition, 8sH, 8sF=, 85C13, 85Brs,
8sFs, 5bHs, SbF3, SbF,.

5bC13,5bC1,、BiHz、B111.、B1
Br3等も第V族原子導入用の出発物質の有効なものと
して挙げることができる。
5bC13, 5bC1, BiHz, B111. ,B1
Br3 and the like can also be mentioned as effective starting materials for introducing Group V atoms.

以上記述したように、本発明の光受容部材の光受容層は
、グロー放電法、スパッタリング法等を用いて形成する
が、光受容層に含有せしめるゲルマニウム原子又は/′
ELびスズ原子、$ 111族原子又は第V族原子、酸
素原子、炭素原子又は、窒素原子、あるいは水素原子又
は/及びハロゲン原子の各々の含有量の制御は、堆積室
内へ流入する、各々の原子供給用出発物質のガス流量あ
るいは各々の原子供給用出発物質問のガス流量比を制御
することにより行なわれる。
As described above, the light-receiving layer of the light-receiving member of the present invention is formed using a glow discharge method, a sputtering method, etc.
The content of each of EL and tin atoms, Group 111 atoms or Group V atoms, oxygen atoms, carbon atoms, nitrogen atoms, or hydrogen atoms and/or halogen atoms can be controlled by each of the elements flowing into the deposition chamber. This is carried out by controlling the gas flow rate of the starting material for supplying atoms or the gas flow rate ratio of each starting material for supplying atoms.

また、光導電層および表面保護層等の各構成層形成時の
支持体温度、堆積室内のガス、放電パワー等の条件は、
所望の特性を有する光受容部材を得るためにはJ1果な
要因であり、形成する層の機能に考慮をはらって適宜選
択されるものである。
In addition, conditions such as support temperature, gas in the deposition chamber, discharge power, etc. when forming each constituent layer such as the photoconductive layer and the surface protective layer are as follows.
In order to obtain a light-receiving member having desired characteristics, it is an important factor and should be selected as appropriate, taking into consideration the function of the layer to be formed.

さらに、これらの層形成条件は、光導電層および表面保
護層等の各構成層に含有せしめる上記の各原子の種類及
び量によっても異なることもあることから、含有せしめ
る原子の種類あるいはその量等にも考慮をはらって決定
する必要もある。
Furthermore, these layer formation conditions may differ depending on the type and amount of each of the atoms mentioned above to be contained in each constituent layer such as the photoconductive layer and the surface protective layer. It is also necessary to take this decision into consideration.

具体的には、水素原子又はハロゲン原子の少なくとも一
方を含有するダイヤモンド状炭素薄膜からなる表面保護
層を高周波(13,56MH2)プラズマCVD法によ
り形成する場合、堆積室内のガス圧は、通常10−3〜
100 Torrとするが、より好ましくはLQ−2〜
5flTorr、最適には10−’ 〜50Tarrと
する。
Specifically, when forming a surface protective layer made of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms by high frequency (13,56 MH2) plasma CVD method, the gas pressure in the deposition chamber is usually 10- 3~
100 Torr, more preferably LQ-2~
5flTorr, optimally 10-' to 50Tarr.

また、支持体温度は、通常50〜900℃とするが、よ
り好ましくは100〜600℃、最適には150〜50
0℃とする。更に放電パワーは通常0.05〜100W
/cm2、より好ましくは 0.1〜70W / cm
’ 、最適には05〜50W/Cm2とする。
Further, the support temperature is usually 50 to 900°C, more preferably 100 to 600°C, and most preferably 150 to 50°C.
The temperature shall be 0°C. Furthermore, the discharge power is usually 0.05 to 100W.
/cm2, more preferably 0.1-70W/cm
', optimally set to 05 to 50 W/Cm2.

また、水素原子又はハロゲン原子の少なくとも一方を含
有するダイヤモンド状炭素薄膜からなる表面保護層をマ
イクロ波(2,45Gl(z)プラズマCVD法により
形成する場合、堆積室内のガス圧は通常10−4〜10
0Torr、より好ましくは10−3〜50Torr。
In addition, when forming a surface protective layer consisting of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms by microwave (2,45Gl(z) plasma CVD method), the gas pressure in the deposition chamber is usually 10-4. ~10
0 Torr, more preferably 10-3 to 50 Torr.

最適には2 x 10−’〜45 Torrとし、放電
パワー及び支持体温度は、いずれも前述の高周波プラズ
マCVD法による場合と同じである。
The optimum value is 2 x 10-' to 45 Torr, and the discharge power and support temperature are the same as in the case of the high-frequency plasma CVD method described above.

更に、水素原子又はハロゲン原子の少なくとも一方を含
有するダイヤモンド状炭素薄膜からなる表面保護層をス
パッタリング法により形成する場合、堆積室内のガス圧
は通常10−4〜1OTorr、より好ましくは5 X
 10−’〜5 Torr、最適には1O−3〜1丁o
rrとし、放電パワー及び支持体温度は前述の高周波プ
ラズマCVD法による場合と同じである。
Furthermore, when forming a surface protective layer consisting of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms by sputtering, the gas pressure in the deposition chamber is usually 10-4 to 1 O Torr, more preferably 5 X
10-' to 5 Torr, optimally 10-3 to 1 Torr
rr, and the discharge power and support temperature are the same as in the case of the high frequency plasma CVD method described above.

また、窒素原子、酸素原子、炭素原子等を含有せしめた
a−5i ()I、X)かうなる層をグロー放電法によ
り形成する場合、支持体温度は、通常50〜350℃と
するが、特に好ましくは50〜250℃とする。
In addition, when a layer containing nitrogen atoms, oxygen atoms, carbon atoms, etc., such as a-5i ()I, Particularly preferably, the temperature is 50 to 250°C.

堆積室内のガス圧は通常0.O1〜I Torrとする
が、特に好ましくは0.1〜0.5 Torrとする。
The gas pressure inside the deposition chamber is normally 0. O1 to I Torr, particularly preferably 0.1 to 0.5 Torr.

放電パワーは0.005〜SOW / am’ とする
のが通常であるが、より好ましくは0.01〜3QW/
am’ とする。特に好ましくは0.O1〜20W/c
m2 とする。
The discharge power is usually 0.005 to SOW/am', more preferably 0.01 to 3QW/am'.
Let it be am'. Particularly preferably 0. O1~20W/c
Let it be m2.

a−5iGe (H,X1層をグロー放電法により形成
する場合、あるいは第■族原子又は第V族原子を含有せ
しめたa−5iGe ()I、X)からなる層を形成す
る場合については、支持体温度、通常50〜350℃と
するが、より好ましくは50〜300℃とするが、特に
好ましくは100〜300 ℃とする。そして堆積室内
のガス圧は通常0.01〜5 Torrとするが、好ま
しくは0.001〜3  Torrとし、特に好ましく
はo、oi〜1Torrとする。また、放電パワーは0
.005〜50W/ c m 2とするのが通常である
が、好ましくは0.01〜30W/cm2 とする。特
に好ましくはo、at 〜ZOW/C1n2 とする。
When forming the a-5iGe (H, The support temperature is usually 50 to 350°C, more preferably 50 to 300°C, particularly preferably 100 to 300°C. The gas pressure in the deposition chamber is usually 0.01 to 5 Torr, preferably 0.001 to 3 Torr, and particularly preferably o, oi to 1 Torr. Also, the discharge power is 0
.. It is normal to set it as 0.05-50W/cm2, but it is preferably set as 0.01-30W/cm2. Particularly preferably o, at to ZOW/C1n2.

しかし、これらの、層形成を行なうについての支持体温
度、放電パワー、堆積室内のガス圧の具体的条件は、通
常には個々に独立しては容易には決め難いものである。
However, the specific conditions for layer formation, such as support temperature, discharge power, and gas pressure in the deposition chamber, are usually difficult to determine individually.

したがって、所望の特性の非晶賀材料暦を形成すべく、
相互的且つ有機的関連性に基づいて、層形成の至適条件
を決めるのが望ましい。
Therefore, in order to form an amorphous material with desired characteristics,
It is desirable to determine optimal conditions for layer formation based on mutual and organic relationships.

次に、グロー放電分解法によフて形成される光導電部材
の製造方法について説明する。
Next, a method for manufacturing a photoconductive member formed by a glow discharge decomposition method will be described.

第2図にグロー放電分解法による電子写真用光受容部材
の製造装置を示す。
FIG. 2 shows an apparatus for producing electrophotographic light-receiving members using the glow discharge decomposition method.

図中の202.203.204.205.206、 の
ガスボンベには、本発明の夫々の層を形成するための原
料ガスが密封されており、その1例として、たとえば、
202は5iHaガス(純度99.999%)ボンベ、
203はH2で希釈された8、H6ガス(純度99.9
99%、以下B、O,/H,と略す)ボンベ、204は
NOガス(純度99.5%)ボンベ、205はCH4ガ
ス(純度99.999零)ボンへ、ZQaはH1ガス(
純度9g、g99%)ボンへである。
In the gas cylinders 202, 203, 204, 205, and 206 in the figure, raw material gases for forming the respective layers of the present invention are sealed, for example,
202 is a 5iHa gas (99.999% purity) cylinder,
203 is 8, H6 gas diluted with H2 (purity 99.9
99%, hereinafter abbreviated as B, O, /H) cylinder, 204 is NO gas (purity 99.5%) cylinder, 205 is CH4 gas (purity 99.999 zero) cylinder, ZQa is H1 gas (
(purity 9g, g99%) Bonhe.

これらのガスを反応室201に流入させるにはガスボン
ベ202〜206のバルブ、リークバルブ235が閉じ
られていることを確認し、又、流入バルブ212〜21
6 、流出バルブ217〜221 、補助バルブ232
.233が開かれていることを確認して先ずメインバル
ブ234を問いて反応室201、ガス配管内を排気する
0次に真空計236の読みが約5 X 10”6Tor
rになった時点で、補助バルブ232.233、流出バ
ルブ217〜221を閉じる。
To allow these gases to flow into the reaction chamber 201, make sure that the valves of the gas cylinders 202 to 206 and the leak valve 235 are closed, and also make sure that the inflow valves 212 to 21 are closed.
6, outflow valves 217-221, auxiliary valve 232
.. 233 is open, first check the main valve 234 to evacuate the reaction chamber 201 and gas piping. Next, the vacuum gauge 236 reads approximately 5 x 10"6 Torr.
When the temperature reaches r, the auxiliary valves 232 and 233 and the outflow valves 217 to 221 are closed.

基体シリンダー237上に第1の層を形成する場合の1
例をあげると、ガスボンベ202よりS i II 4
ガス、ガスボンベ、203より8.)1./H2H2ガ
ススボンベ、204よりNOガス、バルブ222 、2
23 、04を開いて出口圧ゲージ227 、228 
、229の圧を1kg7cm”に調節し、流入バルブ2
12.213.214を徐々に開けて、マスフロコント
ローラ207,208.209内に流入させる。引続い
て流出バルブ217 、218.219、補助バルブ2
32を徐々に開いて夫々のガスを反応室に流入させる。
1 when forming the first layer on the base cylinder 237
For example, S i II 4 from gas cylinder 202
Gas, gas cylinder, 8 from 203. )1. /H2H2 gas cylinder, NO gas from 204, valve 222, 2
23, 04 open and outlet pressure gauges 227, 228
, adjust the pressure of 229 to 1 kg 7 cm", and open the inlet valve 2.
12, 213, 214 are gradually opened to allow flow into mass flow controllers 207, 208, 209. Subsequently, the outflow valves 217, 218, 219, and the auxiliary valve 2
32 is gradually opened to allow the respective gases to flow into the reaction chamber.

このときの5in4ガス流量、B2H8/82ガス流玉
、NOガス流景の比が所望の値になるように流出バルブ
217.218.219を調整し、又、反応室内の圧力
が所望の値になるように真空計236の読みを見ながら
メインバルブ234の間口を調整する。そして基体シリ
ンダー237の温度が加熱ヒーター238により50〜
350℃の温度に設定されていることを確認された後、
電源240を所望の電力に設定して反応室201内にグ
ロー放電を生起させ基体シリンダー上に第1の層を形成
する。
At this time, adjust the outflow valves 217, 218, and 219 so that the ratio of the 5in4 gas flow rate, B2H8/82 gas flow, and NO gas flow becomes the desired value, and also adjust the pressure inside the reaction chamber to the desired value. Adjust the opening of the main valve 234 while checking the reading on the vacuum gauge 236 so that the opening of the main valve 234 is correct. Then, the temperature of the base cylinder 237 is raised to 50~50 by the heating heater 238.
After confirming that the temperature is set at 350℃,
The power source 240 is set to a desired power level to generate a glow discharge within the reaction chamber 201 to form a first layer on the substrate cylinder.

第1の層にハロゲン原子を含有される場合には、上記の
ガスに例えばSiF4ガスを更に付加して反応室201
に送り込む。
When the first layer contains halogen atoms, for example, SiF4 gas is further added to the above gas to form the reaction chamber 201.
send to.

各層を形成する際ガス種の選択によっては、層形成速度
を更に高めることが出来る。例えば5rHaガスの代り
にSi、H,ガスを用いて層形成を行なえば数倍高める
ことが出来、生産性が向上する。
Depending on the selection of gas species when forming each layer, the layer formation speed can be further increased. For example, if layer formation is performed using Si, H, or gas instead of 5rHa gas, the productivity can be increased several times, thereby improving productivity.

上記の様にして作成された第1の層上に第2の層を形成
するには、流出バルブ217〜221を閉じ、補助バル
ブ232.233を開いてメインバルブ234を全開し
て系内を一旦高真空に排気したのち、第1の層の形成の
際と同様なバルブ操作によりてCH4ガス、H2ガスを
所望の流量比で反応室201中に流し、所望の条件に従
ってグロー放電を生起させることによって成される。
To form a second layer on the first layer created as described above, the outflow valves 217 to 221 are closed, the auxiliary valves 232 and 233 are opened, and the main valve 234 is fully opened to drain the system. Once evacuated to a high vacuum, CH4 gas and H2 gas are flowed into the reaction chamber 201 at a desired flow rate ratio by the same valve operation as in the case of forming the first layer, and glow discharge is generated according to desired conditions. It is accomplished by

第2の層中に含有される水素原子の量を変化させる場合
には、例えば、H2ガスの反応室201内に導入される
流量を所望に従って任意に変えることによって所望に応
じて制御することができる。
When changing the amount of hydrogen atoms contained in the second layer, it can be controlled as desired, for example, by arbitrarily changing the flow rate of H2 gas introduced into the reaction chamber 201 as desired. can.

第2の層にハロゲン原子を含有される場合には、上記の
ガスに例えばCF4ガスを更に付加して反応室201内
に送り込む。
When the second layer contains halogen atoms, for example, CF4 gas is further added to the above gas and the mixture is sent into the reaction chamber 201.

夫々の層を形成する際に必要なガス以外の流出は全て閉
じることは言うまでもなく、又、夫々の層を形成する際
、前層の形成に使用したガスが反応室201内、流出バ
ルブ217〜221から反応室201内に至る配管内に
残留することを避けるために、流出バルブ217〜22
1を閉じ補助バルブ232.233を開いてメインバル
ブ234を全開して系内を一旦高真空に排気する操作を
必要に応じて行なう。
Needless to say, when forming each layer, all outflows other than the gases necessary are closed. Also, when forming each layer, the gas used to form the previous layer is inside the reaction chamber 201, and the outflow valves 217 to 217 are closed. 221 to the inside of the reaction chamber 201, the outflow valves 217 to 22
1, open the auxiliary valves 232 and 233, fully open the main valve 234, and temporarily evacuate the system to a high vacuum, as necessary.

又、層形成を行なっている間は層形成の均一化を図るた
め基体シリンダー237は、モータ239によって所望
される速度で一定に回転させる。
During layer formation, the base cylinder 237 is constantly rotated by a motor 239 at a desired speed to ensure uniform layer formation.

次に、マイクロ波放電分解法によって形成される光導電
部材の製造方法について説明する。
Next, a method for manufacturing a photoconductive member formed by a microwave discharge decomposition method will be described.

第3図にマイクロ波放電分解法による電子写真用光受容
部材の製造装置を示す。
FIG. 3 shows an apparatus for manufacturing a light receiving member for electrophotography using a microwave discharge decomposition method.

図中ノ302.303.304.305.306、のガ
スボンへには、本発明の夫々の層を形成するための原料
ガスが密封されており、その1例として、たとえば、3
02はSiH,ガス(純度99.999%)ボンベ、3
o3はH2で希釈された82H6ガス(純度99.99
9%、以下a、5/F2と略す)ボンベ、304はNO
ガス(純度99.5%)ボンベ、305はCH4ガス(
純度99.999零)ボンベ、306はH2ガス(純度
99.999%)ボンベである。
Raw material gases for forming the respective layers of the present invention are sealed in the gas cylinders 302, 303, 304, 305, and 306 in the figure.
02 is SiH, gas (purity 99.999%) cylinder, 3
o3 is 82H6 gas diluted with H2 (purity 99.99
9%, hereinafter abbreviated as a, 5/F2) cylinder, 304 is NO
Gas (purity 99.5%) cylinder, 305 is CH4 gas (
306 is an H2 gas (purity 99.999%) cylinder.

これらのガスを反応室301に流入させるにはガスボン
ベ302〜306のバルブ、リークバルブ335が閉じ
られていることを確認し、又、流入バルブ312〜31
6 、流出バルブ317〜3211補助バルブ332.
333が開かれていることを確認して先ずメインバルブ
334を開いて反応室301、ガス配管内を排気する0
次に真空計336の読みが約5 X 1O−6Torr
になった時点で、補助バルブ332.333流出バルブ
317〜321を閉じる。
To allow these gases to flow into the reaction chamber 301, make sure that the valves of the gas cylinders 302 to 306 and the leak valve 335 are closed, and also make sure that the inflow valves 312 to 31 are closed.
6, outflow valves 317-3211 auxiliary valve 332.
333 is open, first open the main valve 334 to exhaust the reaction chamber 301 and gas piping.
Next, the reading on the vacuum gauge 336 is approximately 5 X 1O-6 Torr.
At that point, close the auxiliary valves 332, 333 and outflow valves 317-321.

基体シリンダー337上に第1の層を形成する場合の1
例をあげると、ガスボンベ302よりSiH4ガス、ガ
スボンベ、303よりa、H,/F、ガス、ガスボンベ
、304よりNOガス、バルブ322.323 、32
4を開いて出口圧ゲージ327 、328.329の圧
を1kg/cm’に調節し、流入バルブ3H、、:l1
3.314を徐々に開けて、マスフロコントローラ30
7.308、:109 内に流入させる。引続いて流出
バルブ317.3+8.319、補助バルブ332を徐
々に開いて夫々のガスを反応室に流入させる。このとき
のSiH4ガス流!、B>Ha/Hzガス流量、NOガ
ス流量の比が所望の値になるように流出バルブ317.
318.319を調整し、又、反応室内の圧力が所望の
値になるように真空計336の読みを見ながらメインバ
ルブ334の開口を調整する。そして基体シリンダー3
37の温度が加熱ヒーター338により50〜350℃
の温度に設定されていることを確認された後、マイクロ
波電源340を所望の電力に設定し、導波管341及び
誘電体窓342を通して反応N301内にマイクロ放電
を生起させ基体シリンダー上に第1の層を形成する。
1 when forming the first layer on the base cylinder 337
For example, SiH4 gas from gas cylinder 302, gas cylinder from 303, a, H, /F gas from 303, NO gas from 304, valves 322, 323, 32
4 and adjust the pressure of the outlet pressure gauges 327, 328, 329 to 1 kg/cm', and then open the inlet valves 3H, , :l1.
3. Gradually open 314 and install mass flow controller 30.
7.308, :109. Subsequently, the outflow valves 317.3+8.319 and the auxiliary valve 332 are gradually opened to allow the respective gases to flow into the reaction chamber. SiH4 gas flow at this time! , B>Ha/Hz The outflow valve 317.
318 and 319, and also adjust the opening of the main valve 334 while checking the reading on the vacuum gauge 336 so that the pressure inside the reaction chamber reaches the desired value. and base cylinder 3
37 temperature is 50-350℃ by heating heater 338
After confirming that the temperature has been set to the desired temperature, the microwave power source 340 is set to the desired power, and a micro discharge is generated in the reaction N301 through the waveguide 341 and the dielectric window 342, and the temperature is set on the base cylinder. 1 layer is formed.

第1の層にハロゲン原子を含有される場合には、上記の
ガスに例えば5tFiガスを更に付加して反応室301
に送り込む。
When the first layer contains halogen atoms, for example, 5tFi gas is further added to the above gas to form the reaction chamber 301.
send to.

各層を形成する際ガス種の選択によっては、層形成速度
を更に高めることが出来る。例えば5xH4ガスの代り
にSi、H,ガスを用いて層形成を行なえば数倍高める
ことが出来、生産性が向上する。
Depending on the selection of gas species when forming each layer, the layer formation speed can be further increased. For example, if layer formation is performed using Si, H, gas instead of 5xH4 gas, the number of layers can be increased several times and productivity will be improved.

上記の様にして作成された第1の層上に第2の層を形成
するには、流出バルブ317〜321を閉じ、補助バル
ブ〕32.333を開いてメインバルブ334を全開し
て系内を一旦高真空に排気したのち、第1の層の形成の
際と同様なバルブ操作によヮてCH4ガス、H2ガスを
所望の流量比で反応室301中に流し、所望の条件に従
ってマイクロ波放電を生起させることによって成される
To form a second layer on the first layer created as described above, close the outflow valves 317 to 321, open the auxiliary valves 32 and 333, and fully open the main valve 334 to remove the inside of the system. After once evacuating to a high vacuum, CH4 gas and H2 gas are flowed into the reaction chamber 301 at a desired flow rate ratio by the same valve operation as in the case of forming the first layer, and microwave treatment is performed according to desired conditions. This is accomplished by causing an electrical discharge.

第2の層中に含有される水素原子の王を変化させる場合
には、H2ガスの反応室301内に導入される流量を所
望に従って任意に変えることによって所望に応じて制御
することができる。
When changing the number of hydrogen atoms contained in the second layer, it can be controlled as desired by arbitrarily changing the flow rate of H2 gas introduced into the reaction chamber 301 as desired.

第2の層にハロゲン原子を含有される場合には、上記の
ガスに例えばCF4ガスを更に付加して反応室301内
に送り込む。
When the second layer contains halogen atoms, for example, CF4 gas is further added to the above gas and the mixture is sent into the reaction chamber 301.

夫々の層を形成する際に必要なガス以外の流出は全て閉
じることは言うまでもなく、又、夫々の層を形成する際
、前層の形成に使用したガスが反応’4301内、流出
バルブ317〜321から反応室301内に至る配管内
に残留することを避けるために、流出バルブ317〜3
21を閉じ補助バルブ332.333を問いてメインバ
ルブ334を全開して系内を一旦高真空に排気する操作
を必要に応じて行なう。
Needless to say, when forming each layer, all outflows other than the gas required are closed, and when forming each layer, the gas used for forming the previous layer is inside the reaction '4301, and the outflow valves 317 to 317 are closed. 321 to the inside of the reaction chamber 301, the outflow valves 317 to 3
21 is closed, the auxiliary valves 332 and 333 are opened, the main valve 334 is fully opened, and the system is temporarily evacuated to a high vacuum, as necessary.

又、層形成を行なっている間は層形成の均一化を図るた
め基体シリンダー337は、モータ339によって所望
される速度で一定に回転させる。
During layer formation, the base cylinder 337 is constantly rotated by a motor 339 at a desired speed to ensure uniform layer formation.

(実施例) 以下、実施例により本発明を更に詳細に説明するが、本
発明はこれらによって限定されるものではない。
(Examples) Hereinafter, the present invention will be explained in more detail with reference to Examples, but the present invention is not limited thereto.

〈実施例1〉 第2図の製造装置を用い、第1表の作成条件に従って鏡
面加工を施したアルミシリンダー上に電子写真用光受容
部材を形成した。
<Example 1> Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2, an electrophotographic light-receiving member was formed on a mirror-finished aluminum cylinder according to the preparation conditions shown in Table 1.

光受容部材(以後ドラムと表現)は、電子写真装置にセ
ットして、種々の条件のもとに、初期の帯電能、残留電
位、ゴースト等の電子写真特性をチェックし、又、15
0万枚実機酎久後の帯電能低下、表面削れ、画像欠陥の
増加等を調べた。更に、35℃、85%の高温高湿雰囲
気中でのドラムの画像流れについても評価した。
The light-receiving member (hereinafter referred to as a drum) is set in an electrophotographic apparatus, and electrophotographic characteristics such as initial charging ability, residual potential, and ghost are checked under various conditions.
After 00,000 sheets were printed on an actual machine, the decrease in charging ability, surface scraping, increase in image defects, etc. were investigated. Furthermore, image deletion on the drum was also evaluated in a high temperature, high humidity atmosphere of 85% at 35°C.

また、ドラムに直流高圧電圧を加えることにより絶縁耐
圧を調べた。ざらに、先端が球形の針に一定の荷重をか
けて、ドラム表面にキズをつけることにより、耐キズ性
を調べた。上記の評価結果を第2表に示す。
In addition, the dielectric strength was investigated by applying a DC high voltage to the drum. The scratch resistance was examined by applying a certain load to a needle with a spherical tip and scratching the drum surface. The above evaluation results are shown in Table 2.

第2表に見られる様に、特に初期帯電能、ゴースト、画
像欠陥、表面削れ、絶縁耐圧、耐キズ性の各項目につい
て著しい優位性が認められた。
As shown in Table 2, remarkable superiority was observed particularly in terms of initial chargeability, ghost, image defects, surface abrasion, dielectric strength voltage, and scratch resistance.

〈実施例2〉 実施例1と同様に、光導電層を成膜したアルミシリンダ
ーを第3図の製造装置にセットして光導電層上に表面層
を第3表の作成条件に従って成膜し、実施例1と同様の
評価を行った。
<Example 2> In the same manner as in Example 1, the aluminum cylinder on which the photoconductive layer was formed was set in the manufacturing apparatus shown in Fig. 3, and a surface layer was formed on the photoconductive layer according to the preparation conditions shown in Table 3. , the same evaluation as in Example 1 was performed.

その結果を第4表に示す。The results are shown in Table 4.

第4表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得られ
た。
As seen in Table 4, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

〈実施例3〉 表面層の作成時に、シリンダーのバイアス電圧が一15
0Vになるようにして第1表に示す作成条件で、実施例
1と同様に、ドラム及びサンプルを作成し、同様の評価
を行りた。
<Example 3> When creating the surface layer, the bias voltage of the cylinder was set to 115
Drums and samples were produced in the same manner as in Example 1 under the production conditions shown in Table 1 so that the voltage was 0V, and the same evaluation was performed.

その結果を第5表に示す。The results are shown in Table 5.

第5表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得られ
た。
As seen in Table 5, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

又、サンプルの測定の結果、4配位であることがわかっ
た。
Moreover, as a result of measuring the sample, it was found that it is 4-coordinated.

〈実施例4〉 電荷注入阻止層、光導電層、表面層をそれぞれ第6表に
示す作成条件で実施例1と同様にドラムを作成し、同様
の評価を行った。
<Example 4> A drum was prepared in the same manner as in Example 1 under the conditions shown in Table 6 for the charge injection blocking layer, photoconductive layer, and surface layer, and the same evaluation was performed.

その結果を第7表に示す。The results are shown in Table 7.

第7表にみられる様に実施例1と同様の特性が得られた
As shown in Table 7, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

〈実施例5〉 アルミシリンダーに陽極酸化処理を行って、シリンダー
表面に酸化アルミニウム層(#203)を作成して、こ
れを、電荷注入阻止層とし、この層の上に光4電層と表
面層をそれぞれ実施例4と同様にしてドラムを作成し、
実施例1と同様の評価を行った。
<Example 5> An aluminum cylinder is anodized to create an aluminum oxide layer (#203) on the cylinder surface, this is used as a charge injection blocking layer, and a photoquadratic layer and a surface layer are formed on this layer. A drum was prepared using the same layers as in Example 4, and
The same evaluation as in Example 1 was performed.

その結果を第9表に示す。The results are shown in Table 9.

第9表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得られ
た。
As shown in Table 9, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

〈実施例6〉 IR吸収層、光導電層、表面層をそれぞれ、第10表に
示す作成条件で、実施例1と同様にドラムを作成し、同
様の評価を行った。
<Example 6> A drum was produced in the same manner as in Example 1, with the IR absorption layer, photoconductive layer, and surface layer each under the production conditions shown in Table 10, and the same evaluation was performed.

さらに785nmの波長を有する半導体レーザーを画像
露光の光源に用いる電子写真装置にドラムをセットして
、画像上に干渉縞が現われるかチェックした。
Furthermore, the drum was set in an electrophotographic apparatus using a semiconductor laser having a wavelength of 785 nm as a light source for image exposure, and it was checked whether interference fringes appeared on the image.

その結果を第11表に示す。The results are shown in Table 11.

第11表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得ら
れ、干渉縞も現われなかった。
As seen in Table 11, characteristics similar to those of Example 1 were obtained, and no interference fringes appeared.

〈実施例7〉 密着層、光4電層、表面層をそれぞれ、第12表に示す
作成条件で、実施例1と同様にドラムを作成し、同様の
評価を行った。
<Example 7> A drum was prepared in the same manner as in Example 1 under the conditions shown in Table 12 for the adhesion layer, the photovoltaic layer, and the surface layer, and the same evaluation was performed.

その結果を第13表に示す。The results are shown in Table 13.

第13表にみられる様に、実施例1と同様の特注が得ら
れた。
As seen in Table 13, a custom order similar to that of Example 1 was obtained.

〈実施例8〉 IR吸収層、電荷注入阻止層、光導電層、表面層を、そ
れぞれ、第14表に示す作成条件で実施例1と同様にド
ラムを作成し、実施例6と同様の評価を行った。
<Example 8> A drum was produced in the same manner as in Example 1, with the IR absorption layer, charge injection blocking layer, photoconductive layer, and surface layer each under the production conditions shown in Table 14, and evaluated in the same manner as in Example 6. I did it.

その結果を第15表に示す。The results are shown in Table 15.

第15表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得ら
れた。
As seen in Table 15, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

〈実施例9〉 密着層、電荷注入阻止層、光導電層、表面層をそれぞれ
、第16表に示す作成条件で実施例1と同様にドラムを
作成し、同様の評価を行った。
<Example 9> A drum was prepared in the same manner as in Example 1 with the adhesion layer, charge injection blocking layer, photoconductive layer, and surface layer prepared under the conditions shown in Table 16, and the same evaluations were performed.

その結果を第17表に示す。The results are shown in Table 17.

第17表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得ら
れた。
As seen in Table 17, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

〈実施例10〉 密着層、IR吸収層、電荷注入阻止層、光導電層、表面
層を、それぞれ、第18表に示す作成条件で、実施例1
と同様にドラムを作成し、実施例6と同様の評価を行っ
た。
<Example 10> The adhesive layer, IR absorption layer, charge injection blocking layer, photoconductive layer, and surface layer were prepared under the conditions shown in Table 18, respectively, in Example 1.
A drum was prepared in the same manner as in Example 6, and the same evaluation as in Example 6 was performed.

その結果を第19表に示す。The results are shown in Table 19.

第19表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得ら
れた。
As seen in Table 19, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

〈実施例11〉 光導電層の作成条件を第20表に示す数種の条件に変え
、それ以外は実施例1と同様の条件にて、複数のドラム
を用意した。
<Example 11> A plurality of drums were prepared under the same conditions as in Example 1 except that the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 20.

これらのドラムを実施例1と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例1と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 1,
In all cases, similar to Example 1, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例12〉 光導電層の作成条件を第21表に示す数種の条件に変え
、それ以外は実施例2と同様の条件にて、複数のドラム
を用意した。
<Example 12> A plurality of drums were prepared under the same conditions as in Example 2 except that the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 21.

これらのドラムを実施例2と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例2と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 2,
In all cases, similar to Example 2, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例13> 光4電層の作成条件を第22表に示す数種の条件に変え
、それ以外は実施例3と同様の条件にて、複数のドラム
を用意した。
<Example 13> A plurality of drums were prepared under the same conditions as in Example 3 except that the conditions for forming the photovoltaic layer were changed to several conditions shown in Table 22.

これらのドラムを実施例3と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例3と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 3,
In all cases, similar to Example 3, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例14> 電荷注入阻止層の作成条件を第23表に示す数種の条件
に変え、それ以外は実施例4と同様の条件にて、複数の
ドラムを用意した。
<Example 14> A plurality of drums were prepared under the same conditions as in Example 4 except that the conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 23.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例15〉 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、光4電層の作成条件を第25表に示す数種の条
件に変え、それ以外は実施例4と同様の条件にて、第2
6表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 15> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for forming the photovoltaic layer were changed to several conditions shown in Table 25, and the other conditions were the same as in Example 15. Under the same conditions as 4, the second
A plurality of drums shown in Table 6 were prepared.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例16> 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第27表に示す数種の条
件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件にて
、第29表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 16> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 27. A plurality of drums shown in Table 29 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例17〉 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第27表に示す数種の条
件に変え、表面層の作成条件を第30表に示す条件にて
、第31表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 17> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 27. A plurality of drums shown in Table 31 were prepared under the conditions shown in Table 30.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例18〉 光導電層の作成条件を第25表に示す数種の条件に変え
、をれ以外は実施例5と同様の条件にて、第32表に示
す複数のドラムを用意した。
<Example 18> A plurality of drums shown in Table 32 were prepared under the same conditions as in Example 5 except for the conditions for forming the photoconductive layer, which were changed to several conditions shown in Table 25.

これらのドラムを実施例5と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例5と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 5,
In all cases, similar to Example 5, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例19〉 表面層の作成条件を第28表に示す条件に変え、光導電
層の作成条件を第27表に示す数種の条件に変え、それ
以外は実施例5と同様の条件にて、第33表に示す複数
のドラムを用意した。
<Example 19> The conditions for forming the surface layer were changed to those shown in Table 28, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the other conditions were the same as in Example 5. A plurality of drums shown in Table 33 were prepared.

これらのドラムを実施例5と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例5と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 5,
In all cases, similar to Example 5, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例20〉 表面層の作成条件を第30表に示す条件に変え、光導電
層の作成条件を第27表に示す数種の条件に変え、それ
以外は実施例5と同様の条件にて、第14表に示す複数
のドラムを用意した。
<Example 20> The conditions for forming the surface layer were changed to those shown in Table 30, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the other conditions were the same as in Example 5. A plurality of drums shown in Table 14 were prepared.

これらのドラムを実施例5と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例5と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 5,
In all cases, similar to Example 5, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例21> rR吸収層の作成条件を第35.36表に示す数種の条
件に変え、それ以外は実施例6と同様の条件にて、第3
7表に示す複数のドラムを用意し″た。
<Example 21> The conditions for creating the rR absorption layer were changed to several conditions shown in Tables 35 and 36, and the third
A plurality of drums shown in Table 7 were prepared.

これらのドラムを実施例6と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例6と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 6,
In all cases, similar to Example 6, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例24〉 IR吸収層の作成条件をi3s、38表に示す数種の条
件に変え、光導電層の作成条件を第25表に示す数種の
条件に変え、それ以外は実施例6と同様の条件にて、第
39表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 24> The conditions for creating the IR absorption layer were changed to i3s, several conditions shown in Table 38, the conditions for creating the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 25, and the other conditions were as in Example 6. A plurality of drums shown in Table 39 were prepared under the same conditions as above.

これらのドラムを実施例6と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例6と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 6,
In all cases, similar to Example 6, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例23〉 IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す数種の条
件に変え、光導電層の作成条件を第27表に示す数種の
条件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件に
て、第40表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 23> The conditions for forming the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 27. A plurality of drums shown in Table 40 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例日と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例6と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as on the example day,
In all cases, similar to Example 6, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例24〉 IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す数種の条
件に変え、光導電層の作成条件を第27表に示す数種の
条件に変え、表面層の作成条件を第30表に示す条件に
て、第41表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 24> The conditions for forming the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 27. A plurality of drums shown in Table 41 were prepared under the conditions shown in Table 30.

これらのドラムを実施例6と同様の評価にかりた結果、
いずれも実施例6と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of evaluating these drums in the same manner as in Example 6,
In all cases, similar to Example 6, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例25〉 密着層の作成条件を第42表に示す数種の条件に変え、
それ以外は実施例7と同様の条件にて、第43表に示す
複数のドラムを用意した。
<Example 25> The conditions for creating the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 42,
A plurality of drums shown in Table 43 were prepared under the same conditions as in Example 7 except for the above.

これらのドラムを実施例7と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例フと同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 7,
In all cases, drums that fully satisfied the electrophotographic characteristics were obtained, similar to Example F.

〈実施例26〉 密着層の作成条件を第44表に示す数種の条件に変え、
光導電層の作成条件を第25表に示す数種の条件に変え
、それ以外は実施例7と同様の条件にて、第45表に示
す複数のドラムを用意した。
<Example 26> The conditions for creating the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44,
A plurality of drums shown in Table 45 were prepared under the same conditions as in Example 7 except that the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 25.

これらのドラムを実施例7と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例7と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 7,
In all cases, similar to Example 7, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例27〉 密着層の作成条件を第44表に示す数種の条件に変え、
光導電層の作成条件を第27表に示す数種の条件に変え
、表面層の作成条件を第28表に示す条件にて、第4δ
表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 27> The conditions for creating the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44,
The conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to the conditions shown in Table 28.
A plurality of drums shown in the table were prepared.

これらのドラムを実施例7と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例7と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 7,
In all cases, similar to Example 7, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例28〉 密着層の作成条件を第44表に示す数種の条件に変え、
光導電層の作成条件を第27表に示す数種の条件に変え
、表面層の作成条件を第30表に示す条件にて、第47
表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 28> The conditions for forming the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44,
The conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to the conditions shown in Table 30.
A plurality of drums shown in the table were prepared.

これらのドラムを実施例7と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例7と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 7,
In all cases, similar to Example 7, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例°29〉 rR吸収層の作成条件を第35.36表に示す数種の条
件に変え、それ以外は実施例8と同様の条件にて、第4
8表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 29> The conditions for creating the rR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.36, and the fourth example was performed under the same conditions as in Example 8 except for
A plurality of drums shown in Table 8 were prepared.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例30〉 電荷注入阻止層の作成条件を第49表に示す数種の条件
に変え、IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、それ以外は実施例8と同様の条件に
て、第50表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 30> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 49, the conditions for forming the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the other conditions were not carried out. A plurality of drums shown in Table 50 were prepared under the same conditions as in Example 8.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例31> 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、IR吸収屡の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す
条件にて、第52表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 31> The conditions for creating the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for creating the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the surface layer was created. A plurality of drums shown in Table 52 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例32〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、IRc&収層の作成条件を第35.38表に示
す数種の条件に変え、表面層の作成条件を第30表に示
す条件にて、第53表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 32> The conditions for creating the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for creating the IRc & collection layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the surface layer was created. A plurality of drums shown in Table 53 were prepared under the conditions shown in Table 30.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例33〉 密着層の作成条件を第44.54表に示す数種の条件に
変え、それ以外は実施例9と同様の条件にて、第55表
に示す複数のドラムを用意した。
<Example 33> A plurality of drums shown in Table 55 were prepared under the same conditions as in Example 9 except that the conditions for forming the adhesive layer were changed to several conditions shown in Tables 44 and 54.

これらのドラムを実施例9と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例つと同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 9,
In each case, similar to Example 1, drums that fully satisfied the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例34〉 電荷注入阻止層の作成条件を第56表に示す数種の条件
に変え、密着層の作成条件を第44.57表に示す数種
の条件に変え、それ以外は実施例9と同様の条件にて、
第58表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 34> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 56, the conditions for forming the adhesive layer were changed to several conditions shown in Tables 44 and 57, and the other conditions were the same as in Example. Under the same conditions as 9,
A plurality of drums shown in Table 58 were prepared.

これらのドラムを実施例9と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例9と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 9,
In all cases, similar to Example 9, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例35〉 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、密着層の作成条件を第44.57表に示す数種
の条件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件
にて、第59表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 35> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for forming the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44.57, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 44.57. A plurality of drums shown in Table 59 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例9と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例9と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 9,
In all cases, similar to Example 9, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例36〉 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、密着層の作成条件を第44.57表に示す数種
の条件に変え、表面層の作成条件を第30表に示す条件
にて、第60表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 36> The conditions for creating the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for creating the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44.57, and the conditions for creating the surface layer were changed to several conditions shown in Table 44.57. A plurality of drums shown in Table 60 were prepared under the conditions shown in Table 30.

これらのドラムを実施例9と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例9と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 9,
In all cases, similar to Example 9, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例37〉 電荷注入阻止層の作成条件を第61表に示す数種の条件
に変え、それ以外は実施例10と同様の条件にて、第6
2表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 37> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several of the conditions shown in Table 61, and otherwise the conditions were the same as in Example 10.
A plurality of drums shown in Table 2 were prepared.

これらのドラムを実施例1oと同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例10と同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
These drums were subjected to the same evaluation as in Example 1o, and as in Example 10, all drums were obtained that fully satisfied the electrophotographic characteristics.

〈実施例38〉 電荷注入阻止層の作成条件を第64表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第63表に示す数種の条
件に変え、それ以外は実施例1Oと同様の条件にて、第
65表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 38> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 64, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 63, and the other conditions were as in Example 1O. A plurality of drums shown in Table 65 were prepared under the same conditions as above.

これらのドラムを実施例10と同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例1Oと同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 10, all drums were obtained which fully satisfied the electrophotographic characteristics as in Example 1O.

〈実施例39〉 電荷注入阻止層の作成条件を第64表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第66表に示す数種の条
件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件にて
、第67表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 39> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 64, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 66, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 66. A plurality of drums shown in Table 67 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例1Oと同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例10と同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
These drums were subjected to the same evaluation as in Example 1O, and as in Example 10, all drums were obtained that fully satisfied the electrophotographic characteristics.

〈実施例40〉 電荷注入阻止層の作成条件を第64表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第66表に示す数種の条
件に変え、表面層の作成条件を第30表に示す条件にて
、第68表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 40> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 64, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 66, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 66. A plurality of drums shown in Table 68 were prepared under the conditions shown in Table 30.

これらのドラムを実施例10と同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例10と同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
These drums were subjected to the same evaluation as in Example 10, and as in Example 10, all drums were obtained that fully satisfied the electrophotographic characteristics.

〈実施例41〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第69表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第70表に示す条件
にて、第71表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 41> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 35.38. A plurality of drums shown in Table 71 were prepared under the conditions shown in Table 69 for the preparation conditions and the conditions shown in Table 70 for the preparation conditions of the surface layer.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例42〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、rRi収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第72表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第70表に示す条件
にて、第73表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 42> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the rRi collection layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 51. A plurality of drums shown in Table 73 were prepared under the conditions for forming the surface layer as shown in Table 72 and the conditions for forming the surface layer as shown in Table 70.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例43〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、先導;層の作成条件を第69表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第28表に示す条件
にて、第74表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 43> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the conditions for forming the leading; A plurality of drums shown in Table 74 were prepared under the conditions for forming the surface layer as shown in Table 69 and the conditions for forming the surface layer as shown in Table 28.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例44〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第72表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第28表に示す条件
にて、第75表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 44> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 35.38. A plurality of drums shown in Table 75 were prepared under the conditions shown in Table 72 for the production conditions and the conditions for the production of the surface layer shown in Table 28.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例45〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第69表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第30表に示す条件
にて、第76表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 45> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 51. A plurality of drums shown in Table 76 were prepared under the conditions shown in Table 69 for the production conditions and the conditions for the production of the surface layer shown in Table 30.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例46〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、IR@、数層の作成条件を第35.38表に示
す数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第72表に
示す条件にして、表面層の作成条件を第30表に示す条
件にて、第77表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 46> The conditions for creating the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for creating IR@ and several layers were changed to several conditions shown in Table 35.38, and photoconductive A plurality of drums shown in Table 77 were prepared under the conditions for forming the layer as shown in Table 72 and the conditions for forming the surface layer as shown in Table 30.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例47〉 電荷注入阻止層、光導電層の作成条件を第78表に示す
条件にして、表面層の作成条件を第79表に示す複数の
ドラムを用意した。
<Example 47> A plurality of drums were prepared in which the conditions for forming the charge injection blocking layer and the photoconductive layer were as shown in Table 78, and the conditions for forming the surface layer were shown in Table 79.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例48〉 IR吸収層、電荷注入阻止層、光導電層の作成条件を第
80表に示す条件にして、表面層の作成条件を第81表
に示す複数のドラムを用意した。
Example 48 A plurality of drums were prepared, with the IR absorbing layer, charge injection blocking layer, and photoconductive layer prepared under the conditions shown in Table 80, and the surface layer formed under the conditions shown in Table 81.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例49〉 密着層、IR吸収層、電荷注入阻止層、光4電層の作成
条件を第82表に示す条件にして、表面層の作成条件を
第83表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 49> A plurality of drums were prepared with the conditions for forming the adhesion layer, IR absorption layer, charge injection blocking layer, and photovoltaic layer shown in Table 82, and the conditions for forming the surface layer shown in Table 83. did.

これらのドラムを実施例1Oと同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例1Oと同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
These drums were subjected to the same evaluation as in Example 1O, and as a result, all drums were obtained which fully satisfied the electrophotographic characteristics as in Example 1O.

〈実施例50〉 電荷注入阻止層、光4電層、中間層、表面層をそれぞれ
第84表に示す作成条件で、実施例1と同様にドラムを
作成し、同様の評価をかけた結果、実施例1と同様に、
きわめてすぐれた電子写真特性のドラムが得られた。
<Example 50> A drum was prepared in the same manner as in Example 1, with the charge injection blocking layer, photovoltaic layer, intermediate layer, and surface layer being prepared under the conditions shown in Table 84, and the same evaluation was performed. Similar to Example 1,
A drum with extremely excellent electrophotographic properties was obtained.

〈実施例51> 鏡面加工を施したシリンダーを更に様々な角度を持つ剣
バイトによる旋慇加工に供し、第4図のような断面形状
で第85表のような種々の断面パターンを持つシリンダ
ーをa数本用意した。該シリンダーを順次第2図の製造
装置にセットし、実施例1と同様の作成条件の基にドラ
ム作成に供した。作成されたドラムを実施例1と同様の
評価を行った結果、いずれも実施例1と同様に、電子写
真特性を十分に満足するドラムが得られた6〈実施例5
2〉 鏡面加工を施したシリンダーの表面を、引続き多数のベ
アリング用球の落下の基にさらしてシリンダー表面に無
数の打痕を生じせしめる、所謂表面ディンプル化処理を
施し、第5図のような断面形状で、第86表のような種
々の断面パターンを持つシリンダーを複数本用意した。
<Example 51> The mirror-finished cylinder was further subjected to turning processing using a sword bit with various angles to obtain cylinders with cross-sectional shapes as shown in Figure 4 and various cross-sectional patterns as shown in Table 85. I have prepared several books. The cylinders were sequentially set in the manufacturing apparatus shown in FIG. 2 and subjected to drum manufacturing under the same manufacturing conditions as in Example 1. The produced drums were evaluated in the same manner as in Example 1, and as a result, drums that fully satisfied the electrophotographic characteristics were obtained in all cases as in Example 1.6 <Example 5
2> The surface of the mirror-finished cylinder is then subjected to a so-called surface dimple treatment, in which the surface of the cylinder is exposed to the falling of many bearing balls, resulting in countless dents on the cylinder surface, resulting in a surface as shown in Figure 5. A plurality of cylinders having various cross-sectional patterns as shown in Table 86 were prepared.

該シリンダーを順次第2図の製造装置にセットし、実施
例1と同様の作成条件の基にドラム作成に供した。作成
されたドラムを実施例1と同様の評価を行った結果、い
ずれも実施例1と同様に、電子写真特性を十分に満足す
るドラムが得られた。
The cylinders were sequentially set in the manufacturing apparatus shown in FIG. 2 and subjected to drum manufacturing under the same manufacturing conditions as in Example 1. The produced drums were evaluated in the same manner as in Example 1, and as a result, drums that fully satisfied the electrophotographic characteristics were obtained in all cases, as in Example 1.

第23表 第24表 第25表 第32表 第  33  表 第  34  表 第35表 第 35 表(つづき) 第36表 第 36 表(つづき) 第37表 第38表 第 38 表(つづき) 第39表 第40  表 第41表 第43表 第45表 第46表 第47表 第48表 第49表 第  50  表 第51表 第52表 第53表 T%55表 第56表 第61表 第62表 第64表 第65表 第67表 第68表 第71表 第73表 第74表 第75表 第 76表 第77表 F%85表 第86表 〔発明の効果の概略〕 本発明の光受容部材は、水素原子又はハロゲン原子の少
なくとも一方をを含有するダイヤモンド状炭素薄膜で構
成された表面保護層を設けたことにより、光受容部材表
面の機械的損傷およびコロナ放電により生じるイオンや
オゾンによる変質を有効に防止することができるととも
に、帯電能や暗減衰等の電子写真特性にも優れたものが
得られ、本発明の光受容部材を電子写真用像形成部材と
して適用させた場合には、残留電位の影響が全くなく、
その電気的特性が安定しており、それを用いて得られた
画像は、ゴーストの発生、画像欠陥等のないすぐれたも
のとなる。
Table 23 Table 24 Table 25 Table 32 Table 33 Table 34 Table 35 Table 35 (continued) Table 36 Table 36 (continued) Table 37 Table 38 Table 38 (continued) Table 39 Table 40 Table 41 Table 43 Table 45 Table 46 Table 47 Table 48 Table 49 Table 50 Table 51 Table 52 Table 53 T% 55 Table 56 Table 61 Table 62 Table 64 Table 65 Table 67 Table 68 Table 71 Table 73 Table 74 Table 75 Table 76 Table 77 F%85 Table 86 [Summary of Effects of the Invention] Light-receiving member of the present invention By providing a surface protective layer composed of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms, the photoreceptor surface can be prevented from mechanical damage and deterioration by ions and ozone caused by corona discharge. In addition to being able to effectively prevent electrification, a product with excellent electrophotographic properties such as charging ability and dark decay can be obtained, and when the light receiving member of the present invention is applied as an electrophotographic image forming member, it is possible to prevent There is no influence of electric potential,
Its electrical characteristics are stable, and images obtained using it are excellent without ghosts or image defects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1(A)〜(+)図は本発明の光受容部材の層構造の
典型例のいくつかを模式的に示した図であり、第2.3
図は本発明の光受容部材を製造するための装置の典型例
で、第2図はグロー放電法による製造装置の模式的説明
図であり、第3図はマイクロ波放電法による製造装置の
模式的説明図である。第4図及び第5図は、本発明の光
受容部材の支持体の断面形状の例を示す図である。 100・・・光受容部材、101・・・支持体、102
・・・光導電層、103・・・表面保護層、104・・
・電荷注入阻止層、105・・・長波長光吸収層、10
6・・・密着層、107・・・自由表面、108・・・
中間層、2(11,301・・・反応室、202〜20
B、302〜30B・・・ガスボンベ、207〜211
.307〜311・・・マスフロコントローラ、212
〜216.312〜316・・・流入バルブ217〜2
21.317〜321・・・流出バルブ、222〜22
6,322〜326・・・バルブ、227〜231.3
27〜331・・・圧力調整器、232.233.33
2.333・・・補助バルブ、234.334・・・メ
インバルブ、235.335・・・リークバルブ23B
、33δ・・・真空計、237.337・・・基体シリ
ンダー、238.338・・・加熱ヒーター、239.
339・・・モーター240.340・・・高周波電源
、341・・・導波管、342・・・誘電体窓
Figures 1 (A) to (+) are diagrams schematically showing some typical examples of the layer structure of the light-receiving member of the present invention;
The figure shows a typical example of an apparatus for manufacturing the light-receiving member of the present invention, FIG. 2 is a schematic illustration of a manufacturing apparatus using a glow discharge method, and FIG. 3 is a schematic illustration of a manufacturing apparatus using a microwave discharge method. It is an explanatory diagram. FIGS. 4 and 5 are diagrams showing examples of the cross-sectional shape of the support of the light-receiving member of the present invention. 100... Light receiving member, 101... Support, 102
... Photoconductive layer, 103 ... Surface protective layer, 104 ...
- Charge injection blocking layer, 105...Long wavelength light absorption layer, 10
6... Adhesive layer, 107... Free surface, 108...
Intermediate layer, 2 (11,301... reaction chamber, 202-20
B, 302-30B... Gas cylinder, 207-211
.. 307-311...mass flow controller, 212
~216.312~316...Inflow valve 217~2
21.317~321...Outflow valve, 222~22
6,322~326...Valve, 227~231.3
27-331...Pressure regulator, 232.233.33
2.333...Auxiliary valve, 234.334...Main valve, 235.335...Leak valve 23B
, 33δ... Vacuum gauge, 237.337... Base cylinder, 238.338... Heater, 239.
339...Motor 240.340...High frequency power supply, 341...Waveguide, 342...Dielectric window

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)支持体と、該支持体上に、シリコン原子を母体と
し、水素原子又はハロゲン原子のうちの少なくともいず
れか一方を含有するアモルファス材料で構成された光導
電層と、表面保護層とを少なくとも有する光受容層とか
らなる光受容部材において、前記表面保護層が、水素原
子又はハロゲン原子の少なくとも一方を含有するダイヤ
モンド状炭素薄膜で構成されていることを特徴とする光
受容部材。
(1) A support, a photoconductive layer made of an amorphous material based on silicon atoms and containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms, and a surface protective layer on the support. 1. A light-receiving member comprising at least a light-receiving layer, wherein the surface protective layer is comprised of a diamond-like carbon thin film containing at least one of hydrogen atoms and halogen atoms.
(2)前記光受容層が、3層以上の多層構成である特許
請求の範囲第(1)項に記載された光受容部材。
(2) The light-receiving member according to claim (1), wherein the light-receiving layer has a multilayer structure of three or more layers.
(3)前記光受容層が、電荷注入阻止層を有する特許請
求の範囲第(2)項に記載された光受容部材。
(3) The light-receiving member according to claim (2), wherein the light-receiving layer has a charge injection blocking layer.
(4)前記光受容層が、長波長光吸収層を有する特許請
求の範囲第(2)項に記載された光受容部材。
(4) The light-receiving member according to claim (2), wherein the light-receiving layer has a long wavelength light absorption layer.
(5)前記光受容層が、接着性を改善する機能を備えた
接着層を有する特許請求の範囲第(2)項に記載された
光受容部材。
(5) The light-receiving member according to claim (2), wherein the light-receiving layer has an adhesive layer having a function of improving adhesiveness.
(6)前記光導電層と前記表面保護層との間に中間層を
有する特許請求の範囲第二項に記載された光受容部材。
(6) The light-receiving member according to claim 2, which has an intermediate layer between the photoconductive layer and the surface protection layer.
JP61119289A 1986-05-26 1986-05-26 Light receiving member Expired - Lifetime JPH0766196B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61119289A JPH0766196B2 (en) 1986-05-26 1986-05-26 Light receiving member

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61119289A JPH0766196B2 (en) 1986-05-26 1986-05-26 Light receiving member

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62276558A true JPS62276558A (en) 1987-12-01
JPH0766196B2 JPH0766196B2 (en) 1995-07-19

Family

ID=14757718

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61119289A Expired - Lifetime JPH0766196B2 (en) 1986-05-26 1986-05-26 Light receiving member

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0766196B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6346467A (en) * 1986-08-14 1988-02-27 Fuji Xerox Co Ltd Electrophotographic sensitive body
JPS6388560A (en) * 1986-10-02 1988-04-19 Fuji Xerox Co Ltd Production of functional layer of electrophotographic sensitive body
JP2002076414A (en) * 2000-08-28 2002-03-15 Abel Systems Inc Solar battery

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61208056A (en) * 1985-03-13 1986-09-16 Toray Ind Inc Electrophotographic sensitive body
JPS6223050A (en) * 1985-07-24 1987-01-31 Toray Ind Inc Electrophotographic sensitive body
JPS6243650A (en) * 1985-08-21 1987-02-25 Toray Ind Inc Electrophotographic sensitive body
JPS62226158A (en) * 1986-03-27 1987-10-05 Sharp Corp Electrophotographic sensitive body

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61208056A (en) * 1985-03-13 1986-09-16 Toray Ind Inc Electrophotographic sensitive body
JPS6223050A (en) * 1985-07-24 1987-01-31 Toray Ind Inc Electrophotographic sensitive body
JPS6243650A (en) * 1985-08-21 1987-02-25 Toray Ind Inc Electrophotographic sensitive body
JPS62226158A (en) * 1986-03-27 1987-10-05 Sharp Corp Electrophotographic sensitive body

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6346467A (en) * 1986-08-14 1988-02-27 Fuji Xerox Co Ltd Electrophotographic sensitive body
JPS6388560A (en) * 1986-10-02 1988-04-19 Fuji Xerox Co Ltd Production of functional layer of electrophotographic sensitive body
JP2002076414A (en) * 2000-08-28 2002-03-15 Abel Systems Inc Solar battery

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0766196B2 (en) 1995-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6348054B2 (en)
JPS62276558A (en) Light receiving member
JPS62205361A (en) Light receiving member for electrophotography and its production
JPS62276559A (en) Light receiving member
JPS62223762A (en) Light receiving member for electrophotography and its production
JPS62269147A (en) Light receiving material
JPS62278566A (en) Light receiving member
JPS63118162A (en) Photoreceptive member for electrophotography
JPS63198069A (en) Electrophotographic photoreceptive member
JPS62258470A (en) Photoreceptive member
JPS62265668A (en) Light receiving member
JPS6341060B2 (en)
JPS6083949A (en) Photoconductive member
JPS60140255A (en) Photoconductive member
JPS62203162A (en) Light receiving member for electrophotography
JPS63201663A (en) Electrophotographic photoreceptive member
JPS6345582B2 (en)
JPS61256354A (en) Photoreceptor
JPS60140254A (en) Photoconductive member
JPS63113469A (en) Electrophotographic photoreceptive member
JPS62272273A (en) Light receiving member
JPS63199361A (en) Electrophotographic photoreceptive member
JPS61204638A (en) Photoreceptor
JPS63204264A (en) Electrophotographic photoreceptive member
JPS62183468A (en) Electrophotographic light receiving member

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term