JPS6242382Y2 - - Google Patents

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JPS6242382Y2
JPS6242382Y2 JP13366282U JP13366282U JPS6242382Y2 JP S6242382 Y2 JPS6242382 Y2 JP S6242382Y2 JP 13366282 U JP13366282 U JP 13366282U JP 13366282 U JP13366282 U JP 13366282U JP S6242382 Y2 JPS6242382 Y2 JP S6242382Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、信号の一部に存在する特異状態を検
出し、2値化した出力を得ることを目的とする回
路に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to a circuit whose purpose is to detect a singular state existing in a part of a signal and obtain a binary output.

従来、かかる信号の一部を存在する特異状態を
検出する手段として、しきい値を用いる方法があ
る。これは信号と、ある臨界的な値を有する同質
の信号(しきい値)とを比較して、信号としきい
値との大小関係が反転したときをもつて、特異状
態の存在を判定しようとするものである。
Conventionally, there is a method of using a threshold as a means for detecting a singular state in which a portion of such a signal exists. This method compares a signal with a homogeneous signal (threshold) that has a certain critical value, and attempts to determine the existence of a singular state when the magnitude relationship between the signal and the threshold is reversed. It is something to do.

かかる、しきい値には一般的に固定レベルしき
い値と、浮動レベルしきい値とがある。固定レベ
ルしきい値とは、しきい値が信号の大小に拘らず
一定値を有するものであつて、第1図に例示した
ごときものである。
Such thresholds generally include fixed level thresholds and floating level thresholds. A fixed level threshold is one in which the threshold has a constant value regardless of the magnitude of the signal, as illustrated in FIG. 1.

第1図は、信号を例えば対象物に関するテレビ
カメラのビデオ信号とし、対象物に存在する疵に
対応する信号の特異部aを検出し、これを2値化
出力として取出そうとする場合を示している。こ
の場合のしきい値は図示のように固定の一定値を
有している。かかる検出方法は、たとえば被写体
の光量変化、周囲温度に対するセンサ(テレビカ
メラ)の特性変化、装置間の電気的特性のばらつ
き等により信号レベルやしきい値が変化した場
合、特異部の安定な検出を行うことができないば
かりでなく、場合によつては、信号の存在自体、
検出できないことが生じる。第2図ないし第4図
は、かかる場合を例示したものであつて、第2図
は特異部の検出ができない場合を示したものであ
り、第3図および第4図は信号自体の検出ができ
ない場合を示している。
FIG. 1 shows a case where the signal is, for example, a video signal from a television camera regarding an object, a singular part a of the signal corresponding to a flaw existing on the object is detected, and this is extracted as a binary output. ing. The threshold value in this case has a fixed constant value as shown in the figure. Such a detection method is capable of stably detecting a singular part when the signal level or threshold changes due to changes in the light intensity of the subject, changes in the characteristics of the sensor (TV camera) depending on the ambient temperature, variations in electrical characteristics between devices, etc. Not only is it impossible to do so, but in some cases the very existence of the signal
Undetectable results occur. Figures 2 to 4 illustrate such cases, with Figure 2 showing a case where the singular part cannot be detected, and Figures 3 and 4 showing a case where the signal itself cannot be detected. Indicates a case where this is not possible.

固定レベルしきい値による方法は、このような
欠点があり、従つてこの方法による場合は、しき
い値の設定が極めて微妙となるだけでなく、特異
状態の検出能力自体低下することを免れない。
The method using a fixed level threshold has these drawbacks, and therefore, when using this method, not only is the threshold setting extremely delicate, but the ability to detect singular states itself is inevitably reduced. .

浮動レベルしきい値による方法は、固定レベル
しきい値の、かかる欠点を解消するために考案さ
れたものであつて、第5図に例示されたごときも
のである。浮動レベルしきい値は、信号を増幅あ
るいは減衰させた後、遅延させたものであつて、
これをしきい値として用いて信号と適当に重ね合
わせて特異部bの検出を行おうとするものであ
る。この場合のしきい値は信号をもとに作られる
ものであるから、固定レベルしきい値のように、
被写体の光量変化、センサの温度特性、装置間の
電気的特性ばらつき等により検出能力が低下する
おそれが少いことを特徴としている。しかしなが
ら、浮動レベルしきい値による場合であつても、
信号としきい値の相互の関係が適切でないとき
は、必ずしも好結果を得ることはできない。たと
えば第6図は信号としきい値とが離れすぎている
ため、特異部cの検出ができない場合である。ま
た信号としきい値とが接近しすぎた第7図のよう
な場合は、信号の端部において、信号やしきい値
の有するノイズ等のため、2値化出力にチヤタリ
ング様のノイズを伴う現象が生じる。第7図の
A,Cはこの状況を示している。従つて浮動レベ
ルしきい値を用いる場合にあつても、信号としき
い値はある程度離して設定しなければならず、従
つて疵等の検知能力は十分とは言えなかつた。
The floating level threshold method was devised to overcome these drawbacks of fixed level thresholds, as illustrated in FIG. A floating level threshold is a signal that is amplified or attenuated and then delayed.
This is used as a threshold value and is appropriately superimposed on the signal to detect the singular part b. In this case, the threshold is created based on the signal, so like a fixed level threshold,
It is characterized by the fact that there is little possibility that the detection ability will deteriorate due to changes in the amount of light of the object, temperature characteristics of the sensor, variations in electrical characteristics between devices, etc. However, even with a floating level threshold,
If the mutual relationship between the signal and the threshold value is not appropriate, good results cannot necessarily be obtained. For example, FIG. 6 shows a case where the signal and the threshold are too far apart, so that the singularity c cannot be detected. In addition, if the signal and threshold are too close together as shown in Figure 7, a phenomenon occurs in which chattering-like noise occurs in the binarized output due to noise in the signal and threshold at the end of the signal. occurs. A and C in FIG. 7 show this situation. Therefore, even when a floating level threshold is used, the signal and threshold must be set a certain distance apart, and therefore the ability to detect defects, etc. cannot be said to be sufficient.

これに対し第8図Aに示すように、一定のカツ
トオフレベルを設定し、これ以下の部分に対応す
る2値化信号はあらわれないようにすることによ
つて、第8図cに示すごとく同図Bのa,bのご
とき低レベル部のノイズ信号を除去しようとする
方法が提案されている。しかしこの方法をもつて
しても第8図Bのcに示すような信号に接近した
ノイズは除去することが困難である。
In contrast, as shown in Fig. 8A, by setting a certain cutoff level and preventing the binary signal corresponding to the portion below this level from appearing, as shown in Fig. 8C, A method has been proposed that attempts to remove noise signals in low level parts such as a and b in FIG. However, even with this method, it is difficult to remove noise that is close to the signal as shown in c in FIG. 8B.

本考案は、このような信号端部におけるチヤタ
リング状ノイズを伴わないで、しかも従来の浮動
レベルしきい値による場合よりも検出能力を向上
できる浮動レベルしきい値2値化回路を提供しよ
うとするものである。
The present invention attempts to provide a floating level threshold binarization circuit that does not involve such chattering noise at the signal end and can improve the detection ability compared to the conventional floating level threshold. It is something.

第9図は本考案の一実施例の構成を示すブロツ
ク図である。また第11図は、第9図の実施例の
具体的構成を示す回路図であり、第12図は本考
案の2値化回路の動作を示すタイムチヤートであ
る。
FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. 11 is a circuit diagram showing a specific configuration of the embodiment shown in FIG. 9, and FIG. 12 is a time chart showing the operation of the binarization circuit of the present invention.

第9図の実施例においては1および2は遅延素
子、3および4は固定レベルによる2値化回
路、、5はANDゲート、6は減衰回路、7はアナ
ログスイツチ、8は比較回路である。第12図の
タイムチヤートを参照して、入力信号Aを遅延素
子1で適当に遅延させて第1の信号Bを作成す
る。信号Bは遅延素子2でさらに遅延されて信号
Cを生じる。次に信号Aを固定レベルでスライス
して2値化信号Dを得る。同様に信号Cを固定レ
ベルでスライスして2値化信号Eを得る。次に信
号Dと信号Eとの論理積である信号ゲート用信号
FをANDゲート5によつて求める。一方入力信
号Aを減衰回路6を通して適当に減衰させる。ア
ナログスイツチ7はゲート用信号Fの前縁部は長
い時定数で立上げ、後縁部は短い時定数で立下げ
た信号を作成して、この信号が高レベルの間、ア
ナログスイツチ7を導通させて前記減衰回路6の
出力を通し、低レベルのとき遮断して第2の信号
Hを得る。信号Hを信号Bに対するしきい値とし
て用い、比較回路8において両者を比較すること
によつて2値化された出力Gを得るものである。
この際、アナログスイツチが閉の間、信号Hは信
号Bの低レベルより適当な値だけ高い値に、強制
的に設定される。これによつて信号の低レベルの
部分でのノイズの発生を防止している。
In the embodiment shown in FIG. 9, 1 and 2 are delay elements, 3 and 4 are fixed level binarization circuits, 5 is an AND gate, 6 is an attenuation circuit, 7 is an analog switch, and 8 is a comparison circuit. Referring to the time chart in FIG. 12, input signal A is appropriately delayed by delay element 1 to create first signal B. Signal B is further delayed in delay element 2 to produce signal C. Next, the signal A is sliced at a fixed level to obtain a binary signal D. Similarly, the signal C is sliced at a fixed level to obtain the binarized signal E. Next, a signal gate signal F, which is the logical product of the signal D and the signal E, is obtained by the AND gate 5. On the other hand, the input signal A is appropriately attenuated through an attenuation circuit 6. The analog switch 7 creates a signal in which the leading edge of the gate signal F rises with a long time constant and the trailing edge falls with a short time constant, and while this signal is at a high level, the analog switch 7 is conductive. The second signal H is obtained by passing the output of the attenuation circuit 6 and cutting it off when the level is low. The signal H is used as a threshold value for the signal B, and a comparator circuit 8 compares the two to obtain a binarized output G.
At this time, while the analog switch is closed, signal H is forced to a value higher than the low level of signal B by an appropriate value. This prevents noise from occurring in the low level portion of the signal.

第10図は本考案の他の実施例の構成を示すブ
ロツク図である。第9図の実施例の場合における
固定レベルによる2値化回路3,4のかわりに、
サンプルホールド回路9,11および比較回路1
0,12が使用されている。ビデオ信号のような
場合、低いレベルが暗部、高いレベルが明部に相
当するので、、暗部に相当する低レベルをサンプ
ルホールドした後、サンプルホールドされた電位
に一定電位を加えたもので信号AまたはBをスラ
イスすることによつて第9図の実施例の場合にお
ける固定レベルによる2値化回路より、より安定
に信号DまたはEを得るものである。その他の部
分および各信号間のタイムチヤートに関しては第
9図の実施例の場合と異ならない。
FIG. 10 is a block diagram showing the structure of another embodiment of the present invention. Instead of the fixed level binarization circuits 3 and 4 in the embodiment of FIG.
Sample and hold circuits 9 and 11 and comparison circuit 1
0,12 are used. In the case of a video signal, a low level corresponds to a dark part and a high level corresponds to a bright part, so after sampling and holding the low level corresponding to the dark part, the signal A is obtained by adding a constant potential to the sampled and held potential. Alternatively, by slicing B, the signal D or E can be obtained more stably than in the binarization circuit using a fixed level in the embodiment of FIG. The other parts and the time charts between the signals are the same as in the embodiment shown in FIG.

第11図は、第9図の実施例の場合の具体的回
路構成を示す回路図である。同図において21,
22,23は増幅器、24,25は遅延素子、2
8,33はポテンシヨメータ、29,30,31
は比較器、32はNANDゲート、34はトランジ
スタ、35,36はダイオードである。
FIG. 11 is a circuit diagram showing a specific circuit configuration of the embodiment shown in FIG. 9. In the same figure, 21,
22 and 23 are amplifiers, 24 and 25 are delay elements, 2
8, 33 are potentiometers, 29, 30, 31
is a comparator, 32 is a NAND gate, 34 is a transistor, and 35 and 36 are diodes.

入力ビデオ信号を増幅器21で増幅した後、ダ
イオード36で整流することよつて同期信号を取
り除き、まつたくの映像信号のみをダイオード3
6のアノードから取り出す。次にこれを22およ
び23の増幅器で交流増幅した後、それぞれ遅延
素子24とポテンシヨメータ33に接続する。遅
延素子24の入力は第12図の波形Aに、遅延素
子24の出力は同じく波形Bにに、遅延素子25
の出力は同じく波形Cに相当する。増幅器23の
出力はポテンシヨメータ33に接続されているの
でポテンシヨメータ33の出力は波形Aを減衰し
たものであり、これは比較器29で接地電位と比
較されて第12図の2値化波形Dを形成する。ま
た比較器30は遅延素子25の出力すなわち波形
Cと接地電位とを比較して第12図の2値化波形
Eを形成する。次に上述の波形Dと波形Eの
NAND出力を求めると、第12図の波形Fを反転
した波形の出力が得られる。これをトランジスタ
34とダイオード35で構成されたアナログスイ
ツチに加えると、その高レベルのときはトランジ
スタ34を導通せしめる結果、ポテンシヨメータ
33からの減衰された信号Aは接地されて比較器
31に入力されず、低レベルのときはトランジス
タ34は遮断される結果、ポテンシヨメータ33
からの減衰された信号Aは比較器31に入力され
る。
After the input video signal is amplified by the amplifier 21, the synchronizing signal is removed by rectifying it by the diode 36, and only the video signal of the eye is amplified by the diode 3.
Take out from No. 6 anode. Next, this is AC amplified by amplifiers 22 and 23, and then connected to a delay element 24 and a potentiometer 33, respectively. The input of the delay element 24 is the waveform A in FIG. 12, the output of the delay element 24 is the same waveform B, and the delay element 25
The output also corresponds to waveform C. Since the output of the amplifier 23 is connected to the potentiometer 33, the output of the potentiometer 33 is an attenuated version of waveform A, which is compared with the ground potential by the comparator 29 and converted into a binary value as shown in FIG. A waveform D is formed. Further, the comparator 30 compares the output of the delay element 25, that is, the waveform C, and the ground potential to form a binarized waveform E shown in FIG. Next, the waveform D and waveform E mentioned above are
When the NAND output is determined, an output with a waveform that is an inversion of waveform F in FIG. 12 is obtained. When this is applied to an analog switch composed of a transistor 34 and a diode 35, when it is at a high level, the transistor 34 becomes conductive, and as a result, the attenuated signal A from the potentiometer 33 is grounded and input to the comparator 31. When the voltage level is low and the transistor 34 is cut off, the potentiometer 33
The attenuated signal A from is input to comparator 31.

従つて結局、アナログスイツチの出力として第
12図の波形Hが比較器31の一方の入力に加え
られる。同時に比較器31の他方の入力に遅延素
子24の出力すなわち波形Bを加えて両入力を比
較することにより、第12図の2値化出力波形G
が比較器31の出力に得られる。なおポテンシヨ
メータ28は、増幅器22,23のバイアス電位
を調整するためのもので、正負電源の間に接続さ
れて、一般にセンタリングと呼ばれているもので
あり、ポテンシヨメータ28とポテンシヨメータ
33の調節によつて波形Hの高レベルと低レベル
を適当に設定して、信号Hが前述の浮動レベルし
きい値として最も適切なレベル状態になるように
調整することができる。
Therefore, the waveform H shown in FIG. 12 is ultimately applied to one input of the comparator 31 as the output of the analog switch. At the same time, by adding the output of the delay element 24, that is, waveform B, to the other input of the comparator 31 and comparing both inputs, the binarized output waveform G shown in FIG.
is obtained at the output of comparator 31. Note that the potentiometer 28 is for adjusting the bias potential of the amplifiers 22 and 23, and is connected between the positive and negative power supplies, and is generally called centering. By adjusting 33, the high level and low level of waveform H can be set appropriately so that signal H can be adjusted to the most appropriate level state as the aforementioned floating level threshold.

またNANDゲート32の出力側とトランジスタ
34のゲートとの間には抵抗RとコンデンサCか
らなる時定数回路が設けられており、さらに抵抗
Rの両端にはダイオードDが並列に接続されてい
る。したがつてNANDゲート32の出力が高レベ
ルから低レベルに変化するときはダイオードDは
遮断状態であつて、トランジスタ34のベース入
力は、時定数RCに従つて遅れて変化する。従つ
てアナログスイツチは瞬間的に開かず時定数RC
に従つて次第に開状態となるので、アナログスイ
ツチの出力である波形Hの前縁は緩やかに立ち上
ることになる。この状態が第13図Aに示されて
いる。もしもR,Cの時定数回路がないときは、
第12図のゲート用信号Fと入力信号Aとの位相
関係によつては波形Hは第13図Bに示すごとく
急峻に立ち上り、そのため比較器31で比較され
る信号Bと交又して第13図Cに示すごとく、比
較器出力2値化信号Cの前縁に特異部と同様な誤
りの信号Sを生じることがある。これを防止する
にはゲート用信号Fの前縁を遅延させもよいが、
これでは入力信号の相当な部分を無視することに
なる。そこで前述のRとCの時定数回路に設けれ
ば信号Hの立上りは第13図Aのように緩やかに
なるので信号Bと交又を生じることはなくなり、
誤りの特異部信号Sの発生は防止される。一方
NANDゲート32の出力が低レベルから高レベル
に変化するときは、ダイオードDが導通するた
め、時定数は十分小さくなりNANDゲート32の
出力波形はそのまま比較器31に入力される。
Further, a time constant circuit consisting of a resistor R and a capacitor C is provided between the output side of the NAND gate 32 and the gate of the transistor 34, and a diode D is connected in parallel to both ends of the resistor R. Therefore, when the output of the NAND gate 32 changes from a high level to a low level, the diode D is cut off and the base input of the transistor 34 changes with a delay according to the time constant RC. Therefore, the analog switch does not open instantaneously and the time constant RC
Since the switch gradually becomes open according to , the leading edge of waveform H, which is the output of the analog switch, rises gradually. This state is shown in FIG. 13A. If there is no time constant circuit for R and C,
Depending on the phase relationship between the gate signal F and the input signal A in FIG. 12, the waveform H rises steeply as shown in FIG. As shown in FIG. 13C, an error signal S similar to the singular part may be generated at the leading edge of the comparator output binary signal C. To prevent this, the leading edge of the gate signal F may be delayed, but
This results in ignoring a significant portion of the input signal. Therefore, if the above-mentioned R and C time constant circuits are provided, the rise of the signal H becomes gradual as shown in FIG.
Generation of an erroneous singularity signal S is prevented. on the other hand
When the output of the NAND gate 32 changes from a low level to a high level, the diode D becomes conductive, so the time constant becomes sufficiently small, and the output waveform of the NAND gate 32 is input to the comparator 31 as is.

第9図、第10図または第11図の実施例に関
する以上の説明から、比較回路8または31にお
けるしきい値Hは、アナログスイツチを開閉する
信号Fのタイミングから、比較される信号Bに比
べて前後の端部が短縮されており、従つて入力信
号端部におけるチヤタリング状ノイズが出にく
い。さらにしきい値Hの低レベルは、信号Bの低
レベルより十分高く選ばれる結果、信号の低レベ
ル部分におけるノイズの発生も防止されている。
従つて本考案の浮動レベルしきい値2値化回路に
よればノイズの発生を防止して被験体の疵などに
起因する信号の特異部を高精度に検知できる。
From the above explanation regarding the embodiment of FIG. 9, FIG. 10, or FIG. The front and rear ends are shortened, so chattering noise is less likely to occur at the input signal ends. Furthermore, the low level of the threshold H is selected to be sufficiently higher than the low level of the signal B, thereby preventing noise from occurring in the low level portion of the signal.
Therefore, according to the floating level threshold binarization circuit of the present invention, it is possible to prevent the generation of noise and to detect with high precision a peculiar part of a signal caused by a flaw or the like on the subject.

以上説明したところから、本考案の浮動レベル
しきい値2値化回路を使用すれば、チヤタリング
状ノイズを発生することなく、しかも通常の浮動
レベルしきい値より検出感度を向上させることが
できるだけでなく、ゲート用信号と入力信号との
位相関係によつて誤つた2値化を行うのを防止で
きることが理解されるであろう。被写体をテレビ
カメラで観測した場合、通常の浮動レベルしきい
値を使用したのでは10%程度しか検出できなかつ
た被写体の疵が、本考案を用いることにより80%
程度検出できるようになつた。
From what has been explained above, by using the floating level threshold binarization circuit of the present invention, it is possible to improve the detection sensitivity compared to the normal floating level threshold without generating chattering noise. It will be understood that erroneous binarization can be prevented by the phase relationship between the gate signal and the input signal. When an object is observed with a television camera, only about 10% of the defects on the object could be detected using a normal floating level threshold, but by using this invention, 80% of the defects could be detected.
It became possible to detect the extent of

本考案は2値化回路に広く応用できるものであ
る。たとえば色検出装置、すなわち黄と白、黒と
灰、青と緑のように、コントラストのつきにくい
色の区別にも非常に有効なものである。実験の結
果でも黄色の背景に白色の疵がある場合の疵の検
出にも限界に近いところまで検出できたことか
ら、色検出装置、色識別装置等にも十分応用でき
るものと考えられる。
The present invention can be widely applied to binarization circuits. For example, the color detection device is very effective in distinguishing between colors that have low contrast, such as yellow and white, black and gray, and blue and green. As a result of experiments, it was possible to detect defects close to the limit even when there were white defects on a yellow background, so it is thought that this method can be sufficiently applied to color detection devices, color identification devices, etc.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図、第2図、第3図および第4図は固定レ
ベルしきい値の場合の動作を示す説明図である。
第5図、第6図、第7図および第8図は従来の浮
動レベルしきい値の動作を示す説明図である。第
9図は本考案の一実施例の構成を示すブロツク
図、第10図は本考案の他の実施例の構成を示す
ブロツク図、第11図は第9図の実施例の具体的
構成を示す回路図である。また第12図は本考案
の浮動レベルしきい値2値化回路の動作を示すタ
イムチヤート、第13図はゲート用信号作成手段
に時定数回路を付加した場合の動作を示すタイム
チヤートである。 1,2……遅延素子、3,4……固定レベルし
きい値2値化回路、5……ANDゲート、6……
減衰回路、7……アナログスイツチ、8……比較
回路、9,11……サンプルホールド回路、1
0,12……比較回路、21,22,23……増
幅器、24,25……遅延素子、28,33……
ポテンシヨメータ、29,30,31……比較
器、32……NANDゲート、34……トランジス
タ、35……ダイオード、R……抵抗、C……コ
ンデンサ、D……ダイオード。
FIGS. 1, 2, 3, and 4 are explanatory diagrams showing the operation in the case of a fixed level threshold.
FIGS. 5, 6, 7 and 8 are explanatory diagrams showing the operation of conventional floating level thresholds. FIG. 9 is a block diagram showing the structure of one embodiment of the present invention, FIG. 10 is a block diagram showing the structure of another embodiment of the present invention, and FIG. 11 shows the specific structure of the embodiment of FIG. FIG. Further, FIG. 12 is a time chart showing the operation of the floating level threshold value binarization circuit of the present invention, and FIG. 13 is a time chart showing the operation when a time constant circuit is added to the gate signal generating means. 1, 2... Delay element, 3, 4... Fixed level threshold value binarization circuit, 5... AND gate, 6...
Attenuation circuit, 7... Analog switch, 8... Comparison circuit, 9, 11... Sample hold circuit, 1
0, 12... Comparison circuit, 21, 22, 23... Amplifier, 24, 25... Delay element, 28, 33...
Potentiometer, 29, 30, 31... Comparator, 32... NAND gate, 34... Transistor, 35... Diode, R... Resistor, C... Capacitor, D... Diode.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 入力信号より遅延した第1の信号を作成する手
段、該第1の信号より遅延した第2の信号を作成
する手段、前記入力信号と第2の信号のそれぞれ
の2値化信号の論理積をとることによりゲート用
信号を作成する手段、前記入力信号を適当な高レ
ベルと低レベルとを有するごとく減衰させる減衰
手段、前記ゲート用信号を前縁部は長い時定数で
立上げ、後縁部は短い時定数で立下げた信号によ
り前記減衰手段からの出力が入力されるアナログ
スイツチを制御して第3の信号を作成する手段、
前記第1の信号と第3の信号とを比較して前記第
1の信号のレベルが前記第3の信号のレベルを超
えた期間に対応して2値化出力を発生する手段と
を具えたことを特徴とする浮動レベルしきい値2
値化回路。
means for creating a first signal delayed from the input signal; means for creating a second signal delayed from the first signal; and a logical product of the respective binary signals of the input signal and the second signal. attenuating means for attenuating the input signal so that it has appropriate high and low levels; and means for attenuating the input signal so that it has appropriate high and low levels. means for creating a third signal by controlling an analog switch into which the output from the attenuating means is input by a signal falling with a short time constant;
and means for comparing the first signal and the third signal and generating a binarized output corresponding to a period in which the level of the first signal exceeds the level of the third signal. Floating level threshold 2 characterized by
Value circuit.
JP13366282U 1982-09-02 1982-09-02 Floating level threshold binarization circuit Granted JPS58153366U (en)

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