JPS6242341A - 光学的情報処理装置 - Google Patents
光学的情報処理装置Info
- Publication number
- JPS6242341A JPS6242341A JP60181383A JP18138385A JPS6242341A JP S6242341 A JPS6242341 A JP S6242341A JP 60181383 A JP60181383 A JP 60181383A JP 18138385 A JP18138385 A JP 18138385A JP S6242341 A JPS6242341 A JP S6242341A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- beam splitter
- light source
- light
- semiconductor laser
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、光学的情報処理装置に係シ、特に光学式ビ
デオディスクやディノタルオーディオディスク等のいわ
ゆる光ディスクの情報再生に用いられるピックアップヘ
ッド部の改良に関する。
デオディスクやディノタルオーディオディスク等のいわ
ゆる光ディスクの情報再生に用いられるピックアップヘ
ッド部の改良に関する。
一般に、光ディスクは微細など、トの配列により、情報
が記録される。そして、光ディスクの情報読取シを行な
うビックアッグヘッドは、半導体レーザー等の光源とフ
ォトダイオード等の光検出器を備え、光源からの発散す
る光ビーム全コリメータレンズにより平行ビームに変換
して、対物レンズによシ光ディスクの情報記録面に集束
させて走査し、情報記録面からの反射光ビームを光検出
器により検出して、電気信号に変換するように構成され
ている。この時、記録面は丁度対物レンズの焦点位置に
あるため、記録面によって反射された光は、再度対物レ
ンズに入射し、対物レンズによって平行光線に変換され
て、コリメータレンズに入射し、コリメータレンズによ
って集束させられて、光源に向って逆進する。この光を
光検出器に導くためには、ビームスプリッタを用いる。
が記録される。そして、光ディスクの情報読取シを行な
うビックアッグヘッドは、半導体レーザー等の光源とフ
ォトダイオード等の光検出器を備え、光源からの発散す
る光ビーム全コリメータレンズにより平行ビームに変換
して、対物レンズによシ光ディスクの情報記録面に集束
させて走査し、情報記録面からの反射光ビームを光検出
器により検出して、電気信号に変換するように構成され
ている。この時、記録面は丁度対物レンズの焦点位置に
あるため、記録面によって反射された光は、再度対物レ
ンズに入射し、対物レンズによって平行光線に変換され
て、コリメータレンズに入射し、コリメータレンズによ
って集束させられて、光源に向って逆進する。この光を
光検出器に導くためには、ビームスプリッタを用いる。
このビームスシリツタを配置する位置としては、光が平
行光線となってbる対物レンズとコリメータレンズの間
と、光が集束光線となっているコリメータレンズと光源
との間が考えられる。どちらの場合でも、その効果は同
じであるが、どちらが有利となるかは、エラー信号の検
出方式、即ち、ビームスプリッタと光検出器との間にど
のような光学系が挿入されるかによって決定される。
行光線となってbる対物レンズとコリメータレンズの間
と、光が集束光線となっているコリメータレンズと光源
との間が考えられる。どちらの場合でも、その効果は同
じであるが、どちらが有利となるかは、エラー信号の検
出方式、即ち、ビームスプリッタと光検出器との間にど
のような光学系が挿入されるかによって決定される。
ここで言うエラー信号とは、フォーカシング及びトラッ
キングエラー信号である。光ディスクは、情報の記録又
は再生のために光ディスクを回転させなければならない
。ところが、光ディスクそのものは完全な平板ではない
ため、回転によって対物レンズと光ディスクの記録面と
の位置関係は変動する。これ全補正するために、ピック
アップでは、なんらかの方法によって位置の変動量に比
例した信号を作り、これによってアクチュエータにフィ
ード・ぐ、り全掛けて、対物レンズ又はピックアップ全
体あるvH光学部品の一部を動かし、対物レンズと光デ
ィスクの記録面との位置関係を常に一定とするフォーカ
シングと、対物レンズによるビームスポットが記録又は
再生を行なっている情報トラックからはずれないように
するためのトラ、キング全行なっている。この目的のた
めに、ピックアップで検出するエラー信号を夫々フを一
カスエラー信号、トラッキングエラー信号と言う。
キングエラー信号である。光ディスクは、情報の記録又
は再生のために光ディスクを回転させなければならない
。ところが、光ディスクそのものは完全な平板ではない
ため、回転によって対物レンズと光ディスクの記録面と
の位置関係は変動する。これ全補正するために、ピック
アップでは、なんらかの方法によって位置の変動量に比
例した信号を作り、これによってアクチュエータにフィ
ード・ぐ、り全掛けて、対物レンズ又はピックアップ全
体あるvH光学部品の一部を動かし、対物レンズと光デ
ィスクの記録面との位置関係を常に一定とするフォーカ
シングと、対物レンズによるビームスポットが記録又は
再生を行なっている情報トラックからはずれないように
するためのトラ、キング全行なっている。この目的のた
めに、ピックアップで検出するエラー信号を夫々フを一
カスエラー信号、トラッキングエラー信号と言う。
ところで、現在、実用化されている光ピツクアップの多
くは、フォーカスエラー信号の検出のために非点収差方
式を用いている。この非点収差方式とは、光検出器に向
う光を集束光とし。
くは、フォーカスエラー信号の検出のために非点収差方
式を用いている。この非点収差方式とは、光検出器に向
う光を集束光とし。
光検出器の前疋円筒レンズなどを配置して、非点収差を
発生させ、それにより発生する前側及び後側焦点の間に
光検出器の検出面を配置し、かつその検出面を4分割と
している。これによって、対物レンズによるビームス2
ツトと光デイスク記録面位置とのずれ(デフォーカス)
の量に比例して発生する光検出器面上での光ビームス2
ツト・ン夕・−ンの変形を電気信号として検出し、これ
をフォーカスエラー信号として−る。
発生させ、それにより発生する前側及び後側焦点の間に
光検出器の検出面を配置し、かつその検出面を4分割と
している。これによって、対物レンズによるビームス2
ツトと光デイスク記録面位置とのずれ(デフォーカス)
の量に比例して発生する光検出器面上での光ビームス2
ツト・ン夕・−ンの変形を電気信号として検出し、これ
をフォーカスエラー信号として−る。
この方式をとるためには、光検出器に入射する光を集束
光線としなければならない。このためK、ビームスプリ
ッタを対物レンズとコリメータレンズの間に配置すると
、この位置では光は平行光であるから、ビームスデリツ
タト光検出器の間に集束レンズ(凸レンズ)と円筒レン
ズを入れなければならな込。又、ビームスプリッタ全光
源とコリメータレンズの間に配置すれば、この位置では
、光は集束光であるから、ビームスプリッタと光検出器
との間には、円筒レンズのみの配置で良い。この関係を
第3図及び第4図に示す。尚、各図中、lは光源、2i
′j:ごリメータレンズ、3はビームスプリッタ、4は
集束レンズ、5は円筒レンズ、6は光検出器、7は対物
レンズ、8は光ディスクである。
光線としなければならない。このためK、ビームスプリ
ッタを対物レンズとコリメータレンズの間に配置すると
、この位置では光は平行光であるから、ビームスデリツ
タト光検出器の間に集束レンズ(凸レンズ)と円筒レン
ズを入れなければならな込。又、ビームスプリッタ全光
源とコリメータレンズの間に配置すれば、この位置では
、光は集束光であるから、ビームスプリッタと光検出器
との間には、円筒レンズのみの配置で良い。この関係を
第3図及び第4図に示す。尚、各図中、lは光源、2i
′j:ごリメータレンズ、3はビームスプリッタ、4は
集束レンズ、5は円筒レンズ、6は光検出器、7は対物
レンズ、8は光ディスクである。
さて、光が集束光又は発散光である位置に平行平面を持
つ透明物′Kを入れると、収差が発生する。例えば、平
行平面のがラス板をその法線と光軸とが一致するように
配置すると、光軸に沿った光の光路長と、集束光又は発
散光であるために存在する光軸に平行でない光の光路長
とは等しくならな−ため、ガラス板を通過した光には、
球面収差が発生する。又、ガラス板念、その法線と光軸
とがある角度を持つように配置すると、コマ収差と非点
収差が発生する。これらの収差は、角度とガラス板の屈
折率及び厚さに依存する。
つ透明物′Kを入れると、収差が発生する。例えば、平
行平面のがラス板をその法線と光軸とが一致するように
配置すると、光軸に沿った光の光路長と、集束光又は発
散光であるために存在する光軸に平行でない光の光路長
とは等しくならな−ため、ガラス板を通過した光には、
球面収差が発生する。又、ガラス板念、その法線と光軸
とがある角度を持つように配置すると、コマ収差と非点
収差が発生する。これらの収差は、角度とガラス板の屈
折率及び厚さに依存する。
光源1とコリメータレンズ2の間に、ビームスプリッタ
3であるがラス板を配置する場合には、球面収差は補正
出来る。即ち、球面収差は光軸に対して対称であるから
、コリメータレンズ2の残存球面収差でガラス板で発生
する球面収差を打消すようにすれば良い。ところが、コ
マ収差や非点収差は、光軸に対して対称ではないので、
そのようなレンズを作成することば難しい。そこで、第
5図に示すように、一般的にはビームスプリッタ3は直
角プリズム9.IQを2枚張り合せて平行平面を持つブ
ロックを形成し、その張シ合せ面に半透明膜1ノを付け
る構造となっている(プリズム型ビームスプリッタ)。
3であるがラス板を配置する場合には、球面収差は補正
出来る。即ち、球面収差は光軸に対して対称であるから
、コリメータレンズ2の残存球面収差でガラス板で発生
する球面収差を打消すようにすれば良い。ところが、コ
マ収差や非点収差は、光軸に対して対称ではないので、
そのようなレンズを作成することば難しい。そこで、第
5図に示すように、一般的にはビームスプリッタ3は直
角プリズム9.IQを2枚張り合せて平行平面を持つブ
ロックを形成し、その張シ合せ面に半透明膜1ノを付け
る構造となっている(プリズム型ビームスプリッタ)。
この構造によれば、前述のように発生する収差は球面収
差のみであるので、コリメータレンズ2で補正でき、問
題はない。
差のみであるので、コリメータレンズ2で補正でき、問
題はない。
ところが、コスト面では、高価なプリズムを2個使用す
ることと、張り合せる手間が必要であることから、相当
不利であることはまぬがれない。これを避けるには、平
行平面板に半透明鏡を付けただけのビームスプリッタを
使用すれば良いが、ビームスプリッタとしての機能、即
ち1反射光の一部全分離して、光検出器へ導くためには
、平行平面板の法線と光軸とを一致させる訳には行かな
い。ビームスプリッタトシて、機能させるには、平行平
面板の法線と光軸との間にある種度の角度を持たせねば
ならない。ところが、このようなビームスプリッタが、
光源1とコリメータレンズ2の間に有ると、コマ収差と
非点収差が発生し、このままの光ビームを対物レンズ7
で絞ると対物レンズ7が無収差であっても、光ディスク
8の記録面上のスポットは充分に小さく絞ることは出来
ない。
ることと、張り合せる手間が必要であることから、相当
不利であることはまぬがれない。これを避けるには、平
行平面板に半透明鏡を付けただけのビームスプリッタを
使用すれば良いが、ビームスプリッタとしての機能、即
ち1反射光の一部全分離して、光検出器へ導くためには
、平行平面板の法線と光軸とを一致させる訳には行かな
い。ビームスプリッタトシて、機能させるには、平行平
面板の法線と光軸との間にある種度の角度を持たせねば
ならない。ところが、このようなビームスプリッタが、
光源1とコリメータレンズ2の間に有ると、コマ収差と
非点収差が発生し、このままの光ビームを対物レンズ7
で絞ると対物レンズ7が無収差であっても、光ディスク
8の記録面上のスポットは充分に小さく絞ることは出来
ない。
これを避けるためKは、(1)コリメータレンズ2の焦
点距I11’(r充分大きく取る、(2)ガラス板の厚
さを薄くする、(3)カラス板の法線と光軸との角度を
小さくする、等の方法が考えられるが、夫々次のような
難点を持っている。
点距I11’(r充分大きく取る、(2)ガラス板の厚
さを薄くする、(3)カラス板の法線と光軸との角度を
小さくする、等の方法が考えられるが、夫々次のような
難点を持っている。
(1)の場合は、光源1として使用される半導体レーザ
ーの光は、その半値全角で10〜30度の広がシを持つ
光であるため、その光を有効に利用するためには、コリ
メータレンズ2のNAは、0.1以上でなければならな
い。
ーの光は、その半値全角で10〜30度の広がシを持つ
光であるため、その光を有効に利用するためには、コリ
メータレンズ2のNAは、0.1以上でなければならな
い。
(2)の場合は、ガラス板の厚さは、精度良く量産する
には、0.2−以上の厚さが必要である。
には、0.2−以上の厚さが必要である。
(3)の場合は、光軸とビームスプリッタ3のなす角度
が小さb場合には、光学部品の間隔を大きく取らないと
、部品同士が干渉してしまっため、ピックアップを小形
てすることができない。
が小さb場合には、光学部品の間隔を大きく取らないと
、部品同士が干渉してしまっため、ピックアップを小形
てすることができない。
角度としては、45度が理想的である。
この発明の目的は、上記問題点全解消し、低コストで小
形のピックアップが得られる光学的情報処理装置全提供
することである。
形のピックアップが得られる光学的情報処理装置全提供
することである。
この発明は、光ビーム走査により読取られる情報が記録
される記録媒体に情報再生及び/又は記録用の光ビーム
を送出する半導体レーザーからなる光源と、この光源か
らの光ビーム全上記記録媒体の情報記録面に集束させる
ためのコリメータレンズ及び対物レンズと、上記情報記
録面から得られた情報を含む光ビームを光検出器へ導く
ビームスプリッタとを少なくとも備えた光学的情報処理
装置におりて、上記ビームスプリッタとして透明な平行
平面物質に半透膜を付けたものを用い、更にこのビーム
スプリッタを、上記光源とコリメータレンズとを結ぶ光
軸とビームスプリッタの法線を含む面と、半導体レーデ
−のPN接合面とが平行となるように固定してなる光学
的情報処理装置である。
される記録媒体に情報再生及び/又は記録用の光ビーム
を送出する半導体レーザーからなる光源と、この光源か
らの光ビーム全上記記録媒体の情報記録面に集束させる
ためのコリメータレンズ及び対物レンズと、上記情報記
録面から得られた情報を含む光ビームを光検出器へ導く
ビームスプリッタとを少なくとも備えた光学的情報処理
装置におりて、上記ビームスプリッタとして透明な平行
平面物質に半透膜を付けたものを用い、更にこのビーム
スプリッタを、上記光源とコリメータレンズとを結ぶ光
軸とビームスプリッタの法線を含む面と、半導体レーデ
−のPN接合面とが平行となるように固定してなる光学
的情報処理装置である。
一般に、光ピツクアップに光源として用いられて込る半
導体レーザーは、その構造からくる原理によって、多少
の非点収差を持っているが、これを第6図によう説明す
る。
導体レーザーは、その構造からくる原理によって、多少
の非点収差を持っているが、これを第6図によう説明す
る。
即ち、半導体レーザーは、光を発生させるPN接合と発
生した光を効率良く閉込めるための導波路によって形成
されている。この導波路は、屈折率差を持つ物質によっ
て構成され、光音導波する導波部分と、導波部分より僅
かに大きな屈折率を持つクラッド部分からなっている。
生した光を効率良く閉込めるための導波路によって形成
されている。この導波路は、屈折率差を持つ物質によっ
て構成され、光音導波する導波部分と、導波部分より僅
かに大きな屈折率を持つクラッド部分からなっている。
導波部分は、その断面が長方形全していて、PN接合の
方向に大きく、PN接合と直交する方向に小さい。
方向に大きく、PN接合と直交する方向に小さい。
半導体レーザーの放射角は、λ/dに比例する。
ここで、λは波長、dは開口径を表す。従って。
半導体レーザー光の放射角は、PN接合に直交する方向
で大きく、PN接合の方向で小さい。
で大きく、PN接合の方向で小さい。
このような放射角を持つ光の光源から離れた位置での波
面は、球面波ではなく、回転楕円に近い◇逆に、このよ
うな波面を光源に辿ると、あたかも光軸上で僅かにずれ
た2点から発光している光と等しい。即ち、光源に非点
隔差があり。
面は、球面波ではなく、回転楕円に近い◇逆に、このよ
うな波面を光源に辿ると、あたかも光軸上で僅かにずれ
た2点から発光している光と等しい。即ち、光源に非点
隔差があり。
放射された光は非収差をもっていることになる。
一般の半導体レーザーでは、非点隔差の値は10〜50
μmの程度である。
μmの程度である。
そこで、前述のビームスシリツタと半24体レーザーの
方向とを考え合せれば、双方の非点収差を軽減させるこ
とが出来る。即ち、レンズとその焦点の間にガラス板を
入れて傾けると、原点位置はレンズから離れる方向に移
動する。その量は、ガラスの厚さと屈折率と角度に比例
する。このことは、傾いたガラス板の法線とレンズの光
軸とを同時に含む面の方向も、それに直交する面の方向
も同じであるが、前者と後者の方向では焦点位置が異な
ってしまう。前者の″(点は、後者の焦点よりレンズか
ら離れた位置に形成される。
方向とを考え合せれば、双方の非点収差を軽減させるこ
とが出来る。即ち、レンズとその焦点の間にガラス板を
入れて傾けると、原点位置はレンズから離れる方向に移
動する。その量は、ガラスの厚さと屈折率と角度に比例
する。このことは、傾いたガラス板の法線とレンズの光
軸とを同時に含む面の方向も、それに直交する面の方向
も同じであるが、前者と後者の方向では焦点位置が異な
ってしまう。前者の″(点は、後者の焦点よりレンズか
ら離れた位置に形成される。
これを利用して、半導体レーザーの持つ非点収差を軽減
するKは、ガラス板のビームスプリッタによって発生す
る非点隔差と半導体レーザーの非点隔差とを合せれば、
良い。即ち、半導体レーザーのPN接合とは直交する方
向に、−一ムスプリッタを傾ければ良い。
するKは、ガラス板のビームスプリッタによって発生す
る非点隔差と半導体レーザーの非点隔差とを合せれば、
良い。即ち、半導体レーザーのPN接合とは直交する方
向に、−一ムスプリッタを傾ければ良い。
これまでの説明で述べたように、半導体レーザーは必ず
非点隔差ΔZLDを持つ。これをピックアップに適用す
ると、対物レンズの焦点にも非点隔差ΔZOLを生じる
。
非点隔差ΔZLDを持つ。これをピックアップに適用す
ると、対物レンズの焦点にも非点隔差ΔZOLを生じる
。
foL:対物レンズの焦点距離
fcL : コリメータレンズの焦点距離そこで、ピッ
クアップでは、fcLを出来るだけ長く、fOLを出来
るだけ短くするように設計する。ところが、fCLを長
くすると、NAが小さくなるため、レーザー光からの放
射角を有効にディスクに導く利用効率は小さくなる。と
ころが、この発明により見掛は上のΔZLDヲ小さく出
来れば、fCLは無理に小さくしなくて済み、光の利用
効率は向上する。加えて、fCLが小さければ、ピック
アップは小形に出来る。又、プリズム型のビームスプリ
ッタでなく、平板型のビームスプリッタが使用出来るた
め、コストの引下げにも有効である。
クアップでは、fcLを出来るだけ長く、fOLを出来
るだけ短くするように設計する。ところが、fCLを長
くすると、NAが小さくなるため、レーザー光からの放
射角を有効にディスクに導く利用効率は小さくなる。と
ころが、この発明により見掛は上のΔZLDヲ小さく出
来れば、fCLは無理に小さくしなくて済み、光の利用
効率は向上する。加えて、fCLが小さければ、ピック
アップは小形に出来る。又、プリズム型のビームスプリ
ッタでなく、平板型のビームスプリッタが使用出来るた
め、コストの引下げにも有効である。
さて、上記のような事情から、この発明の光学的情報処
理装置例えば光学式ピックアップは第1図及び第2図に
示すように構成されて騒る。
理装置例えば光学式ピックアップは第1図及び第2図に
示すように構成されて騒る。
即ち、従来例と同一箇所は同一符号を付すと、光源1と
同軸上に平板ビームスプリッタ12、コリメータレンズ
2、対物レンズ7、ディスク8が頭次所定間隔を置いて
配置されている。この場合、上記平板ビームスプリッタ
12は上記光軸に対し45度傾斜して配設され、更に上
記光軸と直交する方向に平板ビームスプリッタ12と所
定間隔を置すて円筒レンズ5、光検出器6が配設されて
−る。
同軸上に平板ビームスプリッタ12、コリメータレンズ
2、対物レンズ7、ディスク8が頭次所定間隔を置いて
配置されている。この場合、上記平板ビームスプリッタ
12は上記光軸に対し45度傾斜して配設され、更に上
記光軸と直交する方向に平板ビームスプリッタ12と所
定間隔を置すて円筒レンズ5、光検出器6が配設されて
−る。
上記平板ビームスプリッタ12の上面には、反射光と透
過光とを適当な比率で反射かつ透過させるための薄膜が
形成されてbる。このような平板ビームスプリッタ12
で光源1である半導体レーザーの持つ非点隔差を補正す
るためには、第2図に示すように平板ビームスプリッタ
12を光源1とコリメータレンズ2とを結ぶ光軸と、平
板ビームスプリッタ12の法線とを含む面と光源1つま
夛半導体レーザーのPNN接合上が平行となるように配
置する。
過光とを適当な比率で反射かつ透過させるための薄膜が
形成されてbる。このような平板ビームスプリッタ12
で光源1である半導体レーザーの持つ非点隔差を補正す
るためには、第2図に示すように平板ビームスプリッタ
12を光源1とコリメータレンズ2とを結ぶ光軸と、平
板ビームスプリッタ12の法線とを含む面と光源1つま
夛半導体レーザーのPNN接合上が平行となるように配
置する。
この発明によれば、ビームスプリッタ12として透明な
平行平面物質に半透膜を付けたものを用い、更にこのビ
ームスプリッタ12′t−1光源1とコリメータレンズ
2とを結ぶ光軸とビームスプリッタ12の法線を含む面
と、半導体レーザーのPN接合面とが平行となるように
固定しているので、低いコストで小形のピックアップを
実現することが出来る。
平行平面物質に半透膜を付けたものを用い、更にこのビ
ームスプリッタ12′t−1光源1とコリメータレンズ
2とを結ぶ光軸とビームスプリッタ12の法線を含む面
と、半導体レーザーのPN接合面とが平行となるように
固定しているので、低いコストで小形のピックアップを
実現することが出来る。
第1図はこの発明の一実施例に係る光学的情報処理装置
を示す概略構成図、第2図はこの発明における光源とビ
ームスプリッタとの位置関係を示す斜視図、第3図及び
第4図は従来の光学的情報処理装置の2例を示す概略構
成図、第5図は従来の光学的情報処理装置で用いるプリ
ズム型ビームスプリッタを示す側面図、第6図は半導体
レーザーの構造例と放射されるレーザービームの形状を
示す斜視図である。 1・・・光源、2・・・コリメータレンズ、5・・・円
筒レンズ、6・・・光検出器、7・・・対物レンズ、8
・・・光ディスク、12・・・平板ビームスプリッタ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦8チ゛イズグ 第4図
を示す概略構成図、第2図はこの発明における光源とビ
ームスプリッタとの位置関係を示す斜視図、第3図及び
第4図は従来の光学的情報処理装置の2例を示す概略構
成図、第5図は従来の光学的情報処理装置で用いるプリ
ズム型ビームスプリッタを示す側面図、第6図は半導体
レーザーの構造例と放射されるレーザービームの形状を
示す斜視図である。 1・・・光源、2・・・コリメータレンズ、5・・・円
筒レンズ、6・・・光検出器、7・・・対物レンズ、8
・・・光ディスク、12・・・平板ビームスプリッタ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦8チ゛イズグ 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光ビーム走査により読取られる情報が記録される記録媒
体に情報再生及び/又は記録用の光ビームを送出する半
導体レーザーからなる光源と、この光源からの光ビーム
を上記記録媒体の情報記録面に集束させるためのコリメ
ータレンズ及び対物レンズと、上記情報記録面から得ら
れた情報を含む光ビームを光検出器へ導くビームスプリ
ッタとを少なくとも備えた光学的情報処理装置において
、 上記ビームスプリッタとして透明な平行平面物質に半透
膜を付けたものを用い、更にこのビームスプリッタを、
上記光源とコリメータレンズとを結ぶ光軸とビームスプ
リッタの法線を含む面と、半導体レーザーのPN接合面
とが平行となるように固定してなることを特徴とする光
学的情報処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60181383A JPS6242341A (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 光学的情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60181383A JPS6242341A (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 光学的情報処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6242341A true JPS6242341A (ja) | 1987-02-24 |
Family
ID=16099769
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60181383A Pending JPS6242341A (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 | 光学的情報処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6242341A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11029217B2 (en) | 2014-10-24 | 2021-06-08 | Watlow Electric Manufacturing Company | Rapid response sensor housing |
-
1985
- 1985-08-19 JP JP60181383A patent/JPS6242341A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11029217B2 (en) | 2014-10-24 | 2021-06-08 | Watlow Electric Manufacturing Company | Rapid response sensor housing |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100388515B1 (ko) | 광학픽업장치 | |
US4406520A (en) | Beam splitter optical system of signal pickup device | |
JPS6227456B2 (ja) | ||
US4577941A (en) | Optical apparatus | |
JPH0582658B2 (ja) | ||
JPS60131648A (ja) | 光学ヘツド | |
US5745304A (en) | Integrated optical pickup system capable of reading optical disks of different thickness | |
JPS60124035A (ja) | 光ヘッド装置 | |
EP1327244B1 (en) | Optical scanning device | |
JPS6322370B2 (ja) | ||
KR100230227B1 (ko) | 광픽업 | |
KR100689722B1 (ko) | 내부에 이동 가능형 소자의 위치를 검출하는 검출계를포함한 광학 주사장치 | |
JPS62137736A (ja) | 光ヘツド装置 | |
JPS6242341A (ja) | 光学的情報処理装置 | |
KR100252170B1 (ko) | 광헤드 | |
JPS63129529A (ja) | 光学式ピツクアツプヘツド | |
JPH0536767B2 (ja) | ||
JPH09259458A (ja) | 光学装置及びこの光学装置を用いた光ピックアップ装置 | |
KR100248038B1 (ko) | 광픽업 | |
JP2506972B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
JP2513237B2 (ja) | 光ヘッド装置 | |
JPH0827968B2 (ja) | ビーム整形装置と光学ヘッド装置 | |
JPH04209335A (ja) | 発光部材 | |
JPS6029947A (ja) | 情報記録再生装置 | |
JPS60187941A (ja) | 光情報検出装置 |