JPS6240873A - Picture reader - Google Patents

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JPS6240873A
JPS6240873A JP60180436A JP18043685A JPS6240873A JP S6240873 A JPS6240873 A JP S6240873A JP 60180436 A JP60180436 A JP 60180436A JP 18043685 A JP18043685 A JP 18043685A JP S6240873 A JPS6240873 A JP S6240873A
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JP
Japan
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image
shading
defective bit
signal
sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP60180436A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinobu Mita
三田 良信
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS6240873A publication Critical patent/JPS6240873A/en
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Abstract

PURPOSE:To restore the picture signal of a faulty bit, by providing a faulty bit correcting means which corrects the picture signal of a faulty bit by estimating the picture signal from the picture signals of surronding picture elements. CONSTITUTION:A shift register 101 makes picture signals A1, A2, and A3 from an on-dimensional line sensor 100 to correspond to the sensor cell positions of the sensor 100 and a faulty bit position 104 caused by the snsor 100 and optical path to the sensor 100 is specified by means of a faulty bit position specifying means 102. When the picture signal A2 of the faulty bit is corrected, a data selector 103 performs the correction by estimating the picture signal from the picture signals of surrounding picture elements. Accordingly, the means 102 informs the signal to the selector 103 by means of a select signal 105 at the timing when the picture signal corresponding to the faulty bit is inputted to the register 101 and the selector 103 restores the are picture element adjacent to the picture element before held by the register 101 as the picture signals of the faulty bit.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は例えばCOD等のイメージセンサを用いた画像
読取装置に関し、特にイメージセンサを含む光学系に起
因して欠陥ビットと判定されたセンサセルからの画像信
号の補正の改良に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an image reading device using an image sensor such as a COD, and in particular, the present invention relates to an image reading device using an image sensor such as a COD. This invention relates to improvements in image signal correction.

以下余白 [従来の技術] 例えばCCDIのイメージセンサ(撮像素子)固有の問
題にいわゆるシェーディング及び欠陥ビットという問題
がある。
Margins Below [Prior Art] For example, problems specific to CCDI image sensors (imaging devices) include so-called shading and defective bits.

シェーディングとは、イメージセンサを用いたスキャナ
で真っ白い原稿を読み取って、イメージセンサの−)二
走査1周期分のビデオ信号を観測すると、信号レベルが
甲担にならずに歪んでみえる事である。この東は真っ白
の原稿でなくとも普通の原稿を読み取る時でも現れ、ラ
インセンサはシェーディングを含んだビデオ信号を出力
する。この信号をそのまま2 (ifiや階調データに
変換すると出力画像の画質が1りれたようになる。そこ
で、シ以ド余白 ニーティングを補止する東が必要になる。シェーディン
グの原因としては光源、レンズの結像特性(C094則
)、センサのばらつき等が考えられている。
Shading is when a pure white document is read with a scanner using an image sensor, and when the video signal for one cycle of -) two scans of the image sensor is observed, the signal level appears to be distorted without being too sharp. This east appears even when reading an ordinary original, even if it is not a pure white original, and the line sensor outputs a video signal that includes shading. If this signal is converted directly into 2 (ifi or gradation data), the image quality of the output image will be reduced by 1.Therefore, it is necessary to correct the edge margin niting.The cause of shading is The light source, lens imaging characteristics (C094 rule), sensor variations, etc. are considered.

−・方、欠陥ビットとは、イメージセンサの一部ビット
の出力そのものが極めて低く、その部分がセンサとして
の機能をしないものである。原因としては、例えばCO
D等であれば、チップそのものの−・部の欠陥、又は光
学系等のキズ等が考えられている。
- On the other hand, a defective bit is one in which the output of some bits of an image sensor is extremely low, and that part does not function as a sensor. Causes include, for example, CO
If it is D or the like, it is thought that there is a defect in the - part of the chip itself, or a scratch in the optical system, etc.

そこで、従来からイメージセンサを画像読み取り装置に
用いるに際して、1.記シェーディングの補正及び欠陥
ビットの検出、欠陥ビットの画像信号の復元等は不可欠
である。そして従来はその欠陥ビットの検出及び特にそ
の画像信号の復元を行うために、複雑な回路を用いてい
た。
Therefore, conventionally, when using an image sensor in an image reading device, 1. Correction of shading, detection of defective bits, restoration of image signals of defective bits, etc. are essential. Conventionally, complicated circuits have been used to detect the defective bits and especially to restore the image signal.

[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、欠陥ビットの補1Fのための複雑な独1
’t−した回路を設ける事は画像読取装置の小型化、省
スペース化の障害となっていた。本発明は1、記従来技
術の欠点に鑑みてなされたもので、極めて筒中な構成に
より欠陥ビットの画像値1(の復元をif能とする画像
読取装置を提案し、特にシェーディング補11−の為の
回路と回路を−・部共有するIGにより史に小規模化を
追求した画像読取装置を提案する小を課題とする。
[Problems to be solved by the invention] However, it is difficult to solve the problem by using a complicated unique system to compensate for defective bits.
Providing a 't-shaped circuit has been an obstacle to downsizing and space saving of image reading devices. The present invention has been made in view of the drawbacks of the prior art as described in 1., and proposes an image reading device that is capable of restoring the image value 1 (1) of a defective bit with an extremely complicated configuration. Our goal is to propose an image reading device that pursues miniaturization by using an IG that shares parts of the circuit and the circuit for the purpose of the present invention.

E問題点を解決するだめの−L段] 1、記課題を達成するために例えば第1図に示す実施例
の画像読取装置は、イメージセンサの−・例である1次
元ラインセンサ100と、ラインセンサ100からの画
像信号AI  、A2 、A3 と該イメージセンサの
センサセル位置とを対応付ける画像値1)特足手段であ
る例えばシフ]・レジスタlO1と、ラインセンサlO
O及びラインセンサ100への光路に起因する欠陥ビッ
トの位置104を特定する欠陥ビット位置特定−手段1
02と、欠陥ビットの画像信号A2を補止する時は周囲
の画素の画像信号から推定1.て補正する欠陥どット補
止手段の−・例であるデータセレクタ103とを有する
1. In order to achieve the above-mentioned problems, the image reading device of the embodiment shown in FIG. 1 includes a one-dimensional line sensor 100, which is an example of an image sensor; An image value that associates the image signals AI, A2, A3 from the line sensor 100 with the sensor cell position of the image sensor 1) A special means such as a shift register lO1 and a line sensor lO
Defective bit location identification means 1 for identifying the location 104 of a defective bit due to the optical path to the O and line sensor 100
02, and when correcting the image signal A2 of the defective bit, estimate 1.02 from the image signals of surrounding pixels. The data selector 103 is an example of a defect correction means for correcting defective dots.

「作用」 かかる第1図の構成において、欠陥ビット位置特定手段
102はシフトレジスタ101に欠陥ビットに対応する
画像値りが入力するタイミングをとらえて、セレノi・
信り105により、データセレクタ103はシフト1/
ジスタ101に保持されている1画素前の隣接画素の画
像信号を欠陥ビットの画像信号として復元する。
"Operation" In the configuration shown in FIG.
Due to the signal 105, the data selector 103 selects shift 1/
The image signal of the adjacent pixel one pixel before, which is held in the register 101, is restored as the image signal of the defective bit.

[実施例J 以ド添付図面に従って、本発明に係る実施例を史に訂、
1111に説明する。
[Example J Hereinafter, the embodiments of the present invention will be summarized according to the attached drawings,
1111 will explain.

く読取動作〉 ′rPJ2図(a)は実施例の画像読取装置に供される
欠陥ビット位d検出及びシェーディング補iTE tl
r−決定のための動nの概念を図示する。第2図(a)
に小す様に、原稿載置台2の先端に取りつけられた白色
補庄板lを光鯨13により照射して、その反Q4光を光
学系4がイメージセンサ(本例の場合は1次元ラインセ
ンサ)3上に結像する。光学系4及υラインセンサ3が
図中の矢印方向に移動して、その白色袖+E k 1を
走査17終るまでにシェーディング補IFμ及び、欠陥
ビットの位置を決定するどい〉ものである。
Reading operation>'rPJ2 Figure (a) shows the defective bit position d detection and shading correction iTE tl used in the image reading device of the embodiment.
Figure 3 illustrates the concept of movement n for r-determination. Figure 2(a)
The optical system 4 illuminates the white auxiliary plate l attached to the tip of the original platen 2 with the light whale 13 so that it is small in size, and the optical system 4 transmits the inverse Q4 light to the image sensor (in this example, a one-dimensional line (sensor) 3. The optical system 4 and the line sensor 3 move in the direction of the arrow in the figure to determine the shading correction IFμ and the position of the defective bit by the time the white sleeve +Ek1 is scanned 17.

〈構成〉 第2図(b)に欠陥ビット検出のための回路ロジックを
示す。図中、5は照度から濃度・\の変換を行うログ(
LOG)変換部、7は欠陥ビット’rIl定部、8はシ
ェーディング補止(五及び欠陥ビットに関する情報を蓄
えるシェーディングRAM、9は画像データの補正とシ
ェーディングの補正を行う補正部である。
<Configuration> FIG. 2(b) shows the circuit logic for detecting defective bits. In the figure, 5 is a log (
7 is a defective bit 'rIl fixing section; 8 is a shading RAM that stores information regarding the shading correction (5 and defective bits); 9 is a correction section that corrects image data and shading.

ラインセンサ3からの出力15をA/D変換されたディ
ジタルレベルとすると、LOG変換部5により輝度レベ
ルから濃度レベルの画像信号に変換きれる。濃度レベル
の画像信号16は欠陥ビット判定部7により欠陥ビット
を含む信号であるかどうかの判定を行われる。そして、
そのビットのセンサセルが欠陥ビットであるのか否かの
情報(欠陥ビット情報)、及びそのビットが欠陥ビット
でないときはそのシェー・テインク補+IE星(シェー
 O ティングデータ)をシェープインクRAM8に保イfす
る。欠陥ビット情報、シェ〜テイングデータはRAM付
勢信り12により、シェーディングRAM8に占き込ま
れる。本実施例では、欠陥ピッ]・情報及びシェープイ
ンクデータを総称してシェーディング補止データという
小とする。このように、シェーディングRAM8にシェ
ーディング補(Iデータを記憶した後に、補IE部9は
画像信号16に対17てシェーディングRAM8に記憶
されているシェープインクデータを用いてシェーディン
グ補止を行いながら、−・鮫の原稿を読み取る。
If the output 15 from the line sensor 3 is an A/D converted digital level, the LOG converter 5 can convert the brightness level into an image signal of the density level. The image signal 16 at the density level is determined by a defective bit determining section 7 whether or not it is a signal containing a defective bit. and,
Information on whether or not the sensor cell of that bit is a defective bit (defective bit information), and if that bit is not a defective bit, the shape ink complement + IE star (shaping data) is stored in the shape ink RAM 8. do. The defective bit information and shading data are loaded into the shading RAM 8 by the RAM activation signal 12. In this embodiment, the defect information and shape ink data are collectively referred to as shading correction data. In this way, after storing the shading compensation (I data) in the shading RAM 8, the supplementary IE section 9 performs shading compensation on the image signal 16 using the shape ink data stored in the shading RAM 8, while -・Read the shark manuscript.

又、欠陥ピントと判定されたセルによる・般原稿からの
出力に対しては後述する方法により補正した画像信号を
得る。
Further, for the output from the general document due to the cell determined to be in defective focus, an image signal corrected by the method described later is obtained.

欠陥ピッ]・判定部7はその−・例として第3図(a)
に不す様にOR回路等により構成される。
Defect pin]・The determination unit 7 is shown in FIG. 3(a) as an example.
It is constructed by an OR circuit or the like so as to avoid the following problems.

濃度レベルの画像値1416がnビットのD1〜Doで
あるとすると、第3図(a)のDs++ihが欠陥ビッ
ト情報、D、、02・・・、Dxがシェープインクデー
タである。
Assuming that the density level image value 1416 is n-bit D1 to Do, Ds++ih in FIG. 3(a) is defective bit information, and D, 02, . . . , Dx are shape ink data.

〈補止データの決定〉 本実施例におけるシェーディング補IFデータの決定に
ついて説明する。欠陥ビット判定部7にり、〜D1の画
像信号16が入力すると、ラインセンサ3及び光学系が
正常であれば、白色補iT、板lからの画像信号16の
MSHに近いビットDn、Dn用・・・Dxは”O°′
でアリ、従ってシェーディングに応じた濃度レベルとし
てLSBに近いDA 、D2 、D3・・・、DXのみ
が出力される。
<Determination of supplementary data> Determination of shading supplementary IF data in this embodiment will be explained. When the image signal 16 of ~D1 is input to the defective bit determination unit 7, if the line sensor 3 and the optical system are normal, the bits Dn and Dn near the MSH of the image signal 16 from the white supplement iT and plate 1 are input. ...Dx is "O°'
Therefore, only DA, D2, D3, . . . , DX, which are close to LSB, are output as density levels corresponding to shading.

尚、ド4h何ピッi・までをシェーディングデータとし
て扱って、残りの1−位ビツトを欠陥ピッ]・の判定に
使うかは、つまりXをどのように決定するかは出力画像
データの階調性やシェーディングRAMの客足との兼ね
あい等の条件によって決めるもので、本実施例では限定
しない。
In addition, how many bits of 4h are treated as shading data and the remaining 1-bit bits are used for determining defective bits, that is, how to determine X, depends on the gradation of the output image data. This is determined depending on conditions such as the nature of the shading RAM and the number of customers of the shading RAM, and is not limited to this embodiment.

そこで本実施例では、もしMSBに近いビットDn  
、Dnl 、Dn−2・+ 、Dx (7)いずれがが
“°1″となる場合、そのビットは欠陥ビット、あるい
はシェーディング補正対象外のビットと判定する。この
ように本実施例ではシェーディング補1F:対象外のビ
ットも欠陥ビットとみなしている。
Therefore, in this embodiment, if the bit Dn near the MSB
, Dnl, Dn-2.+, Dx (7) If any of them becomes "°1", that bit is determined to be a defective bit or a bit not subject to shading correction. In this way, in this embodiment, the bits that are not targeted for shading compensation 1F are also regarded as defective bits.

シェーディング補IF対象外のビットとは、センサ表面
ガラスの傷等のために光が散乱してしまい、通常前られ
るべきシェーディングデータより極端に大きな濃度レベ
ルを持つビットである。この場合、画像データにシェー
ディング補正を施しても、入力画像の絶対出力が小さく
、階調性の良い画像データが得られなイ事や、ガラス面
での光の散乱によりそのビットのデータが頁のデータで
ある保証がない東等の理由により、シェーブイブ補正対
象外のデータも欠陥ビットとして扱う。
The bits that are not subject to the shading compensation IF are bits whose light is scattered due to scratches on the sensor surface glass, etc., and which have an extremely higher density level than the shading data that should normally be processed. In this case, even if shading correction is applied to the image data, the absolute output of the input image is small, making it difficult to obtain image data with good gradation, or the data of that bit may be distorted from page to page due to light scattering on the glass surface. Because there is no guarantee that the data is correct, data that is not subject to shave-even correction is also treated as a defective bit.

第3図(a)中のORゲー)20により濃度レベルの画
像信号16のD n ” D xのいずれかが” 1 
”の時に、欠陥ビットのサインとしてシェーディング補
正データ10の最−1−位ビツ)Ds+6+に” 1 
”をたてて、画像信号16のLSHに近いF位ビットD
I 、D2 、D3・・・、DXはそのままシェーディ
ングデータとする。即ち4欠陥ビツト情報とシェープイ
ンクデータからなるシェーディング補正データ10は最
)−位ビツ)DSIGNと下位ビットDI 、D2 、
D3・・・、Dxとで構成され、シェーディングRAM
8に記憶される。
According to the OR game (in FIG. 3(a)) 20, either D n ” D x of the image signal 16 at the density level becomes 1
”, the sign of the defective bit is the most negative bit of the shading correction data 10) Ds+6+” 1
” and the F-order bit D near the LSH of the image signal 16
I, D2, D3, . . . , DX are used as shading data as they are. That is, the shading correction data 10 consisting of 4 defective bit information and shape ink data consists of the lowest (-) bit) DSIGN and the lower bits DI, D2,
Consisting of D3..., Dx, shading RAM
8 is stored.

又、前記欠陥ビットの検出は、第3図(b)に示した方
法によっても検出できる。即ち、画像値号16をある 
・定の閑イ1白21とコンパレータ22により比較]7
、画像信号16が閾葡21より大きかったllrに、そ
のビットを欠陥ビットと判定し、10定イぽi D S
 IGNを°゛l゛′とする。そして、シェーディング
データの−・部はそのまま欠陥ビット情報T)s1+;
NとともにシェーディングRAM8に記憶する。又、第
3図(a)、(b)の方法においては、トイ☆ビットの
みをシェーディングデータとしているが、1.イ☆ビッ
トがl°“の時には欠陥ビットとじて判定されるために
、その時にド位ビットのシェーディングデータは必要な
いから、シェーディングRAM8にシェーディングデー
タは記憶しないようにしてもよい。
Further, the defective bit can also be detected by the method shown in FIG. 3(b). That is, if the image value number 16 is
・Compare by constant Kan Ai 1 White 21 and Comparator 22] 7
, if the image signal 16 is larger than the threshold value 21, that bit is determined to be a defective bit, and the 10 constant ipoi D S
Let IGN be °゛l゛′. Then, the - part of the shading data remains as defective bit information T) s1+;
It is stored in the shading RAM 8 together with N. In addition, in the methods shown in FIGS. 3(a) and 3(b), only the toy bits are used as shading data, but 1. Since the ☆ bit is determined to be a defective bit when it is 1°", the shading data of the d-order bit is not needed at that time, so the shading data may not be stored in the shading RAM 8.

以1−の様にシェープインクRAM8には欠陥ビット情
報とシェープインクデータが記憶される。只、一度欠陥
ビット情報が“l゛′になると、例えその原因がシェー
ディング補正板1の傷等が原因でもラインセンサそのも
のの欠陥として以後取り扱われてしまう。そこで本実施
例では、第4図(a)に小すように、例え欠陥ビット情
tνが°゛l′”となったセンサのビットでも、シェー
ディング補正板lの走査で全て欠陥ビットと判定きれな
い限り、欠陥ビットとじてみなさないようにする。第4
図(a)は、白色補正板1をラインセンサ3が走査して
、例えばカラム2についてのDSIGNが変化する様r
−を示す。ライン3までのDSIGNは°“0゛である
が、ライン4,5は°°1′。
As shown in 1- below, defective bit information and shape ink data are stored in the shape ink RAM 8. However, once the defective bit information becomes "l", even if the cause is a scratch on the shading correction plate 1, it will be treated as a defect in the line sensor itself.Therefore, in this embodiment, as shown in FIG. As shown in a), even if the sensor bits have defective bit information tν of °゛l', they should not be regarded as defective bits unless they can all be determined as defective bits by scanning the shading correction plate l. Make it. Fourth
Figure (a) shows how the line sensor 3 scans the white correction plate 1 and, for example, the DSIGN for column 2 changes.
- indicates. DSIGN up to line 3 is 0°, but lines 4 and 5 are 1'.

となる。しかし、−・度でもDSIGNが“°0″と判
定されたカラム2のビットは欠陥ビットとみなさないの
である。
becomes. However, the bit in column 2 whose DSIGN is determined to be "0" even at -.degrees is not regarded as a defective bit.

〈シェープインク情報の記憶〉 そのようにするために、シェーディングRAM  G 8は実際には第4図(b)で示す様な構成になっている
。図中、30はRAMのアドレスカウンタ笠を含むアド
レス制御部で、シェーディング補1Fテータ10の最1
−位ビットM S B (D 5IGN)を記fflす
る欠陥ピッ]・情報RAM31及びシェーディングデー
タ(DI・・・)を記憶するシェーディングデータRA
M32にアドレス信号37を出力する。33はRAM3
1.32の書き込み許可信号を発生するRAM制御部で
ある。RAM31 、32の容にはラインセンサ3の長
さだけある。
<Storing Shape Ink Information> In order to do this, the shading RAM G8 actually has a configuration as shown in FIG. 4(b). In the figure, numeral 30 is an address control unit including a RAM address counter cap, and the shading supplement 1F data 10 is the first one.
Defect pin that records - bit MSB (D5IGN)]・Shading data RA that stores information RAM 31 and shading data (DI...)
Address signal 37 is output to M32. 33 is RAM3
This is a RAM control unit that generates a write permission signal of 1.32. The capacity of the RAMs 31 and 32 is equal to the length of the line sensor 3.

以ド、第4図(b)を参照して動作を説明する。第2図
(b)中の欠陥ビット判定部7より出力された欠陥ビッ
ト情報DSIGNとシェーディングデータ(Dz・・・
)から成るシェーディング補正データ10のうち1M5
Bある欠陥情報DSIG)Iは欠陥ヒツト情報RAM3
1に入力され、補IFチータフ 1Oの他のピッ1(DI・・・)はシェーディングデー
タRAM32に入力される。アドレス制御部30は画像
転送りロックCLKごとにRAM31 。
The operation will now be explained with reference to FIG. 4(b). The defective bit information DSIGN and shading data (Dz...
) out of 10 shading correction data consisting of 1M5
B Defect information DSIG) I is defect information RAM3
1, and other pins (DI...) of the auxiliary IF Cheetah 1O are input to the shading data RAM 32. The address control unit 30 stores a RAM 31 for each image transfer lock CLK.

32に出力するアドレスをカウントアツプして、ライン
センサ3の画素数までカウントし、水1i同期信号HS
 Y N Cごとに内部のアドレスカウンタをクリアす
る。このアドレス値により、ラインセンサ3の個々のビ
ットに対応した欠陥ビット情報及びシェーディングデー
タをRAM31.32内に保存する。
32 is counted up to the number of pixels of the line sensor 3, and the water 1i synchronization signal HS is
Clear the internal address counter every YNC. Using this address value, defective bit information and shading data corresponding to each bit of the line sensor 3 are stored in the RAM 31,32.

ところで、RAM制御部33に入力するRAM付勢信号
12は白色補正板lの読み取り時に” 1 ”となり、
欠陥ビット情報RAM31、シェーディングデータRA
M32のE端fに入力してそれらを付勢する。又、RA
M制御部33にはRAM付勢信号12と欠陥ビット情報
DSIGN、及び木47−同期信号HSYNCが人力さ
れる。そこで、RAM制御部33より出力される信号に
ついて説明する。
By the way, the RAM energizing signal 12 input to the RAM control unit 33 becomes "1" when reading the white correction plate l.
Defective bit information RAM31, shading data RA
It is input to the E end f of M32 to energize them. Also, R.A.
The RAM activation signal 12, defective bit information DSIGN, and tree 47-synchronization signal HSYNC are manually input to the M control unit 33. Therefore, the signals output from the RAM control section 33 will be explained.

信号35は、先ず白色補11゛板1の第1ラインに対し
てはRA M (−1勢信り12が“l″となった直後
に1水重量期期間つまり白色補正板1の1ラインを読み
取る時間の間” 1 ”となる。そのようにして、第1
ラインに対応する全ビットのシェープインクデータをi
!)き込む。第2ライン[1以隆に対しては、欠陥ピッ
i・情報DSIGNが°0”のとき、つまり、欠陥ビッ
トでない時にも°°1°゛となり、シエーテイングデー
タRAM32を書き込み語11丁状態にする。
First, the signal 35 is transmitted for one water period period, that is, one line of the white correction plate 1, immediately after the -1 force signal 12 becomes "1" for the first line of the white correction plate 1. becomes "1" during the time it takes to read.In this way, the first
All bits of shape ink data corresponding to the line are i
! ). For lines 1 and above, when the defective bit information DSIGN is 0'', that is, even when it is not a defective bit, it is 1°, and the writing data RAM 32 is written in the 11th line state. Make it.

一方、RAM制御部33の出力信号36は、先ず第1ラ
インに対してRAM伺勢信号12が” 1″”となった
直後にl水IIi同期期間の間゛1°。
On the other hand, the output signal 36 of the RAM control unit 33 first changes to "1" during the 1 water II synchronization period immediately after the RAM inquiry signal 12 becomes "1" for the first line.

となり、その後欠陥ビット情報DSIGNが0゛°の時
つまり欠陥ビットでない時に1″となり、欠陥ビット情
報RAMに欠陥ビットでないという情報DSIGN−0
を書き込む。DSIGNがl″の時は信号36は0′′
であり、欠陥ビット情報RAM31の内容を変更しない
Then, when the defective bit information DSIGN is 0゛°, that is, when it is not a defective bit, it becomes 1'', and the information DSIGN-0 indicating that it is not a defective bit is stored in the defective bit information RAM.
Write. When DSIGN is l'', signal 36 is 0''
Therefore, the contents of the defective bit information RAM 31 are not changed.

以1−の動作により、複数ラインの白色補正板読み取り
時に欠陥ビットと判定されなかった時は、いつでも欠陥
ビット情報DSIGN= Oが欠陥ヒツト情報RAM3
1に書き込まれるので、白色補正板1のキズ又は汚れ等
で・面欠陥ビットと判定されたとしても、他のライン(
実質的には最終ライン)で欠陥ヒツトと判定されなけれ
ば、そのヒツトのセンサを1常なものとして取り扱う。
By the operation described in 1- above, whenever a defective bit is not determined when reading multiple lines of the white correction plate, the defective bit information DSIGN=O is stored in the defective bit information RAM3.
1, so even if it is determined to be a surface defect bit due to scratches or dirt on the white correction plate 1, other lines (
If a defective human is not determined at the final line (substantially the final line), the human's sensor is treated as normal.

このように取り扱っても、シェープインクデータにより
シェーディング補止で対処出来るからである。本例では
欠陥ビット情報及びシェープインクデータを袖+E&1
を走査している間は変更できるようにしているが、他の
方法としてDSIGNであるラインの数を数えて、その
数が所定の数を越えた時は、以後にDSIGNが1″′
であるラインがあっても、RAM31.32を書き換え
ずに欠陥ビットとはみなきないという方V、も名えられ
る。
This is because even if handled in this way, shading correction can be performed using shape ink data. In this example, the defective bit information and shape ink data are
can be changed while scanning, but another method is to count the number of lines that are DSIGN, and if that number exceeds a predetermined number, the DSIGN will be changed to 1''' from then on.
There is also a person V who says that even if there is a line, it cannot be regarded as a defective bit without rewriting RAM 31, 32.

くシェーディング補止〉 白色補正板読補 ビット及びシェープインクデータ等のシェーディング補
11情報を?!)だ!−で、−・般の原稿の読み取りを
行う事がif能となる。即ち、シェーディングRAM8
は画像読み取り時には、RAM伺勢信号12により読み
出し専用に切り換えられる。読出ごれた欠陥ビット情報
及びシェープインクデータは袖i’l二云−タ11と1
7て、第2図(b)の補正部9に画像信号16と共に入
力され、補任部9からシェーディング補■1:及び欠陥
ピッI・補正された信す14を得る。補正部9は第5図
に示す様な構成になっている。図中、42は信号振り分
は部で、シェーディングRAM8の出力11は欠陥ビッ
トを示す最I−f☆ピッt・(DSIGN) 45とシ
ェーディング濃度データ44に振り分けられる。シェー
ディング81隻データ44は濃度画像信号16とともに
減算回路40に入力され、シェーディング補11;され
る。このシェープインク補IF−により、ラインセンサ
3の特性のバラツキ又はレンズの特性が補償される。尚
、本実施例中シェープインク補i1Eはa1隻レベルで
行っているので、減算回路40において、シェーディン
グ補1[を行っているが、輝度レベルの画像信号に対し
てシェーディング補IF]する時は第2図(b)の輝度
レベルの画像信号15に対して、第5図の減算回路40
の代りに除算回路を用いる!バは、i゛うまでもない。
Shading correction> Shading correction 11 information such as white correction plate reading correction bit and shape ink data? ! )is! In -, it becomes possible to read a general manuscript. That is, shading RAM8
When reading an image, it is switched to read-only mode by the RAM inquiry signal 12. The defective bit information and shape ink data that have been read out are stored in the sleeves 11 and 1.
7, it is input together with the image signal 16 to the correction section 9 in FIG. The correction section 9 has a configuration as shown in FIG. In the figure, numeral 42 indicates the signal distribution portion, and the output 11 of the shading RAM 8 is distributed to the most I-f*pit·(DSIGN) 45 indicating a defective bit and shading density data 44. The shading 81 ship data 44 is input to a subtraction circuit 40 together with the density image signal 16, and shading correction 11 is performed. This shape ink compensation IF- compensates for variations in the characteristics of the line sensor 3 or the characteristics of the lens. In this embodiment, the shape ink compensation i1E is performed at the a1 level, so when performing shading compensation 1 [but shading compensation IF] for the image signal at the luminance level in the subtraction circuit 40, The subtraction circuit 40 of FIG. 5
Use a division circuit instead! It goes without saying.

〈欠陥ビットの補11−〉 通常のシェーディング補IFは(−記のように行うが、
次に欠陥ビンi・と判定されたセンサセルからの出力で
ある画像信号の補正について述べる。減算回路40によ
りシエーテイング補正された画像信号46はシフトレジ
スタ41に入力され、画像転送りロックでラッチされる
。従って、シフトレジスタ41により1画素分′M延さ
れるので、シフトレジスタ41の出力である画像信号4
7は画像イ、−8壮46の1つ11f1の隣接画素であ
る。そこで、信す−振り分は部42の出力45がl″′
、つまりシフトレジスタ41に入力しようとしている画
像信号46は欠陥ビットであるセンサからの画像信号で
あった時は、データセレクタ43において、セレクト信
号45により、1つ前の画像信号47が選択出力される
。欠陥ビットでない時、即ちセレクト信号45が°°0
”′である時は、注目画素の画像信号46が出力される
<Compensation for defective bits 11-> The normal shading compensation IF is performed as shown in (-),
Next, correction of the image signal output from the sensor cell determined to be defective bin i will be described. The image signal 46 subjected to shedding correction by the subtraction circuit 40 is input to a shift register 41 and latched by an image transfer lock. Therefore, since the shift register 41 extends the image signal 4' by one pixel, the image signal 4 which is the output of the shift register 41
7 is an adjacent pixel of one 11f1 of image A, -8 and 46. Therefore, the output 45 of the section 42 is l'''
In other words, when the image signal 46 to be input to the shift register 41 is an image signal from a sensor with a defective bit, the data selector 43 selects and outputs the previous image signal 47 by the select signal 45. Ru. When there is no defective bit, that is, the select signal 45 is °°0.
``'', the image signal 46 of the pixel of interest is output.

〈補iE部の変形例) 第2図(b)中の補正部9、特に欠陥ビットの補正のた
めの第5図のシフ) 1/ジスタ41及びデータセレク
タ43に代る別の実施例を示す。この変形例は第6図(
a)に示す様に、欠陥ピッI・からの画像信号の時は欠
陥ビットに応答する画素の周囲6画素のデータにより欠
陥ビットの補iEを行うものである。第6図(b)中、
51〜53はラインバッファで、1つのラインバッフγ
はラインセンサ3の1ライン分の8早をもつ。第6図(
b)中の54〜64は全てシフ]・レジスタであり、特
にシフトレジスタ54〜62の出力は第6図(a)の画
素構成に対応する。従ってシフトレジスタ58は第6図
(a)のA9に対応する。
(Modified example of supplementary iE section) Correction section 9 in FIG. 2(b), especially shift in FIG. 5 for correction of defective bits) show. This modification is shown in Figure 6 (
As shown in a), when the image signal is from a defective pixel I, the defective bit is compensated for using the data of six pixels surrounding the pixel that responds to the defective bit. In Figure 6(b),
51 to 53 are line buffers, one line buffer γ
has a speed of 8 times corresponding to one line of the line sensor 3. Figure 6 (
54 to 64 in b) are all shift registers, and in particular, the outputs of the shift registers 54 to 62 correspond to the pixel configuration shown in FIG. 6(a). Therefore, the shift register 58 corresponds to A9 in FIG. 6(a).

今、1111画像データを第6図(a)のA9とした時
に注目画素に対応する欠陥ビットの判定信号はシフ]・
レジスタ64より出力される。シフトレジスタ63.6
4はシフトレジスタ54〜62との出力同期を11多る
ためである。
Now, when the 1111 image data is set to A9 in FIG. 6(a), the determination signal of the defective bit corresponding to the pixel of interest is shifted].
It is output from the register 64. shift register 63.6
4 is because the output synchronization with the shift registers 54 to 62 is increased by 11.

11均化部65は注目画素周囲の周囲の6画素Ax 、
A3 、A4 、A5 、A8 、Asの入力を受け、
それぞれの画素に屯み付は係数がかけられて11L均値
が出力される。ラインバッファ51は注目画ふの前ライ
ンのシェーディング補正後の画像信号が出力され、ライ
ンバッファ52は注目画素のラインのシエーテイング補
IL後の画像信号が出力され、ラインバッファ53は注
目画素の次のラインのシェーディング補正後の画像信号
が出力される。ラインバッファ51〜53の出力はシフ
トレジスタ54,57.60に入力され、シフトレジス
タ55,56,58,59,61.62により、画像転
送りロックでシフトされる。
11 The equalization unit 65 calculates the surrounding six pixels Ax around the pixel of interest,
Receive input of A3, A4, A5, A8, As,
Each pixel is multiplied by a coefficient and an 11L average value is output. The line buffer 51 outputs the image signal after shading correction of the line before the pixel of interest, the line buffer 52 outputs the image signal after shading correction IL of the line of the pixel of interest, and the line buffer 53 outputs the image signal after shading correction of the line of the pixel of interest. An image signal after line shading correction is output. The outputs of the line buffers 51 to 53 are input to shift registers 54, 57, and 60, and shifted by shift registers 55, 56, 58, 59, and 61, and 62 with image transfer locks.

今、注目画素A9が欠陥ビットと判定されなかった時は
セレクタ66よりシェーディング補II−後の画像信号
、即ちシフトレジスタ57の出力がそのまま出力される
。もし注目画素A9が欠陥ビットと判定された時は、シ
フトレジスタ64の出力はその判定情報であり、セレク
タ66のセレクト信号となるから、セレクタ66により
)i均化部65の出力が選択出力される。1i均化部6
5では次の処理が行われる。
Now, when the target pixel A9 is not determined to be a defective bit, the selector 66 outputs the image signal after shading correction II, that is, the output of the shift register 57 as is. If the pixel of interest A9 is determined to be a defective bit, the output of the shift register 64 is the determination information and becomes the select signal of the selector 66, so the output of the i-balancing unit 65 is selected and output by the selector 66. Ru. 1i equalization section 6
5, the following processing is performed.

モ均化出力Z = (A+B+÷ A3B3+  A4B4+  A3
B5+ A6B6+  AsBs  )/(81+ B
3 + B4 + F35+ 86 + Be)つまり
、周囲6画素に重み付けしたIIi均化出力が得られる
Equalized output Z = (A+B+÷ A3B3+ A4B4+ A3
B5+ A6B6+ AsBs )/(81+ B
3 + B4 + F35 + 86 + Be) In other words, a IIi equalized output weighted to the surrounding six pixels is obtained.

〈エリアセンサの場合) 前述した実施例は]ににラインセンサについて説明した
。しかしながら、本発明はラインセンサのみに適用され
るものでない。先ず、エリアセンサを用いた場合におけ
る欠陥ビットの検出する場合について言及すると、第4
図(b)の欠陥ビット情報RAM3 L及びシェーディ
ングデータRAMの容量をセンサセルの数だけ増やす。
(In the case of area sensor) In the above-mentioned embodiment, the line sensor was explained in [2]. However, the present invention is not applied only to line sensors. First, let's talk about detecting defective bits when using an area sensor.
The capacities of the defective bit information RAM3L and the shading data RAM shown in FIG. 3(b) are increased by the number of sensor cells.

そして、これらのRAMにJ)き込まれるべき情報を書
き込むタイミングは前述した実施例と同様に1ライン毎
に占き換えるか、又は白色補正板11.をエリアセンサ
の縦方向のセルの数だけ走査したならば、その時にRA
Mを書き換えるようにすればよい。
The timing of writing the information to be written into these RAMs is either changed for each line as in the above-described embodiment, or the timing is changed by changing the timing of writing the information to be written into these RAMs, or by using the white correction plate 11. If RA is scanned by the number of cells in the vertical direction of the area sensor, then RA
All you have to do is rewrite M.

こうして、前述した1次元ラインセンサに適用された方
法は1リアセンサにも適用される11が明らかとなった
In this way, it has become clear that the method applied to the one-dimensional line sensor described above is also applicable to the one-rear sensor.

次に同しくエリアセンサにおける欠陥ビットの補1[′
に1次元ラインセンサに用いたr法を適用する場合につ
いて説明すると、欠陥ビットセルからの出力と考えられ
る注目画素A9の周囲8画素を参照して、次式のように
演算して補正ずればよい。
Next, the defective bit correction 1 [′
To explain the case where the r method used for a one-dimensional line sensor is applied, it is necessary to refer to the 8 pixels surrounding the pixel of interest A9, which is considered to be the output from a defective bit cell, and calculate and correct it as shown in the following formula. .

平均化出力Z ” (AIBd”  A2B2+  A3B3”  A
4B4+  A5B!1+  A6B6+  AtB1
+ AsBe )/ (B+ + B7 + B:l + B4 + B5 
+ B6 + 8+ + 88)このように、エリアセ
ンサの場合でも前記実施例の構成には何ら変更を加える
必要がない。
Averaged output Z ” (AIBd” A2B2+ A3B3” A
4B4+ A5B! 1+ A6B6+ AtB1
+ AsBe ) / (B+ + B7 + B:l + B4 + B5
+ B6 + 8+ + 88) In this way, even in the case of an area sensor, there is no need to make any changes to the configuration of the above embodiment.

〈その他の変形例〉 1−記2つの実施例において、欠陥ビットの検出は濃1
隻レベルでiっだが、次に輝度レベルにある欠陥ヒラ]
・の検出を第7図に示す。
<Other Modifications> In the two embodiments described in 1-1, the detection of defective bits is
There is a defect at the ship level, but then there is a defect at the brightness level]
Figure 7 shows the detection of .

濃度レベルの時と同様に1−位数ビット(D1〜DX)
をNANDゲート70に人力する。もしシエーテイング
袖1F対象外のデータの時には輝度レベルが低く NA
NDゲートに入力される入力のいずれかが” o ”と
なり、DSIGNの出力が°°l゛′となり欠陥ビット
とt’ll’Zされる。又、Di〜Dnはそのままシエ
ーテイング輝度データとして欠陥判定データと 緒にシ
ェーディングRAMに記憶Sれる。
As with the density level, the 1st order bit (D1 to DX)
is manually applied to the NAND gate 70. If the data does not apply to the 1st floor of the shading sleeve, the brightness level will be low.NA
Any of the inputs to the ND gate becomes "o", and the output of DSIGN becomes °°l', which is treated as a defective bit. Further, Di to Dn are stored as shading luminance data in the shading RAM together with the defect determination data.

又、第3図(b)に示した方D、と同様に、輝度レベル
データをある−・定閾値Pと比較し、輝度レペルデータ
が閾値Pより小さい時に、欠陥ビットと判断して欠陥ビ
ット情報DSIGNを°゛l”′とし、%11度データ
はそのままDSIGNとともにシェープインクRAM8
に記憶するようにしてもよい。
Also, similarly to method D shown in FIG. 3(b), the brightness level data is compared with a certain threshold value P, and when the brightness level data is smaller than the threshold value P, it is determined that the bit is defective and the defective bit information is Set DSIGN to °゛l''' and save the %11 degree data as is to shape ink RAM 8 along with DSIGN.
It is also possible to store the information in .

「効果」 以上説明したように本発明によれば、簡単な構成により
、欠陥ビットの画像信号の復元が可能となり、更に本発
明の1実施態様によれば従来のシェープインク補1Fの
ための回路に組み込む東が口■能となり、更に小型化が
可能となる。
"Effects" As explained above, according to the present invention, it is possible to restore the image signal of defective bits with a simple configuration. The part that is incorporated into the box becomes a mouthpiece, and further miniaturization becomes possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る実施例の基本動作を説明する図、 第2図(a)は実施例における欠陥ビットを検出するた
めの光路を示す図 第2図(b)は実施例の回路図、 第3図(a)、(b)はシェーディング補正データの決
定を説明する図、 第4図(a)は欠陥ビットを決定するための基本動作を
説明する図、 第4図(b)はシェー・ディングRAMの内部の回路例
の図、 第5図は補11部の回路図、 第6図(a)は補rlE部における補止の変形例を説明
する図、 第6図(b)は袖)−[部の変形例の回路図、第7図は
欠陥ビットの検出を輝度レベルにて行う場合の欠陥ヒラ
I・の決定を説明する図である。 図中、1・・・白色補IF板、3・・・ラインセンサ、
5・・・LOG変換部、7・・・欠陥ピッ) ’Fil
定部、8・・・シェーディングRAM、9・・・補止部
、30・・・アドレス制御部、31・・・欠陥ビット情
報RAM、32・・・シエーテイングデータRAM、3
3・・・RAM制御部、40・・・加η器、41・・・
シフ]・レジスタ、42・・・4”E号振り分は部、4
3・・・データセレクタ、51〜53・・・ラインメモ
リ、54〜62・・・シフトレジスタ、65・・・IL
均化部である。
FIG. 1 is a diagram explaining the basic operation of an embodiment according to the present invention. FIG. 2(a) is a diagram showing an optical path for detecting a defective bit in the embodiment. FIG. 2(b) is a circuit diagram of the embodiment. Figures 3(a) and 3(b) are diagrams explaining the determination of shading correction data, Figure 4(a) is a diagram explaining the basic operation for determining defective bits, and Figure 4(b) is a diagram of an example of the internal circuit of the shading RAM, FIG. 5 is a circuit diagram of the supplementary section 11, FIG. ) is a circuit diagram of a modification of the sleeve)-[ section, and FIG. 7 is a diagram for explaining the determination of defective filler I when detecting defective bits based on the luminance level. In the figure, 1... white supplementary IF board, 3... line sensor,
5...LOG converter, 7...defect pin) 'Fil
Fixed part, 8... Shading RAM, 9... Correction part, 30... Address control part, 31... Defective bit information RAM, 32... Shading data RAM, 3
3... RAM control unit, 40... Accelerator, 41...
Schiff] register, 42...4" E number is part, 4
3...Data selector, 51-53...Line memory, 54-62...Shift register, 65...IL
This is the equalization section.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)イメージセンサからの画像信号と該イメージセン
サのセンサセル位置とを対応付ける画像信号特定手段と
、前記イメージセンサ及び該イメージセンサへの光路に
起因する欠陥ビットの位置を特定する欠陥ビット位置特
定手段と、欠陥ビットの画像信号を補正する時は周囲の
画素の画像信号から推定して補正する欠陥ビット補正手
段とを有する画像読取装置。
(1) An image signal specifying means for associating an image signal from an image sensor with a sensor cell position of the image sensor, and a defective bit position specifying means for specifying the position of a defective bit caused by the image sensor and the optical path to the image sensor. and defective bit correction means for correcting the image signal of the defective bit by estimating it from the image signals of surrounding pixels when correcting the image signal of the defective bit.
(2)前記周囲の画素はイメージセンサの主走査方向又
は副走査方向に隣接する画素の画像信号である事を特徴
とする特許請求の範囲第1項に記載の画像読取装置。
(2) The image reading device according to claim 1, wherein the surrounding pixels are image signals of pixels adjacent to each other in the main scanning direction or the sub-scanning direction of the image sensor.
(3)前記周囲の画素はイメージセンサの主副両走査方
向に隣接する6画素又は8画素の画像信号である事を特
徴とする特許請求の範囲第1項に記載の画像読取装置。
(3) The image reading device according to claim 1, wherein the surrounding pixels are image signals of six or eight pixels adjacent to each other in both main and sub-scanning directions of the image sensor.
(4)更にシェーディング補正手段を備え、欠陥ビット
補正手段は周囲の画素のシェーディング補正された後の
画像信号を用いる事を特徴とする特許請求の範囲第1項
乃至第3項のいずれかに記載の画像読取装置。
(4) A shading correction means is further provided, and the defective bit correction means uses an image signal after shading correction of surrounding pixels is used. image reading device.
(5)画像信号は濃度で表わされ、欠陥ビット補正手段
は濃度データの加減算により補正する事を特徴とする特
許請求の範囲第4項に記載の画像読取装置。
(5) The image reading device according to claim 4, wherein the image signal is represented by density, and the defective bit correction means performs the correction by adding and subtracting the density data.
(6)画像信号は輝度で表わされ、欠陥ビット補正手段
は濃度データの積算又は除算により補正する事を特徴と
する特許請求の範囲第4項に記載の画像読取装置。
(6) The image reading device according to claim 4, wherein the image signal is represented by luminance, and the defective bit correction means performs the correction by integrating or dividing density data.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6051774A (en) * 1997-08-05 2000-04-18 Ykk Corporation Solar battery module and method for production thereof
US7102787B2 (en) 2001-05-14 2006-09-05 Nec Corporation Image reading apparatus

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