JPS6239779A - 可変容量ダイオ−ドトラツキング選別方法及びそれにより選別された可変容量ダイオ−ドの組 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、可変容量ダイオードの容量を異なる動作電圧
で測定し、これらの測定された容量により予じめ定めら
れた基準に基づいて何回かのトラッキングテストを行な
う可変容量ダイオードトラッキング選別方法に関するも
のである。

可変容量ダイオード（以・后簡単にＶＣダイオードと称
する）は、特に、ＴＶ及びラジオ受信機のような無線受
信器の高周波回路及び局部発信回路丙の同調コンデンサ
として使用される。ＶＣダイオードの容量、従って関連
回路の同調周波数は、いくつかの共振回路のＶＣダイオ
ードへカットオフ方向に印加される可変同調電圧により
変えられる。この時重要なことは、これらの全ての共振
回路の同調周波数が同調電圧を変えた時狭い限界内で等
しい程度に変わることである。

問題は、容量−電圧特性が十分等しいＶＣダイオードを
作ることが不可能なことが判明していることである。こ
れは、実際には、製造されたＶＣダイオードの容量−電
圧特性を測定し、容量−電圧特性に基づいてＶＣダイオ
ードを選別し、例えば、１２０個のダイオードをトラッ
キング選別された組の形で容量−電圧特性がほぼ等しい
、ＶＣダイオードを受信機の製造者に供給することによ
り解決している。

伝統的方法では、いくつかの動作電圧にふけるＶＣダイ
オードの容量間の相対差に基づいてＶＣダイオードを選
別し、各動作電圧におけるこの差が、例えば、３％以下
であれば、関連するダイオードを同じ組に入れる。選別
モードはこの説明の過、程で詳細に述べる。こうしてＶ
Ｃダイオードのユーザは、動作（同調）電圧の各位に対
し、一つの組の各ダイオードの容量がその同じ組の任意
の他のダイオードの容量と３％より大きくはずれていな
いことを保障される。

しかし、この従来からの選別方法では、製造された受信
機の複数個の同調回路間でトラッキング問題を起こすい
くつかのダイオードが一つの組内になお存在することが
判明している。勿論、もっと厳しい選別基準、例えば、
ＶＣダイオード間の相対容量差を２％しか認めないよう
にすればこれらの問題を除去できる。しかし、このよう
に選別基準を厳しくすると、測定、選別プロセスで同じ
組に入れられるのがずっと少なくなり、製品の原価が高
くなる。

本発明の目的は、この欠点を除去するにある。

この目的を達成するために、本発明に係る方法は、２個
の可変容量ダイオード間の各このトラッキングテストを
、動作電圧の相対的に小さな変化の結果としての容量の
変化に基づいて行なうことを特徴とする。

選別のために動作電圧の相対的に小さな変化の結果であ
る容量の変化を用いることにより、ＶＣダイオードの選
別が少なくとも部分的にはＶＣダイオードの容量−電圧
特性曲線の勾配の相互差に基づいて行なわれる。本発明
は、ＶＣダイオードの容量変化差（これらは容量−電圧
特性曲線の勾配の差である。）は、ＶＣダイオードを用
いる場合、これらのＶＣダイオードの容量差よりもずっ
と大きなトラッキング問題を生ずることを認識したこと
に基づいている。

上述したところから明らかなように、動作電圧の相対的
に小さな変化という表現は、容量−電圧特性の勾配（微
分）の妥当な近似を得るに足る小さな動作電圧の変化を
意味する。

注意すべきことは、ＶＣダイオードの容量−電圧特性曲
線の勾配を測定し、そのＶＣダイオードの使用可能性を
評価することは、雑誌「ペリオディ力　ポリテクニカ」
第８１１４巻第３号、　１９７０年。

第３０１〜３１０頁から既知であることである。しかし
、この測定の結果は他のＶＣダイオードとそのＶＣダイ
オードとのトラッキング選別には使用されない。

本発明方法の好適な一実施例は、２個の可変容量ダイオ
ード間の各このトラッキングテストを、動作電圧が相対
的に小さな変化をした時の一方の可変容量ダイオードの
相対的な容量の変化と、動作電圧が同じ変化をした時の
他方の可変容量ダイオードの相対的な容量の変化と、差
の少なくとも近似に基づいて行なうことを特徴とする。

従って、ＶＣダイオードのユーザは選別された組の各２
個のダイオード間の勾配の相対ずれは予じめ定められた
百分率以下に止まることを保障される。

本発明に係る方法は、これ迄既知の方法よりも本質的に
多数の容量測定を必要とするものではない。測定の回数
が普通の方法と本質的に異ならない好適な一方法は、ト
ラ・ガキングテストのために、可変容量ダイオードの容
量を或る動作電圧で測定し、動作電圧の相対的に小さな
変化の結果としての容量の変化を、この容量と、隣りの
動作電圧で前のテストで測定し、メモリに入れてある容
量との差から求めることを特徴とする。

本発明はまた本発明方法に従って選別されたＶＣダイオ
ードの組にも関するものである。

図面につき本発明の詳細な説明する。

第１図で符号１はＶＣダイオードの製造段階を略式図示
したものである。製造されたＶＣダイオーオは検査段階
２で、ツェナー電圧が十分高いとか、しゃ断電流及び直
列抵抗が十分低いといった重要な特性について検査され
る。拒絶された試料は３の方へ除かれる。第１の選別は
適当な基準、例えば、電圧レンジの低い方の端と高い方
の端とでの容量間の差及び比率又はそのいずれか一方に
基づいて行なうこともできる。

段階４で実際のトラッキング選別が次のようにして行な
われる。

■、第１のＶＣダイオードの容量Ｃｒｅｆ（Ｖ）を全レ
ンジ０．５〜２８　Ｖ内のいくつか、例えば、１０個の
異なる測定電圧で３ｖきざみに測定する。この測定はＶ
Ｃダイオードをｌ　Ｍ　Ｈｚの交番電圧を与えられる測
定ブリッジで行なうとよい。勿論、ＶＣダイオードを共
振回路内に入れ、次にその共振周波数を測定することに
より間接的に容量を測定することもできる。

２、伝統的な選別方法では、各測定電圧につき、測定さ
れた容量の、例えば、３％上方又は３％下方をとり、夫
々、最大及び最小限界値とする。これらの限界値は１０
個の測定電圧につきメモリに蓄え、次のダイオードの測
定値が、第１のダイオードとトラッキングするものとし
て選別されるためには、中に納まらねばならない窓を構
成する。このような窓を第２図のａに示す。第１のダイ
オードは次にボックスＢ１に入れられる。

３、次に同じ電圧で第２のダイオードを測定する。

各測定値を第１のダイオードにつき求められた限界値と
比較する。測定電圧の一つでも第２図のａの窓の外に出
れば、この第２のダイオードはボン・クスＢ１　に入れ
ることはできず、第１のダイオードとしてボックスＢ２
に入れられる。全ての測定点が第１のダイオードにつき
求められた窓の中に入れば、この第２のダイオードはボ
ックスＢ１に入れられ、ボックスＢ１内の２個のダイオ
ードの各々の測定値から３％より大きくずれていない新
しい窓内に全ての点が入るようにＢ１窓の新しい限界値
を求める。

４、各法のダイオードを対応する態様で測定し、次々に
ボックスＢｌ、８２等の窓と比較し、これを新しいダイ
オードが合格する窓のボックスが見つかるまで行なう。

次にそのダイオードをこのボックスに納め、このボック
スの窓を前述したように適合させる（第２図のＣ）。ボ
ックスＢ１からＢｍ迄のいずれにも入らないダイオード
は段階２に戻す。ボックスＢ、ないしＢ、は所定の数、
例えば、１２０個のダイオードが入る迄充たしてゆく。

段階゛５で各ボックスのＶＣダイオードの組を維持体、
例えば、重文ベルトへのせる。複数個の組を一つの組立
ベルトへのせ、適当な印で互に区別するとよい。最終検
査を段階６で行なう。

上述したように、トラッキング選別段階４は選別された
ダイオードの組の各ダイオード（Ｃ）の相対容量偏差が
その組の任意の他のダイオード（Ｃ，、、’）から３％
より大きくずれないようにする。この場合選別基準はｌ
５ＩＩ≦３％であり、ここで選別パラメータは である。

本発明によれば、もう一つの選別パラメータを用いるが
これはＶＣダイオードの容量−電圧特性曲線の勾配の変
度に関するものである。本発明によれば、選別パラメー
タＳ２を次のように選ぶ。

ΔＣΔＣｒ　ｅ　ｒ ここでＣ及びＣｒ　ｅ　ｒは、夫々、ダイオードＣ及び
Ｃｒｅｆの２個の近接する測定電圧間での容量の変化を
表わす。この方法は既知の方法におけるよりも多数の測
定点を使用することを必ずし必要としない。メモリ内に
所定の測定電圧で得られた容量を蓄わえ、この情報を使
って次の測定電圧に関連する選別の大きさを求めれば十
分である。

選別手順は第１図及び第２図につき述べたのと対応する
態様で行なうことができる。これは、種々の測定電圧に
ついての第１のダイオードＣｒｅｆの値 ΔＣｒａｆ Ｃｒ　ａ　ｆ が求められ、これらの電圧の各々につき、この値から上
側及び下側限界が求められ、蓄えられる、換言すれば選
別窓が再び形成されることを意味する。各法のダイオー
ドについてのΔＣ／Ｃの値が求められ、この測定電圧に
つき蓄えられている上側及び下側限界と比較される。全
ての測定電圧についての△Ｃ／Ｃの測定値がこれらの限
界内に入る場合は、そのダイオードをその組にいれ、新
しい限界を求め、蓄える。

第３図は、Ｃｒ　ｅ　ｒとして機能するダイオード１に
対する３個のダイオードｎ、ｍ、ｒｖに対応する普通の
選別パラメータＳ１の変化を電圧の関数として示したも
のである。

第４図は、同じダイオードに対する新しく提案された選
別パラメータＳ２の変化を電圧の関数として示したもの
である。明らかに、選別パラメータＳ２は全く異なる選
別基準を与える。通常の方法は、ダイオード■及び■は
、低電圧での挙動のため、ダイオードＩと同じ選別には
入れられないが、新らしく提案された選別方法では、む
しろ高電圧での挙動がきめ手となる。選別パラメータＳ
ｌ（±３％）よりもずっと大きなずれ（±３５％）が選
別パラメータＳ２では許されることが期待できる（これ
は未だ到達していない）。

注意すべきことは、本発明は上述したような選別パラメ
ータＳ２を厳密に使用することに限られるものではない
ことである。その数値近似も勿論便用でき、何の問題も
ない。

８２″、Ｓ３−３１　（１＋３３）。

が導びかれる。

実際にはＳｌはＳ２より相当に小さいから、＄２″＝、
Ｓ３が近似的に成立する。それ故して使える。

ＶＣダイオードの容量は、ＶＣダイオードと適当なイン
ダクタンスＬとを組んで共振回路にし、その共振周波数 を次に求めることにより間接的に求めることもできる。

とすると選別パラメータＳ２は次式でも近似できる。

Δｆ　　　　　Δｆ　ｒｅｆ ｆ　　　　　　ｆ、＠。

八ｆ　ｒｅｔ 　ｒｅｆ 実際にはｆ　＃　ｆ　ｒｅ　ｆであるから、選別パラメ
ータまた注意すべきことは、分子が２個の値の差であり
、分母が２個の値の一方である比が提案されている場合
、分母は２個の値の他方又は、例えば、２個の値の平均
値とすることもできることである。

本発明の範囲内で、測定電圧のステップを全測定レンジ
゛に亘って漸増又は漸減するように変えることもできる
。ダイオード間の許容される（％の）ずれを測定電圧レ
ンジに亘って変えることもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、ＶＣダイオードの製造で用いられる選別プロ
セスの流れ図、 第２図は、このような選別プロセスを示す説明図、 第３図及び第４図は、いくつかのＶＣダイオードにつき
測定された特性曲線のグラフ線図である。 １・・・　製造段階 ２・・・　検査段階 ３・・・　除去 ４・・・　トラッキング選別 ５・・・　組立ベルトへ ６・・・　最終検査 口 ｇ＋＃１ｖＩＮ％　　％ＮＭ＋１ １１目 Ｄ　　　　（−）！

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、可変容量ダイオードの容量を異なる動作電圧で測定
   し、これらの測定された容量により予じめ定められた基
   準に基づいて何回かのトラッキングテストを行なう可変
   容量ダイオードトラッキング選別方法において、２個の
   可変容量ダイオード間の各このトラッキングテストを、
   動作電圧の相対的に小さな変化の結果としての容量の変
   化に基づいて行なうことを特徴とする可変容量ダイオー
   ドトラッキング選別方法。 ２、２個の可変容量ダイオード間の各このトラッキング
   テストを、動作電圧が相対的に小さな変化をした時の一
   方の可変容量ダイオードの相対的な容量の変化と、動作
   電圧が同じ変化をした時の他方の可変容量ダイオードの
   相対的な容量の変化と、差の少なくとも近似に基づいて
   行なうことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の可
   変容量ダイオードトラッキング選別方法。 ３、トラッキングテストのために、可変容量ダイオード
   の容量を或る動作電圧で測定し、動作電圧の相対的に小
   さな変化の結果としての容量の変化を、この容量と、隣
   りの動作電圧で前のテストで測定し、メモリに入れてあ
   る容量との差から求めることを特徴とする特許請求の範
   囲第１項又は第２項記載の可変容量ダイオードトラッキ
   ング選別方法。 ４、特許請求の範囲前記各項の一項又は複数項に記載の
   可変容量ダイオードトラッキング選別方法により選別さ
   れた可変容量ダイオードの組。