JPS6239732A - 二波長分光光度計 - Google Patents
二波長分光光度計Info
- Publication number
- JPS6239732A JPS6239732A JP17980985A JP17980985A JPS6239732A JP S6239732 A JPS6239732 A JP S6239732A JP 17980985 A JP17980985 A JP 17980985A JP 17980985 A JP17980985 A JP 17980985A JP S6239732 A JPS6239732 A JP S6239732A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- polarizer
- half mirror
- wavelength
- wavelength selection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は液体状又は固体状の試料の濃度を連続的に測
定する防爆密閉型の二波長分光光度計に関し、詳しくは
スパン校正に対応する減光量を任意に選択することがで
きる二波長分光光度計に関する。
定する防爆密閉型の二波長分光光度計に関し、詳しくは
スパン校正に対応する減光量を任意に選択することがで
きる二波長分光光度計に関する。
(ロ)従来の技術
一般に、上記二波長分光光度計はプロセス用分光光度計
と呼ばれるもので、石油化学の製造工程管理用などの防
爆構造を必要とする分取において使用されるものである
。
と呼ばれるもので、石油化学の製造工程管理用などの防
爆構造を必要とする分取において使用されるものである
。
この分光光度計は、第3図に示すように、光源部(1)
と、受光部(2)と、これら両者の間の光路上に設けら
れたフローセル部(3)とがらなり、光源部(1)と受
光部(2)とは電気系統を含むため密閉構造で校正され
ており、光源部(1)は光m(4)と光m [41を密
閉収納する密閉室(5)とからなり、受光部(2)は光
路上に段けられたハーフミラ−(6)と、ハーフミラ−
(6)とによって形成された2つの光路上にそれぞれハ
−フミラー(6)側から順に設けられた2つの波長選択
フィルタ+71 +81、受光器+91 (K)l及び
ハーフミラ−(6)を密閉収納する密閉室(1υとから
なり、フローセル02両端近傍の2つのレンズ031
G41とからなる。
と、受光部(2)と、これら両者の間の光路上に設けら
れたフローセル部(3)とがらなり、光源部(1)と受
光部(2)とは電気系統を含むため密閉構造で校正され
ており、光源部(1)は光m(4)と光m [41を密
閉収納する密閉室(5)とからなり、受光部(2)は光
路上に段けられたハーフミラ−(6)と、ハーフミラ−
(6)とによって形成された2つの光路上にそれぞれハ
−フミラー(6)側から順に設けられた2つの波長選択
フィルタ+71 +81、受光器+91 (K)l及び
ハーフミラ−(6)を密閉収納する密閉室(1υとから
なり、フローセル02両端近傍の2つのレンズ031
G41とからなる。
この分光光度計において、2つの受光器(9)(転)に
よって受講される光は、三波長λ1、λ2となり、波長
λ1における吸光度をA(λ1)とし、波長λ2におけ
る吸光度をA(λ2)とし、両者の差ΔA=A (λ1
)−A(λ2) を演鼻して△Aより試料のm度を求める。
よって受講される光は、三波長λ1、λ2となり、波長
λ1における吸光度をA(λ1)とし、波長λ2におけ
る吸光度をA(λ2)とし、両者の差ΔA=A (λ1
)−A(λ2) を演鼻して△Aより試料のm度を求める。
この際、分光光度計のスパン校正は、従来、波長λ1及
びλ2において、スパン校正に対応する光の吸収特性を
示ず光学フィルタ(151を選択し、このフィルタ(1
51を受光部(2)側のレンズオ)と受光部(aとの間
に取付けて行なわれていた。
びλ2において、スパン校正に対応する光の吸収特性を
示ず光学フィルタ(151を選択し、このフィルタ(1
51を受光部(2)側のレンズオ)と受光部(aとの間
に取付けて行なわれていた。
(ハ)発明が解決しようとする問題点
しかし、スパン校正の際に、波長λ1及びλ2において
スパン校正に対応する吸収特性を示す光学フィルタを得
ることが難しい場合があった。
スパン校正に対応する吸収特性を示す光学フィルタを得
ることが難しい場合があった。
この発明は以上の事情に鑑みなされたもので、スパン校
正に必要な波長λ1及びλ2における減光を偏光素子で
ある偏光子、及び検光子の組み合せにより行い、スパン
校正に対応する減光量を任意に選択できる二波長分光光
度計の提供を目的とするものである。
正に必要な波長λ1及びλ2における減光を偏光素子で
ある偏光子、及び検光子の組み合せにより行い、スパン
校正に対応する減光量を任意に選択できる二波長分光光
度計の提供を目的とするものである。
(ニ)問題点を解決するための手段
この発明は、光源部と、受光部と、これら両者の間の光
路上に設けられた、フローセル部とを備え、高原部が光
源とこの光源を密閉収納する密閉室とからなり、受光部
が光路上に設置ノられたハーフミラ−と、このハーフミ
ラ−によつC形成された2つの光路上にそれぞれハーフ
ミラ−側から順に設けられた波長選択フィルタ及び受光
器と、これらのフィルタ、受光器及び前記ハーフミラ−
を密閉収納する密閉室とからなる二波長分光光度計にお
いて、フローセル部と受光部との間の光路上に偏光子を
光軸を中心として回転可能に設けるとともに、ハーフミ
ラ−と両波長選択フィルタとの1m又は両波長選択フィ
ルタと両受光器との間の2つの光路上に竹記偏光子によ
って形成された偏光を検出するため検光子をそれぞれ光
軸を回転軸として回転可能に設けた二波長分光光度計で
ある。
路上に設けられた、フローセル部とを備え、高原部が光
源とこの光源を密閉収納する密閉室とからなり、受光部
が光路上に設置ノられたハーフミラ−と、このハーフミ
ラ−によつC形成された2つの光路上にそれぞれハーフ
ミラ−側から順に設けられた波長選択フィルタ及び受光
器と、これらのフィルタ、受光器及び前記ハーフミラ−
を密閉収納する密閉室とからなる二波長分光光度計にお
いて、フローセル部と受光部との間の光路上に偏光子を
光軸を中心として回転可能に設けるとともに、ハーフミ
ラ−と両波長選択フィルタとの1m又は両波長選択フィ
ルタと両受光器との間の2つの光路上に竹記偏光子によ
って形成された偏光を検出するため検光子をそれぞれ光
軸を回転軸として回転可能に設けた二波長分光光度計で
ある。
(ホ)作用
この発明は、2つの受光器によって受光される波長をλ
4、λ2とすると、偏光子と両方検光子の偏光方位の選
定により波長λ1及びλ2の光量をそれぞれ任意に選定
できるようにしたものである。
4、λ2とすると、偏光子と両方検光子の偏光方位の選
定により波長λ1及びλ2の光量をそれぞれ任意に選定
できるようにしたものである。
(へ)実施例
以下図に示す実施例に基づいてこの発明を詳述する。な
お、これによってこの発明が限定されるものではない。
お、これによってこの発明が限定されるものではない。
この発明の基本構成は従来例と同様であるので、同一部
分については同一符号を付して説明を省略する。従来例
と異なるのは、第1図に示すように、一方のレンズシ)
と受光部(′2Jとの間の光路上に光源(4)からの光
を偏光させるための偏光子(16)を光軸を中心軸とし
て回転可能に設けた点と、ハーフミラ−(6)と両波長
選択フィルタ+71 (8]との間の2つの光路に偏光
子お)によって形成された偏光を検出するだめの検光子
07)(財)をそれぞれ光軸を中心軸として回転可能に
設けた点とにある。
分については同一符号を付して説明を省略する。従来例
と異なるのは、第1図に示すように、一方のレンズシ)
と受光部(′2Jとの間の光路上に光源(4)からの光
を偏光させるための偏光子(16)を光軸を中心軸とし
て回転可能に設けた点と、ハーフミラ−(6)と両波長
選択フィルタ+71 (8]との間の2つの光路に偏光
子お)によって形成された偏光を検出するだめの検光子
07)(財)をそれぞれ光軸を中心軸として回転可能に
設けた点とにある。
第2図は偏光子(ト)を回転可能に保持する偏光子回転
保持手段Rの斜視図である。この回転保持手段のは、偏
光子ホルダー■、ホルダ固定板&11、一対のガイドレ
ール@弼、ロッド内及び移動用ツマミに)から構成され
る。偏光子ホルダ■は、偏光子(5)の外周辺に係合し
て偏光子(5)を保持する短円筒部材からなる。ホルダ
固定板2+1は正方形の板からなり、その中央部には偏
光子ホルダ■が摺動回転移動可能に係合する開口部固が
設けられている。
保持手段Rの斜視図である。この回転保持手段のは、偏
光子ホルダー■、ホルダ固定板&11、一対のガイドレ
ール@弼、ロッド内及び移動用ツマミに)から構成され
る。偏光子ホルダ■は、偏光子(5)の外周辺に係合し
て偏光子(5)を保持する短円筒部材からなる。ホルダ
固定板2+1は正方形の板からなり、その中央部には偏
光子ホルダ■が摺動回転移動可能に係合する開口部固が
設けられている。
ガイドレールωGは断面がコテ状の長子部材からなり、
垂直向きのホルダ固定板(21)の上辺及び下辺に係合
しホルダ固定板Qすを横方向に移動可能に支持するよう
固定されている。ロッド(至)はホルダ固定板31)の
一方の縦辺にガイドレールの□□□の長手向きに取付け
られており、その先端に移動用ツマミ24+が取付けら
れている。この構成において、移動用ツマミに)を横方
向に移動させることにより偏光子色を光路に出し入れ6
することができ、また偏光子ホルダ■を摺動回転させる
ことにより偏光子色の偏光方位の調整を行゛う。
垂直向きのホルダ固定板(21)の上辺及び下辺に係合
しホルダ固定板Qすを横方向に移動可能に支持するよう
固定されている。ロッド(至)はホルダ固定板31)の
一方の縦辺にガイドレールの□□□の長手向きに取付け
られており、その先端に移動用ツマミ24+が取付けら
れている。この構成において、移動用ツマミに)を横方
向に移動させることにより偏光子色を光路に出し入れ6
することができ、また偏光子ホルダ■を摺動回転させる
ことにより偏光子色の偏光方位の調整を行゛う。
なお、検光子a力(18)の回転移動構造も上記回転保
持手段eの偏光子お)の回転摺動移動構造と同様に構成
される。
持手段eの偏光子お)の回転摺動移動構造と同様に構成
される。
次に、上記分光光度計の使用方法について説明する。
まず、2つの受光器(9)□□□によって受光される波
長をそれぞれλ1、λ2とする。次に、スパン校正に際
し、偏光子0■を回転させるか又は一方の検光子a力を
回転させて偏光子■とその検光子Onの偏光方位を選定
し、波長λ1の光量を所望の光量に選定する。次いで、
偏光子色又他方の検光子□□□を回転させて偏光子色と
その検光子(2)の偏光方位を選定し、波長λ2の光量
を所望の光量に選定する。
長をそれぞれλ1、λ2とする。次に、スパン校正に際
し、偏光子0■を回転させるか又は一方の検光子a力を
回転させて偏光子■とその検光子Onの偏光方位を選定
し、波長λ1の光量を所望の光量に選定する。次いで、
偏光子色又他方の検光子□□□を回転させて偏光子色と
その検光子(2)の偏光方位を選定し、波長λ2の光量
を所望の光量に選定する。
なお、両検光子請(財)の回転操作は、受光部(2)を
密関する前に行なわれる。
密関する前に行なわれる。
以上のように偏光子色に対する両横光子ff?) 08
1の偏光方位の選定により、スパン校正に必要とする波
長λ1およびλ2における減光を容易に行うことができ
る。
1の偏光方位の選定により、スパン校正に必要とする波
長λ1およびλ2における減光を容易に行うことができ
る。
なお、検光子(17) (181は両波長選択フィルタ
+7+ +81と両受光器(9)(ト))との間の2つ
の光路上に回転可能に設けてもよい。この場合でも上記
実施例と同様の効果を得ることができる。
+7+ +81と両受光器(9)(ト))との間の2つ
の光路上に回転可能に設けてもよい。この場合でも上記
実施例と同様の効果を得ることができる。
(ト)発明の効果
この発明によれば、測定対象に対応する二波長λ1及び
λ2において、スパン校正に対応した減光量を任意に選
定することができる。
λ2において、スパン校正に対応した減光量を任意に選
定することができる。
・第1図はこの発明の一実施例を示す二波長分光光度計
の構成説明図、第2図はこの発明に用いられる偏光子回
転保持手段の斜視図、第3図は従来例の第1図相当図で
ある。 (1)・・・・・・光源部、 +2)・・・・・・
受光部、(3)・・・・・・フローセル部、(4)・・
・・・・光源、(5) fil)・・・・・・密閉室、
(6)・・・・・・ハーフミラ−1(刀(8)・
・・・・・波長選択フィルタ、(9)(財)・・・・・
・受光器、 06)・・・・・・偏光子、a7)(
2)・・・・・・検光子、 お・・・・・・偏光子回転保持手段。 第 1 図
の構成説明図、第2図はこの発明に用いられる偏光子回
転保持手段の斜視図、第3図は従来例の第1図相当図で
ある。 (1)・・・・・・光源部、 +2)・・・・・・
受光部、(3)・・・・・・フローセル部、(4)・・
・・・・光源、(5) fil)・・・・・・密閉室、
(6)・・・・・・ハーフミラ−1(刀(8)・
・・・・・波長選択フィルタ、(9)(財)・・・・・
・受光器、 06)・・・・・・偏光子、a7)(
2)・・・・・・検光子、 お・・・・・・偏光子回転保持手段。 第 1 図
Claims (1)
- 1、光源部と、受光部と、これら両者の間の光路上に設
けられた、フローセル部とを備え、高原部が光源とこの
光源を密閉収納する密閉室とからなり、受光部が光路上
に設けられたハーフミラーと、このハーフミラーによっ
て形成された2つの光路上にそれぞれハーフミラー側か
ら順に設けられた波長選択フィルタ及び受光器と、これ
らのフィルタ、受光器及び前記ハーフミラーを密閉収納
する密閉室とからなる二波長分光光度計において、フロ
ーセル部と受光部との間の光路上に偏光子を光軸を中心
として回転可能に設けるとともに、ハーフミラーと両波
長選択フィルタとの間又は両波長選択フィルタと両受光
器との間の2つの光路上に前記偏光子によつて形成され
た偏光を検出するため検光子をそれぞれ光軸を回転軸と
して回転可能に設けたことを特徴とする二波長分光光度
計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17980985A JPS6239732A (ja) | 1985-08-15 | 1985-08-15 | 二波長分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17980985A JPS6239732A (ja) | 1985-08-15 | 1985-08-15 | 二波長分光光度計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6239732A true JPS6239732A (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=16072270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17980985A Pending JPS6239732A (ja) | 1985-08-15 | 1985-08-15 | 二波長分光光度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6239732A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999030134A1 (en) * | 1997-12-08 | 1999-06-17 | The Government Of The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration (Nasa) | Multi-gas sensor |
-
1985
- 1985-08-15 JP JP17980985A patent/JPS6239732A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999030134A1 (en) * | 1997-12-08 | 1999-06-17 | The Government Of The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration (Nasa) | Multi-gas sensor |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5959738A (en) | Determination of light absorption pathlength in a vertical-beam photometer | |
US6339472B1 (en) | Determination of light absorption pathlength in a vertical-beam photometer | |
US6118536A (en) | Circular dichroism detector for HPLC | |
JPS50123495A (ja) | ||
US5381234A (en) | Method and apparatus for real-time film surface detection for large area wafers | |
US8378303B2 (en) | Infrared spectrophotometer and auxiliary device therefor | |
EP0771417B1 (en) | Determination of light absorption pathlength in a vertical-beam photometer | |
JPS6239732A (ja) | 二波長分光光度計 | |
KR900005611B1 (ko) | 사입사반사분광장치(斜入死反射分光裝置) | |
JPH04364442A (ja) | 炭素同位体分析装置 | |
US5317379A (en) | Chemical species optical analyzer with multiple fiber channels | |
US3153722A (en) | Apparatus for determining the quantity of contaminant in a substance | |
CN201885799U (zh) | Uv-2102pc+紫外可见分光光度计单色器光路结构系统 | |
US4017191A (en) | Two-beam photometer with rotatable graded interference filter | |
GB2024417A (en) | Non-dispersive infrared gas analyser | |
WO1982000356A1 (en) | Analyzer | |
US2854585A (en) | Composition analyzer utilizing radiation | |
KR101960223B1 (ko) | 자동 가변 광 경로형 ftir 혼합가스측정장치 | |
EP0058831A1 (en) | Atomic absorption spectrophotometer providing background correction using the Zeeman effect | |
US3518439A (en) | Absorption tester having beam splitter and wheatstone bridge with potentiometer balancing | |
JP2005164255A (ja) | 分光分析装置 | |
JP2001208685A (ja) | Ftirガス分析計 | |
US3211961A (en) | Apparatus for determining the quantity of contaminant in a substance | |
JPS6219945Y2 (ja) | ||
JP2935287B2 (ja) | 示差屈折率分光スペクトル測定装置 |