JPS623684A - Detector for x-ray ct equipment - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、X線CT装置用検出器に係り、特に。[Detailed description of the invention] 〔Technical field〕 The present invention relates to a detector for an X-ray CT apparatus, and particularly to a detector for an X-ray CT apparatus.
使用時のX線CT装置用検出器(以下、単に検出器とい
う)の温度の安定化技術に適用して有効な技術に関する
ものである。The present invention relates to a technique that is effective when applied to a technique for stabilizing the temperature of a detector for an X-ray CT apparatus (hereinafter simply referred to as a detector) during use.
従来のX線CT装置用の検出器は、その特性に多少の温
度依存性を有しており、周囲温度が変化することによっ
ていくらかの計測誤差を生じてしまう。例えば、検出器
のnチャンネルの出力は、第7図に示すような温度依存
性を有し、また、n′チャンネルの出力は、第8図に示
すような温度依存性を有しているため、検出器の各チャ
ンネルの同−X線線量に対する計測誤差を生じる。この
計測誤差によりCT両画像画質が劣化してしまうという
問題があった。例えば、いま、1個のチャンネルの出力
が温度によって大きくずれると、アーチファクトが画面
上に発生する。また、全チャンネルの出力が温度によっ
てバラツキを生じると。Detectors for conventional X-ray CT apparatuses have some degree of temperature dependence in their characteristics, and some measurement errors occur due to changes in ambient temperature. For example, the output of the n channel of the detector has a temperature dependence as shown in Fig. 7, and the output of the n' channel has a temperature dependence as shown in Fig. 8. , resulting in measurement errors for the same X-ray dose for each channel of the detector. There was a problem in that the image quality of both CT images deteriorated due to this measurement error. For example, if the output of one channel changes significantly due to temperature, artifacts will appear on the screen. Also, the output of all channels varies depending on the temperature.
画像の解像力及びコントラストが低下する。なお、前記
第7図及び第8図において、A、B、Cはそれぞれ使用
時の検出器の適切な温度T。、T0+ΔT 、 T o
−ΔTにおけるnチャンネルの計測特性直線であり、A
’、B’、C’はそれぞれ使用時の検出器の適切な温度
T。、To+ΔT’、T。Image resolution and contrast are reduced. In addition, in FIGS. 7 and 8, A, B, and C are respectively appropriate temperatures T of the detector during use. , T0+ΔT, T o
−ΔT is the measurement characteristic straight line of n channel, and A
', B', and C' are the appropriate temperatures T of the detector during use, respectively. , To+ΔT',T.
−ΔT′におけるn′チャンネルの計測特性直線である
。It is a measurement characteristic straight line of the n' channel at -ΔT'.
この対策として、検出器温度を一定にする温度制御が考
えられるが、温度制御精度等の温度制御手段が複雑とな
り、かつ、その温度制御精度の高いものが要求される。As a countermeasure to this problem, temperature control to keep the detector temperature constant is considered, but the temperature control means such as temperature control accuracy is complicated and high temperature control accuracy is required.
また、温度制御用のヒ〜りに流れる電流によって発生す
る誘動ノイズ等の障害があるという問題があった。Further, there is a problem in that there are problems such as induced noise generated by the current flowing through the temperature control heater.
本発明の目的は、簡単な構造で検出器の使用中の温度変
動を低減して計測特性を安定させることができる技術を
提供することにある。An object of the present invention is to provide a technique that can stabilize measurement characteristics by reducing temperature fluctuations during use of a detector with a simple structure.
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.
すなわち、被検体を透過したX線を検出するX線CT装
置用検出器において、該検出器の所定位置に温度センサ
を設け、該温度センサの出力に応じて検出器を所定温度
に加熱する加熱手段を設けたことを特徴とし、簡単な構
造で検出器の使用中の温度変動を低減して計測特性を安
定させるようにしたものである。That is, in a detector for an X-ray CT device that detects X-rays transmitted through a subject, a temperature sensor is provided at a predetermined position of the detector, and heating is performed to heat the detector to a predetermined temperature according to the output of the temperature sensor. The present invention is characterized by the provision of a means for reducing temperature fluctuations during use of the detector and stabilizing measurement characteristics with a simple structure.
以下、本発明の構成について、実施例とともに説明する
。Hereinafter, the configuration of the present invention will be explained along with examples.
なお、実施例を説明するだめの全図において、同一機能
を有するものは同一符号を付け、その絢り返しの説明は
省略する。In addition, in all the figures for explaining the embodiments, parts having the same functions are given the same reference numerals, and the explanation of the decoration will be omitted.
まず、最初に本実施例の原理について説明する。First, the principle of this embodiment will be explained.
XI@CT装置の検出器において、XfiCT装置の使
用開始から稼動中の計測に適切な定常温度状態に達する
間の温度変動が大きく、定常温度に達した後の変動は小
さい。この原因は、X41CT装置の使用に際し、XI
IACT装置室の室温調整機が働くことや、X線CT装
置からの熱によって室温が変動し、この影響で検出器温
度が変動するためである。検出器の熱時定数は、30分
〜90分程度であるために室温の変化が30分程度で定
常温度に安定しても、検出器温度の変化は、2時間〜4
時間かかってやっと定常温度に達する。In the detector of the XI@CT device, temperature fluctuations are large from the time the XfiCT device starts being used until it reaches a steady temperature state suitable for measurement during operation, and the fluctuations after reaching the steady temperature are small. The cause of this is that when using the X41CT device,
This is because the room temperature fluctuates due to the operation of the room temperature regulator in the IACT equipment room and the heat from the X-ray CT equipment, which causes the detector temperature to fluctuate. The thermal time constant of the detector is about 30 to 90 minutes, so even if the room temperature stabilizes at a steady temperature after about 30 minutes, the detector temperature will change after about 2 to 4 hours.
It takes some time to reach a steady temperature.
そこで、本実施例の検出器は、X線CT装置使用前に、
計測に適切な定常温度(以下、単に定常温度という)に
まで検出器を予熱しておき、X線CT装置の使用開始直
後から定常温度に安定させたものである。また、定常状
態の室温は、季節変化等の気温の変動等によって影響を
受けるが、数日の間に急変することはないので、検出器
を予熱するときの定常温度の予想値は、前日もしくは前
回使用時の検出器温度とすればよい。Therefore, before using the X-ray CT apparatus, the detector of this embodiment
The detector is preheated to a steady state temperature (hereinafter simply referred to as steady state temperature) suitable for measurement, and the temperature is stabilized at the steady state temperature immediately after the X-ray CT apparatus is started to be used. In addition, the room temperature in a steady state is affected by temperature fluctuations such as seasonal changes, but it does not change suddenly over a few days, so the expected value of the steady state temperature when preheating the detector is The sensor temperature at the time of last use may be used.
第1図及び第2図は、本発明の一実施例のX線CT装置
の検出器を説明するための図であり、第1図は、そのX
1iCT装置の概略構成を示す斜視図、第2図は、その
検出器の概略構成を示すブロック図である。1 and 2 are diagrams for explaining a detector of an X-ray CT apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 2 is a perspective view showing the schematic structure of the 1iCT apparatus, and FIG. 2 is a block diagram showing the schematic structure of its detector.
第1図及び第2図において、回転板1は、図示していな
い駆動モータによって回転されるようになっている。回
転板1には、X線管2とこれに対向するように検出器3
が取り付けられている。X線管2から放射されたxlは
、被検体を透過した後、検出器3に入射され、そのX線
強度に対応した信号電流が後続の信号増幅器4に入力さ
れる。In FIGS. 1 and 2, a rotary plate 1 is rotated by a drive motor (not shown). The rotary plate 1 has an X-ray tube 2 and a detector 3 facing it.
is installed. After xl emitted from the X-ray tube 2 passes through the subject, it enters the detector 3, and a signal current corresponding to the X-ray intensity is input to the subsequent signal amplifier 4.
検出器3には、加熱用のヒータ5と温度測定用の@度セ
ンサ6が取り付けられている。ヒータ5と温度センサ6
は、回転板1に取り付けられている予熱制御回路7に電
気的に接続されている。The detector 3 is attached with a heater 5 for heating and a temperature sensor 6 for measuring temperature. Heater 5 and temperature sensor 6
is electrically connected to a preheating control circuit 7 attached to the rotating plate 1.
次に、前記予熱制御回路7の一実施例の具体的な回路構
成を第3図に示す。Next, a specific circuit configuration of one embodiment of the preheating control circuit 7 is shown in FIG.
この予熱制御回路7は、第3図に示すように。This preheating control circuit 7 is as shown in FIG.
温度センサ6及びブリッジ回路からなる温度計測回路8
に接続され、温度計測回路8の出力は、増幅器9を介し
て比較器10の一入力端子に入力される。比較器10の
他の入力端子には、ボリウム等からなる基準電圧設定器
11で設定される定常温度に対応した電圧が入力される
ようになっている。ここで、この基準電圧設定器11の
代りにRA M (Random Access Me
mory)等を用いて前記臼又は前回の計測時の定常温
度を記憶しておいて、それを基準値としてもよい。Temperature measurement circuit 8 consisting of temperature sensor 6 and bridge circuit
The output of the temperature measurement circuit 8 is input to one input terminal of a comparator 10 via an amplifier 9. The other input terminal of the comparator 10 is configured to receive a voltage corresponding to the steady temperature set by a reference voltage setting device 11 made of a volume or the like. Here, instead of this reference voltage setter 11, a RAM (Random Access Me
It is also possible to store the steady temperature of the mill or the previous measurement using a tool such as Mory), and use it as the reference value.
そして、前記比較器10から前記設定された定常温度に
対応する電圧と検出器3の温度に対応する電圧との差電
圧が出力され、増幅器12を介してスイッチ用トランジ
スタ13のベースに入力されるようになっている。前記
スイッチ用トランジスタ13のコレクタにはリレー14
のコイル14Aとが接続されている。このコイル14A
が付勢されると、リレー14の接片14Bがオンして(
閉じて)、電力電源15がヒータ5に接続され、ヒータ
5に電力が供給されてヒータ5を発熱させるようになっ
ている。そして、検出器3が定常温度になると、スイッ
チ用トランジスタ13がオフして自動的にリレー14の
コイル14Aに流れる電流が切断されるようになってい
る。前記基$電圧設定器11はマニュアルで設定する。Then, a difference voltage between the voltage corresponding to the set steady temperature and the voltage corresponding to the temperature of the detector 3 is outputted from the comparator 10 and inputted to the base of the switching transistor 13 via the amplifier 12. It looks like this. A relay 14 is connected to the collector of the switching transistor 13.
The coil 14A is connected to the coil 14A. This coil 14A
When energized, contact piece 14B of relay 14 turns on (
(closed), an electric power source 15 is connected to the heater 5, and electric power is supplied to the heater 5 to cause the heater 5 to generate heat. When the detector 3 reaches a steady temperature, the switching transistor 13 is turned off and the current flowing through the coil 14A of the relay 14 is automatically cut off. The base voltage setting device 11 is manually set.
また、前記温度計測回路8とリレー14の定電圧源32
は、制御回路30を介して供給されるようになっている
。図中、R工、R2、R3はそれぞれ抵抗である。Further, a constant voltage source 32 for the temperature measurement circuit 8 and the relay 14
is supplied via the control circuit 30. In the figure, R, R2, and R3 are resistors, respectively.
このように構成された予熱制御回路7は、例えば、使用
開始予定時間の2時間程度前に定電圧源32がX線CT
装置の制御部からの制御部Ji+31により接続される
と、動作を開始する。そして、前記検出器3の温度と定
常温度との間に温度差があれば、温度センサ6の出力電
圧と基$電圧設定器11で設定される基準電圧との差電
圧が比較器10から出力され、スイッチ用トランジスタ
13のベースに印加され、スイッチ用トランジスタ13
がオン(ON)され、リレー14のコイル14Aが付勢
され、その接片14Bがオンしてヒータ5に電力型g1
5から電力が供給され、検出器3が加熱される。検出器
3の温度が定常温度と同じになると、温度センサ6の出
力電圧と基準電圧との差電圧が「0」となり、スイッチ
用トランジスタ13がオフ(OFF) L、てリレー1
4のコイル14Aに流れている電流が遮断され、その接
片14Bがオフ(OFF) L 、ヒータ5に供給され
ている電力が遮断されて検出器3の加熱が停止される。The preheating control circuit 7 configured in this manner is configured such that, for example, the constant voltage source 32 is connected to the
When connected by the control unit Ji+31 from the control unit of the device, it starts operating. If there is a temperature difference between the temperature of the detector 3 and the steady temperature, the voltage difference between the output voltage of the temperature sensor 6 and the reference voltage set by the base voltage setting device 11 is output from the comparator 10. is applied to the base of the switching transistor 13, and the switching transistor 13 is applied to the base of the switching transistor 13.
is turned on (ON), the coil 14A of the relay 14 is energized, and its contact piece 14B is turned on, causing the heater 5 to receive power type g1.
Electric power is supplied from 5, and the detector 3 is heated. When the temperature of the detector 3 becomes the same as the steady temperature, the voltage difference between the output voltage of the temperature sensor 6 and the reference voltage becomes "0", and the switching transistor 13 turns off (OFF).
The current flowing through the coil 14A of No. 4 is cut off, the contact piece 14B is turned off (OFF) L, the power supplied to the heater 5 is cut off, and heating of the detector 3 is stopped.
また、X線CT装置の使用開始の時刻には、制御部から
使用開始制御信号31’が制御回路30に入力され、予
熱制御回路7をX線CT装置から切り離してヒータ5に
電流が流れないようにする。Further, at the time when the X-ray CT apparatus starts to be used, a start-of-use control signal 31' is inputted from the control section to the control circuit 30, and the preheating control circuit 7 is disconnected from the X-ray CT apparatus, so that no current flows to the heater 5. do it like this.
以上の説明かられかるように、本実施例によれば、夜間
などの非使用時と、使用時で大きな温度差があるような
環境でも、簡単な構造で検出器3の安定した特性が得ら
れ、検出N3の感度校正の頻度を低減することができる
。また、これより良好な画像を得ることもできる。As can be seen from the above explanation, according to this embodiment, stable characteristics of the detector 3 can be achieved with a simple structure even in environments where there is a large temperature difference between when it is not in use and when it is in use, such as at night. Therefore, the frequency of calibration of the sensitivity of the detection N3 can be reduced. Moreover, it is also possible to obtain a better image.
また、X線CT装置の使用時にはヒータ5に供給される
電力を完全に遮断するようにしたので、ヒータ5に流れ
る電流による誘導ノイズを防止することができる。これ
らによりコントラスト及び解像度のよい良好な画像が得
られる。Furthermore, since the power supplied to the heater 5 is completely cut off when the X-ray CT apparatus is used, induced noise due to the current flowing through the heater 5 can be prevented. With these, a good image with good contrast and resolution can be obtained.
第4図は、前記予熱制御回路7の他の実施例の具体的な
構成を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a specific configuration of another embodiment of the preheating control circuit 7. In FIG.
本実施例の予熱制御回路7は、第4図に示すように、前
記第3図の実施例の増幅器9の出力をアナログ・ディジ
タル変換回路16によりディジタル信号に変換してカウ
ンタ17に入力されるようになっている。カウンタ17
は、例えば、ダウンカウント型カウンタを用いる。この
カウンタ17の初期値は、 ROM(Read 0nl
y MeIlory)からなる基準値設定用メモリ18
により設定されるようになっている。基準値設定用メモ
リ18には、定常温度に対応した値が記憶されている。As shown in FIG. 4, the preheating control circuit 7 of this embodiment converts the output of the amplifier 9 of the embodiment of FIG. It looks like this. counter 17
For example, a down-counting counter is used. The initial value of this counter 17 is ROM (Read 0nl).
Reference value setting memory 18 consisting of
It is set by The reference value setting memory 18 stores values corresponding to steady temperature.
前記カウンタ17は、初期設定値が「0」になるまで出
力し、増幅器12に入力する6増幅器12の出力は前記
スイッチ用トランジスタ13のベースに入力され。The counter 17 outputs an output until the initial setting value becomes "0", and the output of the six amplifiers 12 is input to the base of the switching transistor 13.
スイッチ用トランジスタ13をオン・オフするようにし
たものである。また、前記基準値設定用メモリ18とし
てRAM等の記憶回路を用いて、前日又は前回の検出器
の稼動時の温度を記憶しておき、これを基準値とするこ
ともできる。The switching transistor 13 is turned on and off. Further, it is also possible to use a storage circuit such as a RAM as the reference value setting memory 18 to store the temperature at the time of the previous day's or previous operation of the detector, and use this as the reference value.
このようにカウンタ17と基準値設定用メモリ18を用
いた簡単な構成で前記第3図と同様の作用効果を得るこ
とができる。In this way, the same effects as in FIG. 3 can be obtained with a simple configuration using the counter 17 and the reference value setting memory 18.
第5図は、前記予熱制御回路7の他の実施例の具体的な
構成を示す回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram showing a specific configuration of another embodiment of the preheating control circuit 7. In FIG.
本実施例の予熱制御回路7は、第5図に示すように、前
記第4図の実施例の増幅器9の出力をアナログ・ディジ
タル変換回路16によりディジタル信号に変換して、R
OM19に入力される。ROM19には、第6図に示す
温度センサの出力とヒータ加熱時間との関係を表わす特
性直線のテーブルが記憶されている。ROM19から検
出器3の温度に応じたヒータ加熱時間信号が出力され、
タイマ20に入力される。タイマ20は前記ヒータ加熱
時間信号に応じた時間だけ信号を出力して、増幅器12
を介してスイッチ用トランジスタ13のベースに入力さ
れるようになっている。また、ROM19にはXIaC
T装置全体の制御部からの制御信号21が接続されてい
る。As shown in FIG. 5, the preheating control circuit 7 of this embodiment converts the output of the amplifier 9 of the embodiment of FIG.
Input to OM19. The ROM 19 stores a table of characteristic straight lines showing the relationship between the output of the temperature sensor and the heater heating time shown in FIG. A heater heating time signal corresponding to the temperature of the detector 3 is output from the ROM 19,
The signal is input to the timer 20. The timer 20 outputs a signal for a time corresponding to the heater heating time signal, and the amplifier 12
It is designed to be input to the base of the switching transistor 13 via. In addition, ROM19 has XIaC
A control signal 21 from the control section of the entire T device is connected.
このようにROM19とタイマ2oを用いた簡単な構成
で前記第3図と同様の作用効果を得ることができる。In this way, the same effects as in FIG. 3 can be obtained with a simple configuration using the ROM 19 and the timer 2o.
また、RAM等の記憶回路19Aを用いて、前日又は前
回の検出器の稼動時の温度を記憶しておき、前記ROM
19のテーブルを選択してその出力を制御することもで
きる。Further, the temperature at the time of the previous day's or previous operation of the detector is stored using a memory circuit 19A such as a RAM, and
It is also possible to select one of the 19 tables and control its output.
以上予熱制御回路7の具体的な実施例により説明したよ
うに、XICT装置の使用開始予定時刻の例えば2時間
程度前に温度センサ6により検出器3の温度を検出し、
予熱制御回路7をセットしてヒータ5に検出器3の定常
温度になるまで電力を供給することにより、X線CT装
置の使用開始時の検出器3の温度を常に定常温度状態1
こすることができる。As explained above using the specific embodiment of the preheating control circuit 7, the temperature of the detector 3 is detected by the temperature sensor 6 about two hours before the scheduled start time of the XICT device,
By setting the preheating control circuit 7 and supplying power to the heater 5 until the temperature of the detector 3 reaches the steady state, the temperature of the detector 3 at the start of use of the X-ray CT apparatus is always maintained at the steady temperature state 1.
It can be rubbed.
そして、X@CT装置の使用を開始すると、X線CT装
置の制御部からの使用開始制御信号31′によって装置
が使用状態であることが制御回路30に入力される。制
御回路30は予熱制御回路7をXA!&CT装置から分
離し、完全にヒータ5に電流が流れないようにし、ヒー
タ5から誘導ノイズが発生しないようにする。また、X
線CT装置使用開始後4時間〜6時間に制御回路30は
、検出器3の温度を測定し、基準値設定用メモリ18又
はRAMに記憶しておき、次回に備える。When the X@CT apparatus starts to be used, a start-of-use control signal 31' from the control section of the X-ray CT apparatus inputs to the control circuit 30 that the apparatus is in use. The control circuit 30 connects the preheating control circuit 7 to XA! & CT device, and completely prevent current from flowing through the heater 5 to prevent induction noise from occurring from the heater 5. Also, X
The control circuit 30 measures the temperature of the detector 3 4 to 6 hours after starting to use the X-ray CT apparatus, stores it in the reference value setting memory 18 or RAM, and prepares for the next time.
以上の説明かられかるように1本実施例によれば、温度
センサ6と予熱制御回路7を用いた簡単な構成で、検出
器3の温度をX線CT装置使用開始時から定常温度又は
前日あるいは前回のX線CT装置の稼動時の温度にする
ことができる。As can be seen from the above description, according to this embodiment, the temperature of the detector 3 can be adjusted from the time of the start of use of the X-ray CT apparatus to the steady temperature or the previous day's temperature using a simple configuration using the temperature sensor 6 and the preheating control circuit 7. Alternatively, the temperature can be set to the temperature at the time of the previous operation of the X-ray CT apparatus.
また、X線CT装置の稼動時にはヒータ5に電流が流れ
ないようにしたので、ヒータ5からの誘導ノイズを防止
することができる。Furthermore, since no current flows through the heater 5 when the X-ray CT apparatus is in operation, induced noise from the heater 5 can be prevented.
以上、本発明を実施例にもとずき具体的に説明したが、
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。The present invention has been specifically explained above based on examples, but
It goes without saying that the present invention is not limited to the embodiments described above, and can be modified in various ways without departing from the spirit thereof.
例えば、前記予熱制御回路7の各部品は、その機能を果
すものであれば、どのようなものであってもよい。For example, each component of the preheating control circuit 7 may be of any type as long as it fulfills its function.
以上説明したように、本発明によれば、温度センサと予
熱制御回路を用いた簡単な構成で、検出器の温度をXl
ICT装置使用開始時から定常温度又は前日あるいは前
回のXwIcCT装置の稼動時の温度にすることができ
る。As explained above, according to the present invention, the temperature of the detector can be adjusted to
The temperature can be set to a constant temperature from the time the ICT device is started to be used, or to the temperature from the previous day or the previous operation of the XwIcCT device.
また、X線CT装置の稼動時にはヒータに電流が流れな
いようにしたので、ヒータからの誘導ノイズを防止する
ことができる。Furthermore, since no current flows through the heater when the X-ray CT apparatus is in operation, induced noise from the heater can be prevented.
また、検出器の感度校正の頻度を低減することができる
。Furthermore, the frequency of calibration of the sensitivity of the detector can be reduced.
第1図及び第2図は、本発明の一実施例のX線CT装置
の検出器を説明するための図であり、第1図は、そのX
aCT装置の概略構成を示す斜視図、
第2図は、その検出器の概略構成を示すブロック図、
第3図乃至第5図は、それぞれ予熱制御回路の実施例の
具体的な構成を示す回路図、
第6図は、温度検出センサの出力とヒータ加熱時間との
関係を表わす加熱特性を示す図、第7図及び第8図は、
従来の検出器の問題点を説明するための図である。
図中、3・・・検出器、5・・・ヒータ、6・・・温度
センサ、7・・・予熱制御回路である。1 and 2 are diagrams for explaining a detector of an X-ray CT apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 2 is a block diagram showing the schematic structure of the aCT device; FIGS. 3 to 5 are circuits showing specific structures of embodiments of the preheating control circuit. Figure 6 is a diagram showing the heating characteristics representing the relationship between the output of the temperature detection sensor and the heater heating time, and Figures 7 and 8 are:
FIG. 2 is a diagram for explaining problems with a conventional detector. In the figure, 3...detector, 5...heater, 6...temperature sensor, 7...preheating control circuit.
Claims (1)
検出器において、該検出器の所定位置に温度センサを設
け、該温度センサの出力に応じて検出器を所定温度に加
熱する加熱手段を設けたことを特徴とするX線CT装置
用検出器。(1) In a detector for an X-ray CT device that detects X-rays transmitted through a subject, a temperature sensor is provided at a predetermined position of the detector, and the detector is heated to a predetermined temperature according to the output of the temperature sensor. A detector for an X-ray CT apparatus, characterized in that it is provided with a heating means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60142811A JPS623684A (en) | 1985-06-29 | 1985-06-29 | Detector for x-ray ct equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60142811A JPS623684A (en) | 1985-06-29 | 1985-06-29 | Detector for x-ray ct equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS623684A true JPS623684A (en) | 1987-01-09 |
Family
ID=15324176
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60142811A Pending JPS623684A (en) | 1985-06-29 | 1985-06-29 | Detector for x-ray ct equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS623684A (en) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5055814A (en) * | 1988-05-19 | 1991-10-08 | Ohkura Electric Co., Ltd. | Displacement detector |
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JPH1073668A (en) * | 1996-08-29 | 1998-03-17 | Hitachi Medical Corp | X-ray detector constant temperature device |
US6411672B1 (en) | 1999-06-18 | 2002-06-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector and X-ray CT apparatus |
JP4711475B2 (en) * | 1999-06-07 | 2011-06-29 | Geヘルスケア・ジャパン株式会社 | X-ray CT system |
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-
1985
- 1985-06-29 JP JP60142811A patent/JPS623684A/en active Pending
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