JPS6234351U - - Google Patents
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- JPS6234351U JPS6234351U JP12712385U JP12712385U JPS6234351U JP S6234351 U JPS6234351 U JP S6234351U JP 12712385 U JP12712385 U JP 12712385U JP 12712385 U JP12712385 U JP 12712385U JP S6234351 U JPS6234351 U JP S6234351U
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- JP
- Japan
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- infrared
- sample window
- measured
- infrared spectrometer
- semiconductor element
- Prior art date
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- Pending
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- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例による赤外線分光
分析装置の構成図、第２図は従来のものを示す構
成図ある。図において、１は赤外線発生装置、２
は被測定部材、３はアルカリハライド単結晶、４
は検出器、５は半導体元素皮膜、６は試料窓であ
る。なお各図中同一符号は同一又は相当部分を示
す。
分析装置の構成図、第２図は従来のものを示す構
成図ある。図において、１は赤外線発生装置、２
は被測定部材、３はアルカリハライド単結晶、４
は検出器、５は半導体元素皮膜、６は試料窓であ
る。なお各図中同一符号は同一又は相当部分を示
す。
Claims (1)
- 赤外領域の所定の波長範囲で所定の透過率を有
する試料窓に載せられた被測定部材に赤外線を照
射して上記被測定部材の同定をするものにおいて
、試料窓は半導体元素の皮膜が形成されたもので
あることを特徴とする赤外線分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12712385U JPS6234351U (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12712385U JPS6234351U (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6234351U true JPS6234351U (ja) | 1987-02-28 |
Family
ID=31021571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12712385U Pending JPS6234351U (ja) | 1985-08-19 | 1985-08-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6234351U (ja) |
-
1985
- 1985-08-19 JP JP12712385U patent/JPS6234351U/ja active Pending
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