JPS6117651U - ガス分析計 - Google Patents
ガス分析計Info
- Publication number
- JPS6117651U JPS6117651U JP1984102804U JP10280484U JPS6117651U JP S6117651 U JPS6117651 U JP S6117651U JP 1984102804 U JP1984102804 U JP 1984102804U JP 10280484 U JP10280484 U JP 10280484U JP S6117651 U JPS6117651 U JP S6117651U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas analyzer
- analyzer according
- cell
- black
- interference filter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は本考案に係るガス分析計の一例を示す構成図、
第2図は本考案の他の実施例を示す構成図、第3図はフ
ィルタにおける中心波長を示す分光図である。 10・・・セル、13・・・内壁面、20・・・光源、
33,34・・・多層膜干渉フィルタ、50・・・温度
調節器。
第2図は本考案の他の実施例を示す構成図、第3図はフ
ィルタにおける中心波長を示す分光図である。 10・・・セル、13・・・内壁面、20・・・光源、
33,34・・・多層膜干渉フィルタ、50・・・温度
調節器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1)セルを通過した光源からの光が多層膜干渉フィル
タを介して検出器に入射されるようにしたガス分析計に
おいて、前記セルの内壁面が前記多層膜干渉フィルタへ
の斜め入射光を無視できる程度に低減し得る構造又は材
質であることを特徴とするガス分析計。 {2}前記構造がサンドブラスト又はサンドペーパによ
る粗面処理構造であることを特徴とする実用新案登録請
求の範囲第(1)項記載のガス分析計。 (3)前記構造が金ブラック又はクロムブ,ラックによ
る黒化処理構造であることを特徴とする実用新案登録請
求の範囲第(1)項記載のガス分析計。 (4)前記構造が黒系統塗料をコートしたものであるこ
とを特徴とする実用新案登録請求の範囲第(1)項記載
のガス分析計。 (5)前記材質がプラスチックであることを特徴とする
実用新案登録請求の範囲第(1)項記載のガス分析計。 (6)前記セルが温度調節されていることを特徴とする
実用新案登録請求の範囲第(1)項乃至第(5)項のい
ずれかに記載のガス分析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984102804U JPS6117651U (ja) | 1984-07-07 | 1984-07-07 | ガス分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984102804U JPS6117651U (ja) | 1984-07-07 | 1984-07-07 | ガス分析計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6117651U true JPS6117651U (ja) | 1986-02-01 |
JPH0241563Y2 JPH0241563Y2 (ja) | 1990-11-06 |
Family
ID=30662201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1984102804U Granted JPS6117651U (ja) | 1984-07-07 | 1984-07-07 | ガス分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6117651U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012504248A (ja) * | 2008-09-30 | 2012-02-16 | センセエアー アーベー | 高濃度ガスのスペクトル解析に適合されたアレンジメント |
JP2013205052A (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-07 | Yazaki Corp | 気体サンプル室及びガス濃度測定装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004239611A (ja) * | 1999-10-12 | 2004-08-26 | Nok Corp | Coセンサ |
JP2013540986A (ja) * | 2010-07-12 | 2013-11-07 | ナノスポツト・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 人工膜又は生体膜の特性の光学測定のための微小構造化された測定チップ及びその製造のための方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53108386U (ja) * | 1977-02-04 | 1978-08-30 | ||
JPS5555240A (en) * | 1978-10-20 | 1980-04-23 | Toshiba Corp | Flow cell |
JPS56117345U (ja) * | 1980-02-12 | 1981-09-08 |
-
1984
- 1984-07-07 JP JP1984102804U patent/JPS6117651U/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53108386U (ja) * | 1977-02-04 | 1978-08-30 | ||
JPS5555240A (en) * | 1978-10-20 | 1980-04-23 | Toshiba Corp | Flow cell |
JPS56117345U (ja) * | 1980-02-12 | 1981-09-08 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012504248A (ja) * | 2008-09-30 | 2012-02-16 | センセエアー アーベー | 高濃度ガスのスペクトル解析に適合されたアレンジメント |
US9001331B2 (en) | 2008-09-30 | 2015-04-07 | Senseair Ab | Arrangement adapted for spectral analysis of high concentrations of gas |
JP2013205052A (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-07 | Yazaki Corp | 気体サンプル室及びガス濃度測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0241563Y2 (ja) | 1990-11-06 |
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