JPS623364B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS623364B2 JPS623364B2 JP13672778A JP13672778A JPS623364B2 JP S623364 B2 JPS623364 B2 JP S623364B2 JP 13672778 A JP13672778 A JP 13672778A JP 13672778 A JP13672778 A JP 13672778A JP S623364 B2 JPS623364 B2 JP S623364B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- control
- slit
- amplifier
- gain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 5
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分光光度計に係り、特に近赤外域にお
いて一定バンドパスでスペクトル測定を行なうに
好適な分光光度計に関する。
いて一定バンドパスでスペクトル測定を行なうに
好適な分光光度計に関する。
近赤外域（波長約800〜3000nm附近）を測定す
る分光光度計は、PbS検知器が広く一般に用いら
れる。しかるに、PbS検知器には可視域で用いら
れる光電子増倍管の場合のようなダイノードフイ
ードバツク方式を採用できないため、モノクロメ
ータのスリツトを開閉して検知器照射光を制御す
るスリツトサーボと呼ばれる方法が用いられる。
この方法を、従来例の一例第１図を用いて説明す
る。光源１４の光は分光器１５で分光され、回転
するセクタ１９で二光束に分割される。１６，１
８はミラーであり、１７はハーフミラーである。
検知器照射光の光信号はPbS検知器１３の抵抗変
化として捉えられる。抵抗変化は電圧変化に変換
され、プリアンプ１０で増幅した後メインアンプ
に入る。ここでロータリースイツチ２４は装置操
作パネル面でありオペレータによつてアンプの感
度が幾段かに切換えられるようになつており、そ
の時の検知器照射光の強度、PbS検知器１３の感
度を勘案しながら最適条件に設定する。こうして
選ばれた入力抵抗９（Rsと略称する）とフイー
ドバツク抵抗８（Rfと略称する）の比（−Ｒｆ／Ｒｓ） がアンプ７のゲインとなつて増幅され、Ａ／Ｄ変
換器６に入り、デイジタル値となつてCPU１に
取込まれる。CPU１では、入力値を、セクタ１
９に同期して弁別信号を発生する同期信号発生器
２４の信号で、試料光信号、対照光信号、零信号
に弁別した後別に記憶し、この三種の信号の内の
最大値が一定レベルになるようにフイードバツク
をかける。すなわち、最大値が大きくなつてフイ
ードバツクレベルを超えるようになると、CPU
１の制御信号が働いてスリツト制御装置２３を通
し、スリツト２０を閉じる方向にスリツト駆動モ
ータ２２を動かす。こうして検知器に照射する検
知器照射光１４を減少し、信号レベルを下げる。
逆に、信号レベルが小さくなつたときには、スリ
ツト２０を開くことによつて信号レベルを増加さ
せる。以上のように、スリツト２０を開閉させる
ことによつて出力信号レベルを一定に保つ、いわ
ゆるスリツトサーボと呼ばれる制御方法が用いら
れてきた。しかしこの方法では、スリツト幅は
時々刻々変化しており、波長走査をしてスペクト
ル記録を行なつた場合、スリツト幅すなわちバン
ドパスは波長によつて異なり、得られたスペクト
ル曲線上のピークの幅から直ちに試料の吸収ピー
クの半値幅の大小を比較できなかつた。また制御
がモノクロメータのスリツト２０にかけられるた
め、この光量をPbS検知器１３で検出してプリア
ンプ１０、メインアンプ、Ａ／Ｄ変換器６を通つ
てCPU１で再度フイードバツクがかけられ、ス
リツト制御装置２３からの信号でスリツト駆動モ
ータ２２を動かしてスリツト２０を制御するとい
う長大な制御ループを経るため、制御遅れが生
じ、応答の速い適確な制御が出来ないという欠点
があつた。
る分光光度計は、PbS検知器が広く一般に用いら
れる。しかるに、PbS検知器には可視域で用いら
れる光電子増倍管の場合のようなダイノードフイ
ードバツク方式を採用できないため、モノクロメ
ータのスリツトを開閉して検知器照射光を制御す
るスリツトサーボと呼ばれる方法が用いられる。
この方法を、従来例の一例第１図を用いて説明す
る。光源１４の光は分光器１５で分光され、回転
するセクタ１９で二光束に分割される。１６，１
８はミラーであり、１７はハーフミラーである。
検知器照射光の光信号はPbS検知器１３の抵抗変
化として捉えられる。抵抗変化は電圧変化に変換
され、プリアンプ１０で増幅した後メインアンプ
に入る。ここでロータリースイツチ２４は装置操
作パネル面でありオペレータによつてアンプの感
度が幾段かに切換えられるようになつており、そ
の時の検知器照射光の強度、PbS検知器１３の感
度を勘案しながら最適条件に設定する。こうして
選ばれた入力抵抗９（Rsと略称する）とフイー
ドバツク抵抗８（Rfと略称する）の比（−Ｒｆ／Ｒｓ） がアンプ７のゲインとなつて増幅され、Ａ／Ｄ変
換器６に入り、デイジタル値となつてCPU１に
取込まれる。CPU１では、入力値を、セクタ１
９に同期して弁別信号を発生する同期信号発生器
２４の信号で、試料光信号、対照光信号、零信号
に弁別した後別に記憶し、この三種の信号の内の
最大値が一定レベルになるようにフイードバツク
をかける。すなわち、最大値が大きくなつてフイ
ードバツクレベルを超えるようになると、CPU
１の制御信号が働いてスリツト制御装置２３を通
し、スリツト２０を閉じる方向にスリツト駆動モ
ータ２２を動かす。こうして検知器に照射する検
知器照射光１４を減少し、信号レベルを下げる。
逆に、信号レベルが小さくなつたときには、スリ
ツト２０を開くことによつて信号レベルを増加さ
せる。以上のように、スリツト２０を開閉させる
ことによつて出力信号レベルを一定に保つ、いわ
ゆるスリツトサーボと呼ばれる制御方法が用いら
れてきた。しかしこの方法では、スリツト幅は
時々刻々変化しており、波長走査をしてスペクト
ル記録を行なつた場合、スリツト幅すなわちバン
ドパスは波長によつて異なり、得られたスペクト
ル曲線上のピークの幅から直ちに試料の吸収ピー
クの半値幅の大小を比較できなかつた。また制御
がモノクロメータのスリツト２０にかけられるた
め、この光量をPbS検知器１３で検出してプリア
ンプ１０、メインアンプ、Ａ／Ｄ変換器６を通つ
てCPU１で再度フイードバツクがかけられ、ス
リツト制御装置２３からの信号でスリツト駆動モ
ータ２２を動かしてスリツト２０を制御するとい
う長大な制御ループを経るため、制御遅れが生
じ、応答の速い適確な制御が出来ないという欠点
があつた。
本発明の目的は、制御系を変えることによつ
て、一定のスリツト幅でも波長走査できる分光光
度計を提供するにある。
て、一定のスリツト幅でも波長走査できる分光光
度計を提供するにある。
本発明は、オペアンプのゲインは入力抵抗とフ
イードバツク抵抗の比で決まることに着目し、制
御系のフイードバツクを抵抗値の変化量としてオ
ペアンプのゲインにかけるようにすることによつ
て、一定スリツト幅でも波長走査出来るようにし
たものである。
イードバツク抵抗の比で決まることに着目し、制
御系のフイードバツクを抵抗値の変化量としてオ
ペアンプのゲインにかけるようにすることによつ
て、一定スリツト幅でも波長走査出来るようにし
たものである。
本発明の一実施例を第２図に示す。装置には、
CPU１、ROMメモリ２、RAMメモリ３、制御用
Ｉ／Ｏ４などを持ち、主要な制御およびデータ処
理を行なつている。オペアンプ７の入力抵抗９は
R1，R2……R8の抵抗が並列につながつており、
この抵抗はスイツチ群３１のオン・オフによつ
て、任意の抵抗がセツトできるようになつてい
る。今、抵抗R1，R2……R8を次のように選ぶ Ri＝Ｒｏ／２ｉ−１（ｉ＝１，２……８） こうして、スイツチSW1，SW2……SW8を２進コ
ードの20〜27桁に対応するようスイツチ制御Ｉ／
Ｏ３０でオン・オフ制御を行わせる。このときス
イツチの状態と対応するアンプ７のゲインを次に
説明する。反転入力型のアンプのゲインＡはフイ
ードバツク抵抗８（Rf）と入力抵抗９（Rs）の
比で決まり Ａ＝−Ｒｆ／Ｒｓ となる。今、SW1だけがオンのときRs＝R1＝R0
で、Ａ＝−Rf／R0＝１・（−Rf／R0）となる。次
にSW2だけオンのとき、 Rs＝R2＝Ｒ０／２で Ａ＝−（Rf／Ｒ０／２）＝２・（−Rf／R0） SW1とSW2がオンになれば、 以下同様計算すれば、アンプゲインはSW1〜
SW8を組合わせることによつて255段階に切換え
ることができる。このような制御系において、
Ａ／Ｄ変換器６の入力信号は、CPU１で基準信
号レベルと比較され、大きい場合には、スイツチ
制御装置３０からスイツチ群３１を操作してアン
プ７のゲインを下げる。一方、信号が小さくなつ
たときは、アンプ７のゲインを上げることによつ
て出力信号レベルを一定に保つようにしたもので
ある。本発明の一実施例によれば、モノクロメー
タのスリツト２０にはフイードバツクがかからな
いので、波長走査を行なつても、オペレータがセ
ツトした一定スリツト幅が保たれ、全域にわたつ
て同一バンドパスのスペクトル記録が行なえる。
また、制御系も直接メインアンプのゲインを変え
るため、応答が速く適格な制御が可能である。
CPU１、ROMメモリ２、RAMメモリ３、制御用
Ｉ／Ｏ４などを持ち、主要な制御およびデータ処
理を行なつている。オペアンプ７の入力抵抗９は
R1，R2……R8の抵抗が並列につながつており、
この抵抗はスイツチ群３１のオン・オフによつ
て、任意の抵抗がセツトできるようになつてい
る。今、抵抗R1，R2……R8を次のように選ぶ Ri＝Ｒｏ／２ｉ−１（ｉ＝１，２……８） こうして、スイツチSW1，SW2……SW8を２進コ
ードの20〜27桁に対応するようスイツチ制御Ｉ／
Ｏ３０でオン・オフ制御を行わせる。このときス
イツチの状態と対応するアンプ７のゲインを次に
説明する。反転入力型のアンプのゲインＡはフイ
ードバツク抵抗８（Rf）と入力抵抗９（Rs）の
比で決まり Ａ＝−Ｒｆ／Ｒｓ となる。今、SW1だけがオンのときRs＝R1＝R0
で、Ａ＝−Rf／R0＝１・（−Rf／R0）となる。次
にSW2だけオンのとき、 Rs＝R2＝Ｒ０／２で Ａ＝−（Rf／Ｒ０／２）＝２・（−Rf／R0） SW1とSW2がオンになれば、 以下同様計算すれば、アンプゲインはSW1〜
SW8を組合わせることによつて255段階に切換え
ることができる。このような制御系において、
Ａ／Ｄ変換器６の入力信号は、CPU１で基準信
号レベルと比較され、大きい場合には、スイツチ
制御装置３０からスイツチ群３１を操作してアン
プ７のゲインを下げる。一方、信号が小さくなつ
たときは、アンプ７のゲインを上げることによつ
て出力信号レベルを一定に保つようにしたもので
ある。本発明の一実施例によれば、モノクロメー
タのスリツト２０にはフイードバツクがかからな
いので、波長走査を行なつても、オペレータがセ
ツトした一定スリツト幅が保たれ、全域にわたつ
て同一バンドパスのスペクトル記録が行なえる。
また、制御系も直接メインアンプのゲインを変え
るため、応答が速く適格な制御が可能である。
第３図は本発明の他の実施例を示すもので、第
２図と異なるのは、入力抵抗９の切換えに使つて
いたスイツチ群３１の代りに可変抵抗４２を使
い、この可変抵抗４２を可変抵抗制御装置４０に
より駆動される可変抵抗制御モータ４１で切換え
るようにしたものである。この実施例では、入力
抵抗９を連続的に変えられるので、よりスムーズ
な制御ができる。また第２図では、スイツチの数
はSW1からSW8までの８種類で255＝28−１段切
換となつているが、一般にｎ個のスイツチを用い
ると２n−１段切換の制御ができるので、被制御
信号の性質に応じてスイツチの数ｎは増減しても
同等の効果を生む。さらに第２図実施例ではアン
プ７のゲインをリニアに増加するよう抵抗R1〜
R8を選んだが、信号の性質によつては指数関数
とか双曲線関数的に変化するよう抵抗値を選ぶこ
とも可能である。
２図と異なるのは、入力抵抗９の切換えに使つて
いたスイツチ群３１の代りに可変抵抗４２を使
い、この可変抵抗４２を可変抵抗制御装置４０に
より駆動される可変抵抗制御モータ４１で切換え
るようにしたものである。この実施例では、入力
抵抗９を連続的に変えられるので、よりスムーズ
な制御ができる。また第２図では、スイツチの数
はSW1からSW8までの８種類で255＝28−１段切
換となつているが、一般にｎ個のスイツチを用い
ると２n−１段切換の制御ができるので、被制御
信号の性質に応じてスイツチの数ｎは増減しても
同等の効果を生む。さらに第２図実施例ではアン
プ７のゲインをリニアに増加するよう抵抗R1〜
R8を選んだが、信号の性質によつては指数関数
とか双曲線関数的に変化するよう抵抗値を選ぶこ
とも可能である。
また、アンプ７のゲインをかえるには、入力抵
抗の代りに帰還抵抗を変化させてもよい。
抗の代りに帰還抵抗を変化させてもよい。
本発明によれば、制御信号をスリツトにフイー
ドバツクしてもよいので、走長走査をした場合に
も、一定バンドパスのスペクトル記録を行なえる
という効果がある。
ドバツクしてもよいので、走長走査をした場合に
も、一定バンドパスのスペクトル記録を行なえる
という効果がある。
第１図は従来例の動作原理を説明するブロツク
図、第２図は本発明の一実施例の動作原理を説明
するブロツク図、第３図は本発明の他の実施例の
動作原理を説明するブロツク図である。 １……CPU、２……ROMメモリ、３……RAM
メモリ、５……バスライン、６……Ａ／Ｄ変換
器、７……OPアンプ、８……フイードバツク抵
抗、９……入力抵抗、１３……PbS検知器、３０
……スイツチ制御装置、３１……スイツチ群、４
０……可変抵抗制御装置、４１……可変抵抗制御
モータ、４２……可変抵抗。
図、第２図は本発明の一実施例の動作原理を説明
するブロツク図、第３図は本発明の他の実施例の
動作原理を説明するブロツク図である。 １……CPU、２……ROMメモリ、３……RAM
メモリ、５……バスライン、６……Ａ／Ｄ変換
器、７……OPアンプ、８……フイードバツク抵
抗、９……入力抵抗、１３……PbS検知器、３０
……スイツチ制御装置、３１……スイツチ群、４
０……可変抵抗制御装置、４１……可変抵抗制御
モータ、４２……可変抵抗。
Claims (1)
- １ 試料光信号および対照光信号を光検知器で検
知し、検知された両信号を増巾器で増巾し、増巾
された両信号をＡ／Ｄ変換した後比較してスペク
トルを得る分光光度計において、上記両信号のい
ずれか一方の信号強度がほぼ一定となるように上
記信号と基準信号との誤差信号に基づいて上記増
巾器のゲインを調節することを特徴とする分光光
度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13672778A JPS5563726A (en) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | Spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13672778A JPS5563726A (en) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | Spectrophotometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5563726A JPS5563726A (en) | 1980-05-14 |
| JPS623364B2 true JPS623364B2 (ja) | 1987-01-24 |
Family
ID=15182081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13672778A Granted JPS5563726A (en) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | Spectrophotometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5563726A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0239965U (ja) * | 1988-09-09 | 1990-03-19 | ||
| JPH02254056A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Kinugawa Rubber Ind Co Ltd | ステアリングシャフト用シールカバー |
-
1978
- 1978-11-08 JP JP13672778A patent/JPS5563726A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0239965U (ja) * | 1988-09-09 | 1990-03-19 | ||
| JPH02254056A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Kinugawa Rubber Ind Co Ltd | ステアリングシャフト用シールカバー |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5563726A (en) | 1980-05-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3972617A (en) | Spectrophotometer | |
| US4092069A (en) | Spectrophotometer | |
| US4180327A (en) | Spectrophotometers with digital processing | |
| EP0543160B1 (en) | Optical spectrum analyzer | |
| US4225233A (en) | Rapid scan spectrophotometer | |
| EP0083761B1 (en) | Output control device for light detectors for photometers | |
| JP3098768B2 (ja) | 分光測光装置およびその測光方法 | |
| JPS6218008B2 (ja) | ||
| US4352561A (en) | Calibrating apparatus in a monochromator | |
| JPS623364B2 (ja) | ||
| US3176576A (en) | Tracking accuracy control for analyzers | |
| US5825484A (en) | Optical spectrum measuring device | |
| JPH043492B2 (ja) | ||
| JPS6140928B2 (ja) | ||
| GB2070765A (en) | Spectrophotometry | |
| US4373813A (en) | Control of system energy in a single beam spectrophotometer | |
| US3183764A (en) | Automatic slit control for analyzers | |
| US3409373A (en) | Period control for spectrophotometers | |
| US3242797A (en) | Ratio-recording spectrophotometer | |
| US4169678A (en) | Spectrophotometer | |
| US3459479A (en) | Automatic gain boost for analyzers | |
| US3370503A (en) | Radiation comparison system | |
| JPH05215604A (ja) | 分光分析装置 | |
| US4272197A (en) | Apparatus and method for measuring the ratio of two signals | |
| US3486823A (en) | Tracking accuracy control for analyzers |