JPS6232333A - ガス漏洩探知装置 - Google Patents

ガス漏洩探知装置

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JPS6232333A
JPS6232333A JP17108585A JP17108585A JPS6232333A JP S6232333 A JPS6232333 A JP S6232333A JP 17108585 A JP17108585 A JP 17108585A JP 17108585 A JP17108585 A JP 17108585A JP S6232333 A JPS6232333 A JP S6232333A
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JP
Japan
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gas
light
transmitting device
infrared rays
gas leak
Prior art date
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Pending
Application number
JP17108585A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinao Konuma
良直 小沼
Masayuki Watabiki
綿引 誠之
Shinji Sonoda
園田 真治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Tokyo Gas Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Tokyo Gas Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6232333A publication Critical patent/JPS6232333A/ja
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はガス漏洩N知装置に糸り、時に、広大な場所に
おける部分的なガスの漏洩全探知するのに好適なガス1
4洩探矧装置に関する。
〔発明の′R景〕
従来のガスtIft1c!!、探矧装置としては、析コ
スモス11L機株式会社発行のカタログ「008MO8
GASD E ’r E CI’ O几S製品案内」に
記載されている如き、微小センサーを要所要所に設置し
て、万一ガスの漏洩があった場合には、設vllL4所
にガスが飛来してきたときのみ!第17作し、次の処′
vtヲ講じるようにしていた。
しかし、この方式では、広大な場所、例えばガス会社の
ガス設備曲り、又は化学会社の設備囲り膨大な量のセン
サーが必要であり、かつ、これを経済的な見地から数の
減少を図った場合には、重大なガス洩れの探矧?完全に
行うことが困難であった。また、既存のセンサーは、i
!I数攬類のガスを11類のセンサーで同性能で検知す
ることは難しく、この目的の場合には、複数個のセンサ
ーを匣用しなければならない。
〔発明の目的〕
本発明は上述の点に鑑み成されたもので、その目的とす
るところは、広範囲な場所のガス漏洩をいかなる対象ガ
スにおいても正確に探知できるガス漏洩探知装fitを
提供するにある。
〔発明の概要〕
本発明は赤外線発生−1latと、該赤外線発生装置か
らの赤外線ヲターゲットに向けて送行する送行装dと、
該送光装dから送光された赤外線を直接、又は反射させ
て受け、ここでの吸収スペクトルを分析してガスの存在
tm認する機構とより構成することにより、所期の目的
金達成するようになしたものである。
〔発明の実施例〕
以丁、図面の実m列に基づいて本発明の詳細な説明する
まず、第14図に各種ガスの吸収スペクトル2示す。第
14図(a)はメタン、第14図(b)はプロパン、第
14図<c>は1− ヘキサン、及び第14図(d)は
エチレンをそれぞれ示し、1はメタン吸収スペクトル、
2はプロパン吸収スペクトル、3はq−ヘキサン吸収ス
ペクトル、4はエチレン吸収スペクトルである。線図の
グロく、例えばメタンを例にとると、波長約3.4μ、
及び7.7μに吸収スペクトル1が存在し、他のガスに
も、荷有の吸収スペクトルが存在することがわかる。 
 一本貼明では、この性j![?利用してセンサーとす
るもので、:Jc13図(a)、 (b)にその原理?
示す。即ち、第13図(a)に示すように、赤外線?発
生させこれを送光する発光、送光−A[t5からの赤外
線6を受光装置7で受け、ここで吸収スペクトル?分析
してガスの存在を確認するか、あるいは!A13図(b
)に示すように、発光、送光装置15からの赤外線を反
射板8にて反射させ、この反射させた光9?受光装+1
7で受け、ここでの吸収スペクトルき分析してガスの存
在全確認するものである。
次に、具体的な例2図を用いて説明する。
第1図、及び第2図に本発明の第1の実施例を示す。該
図の如く、通常、ガス設備10はガスパイプ11で連結
され、建屋12内に収納されている。本実施例では、1
根13付近の建屋12に発光、送元装置14を設け、こ
れとは反対側の建屋12に前記発光、送光装置14と相
対向するよう受光装置15を設けている。そして、発光
、送光装置11ie14から出た光は、光路16fc通
り受光装置15で受けられ、ここでの吸収スペクトルを
分析してガスの存在を確認する。
本実施例は、ガスの流出口が比較的中が狭い場合の場所
用として有利であり、広い範囲の場所のガス漏itいか
なる対尿ガスであっても正確に探知できる。
尚、上述の例で、受光装置15の位置に反射板を設け、
かつ、受光装置15を発光、送光装置14付近に配置し
、発光、送光装置tt+からの光?反射板で反射させ、
反射された反射光を受光装置で受けることによっても同
様な効果が得られる。
第3図に本発明の第2の実施例金示す。線図の例は、漏
洩ガスの探知を部分面、又は全面のいわゆる面で探知す
る例である。・磁洩ガスの探知を部分面で行う場合は、
図示の如く、発光、送光装置、あるいは受光装置it部
付発光、迷光装置17と受光装置、あるいは反射板付受
光装置11 Ill、ガス設備10を囲む部分に相対向
するよう部分的に取付け、上述と同様にして、a洩カス
の探知を部分面でとらえるものである。漏洩ガスの探但
?全面で行う場合に框、上述した、発光、送光装置(受
光装置付も含む)17、及び受光装置(反射板付も含む
)18は、ガス設置11(l囲む全面をカバーするよう
に設置される。尚、漏洩ガスの探知を部分面で行うか、
全面で行うかのJ!!!択は自由であり、良い効果的な
方式金遣べばよい。
第4図に本発明の第3の実j例?示す。線図の例も上述
したものとほぼ開成であるが、本実施例では、ガス設備
10全面tカバーするために発光、送光装置、あるいは
受光装置部付発光、送光装置17は、受光装置、あるい
は反射板付受光装置18に連続的、あるいは間欠的に配
置されており、ガス洩れの通路に泪当する赤外光は、ガ
スの種類に固有な吸収スペクトルを伴って発光、送光装
置17に到着し、ガス漏洩が探知される。尚、反射板付
受光装[18方向からの送光の場合、受光装置部付発光
、送光装置17での感度を上げるために、位相シフト送
光も有効である。
第5図r144図を拡大したものであり、ガス漏洩1或
構、注1泪は第4図のものとほぼ同一である。
第6図に本発明の第4の実施例を示す。線図の例は、発
光、送光装置20と受光装置t21を組合せ、これを複
数個配置し、発光、送光装置20から広角送光して受光
装置21で受光することを、a数個で行い、ガス設備1
0からのガス漏洩を検知するようにしている。
尚、今まで説明した各例は、9間的にセンサーを固定し
、麿、又は面にてガスの漏洩をキャッチする方式であo
o 第7図に不発明の躬5の実地例を示す。該図に示す例は
、発光、送光装置、あるいは受光装置付発光、送光装置
22、又は受尤装置、り心いは反射板付受光装置23の
一方を回転さぜ、これにより吸収スペクトルの有無金d
−認し、ガス漏洩を探知する方式である。
第8図は第7図の旺、洲r示すもので、発光、送元装置
22を支柱24上で回転させ、受光装置23で連・疏的
、又は間欠的にガス洩れ泣d(角度)を探知するもので
ある。
第9図は第6図に示した列で、元元、送光装置2(11
!21転させ、上記と同様な効果全jたせたものである
第1O図VC本元明の第6の実施しOt示す。線図に示
すfljは、発光、送光装置、7、及び受光装置18、
或いは反射板金レール25上に配−させ、こnら全同期
させて、或いは同期に近い位置関係で部付させ、吸収ス
ペクトル全演知してガス膚洩金探昶する方式である。こ
の第1合lこは、洩れのめる座標が走り、l橿洩ガスの
存在する平面の確認が容易である。
即ち、図示において、X、〜Xl+g*y−〜yI十−
で吸収スペクトルが検知されれば、X方向ばiからαの
範囲、y方向1diからβの範囲でガ、スが存在するこ
とが把握できる。
第11図、及び第12図は、第7図、及び第8図に示し
た例に、上記の例を適用した場合を示すもので、その効
果は同様である。尚、これ等の場合は、角度のみの変化
tつかまえることになるので、xvY座標の如く、漏洩
区域は絞れないが、支柱24からの方向は把握可能であ
る。
〔発明の効果〕
以上説明した本発明のガス漏洩探知装置によれば、赤外
線発生装置と、該赤外線発生装置からの赤外ll1Iヲ
ターゲツトに向けて送光する送光装置と、該送光装置か
ら送光された赤外線を直接、又は反射させて受け、ここ
での吸収スペクトルを分析してガスの存在を確認する機
構とより構成したものfあA≠、1−1.  ガスの堵
佃を置版−1易四スペクトル全便用して行うので、広範
囲な場所のガス漏洩をいかなる種類のガスにおいても正
確に探知でき、此種ガス漏洩探知装置に採用する場合に
は非常に有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図は不発明のガス漏洩探知装置の一実施例を示す正
面図、第2図は第1図の部分平面図、第3図は本発明の
第2の実施例を示す概略平面図、第4図は本発明の第3
の実施例と示す概略平面図、メ5図trJJ4図の詳細
平面図、第6図は本発明の第4の実施列を示す概略平面
図、第7図は本発明の第5の実施例を示す政略平面図、
第8図は第7図の詳細平面図、49図ri$6図に示し
た例の変形例を示す概略平面図、第10図は本発明の第
6の実施例を示す概略平面図、第11図、及び第12図
は第7図、及び第8図に示した例の変形例?示す概略平
面図、第13図(a)、 (b)は本発明の詳細な説明
するための図、第14−図(a)〜(d)は各種ガスに
おける吸収スペクトルを示す′#注図である。 5.14,17,20,22・・・発光、送光装置、7
.15,18,21,23・・・受光装置、8・・・反
射板、10・・・ガス設備、12・・・1屋、24・・
・支柱、25・・・レール。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、赤外線発生装置と、該赤外線発生装置からの赤外線
    をターゲットに向けて送光する送光装置と、該送光装置
    から送光された赤外線を直接、又は反射させて受け、こ
    こでの吸収スペクトルを分析してガスの存在を確認する
    機構より成ることを特徴とするガス漏洩探知装置。 2、前記検出装置を少くとも1個ガス貯蔵設備間の或る
    空間に設置し、前記ガス貯蔵設備の漏洩ガスを検出装置
    により線、又は面としてとらえて検出することを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載のガス漏洩探知装置。 3、前記送光装置、又は該送光装置からの赤外線を受け
    る受光装置を回転、又は直線送行させ或る空間に対して
    連続的、又は間欠的に二次元面での漏洩ガスを検出する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のガス漏洩
    探知装置。 4、前記送光装置、及び該送光装置からの赤外線を受け
    る受光装置をほぼ同期させて同時に走行させ連続的、又
    は間欠的に二次元面の漏洩ガスを検出することを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載のガス漏洩探知装置。
JP17108585A 1985-08-05 1985-08-05 ガス漏洩探知装置 Pending JPS6232333A (ja)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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