JPS6231295B2 - - Google Patents
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- JPS6231295B2 JPS6231295B2 JP53063181A JP6318178A JPS6231295B2 JP S6231295 B2 JPS6231295 B2 JP S6231295B2 JP 53063181 A JP53063181 A JP 53063181A JP 6318178 A JP6318178 A JP 6318178A JP S6231295 B2 JPS6231295 B2 JP S6231295B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/32—Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
- G01R33/36—Electrical details, e.g. matching or coupling of the coil to the receiver
- G01R33/3621—NMR receivers or demodulators, e.g. preamplifiers, means for frequency modulation of the MR signal using a digital down converter, means for analog to digital conversion [ADC] or for filtering or processing of the MR signal such as bandpass filtering, resampling, decimation or interpolation
-
- G—PHYSICS
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/38—Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field
- G01R33/385—Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field using gradient magnetic field coils
-
- G—PHYSICS
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は核磁気共鳴(NMR)技術による試料
調査乃至分析方法に関する。
調査乃至分析方法に関する。
このような技術を用いる従来方法では、得られ
る結果は、調査乃至分析しようとする試料の平均
的特性に関するものである。
る結果は、調査乃至分析しようとする試料の平均
的特性に関するものである。
しかし乍ら、最近、試料の異なる部分の特性を
別々に識別し得、不均質試料内における核スピン
密度及び核スピンの緩和時間等の物理量の分布に
関する情報を得ることができる方法に対する関心
が高まつている。
別々に識別し得、不均質試料内における核スピン
密度及び核スピンの緩和時間等の物理量の分布に
関する情報を得ることができる方法に対する関心
が高まつている。
このために適する方法の一つは、例えば米国特
許No.4015196号明細書に開示されている。更にこ
の種のある方法の詳細は、本発明者の論文である
雑誌ジヤーナル・オブ・アプライド・フイジクス
(Journal of Applied Physics)第47巻、3709〜
3721ページに開示されている。
許No.4015196号明細書に開示されている。更にこ
の種のある方法の詳細は、本発明者の論文である
雑誌ジヤーナル・オブ・アプライド・フイジクス
(Journal of Applied Physics)第47巻、3709〜
3721ページに開示されている。
この種の方法においては、ラジオ周波数(r
)エネルギを調べようとする試料に照射すると
共に規則的に変動する不均質成分を有する磁場を
核試料にかけることによつて試料中に核磁気共鳴
を生ぜしめる。尚、この場合用いられた磁場は、
試料の局所領域において時間的に実質的に不変で
あり、試料の他の全ての部分において時間的に変
動するものである。局所領域の核磁気共鳴に関す
る情報は、磁気共鳴の結果として試料から受信さ
れる信号から導出される。
)エネルギを調べようとする試料に照射すると
共に規則的に変動する不均質成分を有する磁場を
核試料にかけることによつて試料中に核磁気共鳴
を生ぜしめる。尚、この場合用いられた磁場は、
試料の局所領域において時間的に実質的に不変で
あり、試料の他の全ての部分において時間的に変
動するものである。局所領域の核磁気共鳴に関す
る情報は、磁気共鳴の結果として試料から受信さ
れる信号から導出される。
前記のこのタイプの方法では、局所領域は、ほ
ぼ点、線(通常は直線である)又は面(通常は平
面)であり、即ち、三次元、二次元又は一次元に
おいて各々局所化され得る。この三つのうちの最
後の場合、磁場の前記変動成分は、適切な面でゼ
ロになるように構成される。一方他の二つの場
合、前記変動成分は、異なる時間依存を有し、適
当な線又は点で相交わるような異なる面(通常直
交平面)においてゼロになるように構成された二
つ又は三つの副次成分からなる。前述の文献にお
いて、最も詳細に記述されているケースは、局所
領域がほぼ点である場合であるが、この場合一度
に試料から得られる情報は唯一つの点に関するも
のである故、試料中の目的とする物理量の空間分
布の調査のためには比較的長い時間がかかるとい
う欠点がある。
ぼ点、線(通常は直線である)又は面(通常は平
面)であり、即ち、三次元、二次元又は一次元に
おいて各々局所化され得る。この三つのうちの最
後の場合、磁場の前記変動成分は、適切な面でゼ
ロになるように構成される。一方他の二つの場
合、前記変動成分は、異なる時間依存を有し、適
当な線又は点で相交わるような異なる面(通常直
交平面)においてゼロになるように構成された二
つ又は三つの副次成分からなる。前述の文献にお
いて、最も詳細に記述されているケースは、局所
領域がほぼ点である場合であるが、この場合一度
に試料から得られる情報は唯一つの点に関するも
のである故、試料中の目的とする物理量の空間分
布の調査のためには比較的長い時間がかかるとい
う欠点がある。
一方前記論文には、一次元以上の局所領域の情
報を実質的に同時に得るべく、夫々が異なる周波
数に同調された数個の位相検波器を用いることが
示唆されているけれども、試料中の異なる領域の
夫々に対応する複数の位相検波器を用いるように
した場合、位相検波器を有する複数の検出チヤネ
ルの増幅等に関する特性を合わせる必要があり、
正確な調査乃至測定が容易には行なわれ難い。
報を実質的に同時に得るべく、夫々が異なる周波
数に同調された数個の位相検波器を用いることが
示唆されているけれども、試料中の異なる領域の
夫々に対応する複数の位相検波器を用いるように
した場合、位相検波器を有する複数の検出チヤネ
ルの増幅等に関する特性を合わせる必要があり、
正確な調査乃至測定が容易には行なわれ難い。
本発明は前記した点に鑑みなされたものであ
り、その目的とするところは、夫々が異なる周波
数に同調された数個の位相検波器を用いて複数の
周波数成分を含む定常状態自由歳差運動(SFP)
信号の検出を行なう方法と比較して、試料中の核
スピン密度の空間分布等の正確な調査乃至測定が
容易に行なわれ得るのみならず、従来のFID信号
を検出する方法と比較して、試料中の核スピン密
度の空間分布等を短時間で調査し得る試料調査方
法を提供することにある。
り、その目的とするところは、夫々が異なる周波
数に同調された数個の位相検波器を用いて複数の
周波数成分を含む定常状態自由歳差運動(SFP)
信号の検出を行なう方法と比較して、試料中の核
スピン密度の空間分布等の正確な調査乃至測定が
容易に行なわれ得るのみならず、従来のFID信号
を検出する方法と比較して、試料中の核スピン密
度の空間分布等を短時間で調査し得る試料調査方
法を提供することにある。
本発明によれば、この目的は、
試料に磁場をかけたまま該試料にラジオ周波数
のエネルギを照射するとによつて、試料中の所与
の核種に核磁気共鳴を生ぜしめることからなる試
料の調査方法であつて、 前記磁場は、 試料のうち、所与の方向に平行に伸延している
線又は面の近傍に位置するある局所領域において
時間的に実質的に不変であり、試料の他のすべて
の部分において時間的に変動するような規則的に
変動する不均質磁場成分と、 前記局所領域の少なくとも一部において、磁場
が、従つてまた前記所与の核種の共鳴周波数が前
記所与の方向の距離と共に単調に(好ましくは直
線色に)変化するような静的な不均質磁場成分と
を有しており、 前記ラジオ周波数のエネルギは、同一周波数の
振動の強いバーストによつて形成されており、且
つパルス間隔と比較してパルス幅の短いパルス
を、規則的に繰り返してなるパルス列の形態であ
り、 このパルス列は、 前記ラジオ周波数エネルギの周波数スペクトル
の少なくとも一部が、前記局所領域の前記少なく
とも一部にある前記所与の核種の共鳴周波数の範
囲に少なくとも一部に一致し、 共鳴核種から定常状態自由歳差運動信号(SFP
信号)を生ぜしめるように、パルス間隔が、試料
中に存在する前記所与の核種の原子核のうち少な
くともいくつかのもののスピン・スピン緩和時間
と比較して短く、且つ 試料の前記他の部分において、一パルス間隔の
間の磁場の平均値が、一つのパルス間隔と次のパ
ルス間隔とで実質的に変化する ような特性を有しており、 前記方法は、更に、 各周波数成分が前記所与の方向に沿つて分布し
ている前記局所領域の異なる部分に存在する共鳴
核種の核スピン密度に依存する振幅を有するSFP
信号を試料から受信すること、(ここで、局所領
域がほぼ線である場合、前記の異なる部分は夫々
該線上の異なる点に対応しており、局所領域がほ
ぼ面である場合、前記異なる部分は、夫々、該面
内に位置し且つ前記所与の方向に対して直角な方
向に伸延している線に対応する)、 少なくとも一つの検出信号を生成するために、
前記受信信号のコヒーレント検出を行なうこと、
及び 継続的な一連のパルス間隔の間、該パルス間隔
において継続的な一連の等しい小間隔のうちの各
小間隔毎に前記検出信号のサンプリングを行な
い、夫々のパルス間隔中の対応する小間隔の組毎
に、磁場の前記変動成分の前記規則的変動周期の
整数倍の期間について、サンプル値の平均値を
別々に求めることを含んでおり、サンプリングの
周波数は、該サンプリングによつて得られたデー
タにフーリエ変換を含む適当な処理を行なうこと
によつて、前記受信信号の各周波数成分の振幅に
関する情報が得られるように十分に高い 試料調査方法によつて達成される。尚、この明
細書においてパルス間隔とは二つのバースト振動
(パルス)間の非バースト部分の時間をいう。
のエネルギを照射するとによつて、試料中の所与
の核種に核磁気共鳴を生ぜしめることからなる試
料の調査方法であつて、 前記磁場は、 試料のうち、所与の方向に平行に伸延している
線又は面の近傍に位置するある局所領域において
時間的に実質的に不変であり、試料の他のすべて
の部分において時間的に変動するような規則的に
変動する不均質磁場成分と、 前記局所領域の少なくとも一部において、磁場
が、従つてまた前記所与の核種の共鳴周波数が前
記所与の方向の距離と共に単調に(好ましくは直
線色に)変化するような静的な不均質磁場成分と
を有しており、 前記ラジオ周波数のエネルギは、同一周波数の
振動の強いバーストによつて形成されており、且
つパルス間隔と比較してパルス幅の短いパルス
を、規則的に繰り返してなるパルス列の形態であ
り、 このパルス列は、 前記ラジオ周波数エネルギの周波数スペクトル
の少なくとも一部が、前記局所領域の前記少なく
とも一部にある前記所与の核種の共鳴周波数の範
囲に少なくとも一部に一致し、 共鳴核種から定常状態自由歳差運動信号(SFP
信号)を生ぜしめるように、パルス間隔が、試料
中に存在する前記所与の核種の原子核のうち少な
くともいくつかのもののスピン・スピン緩和時間
と比較して短く、且つ 試料の前記他の部分において、一パルス間隔の
間の磁場の平均値が、一つのパルス間隔と次のパ
ルス間隔とで実質的に変化する ような特性を有しており、 前記方法は、更に、 各周波数成分が前記所与の方向に沿つて分布し
ている前記局所領域の異なる部分に存在する共鳴
核種の核スピン密度に依存する振幅を有するSFP
信号を試料から受信すること、(ここで、局所領
域がほぼ線である場合、前記の異なる部分は夫々
該線上の異なる点に対応しており、局所領域がほ
ぼ面である場合、前記異なる部分は、夫々、該面
内に位置し且つ前記所与の方向に対して直角な方
向に伸延している線に対応する)、 少なくとも一つの検出信号を生成するために、
前記受信信号のコヒーレント検出を行なうこと、
及び 継続的な一連のパルス間隔の間、該パルス間隔
において継続的な一連の等しい小間隔のうちの各
小間隔毎に前記検出信号のサンプリングを行な
い、夫々のパルス間隔中の対応する小間隔の組毎
に、磁場の前記変動成分の前記規則的変動周期の
整数倍の期間について、サンプル値の平均値を
別々に求めることを含んでおり、サンプリングの
周波数は、該サンプリングによつて得られたデー
タにフーリエ変換を含む適当な処理を行なうこと
によつて、前記受信信号の各周波数成分の振幅に
関する情報が得られるように十分に高い 試料調査方法によつて達成される。尚、この明
細書においてパルス間隔とは二つのバースト振動
(パルス)間の非バースト部分の時間をいう。
本発明による方法において、照射エネルギの周
波数スペクトルは、前記バーストの振動の周波数
が中心周波数となつており、かつパルスの前記繰
り返し周波数に対応する間隔だけ離れた一連の周
波数成分からなり、スペクトルの有効巾は、もち
ろん個々のパルスの持続時間の逆数に依存してい
る。前記受信信号の成分は、照射スペクトルの隣
接する周波数成分の間の周波数領域を夫々が占め
る一連のサイドバンドを構成しており、受信信号
の成分全体の周波数の広がりは、少なくとも共鳴
周波数の範囲の前記少なくとも一部に相当してい
る。前記バーストの振動の周波数及びサンプリン
グ周波数の選択は、受信信号のコヒーレント検出
に用いられるシステムの特性に依存する。この検
出は、単一の位相敏感検波器を用いて行なわれて
もよいが、通常、直角位相検波システムを用いる
ことが好ましい。単一の位相敏感検波器が用いら
れる場合、前記バーストの振動の周波数は共鳴周
波数範囲部の前記少なくとも一部の外側に位置し
ていなければならず、かつ使用され得るサンプリ
ング周波数の最小可能値は、受信信号の前記成分
の全体の周波数の広がりの二倍の巾である。これ
に対して直角位相検波システムが使用される場
合、前記バースト振動の周波数は、共鳴周波数範
囲の前記少なくとも一部の中に設定され得、そし
てこの場合、使用され得るサンプリング周波数の
最小可能値は、受信信号の前記成分の全体の周波
数の広がりの巾に等しい。
波数スペクトルは、前記バーストの振動の周波数
が中心周波数となつており、かつパルスの前記繰
り返し周波数に対応する間隔だけ離れた一連の周
波数成分からなり、スペクトルの有効巾は、もち
ろん個々のパルスの持続時間の逆数に依存してい
る。前記受信信号の成分は、照射スペクトルの隣
接する周波数成分の間の周波数領域を夫々が占め
る一連のサイドバンドを構成しており、受信信号
の成分全体の周波数の広がりは、少なくとも共鳴
周波数の範囲の前記少なくとも一部に相当してい
る。前記バーストの振動の周波数及びサンプリン
グ周波数の選択は、受信信号のコヒーレント検出
に用いられるシステムの特性に依存する。この検
出は、単一の位相敏感検波器を用いて行なわれて
もよいが、通常、直角位相検波システムを用いる
ことが好ましい。単一の位相敏感検波器が用いら
れる場合、前記バーストの振動の周波数は共鳴周
波数範囲部の前記少なくとも一部の外側に位置し
ていなければならず、かつ使用され得るサンプリ
ング周波数の最小可能値は、受信信号の前記成分
の全体の周波数の広がりの二倍の巾である。これ
に対して直角位相検波システムが使用される場
合、前記バースト振動の周波数は、共鳴周波数範
囲の前記少なくとも一部の中に設定され得、そし
てこの場合、使用され得るサンプリング周波数の
最小可能値は、受信信号の前記成分の全体の周波
数の広がりの巾に等しい。
本発明による方法を使用する場合、ある種の試
料では、受信信号のうちの実質的乃至有意な成分
のみが、局所領域での共鳴に起因する信号である
ことがわかる。これは、この場合、試料中に存在
する該当の核種のごく一部のみがパルス間隔すな
わちパルス間の間隔よりも短かいスピン―格子緩
和時間を有することによつて、局所領域以外の試
料の(他の)部分で飽和効果が生じ、試料の前記
他の部分における定常状態効果の生起が一つのパ
ルス間隔とその次のパルス間隔との間での磁場変
化により妨げられるためであることに基づいて説
明され得る。
料では、受信信号のうちの実質的乃至有意な成分
のみが、局所領域での共鳴に起因する信号である
ことがわかる。これは、この場合、試料中に存在
する該当の核種のごく一部のみがパルス間隔すな
わちパルス間の間隔よりも短かいスピン―格子緩
和時間を有することによつて、局所領域以外の試
料の(他の)部分で飽和効果が生じ、試料の前記
他の部分における定常状態効果の生起が一つのパ
ルス間隔とその次のパルス間隔との間での磁場変
化により妨げられるためであることに基づいて説
明され得る。
一方、他の場合、受信信号は、局所領域以外の
試料の前記他の部分での共鳴に起因する実質的乃
至有意な成分も含んでいる。この場合、検出信号
のサンプリングによつて得られるデータの処理に
よつて導出される情報が前記他の部分に起因する
受信信号成分の存在のために実質的に乱されない
ように付加的処置を採ることが必要である。特
に、これらデータは、(どんな場合でも信号雑音
比の改良のために適切であるような)時間平均化
に基づいて得られねばならない。
試料の前記他の部分での共鳴に起因する実質的乃
至有意な成分も含んでいる。この場合、検出信号
のサンプリングによつて得られるデータの処理に
よつて導出される情報が前記他の部分に起因する
受信信号成分の存在のために実質的に乱されない
ように付加的処置を採ることが必要である。特
に、これらデータは、(どんな場合でも信号雑音
比の改良のために適切であるような)時間平均化
に基づいて得られねばならない。
従つて、好ましくは、継続的な一連のパルス間
隔の間(各)検出信号のサンプリングが行なわ
れ、かつ夫々のパルス間隔中の対応する小間隔の
組毎にサンプル値の平均値が別々に求められる。
局所領域以外の試料の他の部分に起因する信号の
受信信号に対する影響を最小限にするためには、
この平均化の際、磁場の前記変動成分の前記規則
的変動の整数倍又は多数倍の期間の平均を求める
ことが好ましい。
隔の間(各)検出信号のサンプリングが行なわ
れ、かつ夫々のパルス間隔中の対応する小間隔の
組毎にサンプル値の平均値が別々に求められる。
局所領域以外の試料の他の部分に起因する信号の
受信信号に対する影響を最小限にするためには、
この平均化の際、磁場の前記変動成分の前記規則
的変動の整数倍又は多数倍の期間の平均を求める
ことが好ましい。
受信信号の連続波成分の振巾に関する所望の情
報は、ある場合には、極めて短かいスピン―格子
緩和時間を有する核種が試料中に存在することに
起因して、パルス間隔(パルス間の間隔)よりも
短かい時定数を有する過渡成分が受信信号中にあ
ることよつて乱され得る。このような過渡成分の
影響は平均化技術によつては完全には除去され得
ないけれども、必要ならば、検出信号から得られ
るデータの処理において適当な技術を採用するこ
とにより大巾に低減され得る。これは、共鳴をお
こす核種の緩和時間が広範囲にばらついている試
料の場合に特に適切である。尚、受信信号が問題
になる過渡成分を実質的に含まないようにパルス
間隔を十分に短かくすることは実用的でない。
報は、ある場合には、極めて短かいスピン―格子
緩和時間を有する核種が試料中に存在することに
起因して、パルス間隔(パルス間の間隔)よりも
短かい時定数を有する過渡成分が受信信号中にあ
ることよつて乱され得る。このような過渡成分の
影響は平均化技術によつては完全には除去され得
ないけれども、必要ならば、検出信号から得られ
るデータの処理において適当な技術を採用するこ
とにより大巾に低減され得る。これは、共鳴をお
こす核種の緩和時間が広範囲にばらついている試
料の場合に特に適切である。尚、受信信号が問題
になる過渡成分を実質的に含まないようにパルス
間隔を十分に短かくすることは実用的でない。
パルス列のバースト振動は、全て同一位相を有
していてもよい、この場合、照射スペクトル成分
は、式F±Kによつて与えられる周波数を有す
る。ここではバースト振動の周波数であり、
はパルスの繰り返し周波数であり、Kは値0,
1,2等を有する。
していてもよい、この場合、照射スペクトル成分
は、式F±Kによつて与えられる周波数を有す
る。ここではバースト振動の周波数であり、
はパルスの繰り返し周波数であり、Kは値0,
1,2等を有する。
ところで、平均化技術が使用される場合、180
゜だけ位相がずれたバースト振動を順に与えるこ
とが好ましく、これにより、基準線のドリフト及
び雑音に関するいくつかの問題を軽減し得る。こ
の場合、照射スペクトル成分は、式±(K+1/
2)で与えらる周波数を有する。この場合、受
信信号の符号(Sign)は各パルス後反転する。
これは、平均化処理において考慮されねばならな
い。
゜だけ位相がずれたバースト振動を順に与えるこ
とが好ましく、これにより、基準線のドリフト及
び雑音に関するいくつかの問題を軽減し得る。こ
の場合、照射スペクトル成分は、式±(K+1/
2)で与えらる周波数を有する。この場合、受
信信号の符号(Sign)は各パルス後反転する。
これは、平均化処理において考慮されねばならな
い。
本発明による方法では、多くの点に関する情報
を同時に試料から得ることができる。任意の所与
の局所領域に対し、パルス列の持続時間のうちの
ほとんどの時間の間受信信号が分析のために利用
され得る故、データ収集効率が極めて高くなり得
る。この観点において、本発明による方法は、各
パルス後の自由誘導減衰の記録を伴なう従来のパ
ルスフーリエ変換NMR技術に比較して優れてい
る。この特長は、信号検出システムが極端に複雑
でなくても達成される。
を同時に試料から得ることができる。任意の所与
の局所領域に対し、パルス列の持続時間のうちの
ほとんどの時間の間受信信号が分析のために利用
され得る故、データ収集効率が極めて高くなり得
る。この観点において、本発明による方法は、各
パルス後の自由誘導減衰の記録を伴なう従来のパ
ルスフーリエ変換NMR技術に比較して優れてい
る。この特長は、信号検出システムが極端に複雑
でなくても達成される。
前記論文に示唆されている方法と比較した場
合、本発明の方法では、特に、少なくとも一つの
パルス間隔の間、該パルス間隔を構成する継続的
な一連の等しい小間隔のうちの各小間隔毎に検出
信号のサンプリングを行なうようにしている故
に、異なる中心周波数に同調された複数の検出器
のアレイを用いる必要がなく、正確な調査を容易
に行ない得る。
合、本発明の方法では、特に、少なくとも一つの
パルス間隔の間、該パルス間隔を構成する継続的
な一連の等しい小間隔のうちの各小間隔毎に検出
信号のサンプリングを行なうようにしている故
に、異なる中心周波数に同調された複数の検出器
のアレイを用いる必要がなく、正確な調査を容易
に行ない得る。
各回毎に条件を適当に変えて、本発明による方
法を同一試料に対して繰り返して適用することに
より、試料の全体又は試料の選択部分の全体にお
ける考察陸調査対象原子核の分布に関する情報を
得ることができる。
法を同一試料に対して繰り返して適用することに
より、試料の全体又は試料の選択部分の全体にお
ける考察陸調査対象原子核の分布に関する情報を
得ることができる。
例えば、局所領域がほぼ直線である場合、試料
のある断面内での分布に関する情報を得るために
は、本発明の方法を繰り返して適用する際前記直
線の長さ方向に対して直角な方向に前記局所領域
直線を(例えば各回毎に)シフトさせればよい。
尚、前記分布情報は、二次元象として表示するた
めに適切な形にされ得る。
のある断面内での分布に関する情報を得るために
は、本発明の方法を繰り返して適用する際前記直
線の長さ方向に対して直角な方向に前記局所領域
直線を(例えば各回毎に)シフトさせればよい。
尚、前記分布情報は、二次元象として表示するた
めに適切な形にされ得る。
一方、局所領域が平面として近似され得る場
合、本発明の方法を繰り返して用いる際一つの可
能な利用の仕方は、前記平面に対して垂直方向に
(例えば各回毎に)前記局所領域平面をシフトす
ることである。
合、本発明の方法を繰り返して用いる際一つの可
能な利用の仕方は、前記平面に対して垂直方向に
(例えば各回毎に)前記局所領域平面をシフトす
ることである。
これは、二次元の陰影像、即ち所与方向に対し
て垂直な方向に投影された試料中の分布像から求
められる情報を与える。本発明の方法を繰り返し
て用いる際、他の可能な利用の仕方は、試料中で
の平面の位置を変化させることなしに各回毎に試
料に対する平面の向きを変化させることであり、
この場合、面に全て平行な異なる方向に投影され
た一次元の一連の陰影像を得ることができ、この
面に対応する試料のある断面での分布の二次元像
は、公知技術によつて前記陰影像から再構成され
得る。
て垂直な方向に投影された試料中の分布像から求
められる情報を与える。本発明の方法を繰り返し
て用いる際、他の可能な利用の仕方は、試料中で
の平面の位置を変化させることなしに各回毎に試
料に対する平面の向きを変化させることであり、
この場合、面に全て平行な異なる方向に投影され
た一次元の一連の陰影像を得ることができ、この
面に対応する試料のある断面での分布の二次元像
は、公知技術によつて前記陰影像から再構成され
得る。
次に本発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第1図に示されているシステムにおいて、調査
試料1はコイルアセンブリ2内に配設され、この
コイルアセンブリ2は従来の電磁石(第1図に図
示しない)から発生された強い磁場中に配設され
る。このアセンブリ2は、試料1にr(ラジオ
周波数)エネルギを照射し得る送信コイル3と、
試料から例えば定常状態自由歳差運動(SFP)の
NMR信号を検出する従来の受信コイル4とを有
する。アセンブリ2は、磁石によつて発生せしめ
られた主磁場に重ね合される不均質磁場を試料1
にかける勾配(グラデイエント)コイルセツト
5,6,7を有する。コイル3,4及びコイルセ
ツト5,6,7の一般的構成乃至配置は、第2図
に示されており、コイルセツト5,6,7の個々
の配置は、第3a図、第3b図、及び第3c図に
各々示されている。第2図において、主磁場は電
磁石の磁極片31,31間の空隙に形成されてお
り、試料1(第2図においては見えない)は、非
磁性絶縁材料製筒状容器32内で実質的に空隙の
ほぼ中心に配設されている。コイル3,4は容器
32の外側に巻回されており、コイル3,4の中
心軸線は主磁場の方向に対して垂直方向に伸びて
いる。コイルセツト5,6,7の各々は、主磁場
の方向に対してほぼ垂直な複数の平面内に位置す
る複数の部分からなり、各部分は夫々磁極片3
1,31の面に近接して配置されている。
試料1はコイルアセンブリ2内に配設され、この
コイルアセンブリ2は従来の電磁石(第1図に図
示しない)から発生された強い磁場中に配設され
る。このアセンブリ2は、試料1にr(ラジオ
周波数)エネルギを照射し得る送信コイル3と、
試料から例えば定常状態自由歳差運動(SFP)の
NMR信号を検出する従来の受信コイル4とを有
する。アセンブリ2は、磁石によつて発生せしめ
られた主磁場に重ね合される不均質磁場を試料1
にかける勾配(グラデイエント)コイルセツト
5,6,7を有する。コイル3,4及びコイルセ
ツト5,6,7の一般的構成乃至配置は、第2図
に示されており、コイルセツト5,6,7の個々
の配置は、第3a図、第3b図、及び第3c図に
各々示されている。第2図において、主磁場は電
磁石の磁極片31,31間の空隙に形成されてお
り、試料1(第2図においては見えない)は、非
磁性絶縁材料製筒状容器32内で実質的に空隙の
ほぼ中心に配設されている。コイル3,4は容器
32の外側に巻回されており、コイル3,4の中
心軸線は主磁場の方向に対して垂直方向に伸びて
いる。コイルセツト5,6,7の各々は、主磁場
の方向に対してほぼ垂直な複数の平面内に位置す
る複数の部分からなり、各部分は夫々磁極片3
1,31の面に近接して配置されている。
コイルセツト5,6,7の配置は、第3a図、
第3b図、及び第3c図を参照することにより容
易に理解される。この配置の説明において、空隙
の中心に原点を有し、かつ磁場の方向に一致する
Z軸を有するデカルト座標系を利用すると有利で
ある。コイルセツト5,6,7は、各コイルセツ
ト5,6,7によつて発生せしめられる磁場が原
点近傍においてZ軸に平行なベクトル成分を有す
るように構成されており、この成分の大きさ乃至
強さは、三つの軸(コイルセツト5,6,7に対
して各々X,Y,Z)のうちの一つの軸に平行な
位置変化に応じて単調に変化するけれども他の二
つの軸に平行な位置変化に対しては変化しない。
即ち、コイルセツト5,6,7により発生せしめ
られる不均質磁場は、各々X,Y,Z軸に平行な
三つの互いに垂直方向に勾配を有している。
第3b図、及び第3c図を参照することにより容
易に理解される。この配置の説明において、空隙
の中心に原点を有し、かつ磁場の方向に一致する
Z軸を有するデカルト座標系を利用すると有利で
ある。コイルセツト5,6,7は、各コイルセツ
ト5,6,7によつて発生せしめられる磁場が原
点近傍においてZ軸に平行なベクトル成分を有す
るように構成されており、この成分の大きさ乃至
強さは、三つの軸(コイルセツト5,6,7に対
して各々X,Y,Z)のうちの一つの軸に平行な
位置変化に応じて単調に変化するけれども他の二
つの軸に平行な位置変化に対しては変化しない。
即ち、コイルセツト5,6,7により発生せしめ
られる不均質磁場は、各々X,Y,Z軸に平行な
三つの互いに垂直方向に勾配を有している。
ここでコイルセツト5は四つの同様な矩形コイ
ル5a,5b,5c,5dからなる。四つのコイ
ル5a,5b,5c,5dは、全て長手辺がZ軸
に垂直に伸長し、且つ長辺がY軸に平行になるよ
うに構成されている。この配置では、コイル5
a,5b,5c,5dのいずれもが平面X=Oと
は交差せず、コイル5aが平面Z=Oに関してコ
イル5bの鏡像になつていると共に平面X=Oに
関してコイル5cの鏡像になつており、またコイ
ル5dが平面X=Oに関してコイル5bの鏡像に
なつていると共に平面Z=Oに関してコイル5c
の鏡像になつている。コイル5a,5bはコイル
セツト5の半分を形成すべく直列に接続されてお
り、コイル5c,5dはコイルセツト5の他の半
分を形成すべく直列に接続されている。これらの
コイル5a,5b,5c,5dは、該四つのコイ
ル5a,5b,5c,5dの平面X=Oに近接し
て配置されている各長辺部に同一方向に電流が流
れるように電源に接続される。
ル5a,5b,5c,5dからなる。四つのコイ
ル5a,5b,5c,5dは、全て長手辺がZ軸
に垂直に伸長し、且つ長辺がY軸に平行になるよ
うに構成されている。この配置では、コイル5
a,5b,5c,5dのいずれもが平面X=Oと
は交差せず、コイル5aが平面Z=Oに関してコ
イル5bの鏡像になつていると共に平面X=Oに
関してコイル5cの鏡像になつており、またコイ
ル5dが平面X=Oに関してコイル5bの鏡像に
なつていると共に平面Z=Oに関してコイル5c
の鏡像になつている。コイル5a,5bはコイル
セツト5の半分を形成すべく直列に接続されてお
り、コイル5c,5dはコイルセツト5の他の半
分を形成すべく直列に接続されている。これらの
コイル5a,5b,5c,5dは、該四つのコイ
ル5a,5b,5c,5dの平面X=Oに近接し
て配置されている各長辺部に同一方向に電流が流
れるように電源に接続される。
コイルセツト6は、座標軸X,Yが異なる点を
除いて、コイルセツト5と同様に構成されてい
る。
除いて、コイルセツト5と同様に構成されてい
る。
コイルセツト7は対向して巻回されたヘルムホ
ルルツ対7a,7bの形であり、このコイル7
a,7bは、Z軸に対して実質的に垂直であり平
面Z=Oから等距離にある二つの平面内に配設さ
れており、且つ中心軸線がZ軸上に位置してい
る。
ルルツ対7a,7bの形であり、このコイル7
a,7bは、Z軸に対して実質的に垂直であり平
面Z=Oから等距離にある二つの平面内に配設さ
れており、且つ中心軸線がZ軸上に位置してい
る。
コイルセツト5,6は、コイルセツト5,6に
より生ぜしめられる二つの変動磁場の時間依存性
が異なるように、異なる交流により励磁される。
このために、有利な構成は、二つのコイルセツト
5,6に対する電流に90゜の位相差を与えること
を除いて、コイルセツト5,6の両方に対して同
一周波数の正弦波電流を使用することであり、以
下の説明では、この構成を使用しているものと仮
定する。コイルセツト5の構成では、コイルセツ
ト5により発生せしめられる磁場の強さが、X軸
に垂直な一つの平面内では零である。この磁場零
の平面のX軸方向の位置は、コイルセツト5の二
つの半分の組の各組のコイルを流れる電流の適当
な大きさを調整することにより調整され得る。X
軸とY軸とを置き換えることによりコイルセツト
6の場合にも同様なことがいえる。従つてコイル
セツト5,6で発生せしめられた磁場は、Z軸に
平行な一つの線(以下では感知線という)に沿つ
て零になる。
より生ぜしめられる二つの変動磁場の時間依存性
が異なるように、異なる交流により励磁される。
このために、有利な構成は、二つのコイルセツト
5,6に対する電流に90゜の位相差を与えること
を除いて、コイルセツト5,6の両方に対して同
一周波数の正弦波電流を使用することであり、以
下の説明では、この構成を使用しているものと仮
定する。コイルセツト5の構成では、コイルセツ
ト5により発生せしめられる磁場の強さが、X軸
に垂直な一つの平面内では零である。この磁場零
の平面のX軸方向の位置は、コイルセツト5の二
つの半分の組の各組のコイルを流れる電流の適当
な大きさを調整することにより調整され得る。X
軸とY軸とを置き換えることによりコイルセツト
6の場合にも同様なことがいえる。従つてコイル
セツト5,6で発生せしめられた磁場は、Z軸に
平行な一つの線(以下では感知線という)に沿つ
て零になる。
コイルセツト7は直流によつて励磁され、時間
的に不変な磁場を発生する。コイルセツト7は、
この磁場が試料の全体でZ軸方向に一様な勾配
(その大きさは以下ではGで表わされる)になる
ように構成されている。
的に不変な磁場を発生する。コイルセツト7は、
この磁場が試料の全体でZ軸方向に一様な勾配
(その大きさは以下ではGで表わされる)になる
ように構成されている。
以上の如きコイルセツト5,6,7の構成によ
り、全磁場の強さは、試料1内の感知線部分近傍
の試料1の局所領域において時間的に実質的に不
変であるが、局所領域の外側の試料1の全ての点
では時間的に大きく変動する。Z軸に垂直な方向
の局所領域の大きさは、コイルセツト5,6によ
つて生ぜしめられる磁場勾配の大きさに逆比例す
る。この勾配の大きさはイメージング処理に対す
る所望の解像度に応じて選択され、典型的な応用
例においては、これは1ガウス/センチメートル
程度の値を有し得る。局所領域中での全磁場の強
さはもちろんZ軸に平行な距離と共にリニアに変
化する。コイルセツト5,6によつて発生せしめ
られる磁場がない場合、磁場の強さは、もちろん
Z軸に対して垂直ないずれの平面内でも一定であ
り、特に、平面Z=Oでは、磁石によつて発生せ
しめられる主磁場の強さに等しい。主磁場の強さ
がHで表わされる場合、局所領域中のいずれの点
に対しても、全磁場の強さが、式H+GLで与え
られることがわかる。ここでL(正又は負であり
得る)は、平面Z=Oからのその点の距離を表わ
す。
り、全磁場の強さは、試料1内の感知線部分近傍
の試料1の局所領域において時間的に実質的に不
変であるが、局所領域の外側の試料1の全ての点
では時間的に大きく変動する。Z軸に垂直な方向
の局所領域の大きさは、コイルセツト5,6によ
つて生ぜしめられる磁場勾配の大きさに逆比例す
る。この勾配の大きさはイメージング処理に対す
る所望の解像度に応じて選択され、典型的な応用
例においては、これは1ガウス/センチメートル
程度の値を有し得る。局所領域中での全磁場の強
さはもちろんZ軸に平行な距離と共にリニアに変
化する。コイルセツト5,6によつて発生せしめ
られる磁場がない場合、磁場の強さは、もちろん
Z軸に対して垂直ないずれの平面内でも一定であ
り、特に、平面Z=Oでは、磁石によつて発生せ
しめられる主磁場の強さに等しい。主磁場の強さ
がHで表わされる場合、局所領域中のいずれの点
に対しても、全磁場の強さが、式H+GLで与え
られることがわかる。ここでL(正又は負であり
得る)は、平面Z=Oからのその点の距離を表わ
す。
前記システムにおいて、感知線は主磁場の方向
に対して平行に伸長している。代替的システムに
おいて、前記配置が比較的簡単であるため好まし
いものであることはさておき、感知線が主磁場に
対して任意の所望の向きを有するように構成し得
る。また、明瞭化のために、容器32がX軸に沿
う中心軸線を有しているように第2図に示されて
いるが、この代りに(システムの動作原理を代え
ることなしに)、中心軸線が主磁場の方向に垂直
な任意の他の方向に向くようにしてもよい。
に対して平行に伸長している。代替的システムに
おいて、前記配置が比較的簡単であるため好まし
いものであることはさておき、感知線が主磁場に
対して任意の所望の向きを有するように構成し得
る。また、明瞭化のために、容器32がX軸に沿
う中心軸線を有しているように第2図に示されて
いるが、この代りに(システムの動作原理を代え
ることなしに)、中心軸線が主磁場の方向に垂直
な任意の他の方向に向くようにしてもよい。
再び第1図において、コイルセツト7に対する
電流は、DC電源8から供給されており、一方コ
イルセツト5,6に対する電流は所要の90゜位相
ずれのある二つの出力を与えるAC電源9から供
給されている。コイルセツト5の二つの半分に対
する電流は、各々個々に可変な一対の減衰器1
0,11を介してAC電源9の出力の一つから供
給されている。減衰器10,11の減衰量の設定
により感知線のX座標を決定する。いずれの一つ
のイメージング処理に対してもイメージングがX
軸に垂直な方向に伸延する試料1の一つの薄い断
面に関連するようにこの設定状態は一定に維持さ
れる。しかし乍ら、所望ならば減衰器10,11
の設定を変えることによつて、一連のイメージン
グ処理を試料1の異なる断面に対して行ない得
る。コイルセツト6の二つの半分に対する電流は
各々個々に可変な一対の減衰器12,13を介し
てAC電源9の他の出力から供給されており、こ
の設定は以下で更に説明するように、感知線のY
座標を決定し、各イメージング処理中、試料1の
適当な断面の走査を線毎に達成するように、この
設定は、段階的に変化せしめられる。
電流は、DC電源8から供給されており、一方コ
イルセツト5,6に対する電流は所要の90゜位相
ずれのある二つの出力を与えるAC電源9から供
給されている。コイルセツト5の二つの半分に対
する電流は、各々個々に可変な一対の減衰器1
0,11を介してAC電源9の出力の一つから供
給されている。減衰器10,11の減衰量の設定
により感知線のX座標を決定する。いずれの一つ
のイメージング処理に対してもイメージングがX
軸に垂直な方向に伸延する試料1の一つの薄い断
面に関連するようにこの設定状態は一定に維持さ
れる。しかし乍ら、所望ならば減衰器10,11
の設定を変えることによつて、一連のイメージン
グ処理を試料1の異なる断面に対して行ない得
る。コイルセツト6の二つの半分に対する電流は
各々個々に可変な一対の減衰器12,13を介し
てAC電源9の他の出力から供給されており、こ
の設定は以下で更に説明するように、感知線のY
座標を決定し、各イメージング処理中、試料1の
適当な断面の走査を線毎に達成するように、この
設定は、段階的に変化せしめられる。
試料1を照射するrエネルギは、強さHの磁
場に対応する核磁気共鳴周波数(観測されるべき
核種に対する)に等しい周波数を有する主発振器
14から与えられる。プロトンの共鳴を用いる
際、この周波数は一般に約30MHzの値を有し得、
これは7キロガウス程度の磁場Hに対応する。発
振器14からの出力はタイミング回路15に与え
られ、このタイミング回路15は発振回数を計数
してシステムにおいて使用される種々のタイミン
グ信号を発生する。
場に対応する核磁気共鳴周波数(観測されるべき
核種に対する)に等しい周波数を有する主発振器
14から与えられる。プロトンの共鳴を用いる
際、この周波数は一般に約30MHzの値を有し得、
これは7キロガウス程度の磁場Hに対応する。発
振器14からの出力はタイミング回路15に与え
られ、このタイミング回路15は発振回数を計数
してシステムにおいて使用される種々のタイミン
グ信号を発生する。
等しい振巾を有し反対位相である発振器14か
らの他の二つの出力は、タイミング回路15から
の信号により制御されているゲート増幅器16の
二つの入力に供給されている。この増幅器16
は、期間127Tのパルス間隔で分離された短期間
Tの間交互に入力が切り換えられるように動作す
る。増幅器16の出力は、交互に180゜位相がず
れた振動のバーストによつて構成されたパルスの
規則的に繰り返しからなるパルス列の形態であ
り、このパルスの繰り返し周期は128Tの期間
(以下Rとする)を有する。
らの他の二つの出力は、タイミング回路15から
の信号により制御されているゲート増幅器16の
二つの入力に供給されている。この増幅器16
は、期間127Tのパルス間隔で分離された短期間
Tの間交互に入力が切り換えられるように動作す
る。増幅器16の出力は、交互に180゜位相がず
れた振動のバーストによつて構成されたパルスの
規則的に繰り返しからなるパルス列の形態であ
り、このパルスの繰り返し周期は128Tの期間
(以下Rとする)を有する。
増幅器16からの出力は、送信コイル3に与え
られており、増幅器16とコイル3との特徴は、
試料1中で核磁気の90゜程度の回転を生ぜしめる
ように構成されていることである。所与の試料に
対して、Tの値は、もちろんパルスの間の間隔
(パルス間隔:この例では127T)の値が少なくと
も試料1中に存在する適当なある核種(共鳴が生
じる核種)のスピン―スピン緩和時間と比較して
短いように選択されている。多くの場合、例えば
生物学的物質においてプロトンの共鳴を使用する
際、Tは例えば10マイクロ秒程度の値を有してい
てもよい。この場合、Rは1ミリ秒よりいくらか
大きい値を有し、パルス繰り返し周波数は1キロ
ヘルツより若干小さい値を有する。更に所与の値
Tに対して、AC電源9によつて発生せしめられ
る交流電流の周波数は、局所領域以外の試料1の
部分において、一つのパルス間隔と次のパルス間
隔とで磁場の平均値が実質的に乃至有意に変化す
るように選択されなければならない。
られており、増幅器16とコイル3との特徴は、
試料1中で核磁気の90゜程度の回転を生ぜしめる
ように構成されていることである。所与の試料に
対して、Tの値は、もちろんパルスの間の間隔
(パルス間隔:この例では127T)の値が少なくと
も試料1中に存在する適当なある核種(共鳴が生
じる核種)のスピン―スピン緩和時間と比較して
短いように選択されている。多くの場合、例えば
生物学的物質においてプロトンの共鳴を使用する
際、Tは例えば10マイクロ秒程度の値を有してい
てもよい。この場合、Rは1ミリ秒よりいくらか
大きい値を有し、パルス繰り返し周波数は1キロ
ヘルツより若干小さい値を有する。更に所与の値
Tに対して、AC電源9によつて発生せしめられ
る交流電流の周波数は、局所領域以外の試料1の
部分において、一つのパルス間隔と次のパルス間
隔とで磁場の平均値が実質的に乃至有意に変化す
るように選択されなければならない。
なお、ここで、パルスの繰り返し周波数とAC
電源9によつて発生せしめられる交流電流の周波
数との間に同期乃至低次の調波関係がないこと、
即ちRとPの間で一方が他方の小整数倍であるよ
うには関係づけられてないことが好ましい。尚こ
こでPはAC電源9によつて発生せしめられる交
流電流の周波数の逆数すなわち交流電流の周期を
示す。この電流は、Tが10マイクロ秒である場
合、適切には例えば約70ヘルツの周波数を有し得
る。
電源9によつて発生せしめられる交流電流の周波
数との間に同期乃至低次の調波関係がないこと、
即ちRとPの間で一方が他方の小整数倍であるよ
うには関係づけられてないことが好ましい。尚こ
こでPはAC電源9によつて発生せしめられる交
流電流の周波数の逆数すなわち交流電流の周期を
示す。この電流は、Tが10マイクロ秒である場
合、適切には例えば約70ヘルツの周波数を有し得
る。
照射rエネルギの周波数スペクトルの中心
は、発振器14の発振周波数に設定され、かつこ
のスペクトルは、パルスの繰り返し周波数に等し
い間隔だけ離れて位置する一連の周波数成分を有
する。
は、発振器14の発振周波数に設定され、かつこ
のスペクトルは、パルスの繰り返し周波数に等し
い間隔だけ離れて位置する一連の周波数成分を有
する。
Gの値は、試料1を通る感知線の走査中、局所
領域の長さに沿つての磁場の強さの範囲に対応す
る共鳴周波数の範囲の前記発振周波数成分が128
以下になる範囲内で、十分に大きく設定されてい
る。例えば、Lの可能な値が−5cmから+5cmで
あるような形の試料1におけるプロトンの共鳴の
場合について考えると、Tが10マイクロ秒である
ならば、Gは2ガウス/センチメートルよりいく
らか大きくなければならない。ここでTが10マイ
クロ秒の場合、照射スペクトルの包絡線は、この
スペクトルの中心の128個の周波数成分に対応す
る周波数範囲全体で比較的平坦である。
領域の長さに沿つての磁場の強さの範囲に対応す
る共鳴周波数の範囲の前記発振周波数成分が128
以下になる範囲内で、十分に大きく設定されてい
る。例えば、Lの可能な値が−5cmから+5cmで
あるような形の試料1におけるプロトンの共鳴の
場合について考えると、Tが10マイクロ秒である
ならば、Gは2ガウス/センチメートルよりいく
らか大きくなければならない。ここでTが10マイ
クロ秒の場合、照射スペクトルの包絡線は、この
スペクトルの中心の128個の周波数成分に対応す
る周波数範囲全体で比較的平坦である。
コイル4で検出されたNMR信号(前述したよ
うに、感知線に沿つて且つ相互に離間して位置す
る点で近似される局所領域の異なる部分に存在す
る該当の(共鳴)原子核の量に依存する振幅の一
連のサイドバンド乃至波成分を含む)は、タイミ
ング回路15から与えられる信号によつて望まし
くないコイル3からのr信号の通過を阻止すべ
く、コイル3からの各rパルスの発振中閉塞さ
れるゲート増幅器17に供給される。増幅器17
の出力は、相互に90゜の位相差を有する基準信号
が発振器14から与えられている二つの同一の位
相敏感検波器18,19(コヒーレント検出のた
めに二つあるのであつて、実質的に二つで一組と
みなされる)に供給される。
うに、感知線に沿つて且つ相互に離間して位置す
る点で近似される局所領域の異なる部分に存在す
る該当の(共鳴)原子核の量に依存する振幅の一
連のサイドバンド乃至波成分を含む)は、タイミ
ング回路15から与えられる信号によつて望まし
くないコイル3からのr信号の通過を阻止すべ
く、コイル3からの各rパルスの発振中閉塞さ
れるゲート増幅器17に供給される。増幅器17
の出力は、相互に90゜の位相差を有する基準信号
が発振器14から与えられている二つの同一の位
相敏感検波器18,19(コヒーレント検出のた
めに二つあるのであつて、実質的に二つで一組と
みなされる)に供給される。
検出器18,19の出力は、同一のローパスフ
イルタ20,21を介して二つの同一のリセツト
可能積分器22,23に夫々供給されている。こ
こで、フイルタ20,21は、コイル4によつて
検出された信号のサイドバンドに相当する範囲よ
りも高い周波数の雑音を除くように構成されてい
る。この範囲は、Tが10マイクロ秒である場合、
最大値50KHzを有する。各積分器22,23は、
積分器に供給される入力信号によつて充電され、
積分器をリセツトする際急速に放電されるコンデ
ンサを有している。この積分器22,23はタイ
ミング回路15から与えられる信号により各パル
ス繰り返し周期の間に128回リセツトされる。こ
れによりこの各パルス繰り返し周期は、各期間T
毎に128の継続的積分期間に分割される。動作の
タイミングは、これらの積分期間の一つがrパ
ルスと正確に同期するように構成されている。
イルタ20,21を介して二つの同一のリセツト
可能積分器22,23に夫々供給されている。こ
こで、フイルタ20,21は、コイル4によつて
検出された信号のサイドバンドに相当する範囲よ
りも高い周波数の雑音を除くように構成されてい
る。この範囲は、Tが10マイクロ秒である場合、
最大値50KHzを有する。各積分器22,23は、
積分器に供給される入力信号によつて充電され、
積分器をリセツトする際急速に放電されるコンデ
ンサを有している。この積分器22,23はタイ
ミング回路15から与えられる信号により各パル
ス繰り返し周期の間に128回リセツトされる。こ
れによりこの各パルス繰り返し周期は、各期間T
毎に128の継続的積分期間に分割される。動作の
タイミングは、これらの積分期間の一つがrパ
ルスと正確に同期するように構成されている。
積分器22,23の出力は、一対の同一の信号
平均化器24,25に夫々供給されている。信号
平均化器の動作はタイミング回路15から供給さ
れる信号によつて制御される。各平均化器24,
25は、サンプル・ホールド回路とアナログ―テ
ジタル変換器とを有しており、このサンプル・ホ
ールド回路は、対応する積分器22,23のコン
デンサの電圧を検出するように積分器22,23
の各リセツト直前に動作せしめられ、このアナロ
グ―デジタル変換器は検出電圧値を示すデジタル
語を発生する。各平均化器24,25は、また各
パルス繰り返し周期を分割してなる128個の一連
の積分期間の各々に対応して分割された記憶場所
を含む記憶装置を有しており、各記憶場所の内容
は、デジタル語が対応する積分期間の一つに対し
て発生された際、同時に各パルス繰り返し周期で
一度更新される。各記憶場所に対するこの更新
は、rパルスの位相交代に起因するコイル4で
検出される信号の符号(sign)の交代を考慮し
て、新しく発生したデジタル語の加算及び減算を
交互に行なうことからなる。
平均化器24,25に夫々供給されている。信号
平均化器の動作はタイミング回路15から供給さ
れる信号によつて制御される。各平均化器24,
25は、サンプル・ホールド回路とアナログ―テ
ジタル変換器とを有しており、このサンプル・ホ
ールド回路は、対応する積分器22,23のコン
デンサの電圧を検出するように積分器22,23
の各リセツト直前に動作せしめられ、このアナロ
グ―デジタル変換器は検出電圧値を示すデジタル
語を発生する。各平均化器24,25は、また各
パルス繰り返し周期を分割してなる128個の一連
の積分期間の各々に対応して分割された記憶場所
を含む記憶装置を有しており、各記憶場所の内容
は、デジタル語が対応する積分期間の一つに対し
て発生された際、同時に各パルス繰り返し周期で
一度更新される。各記憶場所に対するこの更新
は、rパルスの位相交代に起因するコイル4で
検出される信号の符号(sign)の交代を考慮し
て、新しく発生したデジタル語の加算及び減算を
交互に行なうことからなる。
イメージング処理の間、感知線の各異なる位置
に対して、平均化器24,25によつて行なわれ
る平均化処理は、観測されるべき原子核のスピン
―格子緩和時間より実質的に短かくない持続時間
を有するデータ収集期間の間続行される。この時
間は、一般に約1秒であり、この時間はタイミン
グ回路15によつて発生せしめられる信号で決定
され、かつパルス繰り返し周期の整数倍に対応す
る。前記の如く、局所領域以外の試料1の部分か
ら生じコイル4により検出される信号の影響を最
小化すべくデータ収集期間の持続時間をAC電源
9から発生せしめられる交流電流の周期の整数倍
にすることが望ましい。この場合、Dが一つのデ
ータ収集期間の持続時間を表わすとすると、D=
NPとなる。ここでNは整数である。この関係の
観点において、AC電源9が周波数に関して発振
器14に対してロツクされることが好ましい。従
つて、データ収集期間の持続時間とパルス繰り返
し周期との観点において丁度設定された関係か
ら、D=MRとなる。ここでMは整数である。前
述のように、R及びPは、好ましくは、一方が他
方の小さい整数倍であるように関係づけられるべ
きではない。従つて、この場合同様の条件がN及
びMの間の関係に適用され、D=NPとなる。各
rパルスの期間(かつ各rパルス後の短時間
に対して)試料からは何らの情報も得られないと
しても、各データ収集期間を通じて信号の有効な
連続的記録がある。
に対して、平均化器24,25によつて行なわれ
る平均化処理は、観測されるべき原子核のスピン
―格子緩和時間より実質的に短かくない持続時間
を有するデータ収集期間の間続行される。この時
間は、一般に約1秒であり、この時間はタイミン
グ回路15によつて発生せしめられる信号で決定
され、かつパルス繰り返し周期の整数倍に対応す
る。前記の如く、局所領域以外の試料1の部分か
ら生じコイル4により検出される信号の影響を最
小化すべくデータ収集期間の持続時間をAC電源
9から発生せしめられる交流電流の周期の整数倍
にすることが望ましい。この場合、Dが一つのデ
ータ収集期間の持続時間を表わすとすると、D=
NPとなる。ここでNは整数である。この関係の
観点において、AC電源9が周波数に関して発振
器14に対してロツクされることが好ましい。従
つて、データ収集期間の持続時間とパルス繰り返
し周期との観点において丁度設定された関係か
ら、D=MRとなる。ここでMは整数である。前
述のように、R及びPは、好ましくは、一方が他
方の小さい整数倍であるように関係づけられるべ
きではない。従つて、この場合同様の条件がN及
びMの間の関係に適用され、D=NPとなる。各
rパルスの期間(かつ各rパルス後の短時間
に対して)試料からは何らの情報も得られないと
しても、各データ収集期間を通じて信号の有効な
連続的記録がある。
各データ収集期間の終りに、平均化器24,2
5の記憶装置の内容は、デジタルコンピユータ2
6に転送される。このコンピユータ26は、任意
の従来タイプのものでよいが、一つのデータ収集
期間中に蓄積された情報を次のデータ収集期間中
に処理するようにプログラムされている。平均化
器24,25の記憶装置はもちろん、遂行される
べき次の平均化処理のために零にリセツトされ
る。平均化器24,25はもちろんコンピユータ
26への情報転送中及び記憶装置のリセツト中、
いかなる入力信号をも失わないように構成されて
いる。
5の記憶装置の内容は、デジタルコンピユータ2
6に転送される。このコンピユータ26は、任意
の従来タイプのものでよいが、一つのデータ収集
期間中に蓄積された情報を次のデータ収集期間中
に処理するようにプログラムされている。平均化
器24,25の記憶装置はもちろん、遂行される
べき次の平均化処理のために零にリセツトされ
る。平均化器24,25はもちろんコンピユータ
26への情報転送中及び記憶装置のリセツト中、
いかなる入力信号をも失わないように構成されて
いる。
コンピユータ26に転送された各データの組
は、128のデジタル語の二つのブロツクの形であ
り、各ブロツクは、パルス繰り返し周期を通じて
時間領域で一様に分布されたデータ点に対する検
出器18,19の一方の出力の一連の平均値を示
し、これら点に対する時間tの値はt=0,T,
2T,……127Tで与えられる。ここでt=0は照
射乃至励起パルスの持続時間の中心に対応する。
各データの組に対し、コンピユータでの処理は、
パルス間の各間隔の初めでの情報損失を考慮し、
かつパルスの繰り返し周期と同程度又はこれより
短かいスピン―格子緩和時間を有する共鳴核種が
試料1中に存在することにより他の理由で生じる
結果に対するいかなる実質的乃至有意な影響をも
確実に除去するアルゴリズムを有している。この
アルゴリズムは好ましくは対応するtの値に対し
て関数(1―cosπt/R)の値を各デジタル語
に掛算することからなる。このデータ処理は、信
号の位相の観点においていかなる必要な調整をも
行なうべく、NMR分光学において従来使用され
ているタイプの他のアルゴリズムをも含んでい
る。このように補正され調整されたデータは標準
的高速フーリエ変換アルゴリズムで処理され、前
記二つの入力データブロツクは、複素フーリエ変
換の実数部及び虚数部として処理される。これに
よつて、二組の出力データが得られる。二組のう
ちの一方は、パルスの繰り返し周波数に等しい間
隔で離れて位置する離散的周波数に関する信号の
サイドバンドの吸収モードスペクトルに相当する
128個のデジタル語のブロツクからなる。rパ
ルス間の情報損失のため、フーリエ変換は、この
スペクトルの基線の位置を与えないが、これは、
感知線のいずれかの場所に対して、適当なデジタ
ル語の値が零であるべきことが知られている信号
のサイドバンドスペクトルの少なくとも一つの周
波数が確実に存在するように局所領域内の共鳴周
波数範囲が常に十分に制限されるべく構成するこ
とにより簡単に達成し得る。この知識に合致させ
るためのデジタル語の値のいかなる必要な調整も
もちろん単純な加算と減算とにより、行なわれ得
る。達成すべき基線補正を可能にすべく、前に示
した最小値よりも大きいGの値を選択することが
必要かもしれない。
は、128のデジタル語の二つのブロツクの形であ
り、各ブロツクは、パルス繰り返し周期を通じて
時間領域で一様に分布されたデータ点に対する検
出器18,19の一方の出力の一連の平均値を示
し、これら点に対する時間tの値はt=0,T,
2T,……127Tで与えられる。ここでt=0は照
射乃至励起パルスの持続時間の中心に対応する。
各データの組に対し、コンピユータでの処理は、
パルス間の各間隔の初めでの情報損失を考慮し、
かつパルスの繰り返し周期と同程度又はこれより
短かいスピン―格子緩和時間を有する共鳴核種が
試料1中に存在することにより他の理由で生じる
結果に対するいかなる実質的乃至有意な影響をも
確実に除去するアルゴリズムを有している。この
アルゴリズムは好ましくは対応するtの値に対し
て関数(1―cosπt/R)の値を各デジタル語
に掛算することからなる。このデータ処理は、信
号の位相の観点においていかなる必要な調整をも
行なうべく、NMR分光学において従来使用され
ているタイプの他のアルゴリズムをも含んでい
る。このように補正され調整されたデータは標準
的高速フーリエ変換アルゴリズムで処理され、前
記二つの入力データブロツクは、複素フーリエ変
換の実数部及び虚数部として処理される。これに
よつて、二組の出力データが得られる。二組のう
ちの一方は、パルスの繰り返し周波数に等しい間
隔で離れて位置する離散的周波数に関する信号の
サイドバンドの吸収モードスペクトルに相当する
128個のデジタル語のブロツクからなる。rパ
ルス間の情報損失のため、フーリエ変換は、この
スペクトルの基線の位置を与えないが、これは、
感知線のいずれかの場所に対して、適当なデジタ
ル語の値が零であるべきことが知られている信号
のサイドバンドスペクトルの少なくとも一つの周
波数が確実に存在するように局所領域内の共鳴周
波数範囲が常に十分に制限されるべく構成するこ
とにより簡単に達成し得る。この知識に合致させ
るためのデジタル語の値のいかなる必要な調整も
もちろん単純な加算と減算とにより、行なわれ得
る。達成すべき基線補正を可能にすべく、前に示
した最小値よりも大きいGの値を選択することが
必要かもしれない。
感知線の各位置乃至場所に対して、コンピユー
タ26は、感知線に沿つて等間隔に離れて位置す
る一連の点に近似される局所領域の部分におい
て、パルス繰り返し周期及びデータ収集期間の持
続時間の選択により決定される範囲にある緩和時
間を有する共鳴核種に対する夫々の核スピン密度
を表わす128個のデジタル語のブロツクを生成す
る。このブロツクにおいて、各語の位置は、もち
ろん共鳴点のZ座標に対応する。
タ26は、感知線に沿つて等間隔に離れて位置す
る一連の点に近似される局所領域の部分におい
て、パルス繰り返し周期及びデータ収集期間の持
続時間の選択により決定される範囲にある緩和時
間を有する共鳴核種に対する夫々の核スピン密度
を表わす128個のデジタル語のブロツクを生成す
る。このブロツクにおいて、各語の位置は、もち
ろん共鳴点のZ座標に対応する。
コンピユータ26は、好ましくは、蓄積形陰極
線管を有するオシロスコープの形態の表示装置2
7に関連づけられている。感知線の各位置に対し
て、コンピユータ26によつて生成された128個
のデジタル語のブロツクは輝度がデジタル語の値
に夫々比例する128個の点の直線状アレイを表示
装置27上に発生させるように使用される。
線管を有するオシロスコープの形態の表示装置2
7に関連づけられている。感知線の各位置に対し
て、コンピユータ26によつて生成された128個
のデジタル語のブロツクは輝度がデジタル語の値
に夫々比例する128個の点の直線状アレイを表示
装置27上に発生させるように使用される。
各イメージング処理中、このアレイの位置は、
カウンタ28から取り出される出力の制御下で、
各データ収集期間の終りに、アレイの長さ方向に
対して垂直な方向に少しだけシフトされる。尚、
このカウンタ28は平均化器24,25からコン
ピユータ26へのデータ転送と同時に発生せしめ
られるクロツクパルスを計数すべく構成されてい
る。カウンタ28からの他の出力は、感知線のY
座標の段階的変化を生じさせるように可変減衰器
12,13に供給されている。
カウンタ28から取り出される出力の制御下で、
各データ収集期間の終りに、アレイの長さ方向に
対して垂直な方向に少しだけシフトされる。尚、
このカウンタ28は平均化器24,25からコン
ピユータ26へのデータ転送と同時に発生せしめ
られるクロツクパルスを計数すべく構成されてい
る。カウンタ28からの他の出力は、感知線のY
座標の段階的変化を生じさせるように可変減衰器
12,13に供給されている。
このようにして試料1の選択された断面におけ
る核スピン密度の分布像が表示装置27上に線毎
に形成される。各イメージング処理は、コンピユ
ータ26及びカウンタ28を動作可能にし、かつ
表示装置27からの以前に形成されたいかなる像
をも消去するような手動制御手段(図示しない)
により開始される。この処理は、カウンタ28に
よつて適当な数のクロツクパルスが受信されると
自動的に終了せしめられる。終了に際しては、カ
ウンタ28が零にリセツトされ、コンピユータ2
6及びカウンタ28が非動作状態に復帰せしめら
れる。像形成の際には、各線中の点の数に等しい
数の線を使用することが通常望まれる。この場
合、データ収集期間が約1秒間であるとすると、
像形成のための全時間は、約2分である。
る核スピン密度の分布像が表示装置27上に線毎
に形成される。各イメージング処理は、コンピユ
ータ26及びカウンタ28を動作可能にし、かつ
表示装置27からの以前に形成されたいかなる像
をも消去するような手動制御手段(図示しない)
により開始される。この処理は、カウンタ28に
よつて適当な数のクロツクパルスが受信されると
自動的に終了せしめられる。終了に際しては、カ
ウンタ28が零にリセツトされ、コンピユータ2
6及びカウンタ28が非動作状態に復帰せしめら
れる。像形成の際には、各線中の点の数に等しい
数の線を使用することが通常望まれる。この場
合、データ収集期間が約1秒間であるとすると、
像形成のための全時間は、約2分である。
図示のシステムX軸に平行な方向に投影された
試料1中の核スピン密度の分布像を生成するよう
に単にコイルセツト5の接続を絶つことにより簡
単に変更され得る。
試料1中の核スピン密度の分布像を生成するよう
に単にコイルセツト5の接続を絶つことにより簡
単に変更され得る。
直角位相(位相が90゜ずれた)検出システムを
使用する場合、過度のコストをかけることなく二
つのデータチヤネルを正確に整合することが難か
しい故に、実際にはある種の望ましくない影響が
出るかもしれない。このような影響に対抗すべ
く、振動の継続的バースト間で、180゜のかわり
に、90゜の位相変化があるように(ある意味では
常に)前記システムを変更することが可能であ
る。この場合、信号平均化の構成は、前記システ
ムにおける平均化器24,25の構成から若干変
更される必要があろう。例えば、複数対のサンプ
ル―ホールド回路、アナログ―デジタル変換器及
び記憶装置を使用することになろうが、この場合
には記憶装置は、二つのデータチヤネルの各々に
永久的に割り当てられず、その代りに、記憶装置
とチヤネルとの間の接続が連続するパルスの繰り
返し周期毎に逆転されるように二つのチヤネル間
で反復スイツチされる。
使用する場合、過度のコストをかけることなく二
つのデータチヤネルを正確に整合することが難か
しい故に、実際にはある種の望ましくない影響が
出るかもしれない。このような影響に対抗すべ
く、振動の継続的バースト間で、180゜のかわり
に、90゜の位相変化があるように(ある意味では
常に)前記システムを変更することが可能であ
る。この場合、信号平均化の構成は、前記システ
ムにおける平均化器24,25の構成から若干変
更される必要があろう。例えば、複数対のサンプ
ル―ホールド回路、アナログ―デジタル変換器及
び記憶装置を使用することになろうが、この場合
には記憶装置は、二つのデータチヤネルの各々に
永久的に割り当てられず、その代りに、記憶装置
とチヤネルとの間の接続が連続するパルスの繰り
返し周期毎に逆転されるように二つのチヤネル間
で反復スイツチされる。
加算と減算交互に行なうことは、各記憶装置に
対するパルス繰り返し周期の二倍の期間毎に生じ
る符号(Sign)の変化と、これらの変化が二つ
の記憶装置間で一パルス繰り返し周期によりブレ
ること以外にも正確な平均化のためになお必要で
ある。
対するパルス繰り返し周期の二倍の期間毎に生じ
る符号(Sign)の変化と、これらの変化が二つ
の記憶装置間で一パルス繰り返し周期によりブレ
ること以外にも正確な平均化のためになお必要で
ある。
第1図は本発明が適用される好ましい一実施例
のNMRイメージングシステムのブロツク図、第
2図は第1図に示すシステムの一部の説明図、第
3a図、第3b図及び第3c図はイメージングシ
ステムに使用される三つのコイルセツトの配置説
明図である。 1……試料、2……コイルアセンブリ、3……
送信コイル、4……受信コイル、5a,5b,5
c,5d,6a,6b,6c,6d,7a,7b
……コイル、8……直流電源、9……交流電源、
10,11,12,13……可変減衰器、14…
…主発振器、15……タイミング回路、18,1
9……位相敏感検波器、20,21……ローパス
フイルタ、22,23……積分器、24,25…
…信号平均化器、26……コンピユータ、27…
…表示装置、28……カウンタ。
のNMRイメージングシステムのブロツク図、第
2図は第1図に示すシステムの一部の説明図、第
3a図、第3b図及び第3c図はイメージングシ
ステムに使用される三つのコイルセツトの配置説
明図である。 1……試料、2……コイルアセンブリ、3……
送信コイル、4……受信コイル、5a,5b,5
c,5d,6a,6b,6c,6d,7a,7b
……コイル、8……直流電源、9……交流電源、
10,11,12,13……可変減衰器、14…
…主発振器、15……タイミング回路、18,1
9……位相敏感検波器、20,21……ローパス
フイルタ、22,23……積分器、24,25…
…信号平均化器、26……コンピユータ、27…
…表示装置、28……カウンタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 試料に磁場をかけたまま該試料にラジオ周波
数のエネルギを照射することによつて、試料中の
所与の核種に核磁気共鳴を生ぜしめることからな
る試料の調査方法であつて、 前記磁場は、 試料のうち、所与の方向に平行に伸延している
線又は面の近傍に位置するある局所領域において
時間的に実質的に不変であり、試料の他のすべて
の部分において時間的に変動するような規則的に
変動する不均質磁場成分と、 前記局所領域の少なくとも一部において、磁場
が、従つてまた前記所与の核種の共鳴周波数が前
記所与の方向の距離と共に単調に変化するような
静的な不均質磁場成分とを 有しており、 前記ラジオ周波数のエネルギは、同一周波数の
振動の強いバーストによつて形成されており、且
つパルス間隔と比較してパルス幅の短いパルス
を、規則的に繰り返してなるパルス列の形態であ
り、 このパルス列は、 前記ラジオ周波数エネルギの周波数スペクトル
の少なくとも一部が、前記局所領域の前記少なく
とも一部にある前記所与の核種の共鳴周波数の範
囲の少なくとも一部に一致し、 共鳴核種から定常状態自由歳差運動信号(SFP
信号)を生ぜしめるように、パルス間隔が、試料
中に存在する前記所与の核種の原子核のうち少な
くともいくつかのもののスピン・スピン緩和時間
と比較して短く、且つ 試料の前記他の部分において、一パルス間隔の
間の磁場の平均値が、一つのパルス間隔と次のパ
ルス間隔とで実質的に変化する ような特性を有しており、 前記方法は、更に、 各周波数成分が前記所与の方向に沿つて分布し
ている前記局所領域の異なる部分に存在する共鳴
核種の核スピン密度に依存する振幅を有するSFP
信号を試料から受信すること、 少なくとも一つの検出信号を生成するために、 前記受信信号のコヒーレント検出を行なうこ
と、及び 継続的な一連のパルス間隔の間、該パルス間隔
において継続的な一連の等しい小間隔のうちの各
小間隔毎に前記検出信号のサンプリングを行な
い、夫々のパルス間隔中の対応する小間隔の組毎
に、磁場の前記変動成分の前記規則的変動周期の
整数倍の期間について、サンプル値の平均値を
別々に求めることを含んでおり、 前記サンプリングの周波数は、該サンプリング
によつて得られたデータにフーリエ変換を含む適
当な処理を行なうことによつて、前記受信信号の
各周波数成分の振幅に関する情報が得られるよう
に十分に高い 試料調査方法。 2 前記検出信号の前記サンプリングが前記各小
間隔の間における該検出信号の積分値を得ること
からなる特許請求の範囲第1項に記載の方法。 3 前記平均化が、磁場の前記変動成分の前記規
則的変動の周期の多数倍の期間の平均を求めるも
のである特許請求の範囲第1項又は第2項に記載
の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB22523/77A GB1601816A (en) | 1977-05-27 | 1977-05-27 | Investigation of samples by nmr techniques |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS541686A JPS541686A (en) | 1979-01-08 |
JPS6231295B2 true JPS6231295B2 (ja) | 1987-07-07 |
Family
ID=10180757
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6318178A Granted JPS541686A (en) | 1977-05-27 | 1978-05-26 | Sample investigation |
Country Status (5)
Country | Link |
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