JPS6231131A - Wire bonding method - Google Patents

Wire bonding method

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JPS6231131A
JPS6231131A JP60168543A JP16854385A JPS6231131A JP S6231131 A JPS6231131 A JP S6231131A JP 60168543 A JP60168543 A JP 60168543A JP 16854385 A JP16854385 A JP 16854385A JP S6231131 A JPS6231131 A JP S6231131A
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wire
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lead frame
lead terminal
tool
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富雄 樫原
Norimasa Aoki
青木 規真
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
Toshiba Seiki Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To securely bond a wire by a method wherein the pressurized state of a wire is altered in response to the floating state of a lead frame so as to produce a stable pressurized state of the wire for an electrode section and a lead terminal. CONSTITUTION:A CPU 55 detects the floating state of a IC led frame 22 with respect to a heating table 22 on the basis of the state of the ampltude of the signal of current fed to a monitoring circuit 65. Basing upon the floating state detected by the CPU 55, a pressure adjustment means 73 is activated so that the pressurizing load for a wire 42 is increased with driving adjustment of a linear motor 34, thereby decreasing the floating state of the frame 22 and providing the stable pressurized state of the wire 42 for the electrode section 25 and lead terminal 26. Thus,the wire bonding is performed in secured and syable state.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、ワイヤボンディング方法に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a wire bonding method.

[従来の技術1 従来、例えばIC,LSI等の製造は、リードフレーム
のアイランド部に半導体ペレットを装着し、次いで半導
体ペレットの電極部とリードフレームのリード端子とを
Au線等のワイヤによりワイヤボンディングすることで
行なっている。ワイヤボンディングの行なわれたリード
フレームは、該ポンディング部分に対して樹脂封止が行
なわれ、樹脂封止の行なわれたリードフレームは各チッ
プごとに切断し1分離される。この結果、複数の接続端
子を備えたチップ状のICまたはLSIが製造されるこ
ととなる。
[Conventional technology 1] Conventionally, for example, in manufacturing ICs, LSIs, etc., semiconductor pellets are attached to island parts of lead frames, and then the electrode parts of the semiconductor pellets and the lead terminals of the lead frames are wire-bonded using wires such as Au wires. It is done by doing. The wire-bonded lead frame is resin-sealed at the bonding portion, and the resin-sealed lead frame is cut into individual chips. As a result, a chip-shaped IC or LSI having a plurality of connection terminals is manufactured.

電極部およびリード端子の間のワイヤボンディングには
、例えば特公昭59−19483号に示すワイヤボンデ
ィング装置が用いられる。すなわち、ワイヤボンディン
グ装置を用いてのワイヤボンディングは、ボンディング
ツールに支持されるワイヤを、ペレットの電極部とテー
ブル上に載置され前記ペレットを装着するリードフレー
ムのリード端子のそれぞれに押付けて圧着し、該電極部
とリード端子の間をワイヤにより接続することにより行
なわれる。
For wire bonding between the electrode portion and the lead terminal, a wire bonding apparatus disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 19483/1983 is used. That is, in wire bonding using a wire bonding device, a wire supported by a bonding tool is pressed and crimped against the electrode portion of a pellet and the lead terminal of a lead frame placed on a table and to which the pellet is attached. , by connecting the electrode portion and the lead terminal with a wire.

ところで、ワイヤの端部を電極部またはリード端子に対
してポンディングする際、該ワイヤの端部が確実に電極
部またはリード端子に圧着される必要がある。第8図(
A)〜(C:)は、それぞれワイヤ端部のペレットの電
極部に対する圧着状態を示す断面図である。このうち、
第8図(A)は、ボンディングツールによる適切な圧着
力の付与により、ワイヤ10の端部が加熱テーブルll
上のリードフレームに載置されたペレット13の電極部
14に確実に圧着される状態である。これに対して、ボ
ンディングツールにより、過大に圧着力が付与されると
第8図(B)に示すように、ワイヤ10の端部のツブシ
が過多となり、溶融される金属が電極部14以外の部分
、例えば配線パターン上に流出する恐れがある。さらに
、ボンディングツールによる圧着力の付与が不足すると
、第8図(C)に示すように、ワイヤ10の端部が、電
極部14に対して接合不良を生じる恐れがある。
By the way, when bonding the end of the wire to the electrode part or lead terminal, it is necessary to reliably crimp the end of the wire to the electrode part or lead terminal. Figure 8 (
A) to (C:) are cross-sectional views each showing the state of the wire end portion being crimped to the electrode portion of the pellet. this house,
FIG. 8(A) shows that the end of the wire 10 is attached to the heating table 1 by applying appropriate pressure by the bonding tool.
This is a state in which the pellet 13 is securely crimped onto the electrode portion 14 of the pellet 13 placed on the upper lead frame. On the other hand, if excessive pressure is applied by the bonding tool, as shown in FIG. There is a risk that the liquid may leak onto other parts, such as wiring patterns. Furthermore, if the bonding tool does not apply enough pressure, there is a risk that the end of the wire 10 may be poorly bonded to the electrode section 14, as shown in FIG. 8(C).

第8図(C)に示すような接合不良状態が生じる場合と
して、加熱テーブル11に対するリードフレームの浮上
りがある。リードフレームの浮上りの原因としては、該
リードフレームの型抜きの際に生ずる曲がり、搬送途中
で生ずる曲がり等が考えられ、これらの曲がりにより、
リードフレームの全体が加熱テーブルより浮上る状態と
なる。
An example of a case where a bonding failure as shown in FIG. 8(C) occurs is when the lead frame floats up relative to the heating table 11. Possible causes of the floating of the lead frame include bending that occurs when the lead frame is die-cut, bending that occurs during transportation, etc.;
The entire lead frame is now floating above the heating table.

すなわち、リードフレームに浮上りが生じると、ボンデ
ィングツールにより加えられる圧着力がワイヤの端部か
ら電極部あるいはリード端子に対して確実に伝達されな
かったり、加熱テーブルからの熱伝達が悪くなり、これ
によりワイヤ端部の接合不良が生ずることとなる。この
結果、ひどい場合には、ワイヤのはがれを起こし、製品
の歩留り低下、信頼性の低下につながることとなる。
In other words, if floating occurs in the lead frame, the crimp force applied by the bonding tool may not be reliably transmitted from the end of the wire to the electrode or lead terminal, or heat transfer from the heating table may become poor. This results in poor bonding of the wire ends. As a result, in severe cases, the wires may come off, leading to a decrease in product yield and reliability.

[発明が解決しようとする問題点] 上記のような不具合を解消するものとして、従来例えば
特開昭59−227134号に示すようにリードフレー
ムを押え板によりテーブル上に押え付け、これにより、
リードフレームの浮上りを防止するものがある。
[Problems to be Solved by the Invention] In order to solve the above-mentioned problems, conventionally, as shown in Japanese Patent Application Laid-open No. 59-227134, a lead frame is held down on a table by a holding plate, and thereby,
There is something that prevents the lead frame from floating.

しかしながら、押え板の押え付けのみにより、リードフ
レームの浮上りを防止することは困難であり・これらリ
ードフレームの浮上りが生じるにもかかわらず、確実か
つ安定したワイヤ端部の圧着状態を確保するワイヤボン
ディング方法の開発が望まれている。
However, it is difficult to prevent the lead frame from floating only by pressing the holding plate.・Despite the floating of the lead frame, it is necessary to ensure a reliable and stable crimped state of the wire end. It is desired to develop a wire bonding method.

本発明は、ワイヤボンディングを確実かつ安定した状態
で行なうことを目的としている。
An object of the present invention is to perform wire bonding reliably and stably.

[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本発明は、ボンディングツ
ールに支持されるワイヤを、ペレットの電極部とテーブ
ル上に載置され前記ペレットを装着するリードフレーム
のリード端子のそれぞれに押付けて圧着し、該電極部と
リード端子の間をワイヤにより接続するワイヤボンディ
ング方法において、テーブルに対するリードフレームの
浮上りを検出する手段と、上記浮上り状態に応じて、電
極部およびリード端子に対するワイヤの圧着力の付与状
態を調整する圧着調整手段を備えることとしている。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention connects a wire supported by a bonding tool to an electrode part of a pellet and a lead frame placed on a table and to which the pellet is attached. In the wire bonding method, in which the lead frame is pressed and crimped onto each of the lead terminals and the electrode portion and the lead terminal are connected by a wire, a means for detecting floating of the lead frame with respect to the table, and a means for detecting the floating of the lead frame with respect to the table, A crimp adjustment means is provided for adjusting the state of application of crimp force to the wire and the lead terminal.

[作用] 本発明によれば、リードフレームの浮上り状態に応じて
ワイヤへの圧着力付与状態が変化されるので、電極部お
よびリード端子に対する安定したワイヤの圧着状態が得
られることとなる。これにより、ワイヤボンディングを
確実かつ安定した状態で行なうことが可能となる。
[Operation] According to the present invention, since the state of applying crimping force to the wire is changed depending on the floating state of the lead frame, a stable state of crimping the wire to the electrode portion and the lead terminal can be obtained. This allows wire bonding to be performed reliably and stably.

[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。[Example] Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1実施例に係るワイヤボンディング
装置を示す断面図、第2図はワイヤボンディング装置に
より、ワイヤボンディングする状態を示す斜視図、第3
図は同平面図、第4図は第1図の要部回路図、第5図(
A)はボンディングツールとしてのキャピラリの駆動変
位状態を示す状態図、第5図(B)はポンディングが正
常に行なわれている場合、第5図(C)はキャピラリが
無負荷状態の場合のそれぞれの電流波形を示す波形図、
第6図(A)〜(C)は電流波形とワイヤの押付は荷重
の関係を示す線図である。
FIG. 1 is a sectional view showing a wire bonding apparatus according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing a state in which wire bonding is performed by the wire bonding apparatus, and FIG.
The figure is the same plan view, Figure 4 is the main circuit diagram of Figure 1, Figure 5 (
A) is a state diagram showing the drive displacement state of the capillary as a bonding tool, FIG. 5(B) is a state diagram when bonding is performed normally, and FIG. 5(C) is a state diagram when the capillary is in an unloaded state. Waveform diagram showing each current waveform,
FIGS. 6(A) to 6(C) are diagrams showing the relationship between current waveforms, wire pressing, and load.

ワイヤボンディング装置20は、加熱テーブル21の上
面に第2図に示すICリードフレーム22を順次供給し
、載置可能としている。載置されるICリードフレーム
22は、中心部分にアイランド部23を備えてなり、該
アイランド部23には、略正方形状の半導体ペレット2
4が装着されてなる。半導体ペレット24の周部には、
複数の電極部25が備えらえ、一方ICリードフレーム
22には、上記電極部25と接続可能な複数のリード端
子26が備えられる。
The wire bonding apparatus 20 sequentially supplies the IC lead frames 22 shown in FIG. 2 onto the upper surface of the heating table 21 so that the IC lead frames 22 can be placed thereon. The IC lead frame 22 to be mounted has an island portion 23 in the center thereof, and a substantially square semiconductor pellet 2 is placed in the island portion 23.
4 is installed. At the periphery of the semiconductor pellet 24,
A plurality of electrode sections 25 are provided, and the IC lead frame 22 is provided with a plurality of lead terminals 26 connectable to the electrode sections 25.

加熱テーブル21の内部にはヒータ27が収納され、該
ヒータ27はテーブル21の上面を加熱するようにして
いる。この結果、加熱テーブル21上のICリードフレ
ーム22は、ヒータ27により加熱されることとなり、
複数の電極部25およびリード端子26も同様に加熱さ
れることとなる。加熱テーブル21上に載置されるIC
リードフレーム22は、第3図に示す枠状の押え板28
によりテーブル21の上面に押付けられる状態となり、
半導体ペレット24および各リード端子26が枠状の押
え板28の内部に配置される状態となる。
A heater 27 is housed inside the heating table 21, and the heater 27 heats the upper surface of the table 21. As a result, the IC lead frame 22 on the heating table 21 is heated by the heater 27.
The plurality of electrode parts 25 and lead terminals 26 are also heated in the same way. IC placed on heating table 21
The lead frame 22 has a frame-shaped holding plate 28 shown in FIG.
This causes the table to be pressed against the top surface of the table 21.
The semiconductor pellet 24 and each lead terminal 26 are placed inside the frame-shaped holding plate 28.

加熱テーブル21の上方には、ポンディング装置本体2
9が配設され、該装置本体29は、xYテーブル30の
駆動により、XY方向に移動可能とされる。装置本体2
9は支持台31を備えてなり、該支持台31には、ツー
ルリフターアーム32が配設される。ツールリフターア
ーム32は軸部33を中心とし、リニアモータ34に駆
動されて上下方向〔A方向〕に揺動自在に支持されてい
る。このリニアモータ34は装置本体29に配設される
電磁石35と上記ツールリフターアーム32の下面に下
向きに取付けられ、上記電磁石35のギャップ36の間
を上下方向に揺動する可動輪37とから構成されている
Above the heating table 21, a pumping device main body 2 is provided.
9 is disposed, and the device main body 29 is movable in the XY directions by driving the xY table 30. Device body 2
9 includes a support stand 31, and a tool lifter arm 32 is disposed on the support stand 31. The tool lifter arm 32 is driven by a linear motor 34 and supported so as to be swingable in the vertical direction [direction A] around a shaft portion 33 . This linear motor 34 is composed of an electromagnet 35 disposed on the device main body 29 and a movable ring 37 that is attached downward to the lower surface of the tool lifter arm 32 and swings vertically between the gap 36 of the electromagnet 35. has been done.

ツールリフターアーム32の下方には、ツールアーム3
8が配設され、該ツールアーム(本実施例においてはホ
ーンとして働く)38の先端部には、ボンディングツー
ルとしてのキャピラリ40が配設される。キャピラリ4
0は、スプール41に巻回されるAu線等からなるワイ
ヤ42を挿通可能とし、該ワイヤ42を先端部側に送り
出すようにしている。ツールアーム38の基端側は、ア
ームホルダ43に保持され、該アームホルダ43は、板
ばね44を介してツールリフターアーム32の下部に取
着される。これにより、ツールアーム38もツールリフ
ターアーム32の揺動に伴ない矢示A方向に揺動可能と
される。
The tool arm 3 is located below the tool lifter arm 32.
8 is disposed, and a capillary 40 as a bonding tool is disposed at the tip of the tool arm 38 (which serves as a horn in this embodiment). capillary 4
0 allows a wire 42 made of an Au wire or the like wound around a spool 41 to be inserted through the wire 42, and feeds the wire 42 toward the tip end side. The base end side of the tool arm 38 is held by an arm holder 43, and the arm holder 43 is attached to the lower part of the tool lifter arm 32 via a leaf spring 44. Thereby, the tool arm 38 is also allowed to swing in the direction of arrow A as the tool lifter arm 32 swings.

上記アームホルダ43はその一端が上方に延長され、そ
の上部には、初期張力調節装置45が設けられている。
One end of the arm holder 43 extends upward, and an initial tension adjustment device 45 is provided at the upper part.

この初期張力調節装置45は、張力機構46とWR節機
構47を備えてなる。このうち、張力機構46は上記ア
ームホルダ43とこれ上に設けられたばね支柱48との
間に設けられるばね49とで構成される。一方、調節機
構47は、アームホルダ43とばね支柱48との間に配
設される。この調節機構47は先端部が球面状のねじ杆
50を不図示のばねにより常時その球面状の先端部を上
記アームホルダ43の内側に当接させるとともにナツト
51を前後方向に移動させることによりツールアーム3
8の初期張力を′tA!iするようになっている。
This initial tension adjustment device 45 includes a tension mechanism 46 and a WR knot mechanism 47. Of these, the tension mechanism 46 is composed of a spring 49 provided between the arm holder 43 and a spring support 48 provided thereon. On the other hand, the adjustment mechanism 47 is disposed between the arm holder 43 and the spring support 48. This adjustment mechanism 47 is made by using a spring (not shown) to constantly bring the spherical tip of a threaded rod 50 into contact with the inside of the arm holder 43 and moving the nut 51 in the front and back direction. Arm 3
The initial tension of 8 is 'tA! i.

ツールリフターアーム32の先端部には。At the tip of the tool lifter arm 32.

ギャップセンサ52がツールアーム38と対向する状態
で配設される。ギャップセンサ52は、ツールアーム3
8との間の間隔T1を常時検出可能とし、ギャップ検出
回路53は、間隔T1の変化を検出可能としている。す
なわち、ツールアーム38がA方向に揺動され、例えば
キャピラリ40の先端部と電極部25またはリード端子
26が接触すると間隔Tlが小さく変化されることとな
る。このような間隔T1の変化は、ギャップ検出回路5
3からポンダ制御手段54における中央処理装置55(
以下CPU55と称す)に出力される。
A gap sensor 52 is disposed facing the tool arm 38. The gap sensor 52 is connected to the tool arm 3
8 can be detected at all times, and the gap detection circuit 53 can detect changes in the interval T1. That is, when the tool arm 38 is swung in the A direction and, for example, the tip of the capillary 40 comes into contact with the electrode section 25 or the lead terminal 26, the interval Tl is changed to a small value. Such a change in the interval T1 is caused by the gap detection circuit 5.
3 to the central processing unit 55 in the ponder control means 54 (
(hereinafter referred to as CPU 55).

一方、軸部33を中心に矢示A方向に揺動されるツール
リフターアーム32は、支持台31に配設されるエンコ
ーダ56によりその揺動角度θが常時検出可能とされる
。エンコーダ56にて検出される揺動角度θは、ツール
揺動位置検出回路57に出力される。ツール揺動位置検
出回路・57は、ツールアーム38の揺動角度θを常時
CPU55に出力可能としている。CPU55は、ギャ
ップ検出回路53より入力されるギャップTIの変化、
ツール揺動位置検出回路57より入力されるツールリフ
ターアーム32の揺動角度θに基づき、モータドライバ
58へ駆動制御信号を送信可能としている。すなわち、
CPU55は、所定の揺動量に基づく駆動制御信号を送
信することで、モータドライバ58の駆動量を制御可能
としている。リニアモータ34は、モータドライバ58
の駆動に基づき作動され、この結果、ツールリフターア
ーム32が所定の位置に揺動されることとなる。
On the other hand, the tool lifter arm 32 swings in the direction of arrow A around the shaft portion 33, so that its swing angle θ can be detected at all times by an encoder 56 disposed on the support base 31. The swing angle θ detected by the encoder 56 is output to a tool swing position detection circuit 57. The tool swing position detection circuit 57 is capable of constantly outputting the swing angle θ of the tool arm 38 to the CPU 55. The CPU 55 detects changes in the gap TI input from the gap detection circuit 53,
Based on the swing angle θ of the tool lifter arm 32 inputted from the tool swing position detection circuit 57, a drive control signal can be transmitted to the motor driver 58. That is,
The CPU 55 can control the amount of drive of the motor driver 58 by transmitting a drive control signal based on a predetermined amount of rocking. The linear motor 34 is a motor driver 58
As a result, the tool lifter arm 32 is swung to a predetermined position.

先端にキャピラリ40を取着してなるツールリフターア
ーム(ホーン)38には、振動子としてのトランスジュ
ーサ60によって矢示Y方向に微振動が加えられ、トラ
ンスジューサ60は、超音波発振器61より出力される
駆動電流Pにより矢示Y方向に超音波振動を起こすよう
にしている。
The tool lifter arm (horn) 38 having a capillary 40 attached to its tip is subjected to slight vibration in the direction of arrow Y by a transducer 60 as a vibrator, and the transducer 60 generates an output from an ultrasonic oscillator 61. The drive current P causes ultrasonic vibration in the direction of the arrow Y.

超音波発振器61は、ポンダ制御手段54におけるCP
U55によりその駆動が制御可能とされ。
The ultrasonic oscillator 61 controls the CP in the ponder control means 54.
Its drive can be controlled by U55.

例えばCPU55より発信される出力指令に基づき、8
0KHzの発振がスタートする。超音波発振器61では
80KHzの発振信号を電力増幅し、出カドランス62
を経てトランジューサ60を矢示Y方向に微振動させる
。出カドランス62の2次側には流れる電流を検出する
ための抵抗70が介在されており、その両端の電圧降下
から電流検出を行なう。
For example, based on the output command sent from the CPU 55, 8
Oscillation of 0KHz starts. The ultrasonic oscillator 61 amplifies the power of the 80KHz oscillation signal, and outputs the output transformer 62.
The transducer 60 is caused to vibrate slightly in the Y direction. A resistor 70 for detecting the flowing current is interposed on the secondary side of the output transformer 62, and the current is detected from the voltage drop across the resistor 70.

なお、ツールアーム(ホーン)38およびキャピラリ4
0の振動振幅は上記電流とほぼ比例関係にあることは実
験よりわかっている。
Note that the tool arm (horn) 38 and capillary 4
It has been found through experiments that the vibration amplitude at 0 is approximately proportional to the above-mentioned current.

出カドランス62の2次側回路に流れる電流はモニタリ
ング回路65を介して、CPU55に帰還される。すな
わち、電流信号Qは、先ず第4図に示すモニタリング回
路65に入力され、ダイオード66で整流される。整流
された電流信号Qは、抵抗67、コンデンサ68を経て
AD変換器69へ出力される。AD変換器69へ出力さ
れる電流信号Qは、積分された状態とされる。さらにA
D変換器69へ入力される電流信号Qは、デジタル化さ
れる状態でCPU55に出力される。なお、モニタリン
グ回路65中71はアースである。
The current flowing through the secondary circuit of the output transformer 62 is fed back to the CPU 55 via the monitoring circuit 65. That is, the current signal Q is first input to a monitoring circuit 65 shown in FIG. 4, and is rectified by a diode 66. The rectified current signal Q is output to an AD converter 69 via a resistor 67 and a capacitor 68. The current signal Q output to the AD converter 69 is in an integrated state. Further A
The current signal Q input to the D converter 69 is output to the CPU 55 in a digitized state. Note that 71 in the monitoring circuit 65 is grounded.

上記ワイヤボンディング装置20によるポンディング作
業は、先ずCPU55の指令に基づきxYテーブル駆動
制御部72を作動させ、XYテーブル30を所定量移動
させる。これにより、ツールアーム38の先端のキャピ
ラリ40を対応する電極部25の上方へ位置決めするこ
とが可能となる。この状態で次にCPU55よりモータ
ドライバ58に駆動制御信号を出力する。これにより、
リニアモータ34が駆動され、ツールリフターアーム3
2およびツールアーム38が下方へ揺動されることとな
る。ツールアー・ム38の揺動状態はツール揺動位置検
出回路57からCPU55ヘフイードバツクされる状態
となる。ツールアーム38の下方揺動により、キャピラ
リ4oの先端部が電極部25に接触される。この状態は
ギャップセンサ52で検出される。するとCPU55は
モータドライバ58への駆動信号の送信を停止し、キャ
ピラリ40の先端部が電極部25に接触される状態で停
止することとなる。この際、キャピラリ40の揺動停止
位置は圧着調整手段73により予め設定される。この結
果、揺動停止されるキャピラリ40の先端部により、規
定のポンディング荷重が電極部25に対して加えられる
こととなる。すなわち、規定のポンディング荷重は、キ
ャピラリ40が電極部25に接触してからさらにツール
リフターアーム32を揺動させ、ばね49の変形量を制
御することにより設定する。
In the bonding operation by the wire bonding apparatus 20, first, the xY table drive control section 72 is operated based on a command from the CPU 55, and the XY table 30 is moved by a predetermined amount. This makes it possible to position the capillary 40 at the tip of the tool arm 38 above the corresponding electrode section 25. In this state, the CPU 55 then outputs a drive control signal to the motor driver 58. This results in
The linear motor 34 is driven, and the tool lifter arm 3
2 and the tool arm 38 will be swung downward. The swing state of the tool arm 38 is fed back from the tool swing position detection circuit 57 to the CPU 55. As the tool arm 38 swings downward, the tip of the capillary 4o comes into contact with the electrode section 25. This state is detected by the gap sensor 52. Then, the CPU 55 stops sending the drive signal to the motor driver 58, and the capillary 40 stops in a state where the tip end is in contact with the electrode section 25. At this time, the rocking stop position of the capillary 40 is set in advance by the crimp adjustment means 73. As a result, a prescribed pounding load is applied to the electrode section 25 by the tip of the capillary 40 whose swinging is stopped. That is, the prescribed pounding load is set by further swinging the tool lifter arm 32 after the capillary 40 contacts the electrode section 25 and controlling the amount of deformation of the spring 49.

上記のようにして、キャピラリ40の先端部が電極部2
5に接触されると、CPU55は、超音波発振器61に
対し出力指令を行なうこととなる。
As described above, the tip of the capillary 40 is connected to the electrode part 2.
5, the CPU 55 issues an output command to the ultrasonic oscillator 61.

超音波発振器61は該出力指令に基づき、予め超音波出
力調整手段74により設定された所定の振幅値に係る駆
動電流Pを出力可能としている。この結果、トランスジ
ューサ60の超音波振動を介してツールアーム38が矢
示Y方向に微振動され、よってキャピラリ40の先端部
に保持されるワイヤ42も矢示Y方向に微振動されるこ
ととなる。ワイヤ42が微振動されると、ばね49の張
力を介し電極部25に圧着されるワイヤ42の端部が摩
擦され加熱される。ざらにヒータ27の加熱力と組合わ
されてワイヤ42の端部が溶融することとなる。これに
より、ワイヤ42の先端部が所定の電極部25に圧着さ
れることとなる。
Based on the output command, the ultrasonic oscillator 61 is capable of outputting a drive current P having a predetermined amplitude value set in advance by the ultrasonic output adjusting means 74. As a result, the tool arm 38 is slightly vibrated in the direction of arrow Y through the ultrasonic vibration of the transducer 60, and therefore the wire 42 held at the tip of the capillary 40 is also slightly vibrated in the direction of arrow Y. . When the wire 42 is slightly vibrated, the end of the wire 42 that is pressed against the electrode part 25 is rubbed and heated by the tension of the spring 49. Combined with the heating power of the heater 27, the end of the wire 42 melts. As a result, the tip of the wire 42 is crimped onto the predetermined electrode section 25.

ワイヤ42の一端部が電極部25に圧着されると、CP
U55の指令により、超音波発振器61より出力されて
いた駆動電流Pが停止される。これと同時にリニアモー
タ34の駆動により、ツールリフターアーム32および
ツールアーム38が上方に揺動されることとなる。ツー
ルアーム38が所定の上方位置に揺動されるとCPU5
5は、XYテーブル駆動制御部72を作動させ、XYテ
ーブル30はXY方向に所定量移動される。これにより
、ツールアーム38の先端のキャピラリ40が対応する
リード端子26の上方に位置決めされることとなる。こ
の状態でCPU55の指令に基づき、再びリニアモータ
34が作動され、ツールリフターアーム32およびツー
ルアーム38が下方へ揺動されることとなる。ツールア
ーム38の揺動によりキャピラリ40の先端部がリード
端子26に接触されると、この状態がギャップ検出回路
53からCPU55へ発信され、CPU55はリニアモ
ータ34を停止するようにする。なお、キャピラリ40
の揺動停止位置は、電極部25におけるポンディングで
説明したと同様、規定のポンディング荷重を加えること
のできるように圧着調整手段73により予め設定される
0次いでCPU55は、超音波発振器61に対し出力指
令を行なうこととなる。超音波発振器61は該出力指令
に基づき、所定の振幅値に係る駆動電流Pを出力可能と
している。この結果、トランスジューサ60の超音波振
動を介してツールアーム38が矢示Y方向に微振動され
る。よってキャピラリ40に保持されるワイヤ42も矢
示Y方向に微振動されることとなる。キャピラリ40に
保持されるワイヤ42が微振動されると、ばね49の張
力により、リード端子26に 圧着するワイヤ42がリ
ード端子26との間で摩擦される状態となる。摩擦され
るワイヤ42は、ヒータ27の加熱力と組合わされて溶
融され、これにより該ワイヤ42がリード端子26に圧
着されることとなる。この状態でキャピラリ40に保持
されるワイヤ42が該圧着部分で切断され、ワイヤ42
の一端部が電極部25に、他端部がリード端子26にそ
れぞれ圧着されることとなる。
When one end of the wire 42 is crimped to the electrode part 25, CP
In response to the command from U55, the drive current P output from the ultrasonic oscillator 61 is stopped. At the same time, the linear motor 34 is driven to swing the tool lifter arm 32 and the tool arm 38 upward. When the tool arm 38 is swung to a predetermined upper position, the CPU 5
5 operates the XY table drive control section 72, and the XY table 30 is moved by a predetermined amount in the XY directions. Thereby, the capillary 40 at the tip of the tool arm 38 is positioned above the corresponding lead terminal 26. In this state, the linear motor 34 is operated again based on a command from the CPU 55, and the tool lifter arm 32 and the tool arm 38 are swung downward. When the tip of the capillary 40 comes into contact with the lead terminal 26 due to the swinging of the tool arm 38, this state is transmitted from the gap detection circuit 53 to the CPU 55, and the CPU 55 stops the linear motor 34. In addition, capillary 40
The rocking stop position is set in advance by the crimping adjustment means 73 so that a prescribed pounding load can be applied in the same way as explained in connection with the pounding on the electrode section 25. For this purpose, an output command will be issued. The ultrasonic oscillator 61 is capable of outputting a drive current P having a predetermined amplitude value based on the output command. As a result, the tool arm 38 is slightly vibrated in the Y direction through the ultrasonic vibration of the transducer 60. Therefore, the wire 42 held by the capillary 40 is also slightly vibrated in the Y direction. When the wire 42 held by the capillary 40 is slightly vibrated, the tension of the spring 49 causes the wire 42 crimped to the lead terminal 26 to be rubbed against the lead terminal 26 . The wire 42 being rubbed is melted in combination with the heating power of the heater 27, thereby crimping the wire 42 to the lead terminal 26. In this state, the wire 42 held by the capillary 40 is cut at the crimped portion, and the wire 42
One end is crimped to the electrode portion 25 and the other end is crimped to the lead terminal 26.

このようにして、1つの電極部25と対応するリード端
子26がワイヤボンディングされると、CPU55の指
令により超音波発振器61より出力されていた駆動電流
Pの出力が停止され、これと同時にリニアモータ34の
駆動により°、ツールリフターアーム32およびツール
アーム38が所定の上方位置に揺動されることとな゛る
In this way, when one electrode section 25 and the corresponding lead terminal 26 are wire-bonded, the output of the drive current P that was being output from the ultrasonic oscillator 61 is stopped according to a command from the CPU 55, and at the same time, the output of the drive current P that has been output from the ultrasonic oscillator 61 is stopped. By driving 34, the tool lifter arm 32 and tool arm 38 are swung to a predetermined upper position.

上記1サイクルのワイヤボンディングの過程をキャピラ
リ40の先端部の高低変位状態で表わすと第5図(A)
に示す図で表わされる。この図中で、キャピラリ40の
先端部がツールアーム38の下降駆動により電極部25
に接触される時間領域がBlで、リード端子26に接触
される時間領域はB2でそれぞれ表わされる。また、各
時間領域B1およびB2に対応する超音波の発振時間領
域は、第5図(B)におけるCIおよびC2で表わされ
、該領域においてポンディングが正常に行なわれている
場合の電流信号Qの波形は第5図 “(B)に示される
。一方キャビラリ40がペレット24に接触していない
状態、すなわち無負荷状態では第5図(C)のような波
形が得られる0両波形を比較してみてわかることは、時
間領域Bl、およびB2のそれぞれで、第5図(B)に
示される波形が第5図(C)に示される波形より減衰さ
れており、また時間領域B1およびB2以外においても
、両波形の振幅R1、R2とそれぞれ対応する振幅S1
.B2とがは1C同じ値を示すことがある。これは、キ
ャピラリ40により、ワイヤ42を電極部25またはリ
ード端子26に摩擦し、圧着する際、キャピラリ40の
先端に負荷(機械的拘束力)がかかり、ツールアーム(
ホーン)38の共振状態が変化し、したがって電流、変
位とも小さくなるためである。
The process of wire bonding in one cycle is shown in FIG.
This is represented by the diagram shown in . In this figure, the tip of the capillary 40 is moved to the electrode portion 25 by the downward drive of the tool arm 38.
The time range in which the lead terminal 26 is contacted is represented by Bl, and the time range in which the lead terminal 26 is contacted is represented by B2. Further, the ultrasonic oscillation time regions corresponding to each time region B1 and B2 are represented by CI and C2 in FIG. 5(B), and the current signal when pounding is normally performed in the region The waveform of Q is shown in Figure 5 (B). On the other hand, when the cavity 40 is not in contact with the pellet 24, that is, under no load, the waveform shown in Figure 5 (C) is obtained. The comparison reveals that the waveform shown in FIG. 5(B) is attenuated in each of the time domains B1 and B2 compared to the waveform shown in FIG. 5(C), and that the waveform shown in FIG. In addition to B2, the amplitudes R1 and R2 of both waveforms and the corresponding amplitude S1
.. B2 and 1C may show the same value. This is because when the capillary 40 rubs the wire 42 against the electrode section 25 or the lead terminal 26 and crimps it, a load (mechanical restraining force) is applied to the tip of the capillary 40, and the tool arm (
This is because the resonance state of the horn 38 changes, and therefore both current and displacement become smaller.

次に、ICリードフレーム22のうちのリード端子26
の底部または、電極部25下方のリードフレーム22の
底部が第11ifflZ部に示すように加熱テーブル2
1に対して浮上っている場合について説明する。ICリ
ードフレーム22に上記のような浮上がりが生じている
と、ポンディングを行なう際、上記のことからモニタリ
ング回路65に第5図(C)に示す無負荷波形に近い電
流信号が入力されることとなる。これは、ワイヤ42を
電極部25およびリード端子26に圧着を行なう際、I
Cリードフレーム22に上記浮き上りが生じているため
であり、圧着の際の負荷抵抗が小さいことに起因する。
Next, the lead terminal 26 of the IC lead frame 22
or the bottom of the lead frame 22 below the electrode section 25 is connected to the heating table 2 as shown in the 11th ifflZ section.
The case where it is floating relative to 1 will be explained. If the IC lead frame 22 is lifted up as described above, a current signal close to the no-load waveform shown in FIG. 5(C) is input to the monitoring circuit 65 when bonding is performed. That will happen. This is because when crimping the wire 42 to the electrode section 25 and lead terminal 26,
This is due to the above-mentioned lifting occurring in the C lead frame 22, and is due to the low load resistance during crimping.

すなわち、圧着の際に、駆動電流Pに基づき出力される
超音波振動エネルギーが、電極部25またはリード端子
26の負荷抵抗が小さいために減衰されない状態となる
ためである。このため、このままの状態でワイヤボンデ
ィングが行なわれるとワイヤ42の圧着不良を生じさせ
ることとなる。
That is, during crimping, the ultrasonic vibration energy output based on the drive current P is not attenuated because the load resistance of the electrode portion 25 or the lead terminal 26 is small. Therefore, if wire bonding is performed in this state, the wire 42 will be crimped incorrectly.

このようなことから、モニタリング回路65に入力され
る電流信号Qの振幅が、キャピラリ40が無負荷状態の
時の振幅S1.32と同じかまたはそれに近い一定値以
上とされると、CPU55がICリードフレーム22に
浮上りが生じているものと判断し、ポンダ制御手段54
の圧着調整手段73に制御信号Uが送信される。圧着調
整手段73は入力される制御信号Uに基づき、キャピラ
リ40先端による圧着力の付与状態を調整する。
For this reason, when the amplitude of the current signal Q input to the monitoring circuit 65 is equal to or above a certain value close to the amplitude S1.32 when the capillary 40 is in an unloaded state, the CPU 55 It is determined that the lead frame 22 is floating, and the ponder control means 54
A control signal U is transmitted to the crimp adjustment means 73 of. The crimp adjustment means 73 adjusts the state of the crimp force applied by the tip of the capillary 40 based on the input control signal U.

この際、ICリードフレーム22の加熱テーブル21に
対する浮上り状態は、モニタリング回路65に入力され
る電流信号Qのうち、振幅値を検出することで行なわれ
、該検出は、時間領域B1およびB2のうちの最初の5
msの時点で検出される。すなわち、第6図(A)に示
す電流信号Qの入力波形は、モニタリング回路65のダ
イオード66で整流され、さらに抵抗67、コンデンサ
68を経ることにより第6図CB)で示す積分値で表わ
されることとなる。この積分値が一定のスライスレベル
Dを超えると、これらの状態がAD変換器69を介して
ポンダ制御手段54のCPU55へ出力され、CPU5
5がICリードフレーム22の浮上り状態を検出するこ
ととなる。このようにして、検出された浮上り状態は、
CPU55から圧着調整手段73へ出力される。圧着調
整手段73は、検出される浮上り状態に応じてモータド
ライバ58に所定の駆動信号を送信可能としている。こ
の結果、該駆動信号に基づきモータドライバ58がりニ
アモータ34の駆動量を調整し、ツールアーム38をさ
らに下方の揺動停止位置まで揺動させるようにする。し
たがって、電極部25またはリード端子26に対するワ
イヤ42の押付は荷重が第6図(C)に示すように増加
されることとなる。キャピラリ40によるワイヤ42の
押付は荷重が増加すると、加熱テーブル21に対するI
Cリードフレーム22の浮上り状態が解消される。これ
により第6図(C)に示す荷重Gを加えた領域に対応す
る積分値が第6図(B)に示すようにスライスレベルD
以下とされる状態となる。また第5図CD)および第6
図(A)に示す電流信号Qも第5図CB)に示す正常な
電流信号と同様な振幅状態を呈することとなる。したが
って、ワイヤ42と電極部25またはリード端子26と
の間で適正な摩擦状態が得られることとなり、ワイヤ4
2が各部に確実に圧着されることとなる。
At this time, the floating state of the IC lead frame 22 relative to the heating table 21 is determined by detecting the amplitude value of the current signal Q input to the monitoring circuit 65, and this detection is performed in the time domain B1 and B2. my first 5
It is detected at the time of ms. That is, the input waveform of the current signal Q shown in FIG. 6(A) is rectified by the diode 66 of the monitoring circuit 65, and further passes through the resistor 67 and capacitor 68, so that it is represented by the integral value shown in FIG. 6(CB). That will happen. When this integral value exceeds a certain slice level D, these states are outputted to the CPU 55 of the ponder control means 54 via the AD converter 69, and the CPU 5
5 detects the floating state of the IC lead frame 22. In this way, the detected floating condition is
It is output from the CPU 55 to the crimp adjustment means 73. The crimp adjustment means 73 is capable of transmitting a predetermined drive signal to the motor driver 58 depending on the detected floating state. As a result, the motor driver 58 adjusts the drive amount of the near motor 34 based on the drive signal, and the tool arm 38 is swung further downward to the swing stop position. Therefore, when the wire 42 is pressed against the electrode portion 25 or the lead terminal 26, the load is increased as shown in FIG. 6(C). When the load increases, the pressing of the wire 42 by the capillary 40 causes an increase in I on the heating table 21.
The floating state of the C lead frame 22 is eliminated. As a result, the integral value corresponding to the area to which the load G shown in FIG. 6(C) is applied becomes the slice level D as shown in FIG. 6(B).
The following conditions will occur. Also, Figure 5 CD) and 6
The current signal Q shown in Figure (A) also exhibits the same amplitude state as the normal current signal shown in Figure 5 (CB). Therefore, an appropriate frictional state is obtained between the wire 42 and the electrode portion 25 or the lead terminal 26, and the wire 42
2 will be securely crimped to each part.

次に上記実施例の作用を説明する。Next, the operation of the above embodiment will be explained.

上記実施例に係るワイヤボンディング装置20によれば
、ICリードフレーム22の加熱テーブル21に対する
浮上り状態が、モニタリング回路65に入力される電流
信号Qの振幅状態に基づき、CPU55にて検出される
こととなる。この結果、該CPU55による浮上り状態
の検出に基づき、圧着調整整手段73が作動され、リニ
アモータ34の駆動調整により、ワイヤ42の押付は荷
重が増大されることとなる。したがって、ICリードフ
レーム22の浮上り状態が減少され、電極部25および
リード端子26に対する安定したワイヤ42の圧着状態
が得られることとなる。これによりワイヤボンディング
を確実かつ安定した状態で行なうことが可能となる。
According to the wire bonding apparatus 20 according to the above embodiment, the floating state of the IC lead frame 22 with respect to the heating table 21 is detected by the CPU 55 based on the amplitude state of the current signal Q input to the monitoring circuit 65. becomes. As a result, based on the detection of the floating state by the CPU 55, the crimp adjustment means 73 is operated, and the drive adjustment of the linear motor 34 increases the pressing load of the wire 42. Therefore, the floating state of the IC lead frame 22 is reduced, and a stable state of crimping of the wire 42 to the electrode portion 25 and the lead terminal 26 can be obtained. This allows wire bonding to be performed reliably and stably.

第7図は本発明の他の実施例に係るワイヤボンディング
装置である。前記実施例に係るワイヤボンディング装置
20は、超音波発振器61により出力される超音波振動
およびヒータ27による加熱を介してワイヤ42を熱圧
着する熱−超音波振動併用方式である。これに対し、本
実施例に係るワイヤボンディング装置80は、ヒータ2
7による熱圧着方式に係る。すなわち、このワイヤボン
ディング装置80は、加熱テーブル21の上面をヒータ
27により加熱し、該加熱テーブル21の上面に供給さ
れるICリードフレーム22を加熱するようにしている
FIG. 7 shows a wire bonding apparatus according to another embodiment of the present invention. The wire bonding apparatus 20 according to the embodiment is a thermo-ultrasonic vibration combination method that thermocompresses the wire 42 through the ultrasonic vibration outputted by the ultrasonic oscillator 61 and heating by the heater 27. In contrast, the wire bonding apparatus 80 according to the present embodiment has a heater 2
This relates to the thermocompression bonding method according to No. 7. That is, this wire bonding apparatus 80 heats the upper surface of the heating table 21 with the heater 27, and heats the IC lead frame 22 supplied to the upper surface of the heating table 21.

加熱テーブル21上方のポンディング装置本体29は、
XYテーブル駆動制御部72の指令に基づき、XYテー
ブル30をY方向に±10g程度の微振動可能としてい
る。これにより、ツールアーム38の先端に取着される
キャピラリ40も矢示Y方向に微振動されることとなる
The pumping device main body 29 above the heating table 21 is
Based on commands from the XY table drive control unit 72, the XY table 30 can be vibrated slightly in the Y direction by approximately ±10 g. As a result, the capillary 40 attached to the tip of the tool arm 38 is also slightly vibrated in the Y direction.

ワイヤボンディング装置80によるポンディングは、先
ずCPU55の指令によりXYテーブル駆動制御部72
を作動させる。XYテーブル30は、該制御部72の指
令によりXY方向に移動され、先ずキャピラリ40が対
応する電極部25の上方へ位置決めされる。この状態で
CPU55の指令に基づき、モータドライバ58へ駆動
信号が出力される。これにより、リニアモータ34が作
動され、ツールアーム38が下方に揺動される。
Bonding by the wire bonding device 80 is first performed by the XY table drive control section 72 according to a command from the CPU 55.
Activate. The XY table 30 is moved in the XY directions according to a command from the control section 72, and first the capillary 40 is positioned above the corresponding electrode section 25. In this state, a drive signal is output to the motor driver 58 based on a command from the CPU 55. As a result, the linear motor 34 is activated, and the tool arm 38 is swung downward.

ツールアーム38が下方に揺動され、キャピラリ40の
先端部が電極部25に接触されると、キャピラリ40に
保持されワイヤ42の先端部より、電極部25に対して
規定のポンディング荷重が加えられることとなる。これ
により、キャピラリ40に保持されるワイヤ42の先端
部は、ヒータ27により加熱される電極部25に圧接さ
れることとなる。圧接されるワイヤ42の先端部は、加
熱される電極部25と接触することで溶融される。この
状態でCPU55の指令によりXYテーブル駆動制御部
72が作動され、XYテーブル駆動制御部72はXYテ
ーブル30をY方向に微振動(いわゆるスクラブという
)することとなる。
When the tool arm 38 is swung downward and the tip of the capillary 40 comes into contact with the electrode section 25, a prescribed pounding load is applied to the electrode section 25 from the tip of the wire 42 held by the capillary 40. It will be. Thereby, the tip of the wire 42 held by the capillary 40 is brought into pressure contact with the electrode section 25 heated by the heater 27. The tip of the wire 42 that is pressed is melted by coming into contact with the heated electrode section 25. In this state, the XY table drive control section 72 is activated by a command from the CPU 55, and the XY table drive control section 72 slightly vibrates the XY table 30 in the Y direction (so-called scrubbing).

この結果、溶融されるワイヤ42の先端部が電極部25
との間でスクラブされ、ワイヤ42の先端部が電極部2
5に圧着されることとなる。
As a result, the tip of the wire 42 to be melted is transferred to the electrode portion 25.
The tip of the wire 42 is scrubbed between the electrode part 2 and
5 will be crimped.

ワイヤ42の一端部が電極部25に圧着されると、CP
U55の指令によりツールアーム38が上昇される0次
いでXYテーブル30がXY方向に移動される。XYテ
ーブル30の移動は、キャピラリ40が対応するリード
端子26の上方に対して位置決めされる状態で行なわれ
る。キャピラリ40が対応するリード端子26の上方に
位置決めされると、再びCPU55の指令によりツール
アーム38が下方へ揺動される。これにより、キャピラ
リ40の先端部がリード端子26に接触することとなる
。キャピラリ40の先端部が対応するリード端子26に
接触されると、キャピラリ40に保持されるワイヤ42
が規定のポンディング荷重でリード端子26に圧接され
ることとなる。圧接されるワイヤ42は、加熱されるリ
ード端子26と接触することで溶融され、この状態でC
PU55はXYテーブル駆動制御部72へ指令を行なう
こととなる。XYテーブル駆動制御部72は、該指令に
より作動され、XYテーブル30をY方向に微振動させ
ることとなる。この結果、溶融されるワイヤ42がリー
ド端子26との間でスクラブされ、ワイヤ42がリード
端子26に圧着されることとなる。この状態でキャピラ
リ40に保持されるワイヤ42が該圧着部分で切断され
、ワイヤ42の一端部が電極部25に、他端部がリード
端子26にそれぞれ圧着されることとなる。
When one end of the wire 42 is crimped to the electrode part 25, CP
The tool arm 38 is raised by the command from U55, and the XY table 30 is then moved in the XY directions. The XY table 30 is moved while the capillary 40 is positioned above the corresponding lead terminal 26. When the capillary 40 is positioned above the corresponding lead terminal 26, the tool arm 38 is again swung downward by a command from the CPU 55. As a result, the tip of the capillary 40 comes into contact with the lead terminal 26. When the tip of the capillary 40 comes into contact with the corresponding lead terminal 26, the wire 42 held by the capillary 40
is pressed against the lead terminal 26 with a specified pounding load. The wire 42 to be pressure-welded is melted by contacting the heated lead terminal 26, and in this state C
The PU 55 will issue a command to the XY table drive control section 72. The XY table drive control section 72 is activated by the command, and causes the XY table 30 to vibrate slightly in the Y direction. As a result, the wire 42 to be melted is scrubbed with the lead terminal 26, and the wire 42 is crimped to the lead terminal 26. In this state, the wire 42 held by the capillary 40 is cut at the crimped portion, and one end of the wire 42 is crimped to the electrode portion 25 and the other end to the lead terminal 26.

一ヒ記のようにしてワイヤボンディング装置80は、l
サイクルのワイヤボンディングを行ない。
The wire bonding device 80 as described in 1.
Perform cycle wire bonding.

対応する電極部25とリード端子26を順次圧着するよ
うにしている。このようにして、熱圧着方式によりワイ
ヤボンディングを行なう際に、ICリードフレーム22
が加熱テーブル21に対して第9図W部に示すように浮
上る状態であると、ICリードフレーム22の加熱が十
分性なわれないこととなる。また、リードフレーム22
に浮上りが生じているとばね49によるポンディング荷
重あるいはスクラブ力が十分伝達されないのでワイヤ4
2と対応する電極部25あるいはリード端子26との間
で圧着不良を生じることとなる。
Corresponding electrode portions 25 and lead terminals 26 are crimped in sequence. In this way, when wire bonding is performed using the thermocompression bonding method, the IC lead frame 22
If the IC lead frame 22 floats above the heating table 21 as shown in section W in FIG. 9, the IC lead frame 22 will not be heated sufficiently. In addition, the lead frame 22
If floating occurs in the wire 4, the pounding load or scrubbing force by the spring 49 will not be transmitted sufficiently.
2 and the corresponding electrode portion 25 or lead terminal 26 will result in poor crimping.

このようなことから、ワイヤボンディング装置80には
、ICリードフレーム22の浮上り検出手段としての検
出カメラ81が備えられる。この検出カメラ81は、押
え板28に支持され、加熱テーブル21の上面とICリ
ードフレーム22の間に赤外線信号を照射するようにし
ている。これにより5検出カメラ81は加熱テーブル2
1に対するICリードフレーム22の浮上り状態を検出
可能としている。検出カメラ81により検出される浮上
り状態はCPU55に入力され、CPU55は該浮上り
状態に基づき、スクラブ量調整手段としてのXYテーブ
ル駆動制御部72へ作動信号を出力可能としている。す
なわち、XYテーブル駆動制御部72は、入力される作
動信号に基づき、各浮上り状態に応じたスクラブ回数、
スクラブ時間を調整可能とし、浮上りが大きくなるにし
たがってスクラブ回数、スクラブ時間を多く調整するよ
うにしている。この結果、たとえ、ICリードフレーム
22が加熱テーブル21に対して浮上りを生じる場合に
おいても上記のようにしてスクラブ量を調整することで
ワイヤ42と電極部25またはリード端子26との間で
適正の摩擦状態が得られ、安定した状態でワイヤボンデ
ィングを行なうことが可能となる。さらにワイヤボンデ
ィング装置80は、検出される浮上り状態に基づき圧着
調整手段73に制御信号Uを送信し、該圧着調整手段7
3によりキャピラリの押付は荷重を増大させることも可
能とされる。その他の構成および作用は、前記実施例と
同様である。
For this reason, the wire bonding apparatus 80 is equipped with a detection camera 81 as means for detecting floating of the IC lead frame 22. This detection camera 81 is supported by the holding plate 28 and is configured to irradiate an infrared signal between the upper surface of the heating table 21 and the IC lead frame 22. As a result, the fifth detection camera 81 detects the heating table 2.
The floating state of the IC lead frame 22 relative to 1 can be detected. The floating state detected by the detection camera 81 is input to the CPU 55, and the CPU 55 is capable of outputting an operation signal to the XY table drive control section 72 as scrub amount adjustment means based on the floating state. That is, the XY table drive control unit 72 controls the number of scrubs according to each floating state based on the input operation signal.
The scrubbing time can be adjusted, and the scrubbing frequency and scrubbing time can be adjusted to increase as the floating becomes larger. As a result, even if the IC lead frame 22 floats relative to the heating table 21, the amount of scrubbing can be adjusted as described above to properly maintain the distance between the wire 42 and the electrode section 25 or lead terminal 26. This results in a frictional state that allows wire bonding to be performed in a stable state. Furthermore, the wire bonding apparatus 80 transmits a control signal U to the crimp adjustment means 73 based on the detected floating state, and
3, it is also possible to increase the load by pressing the capillary. The other configurations and operations are the same as those of the previous embodiment.

なお、上記各実施例においては、ポンディング荷重をば
ね49により付与するようにしているが、ワイヤボンデ
ィング荷重を7クチユエータ等を用いて直接ツールアー
ム38に付与することとしてもよい。さらにリードフレ
ーム22の浮上り状態は、リードフレーム22の温度差
を測定し、温度の低い点を検出することによってもでき
る。
In each of the above embodiments, the bonding load is applied by the spring 49, but the wire bonding load may be applied directly to the tool arm 38 using a 7-cut unit or the like. Furthermore, the floating state of the lead frame 22 can also be determined by measuring the temperature difference of the lead frame 22 and detecting a point of low temperature.

[発明の効果] 以上のように、本発明は、ボンディングツールに支持さ
れるワイヤを、ベレットの電極部とテーブル上に載置さ
れ前記ベレットを装着するリードフレームのリード端子
のそれぞれに押付けて圧着し、該電極部とリード端子と
ポンディング部の間をワイヤにより接続するワイヤボン
ディング方法において、テーブルに対するリードフレー
ムの浮上りを検出する手段と、上記浮上り状態に応じて
、電極部およびリード端子に対するワイヤの圧着力の付
与状態を調整する圧着調整手段を備えることとしたため
、ワイヤボンディングを確実かつ安定した状態で行なう
ことができるとい゛う効果がある。
[Effects of the Invention] As described above, the present invention presses and crimps a wire supported by a bonding tool against each of the electrode portion of a pellet and the lead terminal of a lead frame placed on a table and to which the pellet is attached. In the wire bonding method in which the electrode part, the lead terminal, and the bonding part are connected by a wire, means for detecting floating of the lead frame with respect to the table, and means for detecting floating of the lead frame with respect to the table, and a means for detecting floating of the lead frame with respect to the table, and Since a crimping adjustment means is provided for adjusting the state of application of crimping force to the wire, there is an effect that wire bonding can be performed reliably and stably.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の第1実施例に係るワイヤボンディング
装置を示す断面図、第2図はワイヤボンディング装置に
より、ワイヤボンディングする状態を示す斜視図、第3
図は同平面図、第4図は第1図の要部回路図、第5図(
A)はボンディングツールとしてのキャピラリの駆動変
位状態を示す状態図、第5図(B)はポンディングが正
常に行なわれている場合、第5図(C)はキャピラリが
無負荷状態の場合のそれぞれの電流波形を示す波形図、
第6図(A)〜(C)は電流波形とワイヤの押付は荷重
の関係を示す線図、第7図は本発明の他の実施例に係る
ワイヤボンディング装置ヲ示す断面図、第8図(A)、
CB)、(C)はそれぞれワイヤ端部のベレット電極部
に対する圧着状態を示す断面図である。 20.80・・・ワイヤボンディング装置、21・・・
加熱テーブル、 22・・・ICリードフレーム、 24・・・半導体ペレット、 25・・・電極部部、 26・・・リード端子、 38・・・ツールアーム、 40・・・キャピラリ〔ボンディングツール〕、42・
・・ワイヤ、 54・・・ポンダ制御手段、 55・・・CPU、 61・・・超音波発振器、 65・・・モニタリング回路、 72・・・XYテーブル駆動制御部、 73・・・圧着調整手段、 74・・・超音波出力調整手段、 81・・・検出カメラ。 代理人  弁理士  塩 川 修 治 第 2 図 第 3 図 第 4 図 第 6′1ffi 時間(TrLS)
FIG. 1 is a sectional view showing a wire bonding apparatus according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing a state in which wire bonding is performed by the wire bonding apparatus, and FIG.
The figure is the same plan view, Figure 4 is the main circuit diagram of Figure 1, Figure 5 (
A) is a state diagram showing the drive displacement state of the capillary as a bonding tool, FIG. 5(B) is a state diagram when bonding is performed normally, and FIG. 5(C) is a state diagram when the capillary is in an unloaded state. Waveform diagram showing each current waveform,
6(A) to 6(C) are diagrams showing the relationship between current waveforms and wire pressing and load; FIG. 7 is a sectional view showing a wire bonding apparatus according to another embodiment of the present invention; FIG. 8 (A),
CB) and (C) are cross-sectional views showing the state in which the wire end portion is crimped to the pellet electrode portion. 20.80...Wire bonding device, 21...
Heating table, 22... IC lead frame, 24... Semiconductor pellet, 25... Electrode part, 26... Lead terminal, 38... Tool arm, 40... Capillary [bonding tool], 42・
... Wire, 54 ... Ponder control means, 55 ... CPU, 61 ... Ultrasonic oscillator, 65 ... Monitoring circuit, 72 ... XY table drive control section, 73 ... Crimping adjustment means , 74... Ultrasonic output adjustment means, 81... Detection camera. Agent Patent Attorney Osamu Shiokawa Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 6'1ffi Time (TrLS)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ボンディングツールに支持されるワイヤを、ペレ
ットの電極部とテーブル上に載置され前記ペレットを装
着するリードフレームのリード端子のそれぞれに押付け
て圧着し、該電極部とリード端子との間をワイヤにより
接続するワイヤボンディング方法において、テーブルに
対するリードフレームの浮上りを検出する手段と、上記
浮上り状態に応じて、電極部とリード端子に対するワイ
ヤの圧着力の付与状態を調整する圧着調整手段を備えて
なるワイヤボンディング方法。
(1) The wire supported by the bonding tool is pressed and crimped against the electrode part of the pellet and the lead terminal of the lead frame placed on the table and to which the pellet is attached, and the wire is crimped between the electrode part and the lead terminal. In a wire bonding method in which a lead frame is connected with a wire, a means for detecting floating of a lead frame with respect to a table, and a crimp adjustment means for adjusting a state of application of crimp force of the wire to an electrode part and a lead terminal according to the floating state. Equipped with wire bonding method.
(2)上記圧着調整手段が、ワイヤ端部の押付け荷重調
整手段である特許請求の範囲第1項に記載のワイヤボン
ディング方法。
(2) The wire bonding method according to claim 1, wherein the crimp adjustment means is a wire end pressing load adjustment means.
(3)上記圧着調整手段が、ワイヤ端部のスクラブ量調
整手段である特許請求の範囲第1項に記載のワイヤボン
ディング方法。
(3) The wire bonding method according to claim 1, wherein the crimp adjustment means is a scrub amount adjustment means for the end portion of the wire.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0272644A (en) * 1988-09-07 1990-03-12 Hitachi Ltd Method and apparatus for manufacturing semiconductor device

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