JPS609664B2 - sonic wire bonder - Google Patents

sonic wire bonder

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JPS609664B2
JPS609664B2 JP53057635A JP5763578A JPS609664B2 JP S609664 B2 JPS609664 B2 JP S609664B2 JP 53057635 A JP53057635 A JP 53057635A JP 5763578 A JP5763578 A JP 5763578A JP S609664 B2 JPS609664 B2 JP S609664B2
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JP
Japan
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wedge
wire
ultrasonic
displacement
horn
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一壽 高島
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Hitachi Ltd
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    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超音波ワイヤボンダ、特にワイヤの供給不良を
検出する超音波ワイヤボンダに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an ultrasonic wire bonder, and more particularly to an ultrasonic wire bonder that detects wire feeding defects.

半導体装置、集積回路(IC)等の組立工程の一つに、
半導体素子の電極と外部リードの端子とをワイヤで接続
するワイヤボンディング工程があり、このワイヤボンデ
ィング作業には第1図で示すような超音波ワイヤボンダ
が用いられている。この超音波ワイヤポンダは、回転可
能なステージ1と、このステージ1の真上に位置するウ
ェツジ2と、このウェッジ2を先端に保持するとともに
、ゥェッジ2を超音波振動させる発振機を内蔵するホー
ン3と、ホーン3の他端を支持しつつウェッジ2を上下
動させる昇降機構部4と、この昇降機構部4を支持しか
つ平面XY方向に移動制御されるXYテーブル5とから
なっている。また、ゥェッジ2とともに移動するクラン
バ6がウェツジ2の側方に配設され、ホーン3の上方の
スプール7から解き出されるワイヤ8をクランプするよ
うになっている。また、図示はしないが、一般にワイヤ
8にはバックテンシヨンが加わるようになつている。こ
のような超音波ワイヤボンダにおけるワイヤボンディン
グにあっては、まずステージー上にワークを位置決め固
定する。
One of the assembly processes for semiconductor devices, integrated circuits (IC), etc.
There is a wire bonding process in which electrodes of a semiconductor element and terminals of external leads are connected with wires, and an ultrasonic wire bonder as shown in FIG. 1 is used for this wire bonding operation. This ultrasonic wireponder includes a rotatable stage 1, a wedge 2 located directly above the stage 1, and a horn 3 that holds the wedge 2 at its tip and has a built-in oscillator that vibrates the wedge 2 ultrasonically. , an elevating mechanism section 4 that moves the wedge 2 up and down while supporting the other end of the horn 3, and an XY table 5 that supports the elevating mechanism section 4 and is controlled to move in the XY direction of the plane. Further, a clamper 6 that moves together with the wedge 2 is disposed on the side of the wedge 2, and is adapted to clamp the wire 8 unwound from the spool 7 above the horn 3. Further, although not shown, back tension is generally applied to the wire 8. In wire bonding using such an ultrasonic wire bonder, a workpiece is first positioned and fixed on a stage.

たとえば、半導体装置製造時の場合について説明すると
、半導体素子9をダブ10上に固定したりード11を有
するリードフレーム12をステージ1上に位置決め固定
し、ゥェッジ2を第1ボンディング位置である半導体素
子9の図示しない電極上に降下させる。この際、ウェツ
ジ2の下方にはクランパ6によってワイヤ8の先端が突
出していることから、ワイヤ8の先端は電極面にウェツ
ジ2によって押圧される。その後、ホーンが超音波振動
することからウェッジ2も振動し、ワイヤ8はゥェッジ
2によって電極面に漆すり付けられて接合する。つぎに
、クランパ6を開いてワイヤ8を解放状態にした後、ウ
ヱツジ2を上昇、平面移動、下降させて第2ボンディン
グ位置であるリード11の内端上に降下させる。ワイヤ
8はその一端が電極に固定されかつ解放状態となってい
ることから、ゥェッジ2の移動に伴なつてスプール7か
ら解き出される。また、この解き出しの際、ワイヤ8に
はバックテンション(ウヱッジ2のガイド孔内にワイヤ
が入り込むような方向性の力によって生じる。)が生じ
ていることから、ワイヤ8の剛性、バックテンション等
によってワイヤはその解き出し長さを調整され、山状の
ループを形作りながら他端部をリード11とウェツジ2
間に挟まれる。そこで、再びゥヱッジ2は超音波振動し
、ワイヤ8の他端部はリード11に接合される。その後
、クランパ6が閉じてワイヤ8を保持すると、ウェツジ
2は上昇する。この際、クランパ6もワイヤ8を保持し
て上昇するため、ワイヤ別こは大きな力が加わり、最も
強度が弱い接合部の付け根から切れる。そして、クラン
パはわずかにゥェッジ側に前進して、ワイヤ8の先端を
ウェッジ2の下方に位置させ、つぎのワイヤボンディン
グに備える。ところで、このようなワイヤボンディング
にあって、第1ボンディングバットにワイヤが接合され
なかったりすると、その後にクランパが開動作し、ワイ
ヤにバックテンシヨンが加わるため、ワイヤはスプール
に巻き戻され、ウェッジの下方にはワイヤが存在しなく
なる。このため、ワイヤボンディングが成されなくなる
。従来、このようなワイヤの供給不良の自動検出技術は
ネイルヘッドワイヤボンディング等他のワイヤボンディ
ング技術等ではあるが、超音波ワイヤボンダにあっては
実用的なものは開発されていない。
For example, when manufacturing a semiconductor device, the semiconductor element 9 is fixed on the dub 10, the lead frame 12 having the lead 11 is positioned and fixed on the stage 1, and the wedge 2 is placed on the semiconductor element at the first bonding position. 9 onto an electrode (not shown). At this time, since the tip of the wire 8 is projected below the wedge 2 by the clamper 6, the tip of the wire 8 is pressed against the electrode surface by the wedge 2. Thereafter, since the horn vibrates ultrasonically, the wedge 2 also vibrates, and the wire 8 is lacquered and bonded to the electrode surface by the wedge 2. Next, after opening the clamper 6 to release the wire 8, the wedge 2 is raised, moved in a plane, and lowered to fall onto the inner end of the lead 11, which is the second bonding position. Since the wire 8 has one end fixed to the electrode and is in a released state, it is unwound from the spool 7 as the wedge 2 moves. Also, during this unraveling, back tension (generated by directional force that causes the wire to enter the guide hole of the wedge 2) is generated in the wire 8, so the rigidity of the wire 8, back tension, etc. The unraveled length of the wire is adjusted, and the other end is connected to the lead 11 and the wedge 2 while forming a mountain-like loop.
caught in between. Thereupon, the wedge 2 undergoes ultrasonic vibration again, and the other end of the wire 8 is joined to the lead 11. Thereafter, when the clamper 6 closes and holds the wire 8, the wedge 2 rises. At this time, the clamper 6 also holds the wire 8 and rises, so a large force is applied to the wire, causing it to break from the base of the joint where the strength is the weakest. Then, the clamper moves forward slightly toward the wedge to position the tip of the wire 8 below the wedge 2 in preparation for the next wire bonding. By the way, in such wire bonding, if the wire is not bonded to the first bonding butt, the clamper then opens and back tension is applied to the wire, so the wire is rewound onto the spool and the wedge There are no wires below. As a result, wire bonding is no longer possible. Conventionally, such automatic detection technology for wire supply defects has been applied to other wire bonding technologies such as nail head wire bonding, but no practical technology has been developed for ultrasonic wire bonders.

一方、超音波ワイヤボンディングにあっては、第2図a
に示すように、ワイヤ8は被接合物13の被接合面にゥ
ヱッジ2で押圧された状態における断面形状と、同図b
に示すように、ウェッジ2の超音波振動後のワイヤ断面
形状とは異なる。
On the other hand, in ultrasonic wire bonding, Fig. 2a
As shown in FIG.
As shown in , the cross-sectional shape of the wire after ultrasonic vibration of the wedge 2 is different.

すなわち、押圧動作時のワイヤ断面形状はほぼワイヤの
原形を保ち円形であるが、振動後(あるいは振動開始か
ら一定時間経た振動時)にはワイヤの原形から半分近く
押し潰された上下が平坦な楕円形状となってしまう。し
たがって、ワイヤ圧綾後において、ウェッジ2の振動前
後の高丸ま微少ではあるがワイヤ8の変形によって下が
る。たとえば、直径30山仇めのAI線ではワイヤの高
さは約半分の15山仇程度となり、ウェッジ2も振動前
後では15仏の前後下がる。このワェッジの高さ変位と
時間との関係は第3図に示すようになる。すなわち、実
線で示すように、ウェッジは被接合面に向かって下降し
て、ワイヤの下面部が被接合面に接し、ワイヤの上面部
にウェッジの下端押圧面が接触すると下降を停止する(
P点)。その後、t,秒経過するとウェッジは振動を始
めるため、ワイヤは押し潰されてゥェッジはQ点に達す
る。つぎにt2秒経過するとウェツジは上昇する。とこ
ろで、前記t,およびいま現在市場にある超音波ワイヤ
ポンダでは30〜50のsec程度存在する。また了被
接合面が高いと、ウェッジは同グラフの鋭線で示すよう
に、最初の停止位置は高いが「その後の動きは前記と同
様である。他方「 ウェツジの下方にワイヤが存在せず
、直接ゥヱッジが被接合面に接触する場合には、被接合
面があまり窪まないため〜 ウェッジの振動前後の高さ
の変位は極めて少ない。
In other words, the cross-sectional shape of the wire during the pressing operation is circular, keeping almost the original shape of the wire, but after vibration (or during vibration after a certain period of time has passed from the start of vibration), the cross-sectional shape of the wire is crushed by about half of its original shape, and the top and bottom are flat. This results in an elliptical shape. Therefore, after the wire compression, the roundness before and after the vibration of the wedge 2 is slightly reduced due to the deformation of the wire 8. For example, in the case of an AI wire with a diameter of about 30 tangles, the height of the wire is about half that, about 15 tangles, and the wedge 2 also drops by about 15 tangles before and after vibration. The relationship between the height displacement of the wedge and time is shown in FIG. That is, as shown by the solid line, the wedge descends toward the surface to be joined, and when the lower surface of the wire comes into contact with the surface to be joined, and the lower end pressing surface of the wedge comes into contact with the upper surface of the wire, the wedge stops descending (
P point). Thereafter, after t seconds have elapsed, the wedge begins to vibrate, the wire is crushed, and the wedge reaches point Q. Next, when t2 seconds have elapsed, the wedge rises. By the way, the above-mentioned t, and the ultrasonic wireponders currently on the market, exist in the range of 30 to 50 seconds. In addition, when the surface to be welded is high, the initial stopping position of the wedge is high, as shown by the sharp line in the same graph, but the subsequent movement is the same as above.On the other hand, there is no wire below the wedge. When the wedge directly contacts the surface to be joined, the surface to be joined does not become depressed much, so the height displacement before and after vibration of the wedge is extremely small.

そこで、本発明者は、ワイヤがゥェッジの下方に供給さ
れていない状態ではウェッジはその振動前後で高さに大
きな違いは生じないが、ワイヤがウヱッジに押圧されて
いるときは「 ウェッジの振動の前後でゥェッジの高さ
が変化する事実、またウェッジでワイヤを被援合面に押
圧した後、ウェツジの振動の前後にウェッジの高さを測
定するだけの時間(たとえば前記ら、t2時間)が存在
することから、この時間内にウェッジの高さを測定し「
両者間にゥェッジの高さ変位が存在するか否かによって
、ワイヤ供給状態を知る本発明を成した。
Therefore, the inventor of the present invention found that when the wire is not supplied below the wedge, there is no significant difference in the height of the wedge before and after the vibration, but when the wire is pressed against the wedge, The fact that the height of the wedge changes before and after, and the time required to measure the height of the wedge before and after vibration of the wedge after pressing the wire against the supported surface with the wedge (for example, the time t2 mentioned above) is Measure the height of the wedge within this time and
The present invention allows the wire supply state to be determined based on whether or not there is a height displacement of the wedge between the two.

したがって、本発明の目的は、超音波ワイヤボンダにお
いてウェッジの下方へのワイヤの供給が常に成されてい
るか杏かを確実に検出できる検出機構を有する超音波ワ
イヤボンダを提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide an ultrasonic wire bonder having a detection mechanism that can reliably detect whether the wire is constantly being fed below the wedge or not.

このような目的を達成するために本発明はトウェッジで
ワイヤを被接合面に庄接した後のウェッジでワイヤを被
接合面に圧接した後のウェツジの振動の前と後との高さ
の差(変位)が、あらかじめ設定した数値よりも大きい
場合はウェツジの下方にワイヤが供給されている(YE
S)と判定し、設定値よりも少ない場合にはウェッジの
下方にはワイヤが供給されていない(NO)と判定し、
NOの場合にはワイヤボンダの動きを自動的に停止させ
るとともに作業者にブザー、ランプ等によって警報を発
するようにしてなるものであって、以下実施例により本
発明を説明する。
In order to achieve such an object, the present invention aims to reduce the height difference between the before and after vibrations of the wedge after the wedge presses the wire against the surface to be welded. (displacement) is larger than the preset value, the wire is being supplied below the wedge (YE
S), and if it is less than the set value, it is determined that the wire is not supplied below the wedge (NO),
In the case of NO, the movement of the wire bonder is automatically stopped and a warning is issued to the operator using a buzzer, a lamp, etc. The present invention will be explained below with reference to Examples.

第4図は本発明の超音波ワイヤボンダの一実施例による
概要図である。
FIG. 4 is a schematic diagram of an embodiment of the ultrasonic wire bonder of the present invention.

同図に示すように、超音波振動を発振する発振機を内蔵
したホーン14の先端部にはワイヤ15を押圧振動する
ゥェッジ16が取り付けられている。また、ホーン14
は他端部を支軸17で支持され、図示しない揺動機構に
よってホーン14の先端部(ウェッジ部分)は上下動制
御されるようになっている。また、ホーン14の他端部
は図示しないXYテーブル上に取り付けられる。さらに
、ウェッジ16の下方には回転制御される試料台18が
配設されている。また、ホーン14の支軸17部分には
容量変位計19が取り付けられ、ホーン14の回転移動
変位、すなわちゥヱッジ16の上下動変位を検出するよ
うになっている。また、容量変位計19は判定回路を有
するとともに、機構部全体を制御する判定制御機構に接
続されている。前記判定回路では容量変位計19からの
情報、特にウェッジ16が被接合面(試料台面)に向か
って降下して、被接合面に直接あるいはワイヤを介して
接触して停止し、ゥェッジ16が振動する間の短かい時
間内(あるいは振動開始時点)で検出したウヱッジ16
の高さ(ホーンの傾き)と、ウヱツジ16が振動を終了
してウェッジ16が上昇する時点(またはその間の時点
)でのウェッジ16の高さ(ホ−ンの傾き)との差(変
位)の情報(電気信号)を受け、その情報がある設定値
以上であるか杏かを判定し、制御系にその出力を伝え、
設定値以上であるとYESの信号の場合にはワイヤボン
ディングを続行し、NOの場合にはワイヤボンディング
を停止させるとともに、警報機(ブザー、ランプ等)を
動作させ、作業者に知らせる。たとえば、前記設定値(
闇値)はウェッジの高さ変位が10〃仇に対応する電気
信号としておく。この結果、ウヱッジの高さ変位が10
山肌以上の場合はワイヤボンディング続行はYESとの
信号となり、高さ変位が10ムの未満の場合には、ゥェ
ッジの下方にワイヤが存在していないのでワイヤボンデ
ィング続行はNOなる信号が出る。すなわち、ウェツジ
の下方にワイヤがない状態でウェッジが下降すると、ゥ
ェッジ下面は直接被接合面に接触する。そして、ゥェッ
ジが振動しても被接合面はあまり次まない、たとえば、
AI電極は1〜2仏の程度と極めて薄いため沈みはほと
んどない。このような実施例によれば、ウェッジの下方
にワイヤが存在しているか否かを適格に検知することが
でき、かつワイヤの供給が不充分の場合には自動的に装
置の稼動を停止させ、作業者に知らせる。
As shown in the figure, a wedge 16 that presses and vibrates a wire 15 is attached to the tip of a horn 14 that incorporates an oscillator that oscillates ultrasonic vibrations. Also, horn 14
The other end of the horn 14 is supported by a support shaft 17, and the tip (wedge portion) of the horn 14 is controlled to move up and down by a swinging mechanism (not shown). Further, the other end of the horn 14 is mounted on an XY table (not shown). Furthermore, a sample stage 18 whose rotation is controlled is arranged below the wedge 16 . A capacitive displacement meter 19 is attached to the support shaft 17 of the horn 14 to detect the rotational displacement of the horn 14, that is, the vertical displacement of the wedge 16. Further, the capacitive displacement meter 19 has a determination circuit and is connected to a determination control mechanism that controls the entire mechanical section. In the judgment circuit, the information from the capacitive displacement meter 19, in particular, the wedge 16 descends toward the surface to be joined (sample stage surface), comes into contact with the surface to be joined directly or via a wire, and stops, and the wedge 16 vibrates. Wedge 16 detected within a short period of time (or at the start of vibration)
The difference (displacement) between the height of the wedge 16 (horn inclination) and the height of the wedge 16 (horn inclination) at the time when the wedge 16 finishes vibrating and the wedge 16 rises (or at a point in time) receives the information (electrical signal), determines whether the information is above a certain set value or not, and transmits the output to the control system,
If the signal is YES and the signal is greater than the set value, wire bonding is continued; if NO, wire bonding is stopped and an alarm (buzzer, lamp, etc.) is activated to notify the operator. For example, the setting value (
The dark value) is set as an electrical signal corresponding to a wedge height displacement of 10 degrees. As a result, the height displacement of the wedge is 10
If the height is above the mountain surface, a YES signal is issued to continue wire bonding, and if the height displacement is less than 10 mm, a NO signal is issued to continue wire bonding since there is no wire below the wedge. That is, when the wedge is lowered with no wire below the wedge, the lower surface of the wedge directly contacts the surface to be joined. Even if the wedge vibrates, the surface to be joined will not be affected much.For example,
The AI electrode is extremely thin, about 1 to 2 inches thick, so it hardly sinks. According to such an embodiment, it is possible to accurately detect whether or not there is a wire under the wedge, and to automatically stop the operation of the device if the wire supply is insufficient. , inform the operator.

このため、ワイヤボンディングの歩留が向上する。なお
、本発明は前記実施例に限定されない。
Therefore, the yield of wire bonding is improved. Note that the present invention is not limited to the above embodiments.

すなわち、ウェッジの変位を検出するものとしては、容
量変位計以外の一般に用いられている変位計でもよい。
たとえば、光電変位計、エアーマイクロメータ等でもよ
い。ただし、これらの測定器を用いる場合、各測定器の
特長等に対応させて取付状態、取付機構等は当然に前記
実施例とは異る。以上のように、本発明の超音波ワイヤ
ボンダによれば、ウェッジの下方へのワイヤの供給が常
に適正に成されているか否かを正確に検出することがで
きるので、ワイヤボンディングの歩留りを向上させるこ
とができ、ワイヤボンディングコストの軽減化を図るこ
とができる。
That is, a generally used displacement meter other than a capacitive displacement meter may be used to detect the displacement of the wedge.
For example, a photoelectric displacement meter, an air micrometer, etc. may be used. However, when these measuring instruments are used, the mounting state, mounting mechanism, etc. will naturally differ from the above embodiments depending on the features of each measuring instrument. As described above, according to the ultrasonic wire bonder of the present invention, it is possible to accurately detect whether or not the wire is always being properly supplied below the wedge, thereby improving the yield of wire bonding. This makes it possible to reduce wire bonding costs.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の超音波ワイヤボンダによるワイヤボンデ
ィング状態を示す説明図、第2図a,bはワイヤボンデ
ィング時のワイヤの状態を示す説明図、第3図はワイヤ
ボンディング時のウェッジの高さ変位を示すグラフ、第
4図は本発明の一実施例による超音波ワイヤボンダの説
明図である。 1……ステージ、2……ウエツジ、3……ホーン、4・
・・・・・昇降機構部、5・・・・・・XYテーフル、
6……クランパ、7……スプール、8……ワイヤ、9・
・・・・・半導体素子、10…・・・タブ、11・・・
・・・リード、12……リードフレーム、13・・・・
・・被接合物、14……ホーン、15……ワイヤ、16
……ウェツジ、17……支軸、18……試料台、19・
・・・・・容量変位計。 努′図 豹2図 ※3図 菊4図
Figure 1 is an explanatory diagram showing the state of wire bonding using a conventional ultrasonic wire bonder, Figures 2 a and b are explanatory diagrams showing the state of the wire during wire bonding, and Figure 3 is the height displacement of the wedge during wire bonding. FIG. 4 is an explanatory diagram of an ultrasonic wire bonder according to an embodiment of the present invention. 1... Stage, 2... Wedge, 3... Horn, 4.
...Lifting mechanism section, 5...XY table,
6... Clamper, 7... Spool, 8... Wire, 9.
...Semiconductor element, 10...Tab, 11...
...Lead, 12...Lead frame, 13...
... object to be joined, 14... horn, 15... wire, 16
... Wedge, 17 ... Support shaft, 18 ... Sample stage, 19.
...Capacitive displacement meter. Tsutomu, Leopard, 2 *3, Chrysanthemum, 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 ウエツジで被接合面にワイヤを圧接させながらウエ
ツジを超音波振動させてワイヤを被接合面に接続させる
超音波ワイヤボンダにおいて、ウエツジのワイヤ圧接動
作後にあってウエツジの振動前後の高さ変位を検出する
変位検出機構と、前記変位とあらかじめ設定した設定値
とを比較してウエツジの下方にワイヤが存在するか否か
を判定する判定制御機構とを有することを特徴とする超
音波ワイヤボンダ。
1. In an ultrasonic wire bonder that connects the wire to the surface to be bonded by applying ultrasonic vibration to the wedge while pressing the wire to the surface to be bonded with the wedge, the height displacement before and after vibration of the wedge after the wire pressure welding operation of the wedge is detected. 1. An ultrasonic wire bonder comprising: a displacement detection mechanism that detects the displacement; and a determination control mechanism that compares the displacement with a preset value to determine whether or not there is a wire below the wedge.
JP53057635A 1978-05-17 1978-05-17 sonic wire bonder Expired JPS609664B2 (en)

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JP53057635A JPS609664B2 (en) 1978-05-17 1978-05-17 sonic wire bonder

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JPS57135735U (en) * 1981-02-20 1982-08-24
JPS57135736U (en) * 1981-02-20 1982-08-24
GB8826488D0 (en) * 1988-11-11 1988-12-14 Emhart Deutschland Quality control for wire bonding

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