JPS62299984A - 電子写真用感光体の外形変形量測定方法 - Google Patents
電子写真用感光体の外形変形量測定方法Info
- Publication number
- JPS62299984A JPS62299984A JP14450386A JP14450386A JPS62299984A JP S62299984 A JPS62299984 A JP S62299984A JP 14450386 A JP14450386 A JP 14450386A JP 14450386 A JP14450386 A JP 14450386A JP S62299984 A JPS62299984 A JP S62299984A
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- Japan
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- photosensitive
- deformation
- coil
- detection head
- photosensitive surface
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- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 4
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 abstract description 2
- 230000006698 induction Effects 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Discharging, Photosensitive Material Shape In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
３、発明の詳細な説明
本発明は、通常アルミニウムからなる円筒状導電性基体
の表面に感光層が形成される電子写真用感光体の外形変
形量測定方法に関する。
の表面に感光層が形成される電子写真用感光体の外形変
形量測定方法に関する。
一般に電子写真用感光体の感光層は蒸着法により形成さ
れるが、その形成過程に受ける熱的応力等により少なか
らず変形する。その変形の度合、によっては、感光体の
複写機あるいはプリンタの装置治具に対する装着性、あ
るいは装着後の画像特性に影響を及ぼす、この問題は感
光体基体の厚さ低減の傾向と相まって深刻であり、従っ
て感光体の変形量、すなわち真円度、真直度は重要な測
定対象項目となる。従来のこれらの測定方法としては、
第３図に示すように円筒形の感光体ｌの感光面２に直接
検出子３を接触させ、感光体１を回転あるいは移動させ
るか、検−電子３を移動させて、検出子の機械的変化量
により真円度、真直度等を測定する方法であった。しか
し、このような測定方法では、検出子の接触傷が感光面
に生じ、そのため感光層の電気的特性劣化による画像欠
陥が生ずるおそれがある１、従って、検出子を感光面２
の画像領域２１の外側に存在する画像領域外部分２２に
接触させるか、あるりは測定用試料感光体を別に作成し
て測定するかの方法に限られ、必ずしも信鯨度の高いデ
ータを得ることができなかった。
れるが、その形成過程に受ける熱的応力等により少なか
らず変形する。その変形の度合、によっては、感光体の
複写機あるいはプリンタの装置治具に対する装着性、あ
るいは装着後の画像特性に影響を及ぼす、この問題は感
光体基体の厚さ低減の傾向と相まって深刻であり、従っ
て感光体の変形量、すなわち真円度、真直度は重要な測
定対象項目となる。従来のこれらの測定方法としては、
第３図に示すように円筒形の感光体ｌの感光面２に直接
検出子３を接触させ、感光体１を回転あるいは移動させ
るか、検−電子３を移動させて、検出子の機械的変化量
により真円度、真直度等を測定する方法であった。しか
し、このような測定方法では、検出子の接触傷が感光面
に生じ、そのため感光層の電気的特性劣化による画像欠
陥が生ずるおそれがある１、従って、検出子を感光面２
の画像領域２１の外側に存在する画像領域外部分２２に
接触させるか、あるりは測定用試料感光体を別に作成し
て測定するかの方法に限られ、必ずしも信鯨度の高いデ
ータを得ることができなかった。
本発明は、上記の欠点を餘去し、電子写真用感光体の感
光面に接触する必要のない、すなわち非接触方式の外形
変形量測定方法を提供することを目的とする。
光面に接触する必要のない、すなわち非接触方式の外形
変形量測定方法を提供することを目的とする。
本発明は、感光面に高周波発振回路のコイルを備えた検
出ヘッドを接近させ、検出ヘッドを感光面に相対的に移
動させて、各位置において導電性基体に流れる誘導電流
によって生ずる検出ヘッドのコイルのインダクタンス損
失量を電圧に変換して検出ヘッドと感光面の間隔の変化
を測定することによって外形変形量を測定して上記の目
的を達成するものである。
出ヘッドを接近させ、検出ヘッドを感光面に相対的に移
動させて、各位置において導電性基体に流れる誘導電流
によって生ずる検出ヘッドのコイルのインダクタンス損
失量を電圧に変換して検出ヘッドと感光面の間隔の変化
を測定することによって外形変形量を測定して上記の目
的を達成するものである。
第１図は本発明の一実施例を概念的に示し、第２図の断
面の一部を示すように、例えば３日厚さのアルミニウム
円筒基体１１上にセレン感光層１２を蒸着した感光体ｌ
の感光面に接触しない程度、例えば２日以内の間隔を有
するように検出ヘッド４を近接させる。検出ヘッド４に
はコイルが巻かれており、高周波発振回路部となってい
る。このコイルによって生ずる磁界内に存在する感光体
ｌの導電性基体１１に電磁誘導により誘導電流が流れ、
発生する渦電流損に対応して検出ヘッドのコイルのイン
ダクタンスの損失が起こる。この損失量を変換器５によ
り電圧値に換算する。感光体１を矢印７のように回転さ
せ、４５度毎に変換器５の出力端子６より出力電圧を読
みとる。第１表はこの値と従来の接触方式で得られた値
をそれぞれ回転開始位置の値を０として示し、第４図は
それをグラフ化したものである。 第１表 これより、非接触方式の値と接触方式の値とよく対応し
ていて、非接触方式が真円度測定に十分適用できる。そ
の原理性から、検出ヘッド４を感光体ｌの適当なガイド
を用いて軸方向に移動させるか、検出ヘッドを固定して
、感光体を軸方向にレールによって移動させることによ
り同様に真直度を測定できることは明らかであ秦。
面の一部を示すように、例えば３日厚さのアルミニウム
円筒基体１１上にセレン感光層１２を蒸着した感光体ｌ
の感光面に接触しない程度、例えば２日以内の間隔を有
するように検出ヘッド４を近接させる。検出ヘッド４に
はコイルが巻かれており、高周波発振回路部となってい
る。このコイルによって生ずる磁界内に存在する感光体
ｌの導電性基体１１に電磁誘導により誘導電流が流れ、
発生する渦電流損に対応して検出ヘッドのコイルのイン
ダクタンスの損失が起こる。この損失量を変換器５によ
り電圧値に換算する。感光体１を矢印７のように回転さ
せ、４５度毎に変換器５の出力端子６より出力電圧を読
みとる。第１表はこの値と従来の接触方式で得られた値
をそれぞれ回転開始位置の値を０として示し、第４図は
それをグラフ化したものである。 第１表 これより、非接触方式の値と接触方式の値とよく対応し
ていて、非接触方式が真円度測定に十分適用できる。そ
の原理性から、検出ヘッド４を感光体ｌの適当なガイド
を用いて軸方向に移動させるか、検出ヘッドを固定して
、感光体を軸方向にレールによって移動させることによ
り同様に真直度を測定できることは明らかであ秦。
本発明によれば、金属物体の表面粗さ等の測定に用いら
れる高周波磁界による渦電流損検出に基づく変位針によ
って感光面に接触することなく電子写真用感光体の外形
変形量が測定でき、感光面に損傷を与えるおそれがない
ので、製品感光体の全面にわたって変形量が測定できる
ため、信鯨度の高いデータを得ることができる。
れる高周波磁界による渦電流損検出に基づく変位針によ
って感光面に接触することなく電子写真用感光体の外形
変形量が測定でき、感光面に損傷を与えるおそれがない
ので、製品感光体の全面にわたって変形量が測定できる
ため、信鯨度の高いデータを得ることができる。
第１図は本発明の一実施例を概念的に示す側面図、第２
図は被測定感光体の部分断面図、第３図は従来の接触方
式の測定法を概念的に示す側面図、第４図は第１図の方
式の測定値と第３図の方式の測定値との相関を示す図で
ある。
図は被測定感光体の部分断面図、第３図は従来の接触方
式の測定法を概念的に示す側面図、第４図は第１図の方
式の測定値と第３図の方式の測定値との相関を示す図で
ある。
Claims (1)
- １）感光面に高周波発振回路のコイルを備えた検出ヘッ
ドを接近させ、検出ヘッドを感光面に相対的に移動させ
て、各位置において感光体の導電性基体に流れる誘導電
流によって生ずる検出ヘッドのコイルのインダクタンス
損失量を電圧に変換して検出ヘッドと感光面の間隔の変
化を測定することを特徴とする電子写真用感光体の外形
変形量測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14450386A JPS62299984A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 電子写真用感光体の外形変形量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14450386A JPS62299984A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 電子写真用感光体の外形変形量測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62299984A true JPS62299984A (ja) | 1987-12-26 |
Family
ID=15363874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14450386A Pending JPS62299984A (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 電子写真用感光体の外形変形量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62299984A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2566548A (en) * | 2017-09-19 | 2019-03-20 | Elcometer Ltd | Surface profile measuring instrument and method |
| RU2695024C1 (ru) * | 2018-07-10 | 2019-07-18 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия Ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого" МО РФ | Способ определения параметров динамического деформирования металлических материалов |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS587504A (ja) * | 1981-07-06 | 1983-01-17 | Mito Giken:Kk | 非磁性膜の膜厚測定方法およびその測定装置 |
-
1986
- 1986-06-20 JP JP14450386A patent/JPS62299984A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS587504A (ja) * | 1981-07-06 | 1983-01-17 | Mito Giken:Kk | 非磁性膜の膜厚測定方法およびその測定装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2566548A (en) * | 2017-09-19 | 2019-03-20 | Elcometer Ltd | Surface profile measuring instrument and method |
| GB2566548B (en) * | 2017-09-19 | 2022-04-13 | Elcometer Ltd | Surface profile measuring instrument and method |
| US12000697B2 (en) | 2017-09-19 | 2024-06-04 | Elcometer Limited | Surface profile measuring instrument and method |
| RU2695024C1 (ru) * | 2018-07-10 | 2019-07-18 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия Ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого" МО РФ | Способ определения параметров динамического деформирования металлических материалов |
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