JPS6228968B2 - - Google Patents

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JPS6228968B2
JPS6228968B2 JP22850182A JP22850182A JPS6228968B2 JP S6228968 B2 JPS6228968 B2 JP S6228968B2 JP 22850182 A JP22850182 A JP 22850182A JP 22850182 A JP22850182 A JP 22850182A JP S6228968 B2 JPS6228968 B2 JP S6228968B2
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JP
Japan
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group
parts
carbon atoms
formula
weight
Prior art date
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Expired
Application number
JP22850182A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS59124923A (en
Inventor
Hideyuki Ito
Kazutoshi Tomyoshi
Toshio Shiobara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Shin Etsu Chemical Co Ltd filed Critical Shin Etsu Chemical Co Ltd
Priority to JP22850182A priority Critical patent/JPS59124923A/en
Publication of JPS59124923A publication Critical patent/JPS59124923A/en
Publication of JPS6228968B2 publication Critical patent/JPS6228968B2/ja
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  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

本発明はエポキシ樹脂組成物、特には電子部品
の封止に好適とされる耐湿性にすぐれ、信頼性の
高い製品を得ることができる組成物を提供しよう
とするものである。 最近の半導体装置は従来のセラミツク、キヤン
封止型のものと比較した場合、大量生産性にすぐ
れ、しかも低価格な製品が得られる樹脂封止方式
のものが多くなりつつある。 この封止樹脂としては、電気特性、機械物性等
にすぐれるエポキシ樹脂の使用が増大している。 しかしながら、エポキシ樹脂に代表される樹脂
で封止を行つた半導体装置は、セラミツク、キヤ
ン封止型のものと比較して吸湿性を有し、また樹
脂とフレームとの界面を通しての水の進入も多い
という問題を有する。 一方、封止樹脂中には加水分解性のClをはじ
めとするイオン性不純物が残存しており、これら
は水との相互作用により半導体装置のリーク電流
を増大させたり、アルミニウム電極の腐触等をひ
きおこし信頼性低下の大きな原因となつている。 そこで上記したようなエポキシ樹脂で封止した
半導体装置の耐湿性の不足に起因する不良を防止
する目的で種々改良が試みられ、これには例えば
封止材料中のイオン性不純物を除去したり、イオ
ン性物質をトラツプするような添加剤を添加する
こと等が提案されているが、これらによつてもイ
オン性物質を完全、かつ確実に除去あるいはトラ
ツプすることは実質的に不可能であり初期の目的
を達成することができないという不利がある。 従来、封止材料の耐湿性を改良するするために
はシランカツプリング剤が必須の成分とされ、こ
の半導体装置封止用エポキシ樹脂組成物用のシラ
ンカツプリング剤としては、エポキシ系シラン、
メルカプト系シラン、アミン系シランあるいは不
飽和炭化水素系シラン等が知られている。 例えばエポキシ系シランとしては、3―グリシ
ドキシプロピルトリメトキシシラン、2―(3,
4―エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキ
シシランが使用されているが、これらのシラン中
のエポキシ基はいずれもフエノール硬化性エポキ
シ樹脂との反応性に劣ることから成形時にバリが
発生したり、また添加量の増加につれて電気特性
が低下するという欠点があり、またメルカプト系
シランとしては例えば3―メルカプトプロピルト
リメトキシシランが用いられるが、このものは悪
臭が強く実用上問題があり、さらにアミン系シラ
ンとしては例えばN―(2―アミノエチル)―3
―アミノプロピルメチルジメトキシシランが使用
されているが、これを含む組成物は保存安定性が
極めて悪いという不利がある。他方不飽和炭化水
素系シランとしては例えばビニルトリエトキシシ
ラン、3―メタアクリロキシプロピルトリメトキ
シシランが用いられているが、これらはフエノー
ル硬化性エポキシ樹脂と反応する官能基を有しな
いため、カツプリング剤としての機能を十分に発
揮させることは困難である。 本発明者らは、電子部品の封止に好適とされる
エポキシ樹脂組成物における、上記したような不
利のないシランカツプリング剤について鋭意研究
を重ねたところ、これには後述するようなシリコ
ーン化合物((i)〜(ii))がきわめて有効であり、こ
れを含む組成物はこれまでにないすぐれた耐湿性
を有することを見出し本発明を完成するに至つた
ものである。 即わち、本発明は (イ) フエノール硬化性エポキシ樹脂100重量部、 (ロ) 無機質充填材100〜500重量部、および (ハ) 下記式(i)または(ii)で示されるシリコーン化合
物から選択される少なくとも1種0.05〜10重量
部からなるエポキシ樹脂組成物である。 (ii) R2 xR3 yYzSiO〓〓〓〓 式中のR1は炭素数1〜4のアルキル基または
フエニル基、R2は式 または
The present invention aims to provide an epoxy resin composition, particularly a composition suitable for encapsulating electronic components, which has excellent moisture resistance and can yield highly reliable products. When compared to conventional ceramic and can-sealed semiconductor devices, recent semiconductor devices are increasingly being molded into resin-sealed devices, which are superior in mass productivity and provide products at lower prices. As this sealing resin, epoxy resin is increasingly being used because of its excellent electrical properties, mechanical properties, and the like. However, semiconductor devices sealed with resins such as epoxy resins are more hygroscopic than ceramic or can-sealed types, and are also less prone to water intrusion through the interface between the resin and the frame. The problem is that there are too many. On the other hand, ionic impurities such as hydrolyzable Cl remain in the sealing resin, and these interact with water to increase the leakage current of semiconductor devices and cause corrosion of aluminum electrodes. This is a major cause of decreased reliability. Therefore, various improvements have been attempted in order to prevent defects caused by insufficient moisture resistance in semiconductor devices sealed with epoxy resin as described above, such as removing ionic impurities in the sealing material, Although it has been proposed to add additives that trap ionic substances, it is virtually impossible to completely and reliably remove or trap ionic substances even with these methods, and it is difficult to remove or trap ionic substances in the initial stage. It has the disadvantage of not being able to achieve its objectives. Conventionally, a silane coupling agent has been considered to be an essential component in order to improve the moisture resistance of a sealing material, and silane coupling agents for this epoxy resin composition for sealing semiconductor devices include epoxy silane,
Mercapto-based silanes, amine-based silanes, unsaturated hydrocarbon-based silanes, and the like are known. For example, epoxy silanes include 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 2-(3,
4-Epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane is used, but the epoxy groups in these silanes have poor reactivity with phenol-curing epoxy resins, so burrs may occur during molding, and the amount added may be too low. There is a disadvantage that the electrical properties deteriorate as the silane increases, and 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, for example, is used as a mercapto silane, but this has a strong odor and is problematic in practice; For example, N-(2-aminoethyl)-3
-Aminopropylmethyldimethoxysilane has been used, but compositions containing it have the disadvantage of extremely poor storage stability. On the other hand, as unsaturated hydrocarbon silanes, for example, vinyltriethoxysilane and 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane are used, but since these do not have a functional group that reacts with the phenol-curable epoxy resin, they cannot be used as coupling agents. It is difficult to make full use of this function. The present inventors have conducted extensive research on silane coupling agents that do not have the disadvantages described above in epoxy resin compositions that are suitable for encapsulating electronic components. It was discovered that ((i) to (ii)) are extremely effective, and compositions containing them have unprecedented moisture resistance, leading to the completion of the present invention. That is, the present invention comprises (a) 100 parts by weight of a phenol-curable epoxy resin, (b) 100 to 500 parts by weight of an inorganic filler, and (c) a silicone compound represented by the following formula (i) or (ii). An epoxy resin composition containing 0.05 to 10 parts by weight of at least one selected material. (ii) R 2 x R 3 y Y z SiO〓〓〓〓 In the formula, R 1 is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms or a phenyl group, and R 2 is the formula or

【式】から選択される基 (こゝにR4はハロゲン原子または炭素数1〜
4のアルキル基、rは0または1、Zは水素原子
またはグリシジル基)、R3は炭素数1〜4のアル
キル基、フエニル基、式 H2N―CH2CH2CH2、―、NH2―CH2CH2CH2
NH―CH2CH2CH2―、またはHS―CH2CH2CH2
で示される基から選択される基、Xはハロゲン原
子、炭素数1〜4のアルキル基または1〜4のア
ルコキシ基、Yは水酸基または加水分解可能な
基、lは1,2または3,mは0,1,2または
3,nは0,1または2,pは1,2または3で
p+m≦5、xは0.2〜2.5、yは0〜2.5、x+y
は0.2〜2.5、zは0.02〜3、x+y+zは0.2〜
4.0である。 本発明に係るエポキシ樹脂組成物は、すぐれた
電気特性、機械特性を有し、このもので封止した
半導体装置をはじめとする電子部品はアルミニウ
ム配線の腐触が少なく、すぐれた耐湿性を有す
る。 したがつて、かかる組成物はIC,LSI,トラン
ジスター等の半導体装置の封止剤に適用した場
合、すぐれた信頼性が得られ、また上記したよう
な諸特性を有することから各種塗料用、注型用、
一般成形用、電気絶縁用、積層板用等に広く応用
可能である。 以下本発明に係る組成物について詳細に説明す
る。 まず本発明において使用する(イ)成分としてのフ
エノール硬化性硬化性エポキシ樹脂とは、1分子
中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂
とフエノール系硬化剤とからなる硬化可能なエポ
キシ樹脂であつて、このエポキシ樹脂には後述す
るようなフエノール系硬化剤によつて硬化させる
ことが可能な限り、分子構造、分子量等に特に制
限はなく従来から知られている種々のものを使用
することができ、これには例えばエピクロルヒド
リンとビスフエノールをはじめとする各種ノボラ
ツク樹脂から合成されるエポキシ樹脂、脂環式エ
ポキシ樹脂あるいは塩素や臭素原子等のハロゲン
原子を導入したエポキシ樹脂等をあげることがで
きる。 なお、上記した(イ)成分の使用にあたつて、モノ
エポキシ化合物を適宜併用することは差支えなく
このモノエポキシ化合物としてはスチレンオキシ
ド、シクロヘキセンオキシド、プロピレンオキシ
ド、メチルグリシジルエーテル、エチルグリシジ
ルエーテル、フエニルグリシジルエーテル、アリ
ルグリシジルエーテル、オクチレンオキシド、ド
デセンオキシドなどが例示される。 この(イ)成分はその使用にあたつては必ずしも1
種のみに限定されるものではなく2種もしくはそ
れ以上を混合して使用してもよい。 また、フエノール系硬化剤としては従来公知の
種々のものを使用することができ、これには例え
ばフエノールノボラツク、クレゾールノボラツク
等の1分子中に2個以上の水酸基を有するものを
あげることができる。 さらに本発明においては、上記した硬化剤とエ
ポキシ樹脂との反応を促進させる目的で各種硬化
促進剤、例えばイミダゾールあるいはその誘導
体、三級アミン系誘導体、ホスフイン系誘導体、
シクロアミジン誘導体等を併用することは何ら差
支えない。 (ロ)成分である無機質充填剤としては、代表的な
ものとして結晶性あるいは非結晶性シリカをあげ
ることができ、これにはAerosil(デグツサ社製
商品名)、Ultrasil(デグツサ社製商品名)等の市
販超微粉末シリカ(通常1〜30μmの平均粒径を
有するもの)、Celite(ジヨンマンビル社製商品
名)、Imsil(イリノイスミネラル社製商品名)、
結晶性あるいは非結晶性石英粉末(通常1〜30μ
mの平均粒径を有するもの)等が例示される。 一般に超微粉末シリカは補強性にはすぐれるの
であるが、増粘が著しく流動性を阻害するため注
型あるいはモールデイング成型用にはあまり適さ
ないのでこれらの成型用に供する場合には石英系
粉末を選択使用することがよく、これによればす
ぐれた諸特性を付与することができる。 さらに、本発明に係る組成物の用途、目的等に
応じてはシリカ系以外の充填剤も使用することが
でき、これにはタルク、マイカ、クレー、カオリ
ン、炭酸カルシウム、アルミナ、亜鉛華、バライ
タ、ガラスバルーン、ガラス繊維、水酸化アルミ
ニウム、水酸化カルシウム、アスベスト、酸化チ
タン、酸化鉄、窒化けい素等をあげることができ
る。 これら充填剤は単独で使用することには限定さ
れず2種以上を併用してもよいことはいうまでも
ない。 この(ロ)成分である無機質充填剤は、上記(イ)成分
100重量部に対して100〜500重量部の範囲で使用
することがよい。これは500重量部を超える量を
使用した場合には分散が困難となるばかりでな
く、加工性、低応力、耐クラツク性等の物性にお
いて満足すべき結果が得られないからである。 (ハ)成分としてのシリコーン化合物は、本発明で
最も重要とされる成分であつて、このものは耐湿
性の向上に著しい効果を与えるものであつて、こ
れは前記式(i)または(ii)で示されるものである。 上記式中のR1はメチル基、エチル基、プロピ
ル基、ブチル基などの炭素数1〜4のアルキル基
またはフエニル基、R2は式 または
A group selected from [Formula] (where R 4 is a halogen atom or a group with 1 to 1 carbon atoms)
4 alkyl group, r is 0 or 1, Z is a hydrogen atom or glycidyl group), R 3 is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, phenyl group, formula H 2 N―CH 2 CH 2 CH 2 ,―, NH 2 ―CH 2 CH 2 CH 2
NH―CH 2 CH 2 CH 2 ― or HS―CH 2 CH 2 CH 2
A group selected from the groups represented by, X is a halogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, Y is a hydroxyl group or a hydrolyzable group, l is 1, 2 or 3, m is 0, 1, 2 or 3, n is 0, 1 or 2, p is 1, 2 or 3, p+m≦5, x is 0.2-2.5, y is 0-2.5, x+y
is 0.2~2.5, z is 0.02~3, x+y+z is 0.2~
It is 4.0. The epoxy resin composition according to the present invention has excellent electrical and mechanical properties, and electronic components such as semiconductor devices sealed with this composition have less corrosion of aluminum wiring and excellent moisture resistance. . Therefore, when this composition is applied as an encapsulant for semiconductor devices such as ICs, LSIs, and transistors, it has excellent reliability, and since it has the above-mentioned properties, it is suitable for various paints and adhesives. For mold,
It can be widely applied to general molding, electrical insulation, laminates, etc. The composition according to the present invention will be explained in detail below. First, the phenol-curable curable epoxy resin as component (a) used in the present invention is a curable epoxy resin consisting of an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule and a phenolic curing agent. The epoxy resin is not particularly limited in molecular structure, molecular weight, etc., and various conventionally known epoxy resins may be used as long as they can be cured with a phenolic curing agent as described below. These include, for example, epoxy resins synthesized from various novolak resins such as epichlorohydrin and bisphenol, alicyclic epoxy resins, and epoxy resins into which halogen atoms such as chlorine and bromine atoms are introduced. . In addition, when using the above-mentioned component (a), there is no problem in using a monoepoxy compound as appropriate. Examples of this monoepoxy compound include styrene oxide, cyclohexene oxide, propylene oxide, methyl glycidyl ether, ethyl glycidyl ether, Examples include enyl glycidyl ether, allyl glycidyl ether, octylene oxide, and dodecene oxide. This component (a) is not necessarily 1 when used.
It is not limited to just the seeds, but a mixture of two or more types may be used. Furthermore, various conventionally known phenolic curing agents can be used, including those having two or more hydroxyl groups in one molecule, such as phenol novolac and cresol novolac. can. Furthermore, in the present invention, various curing accelerators such as imidazole or its derivatives, tertiary amine derivatives, phosphine derivatives,
There is no problem in using cycloamidine derivatives etc. in combination. Representative examples of the inorganic filler, which is component (b), include crystalline or amorphous silica, including Aerosil (trade name manufactured by Degutsusa) and Ultrasil (trade name manufactured by Degutsusa). Commercially available ultrafine powdered silica (usually having an average particle size of 1 to 30 μm) such as Celite (trade name manufactured by John Manville), Imsil (trade name manufactured by Illinois Minerals), etc.
Crystalline or amorphous quartz powder (usually 1-30μ
Examples include those having an average particle size of m). Generally, ultrafine powdered silica has excellent reinforcing properties, but its thickening significantly impedes fluidity, making it unsuitable for casting or molding. It is preferable to selectively use powders, which can impart excellent properties. Furthermore, fillers other than silica may also be used depending on the use and purpose of the composition of the present invention, such as talc, mica, clay, kaolin, calcium carbonate, alumina, zinc white, baryta, etc. , glass balloon, glass fiber, aluminum hydroxide, calcium hydroxide, asbestos, titanium oxide, iron oxide, silicon nitride, and the like. It goes without saying that these fillers are not limited to being used alone, but two or more types may be used in combination. The inorganic filler which is this component (B) is the component (A) above.
It is preferable to use it in a range of 100 to 500 parts by weight per 100 parts by weight. This is because when an amount exceeding 500 parts by weight is used, not only is dispersion difficult, but also satisfactory results cannot be obtained in terms of physical properties such as workability, low stress, and crack resistance. The silicone compound as component (c) is the most important component in the present invention, and has a remarkable effect on improving moisture resistance. ). In the above formula, R 1 is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, or phenyl group, and R 2 is the formula or

【式】から選択される基で、 こゝにR4はCl,Br,Iなどのハロゲン原子また
はメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基な
どの炭素数1〜4のアルキル基、rは0または
1、Zは水素原子またはグリシジル基、R3はメ
チル基、エチル基、プロピル基、ブチル基などの
炭素数1〜4のアルキル基、フエニル基、式 H2N―CH2CH2CH2、―、NH2―CH2CH2CH2
NH―CH2CH2CH2―、またはHS―CH2CH2CH2
で示される基から選択される基、XはCl,Br,
Iなどのハロゲン原子、メチル基、エチル基、プ
ロピル基、ブチル基などの炭素数1〜4のアルキ
ル基またはメトキシ基、エトキシ基、プロポキシ
基、ブトキシ基などの炭素数1〜4のアルコキシ
基、Yは水酸基またはアルコキシ基、アシロキシ
基、ケトオキシム基、アミノ基、アミノキシ基、
アミド基、エノキシ基、アルケニルオキシ基など
の加水分解可能な基で、lは1,2または3,m
は0,1,2または3,nは0,1または2、p
は1,2または3でp+m≦5、xは0.2〜2.5,
yは0〜2.5、x+yは0.2〜2.5、zは0.02〜3,
x+y+zは0.2〜4.0であるものとされる。 このような(ハ)成分としては、下記に示すような
化合物をあげることができる。 ただし、式中のMeはメチル基を、Etはエチル
基を、Buはブチル基を、Phはフエニル基を示
す。 A群; B群; C群; D群; 上述した化合物の内でもA群に層するものにつ
いては、その製法が公知とされている(特公昭41
−11097号)が、そこではフエノール性樹脂およ
び被覆用樹脂の軟化剤、ガラス、ガラス布、シリ
カあるいは砂等の硬質材料の仕上げ剤、成型用コ
ンパウンドラミネート、シエルモールデイングの
末端的用途、砂、固着剤の目的に有用であり、さ
らにエポキシ樹脂用硬化剤ならびに促進剤として
有用であることが示されている。またB群に属す
る化合物の合成方法も公知であり(特公昭55―
36674号)、そこにはシリコーンゴム用の接着促進
剤あるいはシリコーンアルキツド樹脂の中間体と
して有用であることが記載されている。 しかしながら該公知文献には本発明の如き目的
を達成するために使用することは全く記載されて
いない。 この(ハ)成分は、その使用に際しては必ずしも1
のみに限定されず2種以上を併用してもよい。 上記した(ハ)成分の使用量は前記(イ)成分100重量
部に対して0.05〜10重量部好ましくは0.5〜3重
量部の範囲とすることが必須とされる。この理由
は0.05重量部未満では耐湿性の向上効果があまり
みられず、他方10重量部を越えると硬化物のガラ
ス転移点が低くなり、また硬化物表面への滲出が
みられるようになる。 この(ハ)成分の添加方法は特に定めるものではな
く、インテグラルブレンド、無機質充填剤の表面
に付着させる等のいずれであつてもよい。 また、本発明においては、従来この種の組成物
に用いられているエポキシ系シラン、メルカプト
系シラン、アミン系シラン等のシリコーン化合
物、アルミニウム化合物、アルキルチタネート化
合物等を併用することは何ら差支えない。 本発明に係る組成物には、用途、目的等に応じ
て本発明の目的を阻害しない範囲で種々の添加剤
を配合添加してもよく、これには例えばカーボン
ブラツク、黒鉛、ウオラスナイト等の充填剤、脂
肪酸、ワツクス類等の離型剤、カーボンブラツク
に代表される着色剤、アンチモン化合物等の難燃
剤、各種可撓性付与剤等をあげることができる。 つぎに本発明の実施例をあげる。 ただし、部はすべて重量部を示す。 実施例 1 クレゾールノボラツク型エポキシ樹脂(チバ社
製、商品名ECN―1280)70部、フエノールノボ
ラツク樹脂(群栄化学社製、商品名MP―120)30
部、2―ウンデシルイミダゾール2部、カルナバ
ワツクス1部、カーボンブラツク1部、シリカ粉
末300部および下記の第1表に示すようなシリコ
ーン化合物1.5部を60〜100℃に加熱した8インチ
のミキシング2本ロールで3〜6分間混練したの
ち、冷却し、ついで粉砕した。
A group selected from [Formula], where R 4 is a halogen atom such as Cl, Br, I, or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, and r is 0 or 1, Z is a hydrogen atom or a glycidyl group, R3 is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a phenyl group, the formula H 2 N―CH 2 CH 2 CH 2 ,―, NH 2 ―CH 2 CH 2 CH 2
NH―CH 2 CH 2 CH 2 ― or HS―CH 2 CH 2 CH 2
A group selected from the groups represented by, X is Cl, Br,
A halogen atom such as I, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, or an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms such as a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group, Y is a hydroxyl group, an alkoxy group, an acyloxy group, a ketoxime group, an amino group, an aminoxy group,
Hydrolyzable group such as amide group, enoxy group, alkenyloxy group, l is 1, 2 or 3, m
is 0, 1, 2 or 3, n is 0, 1 or 2, p
is 1, 2 or 3, p+m≦5, x is 0.2 to 2.5,
y is 0 to 2.5, x+y is 0.2 to 2.5, z is 0.02 to 3,
x+y+z is assumed to be 0.2 to 4.0. Examples of such component (iii) include the compounds shown below. However, in the formula, Me represents a methyl group, Et represents an ethyl group, Bu represents a butyl group, and Ph represents a phenyl group. Group A; Group B; Group C; Group D; Among the above-mentioned compounds, the manufacturing method for those layered in group A is known (Japanese Patent Publication No. 41
-11097), softening agents for phenolic and coating resins, finishing agents for hard materials such as glass, glass cloth, silica or sand, molding compound laminates, end uses for shell molding, sand, It has been shown to be useful for bonding agent purposes and also as a curing agent and accelerator for epoxy resins. In addition, methods for synthesizing compounds belonging to group B are also known (Special Publications No. 55-
No. 36674), it is described that it is useful as an adhesion promoter for silicone rubber or as an intermediate for silicone alkyd resins. However, this known document does not describe at all that it is used to achieve the objects of the present invention. This (c) component is not necessarily 1 when used.
It is not limited to only one type, but two or more types may be used in combination. It is essential that the amount of the component (c) used is in the range of 0.05 to 10 parts by weight, preferably 0.5 to 3 parts by weight, based on 100 parts by weight of the component (a). The reason for this is that if it is less than 0.05 parts by weight, the effect of improving moisture resistance is not so great, whereas if it exceeds 10 parts by weight, the glass transition point of the cured product becomes low and oozing onto the surface of the cured product is observed. The method of adding this component (iii) is not particularly determined, and may be either an integral blend or adhesion to the surface of the inorganic filler. Furthermore, in the present invention, there is no problem in using together silicone compounds such as epoxy silanes, mercapto silanes, and amine silanes, aluminum compounds, alkyl titanate compounds, etc. that have been conventionally used in this type of composition. Various additives may be added to the composition according to the present invention depending on the use, purpose, etc., within a range that does not impede the purpose of the present invention. Examples include mold release agents such as mold release agents, fatty acids and waxes, coloring agents such as carbon black, flame retardants such as antimony compounds, and various flexibility imparting agents. Next, examples of the present invention will be given. However, all parts indicate parts by weight. Example 1 70 parts of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Ciba, trade name: ECN-1280), 30 parts of phenol novolak resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., trade name: MP-120)
1 part, 2 parts of 2-undecylimidazole, 1 part of carnauba wax, 1 part of carbon black, 300 parts of silica powder and 1.5 parts of a silicone compound as shown in Table 1 below were heated to 60-100°C. After kneading with two mixing rolls for 3 to 6 minutes, the mixture was cooled and then ground.

【表】 実施例 2 フエノールノボラツク型エポキシ樹脂(日本化
薬社製、商品名EPPN)65部、フエノールノボラ
ツク樹脂(実施例1で使用したものと同じ)35
部、トリフエニルホスフイン1部、カルナバワツ
クス1部、カーボンブラツク1部、シリカ粉末
300部および下記の第2表に示すような量の式
[Table] Example 2 65 parts of phenol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name EPPN), 35 parts of phenol novolac resin (same as that used in Example 1)
1 part triphenylphosphine, 1 part carnauba wax, 1 part carbon black, silica powder
300 parts and formulas for quantities as shown in Table 2 below

【式】で示されるシリコー ン化合物を実施例1と同様に処理(混練、冷却、
粉砕)した。
The silicone compound represented by the formula was treated in the same manner as in Example 1 (kneading, cooling,
pulverized).

【表】 * 上記と同じ
実施例 3 上記実施例1および2で得た組成物1〜12につ
いて、体積抵抗率、曲げ強さ、およびSiチツプと
の接着性または成形性(バリあるいは滲出の有
無)を下記のようにして調べたところ、第3表に
示すような結果が得られた。 (1) 体積抵抗率; 直径100mm、厚さ2mmの円板を成形し(成形温
度175℃、成形時間2分、成形圧力70Kg/cm2)、こ
れを180℃で4時間ポストキユアし、ついで
JISK6911に準じて初期抵抗値を算出し、さらに
プレツシヤークツカー(121℃、2.2atm)に200
時間放置し抵抗値を算出した。 (2) 曲げ強さ; 100×10×4(mm)の抗折棒を成形し(成形条
件;上記と同じ)180℃で4時間ポストキユアし
た後JISK6911に準じて初期値を測定し、さらに
プレツシヤークツカー(121℃、2.2atm)に200
時間放置し曲げ強さを測定した。 (3) Siチツプとの接着性; 一辺が4mmで厚さが0.3mmの大きさのSiチツプ
を14 PIN DIPのフレームにマウントした後、上
記した組成物で成形封止し(成形条件;上記と同
じ)、180℃で4時間ポストキユアーを行つた。そ
の後Siチツプを破壊しないようにして封止樹脂を
割り、Siチツプの表面の樹脂の接義の度合を調べ
○,△,×の表示をもつて示した。 ○……きわめて良好 △……良好 ×……不良 (4) 成形性、; 直径100mm、厚さ2mmの円板を成形し(成形条
件;上記と同じ)、この成形の際の金型の隙間に
発生するバリ、および成形物表面へのシリコーン
化合物の滲出の有無を調べた。 ○……バリ、滲出なし ×……バリ、滲出あり
[Table] * Same example 3 as above For compositions 1 to 12 obtained in Examples 1 and 2 above, volume resistivity, bending strength, adhesion to Si chips or moldability (presence of burrs or exudation) ) was investigated as follows, and the results shown in Table 3 were obtained. (1) Volume resistivity: A disk with a diameter of 100 mm and a thickness of 2 mm was molded (molding temperature 175°C, molding time 2 minutes, molding pressure 70Kg/cm 2 ), post-cured at 180°C for 4 hours, and then
The initial resistance value was calculated according to JISK6911, and then 200
The resistance value was calculated after being left for a certain period of time. (2) Bending strength: After molding a 100 x 10 x 4 (mm) bending rod (forming conditions; same as above) and post-curing at 180℃ for 4 hours, the initial value was measured according to JISK6911, and the bending strength was further pre-cured. 200 to Tusya Kutska (121℃, 2.2atm)
The bending strength was measured after being left for a period of time. (3) Adhesion with Si chips: After mounting a Si chip with a side of 4 mm and a thickness of 0.3 mm on a 14 PIN DIP frame, it was molded and sealed with the above composition (molding conditions; ), and post-cure was performed at 180°C for 4 hours. After that, the sealing resin was broken without destroying the Si chip, and the degree of bonding of the resin on the surface of the Si chip was examined and indicated by ○, △, and ×. ○...Very good △...Good ×...Poor (4) Formability; A disk with a diameter of 100 mm and a thickness of 2 mm was molded (molding conditions; same as above), and the gap between the molds during this molding was The presence or absence of burrs generated on the surface of the molded product and oozing of silicone compounds onto the surface of the molded product was investigated. ○...No burrs or oozes ×...There are burrs or oozes

【表】【table】

【表】 実施例 4 アルミニウム配線(膜厚1μ、線巾10μ)を施
したSiチツプを14 PIN DIPのフレームにマウン
トした後、上記した組成物1,2,3,4,6お
よび7で成形封止し180℃で4時間ポストキユア
ーを行なつた。その後プレツシヤークツカーに放
置し、アルミニウム配線のオープン不良を測定し
たところ、第1図に示すような結果が得られた。 以上の結果から本発明に係る組成物1〜5はプ
レツシヤークツカー試験200時間放置後でも体積
抵抗率、曲げ強さのいずれにも劣化が少ないのに
対し対照品である組成物は体積抵抗率の劣化が大
きく、また組成物7は曲げ強さの劣化が大きく、
Siチツプとの接着性も組成物1〜5がすぐれてい
ることが確認された。 また、第2表および第3表からシリコーン化合
物の使用量が少ないものはプレツシヤークツカー
200時間後の物性の変化が大きく、逆に多いもの
は成形性に劣ることがわかる。 さらに第1図から組成物6,7(対照品)に比
べ、Siチツプとの接着性が向上している組成物1
〜4(本発明品)はアルミニウム配線の腐触時間
が遅くなつていることがわかる。
[Table] Example 4 A Si chip with aluminum wiring (film thickness 1μ, line width 10μ) was mounted on a 14 PIN DIP frame, and then molded with the above compositions 1, 2, 3, 4, 6 and 7. It was sealed and post-cured at 180°C for 4 hours. Thereafter, it was left in a pressure vacuum cleaner and open defects in the aluminum wiring were measured, and the results shown in FIG. 1 were obtained. From the above results, Compositions 1 to 5 according to the present invention show little deterioration in volume resistivity and bending strength even after being left for 200 hours in the Pressure-Yakutsker test, while the control composition Composition 7 had a large deterioration in resistivity, and composition 7 had a large deterioration in bending strength.
It was confirmed that compositions 1 to 5 had excellent adhesion to Si chips. In addition, from Tables 2 and 3, products with a small amount of silicone compounds are pressurized
It can be seen that the change in physical properties after 200 hours is large, and conversely, those with a large change have poor moldability. Furthermore, as can be seen from Figure 1, Composition 1 has improved adhesion to Si chips compared to Compositions 6 and 7 (control products).
It can be seen that in samples 4 to 4 (products of the present invention), the corrosion time of the aluminum wiring was delayed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明品および対照品についての
Al配線腐触試験結果を示すグラフである。 曲線1〜4…本発明品、曲線6〜7…対照品。
Figure 1 shows the results of the present invention and control products.
It is a graph showing the results of an Al wiring corrosion test. Curves 1 to 4...Products of the present invention, Curves 6 to 7...Control products.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 (イ) フエノール硬化性エポキシ樹脂100重量
部、 (ロ) 無機質充填剤100〜500重量部および (ハ) 下記式(i)または(ii)で示されるシリコーン化合
物から選択される1種もしくは2種以上の混合
物 0.05〜10重量部 からなるエポキシ樹脂組成物 (ii) R2 xR3 yYzSiO〓〓〓〓 式中のR1は炭素数1〜4のアルキル基または
フエニル基、R2は式 または【式】から選択される基 (こゝにR4はハロゲン原子または炭素数1〜
4のアルキル基、rは0または1、Zは水素原子
またはグリシジル基)、R3は炭素数1〜4のアル
キル基、フエニル基、式 H2N―CH2CH2CH2、―、NH2―CH2CH2CH2
NH―CH2CH2CH2―、またはHS―CH2CH2CH2
で示される基から選択される基、Xはハロゲン原
子、炭素数1〜4のアルキル基または1〜4のア
ルコキシ基、Yは水酸基または加水分解可能な
基、lは1,2または3,mは0,1,2または
3,nは0,1または2,pは1,2または3で
p+m≦5、xは0.2〜2.5、yは0〜2.5、x+y
は0.2〜2.5、zは0.02〜3、x+y+zは0.2〜
4.0である。
[Scope of Claims] 1. Selected from (a) 100 parts by weight of a phenol-curable epoxy resin, (b) 100 to 500 parts by weight of an inorganic filler, and (c) a silicone compound represented by the following formula (i) or (ii). An epoxy resin composition consisting of 0.05 to 10 parts by weight of one type or a mixture of two or more types. (ii) R 2 x R 3 y Y z SiO〓〓〓〓 In the formula, R 1 is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms or a phenyl group, and R 2 is the formula or a group selected from [Formula] (where R 4 is a halogen atom or a group having 1 to 1 carbon atoms)
4 alkyl group, r is 0 or 1, Z is a hydrogen atom or glycidyl group), R 3 is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, phenyl group, formula H 2 N―CH 2 CH 2 CH 2 ,―, NH 2 ―CH 2 CH 2 CH 2
NH―CH 2 CH 2 CH 2 ― or HS―CH 2 CH 2 CH 2
A group selected from the groups represented by, X is a halogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, Y is a hydroxyl group or a hydrolyzable group, l is 1, 2 or 3, m is 0, 1, 2 or 3, n is 0, 1 or 2, p is 1, 2 or 3, p+m≦5, x is 0.2-2.5, y is 0-2.5, x+y
is 0.2~2.5, z is 0.02~3, x+y+z is 0.2~
It is 4.0.
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