JPS6228511B2 - - Google Patents

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JPS6228511B2
JPS6228511B2 JP57222078A JP22207882A JPS6228511B2 JP S6228511 B2 JPS6228511 B2 JP S6228511B2 JP 57222078 A JP57222078 A JP 57222078A JP 22207882 A JP22207882 A JP 22207882A JP S6228511 B2 JPS6228511 B2 JP S6228511B2
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JP
Japan
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pdas
silicone resin
bubble memory
memory device
solution
Prior art date
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Application number
JP57222078A
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Japanese (ja)
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JPS59112487A (en
Inventor
Shiro Takeda
Minoru Nakajima
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication of JPS6228511B2 publication Critical patent/JPS6228511B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/14Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 技術分野 本発明は配線層間絶縁材料および/または保護
膜としてシリコーン樹脂溶液を塗布し硬化させ
る、バブルメモリ装置の製法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (1) Technical Field The present invention relates to a method for manufacturing a bubble memory device in which a silicone resin solution is applied and cured as an interlayer insulation material and/or a protective film.

(2) 技術の背景 バブルメモリ装置は高度の信頼性を長期にわた
つて要求するものであるが、これに使用する絶縁
材料または保護膜に微量の電解質が存在すると電
食による不良を生じて寿命を短縮する。
(2) Background of the technology Bubble memory devices require a high degree of reliability over a long period of time, but if a small amount of electrolyte is present in the insulating material or protective film used in the device, defects due to electrolytic corrosion may occur and the service life may be shortened. shorten.

(3) 従来技術と問題点 バブルメモリ装置の絶縁材料または保護膜とし
ては、テトラアルコキシシランの加水分解重縮合
物であるPDASの溶液を塗布し、加熱してSiO2
を形成することが行なわれている。
(3) Prior art and problems As an insulating material or protective film for bubble memory devices, a solution of PDAS, which is a hydrolyzed polycondensate of tetraalkoxysilane, is applied and heated to form an SiO 2 film. It is.

テトラアルコキシシランSi(OR)4(式中、R
はCnH2o+1、たとえばメチル、エチル、プロピ
ル、ブチルなどである)は反応促進剤の酸の存在
で、加水分解、重縮合を次式のように行う。
Tetraalkoxysilane Si(OR) 4 (in the formula, R
(CnH 2o+1 , such as methyl, ethyl, propyl, butyl, etc.) undergoes hydrolysis and polycondensation in the presence of a reaction promoter acid as shown in the following equation.

Si(OR)4+2H2O→Si(OR)2(OH)2+2ROH ……(1) nSi(OR)2(OH)2→HO〔−Si(OR)2O〕−oH+(n−1)H2O ……(2) 式(2)の反応の他に、脱アルコールし、≡Si
(OH)基に変化してゲル化する反応がおき易
い。
Si(OR) 4 +2H 2 O→Si(OR) 2 (OH) 2 +2ROH ……(1) nSi(OR) 2 (OH) 2 →HO[−Si(OR) 2 O]− o H+(n− 1) H 2 O ……(2) In addition to the reaction of formula (2), dealcoholization is performed and ≡Si
It easily undergoes a reaction where it changes into (OH) group and gels.

PDASはゲル化を防止するために、常に有機溶
剤に溶解して、反応させたり、保存する。
To prevent gelation, PDAS is always dissolved in an organic solvent during reaction or storage.

反応促進剤の酸は塩酸とし、モノマーの重量に
対して塩化水素0.05〜0.5%を加えることが多
い。塩化水素は塗膜の加熱硬化において揮化除去
できることを利用するためである。然し、長期に
わたるバイアス試験においては、アルミニウム配
線、およびパーマロイ膜を電食するらしく、これ
による不良がおきる。これは微量の塩化水素が残
留するためと考えられる。
The reaction accelerator acid is hydrochloric acid, and 0.05 to 0.5% hydrogen chloride is often added to the weight of the monomer. This is to take advantage of the fact that hydrogen chloride can be removed by volatilization during heat curing of the coating film. However, in long-term bias tests, the aluminum wiring and permalloy film appear to be electrolytically corroded, resulting in defects. This is thought to be due to a trace amount of hydrogen chloride remaining.

塩化水素の除去は、一般に水洗によつて可能で
ある。しかしPDASは、≡Si(OR)基が≡Si
(OH)基に変化し易く、これが多くなるとゲル
化したり、洗浄水相にPDASが分配される。アル
コール類を溶剤とすれば、洗浄水相に移行して損
失するので、アルコールは塩化水素の除去に利用
できない。
Removal of hydrogen chloride is generally possible by washing with water. However, in PDAS, the ≡Si(OR) group is ≡Si
It easily converts into (OH) groups, and if there are too many of them, it will gel or PDAS will be distributed in the washing water phase. If alcohol is used as a solvent, it will be lost in the washing aqueous phase, so alcohol cannot be used to remove hydrogen chloride.

なお揮発性の塩化水素は、蒸留分離することが
可能であるが、蒸留温度を高くすれば、PDASが
ゲル化するので実施できない。
Volatile hydrogen chloride can be separated by distillation, but this is not possible because PDAS will gel if the distillation temperature is increased.

表面保護材用の塗布液としては、PDAS単独の
みでなく、他のシリコーン樹脂との混合溶液を使
用することもできる。混合するシリコーン樹脂
は、たとえばアルキルトリアルコキシシランの加
水分解生成物(特開昭48−81928号および特開昭
48−26822号参照)、ポリシルセスキオキサンプレ
ポリマー(特開昭54−171005号参照)があり、後
者はバブルメモリの保護または配線層間の絶縁に
使用することを本発明者らが開示している。また
この混合溶液に使用する有機溶媒としては、ブチ
ルセロソルブアセテート、エチルセロソルブアセ
テート、メチルセロソルブアセテート、n−ブチ
ルアルコール(特開昭55−158114号参照)を使用
することによつて均一な塗膜をうることを本発明
者らが開示している。
As the coating liquid for the surface protection material, not only PDAS alone but also a mixed solution with other silicone resins can be used. The silicone resin to be mixed is, for example, a hydrolysis product of alkyltrialkoxysilane (JP-A-48-81928 and JP-A-Sho.
48-26822) and polysilsesquioxane prepolymer (see JP-A-54-171005), and the present inventors have disclosed that the latter is used to protect bubble memories or insulate between wiring layers. There is. Furthermore, as the organic solvent used in this mixed solution, butyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, methyl cellosolve acetate, and n-butyl alcohol (see JP-A-55-158114) can be used to obtain a uniform coating film. The present inventors have disclosed that.

(4) 発明の目的 本発明の目的は、長期間にわたつて電食不良を
おこすことのない保護剤および/または配線層間
絶縁材料を形成するバブルメモリ装置およびその
製法を提供することである。
(4) Object of the Invention An object of the invention is to provide a bubble memory device that forms a protective agent and/or a wiring interlayer insulating material that does not cause electrolytic corrosion defects over a long period of time, and a method for manufacturing the same.

(5) 発明の構成 本発明の上記目的は、磁気バブルメモリを保持
しうる磁性基板と、該基板上に形成された導電体
パターンと、軟磁性体パターンと、シリコーン樹
脂の、該導電体パターンもしくは該軟磁性体パタ
ーンの配線層間絶縁材料、および/またはシリコ
ーン樹脂の保護膜とを有するバブルメモリ装置に
おいて、上記シリコーン樹脂の配線層間絶縁材料
および/または保護膜が、ポリジアルコキシシラ
ン単独、またはこれとポリシルセスキオキサンと
の混合物の硬化物であることを特徴とするバブル
メモリ装置、ならびに、シリコーン樹脂を配線層
間絶縁材料および/または保護膜とするバブルメ
モリ装置の製法であつて、テトラアルコキシシラ
ンを塩化水素の存在下で加水分解し重縮合させて
ポリジアルコキシシランプレポリマー(PDAS)
とし、このPDASを沸点110℃以上の有機溶剤に
溶解し、得た溶液を温度40℃以下かつ圧力5mm
Hg以下の減圧として塩化水素を逐出し、得出
PDAS溶液単独、またはこの溶液にポリシルセス
キオキサンプレポリマーを混合した溶液を、ガー
ネツト基板上の金属膜に塗布し、硬化させ、シリ
コーン樹脂の絶縁材料および/または保護膜を形
成することを特徴とする、バブルメモリ装置の製
法によつて達成することができる。
(5) Structure of the Invention The above object of the present invention is to provide a magnetic substrate capable of holding a magnetic bubble memory, a conductive pattern formed on the substrate, a soft magnetic material pattern, and a silicone resin conductive pattern. Or, in the bubble memory device having the wiring interlayer insulating material of the soft magnetic material pattern and/or the protective film of silicone resin, the silicone resin wiring interlayer insulating material and/or the protective film is polydialkoxysilane alone or polydialkoxysilane alone. A bubble memory device characterized by being a cured product of a mixture of polysilsesquioxane and polysilsesquioxane, and a method for producing a bubble memory device using a silicone resin as an interlayer insulation material and/or a protective film, the method comprising: Polydialkoxysilane prepolymer (PDAS) is produced by hydrolyzing and polycondensing silane in the presence of hydrogen chloride.
Dissolve this PDAS in an organic solvent with a boiling point of 110°C or higher, and heat the resulting solution at a temperature of 40°C or lower and a pressure of 5 mm.
Hydrogen chloride is removed by reducing the pressure below Hg and obtained
The PDAS solution alone or a solution containing polysilsesquioxane prepolymer mixed with this solution is applied to the metal film on the garnet substrate and cured to form a silicone resin insulating material and/or protective film. This can be achieved by a bubble memory device manufacturing method.

この有機溶剤に溶解したPDASは0.5〜3.0mmHg
の減圧下で塩化水素を逐出すことが有利である。
このとき温度5〜28℃で塩化水素を逐出すことが
好ましい。
PDAS dissolved in this organic solvent is 0.5-3.0mmHg
It is advantageous to drive off the hydrogen chloride under reduced pressure.
At this time, it is preferable to drive out hydrogen chloride at a temperature of 5 to 28°C.

使用する有機溶剤は、メチルセロソルブアセテ
ート、エチルセロソルブアセテート、ブチルセロ
ソルブアセテート、n−ブチルアルコールまたは
そのいずれかを含む混合有機溶剤を使用すること
が便宜である。
As the organic solvent used, it is convenient to use methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, butyl cellosolve acetate, n-butyl alcohol, or a mixed organic solvent containing any of them.

0.2%HCl、15%PDASのエチルアルコール溶液
100重量部にメチルセロソルブアセテート、エチ
ルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセ
テートをそれぞれ150、130、100重量を混合した
3種類の溶液を、圧力3.0mmHg、温度25℃で減圧
蒸留し、硝酸銀で塩素イオン検出できない溶液と
した。残つたセロソルブアセテートの量はそれぞ
れ初めに加えた量の48%、76%、98%であつた。
これらのセロソルブアセテートの沸点はそれぞれ
144.5〜145.1℃、156.3℃、191.5℃であり、従来
知られたPDASの溶剤である。なお沸点117.7℃
のn−ブチルアルコールを溶剤とした場合に、硝
酸銀で塩素イオン検出できなくなるまで減圧蒸留
した後の残量は45%であり、本発明において使用
することが可能である。しかし沸点107.9℃のイ
ソブチルアルコールは同様な処理において残量は
25%に減少するので、適当ではない。
0.2% HCl, 15% PDAS in ethyl alcohol
Three types of solutions in which 100 parts by weight of methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, and butyl cellosolve acetate were mixed at 150, 130, and 100 parts by weight, respectively, were distilled under reduced pressure at a pressure of 3.0 mmHg and a temperature of 25°C to obtain a solution in which chloride ions could not be detected with silver nitrate. And so. The amounts of cellosolve acetate remaining were 48%, 76%, and 98% of the amounts originally added, respectively.
The boiling points of these cellosolve acetates are
144.5-145.1°C, 156.3°C, and 191.5°C, and is a conventionally known PDAS solvent. The boiling point is 117.7℃
When using n-butyl alcohol as a solvent, the remaining amount after vacuum distillation with silver nitrate until chloride ions can no longer be detected is 45%, which can be used in the present invention. However, the remaining amount of isobutyl alcohol with a boiling point of 107.9℃ is
This is not appropriate as it decreases to 25%.

沸点110℃以上の有機溶剤として、上記アルコ
ール系、セロソルブアセテート系の他、セロソル
ブ系、ケトン系の溶剤がPDASを溶解する。ポリ
シルセスキオキサンプレポリマーと混合するとき
はケトン系溶剤はこのプリマーとの相溶性に問題
があるので、上記の他はセロソルブ系溶剤を使用
することが好ましい。なおPDAS単独処理の場合
にはケトン系および、アルコール系と混合した芳
香族炭化水素を使用することができる。
As organic solvents with a boiling point of 110° C. or higher, in addition to the above-mentioned alcohol-based and cellosolve acetate-based solvents, cellosolve-based and ketone-based solvents dissolve PDAS. When mixed with the polysilsesquioxane prepolymer, since ketone solvents have a problem in compatibility with the primer, it is preferable to use cellosolve solvents in addition to the above. Note that in the case of PDAS treatment alone, aromatic hydrocarbons mixed with ketones and alcohols can be used.

本発明において、PDASと混合して使用できる
ポリセスキオキサンプレポリマーには特に限定は
ない。このプレポリマーはR′SiCl3をたとえばメ
チルイソブチルケトンに溶解し、トリエチルアミ
ンのような塩酸受容体を加えた後、水を加えて
R′Si(OH)3を得る。R′Si(OH)3は加熱して重縮
合させ、水洗後濃縮し、メチルアルコールのよう
な沈殿剤を加えれば、白色粉末のHO(−R′SiO1.5
)−Hを得る。R′Si(OR)3の重縮合は塩酸を加え
て促進するが、R′SiCl3から出発するときはHCl
を含むのでその必要はない。
In the present invention, there are no particular limitations on the polysesquioxane prepolymer that can be used in combination with PDAS. This prepolymer is prepared by dissolving R′SiCl 3 in, for example, methyl isobutyl ketone, adding a hydrochloric acid acceptor such as triethylamine, and then adding water.
R′Si(OH) 3 is obtained. R′Si(OH) 3 is polycondensed by heating, washed with water, concentrated, and a precipitant such as methyl alcohol is added to form white powder HO(−R′SiO 1 . 5
)-H is obtained. Polycondensation of R′Si(OR) 3 is promoted by adding hydrochloric acid, but when starting from R′SiCl 3 , HCl
There is no need to do so since it includes

ポリシルセスキオキサンプレポリマーの分子構
造は、R′SiCl3から出発すると、式(3)のように比
較的完全な梯子構造を有し(特開昭53−88099号
参照)、R′Si(OR)3から出発すると、式(4)のよう
に部分的な梯子構造を有する(武田志郎他、日本
化学会第44回秋季年会予稿集、582頁、昭和56
年)。
The molecular structure of polysilsesquioxane prepolymer starts from R′SiCl 3 and has a relatively complete ladder structure as shown in formula (3) (see JP-A-53-88099), and R′Si( OR) Starting from 3 , it has a partial ladder structure as shown in formula (4) (Shiro Takeda et al., Proceedings of the 44th Autumn Annual Meeting of the Chemical Society of Japan, p. 582, 1982)
Year).

式中、Rは低級アルキル基または一部水素基で
あり、R′は低級アルキル基またはフエニル基で
ある。m、nは正の整数であり、mは0を含む10
以下であることが多い。
In the formula, R is a lower alkyl group or a partially hydrogen group, and R' is a lower alkyl group or a phenyl group. m, n are positive integers, m is 10 including 0
It is often less than or equal to

本発明においては、これらのポリシルセスキオ
キサンプレポリマーをPDASと混合することがで
き、その混合比に限定はない。いずれにしても
PDASに塩化水素が含まれている。従つて、バブ
ルメモリー装置の保護膜または配線層間絶縁材料
とするには、重縮合中に塩化水素を逐出す必要が
ある。なお他の気相成長法による無機酸化膜と併
用することが望ましい。たとえば、アルミニウム
配線上に本発明の樹脂層を形成し、その上に気相
成長酸化膜を形成するか、またはその逆としても
よい。あるいはリフトオフ法によつて気相成長膜
を配線層間に形成した上に本発明の樹脂層を形成
することもできる。
In the present invention, these polysilsesquioxane prepolymers can be mixed with PDAS, and the mixing ratio is not limited. In any case
PDAS contains hydrogen chloride. Therefore, in order to use it as a protective film for a bubble memory device or as an interlayer insulation material for wiring, it is necessary to drive out hydrogen chloride during polycondensation. Note that it is desirable to use it in combination with an inorganic oxide film formed by other vapor phase growth methods. For example, the resin layer of the present invention may be formed on the aluminum wiring, and a vapor-phase grown oxide film may be formed thereon, or vice versa. Alternatively, the resin layer of the present invention may be formed on a vapor-phase growth film formed between wiring layers by a lift-off method.

(6) 実施例および比較例 重量平均分子量(ゲルパーミエーシヨンクロマ
トグラフによる標準ポリスチレンへの換算値以下
という)が5400、官能基がエトキシ基と水酸
基であつて、そのモル比が約1:1である
PDAS15.5重量%およびHCl0.2重量%を含む、エ
チルアルコールとイソプロピルアルコールの重量
比約3:2の混合溶液(以下PDAS溶液−とい
う)100gを、500ml用ナス型フラスコに採り、ブ
チルセロソルブアセテート84.5gを加えた。この
フラスコを傾斜45゜に設置し、ロータリーエバポ
レータに接続して60rpmで回転させた。次にフラ
スコを浴温25℃の水槽に入れ、真空ポンプで2.0
mmHgに減圧し、4時間減圧処理した。ドライア
イス・エチルアルコールのトラツプに、溶剤86.1
gが捕集され、残留溶液は98.4gであり、これに
n−ブチルセロソルブアセテート1.6gを加えて
PDAS溶液−を得た。
(6) Examples and Comparative Examples The weight average molecular weight (referred to as below the value converted to standard polystyrene by gel permeation chromatography) is 5400, and the functional groups are ethoxy groups and hydroxyl groups, and the molar ratio is approximately 1:1. is
100 g of a mixed solution of ethyl alcohol and isopropyl alcohol in a weight ratio of approximately 3:2 (hereinafter referred to as PDAS solution) containing 15.5% by weight of PDAS and 0.2% by weight of HCl was placed in a 500ml eggplant-shaped flask, and 84.5% of butyl cellosolve acetate was added. g was added. The flask was set at an angle of 45°, connected to a rotary evaporator, and rotated at 60 rpm. Next, put the flask in a water bath with a bath temperature of 25℃, and use a vacuum pump to
The pressure was reduced to mmHg and the pressure was treated under reduced pressure for 4 hours. Solvent 86.1 for dry ice/ethyl alcohol traps
g was collected and the residual solution was 98.4 g, to which 1.6 g of n-butyl cellosolve acetate was added.
A PDAS solution was obtained.

このPDAS溶液−1gを試験管にとり、0.1
重量%硝酸銀水溶液2gを加えて振盪したとこ
ろ、やがて有機相の管壁に白色ゲル化物が付着
し、水相は銀の茶褐色を帯びたが、白色沈殿を生
じなかつた。また残りのPDAS溶液−を水で抽
出洗浄し、フラスコ中で燃焼させたあとチオシア
ン酸第二水銀法によつて塩素を検出しようとした
が、検出限界の10ppm以下であつた。
Take 1 g of this PDAS solution in a test tube and
When 2 g of a wt % silver nitrate aqueous solution was added and the mixture was shaken, a white gelled substance eventually adhered to the tube wall of the organic phase, and the aqueous phase became silvery brown, but no white precipitate was formed. Further, the remaining PDAS solution was extracted and washed with water, burned in a flask, and an attempt was made to detect chlorine using the mercuric thiocyanate method, but the detection limit was 10 ppm or less.

他方PDAS溶液−1gを試験管にとり、0.1
重量%硝酸銀1滴を加えて振盪したところ、白濁
した。さらに水とn−ブチルセロソルブアセテー
トを3gずつ加えたところ、白濁はほとんど水相
に移行し、PDASゲル化物は有機相に移行した。
On the other hand, take 1 g of PDAS solution in a test tube and add 0.1
When one drop of weight percent silver nitrate was added and shaken, the mixture became cloudy. Furthermore, when 3 g each of water and n-butyl cellosolve acetate were added, most of the white turbidity was transferred to the aqueous phase, and the PDAS gelled product was transferred to the organic phase.

エピタキシヤル層の形成されたガーネツト基板
上に1000ÅのSiO2層を形成し、さらに4000Åの
アルミニウム配線層を形成したウエハ上に、
PDAS溶液−を2000rpm、30秒間回転塗布し、
300℃、60分間窒素中で熱処理した。次に800Åの
SiO2層をスパツタリング形成し、さらに4000Å
のパーマロイ膜を形成してパターニングし、この
上に再びPDAS溶液−を同様に回転塗布した
上、10000ÅのSiO2層をスパツタリング形成し、
電極取出し用窓をあけてバブルメモリ装置を得
た。この装置は温度80℃、相対湿度95%において
電圧24Vを印加したバイアス試験を1000時間継続
したが、動作不良は生じなかつた。
A 1000 Å SiO 2 layer was formed on a garnet substrate with an epitaxial layer formed on it, and a 4000 Å aluminum wiring layer was further formed on the wafer.
Rotate the PDAS solution at 2000 rpm for 30 seconds,
Heat treatment was performed at 300°C for 60 minutes in nitrogen. Then 800Å
Sputtering SiO 2 layer and further 4000Å
A permalloy film was formed and patterned, and a PDAS solution was again spin-coated on top of this, and a 10,000 Å SiO 2 layer was sputtered.
A bubble memory device was obtained by opening a window for taking out the electrodes. This device underwent a bias test with a voltage of 24V applied for 1000 hours at a temperature of 80°C and a relative humidity of 95%, but no malfunction occurred.

比較例 1 PDAS溶液−の代わりにPDAS溶液−を
3000rpm、30秒間回転塗布した他は、実施例1と
同様にしてバブルメモリ装置を得た。
Comparative Example 1 Using PDAS solution instead of PDAS solution
A bubble memory device was obtained in the same manner as in Example 1, except that spin coating was performed at 3000 rpm for 30 seconds.

このバブルメモリ装置を実施例1と同様にして
バイアス試験したところ、パーマロイの変質が原
因と思われる動作不良を起こした。また配線層間
のみにPDAS溶液−を塗布、熱処理したバブル
メモリ装置は、同様のバイアス試験500時間後に
動作不良を起こした。
When this bubble memory device was subjected to a bias test in the same manner as in Example 1, malfunction occurred, which was thought to be caused by deterioration of the permalloy. In addition, a bubble memory device in which a PDAS solution was applied and heat treated only between wiring layers malfunctioned after 500 hours of a similar bias test.

実施例 2 が3100、官能基がメチル基と水酸基でその
モル比が約2:1であるPDAS11.4重量%、
HCl0.05重量%を含む、メチルエチルケトンとメ
チルアルコールの重量比約7:3の混合溶液であ
るPDAS溶液−100gに、n−ブチルセロソル
ブアセテート20g、n−ブチルアルコール6gを
加え、実施例1と同様に減圧蒸留してPDAS溶液
を得た。
Example 2 is 3100, 11.4% by weight of PDAS whose functional groups are methyl group and hydroxyl group in a molar ratio of about 2:1,
20 g of n-butyl cellosolve acetate and 6 g of n-butyl alcohol were added to 100 g of PDAS solution, which is a mixed solution of methyl ethyl ketone and methyl alcohol at a weight ratio of about 7:3, containing 0.05% by weight of HCl, and the same procedure as in Example 1 was carried out. A PDAS solution was obtained by distillation under reduced pressure.

この溶液に、10600の式(4)で表わされる、
R′がメチル基、Rがエチル基と水酸基で、その
モル比が約1:1、mの平均値が2.1であるポリ
セスキオキサンプレポリマー11.4gと、n−ブチ
ルアルコール5.8gを加して溶解させ、混合シリ
コーン溶液−を得た。この溶液は実施例1と同
様なチオシアン酸第二水銀法による試験によつて
塩素イオンを検出できなかつた。
In this solution, expressed by the formula (4) of 10600,
11.4 g of polysesquioxane prepolymer in which R' is a methyl group, R is an ethyl group and a hydroxyl group, the molar ratio is about 1:1, and the average value of m is 2.1, and 5.8 g of n-butyl alcohol are added. The mixture was dissolved to obtain a mixed silicone solution. No chloride ions were detected in this solution when tested using the same mercuric thiocyanate method as in Example 1.

この混合シリコーン溶液を使用して、
6000rpm、90秒回転塗布したことの他は、実施例
1と同様にしてバブルメモリ装置を得、実施例1
のバイアス試験1000時間後も不良は発生しなかつ
た。
Using this mixed silicone solution,
A bubble memory device was obtained in the same manner as in Example 1, except that spin coating was performed at 6000 rpm for 90 seconds.
No defects occurred even after 1000 hours of bias testing.

比較例 2 PDAS溶液−の代わりに、PDAS溶液−を
使用した他は、実施例2と同様にしてポリセスキ
オキサンプレポリマーを混合した混合シリコーン
溶液−を使用した。この溶液はチオシアン酸第
二水銀法による試験によつて塩素イオンを検出で
きなかつたが実施例2と同様なバブルメモリ装置
を製造し、実施例1のバイアス試験を行なつたと
ころ、120時間後に電食不良が発生した。
Comparative Example 2 A mixed silicone solution mixed with a polysesquioxane prepolymer was used in the same manner as in Example 2, except that the PDAS solution was used instead of the PDAS solution. Although no chloride ions could be detected in this solution when tested using the mercuric thiocyanate method, a bubble memory device similar to that of Example 2 was manufactured and the bias test of Example 1 was conducted, and after 120 hours, Electrolytic corrosion failure occurred.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 磁気バブルメモリを保持しうる磁性基板と、
該基板上に形成された導電体パターンと、軟磁性
体パターンと、シリコーン樹脂の、該導電体パタ
ーンもしくは該軟磁性体パターンの配線層間絶縁
材料、および/またはシリコーン樹脂の保護膜と
を有するバブルメモリ装置において、上記シリコ
ーン樹脂の配線層間絶縁材料および/または保護
膜が、ポリジアルコキシシラン単独、またはこれ
とポリシルセスキオキサンとの混合物の硬化物で
あることを特徴とするバブルメモリ装置。 2 上記導電体配線層もしは上記軟磁性体配線層
と、前記シリコーン樹脂の配線層間絶縁材料およ
び/または保護膜との間の少くともいずれかに、
無機絶縁層を介在させたことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のバブルメモリ装置。 3 前記磁性基板が無機絶縁層を形成したガーネ
ツト基板である特許請求の範囲第1項記載のバブ
ルメモリ装置。 4 シリコーン樹脂を配線層間絶縁材料および/
または保護膜とするバブルメモリ装置の製法であ
つて、テトラアルコキシシランを塩化水素の存在
下で加水分解し重縮合させてポリジアルコキシシ
ランプレポリマー(以下PDASという)とし、こ
のPDASを沸点110℃以上の有機溶剤に溶解し、
得た溶液を温度40℃以下かつ圧力5mmHg以下の
減圧として塩化水素を逐出し、得たPDAS溶液単
独、またはこの溶液にポリシルセスキオキサンプ
レポリマーを混合した溶液をガーネツト基板上の
金属膜に塗布し、硬化させ、シリコーン樹脂の絶
縁材料および/または保護膜を形成することを特
徴とする、バブルメモリ装置の製法。 5 前記有機溶剤に溶解したPDASを0.5〜3.0mm
Hgの減圧下で塩化水素を逐出す、特許請求の範
囲第4項記載の製法。 6 温度5〜28℃で塩化水素を逐出す、特許請求
の範囲第4項または第5図記載の製法。 7 有機溶剤は、メチルセロソルブアセテート、
エチルセロソルブアセテート、n−ブチルセロソ
ルブアセテート、メチルセロソルブ、エチルセロ
ソルブ、またはn−ブチルアルコールである、特
許請求の範囲第4項〜第6項のいずれかに記載の
製法。
[Claims] 1. A magnetic substrate capable of holding a magnetic bubble memory;
A bubble having a conductor pattern formed on the substrate, a soft magnetic material pattern, a wiring interlayer insulating material of the conductive material pattern or the soft magnetic material pattern made of silicone resin, and/or a protective film of silicone resin. A bubble memory device characterized in that the silicone resin interlayer insulating material and/or the protective film is a cured product of polydialkoxysilane alone or a mixture of polydialkoxysilane and polysilsesquioxane. 2. At least one of the conductive wiring layer or the soft magnetic wiring layer and the silicone resin wiring interlayer insulating material and/or protective film,
The bubble memory device according to claim 1, characterized in that an inorganic insulating layer is interposed. 3. The bubble memory device according to claim 1, wherein the magnetic substrate is a garnet substrate on which an inorganic insulating layer is formed. 4 Silicone resin is used as wiring interlayer insulation material and/or
Or, a method for producing a bubble memory device as a protective film, in which tetraalkoxysilane is hydrolyzed and polycondensed in the presence of hydrogen chloride to form a polydialkoxysilane prepolymer (hereinafter referred to as PDAS), and this PDAS has a boiling point of 110°C or higher. dissolved in an organic solvent of
The obtained solution is depressurized to a temperature of 40°C or less and a pressure of 5 mmHg or less to remove hydrogen chloride, and the obtained PDAS solution alone or a mixture of this solution and a polysilsesquioxane prepolymer is applied to the metal film on the garnet substrate. 1. A method for manufacturing a bubble memory device, comprising: curing the silicone resin to form an insulating material and/or a protective film of silicone resin. 5 0.5 to 3.0 mm of PDAS dissolved in the organic solvent
The manufacturing method according to claim 4, wherein hydrogen chloride is expelled under reduced pressure of Hg. 6. The manufacturing method according to claim 4 or FIG. 5, in which hydrogen chloride is expelled at a temperature of 5 to 28°C. 7 The organic solvent is methyl cellosolve acetate,
The manufacturing method according to any one of claims 4 to 6, which is ethyl cellosolve acetate, n-butyl cellosolve acetate, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, or n-butyl alcohol.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5495132A (en) * 1978-01-13 1979-07-27 Hitachi Ltd Production of magnetic bubble memory unit
JPS5522293A (en) * 1978-08-07 1980-02-16 Hitachi Ltd Magnetic bubble memory element
JPS5545159A (en) * 1978-09-27 1980-03-29 Hitachi Ltd Magnetic bubble memory element
JPS57122508A (en) * 1981-01-23 1982-07-30 Nec Corp Manufacture magnetic bubble device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5495132A (en) * 1978-01-13 1979-07-27 Hitachi Ltd Production of magnetic bubble memory unit
JPS5522293A (en) * 1978-08-07 1980-02-16 Hitachi Ltd Magnetic bubble memory element
JPS5545159A (en) * 1978-09-27 1980-03-29 Hitachi Ltd Magnetic bubble memory element
JPS57122508A (en) * 1981-01-23 1982-07-30 Nec Corp Manufacture magnetic bubble device

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