JPS62285059A - 鋳鉄管黒鉛化腐食深さの非破壊測定装置および測定方法 - Google Patents
鋳鉄管黒鉛化腐食深さの非破壊測定装置および測定方法Info
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- JPS62285059A JPS62285059A JP12736386A JP12736386A JPS62285059A JP S62285059 A JPS62285059 A JP S62285059A JP 12736386 A JP12736386 A JP 12736386A JP 12736386 A JP12736386 A JP 12736386A JP S62285059 A JPS62285059 A JP S62285059A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の詳細な説明
（産業上の利用分野）
本発明は地中あるいは水中に長時間埋設されている鋳鉄
管に発生する黒鉛管腐食の深さを非破壊で測定する非破
壊測定装置に関するものである。
管に発生する黒鉛管腐食の深さを非破壊で測定する非破
壊測定装置に関するものである。
（従来技術）
地中あるいは水中に埋設されている鋳鉄管はその表面か
ら鉄が選択的に消失し黒鉛層だけが残るいわゆる黒鉛化
腐食と呼ばれる現象が起ることが知られている。
ら鉄が選択的に消失し黒鉛層だけが残るいわゆる黒鉛化
腐食と呼ばれる現象が起ることが知られている。
この黒鉛化腐食は鋳鉄管内を通過する流体の漏洩の原因
とはなるばかりでなく外部からの荷重に対する強度が十
分でないため折損等の原因となりやすいので、管掘り上
げ時などに黒鉛化腐食の深さを調査する必要がある。
とはなるばかりでなく外部からの荷重に対する強度が十
分でないため折損等の原因となりやすいので、管掘り上
げ時などに黒鉛化腐食の深さを調査する必要がある。
そこで従来黒鉛化腐食の深さを測定する方法として最も
一般的に行なわれている方法は、へンマーなどにより黒
鉛化腐食部を殴打して除去しデプスゲージにより測定す
る方法であるが、測定に多大の労力と時間を要し、測定
結果に個人差が大きく、さらには鋳鉄管の折損をもたら
す危険性があるなどの欠点がある。またその他の方法と
して超音波を利用する方法もあるが、鋳鉄管を切断して
水中て内面から測定しなければならないために測定の準
備に手間がかかって実用性に欠けるという闇題があった
。
一般的に行なわれている方法は、へンマーなどにより黒
鉛化腐食部を殴打して除去しデプスゲージにより測定す
る方法であるが、測定に多大の労力と時間を要し、測定
結果に個人差が大きく、さらには鋳鉄管の折損をもたら
す危険性があるなどの欠点がある。またその他の方法と
して超音波を利用する方法もあるが、鋳鉄管を切断して
水中て内面から測定しなければならないために測定の準
備に手間がかかって実用性に欠けるという闇題があった
。
（発明の目的および構成）
本発明は上記の点にかんがみてなされたもので、鋳鉄は
鋼などと比較して磁場の浸透深さが大きく、且つ黒鉛化
腐食部は導電性を失っていることに着目し、鋳鉄管の黒
鉛化腐食の深さを外面より非破壊で短時間に測定するこ
とを目的とするものであり、この目的を達成するために
、ＬＣ発振回路を構成するコイルなセンサとして用い、
センサを鋳鉄管に当てたとき発振回路から出力する信号
を検波して得られる検波出力を予め用意した腐食深さテ
ーブルを参照することにより鋳鉄管の腐食深さを測定す
るように構成した。
鋼などと比較して磁場の浸透深さが大きく、且つ黒鉛化
腐食部は導電性を失っていることに着目し、鋳鉄管の黒
鉛化腐食の深さを外面より非破壊で短時間に測定するこ
とを目的とするものであり、この目的を達成するために
、ＬＣ発振回路を構成するコイルなセンサとして用い、
センサを鋳鉄管に当てたとき発振回路から出力する信号
を検波して得られる検波出力を予め用意した腐食深さテ
ーブルを参照することにより鋳鉄管の腐食深さを測定す
るように構成した。
（実施例）
以下本発明を図面に基づいて説明する。
第４図は本発明による黒鉛化腐食深さの非破壊測定の原
理を示したものである。
理を示したものである。
コンデンサＣ，、Ｃ，とコイルＬと増幅回路１ａとで構
成されたＬＣ発振回回路のコイルＬをセンサＳとして導
電体Ｍに近づけて行くと、導電体表面に渦電流が発生し
、ＬＣ発振回回路の発振強度すなわち振幅が低下するの
で、とのＬＣ発振回回路からの交流出力信号を検波回路
２により検波して出力端子ａ、ｂから直流電圧として取
り出す。
成されたＬＣ発振回回路のコイルＬをセンサＳとして導
電体Ｍに近づけて行くと、導電体表面に渦電流が発生し
、ＬＣ発振回回路の発振強度すなわち振幅が低下するの
で、とのＬＣ発振回回路からの交流出力信号を検波回路
２により検波して出力端子ａ、ｂから直流電圧として取
り出す。
センサＳと導電体Ｍとの離間距離ｄに応じて端子ａ、ｂ
から出力する直流電圧が変化するので、直流電圧値によ
って黒鉛化腐食部の深さを測定することができる。すな
わち第５図に示すように、センサＳと導電体Ｍとの離間
距離ｄが（イ）非常に大きいときすなわち黒鉛化腐食部
の深さが大きいときは直流電圧Ｖ、は大きくなり、（ロ
）中位のときは直流電圧ｖ２は中位となり、（ハ）黒鉛
化、腐食部がない健全な場合は直流電圧ｖｉｖ３は極め
て小さくなる。図中黒鉛化腐食部を斜線で示しである。
から出力する直流電圧が変化するので、直流電圧値によ
って黒鉛化腐食部の深さを測定することができる。すな
わち第５図に示すように、センサＳと導電体Ｍとの離間
距離ｄが（イ）非常に大きいときすなわち黒鉛化腐食部
の深さが大きいときは直流電圧Ｖ、は大きくなり、（ロ
）中位のときは直流電圧ｖ２は中位となり、（ハ）黒鉛
化、腐食部がない健全な場合は直流電圧ｖｉｖ３は極め
て小さくなる。図中黒鉛化腐食部を斜線で示しである。
この場合鋳鉄管に発生する渦電流は鋳鉄の製造年代や製
造法によりまた含有カーボン量などにより少なからず影
響を受ける。第２図は代表的な２種類の鋳鉄黒鉛化腐食
部にこの原理を適用して得られた検波出力を示し、縦軸
は検波回路の出力を、横軸は黒鉛化腐食部の深さを示す
。
造法によりまた含有カーボン量などにより少なからず影
響を受ける。第２図は代表的な２種類の鋳鉄黒鉛化腐食
部にこの原理を適用して得られた検波出力を示し、縦軸
は検波回路の出力を、横軸は黒鉛化腐食部の深さを示す
。
第１図は本発明による非破壊測定装置の一実施例のブロ
ック線図であり、１０はセンサとして利用されるコイル
ｌＯａとその、他の抵抗、コンデンサｆｏｂとにより決
定される一定の発振周波数を有する発振回路、２０は発
振回路ｌＯの振幅変化を直流電圧として検波平滑する検
波回路、３０は検波回路２０の出力をＡ／Ｄ変換するＡ
／Ｄコンバータ、４０は第３図に示すようなフローチャ
ートに従って、初期設定時には健全部の検波回路出力か
ら鋳鉄管の材料を判断し、測定中には内部メモリに格納
されている第２図に示したような材別検波出力テーブル
を利用して黒鉛化腐食深さを演算するＣＰＵ、５０は黒
鉛化腐食深さを表示する表示器、６０は上記構成部分の
電源である。
ック線図であり、１０はセンサとして利用されるコイル
ｌＯａとその、他の抵抗、コンデンサｆｏｂとにより決
定される一定の発振周波数を有する発振回路、２０は発
振回路ｌＯの振幅変化を直流電圧として検波平滑する検
波回路、３０は検波回路２０の出力をＡ／Ｄ変換するＡ
／Ｄコンバータ、４０は第３図に示すようなフローチャ
ートに従って、初期設定時には健全部の検波回路出力か
ら鋳鉄管の材料を判断し、測定中には内部メモリに格納
されている第２図に示したような材別検波出力テーブル
を利用して黒鉛化腐食深さを演算するＣＰＵ、５０は黒
鉛化腐食深さを表示する表示器、６０は上記構成部分の
電源である。
次に第３図に示したフローチャートに基づいて黒鉛化腐
食部の深さ測定について説明する。ここに例示したもの
は鋳鉄管の材料がＡとＢの２種類についてＣＰＵのメモ
リに材料別検波出力テーブルが格納されているものとす
る。
食部の深さ測定について説明する。ここに例示したもの
は鋳鉄管の材料がＡとＢの２種類についてＣＰＵのメモ
リに材料別検波出力テーブルが格納されているものとす
る。
まずセンサを鋳鉄管の健全部に当て初期設定時に健全部
の発振振幅Ｖ。を入力する（Ｆ−１）。
の発振振幅Ｖ。を入力する（Ｆ−１）。
次に発振出力Ｖ。が予め測定しである材料Ａの鋳鉄管健
全部からの初期発振出力ｖＡｏに等しいか否かを判別し
くＦ−２）、Ｖｏ＝ＶＡ、ならば測定対象である鋳鉄管
の材料がＡであることをＣＰＵ４０の内部メモリに記憶
する（Ｆ−３）。ところかｖｏ＝ｖＡ０でなければ次に
この発振出力Ｖ。が予め測定しである別の材料Ｂの鋳鉄
管健全部からの初期発振出力ｖｌＳｏに等しいか否かを
判別しくＦ−４） 、 Ｖｏ ＝Ｖａｏならば測定対象
である鋳鉄管の材料がＢであることをやはりＣＰＵ４０
の内部メモリに記憶する（Ｆ−５）。鋳鉄管の材料がＡ
でもＢでもなければ測定できない。
全部からの初期発振出力ｖＡｏに等しいか否かを判別し
くＦ−２）、Ｖｏ＝ＶＡ、ならば測定対象である鋳鉄管
の材料がＡであることをＣＰＵ４０の内部メモリに記憶
する（Ｆ−３）。ところかｖｏ＝ｖＡ０でなければ次に
この発振出力Ｖ。が予め測定しである別の材料Ｂの鋳鉄
管健全部からの初期発振出力ｖｌＳｏに等しいか否かを
判別しくＦ−４） 、 Ｖｏ ＝Ｖａｏならば測定対象
である鋳鉄管の材料がＢであることをやはりＣＰＵ４０
の内部メモリに記憶する（Ｆ−５）。鋳鉄管の材料がＡ
でもＢでもなければ測定できない。
次に、センサを健全部から検査部に移してセンサからの
発振出力Ｖを出力する（Ｆ−６）。ここで鋳鉄の材料が
ＡであるかＢであるかを内部メモリのデータから確認し
くＦ−７）、材料がＡであればＣＰＵ４０の内部メモリ
に格納されている材料Ａについての黒鉛化腐食深さのテ
ーブルからセンサ出力に基づいて腐食深さを求める（Ｆ
−８）。材料がＢであれば同様に材料Ｂについての黒鉛
化腐食深さのテーブルから腐食深さを求める（Ｆ−９）
。
発振出力Ｖを出力する（Ｆ−６）。ここで鋳鉄の材料が
ＡであるかＢであるかを内部メモリのデータから確認し
くＦ−７）、材料がＡであればＣＰＵ４０の内部メモリ
に格納されている材料Ａについての黒鉛化腐食深さのテ
ーブルからセンサ出力に基づいて腐食深さを求める（Ｆ
−８）。材料がＢであれば同様に材料Ｂについての黒鉛
化腐食深さのテーブルから腐食深さを求める（Ｆ−９）
。
いずれにしてもこうして求めた腐食深さを表示器５０に
表示する。
表示する。
その後はセンサを別の場所に移して上述した深さ測定を
所望回数だけ行なう（Ｆ−１１）。
所望回数だけ行なう（Ｆ−１１）。
」−記実施例では材料の異なる２種類の鋳鉄管の黒鉛化
腐食部の深さ測定について説明したが、鋳鉄管は製造年
代や製造法によって渦電流に対する性質が著しく異なる
ので、それ以上の異なる材料の鋳鉄管に対応できるよう
に複数の黒鉛化腐食深さのテーブルを用意してもよい。
腐食部の深さ測定について説明したが、鋳鉄管は製造年
代や製造法によって渦電流に対する性質が著しく異なる
ので、それ以上の異なる材料の鋳鉄管に対応できるよう
に複数の黒鉛化腐食深さのテーブルを用意してもよい。
（発明の効果）
以上説明したように１本発明おいては、ＬＣ発振回路を
構成するコイルなセンサとして用い、センサを鋳鉄管に
当てたとき発振回路から出力する信号を検波して得られ
る検波出力を予め用意した腐食深さテーブルに参照する
ことにより鋳鉄管の腐食深さを測定するように構成した
ので、非破壊的且つ短時間に鋳鉄管の腐食深さを測定す
ることができ、準備の手間もなく実用性にすぐれた測定
装置が得られる。
構成するコイルなセンサとして用い、センサを鋳鉄管に
当てたとき発振回路から出力する信号を検波して得られ
る検波出力を予め用意した腐食深さテーブルに参照する
ことにより鋳鉄管の腐食深さを測定するように構成した
ので、非破壊的且つ短時間に鋳鉄管の腐食深さを測定す
ることができ、準備の手間もなく実用性にすぐれた測定
装置が得られる。
第１図は本発明による鋳鉄管の黒鉛化腐食深さ測定装置
の一実施例のブロック線図、第２図は鋳鉄管の材料別に
黒鉛化腐食深さと検波出力との関係を示す図、第３図は
本発明による黒鉛化腐食深さ測定動作を示すフローチャ
ートリ第４図は本発明による黒鉛化腐食深さの非破壊測
定原理を説明する回路図、第５図は第４図に示した回路
の検波出力波形図である。
の一実施例のブロック線図、第２図は鋳鉄管の材料別に
黒鉛化腐食深さと検波出力との関係を示す図、第３図は
本発明による黒鉛化腐食深さ測定動作を示すフローチャ
ートリ第４図は本発明による黒鉛化腐食深さの非破壊測
定原理を説明する回路図、第５図は第４図に示した回路
の検波出力波形図である。
Claims (1)
- センサとして用いられるコイルを有するＬＣ発振回路
と、該発振回路の出力を検波し平滑する検波回路と、検
波回路の出力と黒鉛化腐食部の深さとの関係を示すデー
タを記憶するメモリと、該メモリに記憶されているデー
タから前記検波回路の出力に基づいて黒鉛化腐食部の深
さを演算する演算回路と、演算した黒鉛化腐食部の深さ
を表示する表示器とを備えたことを特徴とする鋳鉄管黒
鉛化腐食深さの非破壊測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61127363A JPH0679015B2 (ja) | 1986-06-03 | 1986-06-03 | 鋳鉄管黒鉛化腐食深さの非破壊測定装置および測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61127363A JPH0679015B2 (ja) | 1986-06-03 | 1986-06-03 | 鋳鉄管黒鉛化腐食深さの非破壊測定装置および測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62285059A true JPS62285059A (ja) | 1987-12-10 |
| JPH0679015B2 JPH0679015B2 (ja) | 1994-10-05 |
Family
ID=14958107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61127363A Expired - Fee Related JPH0679015B2 (ja) | 1986-06-03 | 1986-06-03 | 鋳鉄管黒鉛化腐食深さの非破壊測定装置および測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0679015B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04120494A (ja) * | 1990-09-11 | 1992-04-21 | Asanumagumi:Kk | 人体検出センサ及びその装置 |
| JP2011194302A (ja) * | 2010-03-18 | 2011-10-06 | Kurimoto Ltd | 鋳鉄管外面の腐食部除去方法、及びその方法に使用する腐食部除去装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS483190U (ja) * | 1971-05-31 | 1973-01-16 | ||
| JPS59120903A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-12 | Toshiba Corp | 窒化層厚さ測定装置 |
-
1986
- 1986-06-03 JP JP61127363A patent/JPH0679015B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS483190U (ja) * | 1971-05-31 | 1973-01-16 | ||
| JPS59120903A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-12 | Toshiba Corp | 窒化層厚さ測定装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04120494A (ja) * | 1990-09-11 | 1992-04-21 | Asanumagumi:Kk | 人体検出センサ及びその装置 |
| JP2011194302A (ja) * | 2010-03-18 | 2011-10-06 | Kurimoto Ltd | 鋳鉄管外面の腐食部除去方法、及びその方法に使用する腐食部除去装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0679015B2 (ja) | 1994-10-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |