JPS62274770A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS62274770A
JPS62274770A JP61119460A JP11946086A JPS62274770A JP S62274770 A JPS62274770 A JP S62274770A JP 61119460 A JP61119460 A JP 61119460A JP 11946086 A JP11946086 A JP 11946086A JP S62274770 A JPS62274770 A JP S62274770A
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Japan
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substrate voltage
input circuit
whose
circuit
generation circuit
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Takeshi Watanabe
毅 渡辺
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の詳細な説明 し産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関し、特に高速動作を要する半導
体装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体装置はプロセス的には1紋細加工技術の進
歩により高速化、高密度化を図ってきており、更にデバ
イス的にも基板電圧発生回路を設け、基板に出力電圧を
印加(基板バイアス)することにより接合容量の低43
図り、これにより高速動作を可能にしてきた。しかし、
基板電圧発生回路を設けることにより半導体装置非選択
状態の時の消費電力が大きいという欠点が生じる。近年
、消費電力低減化の動きとして現われたC M O8化
の推進により非選択状態の時の消費電力が大きいという
問題が大きくクローズアップしてきた。特に、CMO3
半導体装置は半導体装置非選択状態の消費電力は皆無で
あるという事を利点としている事から基板電圧発生回路
で消費される電力が大きいという事は重大な欠点となる
。基板電圧発生回路を設ける半導体装置は次の2つの選
択しかない。
(1)非選択状態の消費電力が大きいという欠点をその
まま残し製品化する。
(2)非選択状もの時、基板電圧発生回路の動作を停止
し消費電力を皆無にする。後で述べるが基板電圧発生回
路を停止させると入力回路が誤動作し、基板電圧発生回
路が安定動作するまでの時間回路動作が不可能になる。
このように(1) 、 (2)の方法のうちどちらかを
選択するにしても欠点が生じる。ここで、基板電圧発生
回路の停止の状態での入力回路の誤動作について図面を
用いて説明する。
第5図は従来の入力回路の一例の回路図である。
この入力回路は、ソースが接地され、ドレインが出力端
子3に接続されゲートに入力信号VlNが供給され基板
に基板電圧VB5が供給されるnチャネル型絶縁ゲート
型電界効果トランジスタ(以下IGFETと記す)M5
と、ソースが電源4に接続されドレインが出力端子3に
接続され、ゲートに入力信号VINが供給され、基板に
電源電圧VCCが供給されるpチャネル型IGFETM
4とで構成されるCMOSインバータである。
入力信号VINから見た入力回路の回路しきい値はnチ
ャネルIGFETのしきい値電圧をVTNとするとき、
VTN十αになる。ここで、αはM4゜M、のトランジ
スタgm比により設定される数値であり、ここではα=
0.5Vとする。
入力信号VINは、いわゆるTTLレベルでは、低論理
レベルV+t=0゜8■max 、高論理レベルV I
H= 2.0 ’w’ minというのが一般的な規格
である。つまり、入力電圧が0.8V以下で低論理、2
、lIV以上で高論理を入力回路は検出しなければなら
ない。これを満足するために入力回路のしきい値は()
、8〜2.0■の間に設定しなければならない。今、入
力回路のしきい値を1.3Vに設定する場合を考える。
α−0,5”v’とすると、しきい値電圧■TNを0.
8 V (基板電圧〜’as−2Vの場合〉にしなけれ
ばならない。この設計では、VB5−−2Vの時、入力
回路のしきい値は1.3■に設定され、入力規格を満足
するが、Vas=OV、つまり基板電圧発生回路が停止
した状態ではしきい値電圧VTNが0,2Vに低下する
第4図は入力回路のしきい値と基板電圧発生回路の出力
電圧の関係を示す相関図である。
第4図から、基板電圧v、s −−2Vの時V。N=0
.8’v’、基板電圧VBs=OVの時■↑x=0.2
Vであることがわかる。VH5=OVになりVTNが0
2Vに低下すると、入力回路のしきい値は0.7■にな
り、入力規格を満足しなくなり、入力回路が正常に動作
しなくなる。このように基板電圧発生回路を停止させる
と入力回路が誤動作するという欠点がある。つまり、チ
・・lプ非選択時の消費電力をなくするために基板電圧
発生回路を停止させると入力回路が誤動作する。これに
よりチップ非選択から選択状態に切換うても基板電圧発
生回路が安定に動作するまでの時間、入力回路が誤動作
する。また、チップ非選択時も基板電圧発生回路を動作
させるようにすると消費電力がOにならず性能として池
のCMO3−LS Iと比較して性能が劣るという欠点
がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の基板電圧発生回路を設けた半導体装置は
消費電力の問題及び基板電圧発生回路の出力電圧を0■
にしてもチップの非選択から選択までの速度が遅く、そ
の間回路動作不可能であるという欠点がある。
本発明の目的は、基板電圧発生回路を非動作にしても入
力回路が誤動作せず、しかも消費電力を低減できる半導
体装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕 本発明の半導体装置は、半導体基板に電圧を印加するた
めの基板電圧発生回路と、該基板電圧発生回路の動作時
と非動作時にそれぞれ対応して電圧値が変化する入力回
路制御信号を発生する入力回路制御信号発生回路と、ソ
ースが電源に接続しドレインが出力端子に接続しゲート
に入力信号が供給される第1の絶縁ゲート型電界効果ト
ランジスタと、ドレイン及びゲートが前記第1の絶縁ゲ
ート型電界効果トランジスタのドレイン及びゲートにそ
れぞれ接続する第2の絶縁ゲート型電界効果トランジス
タと、ソースが接地されドレインが前記第2の絶縁ゲー
ト型電界効果トランジスタのソースに接続しゲートに前
記入力回路制御信号が供給される第3の絶縁ゲート型電
界効果トランジスタとを半導体基板に有している。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例の回路図である。
この実施例は、半導体基板に電圧を印加するための基板
電圧発生回路1と、この基板電圧発生回路1の動作時と
非動作時にそれぞれ対応して電圧値が変化する入力回路
制御信号VXを発生する入力回路制御信号発生回路2と
、ソースが電源4に接続しドレインが出力端子3に接続
しゲートに入力信号V1Nが供給される第1のI GF
ETM。
と、ドレイン及びゲートが第1のIGFETMlのドレ
イン及びゲートにそれぞれ接続する第2のI G F 
E T M 2と、ソースが接地されドレインが第2の
IGFETM2のソースに接続しゲートに入力回路制御
信号Vxが供給される第3のIGFETM、とを半導体
基板に設けることにより構成されている。
第2図は第1図の入力回路制御信号発生回路の詳細を示
す回路図である。
この回路は、ゲートを接地し、ソースと基板とを基板電
圧発生回路1に接続して基板電圧VBSに保ち、ドレイ
ンを抵抗R1を介して電源4に接続したnチャネル型I
 G F E T M 6と、ゲートをIGFETM6
のドレインに接続し、ソースを接地し、ドレインを抵抗
R2,R,を介して電源4に接続するnチャネル型IG
FETM7とから成り、入力回路制御信号Vxは抵抗R
2とR3との接続点から引出される。抵抗R1〜R3は
IGFETで構成しても構わない。
第1図及び第2図に示した回路において、基板電圧V8
sが動作時には一2V、非動作時には0■となるように
設計し、基板電圧VBS−2Vに対応してvx=5v、
基板電圧V as= OVに対応してv、 =2.5 
Vとなるように設計するものとする。
次に、第2図に示した入力回路制御信号発生回路の動作
について説明する。
まず、基板電圧発生回路1が動作している場合を考える
。このとき、基板電圧VBsは一2Vになっており、I
GFETM6のゲート・ソース間電圧は2Vとなる。こ
れによりIGFETM6は導通する。ここで抵抗R,の
値を充分大きく設計することにより接続点すの電位はV
Bg付近になる。これによりIGFETM、は非導通と
なり、入力回路制御信号発生回路2の出力電圧、即ち入
力回路制御信号Vxは抵抗R2を介して電源電圧Vcc
と同電位になるまで高められる。即ち、■8=5Vとな
る。
次に、基板電圧発生回路1が非動作の場合を考える。
このとき、基板電圧■Bsは接地電位と同電位になり、
IGFETM6は非導通となり、接続点すの電位は電源
電圧Vccになるので、IGFETM7は導通する。こ
こで、抵抗R2とR3の抵抗値は同じに設計し、IGF
ETM7の抵抗値を抵抗R2,R,の抵抗値より充分小
さくすることにより、入力回路制御信号VXの値は抵抗
R2とR8の抵抗分割により1/2Vcc、即ち2.5
Vになる。ここで、抵抗R2とR3とI G F E 
T M 7を貫通する電流の値は、抵抗R2とR1の抵
抗値を変えることにより所望値に設定できる。
次に、第1図に示す実施例の動作について説明する。
第3図は第1図の実施例の動作を説明するための電圧波
形図である。
基板電圧■Bsは動作時−2V、非動作時O■、入力回
路制御信号■×はこれに対応して5V。
2.5■の値となることは前記と同じとする。
まず、基板電圧発生回路1が動作状態である場合を考え
る。
この場合、基板電圧VB5は一2Vであり、これに対応
して入力回路制御信号を■x−5Vに設定する。V x
 ” 5 Vに設定することにより、IGFETM3の
gmは、IGFETMl及びM2のgmと比較するとき
、IGFETM、のgmの方が非常に大きいという関係
を満足するようになる。
この条件を満足することにより接続点aの電位は0■近
傍により、しきい値VTNを0.8Vに設定することに
より入力回路のしきい値は!、3 Vになる。
次に、基板電圧発生回路1が非動作状態である場合を考
える。
基板電圧発生回路1を停止させることにより、基板電圧
VBSが0■になり、これに対応してVx=2.5Vに
なる。VXが2.5VになることによりIGFETM、
のgmが小さくなり接続点aの電位はIGFETMl、
M2 、M3の抵抗(gmの逆数)比により決定され0
.3〜0.4■程度になるように設定する。ここで、こ
の時のIGFETM2.M、のしきい値VTNは、V 
Bs= OVであるため、0.2Vになり回路しきい値
は(VTN+α十0.3〜0,4)になり、1.0〜1
.I Vになり、これにより入力規格0.8〜2゜OV
に対して十分満足し、入力回路は十分動作する。このよ
うに従来の入力回路にI G F E T M 3を設
け、IGFETM、のgmを所望値に設定し、Vxを回
路動作・非動作に対応して電圧値を変化させることによ
り基板電圧発生回路1を停止し、V as=OVにして
も回路動作を可能にする。
この基板電圧発生回路の動作状態の変化に沿って各電位
が変化するが、これについて第3図を用いて説明する。
基板電圧発生回路1の(動作)→(非動作)→(動作)
の状態の変化に沿って、順に説明する。
まず、−間t。〜t1の間について説明する。
この時間基板電圧発生回路1は動作し、スタンバイ信号
V say = 5 V、基板電圧Vas=  2Vと
なり、これに対応してVx=5Vとなる。この状態では
、前にも述べたように、入力回路は正常動作する。時間
t1以降スタンバイ信号V5Byを0■にして、基板電
圧発生回路1を停止させ、基板電圧VBs=0■及び電
力を0にして、この基板電圧発生回路1の停止によるV
Bs=OVに対応し■X=2.5Vに設定する。この時
間t2〜t4の開先に説明したように回路動作が可能に
なる。
次に、(非動作)→(動作)について説明する。
時間t3以降スタンバイ信号V SBYの電圧がO■→
5■に切換わり、基板電圧発生回路1が動作し始め、時
間t4からt、の間に基板電圧VB5がOVから一2■
、Vxが2.5V−5,OVに変わる。時間t5以降V
 8s= −2V、■×=5■に安定し、入力回路の動
作は時間1.〜1.の間と同様になる。
このように時間to〜t5以降まで本発明を用いること
により入力回路動作が可能になる。ただし、時間t2〜
t4の開動作可能であるが基板電圧V as= OVで
あるため、高速動作はできなく、中速動作を行なう。
上記実施例では、CMOSインバータ構成の入力回路を
用いて説明したが、デプレッション型nチャネルIGF
ETを第1のIGFETM、に使用するエンハンスメン
ト/デプレッション型構成のインバータを入力回路に用
いても本発明は同様に適用できる。
また、入力回路制御信号VxをV、 =2.5 V及び
VX=5Vに設定したが、この値は、I GFET M
 3のgmの大きさを変化させることを説明するための
例示であり、gmの大きさは所望値に設定することがで
きるものである。つまり、VXはIGFETM3のgm
の大きさを決める二次要因である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、入力回路にIGFETを
増設し、このI GFETのゲート電圧を基板電圧発生
回路の動作、非動作に対応して変化させることにより基
板電圧発生回路を非動作にしても入力回路が動作するこ
とが可能になるようにしたので、入力回路が誤動作せず
、消費電力が低減できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は第1図の
入力回路制御信号発生回路の詳細を示す回路図、第3図
は本発明の一実施例の動作を説明するための電圧波形図
、第4図は入力回路のしきい値と基板電圧発生回路の出
力電圧の関係を示す相関図、第5図は従来の入力回路の
一例の回路図である。 1・・・基板電圧発生回路、2・・・入力回路制御信号
発生回路、3・・・出力端子、4・・・電源、M】・・
・第1のIGFET (pチャネル型)、M2・・・第
2の1GFET (nチャネル型)、M3−第3のIG
FET(nチャネル型)、M4・・・pチャネル型IG
FET、M5 、M6 、M7−nチャネル型IGFE
T−vas・・・基板電圧、VCC・・・電源電圧、V
IN・・・入力信号、V o u t・・・出力信号、
V5By・・・スタンバ茅l父 榮左父    宇2習

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体基板に電圧を印加するための基板電圧発生回路
    と、該基板電圧発生回路の動作時と非動作時にそれぞれ
    対応して電圧値が変化する入力回路制御信号を発生する
    入力回路制御信号発生回路と、ソースが電源に接続しド
    レインが出力端子に接続しゲートに入力信号が供給され
    る第1の絶縁ゲート型電界効果トランジスタと、ドレイ
    ン及びゲートが前記第1の絶縁ゲート型電界効果トラン
    ジスタのドレイン及びゲートにそれぞれ接続する第2の
    絶縁ゲート型電界効果トランジスタと、ソースが接値さ
    れドレインが前記第2の絶縁ゲート型電界効果トランジ
    スタのソースに接続しゲートに前記入力回路制御信号が
    供給される第3の絶縁ゲート型電界効果トランジスタと
    を半導体基板に有することを特徴とする半導体装置。
JP61119460A 1986-05-23 1986-05-23 半導体装置 Expired - Lifetime JPH0638481B2 (ja)

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JP61119460A JPH0638481B2 (ja) 1986-05-23 1986-05-23 半導体装置

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JPH0638481B2 JPH0638481B2 (ja) 1994-05-18

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