JPS62272158A - 検電装置 - Google Patents
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- JPS62272158A JPS62272158A JP61113770A JP11377086A JPS62272158A JP S62272158 A JPS62272158 A JP S62272158A JP 61113770 A JP61113770 A JP 61113770A JP 11377086 A JP11377086 A JP 11377086A JP S62272158 A JPS62272158 A JP S62272158A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
(産業上の利用分野)
この発明は、送・配電線路に用いられ、かつ、電線路の
零相電流あるいは零相電圧などを検出・測定するための
光センサーを用いた検電装置に関するものである。
零相電流あるいは零相電圧などを検出・測定するための
光センサーを用いた検電装置に関するものである。
(従来の技術)
近年、電力需要の多様化に伴い、電力供給の正確で迅速
な対応が必要となっている。このため、電力系統の供給
及び管理施設も複雑化し、かつ多様化するとともに、自
動化のシステム開発や実用化が推進されている。又、電
力供給に係わる情報の収集、例えば、線路の電圧及び電
流などの検出測定は、正確かつ迅速に、さらには、広範
囲で多数の箇所で行う必要がある。
な対応が必要となっている。このため、電力系統の供給
及び管理施設も複雑化し、かつ多様化するとともに、自
動化のシステム開発や実用化が推進されている。又、電
力供給に係わる情報の収集、例えば、線路の電圧及び電
流などの検出測定は、正確かつ迅速に、さらには、広範
囲で多数の箇所で行う必要がある。
ところで、従来多相の交流線路主に三相線路において、
零相電流及び零相電圧を検出・測定する装置として、例
えば第4図及び第5図に示すような装置があった。
零相電流及び零相電圧を検出・測定する装置として、例
えば第4図及び第5図に示すような装置があった。
零相電流を検出・測定する装置は、第4図に示すように
、電¥1i51に取付けられた変流器52の二次側出力
端子のリード線53が、直列に接続されるとともに、同
リード線53の両端には抵抗体54が接続されていた。
、電¥1i51に取付けられた変流器52の二次側出力
端子のリード線53が、直列に接続されるとともに、同
リード線53の両端には抵抗体54が接続されていた。
そして出力端子55.55からは、各電線51の電流変
化に応じた電圧変化が出力されるようになっていた。
化に応じた電圧変化が出力されるようになっていた。
このように構成された装置では、出力端子55゜55か
ら平常時に出力される電気的信号は、各相電流の位相和
が零値を示す零相電流である。ところが、線路事故が発
生すると、出力端子55.55から出力される電気的信
号は零値を示さず、線路事故の規模に応じた電気的信号
の変化が出力される。
ら平常時に出力される電気的信号は、各相電流の位相和
が零値を示す零相電流である。ところが、線路事故が発
生すると、出力端子55.55から出力される電気的信
号は零値を示さず、線路事故の規模に応じた電気的信号
の変化が出力される。
一方、零相電圧を検出・測定する装置は、第5図に示す
ように、電線51に一次端子をY結線した三相変圧器、
もしくは、三個の単相の変圧器56の二次側端子をΔ結
線したリード線53の両端に抵抗体54が接続され、出
力端子55.55からは、各電線51の電流変化に応じ
た電圧変化が出力されるようになっていた。
ように、電線51に一次端子をY結線した三相変圧器、
もしくは、三個の単相の変圧器56の二次側端子をΔ結
線したリード線53の両端に抵抗体54が接続され、出
力端子55.55からは、各電線51の電流変化に応じ
た電圧変化が出力されるようになっていた。
このように構成された装置では、出力端子55゜55か
ら平常時に出力される電気的信号は、各相電圧の位相和
が零値を示す零相電圧である。ところが、線路事故が発
生すると、出力端子45.45から出力される電気的信
号は零値を示さず、線路事故の規模に応じた電気的信号
の変化が出力される。
ら平常時に出力される電気的信号は、各相電圧の位相和
が零値を示す零相電圧である。ところが、線路事故が発
生すると、出力端子45.45から出力される電気的信
号は零値を示さず、線路事故の規模に応じた電気的信号
の変化が出力される。
このように、零相電流や零相電圧、もしくは、その両方
を検出することにより、線路事故が検出されていた。
を検出することにより、線路事故が検出されていた。
(発明が解決しようとする問題点)
ところが、前述した従来の装置では、変流器52あるい
は変圧器56から導出されるリード線53が外部から電
磁誘導を受けるので、SN比が低下して測定精度が良く
ないという欠点があった。特に、近年は、送・配電線路
の信鯨性を更に向上させて、これまで検出の困難であっ
た事故(瞬時地絡、間歇地絡など)の検出も必要となり
つつあるので、精度の高い線路電圧・電流の検出が望ま
れている。
は変圧器56から導出されるリード線53が外部から電
磁誘導を受けるので、SN比が低下して測定精度が良く
ないという欠点があった。特に、近年は、送・配電線路
の信鯨性を更に向上させて、これまで検出の困難であっ
た事故(瞬時地絡、間歇地絡など)の検出も必要となり
つつあるので、精度の高い線路電圧・電流の検出が望ま
れている。
又、リード線53の老朽化で短絡事故の虞や、変調器5
2あるいは変圧器56の絶縁性の低下で地絡事故の虞も
あった。
2あるいは変圧器56の絶縁性の低下で地絡事故の虞も
あった。
この発明は前記の事情を鑑み、絶縁性が高く、しかも、
SN比や測定精度の高い検電装置の提供を目的としてい
る。
SN比や測定精度の高い検電装置の提供を目的としてい
る。
(問題点を解決するための手段)
本発明の検電装置は、単一の発光素子と、複数の交流電
線路のそれぞれに設置した光センサーヘッドと単一の受
光素子とからなり、前記単一の発光素子より出射した光
を並列に配置した前記各々の光センサーヘッドを透過さ
せた後前記単一の受光素子により受光する構成であって
、各線路の電気的変化に応じて各々の光センサーヘッド
により強度変調された光量の和が、直流成分と交流成分
とからなることを特徴とするものである。
線路のそれぞれに設置した光センサーヘッドと単一の受
光素子とからなり、前記単一の発光素子より出射した光
を並列に配置した前記各々の光センサーヘッドを透過さ
せた後前記単一の受光素子により受光する構成であって
、各線路の電気的変化に応じて各々の光センサーヘッド
により強度変調された光量の和が、直流成分と交流成分
とからなることを特徴とするものである。
(作 用)
上述した構成において、装置は絶縁物で構成される光伝
送路および光学素子により絶縁信頬性が向上されるとと
もに、外部からの電磁誘導が防止される。
送路および光学素子により絶縁信頬性が向上されるとと
もに、外部からの電磁誘導が防止される。
さらに、発光素子および受光素子をそれぞれ単一とする
ことにより、複数素子を使用した場合に生ずる発光素子
および受光素子の特性のバラツキに起因する測定精度の
悪化を有効に防止している。
ことにより、複数素子を使用した場合に生ずる発光素子
および受光素子の特性のバラツキに起因する測定精度の
悪化を有効に防止している。
これら素子の特性のバラツキは、素子の置かれた環境温
度あるいは経年変化による特性の変化に起因するもので
、特に半導体素子において顕著である。また、本構成で
は使用する部品数を減少することができる。
度あるいは経年変化による特性の変化に起因するもので
、特に半導体素子において顕著である。また、本構成で
は使用する部品数を減少することができる。
なお光センサーヘッドとしては、線路の電圧に感応する
ものあるいは線路に流れる電流により発生する磁界に感
応するものであって、素子内を光が通過する際先の属性
(位相、偏光、強度など)を変化させるものであり、例
えば従来公知のファラデー素子、ポッケルス素子を使用
すると好適である。
ものあるいは線路に流れる電流により発生する磁界に感
応するものであって、素子内を光が通過する際先の属性
(位相、偏光、強度など)を変化させるものであり、例
えば従来公知のファラデー素子、ポッケルス素子を使用
すると好適である。
ファラデー素子を使ったセンサーヘッドの構成の一例は
偏光子、ファラデー素子、検光子よりなり、偏光子、フ
ァラデー素子、検光子の順に光が通る構成である。
偏光子、ファラデー素子、検光子よりなり、偏光子、フ
ァラデー素子、検光子の順に光が通る構成である。
′ 偏光子を通過した光は直線偏光となり、厚さlをも
つ素子を通過するが、そのとき偏光面の回転角θは外部
磁界に正比例もしくは正比例に近似できる量回転を受け
る場合 θ=v)(Il ・・・(1)
ここで、■:ベルデ定数、H:磁界強度、l:素子厚で
表される。
つ素子を通過するが、そのとき偏光面の回転角θは外部
磁界に正比例もしくは正比例に近似できる量回転を受け
る場合 θ=v)(Il ・・・(1)
ここで、■:ベルデ定数、H:磁界強度、l:素子厚で
表される。
検光子通過後の光量Pは、検光子を偏光子に対し45°
傾けて配置した場合以下の(2)式で表される。
傾けて配置した場合以下の(2)式で表される。
■
一−Pta(1+5in2(vH6)) −(21ま
た、磁界Hは電線路に流れる電流Iに比例するため H=a I=a1. sinωt ここで、a:比例係数、■。:電流の最大値、ω:角周
波数、t:時間とすると ■ po、、= Pin (1+ sin 2(vffa
l))= Pin (1+ sin 2(vlaIo
sinωt))・・・(3) となり、センサーヘッドを通過後の光は電線路の電流に
対応した強度変調を受けることとなる。
た、磁界Hは電線路に流れる電流Iに比例するため H=a I=a1. sinωt ここで、a:比例係数、■。:電流の最大値、ω:角周
波数、t:時間とすると ■ po、、= Pin (1+ sin 2(vffa
l))= Pin (1+ sin 2(vlaIo
sinωt))・・・(3) となり、センサーヘッドを通過後の光は電線路の電流に
対応した強度変調を受けることとなる。
次にポッケルス素子を使った素子の一例は、偏光子、ポ
ッケルス素子、λ/4板、検光子よりなり、偏光子、ポ
ッケルス素子、λ/4板、検光子の順に光が通る構成で
ある。
ッケルス素子、λ/4板、検光子よりなり、偏光子、ポ
ッケルス素子、λ/4板、検光子の順に光が通る構成で
ある。
偏光子を通過した光は直線偏光となり、素子を通過する
が、そのとき、光学的位相差φは素子に加わった電圧■
に正比例するかもしくは正比例として近似できる場合 φ=CV1 ・・
・(4)ここで、C;比例係数、V;電圧強度、2:素
子長である。
が、そのとき、光学的位相差φは素子に加わった電圧■
に正比例するかもしくは正比例として近似できる場合 φ=CV1 ・・
・(4)ここで、C;比例係数、V;電圧強度、2:素
子長である。
λ/4板、検光子を通過後の光量は、検光子を偏光子に
対しO″傾けて配置した場合以下の(5)式で表される
。
対しO″傾けて配置した場合以下の(5)式で表される
。
ここで、Vπ:半波長電圧(光を0〜100%変調する
に必要な電圧)である。また、電圧Vは電線路にかかる
電圧に比例し、vo:電圧の最大値、b=比例係数とす
ると となり、センサーヘッド通過後の光は電線路の電圧に対
応した強度変調を受けることとなる。
に必要な電圧)である。また、電圧Vは電線路にかかる
電圧に比例し、vo:電圧の最大値、b=比例係数とす
ると となり、センサーヘッド通過後の光は電線路の電圧に対
応した強度変調を受けることとなる。
ここで、(3)と(6)式におけるsinωtにかかる
係数Aが小さい場合を考えると Pouc= −Ptn (1+5in(A sinωt
)1” Pill (1+A sinωt)
−(7)各三相線を流れる電流をベクトル1.
、 h、 1.の振幅および位相が平常時に対しくδ1
.δ1)、(δ2゜δ2)ズレるとすると、光量Pは PヴPI+P2+P! ε、δが小さい範囲で考えると ・・・(9) ここで、 α となる。
係数Aが小さい場合を考えると Pouc= −Ptn (1+5in(A sinωt
)1” Pill (1+A sinωt)
−(7)各三相線を流れる電流をベクトル1.
、 h、 1.の振幅および位相が平常時に対しくδ1
.δ1)、(δ2゜δ2)ズレるとすると、光量Pは PヴPI+P2+P! ε、δが小さい範囲で考えると ・・・(9) ここで、 α となる。
であるため、
=(α、β)
より
(91,001式より
となり光強度Pは直流成分と零相電流に対応した交流成
分とからなることとなる。
分とからなることとなる。
複数線路の電圧に対する知見も同様の計算を行うことが
でき ・・・(2) となり、合成した光は直流成分と零相電圧に比例した交
流成分とからなることとなる。
でき ・・・(2) となり、合成した光は直流成分と零相電圧に比例した交
流成分とからなることとなる。
さらに本方式の検電光量の精度を上げるため、受光素子
で得られた光量を電気量に変換し、直流分と交流骨の比
をとる回路構成を用いることにより(9)、02式より
Poを消去でき、発光素子、受光素子の変動を抑制する
ことができ、より零相電流、零相電圧を精度よく検出で
きる。
で得られた光量を電気量に変換し、直流分と交流骨の比
をとる回路構成を用いることにより(9)、02式より
Poを消去でき、発光素子、受光素子の変動を抑制する
ことができ、より零相電流、零相電圧を精度よく検出で
きる。
また、本方式の検電装置の精度をさらに上げるには、発
光素子より出射する光を線路に流れる交流電流の周波数
より高い周波数を有す交流あるいはパルス波で重畳し、
受光器側でこれ等周波数で同期をとる方式も可能である
。
光素子より出射する光を線路に流れる交流電流の周波数
より高い周波数を有す交流あるいはパルス波で重畳し、
受光器側でこれ等周波数で同期をとる方式も可能である
。
発光素子としては発光ダイオード、半導体レーザー、気
体レーザー等があり、また受光素子としてはフォトダイ
オード、フォトトランジスタ、光電子増倍管等従来公知
のものを使用できる。
体レーザー等があり、また受光素子としてはフォトダイ
オード、フォトトランジスタ、光電子増倍管等従来公知
のものを使用できる。
さらに、光伝送路の一部に光量調整器を設けた場合は、
発光素子から出射した光を各伝送路に等分配できるよう
調整することにより、零相電流・零相電圧をより精度よ
(検出可能となる。
発光素子から出射した光を各伝送路に等分配できるよう
調整することにより、零相電流・零相電圧をより精度よ
(検出可能となる。
(実施例)
第1図は本発明の概念を三相交流の場合を例にとって説
明するための線図である。まず、単一の発光素子1から
出射された光P0をビームスプリッタ−等の光分割手段
2により均等に3等分する。
明するための線図である。まず、単一の発光素子1から
出射された光P0をビームスプリッタ−等の光分割手段
2により均等に3等分する。
3等分した光の各々を交流電線路3−1〜3−3のそれ
ぞれに設置した光センサーヘッド4−1〜4−3に光伝
送路5−1〜5−3を介して入射する。次に、線路3−
1〜3−3の電気的変化に応じて各々の光センサーへラ
ド4−1〜4−3により強度変調されたPI+p、、
p、を、光伝送路6−1〜6−3を介して光合成手段7
により合成して光の和Pをとる。最後に、合成された光
Pを単一の受光素子8に入射して、零相電流あるいは零
相電圧の大きさに対応した交流成分の存在を検知してい
る。
ぞれに設置した光センサーヘッド4−1〜4−3に光伝
送路5−1〜5−3を介して入射する。次に、線路3−
1〜3−3の電気的変化に応じて各々の光センサーへラ
ド4−1〜4−3により強度変調されたPI+p、、
p、を、光伝送路6−1〜6−3を介して光合成手段7
により合成して光の和Pをとる。最後に、合成された光
Pを単一の受光素子8に入射して、零相電流あるいは零
相電圧の大きさに対応した交流成分の存在を検知してい
る。
天皇■上
第2図はファラデー素子を使用した本発明の検電装置を
、三相交流に応用した場合の構成を示す線図である。本
実施例では、発光素子11にInGaAsPLED (
波長λ= 1.3 p n+)を使用し、受光素子21
にInGaAs PIN−Poを使用している。各光セ
ンサーヘッド12−1〜12−3の構成は、YIG(Y
JesO+z)よりなるファラデー素子13−1〜13
−3、偏光子14−1〜14−3、検光子15−1〜1
5−3、ロンドレンズ16−1〜16−3; 17−1
〜17−3および光ファイバーからなる光伝送路18−
1〜18−3の光量比を調整するためのアッテネータ1
9−1〜19−3からなり、この各光センサーヘッド1
2−1〜12−3を電線路20〜1〜20−3の近傍に
設けている。
、三相交流に応用した場合の構成を示す線図である。本
実施例では、発光素子11にInGaAsPLED (
波長λ= 1.3 p n+)を使用し、受光素子21
にInGaAs PIN−Poを使用している。各光セ
ンサーヘッド12−1〜12−3の構成は、YIG(Y
JesO+z)よりなるファラデー素子13−1〜13
−3、偏光子14−1〜14−3、検光子15−1〜1
5−3、ロンドレンズ16−1〜16−3; 17−1
〜17−3および光ファイバーからなる光伝送路18−
1〜18−3の光量比を調整するためのアッテネータ1
9−1〜19−3からなり、この各光センサーヘッド1
2−1〜12−3を電線路20〜1〜20−3の近傍に
設けている。
この構成により、電線路20−1〜20−3に流れる電
流により発生した交流磁界がファラデー素子13−1〜
13−3に加わり、そのファラデー効果により透過する
光を偏光変調している。そのため、発光素子11より出
射した光の173の光量が光分割手段23を介して各光
伝送路18−1〜18−3に供給され、光センサーへラ
ド12−1〜12−3を通過した光は強度変調を受けた
後光合成手段24により再び合成され受光素子21に入
射する。なお、アッテネータ18−1〜18−3は各フ
ァラデー素子13−1〜13−3に入射する光の量が等
しくなるよう調整するために使用する。
流により発生した交流磁界がファラデー素子13−1〜
13−3に加わり、そのファラデー効果により透過する
光を偏光変調している。そのため、発光素子11より出
射した光の173の光量が光分割手段23を介して各光
伝送路18−1〜18−3に供給され、光センサーへラ
ド12−1〜12−3を通過した光は強度変調を受けた
後光合成手段24により再び合成され受光素子21に入
射する。なお、アッテネータ18−1〜18−3は各フ
ァラデー素子13−1〜13−3に入射する光の量が等
しくなるよう調整するために使用する。
受光素子20に入射する光は平常時は主に直流成分であ
るが、三相交流の電線路19−1〜19−3に異常等が
生じて零相電流が流れた場合、零相電流に対応した交流
成分を含むことになる。最後に変換器22において、受
光素子20の出力は電気的に変換され、交流出力を直流
出力で除算できるようにしてあり、LEDを使用した発
光素子11の誤差要因を除去する構成をとっている。
るが、三相交流の電線路19−1〜19−3に異常等が
生じて零相電流が流れた場合、零相電流に対応した交流
成分を含むことになる。最後に変換器22において、受
光素子20の出力は電気的に変換され、交流出力を直流
出力で除算できるようにしてあり、LEDを使用した発
光素子11の誤差要因を除去する構成をとっている。
去旌貫主
第3図はポッケルス素子を使用した本発明の検電装置を
、三相交流に応用した場合の構成を示す線図である。本
実施例では、発光素子31にAIGaAsLED (波
長λ=0.85pm)を使用し、受光素子44に5iP
IN−PDを使用している。各センサーヘッド32−1
〜32−3の構成は、LiNb0:+よりなるポッケル
ス素子33−1〜33−3、偏光子34−1〜34−3
、検光子35−1〜35−3、λ/4板36−1〜36
−3、ロッドレンズ37−1〜37−3; 38−1〜
38−3および光ファイバーからなる光伝送路39−1
〜39−3の光量比を調整するためのアッテネータ40
−1〜40−3からなる。また、各電線路41−1〜4
1−3の電圧をアースに対しコンデンサC1〜C11お
よびコンデンサc!t ”’ C2Jで分割し、コンデ
ンサC1l 〜C11の両端電圧がポッケルス素子33
−1〜33−3に形成した電橋42−1〜42−3:
43−1〜43−3に印加されるよう構成する。
、三相交流に応用した場合の構成を示す線図である。本
実施例では、発光素子31にAIGaAsLED (波
長λ=0.85pm)を使用し、受光素子44に5iP
IN−PDを使用している。各センサーヘッド32−1
〜32−3の構成は、LiNb0:+よりなるポッケル
ス素子33−1〜33−3、偏光子34−1〜34−3
、検光子35−1〜35−3、λ/4板36−1〜36
−3、ロッドレンズ37−1〜37−3; 38−1〜
38−3および光ファイバーからなる光伝送路39−1
〜39−3の光量比を調整するためのアッテネータ40
−1〜40−3からなる。また、各電線路41−1〜4
1−3の電圧をアースに対しコンデンサC1〜C11お
よびコンデンサc!t ”’ C2Jで分割し、コンデ
ンサC1l 〜C11の両端電圧がポッケルス素子33
−1〜33−3に形成した電橋42−1〜42−3:
43−1〜43−3に印加されるよう構成する。
この構成により、電線路41−1〜41−3に加わる電
圧によりポッケルス素子33−1〜33−3に交流の電
圧が加わり、そのポッケルス効果により透過する光を位
相変調している。そのため、発光素子31より出射した
光の173の光量が光分割手段46を介して各光伝送路
39−1〜39−3に供給され、光センサーヘッド32
−1〜32−3を通過した光は強度変調を受けた後光合
成手段47により再び合成され受光素子44に入射する
。なお、アッテネータ40−1〜40−3はポッケルス
素子33−1〜33−3に入射する光の量が等しくなる
よう調整するために使用する。
圧によりポッケルス素子33−1〜33−3に交流の電
圧が加わり、そのポッケルス効果により透過する光を位
相変調している。そのため、発光素子31より出射した
光の173の光量が光分割手段46を介して各光伝送路
39−1〜39−3に供給され、光センサーヘッド32
−1〜32−3を通過した光は強度変調を受けた後光合
成手段47により再び合成され受光素子44に入射する
。なお、アッテネータ40−1〜40−3はポッケルス
素子33−1〜33−3に入射する光の量が等しくなる
よう調整するために使用する。
受光素子44に入射する光は平常時は主に直流成分であ
るが、三相交流の電線路41−1〜41−3に異常等が
発生して零相電圧が生じた場合、零相電圧に対応した交
流成分を含むことになる。最後に変換器45において、
受光素子44の出力は電気的に変換され、交流出力を直
流出力で除算できるようにしてあり、LEDを使用した
発光素子31の誤差要因を除去する構成をとっている。
るが、三相交流の電線路41−1〜41−3に異常等が
発生して零相電圧が生じた場合、零相電圧に対応した交
流成分を含むことになる。最後に変換器45において、
受光素子44の出力は電気的に変換され、交流出力を直
流出力で除算できるようにしてあり、LEDを使用した
発光素子31の誤差要因を除去する構成をとっている。
本発明は上述した実施例にのみ限定されるものではなく
、幾多の変形、変更が可能である。例えば、上述した実
施例で使用したファラデー素子およびポッケルス素子を
利用した光センサーヘッドの代わりに、電圧あるいは磁
界による光の位相変化あるいは偏光の変化が上述した素
子と同一の関係にあるもの、例えば特開昭58−172
557に示される光フアイバー干渉計等を用いて零相電
流あるいは零相電圧を測定することもできる。
、幾多の変形、変更が可能である。例えば、上述した実
施例で使用したファラデー素子およびポッケルス素子を
利用した光センサーヘッドの代わりに、電圧あるいは磁
界による光の位相変化あるいは偏光の変化が上述した素
子と同一の関係にあるもの、例えば特開昭58−172
557に示される光フアイバー干渉計等を用いて零相電
流あるいは零相電圧を測定することもできる。
(発明の効果)
以上詳細に説明したところから明らかなように、本発明
の検電装置によれば、伝送路として光ファイバーを使用
できるため跪縁性が高く、単一の発光素子および受光素
子を使用しているため、SN比および測定精度の高い検
電装置を得ることができる。
の検電装置によれば、伝送路として光ファイバーを使用
できるため跪縁性が高く、単一の発光素子および受光素
子を使用しているため、SN比および測定精度の高い検
電装置を得ることができる。
第1図は本発明の概念を三相交流の場合を例にとって説
明するための線図、 第2図および第3図はそれぞれ本発明の検電装置の一実
施例を示す線図、 第4図および第5図はそれぞれ従来の検電装置の一実施
例を示す回路図である。 1、11.31・・・発光素子 2、23.46・・・光分割手段 3−1〜3〜3. 20−1〜20−3.41−1〜4
1−3・・・電線路4−1〜4−3. 12−1〜12
−3.32−1〜32−3・・・光センサーヘッド 5−1〜5−3.6−1〜6−3. 18−1〜18−
3.39−1〜39−3・・・光伝送路 ?、24.47・・・光合成手段 8、21.44・・・受光素子 13−1〜13−3・・・ファラデー素子14−1〜1
4−3.34−1〜34−3・・・偏光子15−1〜1
5−3.35−1〜35−3・・・検光子16−1〜1
6−3.17−1〜17−3.37−1〜37−3.3
8−1〜38−3・・・ロッドレンズ 19−1〜19−3.40−1〜40−3・・・アッテ
ネータ22、45・・・変換器 33−1〜33−3・・・ポッケルス素子36−1〜3
6−3・・・λ/4板 42−1〜42−3.43−1〜43−3・・・電極第
1図 第4図 第5図 手続補正書 昭和61年 7月 8日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿1、事件の表示 昭和61年持重許 願第113770号3、補正をする
者 事件との関係 特許出願人 4、代理人 1、明細書第4頁第12行の[出力端子45,45 J
を「出力端子55,55 Jと訂正する。 2、同第9頁第12行の と訂正する。 3、同第10頁第13行の と訂正する。 4、同第12頁第1行の 「 と訂正する。 5、同第12頁第6行の 「 と訂正する。 6、同第12頁第12行のr f91 、亜式より」を
「aυ、(ロ)式より」と訂正する。 7、同第15頁第10行および第14行の「受光素子2
0]を「受光素子21」と訂正する。
明するための線図、 第2図および第3図はそれぞれ本発明の検電装置の一実
施例を示す線図、 第4図および第5図はそれぞれ従来の検電装置の一実施
例を示す回路図である。 1、11.31・・・発光素子 2、23.46・・・光分割手段 3−1〜3〜3. 20−1〜20−3.41−1〜4
1−3・・・電線路4−1〜4−3. 12−1〜12
−3.32−1〜32−3・・・光センサーヘッド 5−1〜5−3.6−1〜6−3. 18−1〜18−
3.39−1〜39−3・・・光伝送路 ?、24.47・・・光合成手段 8、21.44・・・受光素子 13−1〜13−3・・・ファラデー素子14−1〜1
4−3.34−1〜34−3・・・偏光子15−1〜1
5−3.35−1〜35−3・・・検光子16−1〜1
6−3.17−1〜17−3.37−1〜37−3.3
8−1〜38−3・・・ロッドレンズ 19−1〜19−3.40−1〜40−3・・・アッテ
ネータ22、45・・・変換器 33−1〜33−3・・・ポッケルス素子36−1〜3
6−3・・・λ/4板 42−1〜42−3.43−1〜43−3・・・電極第
1図 第4図 第5図 手続補正書 昭和61年 7月 8日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿1、事件の表示 昭和61年持重許 願第113770号3、補正をする
者 事件との関係 特許出願人 4、代理人 1、明細書第4頁第12行の[出力端子45,45 J
を「出力端子55,55 Jと訂正する。 2、同第9頁第12行の と訂正する。 3、同第10頁第13行の と訂正する。 4、同第12頁第1行の 「 と訂正する。 5、同第12頁第6行の 「 と訂正する。 6、同第12頁第12行のr f91 、亜式より」を
「aυ、(ロ)式より」と訂正する。 7、同第15頁第10行および第14行の「受光素子2
0]を「受光素子21」と訂正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、単一の発光素子と、複数の交流電線路のそれぞれに
設置した光センサーヘッドと単一の受光素子とからなり
、前記単一の発光素子より出射した光を並列に配置した
前記各々の光センサーヘッドを透過させた後前記単一の
受光素子により受光する構成であって、各線路の電気的
変化に応じて各々の光センサーヘッドにより強度変調さ
れた光量の和が、直流成分と交流成分とからなることを
特徴とする検電装置。 2、前記光センサーヘッドが光電流センサーヘッドであ
り、前記交流成分が零相電流の大きさに対応する特許請
求の範囲第1項記載の検電装置。 3、前記光センサーヘッドが光電圧センサーヘッドであ
り、前記交流成分が零相電圧の大きさに対応する特許請
求の範囲第1項記載の検電装置。 4、前記光センサーヘッドの偏光変調特性が、電線路の
電流あるいは電圧に正比例かもしくは正比例として近似
できる特性である特許請求の範囲第1項記載の検電装置
。 5、光伝送路が光ファイバーである特許請求の範囲第1
項記載の検電装置。 6、光伝送路の一部に光量調整器を設ける特許請求の範
囲第1項記載の検電装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61113770A JPS62272158A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 検電装置 |
US07/046,173 US4814930A (en) | 1986-05-20 | 1987-05-05 | Optical zero-phase current and zero phase voltage sensing arrangement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61113770A JPS62272158A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 検電装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62272158A true JPS62272158A (ja) | 1987-11-26 |
JPH0245153B2 JPH0245153B2 (ja) | 1990-10-08 |
Family
ID=14620691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61113770A Granted JPS62272158A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 検電装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4814930A (ja) |
JP (1) | JPS62272158A (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3175935B2 (ja) * | 1987-09-30 | 2001-06-11 | 株式会社東芝 | 光ファイバ応用センサ |
JPH0670653B2 (ja) * | 1989-03-31 | 1994-09-07 | 日本碍子株式会社 | 光温度・電気量測定装置 |
US5365175A (en) * | 1993-01-21 | 1994-11-15 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method of locating ground faults |
US6946827B2 (en) * | 2001-11-13 | 2005-09-20 | Nxtphase T & D Corporation | Optical electric field or voltage sensing system |
US7046867B2 (en) * | 2003-02-14 | 2006-05-16 | Abb Research Ltd | Fiberoptic current sensor having a plurality of sensor heads |
DE50307538D1 (de) * | 2003-02-14 | 2007-08-02 | Abb Research Ltd | Faseroptischer stromsensor mit mehreren sensorköpfen |
WO2007112600A1 (en) * | 2006-04-04 | 2007-10-11 | Abb Research Ltd | Fiber-optic current sensor with sum detection |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3324393A (en) * | 1963-07-26 | 1967-06-06 | Gen Electric | Magneto-optical electric current sensing arrangement |
US3786311A (en) * | 1973-01-02 | 1974-01-15 | Gen Electric | Circuit breaker and static trip circuit therefor |
DE3272713D1 (en) * | 1981-06-12 | 1986-09-25 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | Electric field detector |
JPS59147274A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-23 | Hitachi Ltd | 光方式電界測定装置 |
US4578639A (en) * | 1984-03-02 | 1986-03-25 | Westinghouse Electric Corp. | Metering system for measuring parameters of high AC electric energy flowing in an electric conductor |
US4683421A (en) * | 1985-03-29 | 1987-07-28 | Westinghouse Electric Corp. | Drift compensation technique for a magneto-optic current sensor |
US4755665A (en) * | 1987-07-22 | 1988-07-05 | Square D Company | Light detector and signal processing circuit |
-
1986
- 1986-05-20 JP JP61113770A patent/JPS62272158A/ja active Granted
-
1987
- 1987-05-05 US US07/046,173 patent/US4814930A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0245153B2 (ja) | 1990-10-08 |
US4814930A (en) | 1989-03-21 |
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