JPS62268128A - 微結晶炭化珪素膜の製造方法 - Google Patents

微結晶炭化珪素膜の製造方法

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JPS62268128A
JPS62268128A JP61113344A JP11334486A JPS62268128A JP S62268128 A JPS62268128 A JP S62268128A JP 61113344 A JP61113344 A JP 61113344A JP 11334486 A JP11334486 A JP 11334486A JP S62268128 A JPS62268128 A JP S62268128A
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silicon carbide
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晃継 波多野
Yoshihisa Fujii
藤井 良久
Akira Suzuki
彰 鈴木
Masaru Yoshida
勝 吉田
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  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明は電子材料あるいは基板材料として有用な結晶構
造と非晶質構造の混在する炭化珪素膜(以下微結晶炭化
珪素膜と称す)を得るための薄膜作製技術に関するもの
である。
〈従来技術〉 、水素化非晶質珪素膜(以下a−8i:Hと記す)の電
気的性質を改善する即ち不純物添加によるドーピングの
効率を高めるもしくはキャリアの移動度を大きくするた
めに結晶構造と非晶質構造の混在する珪素膜(微結晶珪
素膜)を利用することが提唱され、すでに太陽電池ある
いは薄膜トランジスタ等の電子デバイスへの応用が報告
されている。
一方弁晶質炭化珪素(a−3iC:H)はa−8i:H
よりもバンドギャップの大きな材料として注目を集めて
おり、太陽電池の窓材料などて応用さね、でいるが、一
般にa−8i:HK比べて電気的性質の劣るものしか得
られておらず、従−1て、a−8i:T(にとって代わ
るデバイス材料として利用する上で必要な素子特性の向
上のためにはa−SiC:Hの電気的性質を改善するこ
とが重要な課題となる。このa−8iC:Hに関しても
、微結晶珪素膜と同様に微結晶化に伴なう電気的性質の
向上が期待されている。また膜中炭素量を変化させるこ
とにより禁制帯幅を制御することができるため、ワイド
バンドギャップ材料として種々の応用が期待されている
。しかし 膜中炭素量が増加すると未結合手に起因する
禁制帯内欠陥準位が増加する等の原因により、価電子制
御が困難になる。そのため、半導体デバイスへの応用を
実現するにはa−8iC:囮をワイドバンドギャップで
価電子制御することができるように改善する必要がある
非晶質材料の微結晶化は電気的性質の改善手段として検
討されており、特に水素化非晶質珪素膜の微結晶化に関
してはドーピング効率の上昇等の働きをし電気的性質を
改善し得ることが報告されている。a  S 1l−x
Cx : Hにおいても微結晶化により電気的性質の改
善が期待できるが、従来の方法は基板温度550℃以上
の高温で微結晶化するという報告である。従って電子デ
バイスへの応用を考慮するとより低温で微結晶化を可能
としかつ価電子制御することのできる膜作製技術を確立
することが課題となる。
〈発明の目的〉 本発明は上記現状シて鑑み、プラズマCVD法、スパッ
タリング法あるいは熱CVD法等によって炭化珪素膜を
作製する場合に、原料ガスを水素ガスにより希釈すると
同時に不純物ガスを添加することによってワイドバンド
ギャップで価電子制御された微結晶炭化珪素膜を低温で
得ることのできる微結晶炭化珪素膜の製造方法を提供す
ることを目的とするものである。
〈実施例〉 と、前記方法で作製した膜を応用した電子デバイスとし
て、注入型非晶質薄膜発光素子、非晶質太陽電池を提供
することを目的とするものである。
以下、本発明を適用して作製された半導体デバイスの1
実施例について図面とともに説明する。
図面は半導体デバイスである注入型非晶質薄膜発光素子
の構成を示す断面図である。ガラス等の透明材料からな
る基板6上に透明導電膜(ITO)、S no2膜等か
らなる電極膜5を形成する。この上に注入層としてp型
機結晶炭化珪素膜4を形成し、さらに発光層としてa−
8i1−XCX:H膜3を堆積する。この上に注入層と
してn型微結晶炭化珪素膜2を形成する。更にこの上に
電楓としてAt。
Mg + N i −Cr等の電極膜1を形成する。
尚、この構造は基板6側から光を取り出す場合であり、
基板6としてステンレス等の不透明な基板を用いた場合
には上部電極膜1をITO等の透明材料で形成すればよ
い。また、下部注入層4をn型、上部注入層2をp型の
微結晶炭化珪素膜として形成してもよい。
次に、注入型非晶質薄膜発光素子の具体的な作製方法に
ついて説明する。基板6としてはガラスを用い、その上
べ蒸着法により電極膜5としてITOを膜厚500Aと
なるように作製する。注入層であるp型及びn型微結晶
炭化珪素膜2.4は、プラズマCVD法、スパッタリン
グ法あるいは熱CVD法等によって作製される。例えば
、プラズマCVD法により作製する場合には、シランガ
ス(SiH4)とメタンガス(CH4)の混合された原
料ガスを水素ガスにより希釈し、水素ガスに対する原料
ガスの割合を0.05以下に薄く設定し、基板温度を5
00℃以下に保持する。好ましくは水素ガスに対する原
料ガスの割合を0.01以下とし基板温度を350℃に
保持する。反応容器内にシラ/、メタン及び水素から成
る混合ガスを導入し、グロー放電分解することにより、
混合ガスが相互に分解反応して下地層上て炭化珪素膜が
成長する。
シラン、メタン、水素の各ガスは各々流量制御装置(マ
スフローコントローラー)を介して供給される。これら
の混合ガスは反応容器内へ供給され、反応容器からロー
タリーポンプを介しであるいはこれにメカニカルブース
ターポンプや油拡散ポンプを併用させて排気させる。
プラズマCVD法によシ炭化珪素膜を作製する場合のパ
ラメータには基板温度、ガス流量、ガス圧、投入高周波
電力等がある。本実施例ではガス圧力を2 Torr 
、投入高周波電力を0・3W7.とした。ここで得られ
る微結晶炭化珪素膜をp型にするにはジポラン(B2H
6)を原料ガスて対して0,05〜5%添加して膜厚を
100〜100OAとなるようにし、一方n型にするに
はホスフィン(PH3) 全原料ガスに対して0.01
〜5%添加して膜厚100〜1500Aとなるように作
製する。注入層の禁制帯幅は、7ランとメタンの混合比
を変えることにより制御する。発光層3はプラズマCV
D法、スパンタリング法、熱CVD法等によって作製で
きるが、例えばプラズマCVD法で作製する場合は、シ
ラン系ガスと炭化水素系ガスの原料ガス混合比を変え、
禁制帯幅の異なるすなわち発光色の異なるa  S 1
1−x Cx : H膜を膜厚300〜5000Aにな
るように作製する。上部電極膜1は蒸着によりアルミニ
ウム(At)を膜厚500Aになるように作製する。
このようにして得られた発光素子は、可視領域で発光が
生起され従来の注入型非晶質薄膜発光素子に比べ発光効
率を高めることができた。これは注入層であるp型及び
n型のa−3iC:H膜が従来に比べて広い禁制帯幅を
持つことができるため、発光層3と注入層の禁制帯幅を
制御することにより発光層3へのキャリア注入効率を上
げることができるためである。
次に原料ガスと水素ガスの流量を各々変化させて得られ
る膜質を調べた結果、基板温度が600℃の条件では水
素ガスに対する原料ガスの割合に関係なく微結晶炭化珪
素膜が得られた。基板温度500℃の条件では水素ガス
に対する原料ガスの割合が2から0.1の範囲では得ら
れた膜は非晶質炭化珪素膜であった。それに対し水素ガ
スに対する原料ガスの割合が0.05以下の条件では微
結晶炭化珪素膜が得られた。さらに基板温度が350℃
の条件でも水素ガスに対する原料ガスの割合を0.01
以下とすることによって微結晶炭化珪素膜が得られるこ
とが判明した。
このような水素ガスに対する原料ガスの割合を下げるこ
とによる微結晶炭化珪素膜成長の原因としては、水素原
子の働きにより炭素原子が周囲の原子と四配位結合で膜
構造に含まれ易くなり、その結果炭素及び珪素原子が結
晶構造をとりながら配列するのに必要なエネルギーが低
下したことが考えられる。
尚、上記実施例で微結晶炭化珪素膜作製に供するガスは
種々のシラン系ガスと炭化水素系ガスおよび■族・■族
系不純物ガスが実施に供される0〈発明の効果〉 以上詳説した如く、本発明によればワイドノくンドaツ
ブで価電子制御できる微結晶炭化珪素膜を得ることがで
き、注入型非晶質薄膜発光素子に応用することにより発
光効率を上げることができる。また、非晶質太陽電池の
窓材料としても有効に働き、光の収集効率を上げ変換効
率を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
添付図面は、本発明の1実施例によって作製された注入
型非晶質薄膜発光素子を示す断面図である。 1・・・電嘩膜 2・・n型微結晶炭化珪素膜 3・・
・発光層 4 ・p型微結晶炭fヒ珪素膜 5・・・透
明電甑 6 ・透明基板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、水素ガスに対する原料ガスの割合を0.05以下の
    値に設定しかつ原料ガスに不純物ガスを添加し、温度制
    御された下地層上に価電子制御された結晶質構造と非晶
    質構造の混在する炭化珪素膜を堆積させることを特徴と
    する微結晶炭化珪素膜の製造方法。
JP61113344A 1986-05-15 1986-05-15 微結晶炭化珪素膜の製造方法 Granted JPS62268128A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6451618A (en) * 1987-08-22 1989-02-27 Nippon Soken Microcrystalline silicon carbide semiconductor film and manufacture thereof
JPH01119015A (ja) * 1987-10-31 1989-05-11 Nippon Soken Inc 炭化ケイ素半導体膜およびその製造方法
JPH02185972A (ja) * 1989-01-11 1990-07-20 Kobe Steel Ltd 炭化ケイ素膜の合成法
NL1000892C2 (nl) * 1994-07-27 1997-07-29 Sharp Kk Dunne-film halfgeleiderinrichting, dunne-film transistor en werkwijze voor het vervaardigen ervan.

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5795677A (en) * 1980-12-03 1982-06-14 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Amorphous silicon type photoelectric tranducer
JPS58190810A (ja) * 1983-03-16 1983-11-07 Yoshihiro Hamakawa P型アモルフアスシリコンカ−バイドの製造方法
JPS58194732A (ja) * 1982-05-06 1983-11-12 Konishiroku Photo Ind Co Ltd アモルフアス炭化シリコン層の形成方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5795677A (en) * 1980-12-03 1982-06-14 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Amorphous silicon type photoelectric tranducer
JPS58194732A (ja) * 1982-05-06 1983-11-12 Konishiroku Photo Ind Co Ltd アモルフアス炭化シリコン層の形成方法
JPS58190810A (ja) * 1983-03-16 1983-11-07 Yoshihiro Hamakawa P型アモルフアスシリコンカ−バイドの製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6451618A (en) * 1987-08-22 1989-02-27 Nippon Soken Microcrystalline silicon carbide semiconductor film and manufacture thereof
JPH01119015A (ja) * 1987-10-31 1989-05-11 Nippon Soken Inc 炭化ケイ素半導体膜およびその製造方法
JPH02185972A (ja) * 1989-01-11 1990-07-20 Kobe Steel Ltd 炭化ケイ素膜の合成法
NL1000892C2 (nl) * 1994-07-27 1997-07-29 Sharp Kk Dunne-film halfgeleiderinrichting, dunne-film transistor en werkwijze voor het vervaardigen ervan.
US5796116A (en) * 1994-07-27 1998-08-18 Sharp Kabushiki Kaisha Thin-film semiconductor device including a semiconductor film with high field-effect mobility
US6271062B1 (en) 1994-07-27 2001-08-07 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film semiconductor device including a semiconductor film with high field-effect mobility

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