JPS62268128A - 微結晶炭化珪素膜の製造方法 - Google Patents
微結晶炭化珪素膜の製造方法Info
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- JPS62268128A JPS62268128A JP61113344A JP11334486A JPS62268128A JP S62268128 A JPS62268128 A JP S62268128A JP 61113344 A JP61113344 A JP 61113344A JP 11334486 A JP11334486 A JP 11334486A JP S62268128 A JPS62268128 A JP S62268128A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は電子材料あるいは基板材料として有用な結晶構
造と非晶質構造の混在する炭化珪素膜(以下微結晶炭化
珪素膜と称す)を得るための薄膜作製技術に関するもの
である。
造と非晶質構造の混在する炭化珪素膜(以下微結晶炭化
珪素膜と称す)を得るための薄膜作製技術に関するもの
である。
〈従来技術〉
、水素化非晶質珪素膜(以下a−8i:Hと記す)の電
気的性質を改善する即ち不純物添加によるドーピングの
効率を高めるもしくはキャリアの移動度を大きくするた
めに結晶構造と非晶質構造の混在する珪素膜(微結晶珪
素膜)を利用することが提唱され、すでに太陽電池ある
いは薄膜トランジスタ等の電子デバイスへの応用が報告
されている。
気的性質を改善する即ち不純物添加によるドーピングの
効率を高めるもしくはキャリアの移動度を大きくするた
めに結晶構造と非晶質構造の混在する珪素膜(微結晶珪
素膜)を利用することが提唱され、すでに太陽電池ある
いは薄膜トランジスタ等の電子デバイスへの応用が報告
されている。
一方弁晶質炭化珪素(a−3iC:H)はa−8i:H
よりもバンドギャップの大きな材料として注目を集めて
おり、太陽電池の窓材料などて応用さね、でいるが、一
般にa−8i:HK比べて電気的性質の劣るものしか得
られておらず、従−1て、a−8i:T(にとって代わ
るデバイス材料として利用する上で必要な素子特性の向
上のためにはa−SiC:Hの電気的性質を改善するこ
とが重要な課題となる。このa−8iC:Hに関しても
、微結晶珪素膜と同様に微結晶化に伴なう電気的性質の
向上が期待されている。また膜中炭素量を変化させるこ
とにより禁制帯幅を制御することができるため、ワイド
バンドギャップ材料として種々の応用が期待されている
。しかし 膜中炭素量が増加すると未結合手に起因する
禁制帯内欠陥準位が増加する等の原因により、価電子制
御が困難になる。そのため、半導体デバイスへの応用を
実現するにはa−8iC:囮をワイドバンドギャップで
価電子制御することができるように改善する必要がある
。
よりもバンドギャップの大きな材料として注目を集めて
おり、太陽電池の窓材料などて応用さね、でいるが、一
般にa−8i:HK比べて電気的性質の劣るものしか得
られておらず、従−1て、a−8i:T(にとって代わ
るデバイス材料として利用する上で必要な素子特性の向
上のためにはa−SiC:Hの電気的性質を改善するこ
とが重要な課題となる。このa−8iC:Hに関しても
、微結晶珪素膜と同様に微結晶化に伴なう電気的性質の
向上が期待されている。また膜中炭素量を変化させるこ
とにより禁制帯幅を制御することができるため、ワイド
バンドギャップ材料として種々の応用が期待されている
。しかし 膜中炭素量が増加すると未結合手に起因する
禁制帯内欠陥準位が増加する等の原因により、価電子制
御が困難になる。そのため、半導体デバイスへの応用を
実現するにはa−8iC:囮をワイドバンドギャップで
価電子制御することができるように改善する必要がある
。
非晶質材料の微結晶化は電気的性質の改善手段として検
討されており、特に水素化非晶質珪素膜の微結晶化に関
してはドーピング効率の上昇等の働きをし電気的性質を
改善し得ることが報告されている。a S 1l−x
Cx : Hにおいても微結晶化により電気的性質の改
善が期待できるが、従来の方法は基板温度550℃以上
の高温で微結晶化するという報告である。従って電子デ
バイスへの応用を考慮するとより低温で微結晶化を可能
としかつ価電子制御することのできる膜作製技術を確立
することが課題となる。
討されており、特に水素化非晶質珪素膜の微結晶化に関
してはドーピング効率の上昇等の働きをし電気的性質を
改善し得ることが報告されている。a S 1l−x
Cx : Hにおいても微結晶化により電気的性質の改
善が期待できるが、従来の方法は基板温度550℃以上
の高温で微結晶化するという報告である。従って電子デ
バイスへの応用を考慮するとより低温で微結晶化を可能
としかつ価電子制御することのできる膜作製技術を確立
することが課題となる。
〈発明の目的〉
本発明は上記現状シて鑑み、プラズマCVD法、スパッ
タリング法あるいは熱CVD法等によって炭化珪素膜を
作製する場合に、原料ガスを水素ガスにより希釈すると
同時に不純物ガスを添加することによってワイドバンド
ギャップで価電子制御された微結晶炭化珪素膜を低温で
得ることのできる微結晶炭化珪素膜の製造方法を提供す
ることを目的とするものである。
タリング法あるいは熱CVD法等によって炭化珪素膜を
作製する場合に、原料ガスを水素ガスにより希釈すると
同時に不純物ガスを添加することによってワイドバンド
ギャップで価電子制御された微結晶炭化珪素膜を低温で
得ることのできる微結晶炭化珪素膜の製造方法を提供す
ることを目的とするものである。
〈実施例〉
と、前記方法で作製した膜を応用した電子デバイスとし
て、注入型非晶質薄膜発光素子、非晶質太陽電池を提供
することを目的とするものである。
て、注入型非晶質薄膜発光素子、非晶質太陽電池を提供
することを目的とするものである。
以下、本発明を適用して作製された半導体デバイスの1
実施例について図面とともに説明する。
実施例について図面とともに説明する。
図面は半導体デバイスである注入型非晶質薄膜発光素子
の構成を示す断面図である。ガラス等の透明材料からな
る基板6上に透明導電膜(ITO)、S no2膜等か
らなる電極膜5を形成する。この上に注入層としてp型
機結晶炭化珪素膜4を形成し、さらに発光層としてa−
8i1−XCX:H膜3を堆積する。この上に注入層と
してn型微結晶炭化珪素膜2を形成する。更にこの上に
電楓としてAt。
の構成を示す断面図である。ガラス等の透明材料からな
る基板6上に透明導電膜(ITO)、S no2膜等か
らなる電極膜5を形成する。この上に注入層としてp型
機結晶炭化珪素膜4を形成し、さらに発光層としてa−
8i1−XCX:H膜3を堆積する。この上に注入層と
してn型微結晶炭化珪素膜2を形成する。更にこの上に
電楓としてAt。
Mg + N i −Cr等の電極膜1を形成する。
尚、この構造は基板6側から光を取り出す場合であり、
基板6としてステンレス等の不透明な基板を用いた場合
には上部電極膜1をITO等の透明材料で形成すればよ
い。また、下部注入層4をn型、上部注入層2をp型の
微結晶炭化珪素膜として形成してもよい。
基板6としてステンレス等の不透明な基板を用いた場合
には上部電極膜1をITO等の透明材料で形成すればよ
い。また、下部注入層4をn型、上部注入層2をp型の
微結晶炭化珪素膜として形成してもよい。
次に、注入型非晶質薄膜発光素子の具体的な作製方法に
ついて説明する。基板6としてはガラスを用い、その上
べ蒸着法により電極膜5としてITOを膜厚500Aと
なるように作製する。注入層であるp型及びn型微結晶
炭化珪素膜2.4は、プラズマCVD法、スパッタリン
グ法あるいは熱CVD法等によって作製される。例えば
、プラズマCVD法により作製する場合には、シランガ
ス(SiH4)とメタンガス(CH4)の混合された原
料ガスを水素ガスにより希釈し、水素ガスに対する原料
ガスの割合を0.05以下に薄く設定し、基板温度を5
00℃以下に保持する。好ましくは水素ガスに対する原
料ガスの割合を0.01以下とし基板温度を350℃に
保持する。反応容器内にシラ/、メタン及び水素から成
る混合ガスを導入し、グロー放電分解することにより、
混合ガスが相互に分解反応して下地層上て炭化珪素膜が
成長する。
ついて説明する。基板6としてはガラスを用い、その上
べ蒸着法により電極膜5としてITOを膜厚500Aと
なるように作製する。注入層であるp型及びn型微結晶
炭化珪素膜2.4は、プラズマCVD法、スパッタリン
グ法あるいは熱CVD法等によって作製される。例えば
、プラズマCVD法により作製する場合には、シランガ
ス(SiH4)とメタンガス(CH4)の混合された原
料ガスを水素ガスにより希釈し、水素ガスに対する原料
ガスの割合を0.05以下に薄く設定し、基板温度を5
00℃以下に保持する。好ましくは水素ガスに対する原
料ガスの割合を0.01以下とし基板温度を350℃に
保持する。反応容器内にシラ/、メタン及び水素から成
る混合ガスを導入し、グロー放電分解することにより、
混合ガスが相互に分解反応して下地層上て炭化珪素膜が
成長する。
シラン、メタン、水素の各ガスは各々流量制御装置(マ
スフローコントローラー)を介して供給される。これら
の混合ガスは反応容器内へ供給され、反応容器からロー
タリーポンプを介しであるいはこれにメカニカルブース
ターポンプや油拡散ポンプを併用させて排気させる。
スフローコントローラー)を介して供給される。これら
の混合ガスは反応容器内へ供給され、反応容器からロー
タリーポンプを介しであるいはこれにメカニカルブース
ターポンプや油拡散ポンプを併用させて排気させる。
プラズマCVD法によシ炭化珪素膜を作製する場合のパ
ラメータには基板温度、ガス流量、ガス圧、投入高周波
電力等がある。本実施例ではガス圧力を2 Torr
、投入高周波電力を0・3W7.とした。ここで得られ
る微結晶炭化珪素膜をp型にするにはジポラン(B2H
6)を原料ガスて対して0,05〜5%添加して膜厚を
100〜100OAとなるようにし、一方n型にするに
はホスフィン(PH3) 全原料ガスに対して0.01
〜5%添加して膜厚100〜1500Aとなるように作
製する。注入層の禁制帯幅は、7ランとメタンの混合比
を変えることにより制御する。発光層3はプラズマCV
D法、スパンタリング法、熱CVD法等によって作製で
きるが、例えばプラズマCVD法で作製する場合は、シ
ラン系ガスと炭化水素系ガスの原料ガス混合比を変え、
禁制帯幅の異なるすなわち発光色の異なるa S 1
1−x Cx : H膜を膜厚300〜5000Aにな
るように作製する。上部電極膜1は蒸着によりアルミニ
ウム(At)を膜厚500Aになるように作製する。
ラメータには基板温度、ガス流量、ガス圧、投入高周波
電力等がある。本実施例ではガス圧力を2 Torr
、投入高周波電力を0・3W7.とした。ここで得られ
る微結晶炭化珪素膜をp型にするにはジポラン(B2H
6)を原料ガスて対して0,05〜5%添加して膜厚を
100〜100OAとなるようにし、一方n型にするに
はホスフィン(PH3) 全原料ガスに対して0.01
〜5%添加して膜厚100〜1500Aとなるように作
製する。注入層の禁制帯幅は、7ランとメタンの混合比
を変えることにより制御する。発光層3はプラズマCV
D法、スパンタリング法、熱CVD法等によって作製で
きるが、例えばプラズマCVD法で作製する場合は、シ
ラン系ガスと炭化水素系ガスの原料ガス混合比を変え、
禁制帯幅の異なるすなわち発光色の異なるa S 1
1−x Cx : H膜を膜厚300〜5000Aにな
るように作製する。上部電極膜1は蒸着によりアルミニ
ウム(At)を膜厚500Aになるように作製する。
このようにして得られた発光素子は、可視領域で発光が
生起され従来の注入型非晶質薄膜発光素子に比べ発光効
率を高めることができた。これは注入層であるp型及び
n型のa−3iC:H膜が従来に比べて広い禁制帯幅を
持つことができるため、発光層3と注入層の禁制帯幅を
制御することにより発光層3へのキャリア注入効率を上
げることができるためである。
生起され従来の注入型非晶質薄膜発光素子に比べ発光効
率を高めることができた。これは注入層であるp型及び
n型のa−3iC:H膜が従来に比べて広い禁制帯幅を
持つことができるため、発光層3と注入層の禁制帯幅を
制御することにより発光層3へのキャリア注入効率を上
げることができるためである。
次に原料ガスと水素ガスの流量を各々変化させて得られ
る膜質を調べた結果、基板温度が600℃の条件では水
素ガスに対する原料ガスの割合に関係なく微結晶炭化珪
素膜が得られた。基板温度500℃の条件では水素ガス
に対する原料ガスの割合が2から0.1の範囲では得ら
れた膜は非晶質炭化珪素膜であった。それに対し水素ガ
スに対する原料ガスの割合が0.05以下の条件では微
結晶炭化珪素膜が得られた。さらに基板温度が350℃
の条件でも水素ガスに対する原料ガスの割合を0.01
以下とすることによって微結晶炭化珪素膜が得られるこ
とが判明した。
る膜質を調べた結果、基板温度が600℃の条件では水
素ガスに対する原料ガスの割合に関係なく微結晶炭化珪
素膜が得られた。基板温度500℃の条件では水素ガス
に対する原料ガスの割合が2から0.1の範囲では得ら
れた膜は非晶質炭化珪素膜であった。それに対し水素ガ
スに対する原料ガスの割合が0.05以下の条件では微
結晶炭化珪素膜が得られた。さらに基板温度が350℃
の条件でも水素ガスに対する原料ガスの割合を0.01
以下とすることによって微結晶炭化珪素膜が得られるこ
とが判明した。
このような水素ガスに対する原料ガスの割合を下げるこ
とによる微結晶炭化珪素膜成長の原因としては、水素原
子の働きにより炭素原子が周囲の原子と四配位結合で膜
構造に含まれ易くなり、その結果炭素及び珪素原子が結
晶構造をとりながら配列するのに必要なエネルギーが低
下したことが考えられる。
とによる微結晶炭化珪素膜成長の原因としては、水素原
子の働きにより炭素原子が周囲の原子と四配位結合で膜
構造に含まれ易くなり、その結果炭素及び珪素原子が結
晶構造をとりながら配列するのに必要なエネルギーが低
下したことが考えられる。
尚、上記実施例で微結晶炭化珪素膜作製に供するガスは
種々のシラン系ガスと炭化水素系ガスおよび■族・■族
系不純物ガスが実施に供される0〈発明の効果〉 以上詳説した如く、本発明によればワイドノくンドaツ
ブで価電子制御できる微結晶炭化珪素膜を得ることがで
き、注入型非晶質薄膜発光素子に応用することにより発
光効率を上げることができる。また、非晶質太陽電池の
窓材料としても有効に働き、光の収集効率を上げ変換効
率を高めることができる。
種々のシラン系ガスと炭化水素系ガスおよび■族・■族
系不純物ガスが実施に供される0〈発明の効果〉 以上詳説した如く、本発明によればワイドノくンドaツ
ブで価電子制御できる微結晶炭化珪素膜を得ることがで
き、注入型非晶質薄膜発光素子に応用することにより発
光効率を上げることができる。また、非晶質太陽電池の
窓材料としても有効に働き、光の収集効率を上げ変換効
率を高めることができる。
添付図面は、本発明の1実施例によって作製された注入
型非晶質薄膜発光素子を示す断面図である。 1・・・電嘩膜 2・・n型微結晶炭化珪素膜 3・・
・発光層 4 ・p型微結晶炭fヒ珪素膜 5・・・透
明電甑 6 ・透明基板
型非晶質薄膜発光素子を示す断面図である。 1・・・電嘩膜 2・・n型微結晶炭化珪素膜 3・・
・発光層 4 ・p型微結晶炭fヒ珪素膜 5・・・透
明電甑 6 ・透明基板
Claims (1)
- 1、水素ガスに対する原料ガスの割合を0.05以下の
値に設定しかつ原料ガスに不純物ガスを添加し、温度制
御された下地層上に価電子制御された結晶質構造と非晶
質構造の混在する炭化珪素膜を堆積させることを特徴と
する微結晶炭化珪素膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61113344A JPS62268128A (ja) | 1986-05-15 | 1986-05-15 | 微結晶炭化珪素膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61113344A JPS62268128A (ja) | 1986-05-15 | 1986-05-15 | 微結晶炭化珪素膜の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62268128A true JPS62268128A (ja) | 1987-11-20 |
JPH0554692B2 JPH0554692B2 (ja) | 1993-08-13 |
Family
ID=14609865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61113344A Granted JPS62268128A (ja) | 1986-05-15 | 1986-05-15 | 微結晶炭化珪素膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62268128A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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1986
- 1986-05-15 JP JP61113344A patent/JPS62268128A/ja active Granted
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US6271062B1 (en) | 1994-07-27 | 2001-08-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film semiconductor device including a semiconductor film with high field-effect mobility |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0554692B2 (ja) | 1993-08-13 |
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