JPS6226696A - Promのプログラミング方式 - Google Patents
Promのプログラミング方式Info
- Publication number
- JPS6226696A JPS6226696A JP60165576A JP16557685A JPS6226696A JP S6226696 A JPS6226696 A JP S6226696A JP 60165576 A JP60165576 A JP 60165576A JP 16557685 A JP16557685 A JP 16557685A JP S6226696 A JPS6226696 A JP S6226696A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- writing
- prom
- data
- eprom
- completed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、複数のEPROMまたはEEPROM(以
下、PROMと総称する)のプログラミング方式に関す
る。
下、PROMと総称する)のプログラミング方式に関す
る。
[従来の技術]
従来、メモリテスタやPROM書込み器などにおいては
、PROMの各アドレスにデータの書込み動作を一定回
数繰り返してプログラミングを行っていたが、メモリ容
量の増大に伴い、データ書込み時間が著しく長くなって
しまい、大量のPROMのプログラミングに困難を来し
ていた。
、PROMの各アドレスにデータの書込み動作を一定回
数繰り返してプログラミングを行っていたが、メモリ容
量の増大に伴い、データ書込み時間が著しく長くなって
しまい、大量のPROMのプログラミングに困難を来し
ていた。
そこで、最近のメモリテスタやPROM訂込み器などに
おいては、PROMのデータ書込み直後に読み出しを行
って書込み完了の判定を杼い、書込みを完了したPRO
Mを除いたPROMについての書込みと読み出しを繰り
返し、従来よりも少ない書込み回数で多数のPROMの
プログラミングを行うようになっている。このような方
式は、高性能プログラミング、高速書込みアルゴリズム
などと呼ばれている。
おいては、PROMのデータ書込み直後に読み出しを行
って書込み完了の判定を杼い、書込みを完了したPRO
Mを除いたPROMについての書込みと読み出しを繰り
返し、従来よりも少ない書込み回数で多数のPROMの
プログラミングを行うようになっている。このような方
式は、高性能プログラミング、高速書込みアルゴリズム
などと呼ばれている。
このような高性能プログラミングを1テう従来のメモリ
テスタやPROM書込み器においては、注目のアドレス
に関し、書込みを完了したPROMのCE*(チップイ
ネーブル)ピンをHighレベルにすることにより、そ
のPROMに対する書込みを禁止している。ここで、C
E*の*印は、この明細書においてはオーババー(第1
図参照)を意味する。
テスタやPROM書込み器においては、注目のアドレス
に関し、書込みを完了したPROMのCE*(チップイ
ネーブル)ピンをHighレベルにすることにより、そ
のPROMに対する書込みを禁止している。ここで、C
E*の*印は、この明細書においてはオーババー(第1
図参照)を意味する。
[解決しようとする問題点] ゛
このようにPROMのCE*の制御によって書込み禁止
を行う関係上、従来のメモリテスタやPROM +’u
込み器ては、CE*用ドライバを個々のPROM毎に多
数もうけなければならなかった。
を行う関係上、従来のメモリテスタやPROM +’u
込み器ては、CE*用ドライバを個々のPROM毎に多
数もうけなければならなかった。
当然、それらの各ドライバの駆動信号を作るためのハー
ドウェアも、個々のPROM毎に設ける必dがあった。
ドウェアも、個々のPROM毎に設ける必dがあった。
さらに、それらのドライバに対応しい外部ビンも必要で
あった。
あった。
このように、従来はPROMの書込み禁止に関連したハ
ードウェア量が大きいという問題があった。
ードウェア量が大きいという問題があった。
[発明の目的コ
この発明の[1的は、そのようなPROMの高性能プロ
グラミングにおける従来の問題点を解消し、PROMの
書込み禁止に関連したハードウェア量を大幅に削減でき
るPROMのプログラミング方式を提供することにある
。
グラミングにおける従来の問題点を解消し、PROMの
書込み禁止に関連したハードウェア量を大幅に削減でき
るPROMのプログラミング方式を提供することにある
。
[問題点を解決するための手段]
この発明は、PROMのデータピンに% 消去+1j7
に記憶させるデータに相当する信号を印加すれば、結果
的にそのPROMにはと込みが行われないことに着L−
IL、l−記]=1的を達成しようとするものである。
に記憶させるデータに相当する信号を印加すれば、結果
的にそのPROMにはと込みが行われないことに着L−
IL、l−記]=1的を達成しようとするものである。
より詳細に説明すれば、この発明は、複数のPROMに
同時に書込みを行い、その直後に記憶データのを読み出
して書込み完了を判定する操作を複数回繰り返し、書込
み完了のPROMは、その後の井込みを禁止するPRO
Mのプログラミング方式において、書込み完了のPRO
Mに対する書込み禁止が、そのEPRPMのデータピン
に消去時に記憶させるデータに相当する信号を印加する
ことによりなされることを特徴とするものである。
同時に書込みを行い、その直後に記憶データのを読み出
して書込み完了を判定する操作を複数回繰り返し、書込
み完了のPROMは、その後の井込みを禁止するPRO
Mのプログラミング方式において、書込み完了のPRO
Mに対する書込み禁止が、そのEPRPMのデータピン
に消去時に記憶させるデータに相当する信号を印加する
ことによりなされることを特徴とするものである。
[作用コ
このような書込み禁11−のための信号は、それ専用の
ドライバをPROM毎に設けな(でも容易に印加可能で
ある。
ドライバをPROM毎に設けな(でも容易に印加可能で
ある。
例えば、−・般的なメモリテスタなどにおいては、デー
タ用のピンエレクトロニクスはI10動作が11J能で
あって、そのドライバはトライステート拳ドライバであ
る。一方、書込み禁止のためにデータピンに印加する信
号はX Ht g hレベルまたはLowレベルである
(PROMの種類による)。
タ用のピンエレクトロニクスはI10動作が11J能で
あって、そのドライバはトライステート拳ドライバであ
る。一方、書込み禁止のためにデータピンに印加する信
号はX Ht g hレベルまたはLowレベルである
(PROMの種類による)。
したがって、データ用ドライバを高インピーダンス状態
(01)erl状態)にするたけで、(一般にPROM
のデータピンは、負荷抵抗を介してHighレベルまた
はLowレベルの電位点に接続されているから)、PR
OMの書込みを禁11・、することができる。そして、
そのようなドライバの状態制御のための格別なハードウ
ェアを追加する必要はない。
(01)erl状態)にするたけで、(一般にPROM
のデータピンは、負荷抵抗を介してHighレベルまた
はLowレベルの電位点に接続されているから)、PR
OMの書込みを禁11・、することができる。そして、
そのようなドライバの状態制御のための格別なハードウ
ェアを追加する必要はない。
このように、この発明のPROMプログラミング方式に
よれば、PROMの書込み禁11・、に関連したハード
ウェアは大幅に削減される。
よれば、PROMの書込み禁11・、に関連したハード
ウェアは大幅に削減される。
[実施例]
以下、図面を参照し、この発明の一実施例について詳細
に説明する。
に説明する。
第1図は、この発明の一実施例の要部のみを示すブロッ
ク図である。この実施例は、メモリテスタに適用された
ものであり、従来のメモリテスタと同様な部分について
は説明を省略または簡略化する。
ク図である。この実施例は、メモリテスタに適用された
ものであり、従来のメモリテスタと同様な部分について
は説明を省略または簡略化する。
IA、IB、 ・・・は試料としてのEPROMであ
る。3EPROMIA、IB、−会・は、アドレスピン
(A)を共通のドライバ2により駆動されるが、さらに
チップイネーブルピン(CE*)もJ(通のドライバ4
により駆動される。
る。3EPROMIA、IB、−会・は、アドレスピン
(A)を共通のドライバ2により駆動されるが、さらに
チップイネーブルピン(CE*)もJ(通のドライバ4
により駆動される。
6A、6B、−・・は個々のEPROM毎に対応して設
けられたデータ用ドライバであり、これらは従来の一般
的なメモリテスタの場合と同様にトライステートのもの
である。その状態は、制御部10からのI10コントロ
ール信号により制御される。各ドライバE3A、E3B
、 ・・・の出力は、対応するEPROMIA、IB
、 ・・−のデータピン(Ilo)に接続される。
けられたデータ用ドライバであり、これらは従来の一般
的なメモリテスタの場合と同様にトライステートのもの
である。その状態は、制御部10からのI10コントロ
ール信号により制御される。各ドライバE3A、E3B
、 ・・・の出力は、対応するEPROMIA、IB
、 ・・−のデータピン(Ilo)に接続される。
8A、8B、 ・・拳は、個々のEPROM毎に設け
られたコンパレータであり、その入力は対応したEPR
OMIA、IB、 ・・・のデータピンに接続され、
出力は制御ff1loに接続されている。
られたコンパレータであり、その入力は対応したEPR
OMIA、IB、 ・・・のデータピンに接続され、
出力は制御ff1loに接続されている。
各EPROMIA、IB、 ・・φのデータピンは、
抵抗12A、12B、 ・・・(負荷抵抗)を介して
VR電位点に接続されている。このVR電位点の電位は
、EPROMIA、IB、−−・の消去時のデータ信シ
ナのレベルに相当するもので、対象とするEPROMに
応じてHighまたはLOWレベルの電位に選ばれる。
抵抗12A、12B、 ・・・(負荷抵抗)を介して
VR電位点に接続されている。このVR電位点の電位は
、EPROMIA、IB、−−・の消去時のデータ信シ
ナのレベルに相当するもので、対象とするEPROMに
応じてHighまたはLOWレベルの電位に選ばれる。
なお、一般に、抵抗12A、12B、 ・・拳は、こ
の発明に関係なく7認なものである。
の発明に関係なく7認なものである。
このような構成において、制御部10の制御ドにて、E
PROMIA、IB、 ・・Φのアドレス信号により
指定された注目アドレスについて、データの書込みと読
み出しの操作が繰り返し行われ、各回の読み出し時にコ
ンパレータ8A、8B、 ・・・の出力(EPROM
の読み出しデータに関連した信号)に基づき、制御部1
0で各EPROMの書込み完了の判定が行われる。
PROMIA、IB、 ・・Φのアドレス信号により
指定された注目アドレスについて、データの書込みと読
み出しの操作が繰り返し行われ、各回の読み出し時にコ
ンパレータ8A、8B、 ・・・の出力(EPROM
の読み出しデータに関連した信号)に基づき、制御部1
0で各EPROMの書込み完了の判定が行われる。
制御部10は、書込み完了と判定したE PROMに対
応のドライバ(8A、8B、 ・・・)を、そのI1
0コントロール信号により高インピーダンス状態に制御
する。これにより、そのドライバに対応したEPROM
のデータピンは、vR電位に保持され、その後の出゛込
み動作は禁止される。
応のドライバ(8A、8B、 ・・・)を、そのI1
0コントロール信号により高インピーダンス状態に制御
する。これにより、そのドライバに対応したEPROM
のデータピンは、vR電位に保持され、その後の出゛込
み動作は禁止される。
制御部10において、全てのEPROMが書込み完了と
判定された時点、または書込み読み出しが所定回数に達
した時点で、制御部10によりアドレス信号が更新され
、次のl土日アドレスについて同様の詩性能プログラミ
ングが実行される。
判定された時点、または書込み読み出しが所定回数に達
した時点で、制御部10によりアドレス信号が更新され
、次のl土日アドレスについて同様の詩性能プログラミ
ングが実行される。
このように、この実施例にあっては、従来のように個々
のEPROM毎にチシプイネーブルピン用ドライバや外
部ピン、その駆動回路を設けることなく、複数のEPR
OMのプログラミングが可能である。
のEPROM毎にチシプイネーブルピン用ドライバや外
部ピン、その駆動回路を設けることなく、複数のEPR
OMのプログラミングが可能である。
なお、この発明は+lij記実施例にのみ限定されるみ
のではなく、適宜変形して実施し得るものである。
のではなく、適宜変形して実施し得るものである。
また、この発明は、メモリテスタ、PROM書込み器だ
けでなく、同様なプログラミング動作を実行する機器に
も同様に適用し得るものである。
けでなく、同様なプログラミング動作を実行する機器に
も同様に適用し得るものである。
[発明の効果コ
この発明は、複数のPROMに同時に井込みを行い、そ
の直後に記憶データのを読み出して書込み完了をl’l
定する操作を複数回繰り返し、BF込み完了のPROM
は、その後の書込みを禁止するPROMのプログラミン
グ方式において、害込み完了のPROMに対する潜込み
禁止が、そのPRPMのデータピンに消去時に記憶させ
るデータに相当する信号を印加することによりなされる
ことを特徴とするものであるから、前記実施例からも明
らかなように、書込み完−rのPROMの書込み禁止に
関連したハードウェアを大幅に削減することができる。
の直後に記憶データのを読み出して書込み完了をl’l
定する操作を複数回繰り返し、BF込み完了のPROM
は、その後の書込みを禁止するPROMのプログラミン
グ方式において、害込み完了のPROMに対する潜込み
禁止が、そのPRPMのデータピンに消去時に記憶させ
るデータに相当する信号を印加することによりなされる
ことを特徴とするものであるから、前記実施例からも明
らかなように、書込み完−rのPROMの書込み禁止に
関連したハードウェアを大幅に削減することができる。
第1図はこの発明の一実施例の要部を示すブロック図で
ある。 IA、lB・・・EPROM16A、8B・・・データ
用ドライバ、12A、12B・・・負荷抵抗。 特1作出頼人
ある。 IA、lB・・・EPROM16A、8B・・・データ
用ドライバ、12A、12B・・・負荷抵抗。 特1作出頼人
Claims (4)
- (1)複数のPROMに同時に書込みを行い、その直後
に記憶データを読み出して書込み完了を判定する操作を
複数回繰り返し、書込み完了のPROMは、その後の書
込みを禁止するPROMのプログラミング方式であって
、前記書込み完了のPROMに対する書込み禁止は、そ
のPROMのデータピンに消去時に記憶させるデータに
相当する信号を印加することによりなされることを特徴
とするPROMのプログラミング方式。 - (2)書込み完了のPROMに対する書込み禁止は、そ
のPROMの全データピンにHighレベル信号を印加
することによりなされることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のPROMのプログラミング方式。 - (3)書込み完了のPROMに対する書込み禁止は、そ
のPROMの全データピンにLowレベル信号を印加す
ることによりなされることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載のPROMのプログラミング方式。 - (4)書込み完了のPROMの書込み禁止のために、そ
のPROMのデータピンに接続されたトライステート・
ドライバが高インピーダンス状態されることを特徴とす
る特許請求の範囲第2項または第2項に記載のPROM
のプログラミング方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60165576A JPS6226696A (ja) | 1985-07-26 | 1985-07-26 | Promのプログラミング方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60165576A JPS6226696A (ja) | 1985-07-26 | 1985-07-26 | Promのプログラミング方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6226696A true JPS6226696A (ja) | 1987-02-04 |
Family
ID=15814979
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60165576A Pending JPS6226696A (ja) | 1985-07-26 | 1985-07-26 | Promのプログラミング方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6226696A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5011543A (en) * | 1987-05-22 | 1991-04-30 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Thermocouple type temperature sensor |
-
1985
- 1985-07-26 JP JP60165576A patent/JPS6226696A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5011543A (en) * | 1987-05-22 | 1991-04-30 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Thermocouple type temperature sensor |
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