JPS62260158A - Light receiving member - Google Patents

Light receiving member

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JPS62260158A
JPS62260158A JP10354986A JP10354986A JPS62260158A JP S62260158 A JPS62260158 A JP S62260158A JP 10354986 A JP10354986 A JP 10354986A JP 10354986 A JP10354986 A JP 10354986A JP S62260158 A JPS62260158 A JP S62260158A
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Abstract

PURPOSE:To improve particularly moisture resistance, continuous repetitive use characteristic, electrical breakdown strength characteristic, use environment characteristic, durability, etc. by providing a surface protective layer constituted of a non-single crystalline material contg. boron nitride having 4-coordinate structure and boron nitride having 3-coordinate structure in combination. CONSTITUTION:This member consists of a base 101 and a light receiving layer having at least a photoconductive layer 102 constituted of an amorphous material essentially consisting of a silicon atom and contg. at least either of a hydrogen atom or halogen atom and the surface protective layer 103 on the base. The surface protective layer 103 is constituted of the non-single crystalline material contg. the boron nitride having the 4-coordinate structure and the boron nitride having the 3-coordinate structure in combination. The light receiving member which has always stable electrostatic chargeability, forms the image having excellent quality for a long period of time and is used for an electrophotographic sensitive body, etc. is thus obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、シリコン原子を母体とするアモルファスシリ
コンで構成された光導電層を有する光受容部材、特に優
れた特性を有する表面保護層を前記光導電層上に設けた
電子写真用感光体に適した光受容部材に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical field to which the invention pertains] The present invention relates to a light-receiving member having a photoconductive layer made of amorphous silicon having silicon atoms as a matrix, and a surface protective layer having particularly excellent properties. The present invention relates to a light-receiving member suitable for an electrophotographic photoreceptor provided on a photoconductive layer.

(従来技術の説明) 従来、電子写真用感光体等に用いられる光受容部材とし
ては、その光感度領域の整合性が他の種類の光受容部材
と比べて優れているのに加えて、ビッカース硬度が高く
、公害の問題が少ない等の点から、例えば特開昭54−
88341号公報や特開昭56−83746号公報にみ
られるようなシリコン原子を母体とし水素原子又はハロ
ゲン原子のうちの少なくともいずれか一方を含有するア
モルファス材料(以後、 ’a−5i(H,X)」と表
記する)光受容部材が注目されている。
(Description of Prior Art) Conventionally, as a light-receiving member used for electrophotographic photoreceptors, etc., in addition to being superior in the consistency of its photosensitivity region compared to other types of light-receiving members, Vickers For example, Japanese Patent Laid-Open No. 1983-197-
Amorphous materials (hereinafter referred to as 'a-5i (H, )") light-receiving members are attracting attention.

ところでこうした光受容部材は、支持体上に、a−5+
 01. X)で構成される光導電層を有するものであ
るところ、照光ji ?t! FJが帯?i!処理を受
けた際に自由表面側から光導電層中に電荷が注入される
のを阻止するとともに、該先導Ti層の耐湿性、連続繰
り返し使用特性、電気的耐圧性、使用環境特性、および
耐久性等を向上せしめ、長期間安定した画像品質を得る
ために、該光導電層上に表面保護層を設けることが知ら
れている。
By the way, such a light-receiving member has a-5+ on a support.
01. X), the illumination ji? T! FJ is obi? i! It prevents charge from being injected into the photoconductive layer from the free surface side when subjected to treatment, and improves the moisture resistance, continuous repeated usage characteristics, electrical pressure resistance, usage environment characteristics, and durability of the leading Ti layer. It is known to provide a surface protective layer on the photoconductive layer in order to improve properties and obtain stable image quality over a long period of time.

そして、前記表面保護層については、前述の各11機能
を効率的に発揮することが要求されるところ、種々の高
抵抗でかつ充分な光透過性を有する非単結晶質材料、即
ち、アモルファス材料又は/及び多結晶質材料が提案さ
れており、それらの提案の1つとして窒化ホウ素を含有
するアモルファス材料(以後’a−BJと表記する。)
で構成された薄膜を用いることが知られている。(特開
昭59−12448号公報、特開昭60−61760号
公報参照)しかし、前記a−BNで構成された薄膜を表
面保護層として用いる場合、時として、該a−BN薄膜
は、帯M、処理におけるコロナ放電や、他の部材、例え
ばクリーニングブレード等との接触をはじめとする種々
の機械的損傷による劣化が発生し、表面保護層に要求さ
れる前述の種々の機能を長期間にわたって発揮すること
が不可能となるという問題がある。また、該a−8Nl
膜を用いた光受容部材は、帯電能が不充分であって、こ
うした光受容部材を用いて画像形成を行なう場合には画
像上にゴーストが生じる等の画像品質の劣化となって現
われる場合もあるという問題もある。
As for the surface protective layer, which is required to efficiently exhibit each of the above-mentioned 11 functions, various non-single-crystalline materials having high resistance and sufficient light transmittance, that is, amorphous materials are used. Or/and polycrystalline materials have been proposed, and one of those proposals is an amorphous material containing boron nitride (hereinafter referred to as 'a-BJ).
It is known to use a thin film composed of (Refer to JP-A-59-12448 and JP-A-60-61760.) However, when the thin film composed of a-BN is used as a surface protective layer, the a-BN thin film is sometimes M. Deterioration due to various mechanical damages such as corona discharge during processing and contact with other parts, such as cleaning blades, may occur, making it difficult for the surface protective layer to perform the above-mentioned functions for a long period of time. There is a problem in that it becomes impossible to perform effectively. Also, the a-8Nl
Light-receiving members using films have insufficient charging ability, and when images are formed using such light-receiving members, deterioration of image quality may occur, such as ghosting on the image. There is also the problem that there is.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、電子写真用感光体等に用いられる光受容部材
における表面保護層に関わる上述の問題を解決して、長
期間にわたって所望の機能を奏するものとした改善され
た表面保護層を有する光受容部材を提供することを主た
る目的とするものである。
The present invention solves the above-mentioned problems related to the surface protective layer of a light-receiving member used in electrophotographic photoreceptors, etc., and provides a light-emitting device having an improved surface protective layer that exhibits desired functions over a long period of time. The main purpose is to provide a receiving member.

本発明の他の目的は、常時安定した帯電能を有し、長期
間にわたって優れた品質の画像が得られる電子写真用感
光体等に用いられる光受容部材を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a light-receiving member for use in electrophotographic photoreceptors and the like, which has a stable charging ability at all times and provides images of excellent quality over a long period of time.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

本発明者らは・電子写真用感光体等に用I/Aられる光
受容部材における表面保護層に関わる前述の諸問題を解
決し、上述の本発明の目的を達成すべく鋭意研究を重ね
たところ、表面保護層として用いるBN薄膜の構造が重
要な要因となるという知見を得た。
The present inventors have conducted extensive research in order to solve the above-mentioned problems related to the surface protective layer of a light-receiving member used as an I/A photoreceptor for electrophotography, etc., and to achieve the above-mentioned object of the present invention. However, we have found that the structure of the BN thin film used as the surface protective layer is an important factor.

即ち、窒化ホウ索車結晶においては、構成元素の配位数
が3である六方晶系と、構成元素の配位数が4である立
方晶系との二種類の構造が知られている。
That is, two types of structures are known for the nitride borax sheave crystal: a hexagonal system in which the number of coordinations of the constituent elements is 3, and a cubic system in which the coordination number of the constituent elements is 4.

本発明者らは、窒化ホウ素で構成された薄膜を電子写真
用感光体に用いられる光受容部材の表面保ZI層として
用いる場合、前記窒化ホウ素の構造がいかにだ三Uする
かについて検言1を74けたところ、どんな構造の窒化
ホウ素でも表面保護層として用いられるわけではなく、
特定の配位数を有する構造の窒化ホウ素が適していると
いう知見を得た。
The present inventors have made a finding regarding how the structure of the boron nitride is 3U when a thin film composed of boron nitride is used as a surface preservation ZI layer of a light-receiving member used in an electrophotographic photoreceptor. 74 digits above, boron nitride of any structure cannot be used as a surface protective layer.
We found that boron nitride having a structure with a specific coordination number is suitable.

即ち、配位数が3である六方晶系のものは、グラファイ
トと同一の構造であって、非常に柔らかく、モース硬度
は2であるため、表面像3fflfflとして用いた場
合には、コロナ放電により生じたイオン、オゾン、電子
等の活性な物質の衝窓に弱く、又、クリーニングブレー
ド等の接触をはじめとする種々のaSS的損傷による劣
化を生じることが判明した。
In other words, hexagonal crystals with a coordination number of 3 have the same structure as graphite, are very soft, and have a Mohs hardness of 2, so when used as a surface image of 3fflffl, corona discharge causes It has been found that it is susceptible to the impact of active substances such as generated ions, ozone, and electrons, and that it deteriorates due to various types of aSS damage, including contact with cleaning blades.

一方、構成元素の配位数が4である立方晶系の構造を有
するものは、硬度が大であって、コロナ放電や機械的衝
撃に対して充分な耐性を有していることが判明した。
On the other hand, those with a cubic structure in which the coordination number of the constituent elements is 4 were found to have high hardness and sufficient resistance to corona discharge and mechanical impact. .

従って、強度だけの面からみれば、表面保護層は4配位
4み造の窒化ホウ素を含有する非晶質材料で構成された
ものが好ましいこととなる。
Therefore, from the standpoint of strength alone, it is preferable that the surface protective layer be made of an amorphous material containing four-coordinated four-structured boron nitride.

ところで、電子写真法を用いた画像形成は、光受容部材
のコロナ帯電、画像π光、トナーによる現像、紙への転
写、及び光受容部材のクリーニング等の工程から成って
おり、これらの各プロセスにおいて、光受容部材の表面
は、異った材質の部材と接触する。その結果、紙上へ転
写形成される画像の品質は、各プロセスで用いられる部
材と光受容部材表面との接触の良し悪しによって大きく
左右されることとなる0例えばひとつの例として、ブレ
ードによるクリーニング工程を考えた場合、光受容部材
表面が硬すぎると、ブレードの摩耗が早くなり、クリー
ニング不良をおこしやすくなる。また、ブレードの寿命
が短くなるために、複写機の維持費が高くなる。逆に、
光受容部材表面が柔らかすぎると、光受容部材表面は、
ブレードによって削られやすくなり、形成される画像は
画像欠陥が多くなり、さらに、光受容部材の寿命が短く
なるために、複写機の維持費が高くなる。
By the way, image formation using electrophotography consists of steps such as corona charging of the light-receiving member, image π light, development with toner, transfer to paper, and cleaning of the light-receiving member. In this case, the surface of the light-receiving member comes into contact with a member made of a different material. As a result, the quality of the image transferred onto paper is greatly influenced by the quality of the contact between the members used in each process and the surface of the light-receiving member. Considering this, if the surface of the light-receiving member is too hard, the blade will wear out quickly and cleaning defects will likely occur. Additionally, the lifespan of the blade is shortened, which increases the cost of maintaining the copier. vice versa,
If the surface of the light-receiving member is too soft, the surface of the light-receiving member will be
The light-receiving member is more likely to be scraped by the blade, resulting in more image defects, and the life of the light-receiving member is shortened, increasing the cost of maintaining the copying machine.

このように、光受容部材の表面硬度は、種々のプロセス
において接触する種々の部材の硬度とのバランスを考慮
して決定する必要があり、前述のごとき非常に硬い4配
位構造の窒化ホウ素を光受容部材の表面保護層として用
いた場合には、電子写真法による画像形成の各プロセス
の部材の夫々に、より一層の改良が要求されることとな
る。
In this way, the surface hardness of the light-receiving member must be determined by taking into consideration the balance with the hardness of the various members that come into contact with it in various processes. When used as a surface protective layer of a light-receiving member, further improvements are required for each member of each process of image formation by electrophotography.

本発明者は、こうした知見に基づいて更に研究を工ねた
ところ、4配位構造の窒化ホウ素と3配位構造の窒化ホ
ウ素とを混在せしめた非単結晶材料を表面保護層として
用いた場合には、各々のプロセスに用いられる各種の部
材とのバランスがとれた表面硬度を有する電子写真用光
受容部材を得ることができることが判明した。
Based on these findings, the inventor conducted further research and found that when a non-single-crystal material in which boron nitride with a four-coordination structure and boron nitride with a three-coordination structure are mixed is used as a surface protective layer. It has been found that it is possible to obtain an electrophotographic light-receiving member having a surface hardness that is well balanced with the various members used in each process.

本発明は、該知見に基づいて完成せしめたものであって
、その骨子とするところは、支持体と、該支持体上に、
シリコン原子を母体とし、水素原子又は、ハロゲン原子
のうちの少なくともいずれか一方を含有するアモルファ
ス材料で構成された光導電層と、表面保護層とを少なく
とも有する光受容層とからなる光受容部材において、前
記表面保護層が、4配位構造の窒化ホウ素と3配位構造
の窒化ホウ素とを混在して含有する非単結晶質材料で構
成されている光受容部材にある。
The present invention has been completed based on this knowledge, and its main points are a support, and on the support,
A photoreceptive member comprising a photoconductive layer made of an amorphous material based on silicon atoms and containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms, and a photoreceptor layer having at least a surface protective layer. In the light-receiving member, the surface protective layer is made of a non-single-crystalline material containing a mixture of boron nitride having a four-coordinate structure and boron nitride having a three-coordinate structure.

本発明により提供される光受容部材は、その表面保護層
に特徴を有するものであるところ、支持体はもとより、
光導電層を始めとする他の構成層は用途目的に応じて任
意に選択することができる、 したがって以下に本発明
の光受容部材についてその層構成の典型例を、電子写真
用のものにする場合について説明するが本発明の光受容
部材はこれにより限定されるものではない。
The light-receiving member provided by the present invention is characterized by its surface protective layer, and in addition to the support,
Other constituent layers including the photoconductive layer can be arbitrarily selected depending on the purpose of use. Therefore, below, typical examples of the layer structure of the photoreceptive member of the present invention will be those for electrophotography. Although the case will be explained, the light receiving member of the present invention is not limited thereto.

第1(A)乃至(1)図は、電子写真用のものにした本
発明の光受容部材の層構成の典型的な例を模式的に示す
図である。
FIGS. 1(A) to 1(1) are diagrams schematically showing typical examples of the layer structure of the light-receiving member of the present invention for use in electrophotography.

第1(八)図に示す例は、支持体101上に、先導’f
f1層102及び表面保護層103をこの順に設けたも
のであり、表面保護jl103は自由表面107を有し
ている。
In the example shown in FIG. 1 (8), the leading 'f'
The f1 layer 102 and the surface protection layer 103 are provided in this order, and the surface protection layer 103 has a free surface 107.

第1(B)図に示す例は、支持体上101に、電荷注入
阻止層104、光導電層102及び゛表面保護層103
をこの順に設けたものである。
In the example shown in FIG. 1(B), a charge injection blocking layer 104, a photoconductive layer 102 and a surface protective layer 103 are provided on a support 101.
are arranged in this order.

第1(C)図に示す例は、支持体上101に、長波長光
吸収層105、光導T1層102及び表面保護層103
をこの順に設けたものである。
In the example shown in FIG. 1(C), a long wavelength light absorption layer 105, a light guide T1 layer 102 and a surface protection layer 103 are provided on a support 101.
are arranged in this order.

第1 (DJ図に示す例は、支持体上lotに、密着層
106.光導電層102及び表面保護層103をこの順
に設けたものである。
In the first example shown in the DJ diagram, an adhesive layer 106, a photoconductive layer 102, and a surface protection layer 103 are provided in this order on a support.

第1(E)図に示す例は、電荷注入阻止層104、密着
層log、光導Ti層102及び表面保護層103をこ
の順に設けたものであり、第1(F)に示す例は、長波
長光吸収層105、密着層106、光導?it層102
及び表面保護層103をこの順に設けたものである。
In the example shown in FIG. 1(E), a charge injection blocking layer 104, an adhesion layer log, a light guiding Ti layer 102, and a surface protective layer 103 are provided in this order, and the example shown in FIG. 1(F) is a long one. Wavelength light absorption layer 105, adhesion layer 106, light guide? IT layer 102
and a surface protective layer 103 are provided in this order.

第1(G)図に示す例は、支持体上101に、長波長光
吸収層105.電荷注入阻止層104、光導電層102
及び表面保護層+03をこの順に設けたものであり、語
例においては長波長光吸収層+05、及び電荷注入阻止
層104の順序を入れかえることもできる。
In the example shown in FIG. 1(G), a long wavelength light absorption layer 105. Charge injection blocking layer 104, photoconductive layer 102
and a surface protection layer +03 are provided in this order, and in the example, the order of the long wavelength light absorption layer +05 and the charge injection blocking layer 104 can be changed.

第1 (111図に示す例は、支持体上lotに、長波
長光吸収F3+05、電荷注入阻止層104、光導電層
102及び表面保15層103をこの;偵に設けたもの
である。
In the first example shown in FIG. 111, a long wavelength light absorbing F3+05, a charge injection blocking layer 104, a photoconductive layer 102, and a surface preservation layer 103 are provided on a support.

第1(■)図に示す例は、支持体上lotに、電荷注入
阻止層104.光導電層102、中間層108及び表面
保護層103をこの順に設けたものである。
In the example shown in FIG. 1 (■), a charge injection blocking layer 104. A photoconductive layer 102, an intermediate layer 108, and a surface protective layer 103 are provided in this order.

本発明の光受容部材に用いる支持体101は、導電性の
ものであっても、また電気絶縁性のものであってもよい
、導電性支持体としては、例えば、NlCr、ステンレ
ス、AQ、 Cr、Mo、^u、Nb、Ta、V、TI
The support 101 used in the light-receiving member of the present invention may be electrically conductive or electrically insulating. Examples of the electrically conductive support include NlCr, stainless steel, AQ, and Cr. , Mo, ^u, Nb, Ta, V, TI
.

Pt、Pb等の金属又はこれ等の合金が挙げられる。Examples include metals such as Pt and Pb, and alloys thereof.

電気絶縁性支持体としては、ポリエステル、ポリエチレ
ン、ポリカーボネート、セルロースアセテート、ポリプ
ロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリ
スチレン、ポリアミド等の合成樹脂のフィルム又はシー
ト、ガラス、セラミック、紙等が挙げられる。これ等の
電気絶縁支持体は、好適には少なくともその一方の表面
を導電処理し、該導電処理された表面側に光受容層を設
けるのが望ましい。
Examples of the electrically insulating support include films or sheets of synthetic resins such as polyester, polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polystyrene, and polyamide, glass, ceramic, paper, and the like. It is preferable that at least one surface of these electrically insulating supports is conductively treated, and a light-receiving layer is provided on the conductively treated surface side.

例えばガラスであれば、その表面に、NiCr、八Q、
   Cr、MOlAu、Ir、Nb、Ta、V%Ti
、Pt、Pd、Inkコ、ITO(In203÷Sn)
笥から成る薄膜を設けることによって導電性を付与し、
或いはポリエステルフィルム等の合成樹脂フィルムであ
れば、NiCr、 AQ、八g、Pb、Zn、Ni、A
u、Cr、Mo、Ir、Nb、Ta、V、TQ、Pt等
の金属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリ
ング等でその表面に設け、又は前記金屑でその表面をラ
ミネート処理して、その表面に導電性を付与する。支持
体の形状は平滑表面或いは凹凸表面の板状無端ベルト状
又は円筒状等であることができ、その厚さは、所望通り
の光受容部材を形成しうる用に適宜決定するが、光受容
部材としての可撓性が要求される場合には、支持体とし
ての機能が充分発揮される範囲内で可能な限り薄くする
ことができる。しかしながら、支持体の製造上及び取り
扱い上、機械的強度等の点から、通常は、10μ以上と
される。
For example, if it is glass, NiCr, 8Q,
Cr, MOlAu, Ir, Nb, Ta, V%Ti
, Pt, Pd, Ink, ITO (In203÷Sn)
By providing a thin film made of bamboo, conductivity is imparted,
Or, if it is a synthetic resin film such as polyester film, NiCr, AQ, 8g, Pb, Zn, Ni, A
A thin film of metal such as u, Cr, Mo, Ir, Nb, Ta, V, TQ, Pt, etc. is provided on the surface by vacuum evaporation, electron beam evaporation, sputtering, etc., or the surface is laminated with the gold scraps. , imparts electrical conductivity to its surface. The shape of the support can be a plate, an endless belt, or a cylinder with a smooth or uneven surface, and its thickness is determined as appropriate to form a desired light-receiving member. When flexibility as a member is required, it can be made as thin as possible within a range that allows the function as a support to be fully exhibited. However, from the viewpoint of manufacturing and handling of the support, mechanical strength, etc., the thickness is usually set to 10μ or more.

第1(B)図に示す木発明の光受容部材において、支持
体lotと光導電F1102の間に設けられる電荷注入
阻止層104は、先導?lt層102が帯電処理を受け
た際に支持体側から光導TFi層102中に電子が注入
されることを阻止するために設けられる層であり、該電
荷注入阻止N104は、水素、又は多結晶シリコン(以
後、’po 1y−5i (H、X) Jと呼称する。
In the light-receiving member of the invention shown in FIG. 1(B), the charge injection blocking layer 104 provided between the support lot and the photoconductive F1102 is a leading layer. This is a layer provided to prevent electrons from being injected from the support side into the photoconductive TFi layer 102 when the lt layer 102 undergoes charging treatment, and the charge injection blocking N104 is made of hydrogen or polycrystalline silicon. (Hereinafter, it will be referred to as 'po 1y-5i (H,X) J.

)、あるいは両者を含むいわゆる非単結晶シリコン(以
後、’Non−5i (H、X) J と呼称する。)
(なお、微結晶質シリコンと通称されるものはa−5t
に分類される。)に、周期律表第1II族に属する原子
(以後、車に「第1II族原子」と称す、)または周期
律表第■族に属する原子(以後、車に「第■族原子」と
称す。)を含有せしめたもので構成されている。
), or so-called non-single crystal silicon containing both (hereinafter referred to as 'Non-5i (H,X) J).
(In addition, what is commonly called microcrystalline silicon is a-5t
are categorized. ), atoms belonging to Group 1II of the Periodic Table (hereinafter referred to as "Group 1II atoms") or atoms belonging to Group ■ of the Periodic Table (hereinafter referred to as "Group ■ atoms") ).

該電荷注入阻止層104に含有せしめる第1!!族原子
としては、具体的には、B(硼素)、八Q (アルミニ
ウム)、Ga(ガリウム)、In(インジウム)、Tl
タリウム)等を用いることができるが、特に好ましいも
のは、B、Gaである。また第V族原子としては、具体
的には、?(燐)、As(砒素)、Sb(アンチモン)
、Bi  (ビスマス)等を用いることができるが、特
に好ましいものはP、 Asである。そして電荷注入阻
止層104に含有せしめる第1I+族原?又は第■族原
子の堂は3〜5 X IO’aLomic ppm、好
ましくは50〜I x lO’atomic ppm、
 lXl0’〜5 x lo3atomicppIoと
することが望ましい。
The first ! contained in the charge injection blocking layer 104! ! Specifically, the group atoms include B (boron), 8Q (aluminum), Ga (gallium), In (indium), and Tl.
Although thallium) and the like can be used, particularly preferred are B and Ga. Also, specifically as a group V atom, ? (phosphorus), As (arsenic), Sb (antimony)
, Bi (bismuth), etc. can be used, but P and As are particularly preferred. And the first I+ group element contained in the charge injection blocking layer 104? Or the group II atoms are 3 to 5 x IO'aLomic ppm, preferably 50 to I x 1O'aLomic ppm,
It is desirable to set it as lXl0' to 5 x lo3atomicppIo.

又、電荷注入阻止Jij1104中に含有せしめるハロ
ゲン原子又は水素原子の量は、lXl0’〜7×10’
 atofflic ppmとし、特にpoly−5i
(It、X)で構成される場合には好ましくはlXIO
3〜2 X 1G’atoa+ic ppmとし、a−
5i(II、X)で構成される場合には1 x 10’
 〜6 x 10’atomic ppmとすることが
望ましい、 更に、本発明の光受容部材の電荷注入阻止
層104の層厚は0.03〜15μ、好ましくは0.0
4〜lθμ、最適には0.05〜8μとするのが望まし
い。
Further, the amount of halogen atoms or hydrogen atoms contained in the charge injection blocking Jij1104 is lXl0' to 7x10'
atofflic ppm, especially poly-5i
(It,X), preferably lXIO
3-2 X 1G'atoa+ic ppm, a-
1 x 10' when composed of 5i (II, X)
It is desirable that the charge injection blocking layer 104 of the photoreceptive member of the present invention has a thickness of 0.03 to 15 μm, preferably 0.0 μm.
It is desirable that it be 4 to lθμ, most preferably 0.05 to 8μ.

第1(C)図に示す木発明の光受容部材において、支持
体101 と光導電F1102との間に設けられる長波
長光吸収fi105は、ゲルマニウム原子(Ge)又は
スズ原子(Sn)のうちの少なくとも一方を含有するN
on−5t(If、X)で構成される層であり、露光光
掠としてレーザー光等の長波長光を用いた際に、光導電
層+02において吸収しきれなかった長波長光を該長波
長光吸収層105が効率的に吸収することにより、支持
体101表面での長波長光の反射による干渉現象の現出
を顕著に防止する機能を有するものである。そして該長
波長光吸収層105中に含有せしめるGe原子の量又は
Sn原子の量あるいはそれらの和は、i 〜lo’at
offiic ppHl、好ましくは1x lo’ 〜
9 X 1G’ atomtc ppm、より好ましく
は5x 10’ 〜8 x 10’ atomic p
pmとすることが望ましい。また長波長光吸収層105
中に含有せしめる水素原子又はハロゲン原子の量は、好
ましくは1×103〜3 X 10’atomic p
pmとすることが望ましく、特にpoly−5i (G
e、Sn) (If、X)の場合好ましくはI X 1
03〜2 X 10’atomic ppm とし、a
−5I (Ge 。
In the light-receiving member of the wooden invention shown in FIG. N containing at least one
on-5t (If, By efficiently absorbing the light, the light absorption layer 105 has a function of significantly preventing interference phenomena caused by reflection of long wavelength light on the surface of the support 101. The amount of Ge atoms, the amount of Sn atoms, or the sum thereof contained in the long wavelength light absorption layer 105 is i ~ lo'at
offiic ppHl, preferably 1x lo'~
9 x 1G' atom tc ppm, more preferably 5 x 10' to 8 x 10' atomic p
It is desirable to set it to pm. Also, the long wavelength light absorption layer 105
The amount of hydrogen atoms or halogen atoms contained therein is preferably 1 x 103 to 3 x 10'atomic p
It is desirable to use poly-5i (G
e, Sn) (If, X) preferably I X 1
03~2 x 10'atomic ppm, a
-5I (Ge.

Sn) (ll、X) (f)場合好ましくは1 xl
G’ 〜6 xlO’atomic ppmとすること
が望ましい。
Sn) (ll, X) (f) preferably 1 xl
It is desirable to set G' to 6 xlO' atomic ppm.

更に本発明の光受容部材にお7ける長波長光吸収層10
5の層厚は、0,05〜25μ、好ましくは0.07〜
20μ、最適には、0.1〜15μとするのが望ましい
Furthermore, the long wavelength light absorption layer 10 in the light receiving member 7 of the present invention
The layer thickness of No. 5 is from 0.05 to 25μ, preferably from 0.07 to
It is desirable that the thickness be 20μ, most preferably 0.1 to 15μ.

第1(D)図に示す本発明の光受容部材において、支持
体101と光導電PJ102との間に設けられる密着層
toeは、支持体101と光導電層102どの密着性を
改善せしめる機能を奏する層であって、酸素原子、炭素
原子および窒素原子の中から選はれる少なくとも一種を
含有するNon−5i (It 、 X) (以後、’
Non−5i (0、C、N) (It 、 X) J
と表記する。)で構成されている。そして該密着層10
6中に含有せしめる酸素原子炭素原子、窒素原子の量、
又はそれらの中の少なくとも2つ以上の和は、100〜
9 X 10’atomic ppm好ましくは 10
(1〜4 x 10’ atomic ppmとするこ
とが望ましい、また、該密着5106中に含有せしめる
水素原子又はハロゲン原子の量あるいはそれらの和は好
ましくはlO〜7 x lO’atomicppI11
とし、特にpoly−5i(0,C,N) ()1.X
)の場合には10〜2 x lo’atomic pp
m、 a−5i (0,C,N) (11,X)の場合
にはI X 10’ 〜7 X 10’aLomic 
ppmとすることが望ましい。
In the light-receiving member of the present invention shown in FIG. 1(D), the adhesive layer toe provided between the support 101 and the photoconductive layer 102 has a function of improving the adhesion between the support 101 and the photoconductive layer 102. Non-5i (It, X) (hereinafter referred to as '
Non-5i (0, C, N) (It, X) J
It is written as. ). And the adhesive layer 10
The amount of oxygen atoms, carbon atoms, and nitrogen atoms contained in 6,
Or the sum of at least two of them is 100 to
9 X 10'atomic ppm preferably 10
(It is desirable to set it as 1 to 4 x 10' atomic ppm, and the amount of hydrogen atoms or halogen atoms contained in the adhesion 5106 or the sum thereof is preferably 10 to 7 x 10' atomic ppm I11
and especially poly-5i(0,C,N) ()1. X
) in case of 10~2 x lo'atomic pp
m, a-5i (0,C,N) (11,X) if I X 10' ~ 7 X 10'aLomic
It is desirable to set it to ppm.

ところで、本発明の光受容部材における電荷注入阻止層
104、長波長光吸収層105及び密着層106は、こ
れらを組み合わせて用いることが可能であり、その典型
的な例を示したものが第1(E)図乃至(H)図である
Incidentally, the charge injection blocking layer 104, the long wavelength light absorption layer 105, and the adhesion layer 106 in the light receiving member of the present invention can be used in combination, and the first example shows a typical example thereof. (E) to (H).

更に、本発明の光受容部材においては、電荷注入阻止層
104又は長波長光吸収層105中に酸素原子、炭素原
子及び窒素原子の中から選ばれる少なくとも一種を含有
せしめることにより、これらの層に密着層としての機能
を兼ねそなえさせることも可能であり、また、長波長光
吸収層105中に第1II族原子又は第V族原子を含有
せしめるか、あるいは電荷注入阻止層104中にゲルマ
ニウム原子又はスズ原子を含有せしめることにより、こ
れら両層の機能を兼ねそなえた店とすることができる。
Furthermore, in the light-receiving member of the present invention, at least one selected from oxygen atoms, carbon atoms, and nitrogen atoms is contained in the charge injection blocking layer 104 or the long wavelength light absorption layer 105, so that these layers have a It is also possible to have the function as an adhesion layer, and the long wavelength light absorption layer 105 may contain Group 1II atoms or Group V atoms, or the charge injection blocking layer 104 may contain germanium atoms or By containing tin atoms, it is possible to create a structure that has both of the functions of these layers.

ところで、本発明の光受容部材における電荷注入阻止層
104、長波長光吸収層tOS及び密着層106は、N
on−Si (II、X)を母体とする材料で構成され
ているが、poly−5i(11,X)で4み成される
層を形成するについては種々の方法があり、例えば次の
ような方イ去があげられる。
By the way, the charge injection blocking layer 104, the long wavelength light absorption layer tOS, and the adhesion layer 106 in the light receiving member of the present invention are made of N.
Although it is composed of a material based on on-Si (II, I can give you an alternative.

その1つの方法は、基体温度を高温、具体的には400
〜450℃に設定し、該基体上にプラズマCVD法によ
り膜を堆積せしめる方法である。
One method is to raise the substrate temperature to a high temperature, specifically 400℃.
In this method, the temperature is set at ~450° C., and a film is deposited on the substrate by plasma CVD.

他の方法は、基体表面に先ずアモルファス状の膜を形成
、即ち、基体温度を約250℃にした基体上にプラズマ
CVD法により膜を形成し、該アモルファス状の膜を7
二−リング処理することによりpoly化する方法であ
る。該アニーリング処理は、基体を400〜450℃に
約20分間加熱するか、あるいは、レーザー光を約20
分間照射することにより行なわれる。
Another method is to first form an amorphous film on the surface of the substrate, that is, to form the film by plasma CVD on the substrate whose temperature is about 250°C, and then to remove the amorphous film for 70 minutes.
This is a method of converting into poly by two-ring treatment. The annealing process involves heating the substrate to 400-450°C for about 20 minutes, or applying laser light for about 20 minutes.
This is done by irradiating for a minute.

本発明の光受容部材の光i?it1mto2は、a−5
i(II。
The light i? of the light receiving member of the present invention? it1mto2 is a-5
i(II.

X)またはa−5i(Ge、Sn) (H,X)で構成
され、光導仮性を有する層であって、該層にはさらに、
第1II族原子又は第V族原子又は/及び酸素原子、炭
素原子及び窒素原子の中から選ばれる少なくとも一種を
含有せしめることができる。
X) or a-5i(Ge, Sn) (H,
It can contain at least one selected from Group 1II atoms, Group V atoms, and/or oxygen atoms, carbon atoms, and nitrogen atoms.

光導電層102中に含有せしめるハロゲン原子(X)と
しては、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げ
られ、特にフ、ツ素、塩素を好適なものとして挙げるこ
とができる。モして光i’;[二層102中に含有せし
める水素原子(1()の士又はハロゲン原子(Xlの量
、あるいは水素原子とハロゲン原子の量の和(11÷X
)は、好ましくは1〜40ajomic机より好ましく
は5〜30atOmIC’6とするのが望ましい、 ま
た、光導電層102中に第1II族原子原子又は第V族
原子を含有せしめる目的は、光導電層102の伝導性を
制御することにある。このような第1II族原子及び第
■族原子としては、前述の電荷注入阻止層104中に含
有せしめるものと同隷のものを用いることができるが、
光導電層102に含有せしめる場合には、電荷注入阻止
層104に含有せしめたものとは逆の極性のものを含有
せしめるか、あるいは電荷注入阻止層104に含有せし
めたものと同極性のものを該713104に含有される
量より一段と少ない量にして含有せしめることができる
Specific examples of the halogen atoms (X) to be contained in the photoconductive layer 102 include fluorine, chlorine, bromine, and iodine, with fluorine, trous, and chlorine being particularly preferred. [The amount of hydrogen atoms (1()) or the amount of halogen atoms (Xl, or the sum of the amounts of hydrogen atoms and halogen atoms (11÷X
) is preferably 1 to 40 at OmIC'6, more preferably 5 to 30 atOmIC'6. Furthermore, the purpose of containing Group 1 II atoms or Group V atoms in the photoconductive layer 102 is to The objective is to control the conductivity of 102. As such Group 1 II atoms and Group Ⅰ atoms, atoms similar to those contained in the charge injection blocking layer 104 described above can be used;
When it is contained in the photoconductive layer 102, it is contained with a substance having the opposite polarity to that contained in the charge injection blocking layer 104, or a substance having the same polarity as that contained in the charge injection blocking layer 104. It can be contained in an amount much smaller than that contained in 713104.

光導電層102中に含有せしめる第1II族原子又は第
■族原子の量は、好ましくはI X 10−’〜!×1
0’ atomic ppm、より好ましくは5XlO
−2〜5XIc” atoI!tic ppm、最適に
は1 x 10−’ 〜2 x 102)02ato 
ppIllとすることが望ましい。
The amount of Group 1 II atoms or Group Ⅰ atoms contained in the photoconductive layer 102 is preferably I x 10-'~! ×1
0' atomic ppm, more preferably 5XlO
-2 to 5XIc" atoI!tic ppm, optimally 1 x 10-' to 2 x 102)02ato
It is desirable to set it to ppIll.

また光導電層102中に、酸素原子、炭素原子及び窒素
原子の中から選ばれる少なくとも一種を含有せしめる目
的は、光導?It層102の高暗抵抗化をはかるととも
に、先導?liF!J102の膜品質を向上せしめるこ
とにある。そして、光導電層102に含有せしめるこう
した原子の量は、好ましくはlX10−’〜50ato
mic%、より好ましくは2xlO−’〜40atom
ic!に、最適には3 X 10−3〜30atomi
c%とするのが望ましい。
Moreover, the purpose of containing at least one kind selected from oxygen atoms, carbon atoms, and nitrogen atoms in the photoconductive layer 102 is to conduct light. In addition to increasing the dark resistance of the It layer 102, the leading? liF! The objective is to improve the film quality of J102. The amount of such atoms contained in the photoconductive layer 102 is preferably lX10-' to 50ato
mic%, more preferably 2xlO-'~40atom
ic! , optimally 3 X 10-3 to 30 atoms
It is desirable to set it to c%.

更に、先導Tifi102中に、ゲルマニウム原子(G
e)又はスズ原子(Sn)のうちの少なくとも一方を含
有せしめることができるが、こうした原子を含有せしめ
る目的は、レーザー光などの長波長光に対する感度を向
上せしめることにあり、この場合、光導電層102中に
含有せしめるこれらの原子の景は、好ましくは1〜9.
5 X lo’atomic ppmとするのが望まし
い。
Furthermore, germanium atoms (G
e) or tin atoms (Sn), the purpose of containing such atoms is to improve the sensitivity to long wavelength light such as laser light, and in this case, the photoconductive The number of atoms contained in the layer 102 is preferably 1 to 9.
Preferably, the amount is 5 x lo'atomic ppm.

また、本発明の光受容部材において、光導Il層の層厚
は、本発明の目的を効率的に達成するには重要な要因の
1つであって、光受容部材に所望の特性が与えられるよ
うに、光受容部材の設計の際には充分な注意を払う必要
があり、通常は1〜100μとするが、好ましくは3〜
80μ、最適には5〜50μとする。
Furthermore, in the light-receiving member of the present invention, the layer thickness of the light-guiding Il layer is one of the important factors for efficiently achieving the object of the present invention, and is necessary to impart desired characteristics to the light-receiving member. Therefore, it is necessary to pay sufficient attention when designing the light-receiving member, and the thickness is usually 1 to 100μ, but preferably 3 to 100μ.
80μ, optimally 5 to 50μ.

本発明の光受容部材において特徴とするところの表面保
護[103は、前述の光導電Fl102上に位置して設
けられ、自由表面107を有するものである。そして該
表面像MU層103は、光受容部材に要求される諸特性
、即ち、耐湿性、連続繰り返し使用特性、電気的耐圧性
、使用環境特性、および耐久性等を向上せしめると共に
、光受容層が帯電処理を受けた際に、自由表面107側
から光導電層102中に電荷を注入されるのを阻止する
機能を奏するものである。
A characteristic feature of the light-receiving member of the present invention is that the surface protection [103] is located on the photoconductive Fl 102 described above and has a free surface 107. The surface image MU layer 103 improves various properties required of a light-receiving member, such as moisture resistance, continuous repeated use characteristics, electrical pressure resistance, use environment characteristics, and durability, and also improves the light-receiving layer. It functions to prevent charges from being injected into the photoconductive layer 102 from the free surface 107 side when the photoconductive layer 102 is subjected to charging treatment.

かくなる本発明の光受容部材の表面保護層103は、4
配位構造の窒化ホウ素と3配位構造の窒化ホウ素とを混
在して含有する非単結晶質材料〔以後、’Non−BN
j と表記する。〕、即ちアモルファス材料〔以後、’
a−[IN」 と表記する。〕又は多結品質材料〔以後
、’poly−BN」と表記する。〕あるいは両者の混
合物で構成されるものであり、更に、不素原子又はハロ
ゲン原子のうちの少なくとも一方を含有せしめ−ること
もできる〔以後、’Non−38(11,X)4と表記
する。〕 該表面像1111o:+を4−3成する各原子の割合に
ついては、Non−BN (H、X)の組成比を(Bl
lN+−Il) +−y(11,X)yで表わすと、次
の条件を満足していることが望ましい。
The surface protective layer 103 of the light-receiving member of the present invention has 4
A non-single crystal material containing a mixture of boron nitride with a coordination structure and boron nitride with a tricoordination structure [hereinafter referred to as 'Non-BN
It is written as j. ], i.e., amorphous material [hereinafter, '
It is written as a-[IN]. ] or polycrystalline material [hereinafter referred to as 'poly-BN'. ] or a mixture of the two, and may further contain at least one of a nitrogen atom or a halogen atom [hereinafter referred to as 'Non-38(11,X)4' . ] Regarding the proportion of each atom forming 4-3 of the surface image 1111o:+, the composition ratio of Non-BN (H,
When expressed as lN+-Il) +-y(11,X)y, it is desirable that the following conditions be satisfied.

Xについて; 0.1≦X≦0.9、好ましくは0.2≦X≦O,a最
適には0.3≦X≦0.7 yについて: 0.4≦y≦40、好ましくは0゜5≦y≦30最適に
はl≦y≦20 本発明の光受容部材においては、表面保護層+03の層
厚も本発明の目的を効率的に達成するために重要な要因
の1つであり、所望の目的に応じて適宜決定されるもの
であるが、表面保護層に含有せしめる構成原子のユ、あ
るいは表面像AK KJに要求される特性に応じて相互
的かつ有機的関連性の下に決定する必要がある。更に生
産性や量産性も加味した経済性の点においても考慮する
必要もある。
For X: 0.1≦X≦0.9, preferably 0.2≦X≦O, a optimally 0.3≦X≦0.7 For y: 0.4≦y≦40, preferably 0゜5≦y≦30, optimally l≦y≦20 In the light-receiving member of the present invention, the layer thickness of the surface protective layer +03 is also one of the important factors for efficiently achieving the object of the present invention. Although it is determined as appropriate depending on the desired purpose, it may be determined based on mutual and organic relationships depending on the number of constituent atoms contained in the surface protective layer or the characteristics required for the surface image AK KJ. It is necessary to decide. Furthermore, it is also necessary to consider economic efficiency, including productivity and mass production.

こうしたことから、本発明の光受容部材の表面保護層1
03の層厚は、好ましくは0.003〜30μ、より好
ましくは0.004〜20μ、最適にはo、oos〜1
0μである。
For these reasons, the surface protective layer 1 of the light-receiving member of the present invention
The layer thickness of 03 is preferably 0.003 to 30μ, more preferably 0.004 to 20μ, optimally o, oos to 1
It is 0μ.

更に本発明の光受容部材においては、前述の表面保護層
103と光導電層102との間に中間層108を形成せ
しめてもよい、該中間1i3108は、炭素原子を含有
すルa−5i (II 、 X)又はpoly−5i(
II、X)で!成されており、該中間層108中に含有
せしめる炭素原子の量は、好ましくは20〜90ato
mic%、より好ましくは30〜85atomic%、
最適には40〜80atomic%とすることが望まし
い。また該中間層1’08中に含有せしめる水素原子(
+1)の世、ハロゲン原子(X)の量、及び水素原子+
ハロゲン原子(H◆X)の量は、好ましくは1〜70a
tomic%、より好ましくは2〜65atOmic%
、最適にはs 〜60atomic%とするのが望まし
い、さらに該中間層108の層厚は、好ましくは0.0
03〜30μm5より好ましくは0.004〜20μm
1最適にはo、oos〜lOμmとするのが望ましい。
Furthermore, in the light-receiving member of the present invention, an intermediate layer 108 may be formed between the above-mentioned surface protective layer 103 and photoconductive layer 102, and the intermediate layer 1i3108 is made of a carbon atom-containing layer a-5i ( II, X) or poly-5i (
II, X)! The amount of carbon atoms contained in the intermediate layer 108 is preferably 20 to 90 atoms.
mic%, more preferably 30-85 atomic%,
The optimum content is preferably 40 to 80 atomic%. Further, the hydrogen atoms contained in the intermediate layer 1'08 (
+1), the amount of halogen atoms (X), and hydrogen atoms +
The amount of halogen atoms (H◆X) is preferably 1 to 70a
tomic%, more preferably 2-65atomic%
, is optimally desirably s ~ 60 atomic%, and the layer thickness of the intermediate layer 108 is preferably 0.0 atomic%.
03-30μm5 more preferably 0.004-20μm
1. Optimally, it is desirable to set it to o, oos to lOμm.

次に、本発明の光受容部材の構成層の形成方法について
説明する。
Next, a method for forming the constituent layers of the light-receiving member of the present invention will be explained.

本発明の光受容部材を構成する非晶質材料は、いずれも
グロー放電法(低周波CVD、高周波CVD又はマイク
ロ波CVD等の交流数?ii CV D、あるいは直流
放電CVD等)、スパッタリング法、真空蒸着法、イオ
ンブレーティング法、光CVD法、熱CVD法などの種
々の薄膜堆積法によって成形することができる。これら
の薄膜堆積法は、製造条件、設備資本投下の負荷程度、
製造規模、作成される光受容部材に所望される特性等の
要因によって適宜選択されて採用されるが、所望の特性
を有する光受容部材を製造するに当っての条件の制御が
比較的容易であり、シリコン原子と共にハロゲン原子及
び水素原子の導入を容易に行い得る等のことからして、
グロー放電法或いはスパッタリング法が好適である。そ
して、グロー放電法とスパッタリング法とを同−装者系
内で併用して形成してもよい。
The amorphous material constituting the light-receiving member of the present invention can be prepared using a glow discharge method (alternating current CVD such as low frequency CVD, high frequency CVD or microwave CVD, or direct current discharge CVD, etc.), sputtering method, It can be formed by various thin film deposition methods such as a vacuum evaporation method, an ion blating method, a photo CVD method, and a thermal CVD method. These thin film deposition methods vary depending on manufacturing conditions, equipment capital investment,
The method is selected and adopted as appropriate depending on factors such as the production scale and the desired characteristics of the light-receiving member to be produced, but it is relatively easy to control the conditions for producing a light-receiving member with the desired characteristics. However, since halogen atoms and hydrogen atoms can be easily introduced together with silicon atoms,
Glow discharge method or sputtering method is suitable. Further, the glow discharge method and the sputtering method may be used together in the same system.

例えば、グロー放電法により、4配位構造と3配位構造
とが混在したNon−BN (H、X)で構成される表
面保護層を形成するには、基本的にはホウ素原子(B)
を供給し得るB供給用の原料ガスと、窒素原子(N)を
供給し得るN供給用の原料ガスと、必要に応じて水素原
子()I)導入用又は/及びハロゲン原子(X)導入用
の原料ガスとを、内部が減圧にし得る堆積室内に導入し
て、該堆積室内にグロー放電を生起させ、Non−BN
 (H,X)から成る層を形成する。
For example, in order to form a surface protective layer composed of Non-BN (H,
A raw material gas for B supply that can supply B, a raw material gas for N supply that can supply nitrogen atoms (N), and a raw material gas for introducing hydrogen atoms (I) or/and halogen atoms (X) as necessary. A raw material gas for non-BN is introduced into a deposition chamber whose inside can be made to have a reduced pressure, and a glow discharge is generated in the deposition chamber.
A layer consisting of (H,X) is formed.

前記B供給用の原料ガスとしては、BxHt、、B2O
2゜B、l(、,8B1111.Ba1112.BFz
、8C11等のガス状態の又はガス化し得る化合物があ
げられる。
As the raw material gas for B supply, BxHt, B2O
2゜B,l(,,8B1111.Ba1112.BFz
, 8C11 and the like, which are in a gaseous state or can be gasified.

また、前記N供給用の原料ガスとしては、I7、N11
.、NF、、NF、CI、NFCl2、NC1,、N2
F2.N2F4、NH2Cl。
In addition, as the raw material gas for the N supply, I7, N11
.. ,NF,,NF,CI,NFCl2,NC1,,N2
F2. N2F4, NH2Cl.

NIIF、、Nll、F等のガス状態の又はガス化し得
る化合物があげられる。
Examples include compounds in a gaseous state or which can be gasified, such as NIIF, NIl, F, and the like.

また、スパッタリング法によって4配位構造と3配位構
造とが混在したNon−BN (II 、 X1層を形
成するには、ターゲットとしてBNターゲットを用い、
前記N供給用原料ガスをA「等の不活性ガスと共に堆積
室内に導入してプラズマ7囲気を形成し、前記BNター
ゲットをスパッタリングするか、ターゲトとしてBター
ゲットを用い、前記N供給用原料ガスを多量に導入して
プラズマ7囲気を形成し、前記Bターゲットとスパッタ
リングすることによって形成される。
In addition, in order to form a Non-BN (II,
Either the raw material gas for N supply is introduced into the deposition chamber together with an inert gas such as A to form a plasma atmosphere, and the BN target is sputtered, or the raw material gas for N supply is introduced into the deposition chamber using the B target as a target. It is formed by introducing a large amount of plasma to form a plasma atmosphere and sputtering it with the B target.

また、グロー放電法によって、a−5i (It 、 
X)で4114成される層を形成するには、基本的には
シリコン原子(Silを供給し得るSi供給用の原料ガ
スと共に、水素原子(11)導入用の又は/及びハロゲ
ン原子(X)導入用の原料ガスを、内部が減圧にし得る
堆積室内に導入して、該堆積室内にグロー放電を生起さ
せ、予め所定位買に設にした所定の支持体表面上にa−
5i (II 、 X)から成る層を形成する。
In addition, a-5i (It,
In order to form a layer composed of 4114 X), basically, along with a raw material gas for supplying Si that can supply silicon atoms (Sil), hydrogen atoms (11) for introduction or/and halogen atoms (X) are used. A raw material gas for introduction is introduced into a deposition chamber whose interior can be reduced in pressure, a glow discharge is generated in the deposition chamber, and a-
5i (II, X) is formed.

前記Si供給用のガスとしては、5illa、5i2)
16.5i3116,5i4II+o等のガス状態の又
はガス化し得る水素化硅素(シラン類)が挙げられ、特
に、層形成作業のし易さ、Si供給効率の良さ等の点で
、Si:I4、Si、11.が好ましい。
As the gas for supplying Si, 5illa, 5i2)
16.5i3116, 5i4II+o, etc., and gaseous silicon hydride (silanes) such as Si:I4, Si , 11. is preferred.

また、前記ハロゲン原子導入用の原料ガスとしては、多
くのハロゲン化合物が挙げられ、例えばハロゲンガス、
ハロゲン化物、ハロゲン間化合物、ハロゲンで置換され
たシラン誕導体等のガス状態の又はガス化しつるハロゲ
ン化合物が好ましい。具体的にはフッ素、塩素、臭素、
ヨウ素のハロゲンガス、8rF、CIF、CIF、、8
「F6、BrF3、IF、、ICI。
Further, as the raw material gas for introducing halogen atoms, there are many halogen compounds, such as halogen gas,
Gaseous or gasified halogen compounds, such as halides, interhalogen compounds, and halogen-substituted silane conductors, are preferred. Specifically, fluorine, chlorine, bromine,
Iodine halogen gas, 8rF, CIF, CIF, 8
“F6, BrF3, IF,, ICI.

IBr等のハロゲン間化合物、および5IF4.5I2
Fa、5tC14,Sl[Hr4等のハロゲン化硅素が
挙げられる。
Interhalogen compounds such as IBr, and 5IF4.5I2
Examples include silicon halides such as Fa, 5tC14, and Sl[Hr4.

上述のごときハロゲン化硅素のガス状態の又はガス化し
つるものを用いる場合には、Si供給用の原料ガスを別
途使用することなくして、ハロゲン原子を含有するa−
5iで構成された層が形成できるので、特に有効である
When using a gaseous silicon halide or a gasified silicon halide as described above, a-
This is particularly effective since a layer composed of 5i can be formed.

また、前記水素原子供給用の原料ガスとしては、水素ガ
ス、IIF、 llCl 、 !IBr 、 Hr等の
ハロゲン化物、5illa、5izHa 、5isHa
 、5i4H+o等の水素化硅素、あるいは5i112
F2.5i11,12.5ilL2CI2.5iHC1
3、S i II 28 r 2 、 S i If 
B r s、等のハロゲン置換水素化硅素等のガス状態
の又はガス化しつるものを用いることができ、これらの
原料ガスを用いた場合には、電気的あるいは光電的特性
の制御という点で極めて有効であるところの水素原子(
11)の含有量の制御を容易に行うことができるため、
有効である。
Further, as the raw material gas for supplying hydrogen atoms, hydrogen gas, IIF, llCl, ! Halides such as IBr, Hr, 5illa, 5izHa, 5isHa
, 5i4H+o, or 5i112
F2.5i11, 12.5ilL2CI2.5iHC1
3, S i II 28 r 2 , S i If
Gaseous or gasified materials such as halogen-substituted silicon hydride such as B r s can be used, and when these raw material gases are used, it is extremely effective in terms of controlling electrical or photoelectric characteristics. The hydrogen atom that is effective (
Since the content of 11) can be easily controlled,
It is valid.

そして、前記ハロゲン化水素又は前記ハロゲン置換水素
化硅素を用いた場合にはハロゲン原子の導入と同時に水
素原子(H)も導入されるので、特に有効である。
When the hydrogen halide or the halogen-substituted silicon hydride is used, hydrogen atoms (H) are also introduced at the same time as the halogen atoms, which is particularly effective.

反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依ってa−5t(II、X)から成る居を形成するには
、例えばスパッタリング法の場合には、ハロゲン原子を
導入するについては、前記のハロゲン化合物又は前記の
ハロゲン原子を含む硅素化合物のガスを堆積室中に導入
して該ガスのプラズマ7囲気を形成してやればよい。
In order to form a group consisting of a-5t(II, A silicon compound gas containing halogen atoms may be introduced into the deposition chamber to form a plasma 7 surrounding the gas.

又、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料ガス、例えば、II、或いは前記したシラン類等のガ
スをスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプ
ラズマ;囲気を形成してやればよい。
In addition, when introducing hydrogen atoms, a raw material gas for introducing hydrogen atoms, such as II or the above-mentioned silane gases, is introduced into the deposition chamber for sputtering to form a plasma of the gas; an surrounding atmosphere. Just do it.

例えば、反応スパッタリング法の場合には、 SIツタ
−ットを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH,ガ
スを必要に応じてHe、 Ar等の不活性ガスも含めて
堆積室内に導入してプラズマ雰囲気を形成し、前記Si
ターゲットをスパッタリングすることによって、支持体
上にa−5i()1.X)から成る層を形成する。
For example, in the case of the reactive sputtering method, an SI tube is used to introduce a gas for introducing halogen atoms, H, and gases, including inert gases such as He and Ar as necessary, into the deposition chamber. to form a plasma atmosphere, and
a-5i()1. on the support by sputtering a target. A layer consisting of X) is formed.

グロー放電法によってa−5iGe (II 、 X)
で構成される層を形成するには、シリコン原子(Si)
を供給しうるSr(共給用の原料ガスと、ゲルマニウム
原子(Ge)を供給しうるGe供給用の原料ガスと、水
素原子(11)又は/及びハロゲン原子(X)を供給し
つる水素原子(11)又は/及びハロゲン原子(X)供
給用の原料ガスを内部を減圧にしつる堆積室内に所望の
ガス圧状態で導入し、該堆積室内にグロー放電を生起せ
しめて、予め所定位置に設置しである所定の支持体表面
上に、a−5iGe (HlX)で構成される色を形成
する。
a-5iGe (II, X) by glow discharge method
To form a layer consisting of silicon atoms (Si)
A raw material gas for co-supply of Sr (co-supply), a raw material gas for Ge supply that can supply germanium atoms (Ge), and a hydrogen atom that supplies hydrogen atoms (11) and/or halogen atoms (X). (11) Or/and a raw material gas for supplying halogen atoms (X) is introduced at a desired gas pressure into a hanging deposition chamber whose interior is reduced in pressure, a glow discharge is generated within the deposition chamber, and the material is placed in a predetermined position in advance. A color composed of a-5iGe (HlX) is formed on a given support surface.

Si供給用の原料ガス、ハロゲン原子供給用の原子ユガ
ス、及び水素原子供給用の原料ガスとなりうる物質とし
ては、前述のa−5i(11,X)で構成される層を形
成する場合に用いたものがそのまま用いられる。
Substances that can be used as the raw material gas for supplying Si, the atomic gas for supplying halogen atoms, and the raw material gas for supplying hydrogen atoms include those used when forming the layer composed of the above-mentioned a-5i(11,X). What you have is used as is.

また、前記Ge供給用の原料ガスとなりつる物質として
は、G e Il 4、Gezlla 、Ge5Ha 
、GeaH+a、Ge5ll+*、 Ge5ll+*、
 Ge7111a、 GeaHras GeolI2o
等のガス状態の又はガス化しつる水素化ゲルマニウムを
用いることができる。特に、層作成作業時の取扱易さ、
Ge供給効率の良さ等の点から、G e tI 4、c
e2It、 t およびG e 3II 、が好ましい
In addition, as the material gas for supplying Ge, G e Il 4, Gezlla, Ge5Ha
, GeaH+a, Ge5ll+*, Ge5ll+*,
Ge7111a, GeaHras GeolI2o
Germanium hydride in a gaseous state or in a gasified form can be used. In particular, ease of handling during layer creation work,
From the point of view of good Ge supply efficiency, Ge tI 4, c
e2It, t and G e 3II are preferred.

スパッタリング法によってa−5iGe (Il、X)
で構成される層を形成するには、シリコンから成るター
ゲットと、ゲルマニウムから成るターゲットとの二枚を
、あるいは、シリコンとゲルマニウムからなるターゲッ
トを用い、これ等を所望のガス容囲気中でスパッタリン
グすることによって行なう。
a-5iGe (Il,X) by sputtering method
To form a layer composed of , a target made of silicon and a target made of germanium, or a target made of silicon and germanium, are used and sputtered in a desired gas atmosphere. Do it by doing this.

イオンブレーティング法を用いてa−5iGe (II
、X)で構成される層を形成する場合には、例えば、多
結晶シリコン又は単結晶シリコンと多結晶ゲルマニウム
又はまた単結晶ゲルマニウムとを夫々蒸発源として蒸着
ボートに収容し、この蒸発源を抵抗加熱法あるいはエレ
クトロンビーム法(E、B、法)等によって加熱蒸発さ
せ飛翔蒸発物を所望のガスプラズマ霊囲気中を通過せし
めることで行ない得る。
a-5iGe (II
, This can be carried out by heating and vaporizing by a heating method, an electron beam method (E, B, method), etc., and causing the flying evaporated material to pass through a desired gas plasma atmosphere.

スパッタリング法およびイオンブレーティング法のいず
れの場合にも、形成する層中にハロゲン原子を含有せし
めるには、前述のハロゲン化物又はハロゲン原子を含む
硅素化合物のガスを堆積室中に導入し、該ガスのプラズ
マ雰囲気を形成すればよい、又、水素原子を導入する場
合には、水素原子供給用の原料ガス、例えばF2あるい
は前記した水素化シラン類又は/及び水素化ゲルマニウ
ム等のガス類をスパッタリング用の堆積室内に導入して
これ等のガス類のプラズマ:囲気を形成すればよい、さ
らにハロゲン原子供給用の原料ガスとしては、前記のハ
ロゲン化物或いはハロゲンを含む硅素化合物が有効なも
のとして挙げられるが、その他に、)IF、 llCl
 、 1IBr 、 )II等のハロゲン化水素、5j
lhFi、5i11.I2.5iH2CIz、5ill
(:I3、S+IhBr2.5illOr、、等のハロ
ゲンは換水素化硅素、およびG e If F 3 、
 G e II 2 F 2、G e It 、 F 
、 G e II CI3、Ge1l、C1,、Ge)
13CI、  Ge1lBr、、 G e II 2 
B r 2  、  G e II 3 B r、 G
et目1、G e It 2) x 、G e 831
 等の水素化ハロゲン化ゲルマニウム等、GeF4、G
eCl4 、 GeBr4. Ga1a、GeF2、G
eCIx、Gear、、Ge12等のハロゲン化ゲルマ
ニウム等々のガス状態の又はガス化しつる物質も有効な
出発物質として使用できる。
In both the sputtering method and the ion blasting method, in order to contain halogen atoms in the layer to be formed, a gas of the above-mentioned halide or a silicon compound containing halogen atoms is introduced into the deposition chamber, and the gas is It is sufficient to form a plasma atmosphere of Plasma of these gases may be introduced into the deposition chamber to form an atmosphere. Furthermore, as the raw material gas for supplying halogen atoms, the above-mentioned halides or silicon compounds containing halogen are effective examples. But in addition, )IF, llCl
, 1IBr, )II, etc., 5j
lhFi, 5i11. I2.5iH2CIz, 5ill
(: I3, S+IhBr2.5illOr, etc., halogen is replaced with silicon hydride, and G e If F 3 ,
G e II 2 F 2, G e It , F
, G e II CI3, Ge1l, C1,, Ge)
13CI, Ge1lBr,, G e II 2
B r 2 , G e II 3 B r, G
etth 1, G e It 2) x, G e 831
Hydrogenated halogenated germanium such as GeF4, G
eCl4, GeBr4. Ga1a, GeF2, G
Gaseous or gasified materials such as germanium halides such as eCIx, Gear, Ge12, etc. can also be used as effective starting materials.

グロー放電法、スパッタリング法あるいはイオンブレー
ティング法を用いて、スズ原子を含有するアモルファス
シリコン(以下、’a−5iSn(It、X)4と表記
する。)で構成される光受容層を形成するには、上述の
a−5iGe (II、X)で構成される層の形成の際
に、ゲルマニウム原子供給用の出発物質を、スズ原子(
Sn)供給用の出発物質にかえて使用し、形成する層中
へのその量を制御しながら含有せしめることによって行
なう。
A photoreceptive layer made of amorphous silicon containing tin atoms (hereinafter referred to as 'a-5iSn(It,X)4) is formed using a glow discharge method, a sputtering method, or an ion blating method. In forming the layer composed of a-5iGe (II,
This is carried out by using it in place of the starting material for supplying Sn) and controlling its amount in the layer to be formed.

前記スズ原子(Sn)供給用の原料ガスとなりつる物質
トシテハ、水素化スズ(Snl14)やSnF、、5n
F4.5nC1x、5nCIa 、 5n8r2. S
nBr4. SnI2、Sn■a等のハロゲン化スズ等
のガス状態の又はガス化しうるものを用いることができ
、ハロゲン化スズを用いる場合には、所定の支持体上に
ハロゲン原子を含有するa−5tで構成される層を形成
することがで診るので、特に有効である。なかでも、層
作成作業時の取り扱い易さ、Sn供給効率の良さ等の点
から、5nC14が好ましい。
Substances that serve as raw material gas for supplying the tin atoms (Sn), tin hydride (Snl14), SnF, 5n
F4.5nC1x, 5nCIa, 5n8r2. S
nBr4. Gaseous or gasifiable tin halides such as SnI2 and Sna can be used, and when tin halides are used, a-5t containing halogen atoms can be used on a predetermined support. This is particularly effective because the diagnosis can be made by forming a layer consisting of two or more layers. Among these, 5nC14 is preferable from the viewpoint of ease of handling during layer formation work, good Sn supply efficiency, etc.

そして、5nCLをスズ原子(Sn)供給用の出発物質
として用いる場合、これをガス化するには、固体状の5
IIC14を加熱するとともに、Ar、 lee等の不
活性ガスを吹き込み、該不活性ガスを用いてバブリング
するのが望ましく、こうして生成したガスを、内部を減
圧にした堆積室内に所望のガス圧状態で導入する。
When using 5nCL as a starting material for supplying tin atoms (Sn), in order to gasify it, solid 5nCL is required.
It is desirable to heat the IIC 14 and to blow an inert gas such as Ar or lee into it for bubbling using the inert gas. Introduce.

グロー放電法、スパッタリング法、あるいはイオンブレ
ーティング法を用いて、a−5i(11,X) に第1
II族原子又は第V族原子、窒素原子、酸素原子あるい
は炭素原子を含有せしめた非晶質材料で構成された層を
形成するには、a−5i(If、X)の居の形成の際に
、第1II族原子又は第V族原子導入用の出発物質、酸
素原子導入用の出発物質、窒素原子導入用の出発物質、
あるいは炭素原子導入用の出発物質を、前述したa−5
ill、X)形成用の出発物質と共に使用して、形成す
る層中へのそれらの量を制御しながら含有せしめてやる
ことによって行なう。
Using the glow discharge method, sputtering method, or ion blating method, a-5i (11,
In order to form a layer composed of an amorphous material containing a group II atom or a group V atom, nitrogen atom, oxygen atom or carbon atom, during the formation of a-5i (If, , a starting material for introducing a Group 1 II atom or a Group V atom, a starting material for introducing an oxygen atom, a starting material for introducing a nitrogen atom,
Alternatively, the starting material for introducing carbon atoms may be
ill,

例えば、グロー放電法を用いて、原子(0,C,N)を
含有するa−5i (II 、 X)で構成される層を
形成するには、前述のa−5i(II、X)で構成され
る居を形成する際に、原子(0,C,N)導入用の出発
物質をa−Si(Il、X)形成用の出発物質とともに
使用して形成する心中へのそれらの量を制御しながら含
有せしめることによって行なう。
For example, in order to form a layer composed of a-5i (II, X) containing atoms (0, C, N) using the glow discharge method, the above-mentioned a-5i (II, When forming the structure, the starting material for introducing atoms (0, C, N) is used together with the starting material for forming a-Si (Il, This is done by controlling their inclusion.

このような原子(0,C,N)導入用の出発物質として
は、少なくとも原子(0,C,N)を構成原子とするガ
ス状の物質又はガス化し得る物質であれば、はとんどの
ものが使用できる。
As a starting material for such introduction of atoms (0, C, N), most of the gaseous substances or substances that can be gasified have at least atoms (0, C, N) as constituent atoms. Things can be used.

具体的には酸素原子(0)導入用の出発物質として、例
えば、酸素(0゜)、オゾン(03)、−酸化窒素(N
O)、−二酸化窒素(N、0)、三二酸化窒素Ohoコ
)、四二酸化窒素(N204)、五二酸化窒素(N20
s)、三酸化窒素(NO3)、シリコン原子(Si)と
酸素原子(0)と水素原子(H)  とを構成原子とす
る例えばジシロキサン(lI3siO5iH3)、 ト
リシロキサ:/ (H3SiO5iH20Sil+3)
等の低級シロキサン等が挙げられ、炭素原子(C)導入
用の出発物質としては、例えば、メタン(C++、) 
、エタン([:2H1l)、プロパン(CJa)、n−
ブタン(n−CJ+o) 、ペンタン(C8I112)
等の炭素数1〜5の飽和炭化水素、エチレン(C2)1
4)、プロピレン((3Ha)、ブテン−1(C4H6
)、ブテン−2(C41+a)、イソブチレン(C<l
1a)、ペンテン(Csll+o)等の炭素数2〜5の
エチレン系炭化水素、アセチレン(1:dh)、メチル
アセチレン(C31+4)、ブチン(C4Ha)等の、
炭素数2〜4のアセチレン系炭化水素が挙げられ、窒素
原子(N)導入用の出発物質としては、例えば、窒素(
N2)、アンモニア(NH3)、ヒドラジン(HJN)
I2)、アジ化水素(HN3) 、アジ化アモニウム(
N)14NS) 、三弗化窒素(F3N) 、四三弗化
窒素CFJN)が挙げられる。
Specifically, as starting materials for introducing oxygen atoms (0), for example, oxygen (0°), ozone (03), -nitrogen oxide (N
O), -nitrogen dioxide (N, 0), nitrogen sesquioxide Ohoko), nitrogen tetroxide (N204), nitrogen pentoxide (N20
s), nitrogen trioxide (NO3), disiloxane (lI3siO5iH3), trisiloxane: / (H3SiO5iH20Sil+3) whose constituent atoms are nitrogen trioxide (NO3), silicon atom (Si), oxygen atom (0), and hydrogen atom (H).
Examples of starting materials for introducing carbon atoms (C) include lower siloxanes such as methane (C++, )
, ethane ([:2H1l), propane (CJa), n-
Butane (n-CJ+o), pentane (C8I112)
Saturated hydrocarbons having 1 to 5 carbon atoms such as ethylene (C2)1
4), propylene ((3Ha), butene-1 (C4H6
), butene-2 (C41+a), isobutylene (C<l
1a), ethylene hydrocarbons having 2 to 5 carbon atoms such as pentene (Csll+o), acetylene (1:dh), methylacetylene (C31+4), butyne (C4Ha), etc.
Examples include acetylenic hydrocarbons having 2 to 4 carbon atoms, and examples of starting materials for introducing nitrogen atoms (N) include nitrogen (
N2), ammonia (NH3), hydrazine (HJN)
I2), hydrogen azide (HN3), ammonium azide (
N)14NS), nitrogen trifluoride (F3N), and nitrogen tetrafluoride CFJN).

例えば酸素原子を含有する層又は層領域を形成するのに
グロー放電法を用いる場合には、前記した光受容部材層
形成用の出発物質の中から所望に従って選択されたもの
に酸素原子導入用の出発物質が加えられる。その様な酸
素原子導入用の出発物質としては、少なくとも酸素原子
を構成原子とするガス状の物質又はガス化し得る物質で
あればほとんどのものが使用できる。
For example, when a glow discharge method is used to form a layer or layer region containing oxygen atoms, a material for introducing oxygen atoms is added to a starting material selected as desired from among the starting materials for forming the photoreceptor layer described above. Starting materials are added. As such a starting material for introducing oxygen atoms, almost any gaseous substance or substance that can be gasified can be used as long as it has at least an oxygen atom as a constituent atom.

例えばシリコン原子(Si)を構成原子とする原料ガス
と、酸素原子(0)を構成原子とする原料ガスと、必要
に応じて水素原子(11)又は/及びハロゲン原子(×
)を構成原子とする原料ガスとを所望の混合比で混合し
て使用するか、又は、シリコン原子(St)を構成原子
とする原料ガスと、酸素原子(0)及び水素原子(旧を
構成原子とする原料ガスとを、これも又所望の混合比で
混合するか、或いは、シリコン原子(Si)を構成原子
とする原料ガスと、シリコン原子(Si)、酸素原子(
0)及び水素原子(1()の3つを構成原子とする原料
ガスとを混合して使用することができる。
For example, a source gas containing silicon atoms (Si), a source gas containing oxygen atoms (0), and hydrogen atoms (11) or/and halogen atoms (×
) as constituent atoms at a desired mixing ratio, or alternatively, a raw material gas containing silicon atoms (St) as constituent atoms and oxygen atoms (0) and hydrogen atoms (formerly as constituent atoms) are used. A raw material gas containing atoms is also mixed at a desired mixing ratio, or a raw material gas containing silicon atoms (Si) and oxygen atoms (
0) and hydrogen atoms (1()) can be mixed and used.

又、別には、シリコン原子(Si)と水素原子(11)
とを構成原子とする原料ガスに酸素原子(0)を構成原
子とする原料ガスを混合して使用してもよい。
Also, separately, silicon atoms (Si) and hydrogen atoms (11)
You may mix and use the raw material gas which has an oxygen atom (0) as a constituent atom with the raw material gas which has a constituent atom.

具体的には、例えば酸素(02)、オゾン(0,)、−
酸化窒素(NO)、二酸化窒素(NOz)、−二酸化窒
素(N20)、三二酸化窒素(Naps)、四二酸化窒
素(N20<)三二酸化窒素(N20B)、三酸化窒素
(NO3)、シリコン原子(Si)と酸素原子(0) 
と水素原子(11) とを構成原子とする例えばジシロ
キサン(H3SiO5i)I3) 、  トリシロキサ
ン(I(sslO5ll+20sil13)等の低級シ
ロキサン等が挙げられ、挙げることかできる。
Specifically, for example, oxygen (02), ozone (0,), -
Nitrogen oxide (NO), nitrogen dioxide (NOz), -nitrogen dioxide (N20), nitrogen sesquioxide (Naps), nitrogen tetroxide (N20<), nitrogen sesquioxide (N20B), nitrogen trioxide (NO3), silicon atoms ( Si) and oxygen atom (0)
For example, lower siloxanes such as disiloxane (H3SiO5i)I3) and trisiloxane (I(sslO5ll+20sil13)), which have a hydrogen atom (11) and a hydrogen atom (11), can be mentioned.

スパッタリング法によりて、酸素原子を含有する層また
は層領域を形成するには、単結晶又はSiウェーハ又は
5i02ウエーハ、又はSiとSiO□が混合されて含
有されているウェーハをターゲットとして、これ等を種
々のガス;囲気中でスパッタリングすることによりて行
なえばよい。
To form a layer or layer region containing oxygen atoms by sputtering, a single crystal or Si wafer, a 5i02 wafer, or a wafer containing a mixture of Si and SiO□ is used as a target. Various gases; sputtering may be performed in an ambient atmosphere.

例えば、Siウェーハをターゲットとして使用すれば、
酸素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲン原
子を導入する為の原料ガスを必要に応じて希釈ガスで希
釈して、スパッター用の堆積室内に導入し、これ等のガ
スのガスプラズマを形成して前記Siウェーハをスパッ
タリングすればよい。
For example, if a Si wafer is used as a target,
A raw material gas for introducing oxygen atoms and hydrogen atoms and/or halogen atoms as necessary is diluted with a diluent gas as necessary, and introduced into a deposition chamber for sputtering to generate a gas plasma of these gases. What is necessary is just to form and sputter the said Si wafer.

又、別にはSiと5i02とは別々のターゲットとして
、又はSiと5i02の混合した一枚のターゲットとを
使用することによつて、スパッター用のとしての希釈ガ
スの雰囲気中で又は少なくとも水素原子(I+)又は/
及びハロゲン原子(X)を構成原子として含有するガス
雰囲気中でスパッタリングすることによって形成できる
。酸素原子導入用の原料ガスとしては、前述したグロー
放電の例で示した原料ガスの中の酸素原子導入用の原料
ガスが、スパッタリングの場合にも有効なガスとして使
用できる。
Alternatively, by using Si and 5i02 as separate targets or using a single mixed target of Si and 5i02, at least hydrogen atoms ( I+) or/
It can be formed by sputtering in a gas atmosphere containing halogen atoms (X) as constituent atoms. As the raw material gas for introducing oxygen atoms, the raw material gas for introducing oxygen atoms among the raw material gases shown in the example of glow discharge described above can be used as an effective gas also in the case of sputtering.

また、例えば炭素原子を含有するアモルファスシリコン
で構成される層をグロー放電法により形成するには、シ
リコン原子(Si)を構成原子とする原料ガスと、炭素
原子(C)を構成原子とする原料ガスと1、必要に応じ
て水素原子(11)又は/及びハロゲン原子(X)を構
成原子とする原料ガスとを所望の混合比で混合して使用
するか、又はシリコン原子(Si)を構成原子とする原
料ガスと、炭素原子(C)及び水素原子(H)を構成原
子とする原料ガスとを、これも又所望の混合比で混合し
て使用するか、或いはシリコン原子(St)を構成原子
とする原料ガスと、シリコン原子(Si)、炭素原子(
C)及び水素原子(旧を構成原子とする原料ガスを混合
するか、更にまた、シリコン原子、水素原子を構成原子
とする原料ガスを混合して使用する。
For example, in order to form a layer composed of amorphous silicon containing carbon atoms by the glow discharge method, a raw material gas containing silicon atoms (Si) and a raw material gas containing carbon atoms (C) are used. Gas and 1, if necessary, a raw material gas whose constituent atoms are hydrogen atoms (11) and/or halogen atoms (X) are mixed at a desired mixing ratio, or silicon atoms (Si) are used. A raw material gas containing atoms and a raw material gas containing carbon atoms (C) and hydrogen atoms (H) are also mixed at a desired mixing ratio, or silicon atoms (St) are used. The raw material gas as constituent atoms, silicon atoms (Si), carbon atoms (
A raw material gas containing C) and hydrogen atoms (former atoms) is mixed, or a raw material gas containing silicon atoms and hydrogen atoms is used.

このような原料ガスとして有効に使用されるのは、Si
とHとを構成原子とする5il14.5iJa、5iJ
aSi4111o等のシラン(Silane)類等の水
素化硅素ガス、CとHとを構成原子とする、例えば炭素
数1〜4の飽和炭化水素、炭素数2〜4のエチレン系炭
化水素、炭素数2〜3のアセチレン系炭化水素等が挙げ
られる。
Si is effectively used as such raw material gas.
5il14.5iJa, 5iJ with and H as constituent atoms
Silicon hydride gas such as silanes such as aSi4111o, saturated hydrocarbons containing C and H as constituent atoms, e.g. saturated hydrocarbons having 1 to 4 carbon atoms, ethylene hydrocarbons having 2 to 4 carbon atoms, 2 carbon atoms -3 acetylenic hydrocarbons and the like.

具体的には色和炭化水素としては、例えば、メタン(C
H4)、エタン(czua)、プロパン(csua)、
n−ブタン(ロー(:4H,。)、ペンタン(C1H1
2) 、エチレン系炭化水素としては、エチレン(C2
H8) 、プロピレン(C311a)、ブチ:/ −1
(C4116)、ブテン−2(C411aJ、インブチ
レン(C−Ha)、ペンテン(csllto)アセチレ
ン系炭化水素としては、アセチレン(c2o2)、メチ
に7セチレン(C3114)、ブチ:/ (C4116
)等が挙げられる。
Specifically, the colored hydrocarbons include, for example, methane (C
H4), ethane (czua), propane (csua),
n-butane (rho (:4H,.), pentane (C1H1
2) As the ethylene hydrocarbon, ethylene (C2
H8), propylene (C311a), butylene: / -1
(C4116), butene-2 (C411aJ, inbutylene (C-Ha), pentene (csllto)) Acetylene hydrocarbons include acetylene (c2o2), methylene 7-cetylene (C3114), butylene (C4116)
) etc.

SiとCと11とを構成原子とする原料ガスとしては、
5i(C1h)n、Si (C2H5) a等のケイ化
アルキルを挙げることができる。これ等の原料ガスの他
、H導入用の原料ガスとしては勿論112も使用できる
As a raw material gas containing Si, C, and 11 as constituent atoms,
Examples include alkyl silicides such as 5i(C1h)n and Si(C2H5)a. In addition to these raw material gases, 112 can of course be used as the raw material gas for H introduction.

スパッタリング法によフてa−5iG(Il、X)で構
成される層を形成するには、単結晶又は多結晶のStウ
ェーハ又はC(グラファイト)ウェーハ、又はSiとC
が混合されているウェーハをターゲットとして、これ等
を所望のガス雰囲気中でスパッタリングすることによつ
て行なう。
To form a layer composed of a-5iG (Il,
This is carried out by sputtering a wafer mixed with these materials in a desired gas atmosphere.

例えば、SIウェー八へターゲットとして使用する場合
には、炭素原子、および水素原子又は/及びハロゲン原
子を導入する為の原料ガスを、必要に応じてAr、ll
e等の希釈ガスで希釈して、スパッタリング用の堆積室
内に導入し、これ等のガスのガスプラズマを形成して前
記Stウェー八へスパッタリングすればよい。
For example, when using an SI wafer as a target, the raw material gas for introducing carbon atoms, hydrogen atoms, and/or halogen atoms may be Ar, II, or Ill as necessary.
The gas may be diluted with a diluent gas such as E and introduced into a deposition chamber for sputtering to form a gas plasma of these gases and sputtered onto the St wafer 8.

又、別にはSLとCは別々のターゲットとするか、ある
いはSiとCの混合した一枚のターゲットととして使用
する場合には、スパッタリング用のガスとして水素原子
又は/及びハロゲン原子導入用の原料ガスを、必要に応
じて希釈ガスで希釈して、スパッタリング用の堆積菟内
に導入し、ガスプラズマを形成してスパッタリングすれ
ばよい。
In addition, if SL and C are used as separate targets, or if a single target containing Si and C is used, the raw material for introducing hydrogen atoms and/or halogen atoms is used as the sputtering gas. The gas may be diluted with a diluent gas as needed, introduced into a deposition chamber for sputtering, and sputtered by forming gas plasma.

該スパッタリング法に用いる各原子の導入用の原料ガス
としては、前述のグロー放電法に用いる原料ガスがその
まま使用できる。
As the raw material gas for introducing each atom used in the sputtering method, the raw material gas used in the glow discharge method described above can be used as is.

例えば窒素原子を含有する帰又は層領域を形成するのに
グロー放電法を用いる場合には、前記した光受容層形成
用の出発物質の中から所望に従って選択されたものに窒
素原子導入用の出発物質を加える。その様な窒素原子導
入用の出発物質としては、少なくとも窒素原子を構成原
子とするガス状の物質又はガス化し得る物質であればほ
とんどのものが使用できる。
For example, when a glow discharge method is used to form a photoreceptor layer region containing nitrogen atoms, a starting material for introducing nitrogen atoms is added to a starting material selected as desired from among the starting materials for forming the photoreceptive layer described above. Add substance. As the starting material for introducing nitrogen atoms, almost any gaseous substance or gasifiable substance having at least nitrogen atoms as a constituent atom can be used.

例えばシリコン原子(St)を構成原子とする原料ガス
と、窒素原子(N)を構成原子とする原料ガスと、必要
に応じて水素原子(11)又は/及びハロゲン原子(X
)を構成原子とする原料ガスとを所望の混合比で混合し
て使用するか、又は、シリコン原子(Sf)を構成原子
とする原料ガスと、窒素原子(N)及び水素原子(H)
を構成原子と原料ガスとを、これも又所望の混合比で混
合するかして使用することができる。
For example, a raw material gas containing silicon atoms (St), a raw material gas containing nitrogen atoms (N), and hydrogen atoms (11) or/and halogen atoms (X
) with a raw material gas having constituent atoms at a desired mixing ratio, or a raw material gas having silicon atoms (Sf) with nitrogen atoms (N) and hydrogen atoms (H).
The constituent atoms and the raw material gas can also be used by mixing them at a desired mixing ratio.

又、別には、シリコン原子(Si)と水素原子(11)
とを構成原子とする原料ガスに窒素原子(N)を構成原
子とする原料ガスを混合して使用してもよい。
Also, separately, silicon atoms (Si) and hydrogen atoms (11)
You may mix and use the raw material gas which has a nitrogen atom (N) as a constituent atom with the raw material gas which has a nitrogen atom (N) as a constituent atom.

窒素原子を含有する届または層領域を形成する際に使用
する窒素元素(N)導入用の原料ガスとして有効に使用
される出発物質は、Nを構成原子とするか或いはNとH
とを構成原子とする例えば窒素(N2)、アンモニア(
Ni+、)、ヒドラジン(lI2NNII2)アジ化水
素(lIN3) 、アジ化アンモニウム(NII4Ns
)等のガス状の又はガス化し得る窒素、窒化ホウ素物及
びアジ化物等の窒素化合物を挙げることができる。この
他に、窒素原子の導入に加えて、ハロゲン原子の導入も
行なえるという点から、三弗化窒素CF3N) 、四三
弗化窒素CF、N)等のハロゲン化窒素化合物を挙げら
れる。
A starting material that is effectively used as a raw material gas for introducing nitrogen element (N) used when forming a nitrogen atom-containing layer or layer region has N as a constituent atom or a mixture of N and H.
For example, nitrogen (N2), ammonia (
Ni+, ), hydrazine (lI2NNII2) hydrogen azide (lIN3), ammonium azide (NII4Ns
), and nitrogen compounds such as boron nitrides and azides. In addition, halogenated nitrogen compounds such as nitrogen trifluoride CF3N) and nitrogen tetrafluoride CF,N) can be mentioned, since in addition to introducing nitrogen atoms, halogen atoms can also be introduced.

スパッタリング法によって、窒素原子を含有する層また
はpjJ領域を形成するには1.@結晶又はSiウェー
ハ又は多結晶のSiウェーハ、又はSi、N4 ウェー
ハ、又はSiとはSi、N4が混合されて含有されてい
るウェーハをターゲットとして、これ等を種々のガス雰
囲気中でスパッタリングすることによって行なえばよい
To form a nitrogen atom-containing layer or pjJ region by sputtering method: 1. @Crystalline or Si wafers, polycrystalline Si wafers, Si, N4 wafers, or Si (Si) wafers containing a mixture of Si and N4 are targeted, and these are sputtered in various gas atmospheres. It can be done by.

例えば、Siウェーハをターゲットとして使用すれば、
窒素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲン原
子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて希釈ガスで
希釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ等の
ガスのガスプラズマを形成して前記Siウェーハをスパ
ッタリングすればよい。
For example, if a Si wafer is used as a target,
A raw material gas for introducing nitrogen atoms and hydrogen atoms or/and halogen atoms as necessary is diluted with a diluent gas as necessary and introduced into a deposition chamber for sputtering. The Si wafer may be sputtered by forming plasma.

又、別にはSiとSi3N4 とは別々のターゲットと
して、又はSiとSi3N4の混合した一枚のターゲッ
トを使用することによって、スパッター用のガスとして
の希釈ガスの:囲気中で又は少なくとも水素原子(11
)又は/及びハロゲン原子(X)を構成原子として含有
するガス雰囲気中でスパッタリングすることによって形
成できる。酸素原子導入用の原料ガスとしては、先述し
たグロー放電の例で示した原料ガスの中の窒素原子導入
用の原料ガスが、スパッタリングの場合にも有効なガス
として使用できる。
Alternatively, by using Si and Si3N4 as separate targets or by using a single mixed target of Si and Si3N4, the dilution gas as a sputtering gas can be used in an atmosphere or at least hydrogen atoms (11
) or/and by sputtering in a gas atmosphere containing halogen atoms (X) as constituent atoms. As the raw material gas for introducing oxygen atoms, the raw material gas for introducing nitrogen atoms among the raw material gases shown in the glow discharge example described above can be used as an effective gas also in the case of sputtering.

また、グロー放電法、スパッタリング法、あるいはイオ
ンブレーティング法を用いて、第1!!族原子又は第V
族原子を含有するa−5i (II 、 X)で構成さ
れる層の形成の際に、第1I+族原子又は第V族原子導
入用の出発物質を、a−5i(It、X)形成用の出発
物質と共に使用して、形成する層中へのそれらの量を制
御しながら含有せしめてやることによって行なう。
In addition, using the glow discharge method, sputtering method, or ion blating method, ! group atoms or group V
When forming a layer composed of a-5i (II, This is accomplished by controlling the amount of these starting materials into the layer being formed.

第1H族原子導入用の出発物質として具体的には硼素原
子導入用としては、B2)1.、B 4 II I O
、B s II *、Ba1l++ −BaH+o 、
 Ba1l+2.881114等の水素化硼素、BF3
 、 BCIs、BBr3等のハロゲン化硼素等が挙げ
られる。この他、AQ C1s、GaC15、Ga (
CI+3) 2、InC15、TQCla等も挙げるこ
とができる。
Specifically, as a starting material for introducing a first H group atom, for introducing a boron atom, B2)1. , B 4 II I O
, B s II *, Ba1l++ −BaH+o,
Boron hydride such as Ba1l+2.881114, BF3
, BCIs, and boron halides such as BBr3. In addition, AQ C1s, GaC15, Ga (
CI+3) 2, InC15, TQCla, etc. can also be mentioned.

第V族原子導入用の出発物質として具体的には燐原子導
入用としてはPH3、P2)16等の水素化燐PH41
,PF3、PF、、Pct、、PCl5、pHr、、P
Br3. Pr3等のハロゲン化燐が挙げられる。この
他、A s 11 、、^sFs、^sc1.、AsB
r3、^sFs、5bHs、SbF3、SbF、、5b
C1s、5bC1s、BiI3、BjC13、Bier
s等も第■族原子導入用の出発物質の有効なものとして
挙げることができる。
Specifically, as a starting material for introducing a group V atom, for introducing a phosphorus atom, hydrogenated phosphorus PH41 such as PH3, P2) 16, etc.
,PF3,PF,,Pct,,PCl5,pHr,,P
Br3. Examples include halogenated phosphorus such as Pr3. In addition, A s 11, ^sFs, ^sc1. , AsB
r3, ^sFs, 5bHs, SbF3, SbF,, 5b
C1s, 5bC1s, BiI3, BjC13, Bier
s and the like can also be mentioned as effective starting materials for introducing Group I atoms.

以上記述したように、本発明の光受容部材の光受容層は
、グロー放電法、スパッタリング法等を用いて形成する
が、光受容層に含有せしめるゲルマニウム原子又は/及
びスズ原子、第1!!族原子又は第V族原子、酸素原子
、炭素原子又は、窒素原子、あるいは水素原子又は/及
びハロゲン原子の各々の含有量の制御は、堆積室内へ流
入する、各々の原子供給用出発物質のガス流量あるいは
各々の原子供給用出発物質問のガス流量比を制御するこ
とにより行なわれる。
As described above, the light-receiving layer of the light-receiving member of the present invention is formed using a glow discharge method, a sputtering method, or the like. ! The content of group atoms or group V atoms, oxygen atoms, carbon atoms, nitrogen atoms, hydrogen atoms and/or halogen atoms can be controlled by controlling the respective contents of each atom-supplying starting material gas flowing into the deposition chamber. This is done by controlling the flow rate or the gas flow rate ratio of each starting material for supplying atoms.

また、先導11層および表面保護層等の各構成層形成時
の支持体温度、堆積室内のガス、放電パワー等の条件は
、所望の特性を有する光受容部材を得るためにはffi
要な要因であり、形成する層の機能に考慮をはらって適
宜選択されるものである。
In addition, conditions such as support temperature, gas in the deposition chamber, discharge power, etc. when forming each constituent layer such as the leading 11 layer and the surface protective layer are ffi in order to obtain a light-receiving member having desired characteristics.
This is an important factor and should be selected as appropriate, taking into consideration the function of the layer to be formed.

さらに、これらの層形成条件は、光導電層および表面保
護層等の各構成層に含有せしめる上記の各原子の種類及
び量によっても異なることもあることから、含有せしめ
る原子の種類あるいはその二等にも考慮をはらって決定
する必要もある。
Furthermore, these layer formation conditions may differ depending on the type and amount of each of the atoms mentioned above to be contained in each constituent layer such as the photoconductive layer and the surface protective layer. It is also necessary to take this decision into consideration.

具体的には、4配位構造と3配位構造とが混在したNo
n−BN (N、X)からなる表面保護層を高周波(1
3,56M112)ブラズ7CVD法により形成する場
合、堆積室内のガス圧は、通常10−2〜1OTorr
とするが、より好ましくは5 X 10’〜2 Tor
r、最適には0.1〜I Torrとする。また、支持
体温度は、通常So〜700℃とするが、特にNon−
BN (N 、X1層とする場合には50〜400℃、
poly−[IN(11,X1層とする場合には200
〜700℃とする。更に放電パワーは通常0.O1〜5
W/Cl112、より好ましくは0.02〜2W/cI
112 とする、更にまた、B供給用原料ガス、N供給
用原料ガス及び^rガスのガス7都量比は、B/Nが1
/100〜5/1、より好ましくはi/80〜4/1と
なるようにし、Ar/B+Nが1/1〜0となるように
する。
Specifically, No. 2 has a mixture of 4-coordinate structure and 3-coordinate structure.
A surface protective layer made of n-BN (N,
3,56M112) When forming by Blaz 7CVD method, the gas pressure in the deposition chamber is usually 10-2 to 1 OTorr.
more preferably 5 X 10' to 2 Tor
r, optimally 0.1 to I Torr. In addition, the support temperature is usually So~700°C, but especially for non-
BN (N, 50 to 400°C for X1 layer,
poly-[IN(11, 200 for X1 layer)
~700°C. Furthermore, the discharge power is usually 0. O1~5
W/Cl112, more preferably 0.02-2W/cI
112, and furthermore, the gas ratio of the B supply raw material gas, the N supply raw material gas, and the ^r gas is such that B/N is 1.
/100 to 5/1, more preferably i/80 to 4/1, and Ar/B+N to 1/1 to 0.

また、4配位構造と3配位構造とが混在したNon−B
N(H,X)からなる表面保護層をマイクロ波(2,4
5GIIZ)  プラズマCVD法により形成する場合
、堆積室内のガス圧は通常1O−4〜2 Torr、よ
り好ましくは5 X 10−’〜1.OTorr、最適
には5×10−’〜0.7 Torrとし、放電パワー
は通常0.1〜50W/cm”、より好ましくは0.2
〜30W / c1112 とする。支持体温度及び各
原料ガスのガス流量比は、いずれも前述の高周波プラズ
マCVD法による場合と同じである。
In addition, Non-B with a mixture of 4-coordinate structure and 3-coordinate structure
Microwave (2,4
5GIIZ) When forming by plasma CVD method, the gas pressure in the deposition chamber is usually 10-4 to 2 Torr, more preferably 5 x 10-' to 1. OTorr, optimally 5 x 10-' to 0.7 Torr, and discharge power usually 0.1 to 50 W/cm'', more preferably 0.2
~30W/c1112. The support temperature and the gas flow rate ratio of each source gas are the same as in the case of the high frequency plasma CVD method described above.

更に、4配位構造と3配位構造とが混在したNon−B
N (11,X)からなる表面保護層をスパッタリング
法により形成する場合、堆積室内のガス圧は通常10”
’〜I Torr、より好ましくは5 X 1G−’ 
〜0.7Torr、とし、放電パワーは0.01〜IO
W / cm2、より好ましくは0.05〜8W7cm
2とする。支持体温度は前述の高周波プラズマCVD法
による場合と同じである。
Furthermore, Non-B with a mixture of 4-coordinate structure and 3-coordinate structure
When forming a surface protective layer made of N (11,X) by sputtering, the gas pressure in the deposition chamber is usually 10"
'~I Torr, more preferably 5 X 1G-'
~0.7 Torr, and discharge power is 0.01~IO
W/cm2, more preferably 0.05-8W7cm
Set it to 2. The support temperature is the same as in the case of the high frequency plasma CVD method described above.

また、窒素原子、酸素原子、炭素原子等を含有せしめた
a−5i(H,X)からなる層をグロー放電法により形
成する場合、支持体温度は、通常50〜350℃とする
が、特に好ましくは50〜250℃とする。
In addition, when forming a layer consisting of a-5i (H, Preferably it is 50 to 250°C.

堆積室内のガス圧は通常0.O1〜I Torrとする
が、特ニ好ましくは0.1〜0.5 Torrとする。
The gas pressure inside the deposition chamber is normally 0. O1 to I Torr, particularly preferably 0.1 to 0.5 Torr.

放電パワーはo、oos〜50W/cm”とするのが通
常であるが、より好ましくは0.O1〜30W/am”
 とする。特に好ましくは0.01〜20W / cm
2 とする。
The discharge power is usually from 0.00 to 50 W/cm, but more preferably from 0.01 to 30 W/am.
shall be. Particularly preferably 0.01-20W/cm
2.

a−5iGe(11,Xl 層をグロー放電法により形
成する場合、あるいは第1II族原子又は第■族原子を
含有せしめたa−5iGe (II、X)からなる店を
形成する場合については、支持体温度、通常50〜35
0℃とするが、より好ましくは50〜300℃とするが
、特に好ましくは100〜300℃とする。そして堆積
室内のガス圧は通常0.O1〜5 Torrとするが、
好ましくは0.001〜3  Torrとし、特に好ま
しくは0.01〜ITorrとする。また、放電パワー
はo、oos 〜sow/cm’とするのが通常である
が、好ましくは0,01〜30W/Cff12 とする
。特に好ましくは0.O1〜20W/cm2 とする。
When forming an a-5iGe (11, Body temperature, usually 50-35
The temperature is preferably 0°C, more preferably 50 to 300°C, particularly preferably 100 to 300°C. The gas pressure inside the deposition chamber is normally 0. O1 to 5 Torr,
Preferably it is 0.001 to 3 Torr, particularly preferably 0.01 to ITorr. Further, the discharge power is usually set to o, oos to sow/cm', preferably 0.01 to 30 W/Cff12. Particularly preferably 0. O1 to 20 W/cm2.

しかし、これらの、層形成を行なうについての支持体温
度、放電パワー、堆積室内のガス圧の具体的条件は、通
常には個々に独立しては容易には決め難いものである。
However, the specific conditions for layer formation, such as support temperature, discharge power, and gas pressure in the deposition chamber, are usually difficult to determine individually.

したがって、所望の特性の非晶質材料層を形成すべく、
相互的且つ有機的関連性に基づいて、層形成の至適条件
を決めるのが望ましい。
Therefore, in order to form an amorphous material layer with desired characteristics,
It is desirable to determine optimal conditions for layer formation based on mutual and organic relationships.

次に、グロー放電分解法によって形成される光導電部材
の製造方法について説明する。
Next, a method for manufacturing a photoconductive member formed by a glow discharge decomposition method will be described.

第2図にグロー放電分解法による電子写真用光受容部材
の製造装膜を示す。
FIG. 2 shows a manufacturing process for a light-receiving member for electrophotography using the glow discharge decomposition method.

図中の202.203.204.205.206、 の
ガスボンへには、本発明の夫々の層を形成するための原
料ガスが密封されており、その1例として、たとえば、
202は5i11.ガス(純度99.999%)ボンベ
、203は11フで希釈されたB 、 II 6ガス(
純度99.999%、以下B 2 II 6 / II
 tと略す)ボンベ、204はNOガス(純度99.5
%)ボンベ、205はlleで希釈されたB 、 II
 、ガス(純度99.999%、以下82)e/lie
と略す)ボンベ、206はNO,ガス(純度99.99
9%)ボンベである。
In the gas cylinders 202, 203, 204, 205, 206 in the figure, raw material gases for forming the respective layers of the present invention are sealed, for example,
202 is 5i11. Gas (purity 99.999%) cylinder, 203 is B, II 6 gas (11 diluted with
Purity 99.999%, hereinafter B 2 II 6 / II
t) cylinder, 204 is NO gas (purity 99.5
%) cylinder, 205 diluted with lle B, II
, gas (purity 99.999%, hereinafter 82) e/lie
) cylinder, 206 is NO, gas (purity 99.99
9%) It is a cylinder.

これらのガスを反応室201に流入させるにはガスボン
ベ202〜206のバルブ、リークバルブ235が閉じ
られていることを確認し、又、流入バルブ2)2〜2)
6、流出バルブ2)7〜22)1補助バルブ232〜2
33が開かれていることを確認して先ずメインバルブ2
34を開いて反応u201.ガス配管内を排気する0次
に真空計236の読みが約5 X 1O−6Torrに
なった時点で、補助バルブ232〜233、流出バルブ
2)7〜22)を閉じる。
To allow these gases to flow into the reaction chamber 201, make sure that the valves of the gas cylinders 202 to 206 and the leak valve 235 are closed, and also make sure that the inflow valves 2) and 2) are closed.
6. Outflow valve 2) 7~22) 1 Auxiliary valve 232~2
Make sure that valve 33 is open, and then open main valve 2.
Open reaction u201.34. When the reading on the vacuum gauge 236 reaches approximately 5 x 10-6 Torr after exhausting the inside of the gas pipe, the auxiliary valves 232-233 and the outflow valves 2) and 7-22) are closed.

基体シリンダー237上に第1の居を形成下る場合の1
例をあげると、ガスボンへ202より5il14ガス、
ガスボンベ、203よりB2)1a/l(2ガス、ガス
ボンへ、204よりNOガス、バルブ222 、223
.224を開いて出口圧ゲージ227 、228 、2
29の圧をI kg/cm2に調節し、流入バルブ2)
j、 2)3.2)4を徐々に開けて、マスフロコント
ローラ207.208゜209内に流入させる。引続い
て流出バルブ2)7.2)11.2)9、補助バルブ2
32を徐々に開いて夫々のガスを反応室に流入させる。
1 when forming the first housing on the base cylinder 237
For example, 5il14 gas from 202 to the gas cylinder,
Gas cylinder, B2 from 203) 1a/l (2 gas, to gas cylinder, NO gas from 204, valves 222, 223
.. 224 and outlet pressure gauges 227 , 228 , 2
Adjust the pressure of 29 to I kg/cm2 and inlet valve 2)
2) 3.2) Gradually open 4 to allow the flow into the mass flow controllers 207, 208 and 209. Subsequently, outflow valve 2) 7.2) 11.2) 9, auxiliary valve 2
32 is gradually opened to allow the respective gases to flow into the reaction chamber.

このときの5il14ガス流量、BJa/112ガス流
量、NOガス流量の比が所望の値になるように流出バル
ブ2)7.2+8.2)9を調整し、又、反応室内の圧
力が所望の値になるように真空計236の読みを見なが
らメインバルブ234の開口を調整する。そして基体シ
リンダー237の温度が加熱ヒーター238により50
〜350 tの温度に設定されていることを確証された
後、電源240を所望の電力に設定して反応H2or内
にグロー放;を生起させ基体シリンダー上に第1の層を
形成する。
At this time, adjust the outflow valve 2)7.2+8.2)9 so that the ratio of the 5il14 gas flow rate, BJa/112 gas flow rate, and NO gas flow rate becomes the desired value, and also adjust the pressure inside the reaction chamber to the desired value. While checking the reading on the vacuum gauge 236, adjust the opening of the main valve 234 so that the value is correct. Then, the temperature of the base cylinder 237 is raised to 50°C by the heating heater 238.
After ensuring that the temperature is set at ~350 t, power supply 240 is set to the desired power to cause a glow emission in the reaction H2or to form the first layer on the substrate cylinder.

第1の層にハロゲン原子を含有させる場合には、上記の
ガスに例えばSiF、ガスを更に付加して反応室201
 に送り込む。
When the first layer contains halogen atoms, a gas such as SiF, for example, is further added to the above gas to form the reaction chamber 201.
send to.

各層を形成する際ガス種の選択によっては、層形成速度
を更に高めることが出来る。例えばSiHイガスの代り
に5i2)1.ガスを用いて層形成を行なえば数倍高め
ることが出来、生産性が向上する。
Depending on the selection of gas species when forming each layer, the layer formation speed can be further increased. For example, instead of SiH gas, 5i2)1. If layer formation is performed using a gas, the productivity can be increased several times.

上記の様にして作成された第1の層上に第2の店を形成
するには、流出バルブ2)7〜22)を閉じ、補助バル
ブ232〜233を開いてメインバルブ234を全開し
て系内を一旦高真空に排気したのち、第1の層の形成の
際と同様なバルブ操作によってB 2 H6/ u e
ガス、 NH,ガスを所望の流量比で反応室101中に
流し、所望の条件に従ってグロー放電を生起させること
によって成される。
To form a second store on the first layer created as described above, close the outflow valves 2) 7-22), open the auxiliary valves 232-233, and fully open the main valve 234. After once evacuating the system to a high vacuum, B 2 H6 / u e
This is accomplished by flowing gas, NH, and gas into the reaction chamber 101 at a desired flow rate ratio to generate glow discharge according to desired conditions.

第2の層中に含有される水素原子の量を変化させる場合
には、上記のガスに例えばH,ガスを付加して、112
ガスの反応室+01内に導入される流量を所望に従って
任意に変えることによって所望に応じて制御することが
できる。
When changing the amount of hydrogen atoms contained in the second layer, for example, H gas is added to the above gas, and 112
It can be controlled as desired by arbitrarily changing the flow rate of gas introduced into the reaction chamber +01 as desired.

第2の層にハロゲン原子を含有される場合には、上記の
ガスに例えばNF、ガスを更に付加して反応室101内
に送り込む。
When the second layer contains halogen atoms, a gas such as NF, for example, is further added to the above gas and the mixture is sent into the reaction chamber 101.

夫々の層を形成する際に必要なガス以外の流出は全て閉
じることは言うまでもなく、又、夫々の層を形成する際
、前層の形成に使用したガスが反応室101内、流出バ
ルブ2)7〜22)から反応室lO1内に至る配管内に
残留することを避けるために、流出バルブ2)7〜22
)を閉じ補助バルブ232〜233を開いてメインバル
ブ234を全開して系内を一旦高真空に排気する操作を
必要に応じて行なう。
It goes without saying that all outflows other than the gases required when forming each layer are closed, and when forming each layer, the gas used to form the previous layer is inside the reaction chamber 101 and the outflow valve 2). 7-22) to the reaction chamber lO1, the outflow valve 2) 7-22
), open the auxiliary valves 232 to 233, fully open the main valve 234, and temporarily evacuate the system to a high vacuum, as necessary.

又、層形成を行なっている間は層形成の均一化を図るた
め基体シリンダー237は、モータ239によって所望
される速度で一定に回転させる。
During layer formation, the base cylinder 237 is constantly rotated by a motor 239 at a desired speed to ensure uniform layer formation.

〔実施例〕〔Example〕

以下、実施例により本発明を更に詳細に説明するが、本
発明はこれらによって限定されるものではない。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be explained in more detail with reference to Examples, but the present invention is not limited thereto.

〈実施例1〉 第2図の製造袋Mを用い、第1表の作成条件に従って鏡
面加工を施したアルミシリンダー上に電子写真用光受容
部材を形成した。
<Example 1> Using the manufacturing bag M shown in FIG. 2, an electrophotographic light-receiving member was formed on an aluminum cylinder which had been mirror-finished according to the preparation conditions shown in Table 1.

又、別途、第2図と同型の装置を用い、シリンダー上の
サンプルホルダーにアルミ製基板及び単結晶Siウェハ
ーを設置し、同一仕様の表面層のみを形成したものを別
個に用意した。
Separately, using the same type of apparatus as shown in FIG. 2, an aluminum substrate and a single crystal Si wafer were placed in a sample holder on a cylinder, and a wafer with only the surface layer of the same specifications was prepared separately.

光受容部材(以後ドラムと表現)の方は、電子写真装置
をセットして、種々の条件のもとに、初期の帯?i!能
、残留電位、ゴースト等の電子写真特性をチェックし、
又、150万枚実機耐久後の帯電能低下、表面削れ、画
像欠陥の増加等を調べた。
For the light-receiving member (hereinafter referred to as drum), an electrophotographic device was set and the initial band was measured under various conditions. i! Check the electrophotographic characteristics such as power, residual potential, ghost, etc.
In addition, after 1.5 million sheets of actual machine durability, a decrease in charging ability, surface abrasion, increase in image defects, etc. were investigated.

更に、クリーナーブレードを意識的に、摺擦エツジ部分
が摩耗したものと取り換え、白ベタ画像上に生じる地力
ブリの度合によりクリーニング性の優劣の比較も行った
。また更に、35℃、85%の高温、高温雰囲気中での
ドラムの画像流れについても評価した。
Furthermore, the cleaner blade was intentionally replaced with one whose rubbing edge was worn out, and the cleaning performance was compared based on the degree of ground force blur that occurs on a solid white image. Furthermore, image deletion on the drum was also evaluated at 35° C. and 85% high temperature in a high temperature atmosphere.

また、ドラムに直流高圧電圧を加えることにより絶縁耐
圧を調べた。さらに、先端が球形の針に一定の荷重をか
けて、ドラム表面にキズなつけることにより、耐キズ性
を調べた。上記の評価結果を752表に示す。
In addition, the dielectric strength was investigated by applying a DC high voltage to the drum. Furthermore, the scratch resistance was examined by applying a constant load to a needle with a spherical tip and making scratches on the drum surface. The above evaluation results are shown in Table 752.

第2表に見られる様に、主項目について良好な結果が得
られた。特に、画像欠陥、画像流れ、りリーニング性(
地力ブリの度合)に関しては優位性が認められた。
As seen in Table 2, good results were obtained for the main items. In particular, image defects, image smearing, and re-leaning (
Superiority was recognized in terms of soil strength (degree of yellowing).

アルミ基板上と単結晶Siウェハー上に成膜した表面層
のみの方(以後サンプルと表現)を、それぞれEXAF
SとIRにより配位数を調べたところ、4配位と3配位
の混在したものであることがわかった。又、IR測測定
終了したSiウェーハサンプルの方は、ダイヤモンド針
で基盤目状に口/mmのキズを付け、粘着テープによる
!i!IJ mテストを行い、残留応力の大小の目安と
した。
Only the surface layer (hereinafter referred to as sample) deposited on an aluminum substrate and a single crystal Si wafer was subjected to EXAF, respectively.
When the coordination number was investigated by S and IR, it was found that it was a mixture of 4-coordination and 3-coordination. In addition, for the Si wafer sample for which IR measurement has been completed, scratch the substrate with a diamond needle in the shape of a hole/mm, and then use adhesive tape! i! An IJm test was conducted to determine the magnitude of residual stress.

〈実施例2〉 表面層の原料ガスに112ガスを付加して第3表に示す
作成条件で、実施例1と同様に、ドラム及びサンプルを
作成し、同様の評価を行った。
<Example 2> A drum and a sample were produced in the same manner as in Example 1 under the production conditions shown in Table 3 by adding 112 gas to the raw material gas for the surface layer, and the same evaluation was performed.

その結果を第4表に示す。The results are shown in Table 4.

第4表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得られ
た。
As seen in Table 4, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

又、サンプルの測定の結果、4配位と3配位の混在した
ものであることがわかった。
Moreover, as a result of measuring the sample, it was found that it was a mixture of 4-coordinate and 3-coordinate.

〈実施例3〉 表面層の作成時に、シリンダーのバイアス電圧が◆10
0Vになるようにして第1表に示す作成条件で、実施例
1と同様に、ドラム及びサンプルを作成し、同様の評価
を行った。
<Example 3> When creating the surface layer, the bias voltage of the cylinder was ◆10
A drum and a sample were prepared in the same manner as in Example 1 under the preparation conditions shown in Table 1 so that the voltage was 0V, and the same evaluation was performed.

その結果を第5表に示す。The results are shown in Table 5.

′fSs表にみられる杼に、実施例1と同様の特性が得
られた。
The same characteristics as in Example 1 were obtained for the shuttle shown in the 'fSs table.

又、サンプルの測定の結果、4配位3配位の混在したも
のであることがわかった。
Moreover, as a result of measuring the sample, it was found that it was a mixture of 4-coordinate and 3-coordinate.

〈実施例4〉 電荷注入阻止層、光導電層、表面層をそれぞれ第6表に
示す作成条件で実施例1と同様にドラムを作成し、同様
の評価を行った。
<Example 4> A drum was prepared in the same manner as in Example 1 under the conditions shown in Table 6 for the charge injection blocking layer, photoconductive layer, and surface layer, and the same evaluation was performed.

その結果を第7表に示す。The results are shown in Table 7.

第7表にみられる様に実施例iと同様の特性が得られた
As seen in Table 7, the same characteristics as in Example i were obtained.

〈実施例5〉 アルミシリンダーに陽極酸化処理を行って、シリンダー
表面に酸化アルミニウム層(八Q2o3)を作成して、
これを、電荷注入阻止層とし、この層の上に光導?it
層と表面層をそれぞれ第8表に示す作成条件で実施例1
と同様にドラムを作成し、同様の評価を行った。
<Example 5> Anodizing an aluminum cylinder to create an aluminum oxide layer (8Q2o3) on the cylinder surface,
This is used as a charge injection blocking layer, and a light guide layer is placed on top of this layer. it
Example 1 with the formation conditions shown in Table 8 for the layer and surface layer, respectively.
A drum was made in the same manner as above, and the same evaluation was conducted.

その結果を第9表に示す。The results are shown in Table 9.

第9表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得られ
た。
As shown in Table 9, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

〈実施例6〉 長波長光吸収層(以下rIR吸収層」と称す、)、光導
電層、表面層をそれぞれ、第10表に示す作成条件で、
実施例1と同様にドラムを作成し、同様の評価を行った
<Example 6> A long wavelength light absorption layer (hereinafter referred to as rIR absorption layer), a photoconductive layer, and a surface layer were prepared under the conditions shown in Table 10, respectively.
A drum was produced in the same manner as in Example 1, and the same evaluation was performed.

さらに7[lSnmの波長を有する半導体レーザーを画
像露光の光臨に用いる電子写真装置にドラムをセットし
て、画像上に干渉縞が硯われるかチェックした。
Furthermore, the drum was set in an electrophotographic apparatus that uses a semiconductor laser having a wavelength of 7 lSnm for image exposure, and it was checked whether interference fringes were formed on the image.

その結果を第11表に示す。The results are shown in Table 11.

第11表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得ら
れ、干渉縞も現われなかった。
As seen in Table 11, characteristics similar to those of Example 1 were obtained, and no interference fringes appeared.

〈実施例7〉 密着層、光導電層、表面層なそれぞれ、第12表に示す
作成条件で、実施例1と同様にドラムを作成し、同様の
評価を行った。
<Example 7> A drum was produced in the same manner as in Example 1 under the production conditions shown in Table 12 for the adhesive layer, photoconductive layer, and surface layer, and the same evaluation was performed.

その結果を第13表に示す。The results are shown in Table 13.

第13表にみられる様に、実施例1と同様の特P主が得
られた。
As shown in Table 13, the same special P main as in Example 1 was obtained.

〈実施例8〉 IR吸収店、電荷注入阻止層、光導電層、表面層を、そ
れぞれ、第14表に示す作成条件で実施例1と同様にド
ラムを作成し、実tJへ例6と同様の評価を行った。
<Example 8> A drum was prepared in the same manner as in Example 1 with the IR absorbing layer, charge injection blocking layer, photoconductive layer, and surface layer each under the conditions shown in Table 14, and the drum was prepared in the same manner as in Example 6. was evaluated.

その結果を第15表に示す。The results are shown in Table 15.

7515表にみられる禄に、実施例1と同様の特性が得
られた。
The same characteristics as in Example 1 were obtained in the 7515 table.

く実施例9〉 密着層、電荷注入阻止層、光導電層、表面層をそれぞれ
、第16表に示す作成条件で実S=例1と同様にドラム
を作成し、同様の評価を行った。
Example 9 A drum was prepared in the same manner as in Example 1 with the adhesion layer, charge injection blocking layer, photoconductive layer, and surface layer prepared under the conditions shown in Table 16, and the same evaluation was performed.

その結果を第17表に示す。The results are shown in Table 17.

第17表にみられる様に、実施例1と同様の特四が得ら
れた。
As shown in Table 17, the same special properties as in Example 1 were obtained.

〈実施例10> 密着層、IR吸収層、電荷注入[■止層、光さ電層、表
面層を、それぞれ、第18表に示す作成条件で、実施例
1と同様にドラムを作成し、実施例6と同様の評価を行
った。
<Example 10> A drum was prepared in the same manner as in Example 1, with the adhesion layer, IR absorption layer, and charge injection [1] stop layer, photosensitive layer, and surface layer each under the conditions shown in Table 18. The same evaluation as in Example 6 was performed.

その結果を第19表に示す。The results are shown in Table 19.

第19表にみられる様に、実施例1と同様の特性が得ら
れた。
As seen in Table 19, the same characteristics as in Example 1 were obtained.

〈実施例11> 光導Ti層の作成条件を第20表に示す数種の条件に変
え、それ以外は実施例1と同様の条件にて、複数のドラ
ムを用意した。
<Example 11> A plurality of drums were prepared under the same conditions as in Example 1 except that the conditions for forming the light-guiding Ti layer were changed to several conditions shown in Table 20.

これらのドラムを実施例1と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例1と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 1,
In all cases, similar to Example 1, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例+2> 光導電層の作成条件を第2)表に示す数種の条件に変え
、それ以外は実施例2と同様の条件にて、複数のドラム
を用意した。
<Example +2> A plurality of drums were prepared under the same conditions as in Example 2 except that the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 2).

これらのドラムを実施例2と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例2と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 2,
In all cases, similar to Example 2, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例13〉 光導電層の作成条件を第22表に示す数種の条件に変え
、それ以外は実施例3と同様の条件にて、?31数のド
ラムを用意した。
<Example 13> The conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 22, and the other conditions were the same as in Example 3. We prepared 31 drums.

これらのドラムを実施例3と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例3と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 3,
In all cases, similar to Example 3, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例14> 電荷注入阻止層の作成条件を第23表に示す数種の条件
に変え、それ以外は実施例4と同様の条件にて、複数の
ドラムを用意した。
<Example 14> A plurality of drums were prepared under the same conditions as in Example 4 except that the conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 23.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例15〉 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第25表に示す数種の条
件に変え、それ以外は実施例4と同様の条件にて、第2
6表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 15> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 25, and the other conditions were as in Example 4. Under the same conditions, the second
A plurality of drums shown in Table 6 were prepared.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例16> 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第27表に示す数種の条
件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件にて
、第29表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 16> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 27. A plurality of drums shown in Table 29 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例17> 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示すa種の条件
に変え、先導tTt 5の作成条件を第27表に示す数
種の条件に変え、表面層の作成条件を第30表に示す条
件にて、第31表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 17> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to the type a conditions shown in Table 24, the conditions for forming the leading tTt5 were changed to several types of conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were A plurality of drums shown in Table 31 were prepared under the conditions shown in Table 30.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例18> 先導[層の作成条件を第25表に示す数種の条件に変え
、をれ以外は実施例5と同様の条件にて、第32表に示
す複数のドラムを用意した。
<Example 18> A plurality of drums shown in Table 32 were prepared under the same conditions as in Example 5 except that the conditions for forming the leading layer were changed to several conditions shown in Table 25.

これらのドラムを実施例5と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例5と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 5,
In all cases, similar to Example 5, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例!9〉 表面層の作成条件をTS28表に示す条件に変え、光導
電層の作成条件を第27表に示す数種の条件に変え、そ
れ以外は実施例5と同様の条件にて、第33表に示す複
数のドラムを用意した。
<Example! 9> The conditions for forming the surface layer were changed to those shown in Table TS28, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the other conditions were the same as in Example 5. A plurality of drums shown in the table were prepared.

これらのドラムを実施例5と同様の評価にかりた結果、
いずれも実施例5と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of evaluating these drums in the same manner as in Example 5,
In all cases, similar to Example 5, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例20〉 表面層の作成条件を第30表に示す条件に変え、光導電
層の作成条件をM27表に示す数種の条件に変え、それ
以外は実施例5と同様の条件にて、第34表に示す複数
のドラムを用意した。
<Example 20> The conditions for forming the surface layer were changed to those shown in Table 30, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table M27, and the other conditions were the same as in Example 5. , a plurality of drums shown in Table 34 were prepared.

これらのドラムを実施例5と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例5と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 5,
In all cases, similar to Example 5, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例2)> IR吸収層の作成条件を第35.36表に示す数種の条
件に変え、それ以外は実施例6と同様の条件にて、第3
7表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 2)> The conditions for creating the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Tables 35 and 36, and the third
A plurality of drums shown in Table 7 were prepared.

これらのドラムを実施例6と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例6と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 6,
In all cases, similar to Example 6, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例24〉 IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す数種の条
件に変え、光L[層の作成条件を第25表に示す数f1
の条件に変え、それ以外は実施例6と同様の条件にて、
第39表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 24> The conditions for creating the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the conditions for creating the layer were changed to the number f1 shown in Table 25.
, and the other conditions were the same as in Example 6.
A plurality of drums shown in Table 39 were prepared.

これらのドラムを実施例6と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例6と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 6,
In all cases, similar to Example 6, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例23〉 IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す数種の条
件に変え、光導電層の作成条件を第27表に示す数種の
条件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件に
て、7fr40表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 23> The conditions for forming the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 27. A plurality of drums shown in Table 7fr40 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例6と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例6と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 6,
In all cases, similar to Example 6, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例24〉 IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す数種の条
件に変え、先導T1円の作成条件を第27表に示す数種
の条件に変え、表面層の作成条件を第30表に示す条件
にて、7iTr 41表に示す複数のドラムを用;きし
た。
<Example 24> The conditions for creating the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, the conditions for creating the leading T1 circle were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for creating the surface layer were changed to several conditions shown in Table 27. A plurality of 7iTr drums shown in Table 41 were used under the conditions shown in Table 30.

これらのドラムを実施例6と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例6と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 6,
In all cases, similar to Example 6, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例25〉 密着層の作成条件を第42表に示す数種の条件に変え、
それ以外は実施例)と同様の条件にて、第43表に示す
複数のドラムを用意した。
<Example 25> The conditions for creating the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 42,
Other than that, a plurality of drums shown in Table 43 were prepared under the same conditions as in Example).

これらのドラムを実施例7と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例7と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 7,
In all cases, similar to Example 7, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

く実流例26〉 密着層の作成条件を第44表に示す数種の条件に変え、
先導i層の作成条件を第25表に示す数種の条件に変え
、それ以外は実施例7と同様の条件にて、第45表に示
す複数のドラムを用意した。
Practical flow example 26> The conditions for creating the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44,
A plurality of drums shown in Table 45 were prepared under the same conditions as in Example 7, except that the conditions for forming the leading i-layer were changed to several conditions shown in Table 25.

これらのドラムを実施例7と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例7と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 7,
In all cases, similar to Example 7, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例27〉 密着層の作成条件を第44表に示す数種の条件に変え、
先導TJ、層の作成条件を第27表に示す数種の条件に
変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件にて、′
!rS48表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 27> The conditions for creating the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44,
The conditions for forming the leading TJ layer were changed to several conditions shown in Table 27, and the conditions for forming the surface layer were changed to the conditions shown in Table 28.
! A plurality of drums shown in table rS48 were prepared.

これらのドラムを実施例7と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例7と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 7,
In all cases, similar to Example 7, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例28〉 密着層の作成条件を第44表に示す数種の条件に変え、
光導Ty、層の作成条件を第27表に示す数種の条件に
変え、表面層の作成条件を第30表に示す条件にて、i
47表に示す?31数のドラムを用意した。
<Example 28> The conditions for forming the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44,
The light guide Ty, the layer creation conditions were changed to several conditions shown in Table 27, and the surface layer creation conditions were changed to the conditions shown in Table 30.
Shown in Table 47? We prepared 31 drums.

これらのドラムを実施例7と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例7と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 7,
In all cases, similar to Example 7, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例29〉 IR吸収層の作成条件を第35.36表に示す数種の条
件に変え、それ以外は実施例8と同様の条件にて、第4
8表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 29> The conditions for creating the IR absorbing layer were changed to several conditions shown in Tables 35 and 36, and the other conditions were the same as in Example 8.
A plurality of drums shown in Table 8 were prepared.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例30〉 電荷注入阻止層の作成条件を第4S表に示す数種の条件
に変え、IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、それ以外は実施例8と同様の条件に
て、@SO表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 30> The conditions for creating the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 4S, the conditions for creating the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the other conditions were not carried out. A plurality of drums shown in the @SO table were prepared under the same conditions as in Example 8.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例31〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、IR吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す
条件にて、第52表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 31> The conditions for creating the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for creating the IR absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the surface layer was created. A plurality of drums shown in Table 52 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例32〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、!R吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、表面層の作成条件を第30表に示す
条件にて、第53表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 32> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, and! A plurality of drums shown in Table 53 were prepared by changing the conditions for forming the R absorption layer to several conditions shown in Tables 35 and 38, and under the conditions for forming the surface layer as shown in Table 30.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例33〉 密着層の作成条件を第44.54表に示す数種の条件に
変え、それ以外は実施例9と同様の条件にて、i55表
に示す複数のドラムを用意した。
<Example 33> A plurality of drums shown in Table i55 were prepared under the same conditions as in Example 9 except that the conditions for forming the adhesive layer were changed to several conditions shown in Tables 44 and 54.

これらのドラムを実施例9と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例9と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 9,
In all cases, similar to Example 9, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例34〉 電荷注入阻止層の作成条件を第56表に示す数種の条件
に変え、密R層の作成条件を第44.57表に示す数種
の条件に変え、それ以外は実施例9と同様の条件にて、
第58表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 34> The conditions for creating the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 56, the conditions for creating the dense R layer were changed to several conditions shown in Table 44.57, and the other conditions were not carried out. Under the same conditions as Example 9,
A plurality of drums shown in Table 58 were prepared.

これらのドラムを実施例9と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例9と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 9,
In all cases, similar to Example 9, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例35〉 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、密着層の作成条件を第44.57表に示す数種
の条件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件
にて、第59表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 35> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for forming the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44.57, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 44.57. A plurality of drums shown in Table 59 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例9と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例9と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 9,
In all cases, similar to Example 9, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例36〉 電荷注入阻止層の作成条件を第24表に示す数種の条件
に変え、密着層の作成条件を第44.57表に示す数種
の条件に変え、表面】の作成条件を第30表に示す条件
にて、第60表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 36> The conditions for creating the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 24, the conditions for creating the adhesive layer were changed to several conditions shown in Table 44.57, and the conditions for creating surface] were changed to several conditions shown in Table 24. A plurality of drums shown in Table 60 were prepared under the conditions shown in Table 30.

これらのドラムを実施例9と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例つと同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 9,
In each case, similar to Example 1, drums that fully satisfied the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実し〜例37〉 電荷注入阻止層の作成条件を第61表に示す数種の条件
に変え、それ以外は実施例10と同様の条件にて、TS
62表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 37> TS was produced under the same conditions as in Example 10 except that the conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 61.
A plurality of drums shown in Table 62 were prepared.

これらのドラムを実施例10と同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例1Oと同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 10, all drums were obtained which fully satisfied the electrophotographic characteristics as in Example 1O.

〈実施例38〉 電荷注入阻止層の作成条件を第64表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第63表に示す数種の条
件に変え、それ以外は実施例1Oと同様の条件にて、第
65表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 38> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 64, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 63, and the other conditions were as in Example 1O. A plurality of drums shown in Table 65 were prepared under the same conditions as above.

これらのドラムを実施例10と同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例10と同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
These drums were subjected to the same evaluation as in Example 10, and as in Example 10, all drums were obtained that fully satisfied the electrophotographic characteristics.

〈実施例39〉 電荷注入阻止層の作成条件を第64表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第66辰に示す数種の条
件に変え、表面層の作成条件を第28表に示す条件にて
、茅67表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 39> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 64, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 66, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 66. A plurality of drums shown in Table 67 were prepared under the conditions shown in Table 28.

これらのドラムを実施例10と同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例10と同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
These drums were subjected to the same evaluation as in Example 10, and as in Example 10, all drums were obtained that fully satisfied the electrophotographic characteristics.

〈実施例40〉 電荷注入阻止層の作成条件を第64表に示す数種の条件
に変え、光導電層の作成条件を第66表に示す数種の条
件に変え、表面層の作成条件を第30表に示す条件にて
、第68表に示す′a数のドラムを用意した。
<Example 40> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 64, the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 66, and the conditions for forming the surface layer were changed to several conditions shown in Table 66. Under the conditions shown in Table 30, drums with the number 'a shown in Table 68 were prepared.

これらのドラムを実施例10と同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例10と同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
These drums were subjected to the same evaluation as in Example 10, and as in Example 10, all drums were obtained that fully satisfied the electrophotographic characteristics.

〈実施例41〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、In吸収層の作成条件を第35.38表に示す
a種の条件に変え、光導電層の作成条件を第69表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第70表に示す条件
にて、M71表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 41> The formation conditions of the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the formation conditions of the In absorption layer were changed to the conditions of type a shown in Table 35.38, and the formation conditions of the photoconductive layer were A plurality of drums shown in Table M71 were prepared under the conditions for forming the surface layer as shown in Table 69 and the conditions for forming the surface layer as shown in Table 70.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例42> 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、In吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第72表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第70表に示す条件
にて、第73表に示す?Xt数のドラムを用意した。
<Example 42> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the In absorption layer were changed to several conditions shown in Tables 35 and 38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 51. The preparation conditions are shown in Table 72, the surface layer preparation conditions are shown in Table 70, and the conditions are shown in Table 73. Xt number of drums were prepared.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例43〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、I11吸収層の作成条件を第35.38表に示
す数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第69表に
示す条件にして、表面層の作成条件を第28表に示す条
件にて、第74表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 43> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the I11 absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 35.38. A plurality of drums shown in Table 74 were prepared under the conditions for forming the surface layer as shown in Table 69 and the conditions for forming the surface layer as shown in Table 28.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例44〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、In吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第72表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第28表に示す条件
にて、第75表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 44> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the In absorption layer were changed to several conditions shown in Tables 35 and 38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 35.38. A plurality of drums shown in Table 75 were prepared under the conditions shown in Table 72 for the production conditions and the conditions for the production of the surface layer shown in Table 28.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例45〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、In吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第6g表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第30表に示す条件
にて、7rS76表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 45> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the In absorption layer were changed to several conditions shown in Table 35.38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 35.38. A plurality of drums shown in Table 7rS76 were prepared under the conditions for forming the surface layer as shown in Table 6g and the conditions for forming the surface layer as shown in Table 30.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例46〉 電荷注入阻止層の作成条件を第51表に示す数種の条件
に変え、In吸収層の作成条件を第35.38表に示す
数種の条件に変え、光導電層の作成条件を第72表に示
す条件にして、表面層の作成条件を第30表に示す条件
にて、第77表に示す複数のトラムを用意した。
<Example 46> The conditions for forming the charge injection blocking layer were changed to several conditions shown in Table 51, the conditions for forming the In absorption layer were changed to several conditions shown in Tables 35 and 38, and the conditions for forming the photoconductive layer were changed to several conditions shown in Table 35.38. A plurality of trams shown in Table 77 were prepared under the conditions shown in Table 72 and the conditions for forming the surface layer shown in Table 30.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例47〉 電荷注入阻止層、光導電層の作成条件を第78表に示す
条件にして、表面層の作成条件を7579表に示す複数
のドラムを用意した。
<Example 47> A plurality of drums were prepared in which the conditions for forming the charge injection blocking layer and the photoconductive layer were as shown in Table 78, and the conditions for forming the surface layer were shown in Table 7579.

これらのドラムを実施例4と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例4と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 4,
In all cases, similar to Example 4, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例48〉 11を吸ttlj層、電荷注入阻止層、光導電層の作成
条件を第80表に示す条件にして、表面層の作成条件を
第81表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 48> A plurality of drums were prepared in which the conditions for forming the absorption layer, the charge injection blocking layer, and the photoconductive layer of Example 11 were as shown in Table 80, and the conditions for forming the surface layer were as shown in Table 81.

これらのドラムを実施例8と同様の評価にかけた結果、
いずれも実施例8と同様に、電子写真特性を十分に満足
するドラムが得られた。
As a result of subjecting these drums to the same evaluation as in Example 8,
In all cases, similar to Example 8, drums fully satisfying the electrophotographic characteristics were obtained.

〈実施例49〉 密岩層、IR吸収居、電荷注入阻止層、光導電層の作成
条件を第82表に示す条件にして、表面層の作成条件を
第83表に示す複数のドラムを用意した。
<Example 49> A plurality of drums were prepared under the conditions for forming the dense rock layer, the IR absorption layer, the charge injection blocking layer, and the photoconductive layer as shown in Table 82, and the conditions for forming the surface layer as shown in Table 83. .

これらのドラムを実施例1Oと同様の評価にかけた結果
、いずれも実施例10と同様に、電子写真特性を十分に
満足するドラムが得られた。
These drums were subjected to the same evaluation as in Example 1O, and as in Example 10, all drums were obtained that fully satisfied the electrophotographic characteristics.

く実LN例50〉 電荷注入阻止層、光47層、中間層、表面層をそれぞれ
TS84表に示す作成条件で、実施例1と同様にドラム
を作成し、同様の評価をかけた結果、実施例1と同様に
、ぎわめてすぐれた電子写真特性のドラムが得られた。
Nut LN Example 50> A drum was prepared in the same manner as in Example 1 with the charge injection blocking layer, optical 47 layer, intermediate layer, and surface layer shown in Table TS84, and the same evaluation was conducted. As in Example 1, a drum with excellent electrophotographic properties was obtained.

〈実施例51> 鏡面加工を施したシリンダーを更に様々な角度を持つ剣
バイトによる旋慇加工白供し、第3図のような判断形状
で第85表のような種々の断面パターンを持つシリンダ
ーを複数本用意した。該シリンダーを順次第2図の製造
装置にセットし、実施例1と同様の作成条件の基にドラ
ム作成に供した0作成されたドラムを実施例1と同様の
評価を行った結果、いずれも実施例1と同様に、電子写
真特性を十分に満足するドラムが得られた。
〈Example 51〉 The mirror-finished cylinder was further subjected to swivel processing using a sword bit with various angles, and cylinders with the determined shape as shown in Fig. 3 and various cross-sectional patterns as shown in Table 85 were made. I prepared several books. The cylinders were sequentially set in the manufacturing apparatus shown in Fig. 2 and subjected to drum manufacturing under the same manufacturing conditions as in Example 1.The manufactured drums were evaluated in the same manner as in Example 1. As in Example 1, a drum fully satisfying the electrophotographic properties was obtained.

〈実施例52〉 鏡面加工を施したシリンダーの表面を、引続き多数のベ
アリング用球の落下の基にさらしてシリンダー表面に無
数の打痕を生じせしめる、所謂表面ディンプル化処理を
施し、第4図のような判断形状で、第85表のような種
々の断面パターンを持つシリンダーを複数本用意した。
<Example 52> The surface of the mirror-finished cylinder was subjected to a so-called surface dimple treatment in which the surface of the cylinder was exposed to the falling of many bearing balls to produce countless dents on the cylinder surface, as shown in Fig. 4. A plurality of cylinders were prepared with the judgment shape as shown in Table 85 and various cross-sectional patterns as shown in Table 85.

該シリンダーを順次第2図の製造装置にセットし、実施
例1と同様の作成条件の基にドラム作成に供した。作成
されたドラムを実施例1と同様の評価を行った結果、い
ずれも実施例1と同様に、電子写真特性を十分に満足す
るドラムが得られた。
The cylinders were sequentially set in the manufacturing apparatus shown in FIG. 2 and subjected to drum manufacturing under the same manufacturing conditions as in Example 1. The produced drums were evaluated in the same manner as in Example 1, and as a result, drums that fully satisfied the electrophotographic characteristics were obtained in all cases, as in Example 1.

第23表 7524表 第25表 第32表 ′fS33表 第34表 第35表 第 35 表(つづき) 第36表 第 36 表(つづぎ) 7537表 第38表 第 38 表(つづぎ) 第39表 第40  表 第4L表 第45表 第46表 第47表 第48表 第49表 第  50  表 第51表 7352表 7JS53表 第  55  表 第56表 i61表 第62表 第64表 第65表 第67表 第68表 第71表 第73表 第74表 第75表 第 76表 第77表 第85表 7586表 (発明の効果の概略) 本発明の光受容部材は、4配位構造の窒化ホウ素と3配
位溝造の窒化ホウ素とを混在して含有する非単結晶質材
料で構成された表面保護層を設けたことにより、特に優
れた耐湿性、連続繰り返し使用特性、電気的耐圧性、使
用環境特性及び耐久性等を有するものであり、本発明の
光受容部材を電子写真用像形成部材として適用させた場
合には、残留電位の影吾が全くなく、その電気的特性が
安定しており、特に、画像欠陥、画像流れ、クリーニン
グ性にすぐれたものとなる。
Table 23 7524 Table 25 Table 32 'fS33 Table 34 Table 35 Table 35 (continued) Table 36 Table 36 (continued) 7537 Table 38 Table 38 (continued) 39 Table 40 Table 4L Table 45 Table 46 Table 47 Table 48 Table 49 Table 50 Table 51 Table 7352 Table 7 JS53 Table 55 Table 56 Table i61 Table 62 Table 64 Table 65 Table 67, Table 68, Table 71, Table 73, Table 74, Table 75, Table 76, Table 77, Table 85, Table 7586 (Summary of the effects of the invention). By providing a surface protective layer composed of a non-single-crystalline material containing a mixture of boron nitride with three-coordinated groove structure, it has particularly excellent moisture resistance, continuous repeated use characteristics, electrical pressure resistance, It has usage environment characteristics and durability, and when the light-receiving member of the present invention is applied as an electrophotographic image forming member, there is no influence of residual potential and its electrical characteristics are stable. In particular, it is excellent in image defects, image deletion, and cleanability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1(A)〜(1)図は本発明の光受容部材の層構造の
典型例のいくつかを模式的に示した図であり、′fS2
図は本発明の光受容部材を製造するための装置の一例で
、グロー放電法による製造装五の模式的説明図である。 第3図及び第4図は、本発明の光受容部材の支持体の断
面形状の例を示す図である。 10口・・・光受容部材、101・・・支持体、102
・・・先導電層、103・・・表面保護層、104・・
・電荷注入阻止層、105・・・長波長光吸収層、10
6・・・密着層、107・・・自由表面、108・・・
中間層、201・・・反応室、202〜206・・・ガ
スボンベ、207〜2)1・・・マスフロコントローラ
、2)2〜2)6・・・流入バルブ2)7〜22)・・
・流出バルブ、222〜226・・・バルブ227〜2
31・・・圧力調整器、2:12,233・・・補助バ
ルブ、234・・・メインバルブ、235・・・リーク
バルブ23B・・・真空計、237・・・基体シリンダ
ー、238・・・加熱ヒーター、239・・・モーター
、240・・・高周波電源
FIGS. 1(A) to 1(1) are diagrams schematically showing some typical examples of the layer structure of the light receiving member of the present invention, and 'fS2
The figure is an example of an apparatus for manufacturing the light-receiving member of the present invention, and is a schematic explanatory diagram of a manufacturing apparatus using a glow discharge method. FIGS. 3 and 4 are diagrams showing examples of the cross-sectional shape of the support of the light-receiving member of the present invention. 10 ports...Light receiving member, 101...Support, 102
...Leading conductor layer, 103...Surface protection layer, 104...
- Charge injection blocking layer, 105...Long wavelength light absorption layer, 10
6... Adhesive layer, 107... Free surface, 108...
Intermediate layer, 201... Reaction chamber, 202-206... Gas cylinder, 207-2) 1... Mass flow controller, 2) 2-2) 6... Inflow valve 2) 7-22)...
・Outflow valve, 222-226... valve 227-2
31... Pressure regulator, 2:12, 233... Auxiliary valve, 234... Main valve, 235... Leak valve 23B... Vacuum gauge, 237... Base cylinder, 238... Heater, 239...Motor, 240...High frequency power supply

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)支持体と、該支持体上に、シリコン原子を母体と
し、水素原子又はハロゲン原子のうちの少なくともいず
れか一方を含有するアモルファス材料で構成された光導
電層と、表面保護層とを少なくとも有する光受容層とか
らなる光受容部材において、前記表面保護層が、4配位
構造の窒化ホウ素と3配位構造の窒化ホウ素を混在して
含有する非単結晶質材料で構成されていることを特徴と
する光受容部材。
(1) A support, a photoconductive layer made of an amorphous material based on silicon atoms and containing at least one of hydrogen atoms or halogen atoms, and a surface protective layer on the support. In the light receiving member comprising at least a light receiving layer, the surface protective layer is made of a non-single crystal material containing a mixture of boron nitride having a four-coordinate structure and boron nitride having a three-coordinate structure. A light-receiving member characterized by:
(2)前記光受容層が、3層以上の多層構成である特許
請求の範囲第(1)項に記載された光受容部材。
(2) The light-receiving member according to claim (1), wherein the light-receiving layer has a multilayer structure of three or more layers.
(3)前記光受容層が、電荷注入阻止層を有する特許請
求の範囲第(2)項に記載された光受容部材。
(3) The light-receiving member according to claim (2), wherein the light-receiving layer has a charge injection blocking layer.
(4)前記光受容層が、長波長光吸収層を有する特許請
求の範囲第(2)項に記載された光受容部材。
(4) The light-receiving member according to claim (2), wherein the light-receiving layer has a long wavelength light absorption layer.
(5)前記光受容層が、接着性を改善する機能を備えた
接着層を有する特許請求の範囲第(2)項に記載された
光受容部材。
(5) The light-receiving member according to claim (2), wherein the light-receiving layer has an adhesive layer having a function of improving adhesiveness.
(6)前記光導電層と前記表面保護層との間に中間層を
有する特許請求の範囲第(2)項に記載された光受容部
材。
(6) The light-receiving member according to claim (2), which has an intermediate layer between the photoconductive layer and the surface protection layer.
JP10354986A 1986-04-30 1986-05-06 Light receiving member Granted JPS62260158A (en)

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JP10354986A JPS62260158A (en) 1986-05-06 1986-05-06 Light receiving member
US07/044,022 US4845001A (en) 1986-04-30 1987-04-29 Light receiving member for use in electrophotography with a surface layer comprising non-single-crystal material containing tetrahedrally bonded boron nitride

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JPH0573231B2 JPH0573231B2 (en) 1993-10-13

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