JPS6225983B2 - - Google Patents
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- JPS6225983B2 JPS6225983B2 JP53106976A JP10697678A JPS6225983B2 JP S6225983 B2 JPS6225983 B2 JP S6225983B2 JP 53106976 A JP53106976 A JP 53106976A JP 10697678 A JP10697678 A JP 10697678A JP S6225983 B2 JPS6225983 B2 JP S6225983B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F1/00—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
- G01F1/68—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using thermal effects
- G01F1/684—Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow
- G01F1/6842—Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow with means for influencing the fluid flow
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F1/00—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
- G01F1/68—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using thermal effects
- G01F1/684—Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F5/00—Measuring a proportion of the volume flow
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K13/00—Thermometers specially adapted for specific purposes
- G01K13/02—Thermometers specially adapted for specific purposes for measuring temperature of moving fluids or granular materials capable of flow
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Measuring Volume Flow (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は流体を検査する、例えば、流体の質
量、流量、密度、温度、PHまたは伝導率の如きパ
ラメータを測定し、または、例えばその百分率酸
素含量の如き化学的および/または物理的分析を
行う方法並びに装置に係る。
量、流量、密度、温度、PHまたは伝導率の如きパ
ラメータを測定し、または、例えばその百分率酸
素含量の如き化学的および/または物理的分析を
行う方法並びに装置に係る。
本発明は、また、複数個のパラメータの同時測
定、例えば密度と温度の同時測定、にも適用され
うる。
定、例えば密度と温度の同時測定、にも適用され
うる。
流体のパラメータ、例えばその密度を測定する
ために流体の検査は、該流体の主流を導管に通
し;該導管の上流に面する吸込口であつて導管の
下流に面する吐出口と適する吸込口を有するプロ
ーブを前記導管に差込み;前記プローブを通過す
るサンプル流れを検査するため密度計またはその
他の計器を使用して前記パラメータを測定するこ
とによつて行われるのが一般である。前記吸込口
はその前方にごみ除けを有し、従つて、サンプル
流れは計器に進入する前に2回鋭く曲げられ、そ
れによつて、計器に進入するごみの量を減じるよ
うにされている。かく構成されてはいても、計器
に侵入するごみの量は充分に少なくならない。
ために流体の検査は、該流体の主流を導管に通
し;該導管の上流に面する吸込口であつて導管の
下流に面する吐出口と適する吸込口を有するプロ
ーブを前記導管に差込み;前記プローブを通過す
るサンプル流れを検査するため密度計またはその
他の計器を使用して前記パラメータを測定するこ
とによつて行われるのが一般である。前記吸込口
はその前方にごみ除けを有し、従つて、サンプル
流れは計器に進入する前に2回鋭く曲げられ、そ
れによつて、計器に進入するごみの量を減じるよ
うにされている。かく構成されてはいても、計器
に侵入するごみの量は充分に少なくならない。
従つて、本発明は導管を流れる流体の物理的性
質を測定する計器へ流れる流体のサンプル流れに
混入するごみの量を実質的に減じて計器の汚染を
防止し、長期にわたつて正確な測定を可能にしか
つ構造が簡単である流体を検査する方法及び装置
を提供することを目的とする。
質を測定する計器へ流れる流体のサンプル流れに
混入するごみの量を実質的に減じて計器の汚染を
防止し、長期にわたつて正確な測定を可能にしか
つ構造が簡単である流体を検査する方法及び装置
を提供することを目的とする。
本発明の一観点に従えば、流体の主流を導管に
通して送る段階と;前記導管あるいはこれに通ず
る室にプローブを挿入物段階とを有し、該プロー
ブは前記導管の下流に面する吸込口を有し、この
吸込口は、前記プローブの端面に配置された吐出
口に連絡されており、該端面は前記導管の内部に
配置されてしかして該導管の壁から隔置されるよ
うになつており、もつて、前記主流が前記導管を
通過する間に、前記主流によつて前記流体のサン
プル流れが前記導管から抽出されて前記吸込口か
ら前記プローブに通されて前記吐出口に達し、そ
れから前記導管に復帰せしめられるようになさ
れ;さらに前記サンプル流れを検査する段階とを
含む流体を検査する方法が提供される。
通して送る段階と;前記導管あるいはこれに通ず
る室にプローブを挿入物段階とを有し、該プロー
ブは前記導管の下流に面する吸込口を有し、この
吸込口は、前記プローブの端面に配置された吐出
口に連絡されており、該端面は前記導管の内部に
配置されてしかして該導管の壁から隔置されるよ
うになつており、もつて、前記主流が前記導管を
通過する間に、前記主流によつて前記流体のサン
プル流れが前記導管から抽出されて前記吸込口か
ら前記プローブに通されて前記吐出口に達し、そ
れから前記導管に復帰せしめられるようになさ
れ;さらに前記サンプル流れを検査する段階とを
含む流体を検査する方法が提供される。
用語“導管”は本明細書においては広い意味に
おいて使用され、例えば、開放溝路、管及び河川
を包含する。
おいて使用され、例えば、開放溝路、管及び河川
を包含する。
前記プローブは好ましくはシリンダ形のプロー
ブ例えば円筒形プローブである。円筒形プローブ
はパイプラインに対し適合しやすいものである。
なぜならプローブを差込んで密閉する円形の穴を
パイプラインに穿設することは容易であるからで
ある。しかし、プローブは任意の角形体、例えば
正方形または三角形の端面を有する角形体などの
鋭い縁を有するものでも構成されうる。
ブ例えば円筒形プローブである。円筒形プローブ
はパイプラインに対し適合しやすいものである。
なぜならプローブを差込んで密閉する円形の穴を
パイプラインに穿設することは容易であるからで
ある。しかし、プローブは任意の角形体、例えば
正方形または三角形の端面を有する角形体などの
鋭い縁を有するものでも構成されうる。
前記主流の流体はごみまたはその他のものによ
つて汚染され、または1個以上の相を有しうるも
のである。
つて汚染され、または1個以上の相を有しうるも
のである。
本発明の他の観点に従えば、流体の主流が通送
される導管と;該導管内に、または該導管に連通
する室内に挿入されるプローブであつて、前記導
管の下流に面する吸込口を有し、該吸込口が前記
プローブの端面に配置された吐出口と連絡し、前
記端面が前記導管内に配置されてその壁から隔置
されており、従つて、前記主流が作動時に前記導
管を通過する間に、前記主流によつて前記流体の
サンプル流れが前記導管から抽出されて前記吸込
口から前記プローブに通されて前記吐出口に達す
るとともに前記導管に復帰せしめられるようにさ
れたものと;前記サンプル流れを検査するための
検査手段とを有する、流体を検査する装置が提供
される。
される導管と;該導管内に、または該導管に連通
する室内に挿入されるプローブであつて、前記導
管の下流に面する吸込口を有し、該吸込口が前記
プローブの端面に配置された吐出口と連絡し、前
記端面が前記導管内に配置されてその壁から隔置
されており、従つて、前記主流が作動時に前記導
管を通過する間に、前記主流によつて前記流体の
サンプル流れが前記導管から抽出されて前記吸込
口から前記プローブに通されて前記吐出口に達す
るとともに前記導管に復帰せしめられるようにさ
れたものと;前記サンプル流れを検査するための
検査手段とを有する、流体を検査する装置が提供
される。
好ましくは、前記検査装置は前記プローブに取
付けられる。
付けられる。
前記検査装置は流量計でありうる。
代替的に、前記検査装置は密度計、即ち作動時
に前記サンプル流れが通過する感知管と、該感知
管を振動させるとともにその振動から前記サンプ
ル流れの密度を測定する手段とを有する密度計と
を以て構成されうる。
に前記サンプル流れが通過する感知管と、該感知
管を振動させるとともにその振動から前記サンプ
ル流れの密度を測定する手段とを有する密度計と
を以て構成されうる。
前記吐出口は前記プローブの縮径端面に配置さ
れうる。
れうる。
前記吸込口は前記プローブの凹所に達する通路
と連通し、前記凹所は前記通路の直径よりも事実
上大きい直径を有し、前記凹所は前記吐出口を構
成する開口端を有する。
と連通し、前記凹所は前記通路の直径よりも事実
上大きい直径を有し、前記凹所は前記吐出口を構
成する開口端を有する。
前記吐出口を保護するため前記プローブに対し
てシールドが取付けられうる。
てシールドが取付けられうる。
以下、本発明は添付図面を参照して単に例示的
に説明される。
に説明される。
第1図には重粒子11と軽粒子12とを含有す
る流体の流れ10が概略的に図示されている。シ
リンダ13は、流れ10の直接的な流路に位置す
るものとして図示され、第1図において認められ
るように、流れ10はシリンダ13に沿う区域に
おける流線と、シリンダ13の直ぐ下流のウエー
ク区域15とを生じる。
る流体の流れ10が概略的に図示されている。シ
リンダ13は、流れ10の直接的な流路に位置す
るものとして図示され、第1図において認められ
るように、流れ10はシリンダ13に沿う区域に
おける流線と、シリンダ13の直ぐ下流のウエー
ク区域15とを生じる。
流れ10中の重粒子11はシリンダ13と衝突
し、一方、軽粒子12はシリンダ13によつて半
径方向に偏向されるのみである。従つて、ウエー
ク区域15では軽粒子12または重粒子11の双
方はかなり少ない。
し、一方、軽粒子12はシリンダ13によつて半
径方向に偏向されるのみである。従つて、ウエー
ク区域15では軽粒子12または重粒子11の双
方はかなり少ない。
従つて、もしシリンダ13が流れ10の下流に
面してウエーク区域15に配置された吸込口17
と、シリンダ13の端面19に配置された吐出口
18とを有する通路16を設けるならば、ウエー
ク区域15から流体は通路16に流入し、吐出口
18を通じて流れ出る。通路16を通る前記流れ
は、吸込口17と吐出口18とを介する圧力差に
因つて生じる。通路16を通る流体の流れには重
粒子11と軽粒子12の双方の含有量はかなり少
なく、従つて、例えば流量または密度など流体の
パラメータを測定する計器に通すためのサンプル
流れとして利用するのにきわめて好適である。
面してウエーク区域15に配置された吸込口17
と、シリンダ13の端面19に配置された吐出口
18とを有する通路16を設けるならば、ウエー
ク区域15から流体は通路16に流入し、吐出口
18を通じて流れ出る。通路16を通る前記流れ
は、吸込口17と吐出口18とを介する圧力差に
因つて生じる。通路16を通る流体の流れには重
粒子11と軽粒子12の双方の含有量はかなり少
なく、従つて、例えば流量または密度など流体の
パラメータを測定する計器に通すためのサンプル
流れとして利用するのにきわめて好適である。
第2図には、従つて、本発明にもとづいた装置
の第1の実施例が概略的に図示されている。
の第1の実施例が概略的に図示されている。
第2図を参照すると、導管20内を主流21が
通過し、該主流はごみなどを含んで汚染された流
体あるいは2つあるいはそれ以上の相を有する流
体である。ほぼ円筒形のプローブ22が導管20
内に挿入される。プローブ22はサンプル流れ通
路23を有する。サンプル流れ通路23は、導管
20の下流に面する吸込口24と、プローブ22
の端面26に配置された吐出口25とを有する。
端面26は導管20の内部に配置されて導管の壁
面から隔置されて位置されている。従つて、第1
図を参照して既に説明された如く、前記主流21
が導管20を通つて流れる間に、流体のサンプル
流れが導管20から抽出されて、吸込口24から
プローブ22のサンプル流れ通路23を通過せし
められ吐出口25に達し最終的に導管20へ戻さ
れる。前記サンプル流れは、前記プローブ22の
下流側のウエーク区域から抽出される流体である
から、ごみなどの汚染物質をほとんど含有してい
ない。さらにまた、もし導管20内の流体が多相
のものであつても、サンプル流れは清浄な流体で
ある。従つて、吸込口24はごみによつて急速に
閉塞状態とはならず、従来式のものと比較するに
有利である。
通過し、該主流はごみなどを含んで汚染された流
体あるいは2つあるいはそれ以上の相を有する流
体である。ほぼ円筒形のプローブ22が導管20
内に挿入される。プローブ22はサンプル流れ通
路23を有する。サンプル流れ通路23は、導管
20の下流に面する吸込口24と、プローブ22
の端面26に配置された吐出口25とを有する。
端面26は導管20の内部に配置されて導管の壁
面から隔置されて位置されている。従つて、第1
図を参照して既に説明された如く、前記主流21
が導管20を通つて流れる間に、流体のサンプル
流れが導管20から抽出されて、吸込口24から
プローブ22のサンプル流れ通路23を通過せし
められ吐出口25に達し最終的に導管20へ戻さ
れる。前記サンプル流れは、前記プローブ22の
下流側のウエーク区域から抽出される流体である
から、ごみなどの汚染物質をほとんど含有してい
ない。さらにまた、もし導管20内の流体が多相
のものであつても、サンプル流れは清浄な流体で
ある。従つて、吸込口24はごみによつて急速に
閉塞状態とはならず、従来式のものと比較するに
有利である。
作動中流体が連続して流れるサンプル流れ通路
23は室27と連通している。室27はサンプル
流れ通路23と連絡している端部を除き、閉じら
れている。従つて、室27内の流体はかなり淀ん
でいる。
23は室27と連通している。室27はサンプル
流れ通路23と連絡している端部を除き、閉じら
れている。従つて、室27内の流体はかなり淀ん
でいる。
“流れ”サーミスタ28がサンプル流れ通路2
3に取付けられ、一方“基準”サーミスタ29が
室27に取付けられている。前記サーミスタ2
8,29は英国特許第1463507号に開示されてい
る形式の流量計の一部を構成する。
3に取付けられ、一方“基準”サーミスタ29が
室27に取付けられている。前記サーミスタ2
8,29は英国特許第1463507号に開示されてい
る形式の流量計の一部を構成する。
以上により、第2図に示される構造は、問題と
なる量のごみなどの汚染物が流量計を通過しない
ようになつていることが理解できるであろう。
なる量のごみなどの汚染物が流量計を通過しない
ようになつていることが理解できるであろう。
第3図に示される構造は、第2図のそれに概ね
似た構成であり、よつて、詳細な説明を省略す
る。第3図において第2図と同一部品は同一参照
番号によつて示される。しかし、第3図の構成に
おいてはサンプル流れ通路23aは、流量計また
はその他の計器(図示されていない)まで、及び
該計器から、導管20の外部へ達しているもので
ある。
似た構成であり、よつて、詳細な説明を省略す
る。第3図において第2図と同一部品は同一参照
番号によつて示される。しかし、第3図の構成に
おいてはサンプル流れ通路23aは、流量計また
はその他の計器(図示されていない)まで、及び
該計器から、導管20の外部へ達しているもので
ある。
第4図には本発明のさらに別の一実施例が図示
されており、該実施例においては、導管30に
は、ごみなどの物質によつて汚染された流体の主
流即ち水平流れ31が通過している。導管30は
フランジ部材32を有し、該フランジ部材32の
内部33は導管30の内部と連通し、フランジ部
材32の外端は端板34によつて閉鎖されてい
る。概ね円筒形のプローブ35が端板34を貫い
て水平流れ31内に突入するように延在し、プロ
ーブ35は、シール36によつて端板34に対し
て密封されている。プローブ35はサンプル通路
40を有し、該通路40は導管30の下流に面す
る吸込口41と、プローブ35の端面43に配置
された吐出口42とを有する。導管31を通過す
る水平流れ31によつて、流体のサンプル流れが
抽出されて吸込口41からサンプル流れ通路40
を通つて吐出口42を経て導管30へ戻される。
されており、該実施例においては、導管30に
は、ごみなどの物質によつて汚染された流体の主
流即ち水平流れ31が通過している。導管30は
フランジ部材32を有し、該フランジ部材32の
内部33は導管30の内部と連通し、フランジ部
材32の外端は端板34によつて閉鎖されてい
る。概ね円筒形のプローブ35が端板34を貫い
て水平流れ31内に突入するように延在し、プロ
ーブ35は、シール36によつて端板34に対し
て密封されている。プローブ35はサンプル通路
40を有し、該通路40は導管30の下流に面す
る吸込口41と、プローブ35の端面43に配置
された吐出口42とを有する。導管31を通過す
る水平流れ31によつて、流体のサンプル流れが
抽出されて吸込口41からサンプル流れ通路40
を通つて吐出口42を経て導管30へ戻される。
サンプル流れ通路40は、例えば英国特許第
1175586号に開示された形式の密度計44を結合
されている。
1175586号に開示された形式の密度計44を結合
されている。
44で示される形式の密度計は、ごみに対して
極度に敏感である。このようなごみは、密度計の
感知管(図示されていない)の振動に影響を及ぼ
しうるからであり、または、この感知管の振動を
完全に阻止するとすらありうるからである。しか
し、第4図に示される構造により密度計44を通
過するサンプル流れが、導管30を通過する流体
のよごれの程度に関係無しに、ほとんどごみを含
有しないようにすることを確実にしている。
極度に敏感である。このようなごみは、密度計の
感知管(図示されていない)の振動に影響を及ぼ
しうるからであり、または、この感知管の振動を
完全に阻止するとすらありうるからである。しか
し、第4図に示される構造により密度計44を通
過するサンプル流れが、導管30を通過する流体
のよごれの程度に関係無しに、ほとんどごみを含
有しないようにすることを確実にしている。
第5図には、本発明のさらに別の一実施例であ
つて第3図のそれに概ね似たものが図示されてお
り、したがつて、本実施例は詳細には説明されな
い。同一部分は同一番号を以て示される。しか
し、第5図の構造においては、吸込口24は室5
0内に配置されてそれと連通している。室50は
導管20と連通してそこに“ポケツト”を画成す
る。室50内のごみの濃度は導管20の主流にお
けるそれに比べ一般に小さいが、室50内の流体
は比較的淀んでおり、従つて、導管20の主部分
におけるすべての渦流またはノイズによつて影響
される程度が著しく小さい。さらに、室50内の
より高い圧力は感度を増進させる。
つて第3図のそれに概ね似たものが図示されてお
り、したがつて、本実施例は詳細には説明されな
い。同一部分は同一番号を以て示される。しか
し、第5図の構造においては、吸込口24は室5
0内に配置されてそれと連通している。室50は
導管20と連通してそこに“ポケツト”を画成す
る。室50内のごみの濃度は導管20の主流にお
けるそれに比べ一般に小さいが、室50内の流体
は比較的淀んでおり、従つて、導管20の主部分
におけるすべての渦流またはノイズによつて影響
される程度が著しく小さい。さらに、室50内の
より高い圧力は感度を増進させる。
第6図〜第10図は、第2図〜第5図に示され
たプローブに代つて使用されうる他のプローブを
概略的に示している。
たプローブに代つて使用されうる他のプローブを
概略的に示している。
即ち、第6図には、通路51と連通する吸込口
(図示されていない)を有する円筒形のプローブ
22aが図示されており、通路51は前記プロー
ブ22aの縮径された端部分52を通つて延在し
ている。通路51は前記プローブ22aの縮径さ
れた端面54に位置された吐出口53に達してい
る。縮径された端部分52は吸込作用を増進させ
るとともに、より大きい差圧と、より大きい流量
と、改善された感度とを提供する。
(図示されていない)を有する円筒形のプローブ
22aが図示されており、通路51は前記プロー
ブ22aの縮径された端部分52を通つて延在し
ている。通路51は前記プローブ22aの縮径さ
れた端面54に位置された吐出口53に達してい
る。縮径された端部分52は吸込作用を増進させ
るとともに、より大きい差圧と、より大きい流量
と、改善された感度とを提供する。
第7図には、プローブ22bの凹所53に達す
る通路52と連通する吸込口(図示されていな
い)を有する円筒形のプローブ22bが図示され
ている。通路52の直径よりも実質的に大きい直
径を有する凹所53は、薄い湾曲した周壁54を
有する。凹所53は、プローブ22bの吐出口を
構成する開口端53を有する。第7図に示される
構造は直線性を向上させるものである。
る通路52と連通する吸込口(図示されていな
い)を有する円筒形のプローブ22bが図示され
ている。通路52の直径よりも実質的に大きい直
径を有する凹所53は、薄い湾曲した周壁54を
有する。凹所53は、プローブ22bの吐出口を
構成する開口端53を有する。第7図に示される
構造は直線性を向上させるものである。
第8図には、第2図に示されたものに概ね似て
いるプローブ22cであつて、その吐出口57を
パイプライン壁干渉効果から保護するためにシー
ルド56を取付けられたものが示されている。
いるプローブ22cであつて、その吐出口57を
パイプライン壁干渉効果から保護するためにシー
ルド56を取付けられたものが示されている。
第9図には、縮径部分52と、第6図のプロー
ブ22aの特徴と同じその他の諸特徴とを有する
プローブ22dであつて、さらに、第8図の構造
のシールド56をも設けられているものが示され
ている。
ブ22aの特徴と同じその他の諸特徴とを有する
プローブ22dであつて、さらに、第8図の構造
のシールド56をも設けられているものが示され
ている。
第10図には、凹所53と、第7図のプローブ
22bの特徴と同じその他の諸特徴とを有するプ
ローブ22eであつて、さらに、第8図の構造の
シールド56をも配設されたものが図示されてい
る。
22bの特徴と同じその他の諸特徴とを有するプ
ローブ22eであつて、さらに、第8図の構造の
シールド56をも配設されたものが図示されてい
る。
以上第5図〜第10図に示された各種の構造
は、何れも、小さい流れに対する感度を向上さ
せ、ごみ排除能力を増強し、より広い作用範囲に
亘る直線性を向上させ、在来装置に比し一そう小
さい導管において用いることを可能ならしめる。
は、何れも、小さい流れに対する感度を向上さ
せ、ごみ排除能力を増強し、より広い作用範囲に
亘る直線性を向上させ、在来装置に比し一そう小
さい導管において用いることを可能ならしめる。
以上説明した構成により、本発明は計器へ流れ
る流体のサンプル流れに混入するごみの量を実質
的に減じて計器の汚染を防止し、特別のごみ除け
装置を必要とせず構造が極めて簡単であり、比較
的小さい導管に対しても適用可能であり、長期に
わたつて正確な測定を可能にし、かつ計器の測定
感度を最大限に維持し得るなどすぐれた効果を奏
する。
る流体のサンプル流れに混入するごみの量を実質
的に減じて計器の汚染を防止し、特別のごみ除け
装置を必要とせず構造が極めて簡単であり、比較
的小さい導管に対しても適用可能であり、長期に
わたつて正確な測定を可能にし、かつ計器の測定
感度を最大限に維持し得るなどすぐれた効果を奏
する。
第1図は本発明の原理を示した流れ図;第2図
は本発明に基いた装置の第1の実施例を示した該
略図;第3図は本発明に基いた装置の第2の実施
例の一部を示した該略図;第4図は本発明に従つ
た装置の第3の実施例を破断して示した断面図;
第5図は本発明に従つた装置の第3の実施例の一
部分を示した該略図;第6図乃至第10図は本発
明に基いた装置に使用されうる各種のプローブの
概略図である。 図面上、13は〓シリンダ〓;10は〓流
れ〓;15は〓ウエーク区域〓;16は〓通
路〓;17は〓吸込口〓;18は〓吐出口〓;1
9は〓端面〓;20は〓導管〓;22は〓プロー
ブ〓;24は〓吸込口〓;23は〓サンプル流れ
通路〓;25は〓吐出口〓;26は〓端面〓;2
7は〓室〓;28は〓流れサーミスタ〓;29は
〓基準サーミスタ〓;21は〓主流〓を示す。
は本発明に基いた装置の第1の実施例を示した該
略図;第3図は本発明に基いた装置の第2の実施
例の一部を示した該略図;第4図は本発明に従つ
た装置の第3の実施例を破断して示した断面図;
第5図は本発明に従つた装置の第3の実施例の一
部分を示した該略図;第6図乃至第10図は本発
明に基いた装置に使用されうる各種のプローブの
概略図である。 図面上、13は〓シリンダ〓;10は〓流
れ〓;15は〓ウエーク区域〓;16は〓通
路〓;17は〓吸込口〓;18は〓吐出口〓;1
9は〓端面〓;20は〓導管〓;22は〓プロー
ブ〓;24は〓吸込口〓;23は〓サンプル流れ
通路〓;25は〓吐出口〓;26は〓端面〓;2
7は〓室〓;28は〓流れサーミスタ〓;29は
〓基準サーミスタ〓;21は〓主流〓を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 導管20に流体の主流を所定の方向に流す段
階と、前記導管20あるいはこれに接続されてい
る室50内にプローブ22を挿入する段階と、前
記流体のサンプル流れを前記導管20から前記プ
ローブ22に通し;しかる後に該導管に戻す段階
と、前記サンプル流を検査する段階とを有する流
体検査方法において、 前記プローブ22が有する吸込口24は、前記
所定方向を向いており、よつて前記サンプル流れ
は、その反対方向に流れ、さらに該吸込口24
は、前記プローブ22の端面26に設けた吐出口
25と連通し、また該吸込口24は、前記端面2
6から隔てて配置され、前記端面26は、前記導
管20内にその壁から隔てて配置され、前記導管
20を通る前記主流は、前記サンプル流れを前記
プローブ22を通して吸引させることを特徴とす
る方法。 2 前記プローブが筒状のプローブである特許請
求の範囲第1項記載の方法。 3 前記プローブが円筒形のプローブである特許
請求の範囲第2項記載の方法。 4 流体の主流がごみまたはその他のものによつ
て汚染されている特許請求の範囲第1項から第3
項までのいずれか一項に記載される方法。 5 流体の主流が多相である、特許請求の範囲第
1項から第3項までのいずれか一項に記載される
方法。 6 サンプル流れが複数個のパラメータを同時に
測定するため検査される、特許請求の範囲第1項
から第5項までのいずれか一項に記載される方
法。 7 流体検査装置にして、流体の主流を所定方向
に流しうるようにした導管20と、前記導管20
あるいはこれと連通する室50内に設けられ、該
導管20を流れる前記主流が前記導管20からサ
ンプル流れを導入し導出させるように配置された
プローブ22と、前記サンプルに流れを検査する
検査手段44とを有する流体検査装置において、
前記プローブ22の吸込口24は、前記所定の方
向を向いており、よつて前記流体のサンプル流れ
は反対方向に流れ、前記吸込口24は、前記プロ
ーブの端面26に設けた吐出口25と連通し、さ
らに前記吸込口24は、前記端面26から隔てて
配置され、前記端面26は、前記導管20内にそ
の壁から隔てて設けられていることを特徴とする
流体検査装置。 8 前記プローブが筒状のさぐり装置である、特
許請求の範囲第7項記載の流体を検査する装置。 9 前記プローブが円筒形のプローブである、特
許請求の範囲第8項記載の流体を検査する装置。 10 前記検査手段が前記プローブに取付けられ
る、特許請求の範囲第7項から第9項までのいず
れか1項に記載される流体を検査する装置。 11 前記検査手段が流量計である、特許請求の
範囲第10項記載の流体を検査する装置。 12 前記検査手段は密度計、即ち作動時に前記
サンプル流れが通過する感知管と、該感知管を振
動させるとともにその振動から前記サンプル流れ
の密度を測定する手段とを有する密度計を以て成
る、特許請求の範囲第10項または第11項に記
載される流体を検査する装置。 13 前記吐出口が前記プローブの縮径端面に配
置される特許請求の範囲第9項記載の流体を検査
する装置。 14 前記吸込口は前記プローブの凹所に達する
通路と連通し、前記凹所は前記通路の直径よりも
事実上大きい直径を有し、前記凹所は前記吐出口
を構成する開端を有する特許請求の範囲第9項記
載の流体を検査する装置。 15 前記吐出口を保護するため前記プローブに
対してシールドが取付けられる、特許請求の範囲
第7項から第14項までのいずれか1項に記載さ
れる流体を検査する装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US82999777A | 1977-09-01 | 1977-09-01 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5453593A JPS5453593A (en) | 1979-04-26 |
JPS6225983B2 true JPS6225983B2 (ja) | 1987-06-05 |
Family
ID=25256074
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10697678A Granted JPS5453593A (en) | 1977-09-01 | 1978-08-31 | Fluid testing method and apparatus |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5453593A (ja) |
DE (1) | DE2838023C2 (ja) |
GB (1) | GB2003659B (ja) |
NO (1) | NO148348C (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5750053U (ja) * | 1980-09-05 | 1982-03-20 | ||
JPS5767190U (ja) * | 1980-10-08 | 1982-04-22 | ||
DE3301886C2 (de) * | 1983-01-21 | 1985-02-14 | Steag Ag, 4300 Essen | Vorrichtung zur Messung der Temperatur in einem mit Staub beladenen Gasstrom |
RO86692B1 (ro) * | 1984-07-13 | 2002-06-28 | Institutul De Cercetare Stiintifica Si Inginerie Tehnologica Pentru Industria Electrotehnica | Debitmetru pentru materiale transportate pneumatic |
JPS6333663A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-02-13 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 流速測定装置 |
DE3823449A1 (de) * | 1988-07-11 | 1990-01-18 | Bosch Gmbh Robert | Messeinrichtung zur erfassung des drucks und der temperatur |
FR2676139B1 (fr) * | 1991-05-03 | 1994-02-11 | Framatome Sa | Dispositif de mesure de la temperature du fluide de refroidissement primaire d'un reacteur nucleaire a circulation interne acceleree. |
ATE231237T1 (de) | 1997-07-29 | 2003-02-15 | Gascontrol Bv | Verfahren und einrichtung zur messung eines gasflusses |
DE19749524C2 (de) * | 1997-11-08 | 1999-10-21 | Reisland Martin Ulrich | Einrichtung zum Messen des Volumenstromes eines strömenden Mediums |
DE10232072B4 (de) * | 2002-07-15 | 2005-03-24 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Reinigung eines von einem Gasstrom umströmten Messelementes |
CN102012352B (zh) * | 2010-10-22 | 2012-01-18 | 武汉东湖高新集团股份有限公司 | 测量浆液密度和酸碱度的装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4995685A (ja) * | 1973-01-12 | 1974-09-11 | ||
JPS5238957A (en) * | 1975-09-23 | 1977-03-25 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Device for checking operation of composits sampler |
-
1978
- 1978-08-07 GB GB7832495A patent/GB2003659B/en not_active Expired
- 1978-08-22 NO NO782850A patent/NO148348C/no unknown
- 1978-08-31 DE DE2838023A patent/DE2838023C2/de not_active Expired
- 1978-08-31 JP JP10697678A patent/JPS5453593A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4995685A (ja) * | 1973-01-12 | 1974-09-11 | ||
JPS5238957A (en) * | 1975-09-23 | 1977-03-25 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Device for checking operation of composits sampler |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NO148348C (no) | 1983-09-21 |
NO148348B (no) | 1983-06-13 |
GB2003659B (en) | 1982-04-07 |
GB2003659A (en) | 1979-03-14 |
NO782850L (no) | 1979-03-02 |
DE2838023C2 (de) | 1986-07-24 |
DE2838023A1 (de) | 1979-04-12 |
JPS5453593A (en) | 1979-04-26 |
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