JPS6225435A - ボンデイング用バンプの形成方法 - Google Patents

ボンデイング用バンプの形成方法

Info

Publication number
JPS6225435A
JPS6225435A JP60164867A JP16486785A JPS6225435A JP S6225435 A JPS6225435 A JP S6225435A JP 60164867 A JP60164867 A JP 60164867A JP 16486785 A JP16486785 A JP 16486785A JP S6225435 A JPS6225435 A JP S6225435A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal ball
plate
transparent plate
balls
predetermined location
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60164867A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Ikeda
誠 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IKEDA JIDO KIKI KK
Original Assignee
IKEDA JIDO KIKI KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IKEDA JIDO KIKI KK filed Critical IKEDA JIDO KIKI KK
Priority to JP60164867A priority Critical patent/JPS6225435A/ja
Publication of JPS6225435A publication Critical patent/JPS6225435A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods

Landscapes

  • Pressure Welding/Diffusion-Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明はシリコンウェハや配線基板などの被接続用板材
の所定個所にボンディング用バンプ(接続用突起)とし
て金属ボールを溶着する方法に関するものである。
「従来の技術」 一般に、シリコンウェハや配線基板などの被接続用板材
にボンディング用バンプを形成する方法には、蒸着法、
メッキ法、金属ボール法等が知られているが、近年、大
規模な設備を必要としない簡便な方法という点で金属ボ
ール法が注目されている。従来の金属ボール法には、第
10図に示すように、所定個所に複数の穴(1)・・・
を穿設したマスり(2)をシリコンウェハ(3)上に載
置固定し、このマスク(2)の穴(1)・・・に金属ボ
ール(4)・・・を振込んだ後、リフロー炉(再溶融炉
)で金属ボール(4)・・・をシリコンウェハ(3)上
の接続部(5)・・・に溶着固定してボンディング用バ
ンプを形成した後マスク(2)を取り除く方法と、U 
S P Na4332341で開示されたもので第11
図(a) (b)に示すように、ラムヘッド(6)のポ
ート(7)を介して吸気することによって半球状の吸着
部(8)・・・に金属ボール(4)・・・を吸着し、こ
れをチップ(9)上の接続部(10)・・・に加圧、加
熱で溶着固定することによってボンディング用バンプ(
4a)・・・を形成する方法とがあった。なお、第12
図はボンディング用バンプ(4a)・・・を形成したチ
ップ(9)を配線基板(11)の配線導体(12)(1
2)に接続固定した一般的な状態を示し、第13図はボ
ンディング用バンプ(4a)・・・を形成したチップ(
9)にリード線(13) (13)を接続固定する一般
的な状態を示し、(14) (14)は長尺ポリイミド
テープで、鎖線(15)(15)は切断線である。
「発明が解決しようとする問題点」 しかしながら、第10図に示す従来例では、シリコンウ
ニ、ハ(3)が不透明であるため、直径50〜350μ
φの極小の金属ボール(4)・・・がマスク(2)の穴
(1)・・・に全部入ったか否かを確認することが回流
であり、高精度、高密度のボンディング用バンプをシリ
コンウェハ(3)上に形成することが困難であるという
問題点があった。また、第11図(a) (b)に示す
従来例では、ラムヘッド(6)の半球状の吸着部(8)
・・・に金属ボール(4)・・・を吸着し、これをチッ
プ(9)上に加圧、加熱で溶着固定するものなので、方
法および使用する機器の構造が複雑になるとともに、直
径が50〜350μφの極小の金属ボールに使用するこ
とが困難であり、高精度、高密度のボンディング用バン
プをチップ上に形成することが困難であるという問題点
があった。ちなみに、US P Na4332341に
おいては、実施例(3欄3行目)で示された金属ボール
は直径が36ミル(約900μφ)である。
本発明は上述の問題点に鑑みなされたもので、簡単な方
法で、しがち高精度、高密度なボンディング用バンプを
シリコンウェハや配線基板上の所定個所に形成すること
を目的とするものである・「問題点を解決するための手
段」 本発明はシリコンウェハや配線基板などの被接続用板材
の所定個所にボンディング用バンプとして金属ボールを
固着する方法において、前記金属ボールが融解したとき
に濡れの少ない材質の部材で形成された透明板上の所定
個所に、前記金属ボールを配置する第1工程と、前記金
属ボールの上に前記被接続用板材を載置し、前記金属ボ
ールに熱処理を施こすことにより前記金属ボールを前記
被接続用板材上の所定個所に溶着する第2工程とを具備
してなることを特徴とするものである。
「実施例」 第1図から第5図までは本発明の一実施例を示すもので
、これらの図において、第10図、第11図(a)(b
)と同一部分は同二符号とする。
ボンディング用バンプとして用いる金属ボール(4)・
・・は、金、銀またはそれらの合金若しくは半田を材料
として直径50〜400μの球状のものを用いる。また
・、被接続用板材としては、第5図に示すように、内部
にトランジスタICやモノリシックICを形成し、その
接続部(5)・・・を外面に形成ψたシリコンウェハ(
3)を用いる。
(イ)まず、金属ボール(4)・・・が融解したときに
、濡れの少ない材質の部材で形成された透明板(16)
(例えば硬質ガラス)の表面の所定個所に、第1図に示
すように、エツチングまたは機械加工などによって半球
状の凹部(17)・・・を゛形成する。
(ロ)ついで、第2図に示すように、前記透明板(16
)上の凹部(17)・・・に、汎用の振込み方法によっ
て金属ボール(4)・・・を振込む。なお、前記透明板
(16)に、凹部(17)・・・の底に連通ずる吸引孔
(21)を形成し、この吸引孔(21)を介した吸気に
より、金属ボール(4)・・・を凹部(17)・・・に
吸引し、収納するようにしてもよい0以上で第1工程が
終了する。
このとき、透明板(16)が透明なので、透過光または
反射光を用いた汎用の画像処理方法又は目視を利用して
、透明板(16)上の凹部(17)・・・の全てに金属
ボール(4)・・・が振込まれているが否かを検査する
ことか極めて容易である。したがって、透明板(16)
上の凹部(17)・・・を高精度に形成しても、これら
の凹部(17)・・・の全てに高精度で金属ボール(4
)・・・を振込むことができる。
(ハ)ついで、第5図に示すシリコンウェハ(3)を、
その接続部(5)・・・を下方へ向けて、第3図に示す
ように金属ボール(4)・・・上に載置し、ついで、シ
リコンウェハ(3)上にウェイト板(22)を載置して
一定圧力を荷し、この状態において汎用のりフロー炉(
再溶融炉)で所定の熱処理を施こす。なお、ウェイト板
(22)の代りに、透明板(16)の下面に磁石を配置
するとともに、この磁石に吸引される鉄板のような被吸
引体をシリコンウェハ(3)上に載置し、磁気力によっ
てシリコンウェハ(3)に下方向の一定圧力を荷するよ
うにしてもよい。前記熱処理により、金属ボール(4)
・・・の一部分が融解してシリコンウェハ(3)の接触
部(5)・・・に溶着し、ボンディング用バンプが形成
される。ついで、透明板(16)およびウェイト板(2
2)を分離すると、第4図に示すように、シリコンウェ
ハ(3)の接続部(5)・・・には、略半球状のボンデ
ィング用バンプ(4a)・・・が形成される。三のとき
、透明板(16)は金属ボール(4)・・・の融解液に
対して濡れが悪い(少ない)ため、金属ボール(4)・
・・が透明板(16)に溶着することがない。
前記実施例では、第1工程は、透明板上の所定個所に金
属ボールを収納するための凹部を形成し。
この凹部に金属ボールを振込むようにしたが1本発明は
これに限るものでなく、透明板上の所定個所に金属ボー
ルを配置するものであればよい。例えば第6図から第9
図までに示すようにしてもよい、すなわち、上面を平滑
面とした透明板(16a)と略同質の板状部材で形成さ
れ、かつ金属ボール(4)・・・の直径より小さい板厚
(例えば直径の+)のマスク(例えば硬質ガラス)(1
8)の所定個所に金属ボール(4)・・・を収納するた
めの穴(19)・・・を穿設し、このマスク(18)を
、第6図に示すように、透明な接着剤(20)で透明板
(16a)上に固着する。ついで、第7図に示すように
、マスク(18)の穴(19)・・・に。
汎用の振込み方法によって金属ボール(4)・・・を振
込む。なお、前記実施例と同様にして、吸引孔(21)
を介した吸気により金属ボール(4)・・・を穴(19
)・・・に吸引し、収納するようにしてもよい1以上で
第1工程が終了する。以下、前記実施例と同様にして、
第8図に示すように、金属ボール(4)・・・上にシリ
コンウェハ(3)を載置し、ついでウェイト板(22)
を載置するなどして一定圧力を荷し、汎用のりフロー炉
で熱処理を施し、ついで、透明板(16a)およびウェ
イト板(22)を分離すると、第9図に示すように、シ
リコンウェハ(3)の接続部(5)・・・には略半球状
のボンディング用バンプ(4a)・・・が形成される。
前記実施例では被接続用板材はシリコン基板にトランジ
スタICなどを形成したシリコンウェハとしたが、本発
明はこれに限るものでなく、セラミックやアルミナの基
板にIC回路を形成したチップまたはエポキシ樹脂やガ
ラスの基板に配線導体を形成した配線基板であってもよ
い。
「発明の効果」 本発明によるボンディング用バンプの形成方法は、上記
のように、金属ボール法であって、しかも、金属ボール
が融解したときに濡れの少ない材質の部材で形成された
透明板上の所定個所に、金属ボールを配置する第1工程
と、金属ボールの上に被接続用板材を載置し、金属ボー
ルに処理を施すことにより金属ボールを被接続用板材の
所定個所に溶着する第2工程とを具備するように構成し
たのでつぎのような効果を有する。
(a)金属ボールを透明板の所定個所に配置するように
したので、透過光または反射光を用いた汎用の画像処理
方法または目視を利用することによって、金属ボールの
全てが透明板の所定個所に配置されているか否かを検査
することが極めて容易となる。
したがって、透明板に金属ボールを高密度に配置するこ
とができ、しかも高精度の配置が可能となる。このため
、シリコンウェハや配線基板などの被接続用板材に、高
密度かつ高精度のボンディング用バンプを形成すること
ができる。
(b)透明板は金属ボールが融解したときに濡れの少な
い材質の部材で形成されているので、熱処理を施したと
きに全屈ボールが透明板にくっつきにくい、したがって
、熱処理後、透明板を分離することが容易となり作業性
がよい。
【図面の簡単な説明】
第1図から第5図までは本発明によるボンディング用バ
ンプの形成方法の一実施例を示すもので。 第1図と第2図は第1工程を示す断面図、第3図は第2
工程を示す断面図、第4図はボンディング用バンプ形成
状態を示す断面図、第5図はシリコンウェハ(被接続用
板材の一例)の平面図、第6図から第9図までは他の実
施例を示すもので、第6図と第7図は第1工程を示す断
面図、第8図は第2工程を示す断面図、第9図はボンデ
ィング用バンプ形成状態を示す断面図、第10図は従来
例を示す断面図、第11図(a) (b)は他の従来例
を示す断面図、第12図はチップをボンディング用バン
プを介して配線基板に接続した状態を示す断面図、第1
3図はチップにボンディング用バンプを介してリード線
を接続した状態を示す断面図である。 (3)・・・シリコンウェハ(被接続用板材)、(4)
・・・全屈ボール、(4a)・・・ボンディング用バン
プ、(16) (16a)・・・透明板。 出願人  池田自動機器株式会社 第  10  図 (b) 10      10   旦 第12図 第  13   図 14 4a  9 4a 14

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)シリコンウェハや配線基板などの被接続用板材の
    所定個所にボンディング用バンプとして金属ボールを固
    着する方法において、 前記金属ボールが融解したときに濡れの少ない材質の部
    材で形成された透明板上の所定個所に、前記金属ボール
    を配置する第1工程と、前記金属ボールの上に前記被接
    続用板材を載置し、前記金属ボールに熱処理を施こすこ
    とにより前記金属ボールを前記被接続用板材上の所定個
    所に溶着する第2工程とを具備してなることを特徴とす
    るボンディング用バンプの形成方法。
  2. (2)第1工程は、透明板上の所定個所に金属ボールの
    一部を収納するための凹部を形成する工程と、この凹部
    に前記金属ボールを振込む工程とからなる特許請求の範
    囲第1項記載のボンディング用バンプの形成方法。
  3. (3)第1工程は、透明板上に、所定個所に金属ボール
    の一部を収納するための穴が穿設され、かつ透明板と略
    同質の板状部材からなるマスクを固着する工程と、この
    マスクの穴に前記金属ボールを振込む工程とからからな
    る特許請求の範囲第1項記載のボンディング用バンプの
    形成方法。
JP60164867A 1985-07-25 1985-07-25 ボンデイング用バンプの形成方法 Pending JPS6225435A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60164867A JPS6225435A (ja) 1985-07-25 1985-07-25 ボンデイング用バンプの形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60164867A JPS6225435A (ja) 1985-07-25 1985-07-25 ボンデイング用バンプの形成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6225435A true JPS6225435A (ja) 1987-02-03

Family

ID=15801427

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60164867A Pending JPS6225435A (ja) 1985-07-25 1985-07-25 ボンデイング用バンプの形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6225435A (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01129446A (ja) * 1987-11-16 1989-05-22 Fujitsu Ltd ハンダバンプの形成方法
JPH04263434A (ja) * 1991-02-19 1992-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電気的接続接点の形成方法および電子部品の実装方法
WO1993013550A1 (en) * 1991-12-20 1993-07-08 Vlsi Technology, Inc. A method of constructing termination electrodes on yielded semiconductor die
US5275970A (en) * 1990-10-17 1994-01-04 Nec Corporation Method of forming bonding bumps by punching a metal ribbon
US5403776A (en) * 1990-06-25 1995-04-04 Fujitsu Limited Process of using a jig to align and mount terminal conductors to a semiconductor plastic package
US5643831A (en) * 1994-01-20 1997-07-01 Fujitsu Limited Process for forming solder balls on a plate having apertures using solder paste and transferring the solder balls to semiconductor device
US5959346A (en) * 1996-11-11 1999-09-28 Fujitsu Limited Method for fabricating metal bumps onto electronic device
US5985694A (en) * 1997-09-29 1999-11-16 Motorola, Inc. Semiconductor die bumping method utilizing vacuum stencil
US6025258A (en) * 1994-01-20 2000-02-15 Fujitsu Limited Method for fabricating solder bumps by forming solder balls with a solder ball forming member
US6107181A (en) * 1997-09-08 2000-08-22 Fujitsu Limited Method of forming bumps and template used for forming bumps
US6271110B1 (en) 1994-01-20 2001-08-07 Fujitsu Limited Bump-forming method using two plates and electronic device
US6319810B1 (en) 1994-01-20 2001-11-20 Fujitsu Limited Method for forming solder bumps
US6320158B1 (en) 1998-01-29 2001-11-20 Fujitsu Limited Method and apparatus of fabricating perforated plate
US6528346B2 (en) 1994-01-20 2003-03-04 Fujitsu Limited Bump-forming method using two plates and electronic device
JP2012049207A (ja) * 2010-08-25 2012-03-08 Ulvac Seimaku Kk バンプ形成方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5124869A (en) * 1974-08-23 1976-02-28 Mitsubishi Electric Corp Handotaisochino totsukidenkyokukeiseiho
JPS52140269A (en) * 1976-05-19 1977-11-22 Hitachi Ltd Formation of solder electrode

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5124869A (en) * 1974-08-23 1976-02-28 Mitsubishi Electric Corp Handotaisochino totsukidenkyokukeiseiho
JPS52140269A (en) * 1976-05-19 1977-11-22 Hitachi Ltd Formation of solder electrode

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01129446A (ja) * 1987-11-16 1989-05-22 Fujitsu Ltd ハンダバンプの形成方法
US5403776A (en) * 1990-06-25 1995-04-04 Fujitsu Limited Process of using a jig to align and mount terminal conductors to a semiconductor plastic package
US5275970A (en) * 1990-10-17 1994-01-04 Nec Corporation Method of forming bonding bumps by punching a metal ribbon
JPH04263434A (ja) * 1991-02-19 1992-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電気的接続接点の形成方法および電子部品の実装方法
WO1993013550A1 (en) * 1991-12-20 1993-07-08 Vlsi Technology, Inc. A method of constructing termination electrodes on yielded semiconductor die
US6025258A (en) * 1994-01-20 2000-02-15 Fujitsu Limited Method for fabricating solder bumps by forming solder balls with a solder ball forming member
US5643831A (en) * 1994-01-20 1997-07-01 Fujitsu Limited Process for forming solder balls on a plate having apertures using solder paste and transferring the solder balls to semiconductor device
US6271110B1 (en) 1994-01-20 2001-08-07 Fujitsu Limited Bump-forming method using two plates and electronic device
US6319810B1 (en) 1994-01-20 2001-11-20 Fujitsu Limited Method for forming solder bumps
US6528346B2 (en) 1994-01-20 2003-03-04 Fujitsu Limited Bump-forming method using two plates and electronic device
US5959346A (en) * 1996-11-11 1999-09-28 Fujitsu Limited Method for fabricating metal bumps onto electronic device
US6107181A (en) * 1997-09-08 2000-08-22 Fujitsu Limited Method of forming bumps and template used for forming bumps
US6432806B1 (en) 1997-09-08 2002-08-13 Fujitsu Limited Method of forming bumps and template used for forming bumps
US5985694A (en) * 1997-09-29 1999-11-16 Motorola, Inc. Semiconductor die bumping method utilizing vacuum stencil
US6320158B1 (en) 1998-01-29 2001-11-20 Fujitsu Limited Method and apparatus of fabricating perforated plate
JP2012049207A (ja) * 2010-08-25 2012-03-08 Ulvac Seimaku Kk バンプ形成方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6225435A (ja) ボンデイング用バンプの形成方法
US7230328B2 (en) Semiconductor package and laminated semiconductor package
US6414374B2 (en) Semiconductor device including edge bond pads and methods
US6020561A (en) Printed circuit substrate with solder formed on pad-on-via and pad-off-via contacts thereof
US8368195B2 (en) Semiconductor device including arrangement to control connection height and alignment between a plurity of stacked semiconductor chips
US6333563B1 (en) Electrical interconnection package and method thereof
US5657207A (en) Alignment means for integrated circuit chips
JPS5839048A (ja) フレキシブル領域接着テ−プ
US7112888B2 (en) Solder ball assembly for bump formation and method for its manufacture
JP2006128711A (ja) 半導体装置及びその製造方法
US20060027899A1 (en) Structure with spherical contact pins
US4421266A (en) Handling bodies containing bonding material
US6528873B1 (en) Ball grid assembly with solder columns
KR20030016167A (ko) 범프를 구비한 도금 도전층을 포함하는 배선 기판 및 그제조 방법
JPH0555635A (ja) 電子部品のフリツプチツプ接続構造
EP0191434B1 (en) Improved solder connection between microelectronic chip and substrate and method of manufacture
JPH02312240A (ja) バンプ形成方法およびバンプ形成装置およびバンプ
JP2764629B2 (ja) 電子回路基板とその製造方法
JP2006108182A (ja) 半導体装置およびその実装体およびその製造方法
JPH09186162A (ja) 金属バンプの形成方法
JPH11126863A (ja) 配線基板およびその製造方法
JPH11135552A (ja) 半導体装置製造方法
JPH0198235A (ja) 半導体装置の実装方法
JPH07212021A (ja) 半田ボール電極形成方法及びその半田ボール電極形成方法に用いる半田微細球位置決め治具
JP5024249B2 (ja) 半導体装置の製造方法