JPS6225435A - ボンデイング用バンプの形成方法 - Google Patents
ボンデイング用バンプの形成方法Info
- Publication number
- JPS6225435A JPS6225435A JP60164867A JP16486785A JPS6225435A JP S6225435 A JPS6225435 A JP S6225435A JP 60164867 A JP60164867 A JP 60164867A JP 16486785 A JP16486785 A JP 16486785A JP S6225435 A JPS6225435 A JP S6225435A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal ball
- plate
- transparent plate
- balls
- predetermined location
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/11—Manufacturing methods
Landscapes
- Pressure Welding/Diffusion-Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明はシリコンウェハや配線基板などの被接続用板材
の所定個所にボンディング用バンプ(接続用突起)とし
て金属ボールを溶着する方法に関するものである。
の所定個所にボンディング用バンプ(接続用突起)とし
て金属ボールを溶着する方法に関するものである。
「従来の技術」
一般に、シリコンウェハや配線基板などの被接続用板材
にボンディング用バンプを形成する方法には、蒸着法、
メッキ法、金属ボール法等が知られているが、近年、大
規模な設備を必要としない簡便な方法という点で金属ボ
ール法が注目されている。従来の金属ボール法には、第
10図に示すように、所定個所に複数の穴(1)・・・
を穿設したマスり(2)をシリコンウェハ(3)上に載
置固定し、このマスク(2)の穴(1)・・・に金属ボ
ール(4)・・・を振込んだ後、リフロー炉(再溶融炉
)で金属ボール(4)・・・をシリコンウェハ(3)上
の接続部(5)・・・に溶着固定してボンディング用バ
ンプを形成した後マスク(2)を取り除く方法と、U
S P Na4332341で開示されたもので第11
図(a) (b)に示すように、ラムヘッド(6)のポ
ート(7)を介して吸気することによって半球状の吸着
部(8)・・・に金属ボール(4)・・・を吸着し、こ
れをチップ(9)上の接続部(10)・・・に加圧、加
熱で溶着固定することによってボンディング用バンプ(
4a)・・・を形成する方法とがあった。なお、第12
図はボンディング用バンプ(4a)・・・を形成したチ
ップ(9)を配線基板(11)の配線導体(12)(1
2)に接続固定した一般的な状態を示し、第13図はボ
ンディング用バンプ(4a)・・・を形成したチップ(
9)にリード線(13) (13)を接続固定する一般
的な状態を示し、(14) (14)は長尺ポリイミド
テープで、鎖線(15)(15)は切断線である。
にボンディング用バンプを形成する方法には、蒸着法、
メッキ法、金属ボール法等が知られているが、近年、大
規模な設備を必要としない簡便な方法という点で金属ボ
ール法が注目されている。従来の金属ボール法には、第
10図に示すように、所定個所に複数の穴(1)・・・
を穿設したマスり(2)をシリコンウェハ(3)上に載
置固定し、このマスク(2)の穴(1)・・・に金属ボ
ール(4)・・・を振込んだ後、リフロー炉(再溶融炉
)で金属ボール(4)・・・をシリコンウェハ(3)上
の接続部(5)・・・に溶着固定してボンディング用バ
ンプを形成した後マスク(2)を取り除く方法と、U
S P Na4332341で開示されたもので第11
図(a) (b)に示すように、ラムヘッド(6)のポ
ート(7)を介して吸気することによって半球状の吸着
部(8)・・・に金属ボール(4)・・・を吸着し、こ
れをチップ(9)上の接続部(10)・・・に加圧、加
熱で溶着固定することによってボンディング用バンプ(
4a)・・・を形成する方法とがあった。なお、第12
図はボンディング用バンプ(4a)・・・を形成したチ
ップ(9)を配線基板(11)の配線導体(12)(1
2)に接続固定した一般的な状態を示し、第13図はボ
ンディング用バンプ(4a)・・・を形成したチップ(
9)にリード線(13) (13)を接続固定する一般
的な状態を示し、(14) (14)は長尺ポリイミド
テープで、鎖線(15)(15)は切断線である。
「発明が解決しようとする問題点」
しかしながら、第10図に示す従来例では、シリコンウ
ニ、ハ(3)が不透明であるため、直径50〜350μ
φの極小の金属ボール(4)・・・がマスク(2)の穴
(1)・・・に全部入ったか否かを確認することが回流
であり、高精度、高密度のボンディング用バンプをシリ
コンウェハ(3)上に形成することが困難であるという
問題点があった。また、第11図(a) (b)に示す
従来例では、ラムヘッド(6)の半球状の吸着部(8)
・・・に金属ボール(4)・・・を吸着し、これをチッ
プ(9)上に加圧、加熱で溶着固定するものなので、方
法および使用する機器の構造が複雑になるとともに、直
径が50〜350μφの極小の金属ボールに使用するこ
とが困難であり、高精度、高密度のボンディング用バン
プをチップ上に形成することが困難であるという問題点
があった。ちなみに、US P Na4332341に
おいては、実施例(3欄3行目)で示された金属ボール
は直径が36ミル(約900μφ)である。
ニ、ハ(3)が不透明であるため、直径50〜350μ
φの極小の金属ボール(4)・・・がマスク(2)の穴
(1)・・・に全部入ったか否かを確認することが回流
であり、高精度、高密度のボンディング用バンプをシリ
コンウェハ(3)上に形成することが困難であるという
問題点があった。また、第11図(a) (b)に示す
従来例では、ラムヘッド(6)の半球状の吸着部(8)
・・・に金属ボール(4)・・・を吸着し、これをチッ
プ(9)上に加圧、加熱で溶着固定するものなので、方
法および使用する機器の構造が複雑になるとともに、直
径が50〜350μφの極小の金属ボールに使用するこ
とが困難であり、高精度、高密度のボンディング用バン
プをチップ上に形成することが困難であるという問題点
があった。ちなみに、US P Na4332341に
おいては、実施例(3欄3行目)で示された金属ボール
は直径が36ミル(約900μφ)である。
本発明は上述の問題点に鑑みなされたもので、簡単な方
法で、しがち高精度、高密度なボンディング用バンプを
シリコンウェハや配線基板上の所定個所に形成すること
を目的とするものである・「問題点を解決するための手
段」 本発明はシリコンウェハや配線基板などの被接続用板材
の所定個所にボンディング用バンプとして金属ボールを
固着する方法において、前記金属ボールが融解したとき
に濡れの少ない材質の部材で形成された透明板上の所定
個所に、前記金属ボールを配置する第1工程と、前記金
属ボールの上に前記被接続用板材を載置し、前記金属ボ
ールに熱処理を施こすことにより前記金属ボールを前記
被接続用板材上の所定個所に溶着する第2工程とを具備
してなることを特徴とするものである。
法で、しがち高精度、高密度なボンディング用バンプを
シリコンウェハや配線基板上の所定個所に形成すること
を目的とするものである・「問題点を解決するための手
段」 本発明はシリコンウェハや配線基板などの被接続用板材
の所定個所にボンディング用バンプとして金属ボールを
固着する方法において、前記金属ボールが融解したとき
に濡れの少ない材質の部材で形成された透明板上の所定
個所に、前記金属ボールを配置する第1工程と、前記金
属ボールの上に前記被接続用板材を載置し、前記金属ボ
ールに熱処理を施こすことにより前記金属ボールを前記
被接続用板材上の所定個所に溶着する第2工程とを具備
してなることを特徴とするものである。
「実施例」
第1図から第5図までは本発明の一実施例を示すもので
、これらの図において、第10図、第11図(a)(b
)と同一部分は同二符号とする。
、これらの図において、第10図、第11図(a)(b
)と同一部分は同二符号とする。
ボンディング用バンプとして用いる金属ボール(4)・
・・は、金、銀またはそれらの合金若しくは半田を材料
として直径50〜400μの球状のものを用いる。また
・、被接続用板材としては、第5図に示すように、内部
にトランジスタICやモノリシックICを形成し、その
接続部(5)・・・を外面に形成ψたシリコンウェハ(
3)を用いる。
・・は、金、銀またはそれらの合金若しくは半田を材料
として直径50〜400μの球状のものを用いる。また
・、被接続用板材としては、第5図に示すように、内部
にトランジスタICやモノリシックICを形成し、その
接続部(5)・・・を外面に形成ψたシリコンウェハ(
3)を用いる。
(イ)まず、金属ボール(4)・・・が融解したときに
、濡れの少ない材質の部材で形成された透明板(16)
(例えば硬質ガラス)の表面の所定個所に、第1図に示
すように、エツチングまたは機械加工などによって半球
状の凹部(17)・・・を゛形成する。
、濡れの少ない材質の部材で形成された透明板(16)
(例えば硬質ガラス)の表面の所定個所に、第1図に示
すように、エツチングまたは機械加工などによって半球
状の凹部(17)・・・を゛形成する。
(ロ)ついで、第2図に示すように、前記透明板(16
)上の凹部(17)・・・に、汎用の振込み方法によっ
て金属ボール(4)・・・を振込む。なお、前記透明板
(16)に、凹部(17)・・・の底に連通ずる吸引孔
(21)を形成し、この吸引孔(21)を介した吸気に
より、金属ボール(4)・・・を凹部(17)・・・に
吸引し、収納するようにしてもよい0以上で第1工程が
終了する。
)上の凹部(17)・・・に、汎用の振込み方法によっ
て金属ボール(4)・・・を振込む。なお、前記透明板
(16)に、凹部(17)・・・の底に連通ずる吸引孔
(21)を形成し、この吸引孔(21)を介した吸気に
より、金属ボール(4)・・・を凹部(17)・・・に
吸引し、収納するようにしてもよい0以上で第1工程が
終了する。
このとき、透明板(16)が透明なので、透過光または
反射光を用いた汎用の画像処理方法又は目視を利用して
、透明板(16)上の凹部(17)・・・の全てに金属
ボール(4)・・・が振込まれているが否かを検査する
ことか極めて容易である。したがって、透明板(16)
上の凹部(17)・・・を高精度に形成しても、これら
の凹部(17)・・・の全てに高精度で金属ボール(4
)・・・を振込むことができる。
反射光を用いた汎用の画像処理方法又は目視を利用して
、透明板(16)上の凹部(17)・・・の全てに金属
ボール(4)・・・が振込まれているが否かを検査する
ことか極めて容易である。したがって、透明板(16)
上の凹部(17)・・・を高精度に形成しても、これら
の凹部(17)・・・の全てに高精度で金属ボール(4
)・・・を振込むことができる。
(ハ)ついで、第5図に示すシリコンウェハ(3)を、
その接続部(5)・・・を下方へ向けて、第3図に示す
ように金属ボール(4)・・・上に載置し、ついで、シ
リコンウェハ(3)上にウェイト板(22)を載置して
一定圧力を荷し、この状態において汎用のりフロー炉(
再溶融炉)で所定の熱処理を施こす。なお、ウェイト板
(22)の代りに、透明板(16)の下面に磁石を配置
するとともに、この磁石に吸引される鉄板のような被吸
引体をシリコンウェハ(3)上に載置し、磁気力によっ
てシリコンウェハ(3)に下方向の一定圧力を荷するよ
うにしてもよい。前記熱処理により、金属ボール(4)
・・・の一部分が融解してシリコンウェハ(3)の接触
部(5)・・・に溶着し、ボンディング用バンプが形成
される。ついで、透明板(16)およびウェイト板(2
2)を分離すると、第4図に示すように、シリコンウェ
ハ(3)の接続部(5)・・・には、略半球状のボンデ
ィング用バンプ(4a)・・・が形成される。三のとき
、透明板(16)は金属ボール(4)・・・の融解液に
対して濡れが悪い(少ない)ため、金属ボール(4)・
・・が透明板(16)に溶着することがない。
その接続部(5)・・・を下方へ向けて、第3図に示す
ように金属ボール(4)・・・上に載置し、ついで、シ
リコンウェハ(3)上にウェイト板(22)を載置して
一定圧力を荷し、この状態において汎用のりフロー炉(
再溶融炉)で所定の熱処理を施こす。なお、ウェイト板
(22)の代りに、透明板(16)の下面に磁石を配置
するとともに、この磁石に吸引される鉄板のような被吸
引体をシリコンウェハ(3)上に載置し、磁気力によっ
てシリコンウェハ(3)に下方向の一定圧力を荷するよ
うにしてもよい。前記熱処理により、金属ボール(4)
・・・の一部分が融解してシリコンウェハ(3)の接触
部(5)・・・に溶着し、ボンディング用バンプが形成
される。ついで、透明板(16)およびウェイト板(2
2)を分離すると、第4図に示すように、シリコンウェ
ハ(3)の接続部(5)・・・には、略半球状のボンデ
ィング用バンプ(4a)・・・が形成される。三のとき
、透明板(16)は金属ボール(4)・・・の融解液に
対して濡れが悪い(少ない)ため、金属ボール(4)・
・・が透明板(16)に溶着することがない。
前記実施例では、第1工程は、透明板上の所定個所に金
属ボールを収納するための凹部を形成し。
属ボールを収納するための凹部を形成し。
この凹部に金属ボールを振込むようにしたが1本発明は
これに限るものでなく、透明板上の所定個所に金属ボー
ルを配置するものであればよい。例えば第6図から第9
図までに示すようにしてもよい、すなわち、上面を平滑
面とした透明板(16a)と略同質の板状部材で形成さ
れ、かつ金属ボール(4)・・・の直径より小さい板厚
(例えば直径の+)のマスク(例えば硬質ガラス)(1
8)の所定個所に金属ボール(4)・・・を収納するた
めの穴(19)・・・を穿設し、このマスク(18)を
、第6図に示すように、透明な接着剤(20)で透明板
(16a)上に固着する。ついで、第7図に示すように
、マスク(18)の穴(19)・・・に。
これに限るものでなく、透明板上の所定個所に金属ボー
ルを配置するものであればよい。例えば第6図から第9
図までに示すようにしてもよい、すなわち、上面を平滑
面とした透明板(16a)と略同質の板状部材で形成さ
れ、かつ金属ボール(4)・・・の直径より小さい板厚
(例えば直径の+)のマスク(例えば硬質ガラス)(1
8)の所定個所に金属ボール(4)・・・を収納するた
めの穴(19)・・・を穿設し、このマスク(18)を
、第6図に示すように、透明な接着剤(20)で透明板
(16a)上に固着する。ついで、第7図に示すように
、マスク(18)の穴(19)・・・に。
汎用の振込み方法によって金属ボール(4)・・・を振
込む。なお、前記実施例と同様にして、吸引孔(21)
を介した吸気により金属ボール(4)・・・を穴(19
)・・・に吸引し、収納するようにしてもよい1以上で
第1工程が終了する。以下、前記実施例と同様にして、
第8図に示すように、金属ボール(4)・・・上にシリ
コンウェハ(3)を載置し、ついでウェイト板(22)
を載置するなどして一定圧力を荷し、汎用のりフロー炉
で熱処理を施し、ついで、透明板(16a)およびウェ
イト板(22)を分離すると、第9図に示すように、シ
リコンウェハ(3)の接続部(5)・・・には略半球状
のボンディング用バンプ(4a)・・・が形成される。
込む。なお、前記実施例と同様にして、吸引孔(21)
を介した吸気により金属ボール(4)・・・を穴(19
)・・・に吸引し、収納するようにしてもよい1以上で
第1工程が終了する。以下、前記実施例と同様にして、
第8図に示すように、金属ボール(4)・・・上にシリ
コンウェハ(3)を載置し、ついでウェイト板(22)
を載置するなどして一定圧力を荷し、汎用のりフロー炉
で熱処理を施し、ついで、透明板(16a)およびウェ
イト板(22)を分離すると、第9図に示すように、シ
リコンウェハ(3)の接続部(5)・・・には略半球状
のボンディング用バンプ(4a)・・・が形成される。
前記実施例では被接続用板材はシリコン基板にトランジ
スタICなどを形成したシリコンウェハとしたが、本発
明はこれに限るものでなく、セラミックやアルミナの基
板にIC回路を形成したチップまたはエポキシ樹脂やガ
ラスの基板に配線導体を形成した配線基板であってもよ
い。
スタICなどを形成したシリコンウェハとしたが、本発
明はこれに限るものでなく、セラミックやアルミナの基
板にIC回路を形成したチップまたはエポキシ樹脂やガ
ラスの基板に配線導体を形成した配線基板であってもよ
い。
「発明の効果」
本発明によるボンディング用バンプの形成方法は、上記
のように、金属ボール法であって、しかも、金属ボール
が融解したときに濡れの少ない材質の部材で形成された
透明板上の所定個所に、金属ボールを配置する第1工程
と、金属ボールの上に被接続用板材を載置し、金属ボー
ルに処理を施すことにより金属ボールを被接続用板材の
所定個所に溶着する第2工程とを具備するように構成し
たのでつぎのような効果を有する。
のように、金属ボール法であって、しかも、金属ボール
が融解したときに濡れの少ない材質の部材で形成された
透明板上の所定個所に、金属ボールを配置する第1工程
と、金属ボールの上に被接続用板材を載置し、金属ボー
ルに処理を施すことにより金属ボールを被接続用板材の
所定個所に溶着する第2工程とを具備するように構成し
たのでつぎのような効果を有する。
(a)金属ボールを透明板の所定個所に配置するように
したので、透過光または反射光を用いた汎用の画像処理
方法または目視を利用することによって、金属ボールの
全てが透明板の所定個所に配置されているか否かを検査
することが極めて容易となる。
したので、透過光または反射光を用いた汎用の画像処理
方法または目視を利用することによって、金属ボールの
全てが透明板の所定個所に配置されているか否かを検査
することが極めて容易となる。
したがって、透明板に金属ボールを高密度に配置するこ
とができ、しかも高精度の配置が可能となる。このため
、シリコンウェハや配線基板などの被接続用板材に、高
密度かつ高精度のボンディング用バンプを形成すること
ができる。
とができ、しかも高精度の配置が可能となる。このため
、シリコンウェハや配線基板などの被接続用板材に、高
密度かつ高精度のボンディング用バンプを形成すること
ができる。
(b)透明板は金属ボールが融解したときに濡れの少な
い材質の部材で形成されているので、熱処理を施したと
きに全屈ボールが透明板にくっつきにくい、したがって
、熱処理後、透明板を分離することが容易となり作業性
がよい。
い材質の部材で形成されているので、熱処理を施したと
きに全屈ボールが透明板にくっつきにくい、したがって
、熱処理後、透明板を分離することが容易となり作業性
がよい。
第1図から第5図までは本発明によるボンディング用バ
ンプの形成方法の一実施例を示すもので。 第1図と第2図は第1工程を示す断面図、第3図は第2
工程を示す断面図、第4図はボンディング用バンプ形成
状態を示す断面図、第5図はシリコンウェハ(被接続用
板材の一例)の平面図、第6図から第9図までは他の実
施例を示すもので、第6図と第7図は第1工程を示す断
面図、第8図は第2工程を示す断面図、第9図はボンデ
ィング用バンプ形成状態を示す断面図、第10図は従来
例を示す断面図、第11図(a) (b)は他の従来例
を示す断面図、第12図はチップをボンディング用バン
プを介して配線基板に接続した状態を示す断面図、第1
3図はチップにボンディング用バンプを介してリード線
を接続した状態を示す断面図である。 (3)・・・シリコンウェハ(被接続用板材)、(4)
・・・全屈ボール、(4a)・・・ボンディング用バン
プ、(16) (16a)・・・透明板。 出願人 池田自動機器株式会社 第 10 図 (b) 10 10 旦 第12図 第 13 図 14 4a 9 4a 14
ンプの形成方法の一実施例を示すもので。 第1図と第2図は第1工程を示す断面図、第3図は第2
工程を示す断面図、第4図はボンディング用バンプ形成
状態を示す断面図、第5図はシリコンウェハ(被接続用
板材の一例)の平面図、第6図から第9図までは他の実
施例を示すもので、第6図と第7図は第1工程を示す断
面図、第8図は第2工程を示す断面図、第9図はボンデ
ィング用バンプ形成状態を示す断面図、第10図は従来
例を示す断面図、第11図(a) (b)は他の従来例
を示す断面図、第12図はチップをボンディング用バン
プを介して配線基板に接続した状態を示す断面図、第1
3図はチップにボンディング用バンプを介してリード線
を接続した状態を示す断面図である。 (3)・・・シリコンウェハ(被接続用板材)、(4)
・・・全屈ボール、(4a)・・・ボンディング用バン
プ、(16) (16a)・・・透明板。 出願人 池田自動機器株式会社 第 10 図 (b) 10 10 旦 第12図 第 13 図 14 4a 9 4a 14
Claims (3)
- (1)シリコンウェハや配線基板などの被接続用板材の
所定個所にボンディング用バンプとして金属ボールを固
着する方法において、 前記金属ボールが融解したときに濡れの少ない材質の部
材で形成された透明板上の所定個所に、前記金属ボール
を配置する第1工程と、前記金属ボールの上に前記被接
続用板材を載置し、前記金属ボールに熱処理を施こすこ
とにより前記金属ボールを前記被接続用板材上の所定個
所に溶着する第2工程とを具備してなることを特徴とす
るボンディング用バンプの形成方法。 - (2)第1工程は、透明板上の所定個所に金属ボールの
一部を収納するための凹部を形成する工程と、この凹部
に前記金属ボールを振込む工程とからなる特許請求の範
囲第1項記載のボンディング用バンプの形成方法。 - (3)第1工程は、透明板上に、所定個所に金属ボール
の一部を収納するための穴が穿設され、かつ透明板と略
同質の板状部材からなるマスクを固着する工程と、この
マスクの穴に前記金属ボールを振込む工程とからからな
る特許請求の範囲第1項記載のボンディング用バンプの
形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60164867A JPS6225435A (ja) | 1985-07-25 | 1985-07-25 | ボンデイング用バンプの形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60164867A JPS6225435A (ja) | 1985-07-25 | 1985-07-25 | ボンデイング用バンプの形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6225435A true JPS6225435A (ja) | 1987-02-03 |
Family
ID=15801427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60164867A Pending JPS6225435A (ja) | 1985-07-25 | 1985-07-25 | ボンデイング用バンプの形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6225435A (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01129446A (ja) * | 1987-11-16 | 1989-05-22 | Fujitsu Ltd | ハンダバンプの形成方法 |
JPH04263434A (ja) * | 1991-02-19 | 1992-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電気的接続接点の形成方法および電子部品の実装方法 |
WO1993013550A1 (en) * | 1991-12-20 | 1993-07-08 | Vlsi Technology, Inc. | A method of constructing termination electrodes on yielded semiconductor die |
US5275970A (en) * | 1990-10-17 | 1994-01-04 | Nec Corporation | Method of forming bonding bumps by punching a metal ribbon |
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