JPS6225382A - Image processor - Google Patents

Image processor

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JPS6225382A
JPS6225382A JP16385385A JP16385385A JPS6225382A JP S6225382 A JPS6225382 A JP S6225382A JP 16385385 A JP16385385 A JP 16385385A JP 16385385 A JP16385385 A JP 16385385A JP S6225382 A JPS6225382 A JP S6225382A
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scanning
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Abstract

PURPOSE:To convert an image quickly with less memory capacity by providing a means holding boundary information on some area among a piece of image information and a means comparing and deciding whether or not a picture element lies in a designated area according to the boundary information held by the holding means. CONSTITUTION:Mask memories 12 and 13 have a bit length 14 each with respect to a subscan address 10a from a subscan counter 10, and hold boundary information on a mask area. A main scan address terminating clipping is stored in the mask memory 13, while a main scan address beginning to clip is stored in the mask memory 12. On the other hand, outputs 22 and 23 available from comparators 19 and 20 are inputted to a gate circuit 21, and are latched in a latch 15. Masking processing is executed with the aid of the output 15alpha '1' or '0' of the latch 15.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は画像処理装置に関し、特に画像情報の任意の領
域を切り抜くマスキング処理を実行再能な画像処理装置
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an image processing apparatus, and more particularly to an image processing apparatus capable of performing and reproducing masking processing to cut out an arbitrary area of image information.

[従来の技術〕 従来のこの種の装置は、 0画素データと1対lに対応するいわゆるビットマツプ
のマスクパターン(切り抜き形状の図形パターン)を記
憶する画像メモリと同一容量のマスクパターンメモリを
備え、画像データの処理−転送に同期してこの記憶を読
み出し、所定の処理を行なう装置。
[Prior Art] A conventional device of this type is equipped with a mask pattern memory having the same capacity as an image memory that stores a so-called bitmap mask pattern (cutout shape graphic pattern) corresponding to 0 pixel data and 1:1, Processing of image data - A device that reads this storage in synchronization with the transfer and performs predetermined processing.

■切り抜きのマスクパターンをいくつかの矩形の集合に
近似して出力画像アドレスから入力画像(記憶)アドレ
スを生成するグラフィックディスプレイコントローラ等
で用いられる方法をとる装置 に大別することができる。
(2) Apparatuses can be broadly classified into devices that use a method used in graphic display controllers, etc., in which an input image (memory) address is generated from an output image address by approximating a cutout mask pattern to a set of several rectangles.

今、E7’<2図(A)に示す原画像データの一部を抽
出して目的とする画像、例えば第2図(B)に示す画像
を得る場合、又は原画像データの一部を消去して目的と
する画像、例えば第2図(C)に示す画像を得る場合を
例として説明する。
Now, when extracting a part of the original image data shown in E7' An example will be explained in which a desired image, for example, the image shown in FIG. 2(C) is obtained.

この場合に抽出又は消去のためのマスクパターンは第3
図に斜線で示す4の部分となる。
In this case, the mask pattern for extraction or erasure is the third one.
This is the part 4 indicated by diagonal lines in the figure.

■の方法の場合には、第3図に示す原画像領域5中のマ
スクパターン部分4を、ビットマツプマスクメモリ上に
1対1に対応させて保持し、例えば斜線部4に対応する
メモリには“1″を記憶させ、白部5に対応するメモリ
には“0′′を記憶させる。このビットマツプメモリの
内容を第2図(A)に示す原画像と同期して読み出し、
” i ”が有効とすれば第2図CB)に示す画像が得
られ、°O″′が有効とすれば第2図(C)に示す画像
が得られる。
In the case of method (2), the mask pattern portions 4 in the original image area 5 shown in FIG. "1" is stored in the memory corresponding to the white area 5, and "0" is stored in the memory corresponding to the white area 5.The contents of this bitmap memory are read out in synchronization with the original image shown in FIG.
If "i" is valid, the image shown in FIG. 2 (CB) is obtained, and if °O'' is valid, the image shown in FIG. 2 (C) is obtained.

(Dの方法を実現した従来のマスクデータ生成部のブロ
ック図を第4図に示す。
(FIG. 4 shows a block diagram of a conventional mask data generation unit that implements method D.

第4図において、8はビットマツプメモリ、10は副走
査カウンタ、11は主走査カウンタ、15はラッチ、1
6は画像開始信号、17は主走査開始信号、18は画素
クロック信号である。
In FIG. 4, 8 is a bitmap memory, 10 is a sub-scanning counter, 11 is a main-scanning counter, 15 is a latch, and 1 is a latch.
6 is an image start signal, 17 is a main scanning start signal, and 18 is a pixel clock signal.

副走査カウンタ10及び主走査カウンタ11は画像開始
信号16及び主走査開始信号17によりリセットされる
。主走査カウンタ11は笑えられた画素クロック信号1
8り従い、順次カウントアツプされる。そしてビットマ
ツプメモリ8の主走査カウンタ11で示される主走査ア
ドレス値及び副走査カウンタlOで示される副走査アド
レス(+ffによりアドレスされた内容(マスクビット
)が読出され、ラッチ15にラッチされ、出力される。
The sub-scanning counter 10 and the main-scanning counter 11 are reset by an image start signal 16 and a main-scanning start signal 17. The main scanning counter 11 is the pixel clock signal 1
8, and is counted up sequentially. Then, the main scanning address value indicated by the main scanning counter 11 of the bitmap memory 8 and the sub-scanning address indicated by the sub-scanning counter 1O (contents (mask bits) addressed by +ff are read out, latched in the latch 15, and outputted. be done.

また、副走査カウンタ10は主走査開始信号17により
カウントアツプされていく。
Further, the sub-scanning counter 10 is incremented by the main-scanning start signal 17.

この従来のビットマツプメモリ8における、第3図に示
すマスクパターンの保持例を、第5ド11′:示す。
An example of holding the mask pattern shown in FIG. 3 in the conventional bitmap memory 8 is shown in the fifth field 11'.

ビットマツプメモリ8においては副走査アドレス10a
、及び主走査アドレスllaで選択されたメモリセルが
読み出され、例えば内容が°”0°′なら複写せず、°
1′′なら画像の複写処理を行なう。
In the bitmap memory 8, the sub-scanning address 10a
, and the memory cell selected by the main scanning address lla is read out. For example, if the content is °"0°', it is not copied;
If it is 1'', image copy processing is performed.

次にり2)の方法により第2図(B)、(C)に示す画
像を得る場合を説明する。
Next, the case where the images shown in FIGS. 2(B) and 2(C) are obtained by the method 2) will be explained.

この場合には1対1対応のマスクビットパターンを保持
することはなく、例えば第3図の領域4は三角形を組み
合わせたような形状であ、るが、これを矩形の集合に近
似させて切り出し処理を行なう。この近似矩形の切り出
しパターンの集合例を第6図に示す。
In this case, a mask bit pattern with a one-to-one correspondence is not held; for example, region 4 in Figure 3 has a shape like a combination of triangles, but this is approximated to a set of rectangles and cut out. Process. FIG. 6 shows an example of a collection of approximate rectangular cutout patterns.

ここでは矩形パターンの切り出しは、矩形の集合を表わ
すパラメータ(x、、Yt)、(x2 。
Here, the rectangular pattern is cut out using parameters (x,, Yt) and (x2) representing a set of rectangles.

Y2)、(X3 、Y3)・・・(xe、YB)により
行なわれる。
Y2), (X3, Y3)...(xe, YB).

即ち、出力画素に対するアドレス(x、y)が(Xx≦
xくX2)かっ(Y1≦Y<Y2 )又は(X3≦X<
X4)かつ(Y3≦Y<Y4)又は 又は(X7≦X<X’a ) カッ(Y7 ≦Y<Ye
 )を満足する時に当該アドレス位置の画素を切り出す
(又は消去する)等の処理を行なう。この方法で処理し
た画像パターンを第7図(A)、(B)に示す。ここで
第7図(A)は第2図(B)に対応し、第7図(B)は
第2図(C)に対応する。
That is, the address (x, y) for the output pixel is (Xx≦
xkuX2) (Y1≦Y<Y2) or (X3≦X<
X4) and (Y3≦Y<Y4) or (X7≦X<X'a) Kak (Y7≦Y<Ye
), processing such as cutting out (or erasing) the pixel at the address position is performed. Image patterns processed using this method are shown in FIGS. 7(A) and 7(B). Here, FIG. 7(A) corresponds to FIG. 2(B), and FIG. 7(B) corresponds to FIG. 2(C).

E発す1が解決しようとする問題点コ L述の■の方法においては、画像データと同容量のビッ
トマツプのマスクメモリが必要であり、第5図に示す様
な構成であれば1024ドツト×1024ドツトの画素
の場合には1Mビットもの大容量のものが必要であった
Problems that E-issue 1 attempts to solve: In method ① mentioned above, a bitmap mask memory with the same capacity as the image data is required, and if the configuration is as shown in Fig. 5, 1024 dots x 1024 dots are required. In the case of dot pixels, a large capacity of 1 Mbit was required.

また、■の方法による場合には矩形図形としてマスク処
理を行なうため、切り抜きの形状に制約があり、また、
拡大、回転等の画像変換処理をこの切り抜き処理等と同
時に行なうことは難しかった。またどうしても切り抜き
形状が階段状になるのが避けられなかった。
In addition, in the case of method (■), mask processing is performed as a rectangular figure, so there are restrictions on the shape of the cutout, and
It has been difficult to perform image conversion processing such as enlargement and rotation at the same time as this cutting processing. Moreover, it was inevitable that the cutout shape would be step-like.

c問題点を解決するための手段] この問題を解決するための一手段として、例えば第1I
Aに示す実施例の画像処理装置は、画像情報の一部領域
の境界情報を保持するマスクメモリ12.13と、該マ
スクメモリ12.13との保持境界情報(指定埴域)に
従い、画素が当該指定領域内か否かを比較判別する比較
器19.20とを備える。
c.Means for solving the problem] As a means for solving this problem, for example,
The image processing device of the embodiment shown in A has a mask memory 12.13 that holds boundary information of a partial area of image information, and pixels are Comparators 19 and 20 are provided to compare and determine whether or not the area is within the specified area.

[作用] かかる第1図の構成において、比較器19゜20の比較
結果に従い、マスク領域の判別を行なうことができる。
[Operation] In the configuration shown in FIG. 1, the mask area can be determined according to the comparison results of the comparators 19 and 20.

このため、マスク情報の保持メモリ容量が少なく、また
、切り抜き形状に制限なく、拡大、縮小、回転等の画像
変換処理が高速で行なえる。
Therefore, the memory capacity for holding mask information is small, and image conversion processing such as enlargement, reduction, rotation, etc. can be performed at high speed without any restriction on the cutout shape.

[実施例] 以下、図面を参照して本発明に係る一実施例を詳説する
[Example] Hereinafter, an example according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

「第1実施例」 第1図は本発明に係る一実施例のブロック図である。図
中10は副走査カウンタ、11は主走査カウンタ、15
はラッチ、16は画像開始信号、17は主走査開始信号
、18は画素クロック信号であり、これらは第4図に示
す構成と同様構成である。
"First Embodiment" FIG. 1 is a block diagram of an embodiment according to the present invention. In the figure, 10 is a sub-scanning counter, 11 is a main-scanning counter, and 15
16 is a latch, 16 is an image start signal, 17 is a main scanning start signal, and 18 is a pixel clock signal, which have the same structure as shown in FIG.

更に、12.13はマスクメモリA、B、19はマスク
メモリA12の読出し値と主走査カウンタ11頒とを比
較する比較器A、20はマスクメモリB13の読出し値
と主走査カウンタ11値とを比較する比較器20.21
はゲート回路である。
Furthermore, 12.13 is a mask memory A, B, 19 is a comparator A that compares the read value of the mask memory A12 and the main scanning counter 11 value, and 20 is a comparator A that compares the read value of the mask memory B13 and the main scanning counter 11 value. Comparator to compare 20.21
is a gate circuit.

このマスクメモリA、B (12,13)の第3図に示
すマスキングパターンに対する構成(保持データ)を例
として第8図に示す。
FIG. 8 shows an example of the structure (held data) of the mask memories A and B (12, 13) for the masking pattern shown in FIG. 3.

副走査カウンタlOよりの副走査アドレス10aに対し
てそれぞれ14に示すビット長を有しており、マスク領
域に対する境界情報を保持している。マスクメモリA1
2には切り抜きを始める主走査アドレス、マスクメモリ
B13には切り抜きを終了する主走査アドレスが格納さ
れている。例えば副走査アドレス“4″においては、主
走査アドレスが“19″より切り抜きを始め、主走査ア
ドレスが“25″で切り抜きを終了することを示してい
る。この境界情報は第5図に示すビットマツプのマスク
メモリ情報を有するメモリの容量が1Mビットとすると
、ビット長14を10ビツトとしても合計20にビット
の容量で同様のマスク情報を記憶することができ、50
分の1の容量で足りる。
Each sub-scanning address 10a from the sub-scanning counter 10 has a bit length of 14, and holds boundary information for the mask area. Mask memory A1
2 stores a main scanning address to start cutting out, and mask memory B13 stores a main scanning address to end cutting out. For example, the sub-scanning address "4" indicates that cutting begins at the main-scanning address "19" and ends at the main-scanning address "25". Assuming that the capacity of the memory containing the mask memory information of the bitmap shown in FIG. 5 is 1M bits, this boundary information can store similar mask information with a total capacity of 20 bits even if the bit length 14 is changed to 10 bits. , 50
1/1 capacity is sufficient.

また画像情報をA4サイズ16トツト/mmで解像した
画像は4752X3360画素となり、ヒツトマツプメ
モリでは合計約16Mビットとなるが、本実施例によれ
ばIJhあたりのビット長が12ビツトで足り、総容量
的114にビットで済む。従って、ビットマツプのマス
クメモリと比較して約140分の1の記憶8清である。
In addition, an image obtained by resolving image information on A4 size paper at 16 tots/mm has 4752 x 3360 pixels, and the total amount of data in the hit map memory is about 16 Mbits, but according to this embodiment, the bit length per IJh is only 12 bits, and the total number of pixels is 4752 x 3360 pixels. In terms of capacity, only 114 bits is required. Therefore, the storage capacity is approximately 140 times smaller than that of a bitmap mask memory.

一方、比較器A、B(19,20)による比較の結果で
ある出力22.23はゲート回路21に入力され、更に
その出力がラッチ15にラッチされる。ここでラッチ1
5にラッチされる値は(マスクメモリA出力値12a) ≦(主走査カウンタ値) カッ(マスクメモリB出力値13a) 〉(主走査カウンタ値) である、これはまた以下の様に表わすこともできる。
On the other hand, outputs 22 and 23, which are the results of the comparison by comparators A and B (19, 20), are input to the gate circuit 21, and the outputs are further latched into the latch 15. Here latch 1
The value latched to 5 is (mask memory A output value 12a) ≦ (main scanning counter value) Ka (mask memory B output value 13a) 〉 (main scanning counter value), which can also be expressed as follows. You can also do it.

(切り抜き開始主走査アドレス) ≦(主走査カウンタ値) かつ(切り抜き終了主走査アドレス) 〉(主走査カウンタ値) 従ってこのラッチ15出力15aの1″又は°O”′に
よりマスキング処理を実行することにより、大容量のビ
ットマツプメモリを必要とせず、比較器2個とゲート回
路1個というわずかの回路構成の追加で滑らかなビット
マツプのマスクメモリに匹敵する品質のマスキング処理
が高速で行なえる。
(Cutout start main scan address) ≦ (main scan counter value) AND (cutout end main scan address) > (main scan counter value) Therefore, the masking process is executed by 1'' or °O''' of this latch 15 output 15a. This eliminates the need for a large-capacity bitmap memory, and can perform high-speed masking processing with quality comparable to that of a smooth bitmap mask memory with the addition of a small circuit configuration of two comparators and one gate circuit.

[第2実施例] 以上説明した実施例は、最も単純な構成であるが、以下
に本発明に係る他の異なった実施例を説明する。
[Second Embodiment] Although the embodiment described above has the simplest configuration, other different embodiments according to the present invention will be described below.

第1図及び第8図に示した実施例においては、主走査方
向に対して(1の副走査に対して)1回のオン/オフし
か許されず、複雑な切り出し図形の場合には対処できな
い。
In the embodiments shown in FIGS. 1 and 8, only one turn-on/off is allowed in the main scanning direction (for one sub-scanning), and it is not possible to deal with complex cut-out figures. .

例えば、第9図に示されるビットマツプマスクと同じパ
ターンを生成することができない、なぜなら、副走査2
5.26番目において、オン/オフがそれぞれ3回ずつ
繰り返されているからである。
For example, it is not possible to generate the same pattern as the bitmap mask shown in FIG.
This is because in the 5.26th position, on/off is repeated three times each.

=・般的に第1図の構成では凸領域のマスクしか扱えな
い。このため、任意の形状のマスクを取り扱う様にする
ため、第10図、第11図に示す如くマスクメモリをア
ドレス方向に必要量だけ適当に、又語長方向に1ビツト
拡張して、オン、/オフが繰り返される副走査には、オ
ン/オフの繰り返される回数と同じ語数割り当て、引き
続く語が回−の副走査に対するものであるか否かを、拡
張した1ビツトに割り当てる。
= Generally, the configuration shown in FIG. 1 can only handle masks for convex areas. Therefore, in order to handle masks of arbitrary shapes, the mask memory is expanded by the necessary amount in the address direction and by 1 bit in the word length direction, as shown in FIGS. 10 and 11. The number of words equal to the number of times the on/off is repeated is assigned to the sub-scanning in which /off is repeated, and an extended 1 bit is assigned to indicate whether the subsequent word is for the - sub-scanning.

第10図はこの本発明に係る他の実施例のブロック図で
あり、第1図と同様構成には同一番号を付した。
FIG. 10 is a block diagram of another embodiment according to the present invention, in which the same components as in FIG. 1 are given the same numbers.

第10図のマスクメモリアドレスカウンタ24は11図
の副走査カウンタ10と異なり、副走査と1対1に対応
しないマスクメモリアドレス24aを出力する。またマ
スクデータ用のメモリとしてはマスクメモリA12、マ
スクメモリB13と共に、引き続くマスクメモリA12
、B13のiJが同一の副走査のものであるか否かを区
別(判別)するためのフラグビットメモリ25とにより
構成されている。またゲート回路28も追加されている
The mask memory address counter 24 in FIG. 10 is different from the sub-scan counter 10 in FIG. 11 in that it outputs a mask memory address 24a that does not have a one-to-one correspondence with the sub-scan. In addition, as memories for mask data, along with mask memory A12 and mask memory B13, the subsequent mask memory A12
, and a flag bit memory 25 for distinguishing (determining) whether or not iJ of B13 are of the same sub-scanning. A gate circuit 28 is also added.

このマスクメモリA12.B13.フラグビットメモリ
25に帛9図に示すビットマツプのマスクパターンを記
憶した例を第11図に示す。
This mask memory A12. B13. FIG. 11 shows an example in which the mask pattern of the bitmap shown in FIG. 9 is stored in the flag bit memory 25.

マスクメモリアドレス24aが“24″以γの場合には
マスク領域のオン/オフは1回であり、1回毎の副走査
(10a)でマスクメモリアドレスカウンタ24も1つ
づつカウントアツプされる。しかし、主走査カウンタ1
1の値が′0゛となり、マスクメモリアドレス24aが
次の25″となったときには各マスクメモリA12、B
13.フラグビットメモリ25の出力は各々“9°’、
”18”、  “0′°となる。
When the mask memory address 24a is "24" or more γ, the mask area is turned on/off once, and the mask memory address counter 24 is incremented by one with each sub-scan (10a). However, main scanning counter 1
When the value of 1 becomes '0'' and the mask memory address 24a becomes the next 25'', each mask memory A12, B
13. The output of the flag bit memory 25 is "9°",
``18'', ``0'°.

ここで画素クロック信号18が立上ると順次主走査カウ
ンタ11がカウントアツプされる。そして主走査カウン
タ11の値が“9”となると比較器AI9の入力Aと入
力Bが共に等しくなり、出力22が1 ”となる、なお
この時、比較器B20の入力A(13)は°’13”で
あり、入力Bは°9′°であり、出力23は°°O″で
ある。従ってゲート回路21出力は“1°°となる。こ
のため次の画素クロック信号18によりラッチ15がセ
ラトコれ、出力が′1′°となり、以降の画像データは
出力許可される。
Here, when the pixel clock signal 18 rises, the main scanning counter 11 is sequentially counted up. Then, when the value of the main scanning counter 11 becomes "9", the inputs A and B of the comparator AI9 become equal, and the output 22 becomes "1". At this time, the input A (13) of the comparator B20 is '13', input B is '9'°, and output 23 is '0'. Therefore, the output of the gate circuit 21 is '1°'. Therefore, the latch 15 is reset by the next pixel clock signal 18, the output becomes '1'°, and subsequent image data is permitted to be output.

さらに画業クロック信号18が続けて8回到達すると主
走査カウンタ11値が’ 18 ”となり、比較器B2
0の両入力が等しくなり、出力が” 1 ”となる。よ
ってゲート回路21の入力は両方とも°l″となり、こ
の時にはゲート回路28も満足され、次の画素クロック
信号18によりラッチ15がリセットされ、マスキング
の終了を報知する。またマスクメモリアドレスカウンタ
24も1つカウントアツプされる。 かくしてマスクメ
モリアドレスカウンタ24の(f+は’ 26 ”とな
り、マスクメモリA12.B13.フラグビットメモリ
25の各出カイ直は’19” 、”21”。
Further, when the painting clock signal 18 reaches 8 times in a row, the value of the main scanning counter 11 becomes '18', and the comparator B2
Both inputs of 0 become equal and the output becomes "1". Therefore, both inputs of the gate circuit 21 become °l'', and at this time the gate circuit 28 is also satisfied, and the latch 15 is reset by the next pixel clock signal 18, notifying the end of masking.The mask memory address counter 24 also The count is increased by one. Thus, (f+ of the mask memory address counter 24 becomes '26', and the respective outputs of the mask memory A12, B13, and flag bit memory 25 are '19' and '21'.

″′Oパとなる。そして上述と同様にしてラッチ回路1
5がt走査カウンタllの“19′′。
″′ becomes 0.Then, in the same manner as above, the latch circuit 1
5 is "19'' of t scanning counter ll.

“21′′の次の画素クロック信号によりセット/リセ
ットされ、この後、マスクメモリアドレスカウンタ24
がインクリメントされる。
The mask memory address counter 24 is set/reset by the next pixel clock signal “21''.
is incremented.

次に、マスクメモリアドレスカウンタ24の値が’ 2
7 ”となると対応するマスクメモリA12、B13.
フラグビットメモリ25の各個は22°′ 、32″及
び“1°′となり、ラッチ15は主走査アドレス値が“
22パでセットされ“32”でリセットされ、それにと
もない出力もオン/オフするが、ゲート回路28は満足
されず、ここでマスクメモリアドレスカウンタ24がイ
ンクリメントされることはない。そして次の主走査開始
信号17の到達により始めてインクリメントされること
1こなる。
Next, the value of the mask memory address counter 24 becomes '2.
7'', the corresponding mask memories A12, B13 .
Each of the flag bit memories 25 becomes 22°', 32'' and "1°', and the latch 15 stores the main scanning address value as "22°', 32'' and "1°'."
It is set at "22" and reset at "32", and the output is turned on/off accordingly, but the gate circuit 28 is not satisfied and the mask memory address counter 24 is not incremented. Then, it is incremented by 1 only when the next main scanning start signal 17 arrives.

この詩の副走査アドレスlOaは“26”であるが、マ
スクメモリアドレスカウンタ24の(力は” 28 ”
となっている。
The sub-scanning address lOa of this poem is "26", but the (force) of the mask memory address counter 24 is "28".
It becomes.

以上の処理タイミングを第12図に示す。The above processing timing is shown in FIG.

以上の構成及び処理を行なうことにより、第9図に示す
ビットマツプマスクと同じ効果を得ることができる。
By performing the above configuration and processing, the same effect as the bitmap mask shown in FIG. 9 can be obtained.

本実施例の構成においては1副走査当りのマスクのオン
/オフが134回以下であればマスクメモリとしてビッ
トマツプメモリ、を用いる場合に比し、少ない記憶容量
で複雑なマスキング処理を実行できる。
In the configuration of this embodiment, if the mask is turned on and off 134 times or less per sub-scan, complex masking processing can be executed with a smaller storage capacity than when a bitmap memory is used as the mask memory.

[第3実施例] また、以上の実施例においては副走査アドレスとメモリ
アドレスか1対1に対応していないため、任意の副走査
位置より処理を開始することは難しい。このため、任意
の副走査位置より、容易にマスキング処理を実行するこ
とのできる構成を第13図に示す。
[Third Embodiment] Furthermore, in the above embodiments, since there is not a one-to-one correspondence between sub-scanning addresses and memory addresses, it is difficult to start processing from an arbitrary sub-scanning position. For this reason, FIG. 13 shows a configuration that allows the masking process to be easily executed from any sub-scanning position.

第10図と同様構成には同一・番号を付した。Components similar to those in FIG. 10 are given the same numbers.

ここでは第10図の構成に加えてマスクメモリアドレス
カウンタ24の前に副走査と1対1に対応したアドレス
値を有する副走査メモリ29を有し、マスクデータを2
つの階層に分けて記憶している。これらのマスクデータ
記憶メモリの詳細構成を第14図に示す。
In addition to the configuration shown in FIG. 10, a sub-scanning memory 29 having address values in one-to-one correspondence with sub-scanning is provided in front of the mask memory address counter 24, and the mask data is stored in two
It is memorized in two layers. The detailed structure of these mask data storage memories is shown in FIG.

副走査アドレス10により副走査メモリ29の内容が読
出され、マスクメモリアドレスカウンタ24に入力され
、画像開始信号16の入力によりマスクメモリアドレス
カウンタ24に取り込まれる。後は第10図に示した第
2の実施例と同じ課程をたどる。このため、任意の副走
査よりマスクデータの読出しを行うことができる。
The contents of the sub-scanning memory 29 are read out by the sub-scanning address 10 and inputted to the mask memory address counter 24, and taken into the mask memory address counter 24 by inputting the image start signal 16. The rest follows the same process as in the second embodiment shown in FIG. Therefore, mask data can be read out by any sub-scanning.

[第4実施例J 第9図に示すマスクパターンにおいては、副走査アドレ
スの°0″〜” 2 ” 、及び、′30”〜” 39
 ”はマスク部分がなく、対応するマスクメモリA12
.B13及びフラグビットメモリ25の内容もこれらの
全域において全く同一内容である。また詳細図示はない
が副走査アドレス°“15″〜°°21”°においても
各メモリの内容は全く同一のちのである。このためこの
重複記憶領域の記憶容量を軽減するために第14図に示
す副走査メモリ29に対して副走査に対して記憶内容の
重複を許し、また昇順に並んでいないことを許す例を第
15図に示す。またこの場合の回路構成を第16図に示
す。第16図においては第13図の副走査メモリ29の
前に第1図に示す副走査カウンタ10と同様のカウンタ
を配している。
[Fourth Embodiment J In the mask pattern shown in FIG.
” has no mask part and the corresponding mask memory A12
.. The contents of B13 and flag bit memory 25 are also exactly the same throughout these areas. Also, although not shown in detail, the contents of each memory are exactly the same at sub-scanning addresses °"15" to °°21". Therefore, in order to reduce the storage capacity of this overlapping storage area, FIG. FIG. 15 shows an example in which the sub-scanning memory 29 shown in FIG. 15 is allowed to have duplicated storage contents in the sub-scanning direction, and is also allowed to be arranged out of ascending order. The circuit configuration in this case is shown in FIG. 16. In FIG. 16, a counter similar to the sub-scanning counter 10 shown in FIG. 1 is arranged in front of the sub-scanning memory 29 of FIG. 13.

ここで30は副走査開始アドレスである。主走査開始信
号17によりマスクメモリアドレスカウンタ24には副
走査カウンタ10によりアドレッシングされた副走査メ
モリ29の内容がロードされるため、異なる副走査に対
しても同一のマスクメモリA12.B13及びフラグビ
ットメモリ25がアドレスされる。
Here, 30 is the sub-scanning start address. Since the contents of the sub-scanning memory 29 addressed by the sub-scanning counter 10 are loaded into the mask memory address counter 24 by the main-scanning start signal 17, the same mask memory A12. B13 and flag bit memory 25 are addressed.

従って第15図に示す如く、例えば第2、第3の実施例
では副走査メモリりの語数のメモリ宵闇−が必要であっ
たか、それが大幅に軽減することができ、第9図に示す
例では25語の容量で足りている。ちなみに第13図、
第14図に示す実施例では合計44語の容量が必要であ
った。
Therefore, as shown in FIG. 15, for example, in the second and third embodiments, a memory capacity equivalent to the number of words in the sub-scanning memory was required, but this can be significantly reduced, and in the example shown in FIG. 25 words is enough. By the way, Figure 13,
In the embodiment shown in FIG. 14, a total capacity of 44 words was required.

また以りの様に構成することにより、マスクパターンの
変更に際しても対応する副走査方向の部分のみマスクメ
モリ等の記憶内容を書き換えればよく、またメモリ語数
が増加する場合にも占き込まれていない次のアドレスよ
りマスクデータを書き加えることができる。
In addition, by configuring as described above, when changing the mask pattern, it is only necessary to rewrite the stored contents of the mask memory, etc. in the corresponding sub-scanning direction, and even when the number of memory words increases, the data is not rewritten. Mask data can be added from the next address that does not exist.

第9図に示すマスクパターンを書き換えて第17図に示
すマスクパターンとする場合における副走査メモリ29
及びマスクメモリA12.B13、フラグビットメモリ
25の内容を第18図に示す。
Sub-scanning memory 29 when rewriting the mask pattern shown in FIG. 9 to create the mask pattern shown in FIG. 17
and mask memory A12. B13 and the contents of the flag bit memory 25 are shown in FIG.

ここではマスクパターンの変更された副走査アドレスに
対応する副走査メモリ29の“14“〜” 21 ”の
内容を書き換えマスクメモリA12゜B13.フラグビ
ットメモリ25の各アドレス” 25 ”〜°“36”
に新たなマスクパターン情報をどき込めばよい。このた
め非常に簡易に、かつ高速で任意のマスクパターンに変
更することができる。第13図に示す実施例でマスクパ
ターンを変更すると副走査メモリの書き換えに加えて、
マスクメモリA12.B13.フラグビットメモリ25
の変更開始位置以降を全て書き換え、ずらさなければな
らず、時間もかかり、非常に面倒であった。
Here, the contents of "14" to "21" in the sub-scanning memory 29 corresponding to the sub-scanning address whose mask pattern has been changed are rewritten, and the mask memories A12, B13. Each address of the flag bit memory 25 “25” to °“36”
All you have to do is input new mask pattern information. Therefore, the mask pattern can be changed to any desired mask pattern very easily and at high speed. When changing the mask pattern in the embodiment shown in FIG. 13, in addition to rewriting the sub-scanning memory,
Mask memory A12. B13. Flag bit memory 25
It was necessary to rewrite and shift everything after the start position of the change, which was time consuming and extremely troublesome.

以北4つの実施例はいずれもラスク上に転送される画像
に同期して画像有効信号を送ることが可能であり、入力
画像をそのようなラスタデータとして入力する画像処理
装置に対しては特に有効である。
All of the following four embodiments are capable of sending an image valid signal in synchronization with the image transferred to the raster, and are particularly useful for image processing devices that input input images as such raster data. It is valid.

またメモリ容量が数七分の=−以下と極端に小さくなる
ので、画像データの拡大処理に備えてマスクパターンに
対する記憶アドレス値を小数点以下まで用意して(又は
アドレス値を浮動小数点数として保持して)おき、通常
のマスクパターン読出し時には小数点以下を切り捨てた
アドレス値として読出し、画像データ等の拡大処理が行
なわれる場合にはこの小数点以下の値も共に拡大処理の
補間のパラメータとして使用することが望ましい。
In addition, since the memory capacity is extremely small, being less than a few sevenths of a minus, it is necessary to prepare the memory address value for the mask pattern down to the decimal point (or store the address value as a floating point number) in preparation for enlarging the image data. ), and when reading a normal mask pattern, it is read out as an address value with the decimal point cut off, and when image data, etc. is to be enlarged, this decimal point value can also be used as an interpolation parameter for the enlargement process. desirable.

更に副走査方向に対しても、一度に隣り合う2つの副走
査について読み出し、内挿処理を行ない、副走査方向を
も含めて滑らかな切り抜き境界を得ることも可能である
Furthermore, in the sub-scanning direction, it is also possible to read out two adjacent sub-scans at a time and perform interpolation processing to obtain a smooth cutout boundary including the sub-scanning direction.

これはラスク上に送られる2次元データの回転を近傍計
算で内挿しながら行なうという提案に対しても応用がで
きるものである。
This can also be applied to the proposal of rotating two-dimensional data sent onto a rask while interpolating it using neighborhood calculations.

この様に、画像メモリの読出しアドレスの小数点以下は
通常の画像処理における画像メモリやマスクメモリのア
クセスには使用せず、例えば拡大処理においては!4接
する主走査方向画像又は2ラインの副走査方向の画像デ
ータをそれぞれ倍率に応じた回数分読み出すが、この時
、階調を有する画像データの濃度をこの小数点以下の値
を参考として滑らかな切り抜き境界を得る。例えば、小
数点以下がn、7であれば2倍時には切り出し境界を当
該整数部のアドレスn 、7+0.7= (n+1)、
4となり次の走査後位置を切り出し境界とすることがで
きる。
In this way, the part below the decimal point of the image memory read address is not used for accessing the image memory or mask memory in normal image processing, for example in enlargement processing! 4 adjacent images in the main scanning direction or 2 lines of image data in the sub-scanning direction are each read out a number of times according to the magnification, but at this time, the density of the image data with gradations is smoothly cropped using the value below the decimal point as a reference. Get boundaries. For example, if the number after the decimal point is n and 7, when doubling, the cutting boundary is the address n of the integer part, 7+0.7=(n+1),
4, and the position after the next scan can be set as the cutting boundary.

[発明の効果] 以上説明した様に、本発明によれば各主走査1ライン毎
に境界領域のオン/オフ位置を保持するメモリを有する
領域生成回路を設けることにより、(0大きな容量を必
要としていたビットマツプメモリを備えたのと同じ効果
をはるかに小さなコストで実現でき、(2)!、IIJ
り抜き領域を生成する際の処理を高速化することができ
、(:3)アドレスを小数点以下まで有することにより
、画像データの拡大等の画像変倍走査を伴っても切り出
し境界を滑らかにすることができる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, by providing an area generation circuit having a memory that holds the on/off position of the boundary area for each main scanning line, It is possible to achieve the same effect as equipped with a bitmap memory, at a much lower cost, and (2)!, IIJ
Processing when generating a cutout area can be sped up, and by having (:3) addresses below the decimal point, the cutout boundaries can be smoothed even when image scaling scans are performed, such as when enlarging image data. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

751図は本発明に係る一実施例のブロック図、第2図
(A)〜(C)はマスキング処理の説明図、 第3図はマスキングパターンを示す図、第4図は従来の
マスキングパターン主成部構成図、 第5図は従来の第3図に示す1マスキングパターンのビ
ットマツプメモリによる記憶側図、第6図は他の従来の
第3図に示すマスキングパターンに対する矩形マスキン
グパターン生成側図、 第7図(A)、(B)は従来の矩形パターンによるマス
キングの例を示す図、 第8図は本実施例による第3図に示すマスキングパター
ンの記憶例を示す図、 第9図はビットマツプで表わした他のマスキングパター
ンを示す図、 第10図、第13図、第16図は本発明に係る他の実施
例のブロック図、 第11図、第14図、第15図は本実施例による第9図
に示すマスキングパターンの記憶例を示す図、 第12図は第10図に示す本実施例の動作タイミングチ
ャート、 第17図は他ビットマツプに表わした第9図に示すマス
キングパターンの変更例を示す図、第18図は第16図
に示す本実施例における第17図に示すマスキングパタ
ーンへの変更時のマスキングパターンの記憶例を示す図
である。 図中、10・・・副走査カウンタ、11・・・主走査カ
ウンタ、12,13.・・・マスクメモリ、19゜20
・・・比較器、24・・・マスクメモリアドレスカウン
タ、25・・・フラグビットメモリ、29・・・副走査
メモリである。 第1図 ′41・y別1ダ1/′フロ・ソクロ 第2図 72キ〉り゛ズロ理ハ倉18図 (C) マス千ンク゛り11 第6図 ΔiイLスαr1コ七す(La (A)            (B)@塀 、X <J−ゝW−INl+J”−°           
    、9.り”−o(’−・・・     、べが
N−へ特     蘭 第14図 マスクメそり寒い【図 第15図 マスクXモリ隋A°田 第18図 マスクXモリ41欠°圓
Figure 751 is a block diagram of an embodiment according to the present invention, Figures 2 (A) to (C) are explanatory diagrams of masking processing, Figure 3 is a diagram showing a masking pattern, and Figure 4 is a diagram showing the conventional masking pattern. FIG. 5 is a diagram showing the storage of one masking pattern shown in FIG. 3 in the conventional bitmap memory, and FIG. 6 is a diagram showing the generation of a rectangular masking pattern for another conventional masking pattern shown in FIG. 3. , FIGS. 7A and 7B are diagrams showing an example of masking using a conventional rectangular pattern, FIG. 8 is a diagram showing an example of storing the masking pattern shown in FIG. 3 according to this embodiment, and FIG. 10, 13, and 16 are block diagrams of other embodiments according to the present invention. FIGS. 11, 14, and 15 are block diagrams of other embodiments according to the present invention. FIG. 12 is an operation timing chart of the present embodiment shown in FIG. 10; FIG. 17 is a diagram showing a storage example of the masking pattern shown in FIG. 9 as an example; FIG. FIG. 18 is a diagram showing a storage example of the masking pattern when changing to the masking pattern shown in FIG. 17 in the present embodiment shown in FIG. 16. In the figure, 10...sub-scanning counter, 11... main-scanning counter, 12, 13. ...Mask memory, 19°20
. . Comparator, 24 . . . Mask memory address counter, 25 . . . Flag bit memory, 29 . . . Sub-scanning memory. Figure 1 '41・y 1 da 1/' Flo Socro Figure 2 La (A) (B) @ fence, X <J-ゝW-INl+J”-°
,9. ri"-o('-..., Bega N- to special Ran Figure 14 Mask mesori cold [Figure 15 Mask X mori Sui A° field Figure 18 Mask

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)画像情報の一部領域を指定する指定手段と、該指
定手段により指定された領域の画像情報を画像処理する
画像処理手段とを備え、前記指定手段は画像情報の主走
査1ライン毎の前記領域の境界情報を保持し、該保持情
報により領域指定を行なうことを特徴とする画像処理装
置。
(1) A designation means for designating a partial area of image information, and an image processing means for performing image processing on the image information of the area designated by the designation means, and the designation means performs image processing for each main scanning line of the image information. An image processing apparatus characterized by retaining boundary information of the area and specifying an area based on the retained information.
(2)指定手段は階層構造メモリを備え、前段メモリが
後段メモリのアドレス値を保持し、主走査1ライン毎に
複数の任意の境界情報を保持可能とすることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の画像処理装置。
(2) Claims characterized in that the specifying means is provided with a hierarchical memory, the former memory holds the address value of the latter memory, and is capable of holding a plurality of pieces of arbitrary boundary information for each main scanning line. The image processing device according to item 1.
(3)指定手段で保持の境界情報は領域開始主走査アド
レス及び領域終了主走査アドレスであり、該主走査アド
レス情報には小数部を有することを特徴とする特許請求
の範囲第1項又は第2項記載の画像処理装置。
(3) The boundary information held by the specifying means is an area start main scanning address and an area end main scanning address, and the main scanning address information has a decimal part. The image processing device according to item 2.
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