JPS62240870A - テスト機器 - Google Patents

テスト機器

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Publication number
JPS62240870A
JPS62240870A JP62007974A JP797487A JPS62240870A JP S62240870 A JPS62240870 A JP S62240870A JP 62007974 A JP62007974 A JP 62007974A JP 797487 A JP797487 A JP 797487A JP S62240870 A JPS62240870 A JP S62240870A
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JP
Japan
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port
test
frequency signal
power
networks
Prior art date
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Pending
Application number
JP62007974A
Other languages
English (en)
Inventor
クリストファー マルカム ポッター
ジョージ ジーピエリス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Marconi Instruments Ltd
Original Assignee
Marconi Instruments Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/04Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G01R27/06Measuring reflection coefficients; Measuring standing-wave ratio

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Measuring Or Testing Involving Enzymes Or Micro-Organisms (AREA)
  • Aerials With Secondary Devices (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、高周波電気装置について電気測定を行なう
のに適したテスト機器に関する。本発明:よ、無線周波
数またはマイクロ波周波数の範囲における動作を意図す
るものである。
(従来の技術) 無線周波数(RF)及びマイクロ波用部品の特性を調べ
るのに使われる最も強力な手法の1つは、敗乱パラメー
タ(S−パラメータ)モデルである。
このモデルでは、RF装置が各種の入出力端子を備えた
“ブラックボックス″として扱われる。各対の端子は゛
′ポート”と称される。当該装置の性能は、1つのボー
トに電波を加え、この電波によって各ポートに生じる出
現波を記録することで定量化される。各電波間の関係が
、S−パラメータ行列と呼ばれる複素係数の行列の形で
表わされる。
こうした複素係数は、必要な電波を分離してそれらの間
の複雑な関係を評価する回路網アナライザによって測定
される。可変周波数発振器の周波数が特定の周波数帯域
にわたって制!IIされる自動化回路網アナライザも開
発されている。これらのアナライザは非常に複雑で、入
射波と反射波をサンプルする方向性結合器またはブリッ
ジを具備する。そして、各サンプルの比がとられ、入射
波と反射波の大きさ及び位相を求める。約500KII
zより高い周波数では位相角を直接測定できないので、
それは実施上複雑な過程となる。つまり、測定する前に
、RFサンプルを適切な周波数へ変換しなければならな
い。振巾と位相の関係を正確に維持しながら周波数を変
換するのは、困難であるとともに高価につく。このよう
なヘテロゲイン方式で使われるミキサやサンプラの特性
は、極度に線形でなければならない。
(発明が解決しようとする問題点) 6ポート回路網アナライザとして知られる機器は、振巾
測定に依拠するもので位相情報を測定する必要がなく、
比較的前車なRF回路を使え、6ポート回路網アナライ
ザを正確に較正できる。しかし従来知られているように
、かかる機器は厳しい動作上の欠点を有する;っまり遅
く、使用が厄介で、熟練のオペレータを必要とする実験
室用のa器として主に見なされてきた。被テスト装置(
DIJT)の特性を充分に調べるためには、2重構成の
6ポート回路網アナライザを使う必要がある。DUTは
その特性が両ポートへ同時に加えられる電力に対し独立
でなければならいからである。
この点は一般に、受動装置についてのみ当てはまる。つ
まり、非定型の動作条件のため、増「[1器の測定は信
頼できないものとなる。増巾器が増巾する代りに発振し
てしまう可能性は強い。また、DUTを含む信号ループ
を通ってRF′rA信号が循環するのを防ぐのに方向性
アイソレータが必要なため、広帯域の動作は不可能であ
る。
本発明は、改良されたテストa器を改良しようとするも
のである。
この発明の第1の特徴によれば、テスト機器は、被テス
ト装置に接続可能なそれぞれのテストポートを有する2
つの6ポート回路網;上記テストポートの一方にだけ接
続され、該テストポートに高周波信号を加える共通の高
周波信号源;及び該高周波信号を基準信号として両方の
6ポート回路網へ同時に直接供給する手段;を具備する
この発明の第2の特徴によれば、テス)Jffi器は、
被テスト装置に接続可能なそれぞれのテストポートを有
する2つの6ポート回路網;上記テストポートへ切換可
能に接続され、テストポートの一方または他方にだけ高
周波信号を随意加える共通の高周波信号源;及び該高周
波信号を基準信号として両方の6ポート回路網へ同時に
供給する手段;を具備する。
上記の構成は狭帯域の部品を用いる必要を取り除き、非
常に広い周波数範囲にわたって自動的にテスト機器を使
用可能とする。
以下、本発明を添付の図面を参照しながら一例としてさ
らに説明する。
(実施例) 前述したように、本発明では一対の6ポート回路網を用
いる。“6ボート”という用語は回路網アナライザの型
式分類から出た用語であり、前述したような4ボートを
持つ従来のへテロダイン型に対して、1ポートの装置を
測定するのに用いる6ボートを待ったアナライザを意味
する。従来の4ボートはそれぞれ次のために使われる;
(1)RF!から被テスト装置(DUT)へ加えられる
入射(3号; (i+) D UTへの入射波の出力サ
ンプル“a ” ;(iii) DUTからの反射波の
出力サンプル“b”;及び(iv)DUTが接続される
テストポート。6ポート反射計の場合、6つのボートは
それぞれ次のために使われる;(i)RF源から被テス
ト装置に加えられる入射信号;(ii)テストポート;
 (iii )主に信号1 alから成るサンプル;及
び (iv) 、(v) 、(vi)信号“a゛とb°
の異なった組み合せサンプル。但し、a+と “b゛ 
は先に定義した通り。
被テスト装置(DUT)2に接続された6ポート回路″
fA1を含む簡単なシステムが第1図に示してあり、R
FrA3がテスト信号を供給する。
各ボートについての6ポート方程式は次のように表わせ
る: 、も(Fi + jG) −11゜ 1″−γ+jx=  −一−−−−−−−−−Σ ll
 、 P。
但しPlは1番目のボートに接続された電力計の読取値
で、ボートP3は“a゛ベクトルけをサンプルする。パ
ラメータ「は次式で定義される二人側波(b) 上記方程式の導関数は、C,A、 1loerの論文「
6ボート及び8ボートのジャンクションを用いた能動及
び受動回路パラメータの測定J 、NBS Tachn
Note 673.1975に示しである。
6ポート反射計の較正は、上記の形の幾つかの連立方程
式を解(ことを含む。既知の異なったDUTがテストポ
ートに配置され、電力計の読取値が記録され、それに基
づいて11個の未知係数を求めることができる。
G、  F、 Engen+ IEE Trans、 
NTT−26、No、 12pp 951〜957.1
978年12月によって、6ポート回路網の較正を2段
階に分けることが提案されている。第1段階は“6ボー
トから4ポートへの縮小”で、6ボートの内部制約を確
立する。これらの内部制約は11個のうち5個の係数を
説明するもので、“6番目のボート”はあいまいになる
解の選択を決定するためにだけ可入されたものだが他の
ボートに一定の指示を与えねばならないことから生じる
。この第1段階は、多くの未知の成端に関する電流計測
定値を読み取ることによって実施できる。較正の第2段
階は、ヘテロゲイン式回路網アナライザの4ポート反射
計を較正するのに使われるのと同じである。たの段階で
は3つの基準を用いて、残り6個の係数を求める。
特に優れた理論的性能を与える6ポート回路網の一例が
第2図に示してあり、これはボートP3〜P6から現わ
れる“a”及び“b”波の組み合せについてを効な選択
を与える。つまりこれらの組み合せは、測定系に固有な
不確実性を最小に保持する。第2図は、理論上ぼり理想
的な性能を与えられるハイブリッド結合器を用いた回路
構成を示している。この構成はG、  F、 Enge
nにより、[マイクロ波測定の6ポート手法を実施する
ための改良回路J 、IEETrans、 MTT −
25No、 12.1987年12月 pp1080〜
1O83で提案された。
第2図には、RF源3と被テスト装置(DUT)2の他
、4つの相互に接続されたハイブリッド結合器11.1
2.13.14から成る6ポート回路網が示しである。
各ハイブリッド結合器は、2つの入力ボート15.16
と2つの出力ポート17.18を有する4ポート装置で
、入力ポート15に加わる人力信号が等しく分割され、
入力電力の半分が各出力ポート17.18から現われる
とともに(内部損は無視する)、出力ポート18の信号
が出力ポート17の信号より90°だけ遅れるように構
成されている。この点は、第3図の上方左隅に模式的に
表わしである。逆に、人力ボート16に加わる信号は2
つの出力ポート17と18の間で等しく分割されるが、
出力ボート17の信号の方が出力ポート18の信号より
90’だけ遅れる。ハイブリッド結合器を横切って正味
の位相遅れは生じないと通常仮定するが、実際にはそう
ならず、図示のごとき相互に接続されたハイブリッド結
合器の構成において相殺される。
6ポート回路網の4つの出力ポート21.22.23.
24の各々に、2つの入力ポート25.26への信号印
加から生じ、反射波すと入射波aを図中に示した割合で
含む出力信号値が示しである。但し、r’=b/a、6
ポート回路網の通常の表示P1〜P6も第2図に示しで
ある。
2つの6ポート回路網を使えば、2ボートDOTの振r
11及び位相特性を振巾の測定だけから推定可能になる
。これまで、2型彫6ボート回路網アナライザの使用は
重大な欠点を伴なっていた。1つの欠点は前述した通り
で、すなわちDUTはその特性が人出力ボートへ同時に
加わる電力と独立であるようなものでなければならない
。別の欠点は、S−パラメータを決定する較正手順が、
2つのテストポート(DUTが接続されるボート)での
2の電波間に3つ以−ヒでしかも再現可能な関係を与え
るため、切換可能移相器及び切換可能減衰器の使用を含
むことである。また広帯域の動作では、多くの狭帯域精
度の直線基’j” Rgが必要とされる。
さらに、2つの6ポート回路網の間とDUTを通じて電
力が1回より多くWj環するのを防ぐため、狭帯域のア
イソレータを設けることが不可欠である。
狭帯域の部品または基準器を用いる必要がなく、上記の
欠点を11イ消して広帯域の動作を可能とする本発明の
一実施例が第3図に示しである。
第3図を参照すると、2つの6ポート回路網40.41
が2つのテストポート42.43にそれぞれ接続され、
テスト動作時雨ボート間にDUT2が接続される。各回
路*40.41は第2図に示したのと同じ形で、2つの
6dB方向方向性器44.45が図示のごと(接続され
ている。これらの方向性結合器44.45は別の16d
B方向性結合器60と、スイッチング回路!1ff48
と、成端発生器46の一部を形成する電力分割器49と
を介して、所要周波数の励起信号を発生するRF源3に
連結され、成端発生器46が両回路′fF440.41
を較正するのに使われる。方向性結合器60で分割され
た入射電力の一部が負の帰還信号としてRF 源3に戻
され、RF’F2O3力電力レベルを制御する。RF源
の周波数が広帯域にわたって掃引されるときに生じる電
力の変化を補償するため、帰還ループ内に制御回路(不
図示)が含まれている。
スイッチング回路網48は3つの相互に接続されたハイ
ブリッド結合器50.51.52で構成され、両結合器
50.51の各第4ボートが通常の方法により整合負荷
53で成端されるとともに、3dBJ衰器54が結合器
52の2つの入力ポートの各々に介設されている。また
スイッチング回路!1448は、結合器50または51
のいずれかをRF源3に接続可能なスイッチ装置55も
具備する。成端発生器46は可変移相器56と可変減衰
器57を有し、これらが出力ポート58に現われるRF
源信号の位相及び大きさを変えるのに使われる。
テスト動作時、RF源3からの電力がテストポート42
または43のどちらかを介して被テスト装置に与えられ
、入射波と反射波が方向性結合器44.45を介して6
ポート回路網40.41に導かれる。両回路網40.4
1の4つの出力ポート覧現われる電力がそれぞれ測定さ
れ、(第2図に示した)各式が計算されてDUT2の特
性を求める。
スイッチング回路m48は、スイッチ位置に関わりなく
 (つまりテストポート42.43のどちらがRF源3
から電力を受けているかに関わりなく)2つの6ポート
回路網40.41が方向性結合器52を介してRF電力
のサンプルを受は取り、両6ボート回路網が同時に動作
するように構成されている。スイッチ装置55の非再現
性による影嘗を最少限とするためスイッチング回路網4
8の後方でサンプルが取り出され、非再現性の影響は所
望パラメータの計算時に割り出すことができる。
スイッチング回路網48の構成は能動装置であるr)U
Tが整合負荷の下で動作するのを可能とするので、増r
lJ器測定において何らの問題も生じない。
従って、アイソレータを必要とせず、広帯域の動作が可
能である。
2つの6ポート回路網はベクトル電圧計型である:すな
わちベクトル電圧計が2つのベクトル電圧のベクトル比
を求める。各6ポート回路網は(第2図の25.26に
対応した)2つの入力ポートを有し、そこでの2つの信
号が一緒に割り出される。スイッチ装置55が第3図に
示した順位置にあるとき、6ポート回路¥1440がテ
ストポート42でDOT2の反射波を測定し、6ポート
回路網41がテストポート43でDOT2の透過波を測
定する。スイッチ装置55が逆の位置に移動されると、
6ポート回路1i141がテストポート43で反射波を
測定し、6ポート回路′lI440がテストポート42
で透過波を測定する。従って、6ポート回路網が正確に
較正されていれば、4つの散乱パラメータ(S−パラメ
ータ)を全て個々に測定可能である。
正しい較正を行なうため、任意の成端発生器46が使わ
れる。
2型彫6ボート回路網の較正は、2つの段階で実行され
る。第1段階では、6ポート回路網が4ポート回路網に
縮小される、すなわち未知係数の数が4ポート回路網に
対応した数に減少される。
第3図に示した回路において、反射または透過いずれの
測定に使われるかに関わりなく、削減定数は特定の6ポ
ート回路網について一定のま\とななる。
6ポート回路網は較正で考慮すべき12個のエラー路を
有し、第3図に示した回路はRF源信号の基準サンプル
を2つの6ポート回路網へ送るのに使われるハイブリッ
ド結合器50.51.52の構成に付随した余分のリー
ク路を有する。これらのリーク路は成端発生器46を用
いて励起され、定量化される。電力分割器49がRF源
からの電力を、一方における2つの6ポート回路網と他
方における切換可能移相器及び切換可能減衰器との間に
分割する。
発明の第1に述べた特徴によれば、RF倍信号常に同じ
テストポートへ供給されるのでスイッチ装置55を省略
できるが、結合器52からの基準信号は各々同じくそれ
ぞれの6ポート回路網40゜41に供給される。この構
成は、テストの手順中DUT2への接続を繰り返し反転
する必要があるため、使用上や5不便である。
【図面の簡単な説明】
第1図は説明系統図; 第2図は6ポートネツトワークの系統図;及び第3図は
発明の実施例を示す系統図である。 1;40.41・・・6ポート回路網、2・・・被テス
ト装置(DOT)、 3・・・高周波信号源、 21.22.23.24・・・出力ポート(検出器)、 42.43・・・テストポート、 44.45・・・方向性結合器、 46・・・成端発生器、 48・・・結合手段(スイッチング回路網)、50.5
1.52・・・電力分割器(ハイブリッド結合器)、 54・・・電力減衰器、 55・ ・ ・スイッチ、 56・・・可変移相器、 57・・・可変減衰器。 図面の浄8(内容1コ堅Tな1) 第3図 手続補正書(方式) %式% 1、事件の表示   昭和62年特許願第7974号 
句へ2、発明の名称    テ ス ト 機 器3、補
正をする者 事件との関係  出願人 名 称  マルコーニ インストルメンツ リミテッド
4、代理人

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被テスト装置に接続可能なそれぞれのテストポート
    を有する2つの6ポート回路網;上記テストポートの一
    方にだけ接続され、該テストポートに高周波信号を加え
    る共通の高周波信号源及び該高周波信号を基準信号とし
    て両方の6ポート回路網へ同時に直接供給する手段;を
    具備したテスト機器。 2、被テスト装置に接続可能なそれぞれのテストポート
    を有する2つの6ポート回路網;上記テストポートへ切
    換可能に接続され、テストポートの一方または他方にだ
    け高周波信号を随意加える共通の高周波信号源;及び該
    高周波信号を基準信号として両方の6ポート回路網へ同
    時に供給する手段;を具備したテスト機器。 3、前記手段が高周波信号源へ切換可能に接続される2
    つの電力分割器を具備し、各電力分割器の一出力がそれ
    ぞれのテストポートに接続され、各電力分割器の他方の
    出力が電力減衰器を介して両方の6ポート回路網に接続
    された特許請求の範囲第2項記載のテスト機器。 4、前記電力分割器がハイブリッド結合器であり、同時
    操作式の二路スイッチが設けられて高周波信号源へ切換
    可能に接続し、該スイッチが高周波信号源に接続されな
    い方の電力分割器の入力に特性インピーダンスを接続す
    るように動作する特許請求の範囲第3項記載のテスト機
    器。 5、前記手段が前記電力減衰器を介して前記2つのハイ
    ブリッド結合器へそれぞれ接続された2つの入力を有す
    る第3のハイブリッド結合器を含む特許請求の範囲第4
    項記載のテスト機器。 6、各テストポートが、6ポート回路網への入射電力を
    所定の割合で振り分ける方向性結合器を介して、高周波
    信号源とそれぞれの6ポート回路網に接続された特許請
    求の範囲第2項ないし第5項のいずれか1項に記載のテ
    スト機器。
JP62007974A 1986-01-17 1987-01-16 テスト機器 Pending JPS62240870A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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Publications (1)

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EP (1) EP0234111B1 (ja)
JP (2) JPS62190471A (ja)
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DE (1) DE3677757D1 (ja)
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5386194A (en) * 1991-10-18 1995-01-31 Harris Corporation Digital impedance determination using peak detection of current and voltage samplers
GB2263783B (en) * 1992-01-27 1995-12-20 Marconi Instruments Ltd Circuits for use in the detection and location of a fault or faults in a device under test
FR2707398B1 (fr) * 1993-07-09 1995-08-11 France Telecom Dispositif de mesure vectorielle de signaux hyperfréquences de même pulsation, de type jonction à six accès.
US6366097B1 (en) * 2000-04-26 2002-04-02 Verizon Laboratories Inc. Technique for the measurement of reflection coefficients in stored energy systems
US7070382B2 (en) 2003-04-16 2006-07-04 Mcneilus Truck And Manufacturing, Inc. Full eject manual/automated side loader
JP4517119B2 (ja) * 2007-09-12 2010-08-04 株式会社キャンパスクリエイト 線形マルチポートのシステムパラメータの測定方法、ベクトルネットワークアナライザを用いた測定方法及びプログラム
US11474137B2 (en) * 2020-09-18 2022-10-18 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Test system

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EP0234111B1 (en) 1991-02-27
GB8609227D0 (en) 1986-05-21
ATE61122T1 (de) 1991-03-15
JPS62190471A (ja) 1987-08-20
EP0234111A1 (en) 1987-09-02
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GB8601108D0 (en) 1986-02-19
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GB2185583A (en) 1987-07-22
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