RU2233454C2 - Способ измерения параметров свч четырехполюсников и устройство для его осуществления - Google Patents

Способ измерения параметров свч четырехполюсников и устройство для его осуществления Download PDF

Info

Publication number
RU2233454C2
RU2233454C2 RU2002123474/09A RU2002123474A RU2233454C2 RU 2233454 C2 RU2233454 C2 RU 2233454C2 RU 2002123474/09 A RU2002123474/09 A RU 2002123474/09A RU 2002123474 A RU2002123474 A RU 2002123474A RU 2233454 C2 RU2233454 C2 RU 2233454C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
reflectometer
amplitude
microwave
parameters
modulated signal
Prior art date
Application number
RU2002123474/09A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2002123474A (ru
Inventor
С.М. Никулин (RU)
С.М. Никулин
В.П. Хилов (RU)
В.П. Хилов
М.Е. Налькин (RU)
М.Е. Налькин
Original Assignee
Хилов Владимир Павлович
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Хилов Владимир Павлович filed Critical Хилов Владимир Павлович
Priority to RU2002123474/09A priority Critical patent/RU2233454C2/ru
Publication of RU2002123474A publication Critical patent/RU2002123474A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2233454C2 publication Critical patent/RU2233454C2/ru

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств с стандартных каналах и для антенных измерений. Технической задачей изобретения является увеличение динамического диапазона измерений и расширение его функциональных возможностей. Сущность способа заключается в создании различных режимов возбуждения измеряемого объекта через два двенадцатиполюсных рефлектометра, включающий режим двух односторонних возбуждений измеряемого объекта амплитудно-модулированным сигналом и измерения рефлектометрами отношений (комплексных амплитуд отраженных b и падающих a волн на входах измеряемого устройства. При измерении проводят возбуждение измеряемого объекта со стороны первого рефлектометра амплитудно-модулированным сигналом, а со стороны второго рефлектометра немодулированным сигналом и наоборот, определяют ρ 2 2 , связанное с определяемыми S-параметрами приведенными соотношениями. При возбуждении измеряемого объекта со стороны первого рефлектометра немодулированным сигналом, а со стороны второго рефлектометра амплитудно-модулированным сигналом определяют ρ 2 1 , связанное с определяемыми S-параметрами также приведенными в формуле соотношениями. Устройство содержит генератор СВЧ с подсоединенным к его выходу делителем мощности, два амплитудных модулятора, один из которых подключен к первому выходу делителя мощности, а другой ко второму выходу делителя мощности, два двенадцатиполюсных рефлектометра, вход каждого из которых соединен с выходом соответствующего амплитудного модулятора, а выход является входом для подключения исследуемого СВЧ-четырехполюсника, два СВЧ-вентиля, каждый из которых включен между выходом модулятора напряжения и входом соответствующего рефлектометра. В варианте выполнения устройства еще два СВЧ-вентиля включены между одним из выходов делителя мощности и входом соответствующего амплитудного модулятора. 2 с. и 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств в стандартных каналах и для антенных измерений.
Известен способ измерения волновых параметров рассеяния четырехполюсных устройств анализатором цепей с двумя рефлектометрами (Ноеr С.A., A. Network Analyser Incorporating two six-port Reflectometer-IEEE Trauson Microwave theory and techniques, 1977, vol. Мtt-25, №12, p. 1070-1074).
Измеряемое устройство по этому способу возбуждается с обоих входов одновременно СВЧ сигналами с разными фазовыми сдвигами. В каждом из трех режимов возбуждения (k=1, 2, 3) рефлектометры фиксируют отношения (комплексных амплитуд отраженных и падающих волн на входах (i=l, 2) измеряемого устройства ρ k i =b k i k i . Система уравнений ρ k 2 S11 k 1 S22-Δ =ρ k 1 ρ k 2 ; k=1, 2, 3, позволяет определить S-параметры взаимных четырехполюсных устройств, у которых S12=S21.
Известен способ измерения S-параметров элементов СВЧ-тракта по которому вычисленные в трех режимах измерения (с подключением разных нагрузок) значения коэффициентов отражения на входе и выходе СВЧ-четырехполюсника позволяют определить его S-параметры (авторское свидетельство SU №1677669, кл. G 01 R 27/28, 15.09.91), принятый в качестве прототипа.
Недостатком таких способов является ограниченный динамический диапазон измерений коэффициента передачи S21 в силу того, что через ρ k 1 определяется не S21, а произведение S12×S21, кроме того, для определения коэффициентов передачи S21 и S12≠S21 невзаимных СВЧ-четырехполюсников требуются специальные меры, усложняющие процесс измерений и снижающие точность измерений.
Технической задачей предлагаемого способа измерения параметров СВЧ-четырехполюсников является увеличение динамического диапазона измерений и расширение его функциональных возможностей.
Сущность предлагаемого способа измерения параметров СВЧ-четырехполюсников заключается в создании различных режимов возбуждения измеряемого объекта через два двенадцатиполюсных рефлектометра, включающих режим двух односторонних возбуждений измеряемого объекта амплитудно-модулированным сигналом и измерения рефлектометрами отношений ρ комплексных амплитуд отраженных b и падающих а волн на входах измеряемого устройства ρ 1 1 , ρ 1 2 , связанных с определяемыми S-параметрами соотношениями:
Figure 00000002
Figure 00000003
затем возбуждения измеряемого объекта со стороны первого рефлектометра амплитудно-модулированным сигналом, а со стороны второго рефлектометра немодулированным сигналом и наоборот, определения ρ 2 2 , связанного с определяемыми S-параметрами соотношением:
Figure 00000004
а при возбуждении измеряемого объекта со стороны первого рефлектометра немодулированным сигналом и со стороны второго рефлектометра амплитудно-модулированным сигналом определения ρ 2 1 , связанное с определяемыми S-параметрами соотношением:
Figure 00000005
и решением полученной системы из четырех уравнений с четырьмя неизвестными S11 S22 S12 S21.
Известен измеритель S-параметров элементов СВЧ-тракта, который содержит генератор СВЧ, четырехзондовые датчики, исследуемый четырехполюсник СВЧ, направленный ответвитель падающей волны, исследуемый двухполюсник СВЧ, трехканальный СВЧ-коммутатор, нагрузки с различными коэффициентами отражения, блок обработки информации и управления СВЧ-коммутатором (авторское свидетельство SU №1677669, кл. G 01 R 27/28, 15.09.91). Процесс измерения параметров элементов СВЧ-тракта состоит в определении коэффициентов отражения на входе устройства при подключении трех нагрузок. Полученные коэффициенты отражения на входе и выходе СВЧ-четырехполюсника позволяют определить его S-параметры.
Известно устройство для измерения параметров СВЧ-четырехполюсников, содержащее СВЧ-генератор с подсоединенным к его выходу делителем мощности, два двухпозиционных СВЧ-переключателя, управляемые блоком управления и обработки информации, два вентиля и два двенадцатиполюсных рефлектометра, между выходами которых включаются исследуемые СВЧ-четырехполюсники (Woods D. Explicite, Solution of calibration Equation for a Dual G-point Network Analyser. - Elektron Lett, 1979, vol. 15, 22, p. 718-720).
В качестве ближайшего аналога предлагаемого устройства для измерения параметров СВЧ-четырехполюсников принято устройство для измерения волновых параметров рассеяния СВЧ-устройств анализатором цепей с двумя рефлектометрами (IEEE Transactions on Microwave theory and techniques, vol. 38, 3, march 1990), содержащее СВЧ-генератор с подсоединенным к его выходу делителем мощности, два pin-модулятора напряжения, работающих на разных частотах, 3-dB квадратурный направленный ответвитель и два двенадцатиполюсных рефлектометра, между выходами которых включаются исследуемые СВЧ-четырехполюсники.
Недостатком вышеуказанных устройств является ограниченный динамический диапазон измерений, расширение которого возможно только за счет усложнения устройств, снижения их надежности и значительного повышения стоимости.
Технической задачей предлагаемого устройства, осуществляющее заявляемый способ измерения параметров СВЧ-четырехполюсников, является увеличение динамического диапазона измерения и расширение его функциональных возможностей.
Сущность технического решения заключается в том, что в устройство, содержащее генератор СВЧ с подсоединенным к его выходу делителем мощности, два амплитудных модулятора, один из которых подключен к первому выходу делителя мощности, а другой - ко второму выходу делителя мощности, два двенадцатиполюсных рефлектометра, вход каждого из которых соединен с выходом соответствующего амплитудного модулятора, а выход является входом для подключения исследуемого СВЧ-четырехполюсника, амплитудные модуляторы имеют одну частоту модуляции и дополнительно введены два СВЧ-вентиля, каждый из которых включен между выходом модулятора напряжения и входом соответствующего рефлектометра.
В варианте выполнения устройства в него введены два СВЧ-вентиля, каждый из которых включен между одним из выходов делителя мощности и входом соответствующего амплитудного модулятора. Это обеспечивает межканальную развязку в гомодинном режиме детектирования для исключения проникновения амплитудно-модулированного сигнала минуя объект измерения.
На фиг.1 и фиг.2 изображены структурные электрические схемы измерителя параметров СВЧ-четырехполюсников.
Измеритель параметров СВЧ-четырехполюсников, реализующий предложенный способ, содержит генератор СВЧ 1 с подсоединенным к его выходу делителем мощности 2, два амплитудных модулятора 3 и 4, один из которых 3 подключен к первому выходу делителя мощности 2, а другой 4 ко второму выходу делителя мощности 2, два двенадцатиполюсных рефлектометра 5 и 6, вход рефлектометра 5 соединен с выходом амплитудного модулятора 3 через вентиль 7, а вход рефлектометра 6 соединен с выходом амплитудного модулятора 4 через вентиль 8. Выходы рефлектометров 5 и 6 являются входами для подключения исследуемого СВЧ-четырехполюсника 9. Амплитудные модуляторы 5 и 6 имеют одну одинаковую частоту модуляции, они позволяют подавать на рефлектометры через вентили амплитудно-модулированный, немодулированный синусоидальный сигнал и переводить рефлектометры в режим пассивной нагрузки для измеряемого устройства. В последнем случае вход вентиля модулятор подключает к согласованной нагрузке. Вентили СВЧ 10 и 11 включены на каждом из выходов делителя мощности 2 перед входом соответствующего модулятора 3 и 4.
Схемная реализация устройства. В качестве СВЧ-генератора может быть использован генератор типа Г4-79 или встроенный синтезатор частоты. Делитель мощности выполнен в виде кольцевого делителя с развязкой порядка 20 дБ. СВЧ-вентили построены на основе У-циркуляторов. Рефлектометры могут быть выполнены аналогично прототипу (см. приложение) или по схеме свидетельства на полезную модель №23336. Модуляторы построены на транзисторных электронных ключах типа SW-439 и согласованных нагрузках (резисторы).
Способ на измерителе параметров СВЧ-четырехполюсников реализуется следующим образом.
При возбуждении исследуемого СВЧ-четырехполюсника 9 через рефлектометры 5 и 6 амплитудно-модулированным и немодулированным синусоидальными СВЧ-сигналами на выходах датчиков рефлектометров появляются напряжения, связанные с отношениями ρ i=bii комплексных амплитуд падающих и отраженных волн на соответствующих входах измеряемого устройства (i=1, 2). Измеренные при разных режимах возбуждения коэффициенты ρ k 1 , ρ k 2 позволяют определить комплексные элементы волновой матрицы рассеяния S11, S22, S12, S21 устройства.
Процесс измерения параметров элементов СВЧ-тракта состоит из следующих режимов возбуждения измеряемого объекта через два двенадцатиполюсных рефлектометра 5 и 6.
Проводят режим двух поочередных односторонних возбуждений измеряемого объекта 9 амплитудно-модулированным сигналом с первого (i=1), а потом со второго (i=2) входа и измерения рефлектометром 5, а потом рефлектометром 6 отношений ρ i комплексных амплитуд отраженных bi и падающих аi волн на соответствующих входах измеряемого устройства, связанных с определяемыми S -параметрами соотношениями:
Figure 00000006
Figure 00000007
где Гp1, Гp2 - комплексные коэффициенты отражения от рефлектометров 5 и 6 в плоскости подключения исследуемого СВЧ-четырехполюсника.
При каждом одностороннем возбуждении один рефлектометр активен и работает в режиме амплитудного детектирования, другой выполняет функцию пассивной нагрузки. Затем возбуждают измеряемый объект 9 со стороны первого рефлектометра 5 амплитудно-модулированным сигналом, а со стороны второго рефлектометра 6 немодулированным сигналом и в режиме гомодинного детектирования определяют ρ 2 2 , связанное с S-параметрами соотношением:
ρ 2 2 =S21a10/(1-S11Гp2)a10.
При возбуждении измеряемого объекта 9 со стороны первого рефлектометра 5 немодулированным сигналом, а со стороны второго рефлектометра 6 амплитудно-модулированным сигналом с модулятора 4 в режиме гомодинного детектирования определяют ρ 2 1 , связанное с S-параметрами соотношением:
ρ 2 1 =S12a20/(1-S22Гp2)a10.
Здесь а10/a20 - отношение комплексных амплитуд первичных падающих волн на измеряемое устройство.
Таким образом, S-параметры измеряемого устройства можно определить из системы уравнений (1), (2), (3), (4).
Существенно, что рефлектометры, возбужденные немодулированным синусоидальным сигналом, работают в режиме гомодинного детектирования, обладая повышенной чувствительностью к модулированному сигналу, прошедшему через объект измерения, и, следовательно, позволяют определить весьма малые значения коэффициентов передачи в диапазоне -40- -60 дБ.
Постоянство отношений комплексных амплитуд первичных падающих волн а2010 и комплексных коэффициентов отражения Гp1, Гр2 от рефлектометров обеспечивается при калибровке и измерениях развязывающими устройствами (СВЧ-вентилями 7, 8, 10, 11).
При измерении S-параметров устройств с коэффициентом передачи менее -40 дБ режим двухстороннего возбуждения амплитудно-модулированным сигналом позволяет определить ρ 3 1 ρ 3 2 , связанные с определяемыми S-параметрами соотношениями:
Figure 00000008
Figure 00000009
Эти соотношения вместе с уравнениями (1) (2) позволяют определить S-параметры устройств с КП от +10 до -40 дБ. Кроме того, каждый из рефлектометров с гомодинным детектированием информационных сигналов по существу является измерителем разности фаз и отношений уровней, что существенно расширяет функциональные возможности прибора. Так, например, для измерения амплитудно-фазового распределения электромагнитного поля в ближней зоне антенны или диаграммы направленности следует возбудить ее через рефлектометр амплитудно-модулированным сигналом, а приемную антенну подключить к другому рефлектометру с гомодинным детектированием сигналов. В устройстве отсутствуют дорогостоящие направленные ответвители, балансные смесители и ступенчатые фазовращатели, используемые в гомодинных анализаторах СВЧ-цепей. Таким образом, достоинство предлагаемого анализатора цепей с амплитудным и гомодинным детектированием информационных сигналов состоит в простоте СВЧ-тракта и прибора в целом, обладающего расширенным динамическим диапазоном и широкими функциональными возможностями.

Claims (3)

1. Способ измерения параметров СВЧ четырехполюсников путем создания различных режимов возбуждения измеряемого объекта через два двенадцатиполюсных рефлектометра, включающий режим двух односторонних возбуждений измеряемого объекта амплитудно-модулированным сигналом и измерения рефлектометрами отношений ρ 1 1 , ρ 1 2 комплексных амплитуд отраженных и падающих волн на входах измеряемого устройства, связанных с определяемыми S-параметрами соотношениями
Figure 00000010
и
Figure 00000011
отличающийся тем, что проводят возбуждение измеряемого объекта со стороны первого рефлектометра амплитудно-модулированным сигналом, а со стороны второго рефлектометра немодулированным сигналом и наоборот, определяют ρ 2 2 , связанное с определяемыми S-параметрами соотношением
Figure 00000012
а при возбуждении измеряемого объекта со стороны первого рефлектометра немодулированным сигналом, а со стороны второго рефлектометра амплитудно-модулированным сигналом определяют ρ 2 1 , связанное с определяемыми S-параметрами соотношением
Figure 00000013
где S11, S22, S12, S21 - комплексные элементы волновой матрицы рассеяния исследуемого СВЧ четырехполюсника;
Гр1, Гр2 - комплексные коэффициенты отражения от рефлектометров в плоскости подключения исследуемого СВЧ четырехполюсника;
α10, α20 - комплексные амплитуды первичных падающих волн на исследуемый СВЧ четырехполюсник.
2. Устройство по способу п.1, содержащее генератор СВЧ с подсоединенным к его выходу делителем мощности, два амплитудных модулятора, один из которых подключен к первому выходу делителя мощности, а другой ко второму выходу делителя мощности, два двенадцатиполюсных рефлектометра, вход каждого из которых соединен с выходом соответствующего амплитудного модулятора, а выход является входом для подключения исследуемого СВЧ четырехполюсника, отличающийся тем, что амплитудные модуляторы имеют одну частоту и дополнительно введены два СВЧ вентиля, каждый из которых включен между выходом модулятора напряжения и входом соответствующего рефлектометра.
3. Устройство по п.2, отличающееся тем, что в него введены два СВЧ вентиля, каждый из которых включен между одним из выходов делителя мощности и входом соответствующего амплитудного модулятора.
RU2002123474/09A 2002-09-02 2002-09-02 Способ измерения параметров свч четырехполюсников и устройство для его осуществления RU2233454C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002123474/09A RU2233454C2 (ru) 2002-09-02 2002-09-02 Способ измерения параметров свч четырехполюсников и устройство для его осуществления

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002123474/09A RU2233454C2 (ru) 2002-09-02 2002-09-02 Способ измерения параметров свч четырехполюсников и устройство для его осуществления

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2002123474A RU2002123474A (ru) 2004-03-20
RU2233454C2 true RU2233454C2 (ru) 2004-07-27

Family

ID=33412873

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2002123474/09A RU2233454C2 (ru) 2002-09-02 2002-09-02 Способ измерения параметров свч четырехполюсников и устройство для его осуществления

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2233454C2 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2662505C2 (ru) * 2015-09-24 2018-07-26 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Севастопольский государственный университет" Способ измерения комплексных коэффициентов отражения и передачи свч четырехполюсников
RU2710514C1 (ru) * 2018-11-01 2019-12-26 Общество с ограниченной ответственностью "Арзамасское приборостроительное конструкторское бюро" Способ измерения S-параметров объектов в нестандартных направляющих системах

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112798862A (zh) * 2020-12-30 2021-05-14 清远市天之衡传感科技有限公司 网络分析仪测量装置及系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IEEE TR, MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, 1977, v.МТТ-25, №12, р.1070-1074. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2662505C2 (ru) * 2015-09-24 2018-07-26 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Севастопольский государственный университет" Способ измерения комплексных коэффициентов отражения и передачи свч четырехполюсников
RU2710514C1 (ru) * 2018-11-01 2019-12-26 Общество с ограниченной ответственностью "Арзамасское приборостроительное конструкторское бюро" Способ измерения S-параметров объектов в нестандартных направляющих системах

Also Published As

Publication number Publication date
RU2002123474A (ru) 2004-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Nehring et al. Highly integrated 4–32-GHz two-port vector network analyzers for instrumentation and biomedical applications
US7924025B2 (en) System, device, and method for embedded S-parameter measurement
RU2524049C1 (ru) Устройство для измерения абсолютных комплексных коэффициентов передачи и отражения свч-устройств с преобразованием частоты
US7592818B2 (en) Method and apparatus for measuring scattering coefficient of device under test
JP2012515347A (ja) 被試験デバイスの高周波分析
US9720023B2 (en) Vector network power meter
EP0265073B1 (en) Test arrangement
US4808912A (en) Six-port reflectometer test arrangement and method including calibration
RU2687850C1 (ru) Устройство для измерения и способ определения комплексных коэффициентов передачи СВЧ-смесителей
Haddadi et al. Performance of a compact dual six-port millimeter-wave network analyzer
RU2233454C2 (ru) Способ измерения параметров свч четырехполюсников и устройство для его осуществления
RU2494408C1 (ru) Устройство для измерения параметров рассеяния четырехполюсника на свч
EP0234111B1 (en) Six-port reflectometer test arrangement
Yakabe et al. Complete calibration of a six-port reflectometer with one sliding load and one short
Fujiwara et al. Transmission coefficient measurement based on six-port correlator in 28-GHz-band
Bauch et al. A 2–30 GHz multi-octave planar microwave six-port for reflectometry applications
RU2682079C1 (ru) Устройство для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения СВЧ-устройств с преобразованием частоты
Magnuski A Wave Method of Measuring of Noise Parameters
Chen et al. Calibration and measurement of a wideband six-port polarimetric measurement system
RU2673781C1 (ru) Способ калибровки двухканального супергетеродинного приемника в измерителе комплексных коэффициентов передачи и отражения СВЧ-устройств с преобразованием частоты
RU2648746C1 (ru) Устройство для измерения абсолютных комплексных коэффициентов передачи СВЧ-смесителей
Elamaran et al. Optical-domain implementation of the microwave Txy family of calibration techniques
Boulejfen et al. A homodyne multiport network analyzer for S‐parameter measurements of microwave N‐port circuits/systems
Kouki et al. On the embedded vector RF measurements in frequency agile and reconfigurable front-ends
Nagora et al. Design and Development of 100 GHz Quadrature Heterodyne Interferometer system at IPR

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20060903