JPS62190471A - テスト機器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の鮮明 （産業上の利用分野） この発明は、高周波電気装置について電気測定を行なう
のに適したテスト機器に関する。本発明は、無線周波数
またはマイクロ波周波数の範囲における動作を意図する
ものである。

（従来の技術） 無線周波数（ＲＦ）及びマイクロ波用部品の特性を調べ
るのに使われる最も強力な手法の１つは、散乱パラメー
タ（Ｓ−パラメータ）モデルである。

このモデルでは、ＲＦ装置が各種の入出力端子を備えた
“ブラックボックス”として扱われる。各対の端子は“
ポート”と称される。当該装置の性能は、１つのポート
に電波を加え、この電波によって各ポートに生じる出現
波を記録することで定量化される。各電波間の関係が、
Ｓ−パラメータ行列と呼ばれる複素係数の行列の形で表
わされる。

こうした複素係数は、必要な電波を分離してそれらの間
の複雑な関係を評価する回路網アナライザによって測定
される。可変周波数発振器の周波数が特定の周波数帯域
にわたって制御される自動化回路網アナライザも開発さ
れている。これらのアナライザは非常に複雑で、入射波
と反射波をサンプルする方向性結合器またはブリッジを
具備する。そして、各サンプルの比がとられ、入射波と
反射波の大きさ及び位相を求める。約５００ＫＨｚより
高い周波数では位相角を直接測定できないので、それは
実施上複雑な過程となる。つまり、測定する前に、ＲＦ
サンプルを適切な周波数へ変換しなければならない。振
巾と位相の関係を正確に維持しながら周波数を変換する
のは、困難であるとともに高価につく。このようなヘテ
ロゲイン方式で使われるミキサやサンプラの特性は、極
度に線形でなければならない。

（発明が解決しようとする問題点） ６ポート回路網アナライザとして知られる機器は°、振
巾測定に依拠するもので位相情報を測定する必要がなく
、比較的Ｎ単なＲＦ回路を使え、６ポート路網アナライ
ザを正確に較正できる。しかし従来知られているように
、かかる機器は厳しい動作上の欠点を有する；つまり遅
（、使用が厄介で、熟練のオペレータを必要とする実験
室用の機器として主に見なされてきた。２ポートの被テ
スト装置（ＤＵＴ）の特性を充分に調べるためには、２
重構成の６ポート路網アナライザを使う必要がある。６
ポート回路網アナライザを用いて正確且つ再現可能な測
定を可能とするには、まずそのアナライザを完全に較正
し、アナライザの生じる振巾が正確且つ明瞭にＤＵＴの
特性パラメータへ変換可能なようにしなければならない
。こうした較正プロセスは時間を費し複雑で、熟練のオ
ペレータと高価なテスト機器を必要とする。

本発明は、改良されたテスト機器を提供しようとするも
のである。

（問題点を解決するための手段） 本発明によれば、テスト機器は被テスト装置に接続可能
なテストポートを有する６ポート路編；テストポート、
６ボートネツトワーク及び成端発生器に接続される高周
波信号源：上記成端発生器が高周波信号を変更するよう
に可変のインピーダンスを含む；及び変更された高周波
信号をテストポートに直接導きテスト機器の較正を可能
とする手段；を具備する。

この発明の重要な特徴によれば、成端発生器は、１より
大きい被テスト装置の反射係数に対応した変更高周波信
号を発生可能である。１より大きい係数とは、能動的被
テスト装置のシミュレーションを意味する。これは、テ
スト機器を較正して便利且つ正確な較正値を与えるよう
に最適化し得る条件を付与可能とする。こうして較正し
たテスト機器は、広範囲の装置を正確にテストし測定す
るのに使え、マイクロ波装置で用いるのに特に適する。

成端発生器は１つだけの６ポート路網を較正するのにも
使えるが、多（の目的上、被テスト装置の特性を完全に
調べるには２つの６ポート回路網を用いる必要がある。

このような２つの回路網を使えば、決定すべき較正パラ
メータの数が多くなるのは明らかである。

被テスト装置に接続可能なテストポートをそれぞれ有す
る２つの６ポート路網から成る構成では、共通の高周波
信号源が各々のテストポートへ切換可能に接続されて、
高周波信号がテストポートの一方または他方に随意加え
られ、さらに高周波信号が標準として両６ポート回路網
へ同時に供給される。成端発生器によって変更される変
更高周波信号が、各テストポートへ順次加えられる。

成端発生器は切換によって可変な減衰器と、切換によっ
て可変な移相器を含む。これらの減衰器及び移相器を調
節し多数の異なった較正信号を発生することによって、
２つの６ポート路網の各出力が充分な数の連立方程式を
表わすようにし、各種の較正係数を計算可能としてテス
ト機器の特性を完全に調べることができる。

以下、本発明を添付の図面を参照しながら一例としてさ
らに説明する。

（実施例） 前述したように、本発明では一対の６ポート路網を用い
る。“６ボート”という用語は回路網アナライザの型式
分類に発しており、前述したような４ポートを持つ従来
のヘテロダイン型に対して、１ボートの装置を測定する
のに用いる６ボートを持ったアナライザを意味する。従
来の４ポートはそれぞれ次のために使われる；（ｉ）Ｒ
Ｆ源から被テスト装置（ＤＵＴ）へ加えられる入射信号
；（ｉｉ）ＤＵＴへの入射波の出力サンプル′ａ″；（
ｉｉｉ）ＤＵＴからの反射波の出力サンプル“ｂｏ；及
び（ｉｖ）ＤＵＴが接続されるテストポート。６ポート
反射畦の場合、６つのポートはそれぞれ次のために使わ
れる；（ｉ）ＲＦ源から被テスト装置に加えられる入射
信号；　（ｉｉ　）テストポート；（ｉｉｉ　）主に信
号“ａ”から成るサンプル；及び＜ｉ＝）　、（ｖ）　
、（ｖｉ）信号″ａ”と”ｂ”の異なった組み合せサン
プル。但し、“ａ”　と“ｂｏは先に定義した通り。

被テスト装置（ＤＵＴ）２に接続された６ポート回路網
１を含む簡単なシステムが第１図に示してあり、ＲＦ［
３がテスト信号を供給する。

各ポートについての６ポート方程式は次のように表わせ
る： Ｅ　（Ｆ；　＋　ｊＧ）　−Ｐ＝ ｒ’　＝　１　＋　ｊ　Ｘ　＝　　□ 但しＰ、は１番目のポートに接続された電力計の読取値
で、ボー）Ｐ３は“ａ”ベクトルだけをサンプルする。

パラメータＦは次式で定義される二人耐波（ｂ） 上記方程式の導関数は、Ｃ，Ａ、　１ｌｏｅｒの論文［
６ボート及び８ポートのジャンクションを用いた能動及
び受動回路パラメータの測定Ｊ　、ＮＢＳ　Ｔｅｃｈｎ
。

Ｎｏｔｅ　６７３．１９７５に示しである。

６ポ一ト反射計の較正は、上記の形の幾つかの連立方程
式を解くことを含む。既知の異なったＤＵＴがテストポ
ートに配置され、電力計の読取値が記録され、それに基
づいて１１個の未知係数を求めることができる。

Ｇ、　　Ｆ、　Ｅｎｇｅｎ、　ＩＥＥ　Ｔｒａｎｓ、　
ＮＴＴ−２６、Ｎｏ、１２ｐｐ　９５１〜９５７．１９
７８年１２月によって、６ポート回路網の較正を２段階
に分けることが提案されている。第１段階は“６ボート
から４ポートへの縮小で、６ポートの内部制約を確立す
る。これらの内部制約は１１個のうち５個の係数を説明
するもので、“６番目のボート”はあいまいになる解の
選択を決定するためにだけ導入されたものだが他のボー
トに一定の指示を与えねばならないことから生じる。こ
の第１段階は、多くの未知の成端に関する電流計測定値
を読み取ることによって実施できる。較正の第２段階は
、ヘテロゲイン式回路網アナライザの４ポート反射計を
較正するのに使われるのと同じである。この段階では３
つの基準を用いて、残り６個の係数を求める。

特に優れた理論的性能を与える６ポート路網の一例が第
２図に示してあり、これはボートＰ３〜Ｐ６から現われ
る“ａ”及びｂ”波の組み合せについて有効な選択を与
える。つまりこれらの組み合せは、測定系に固有な不確
実性を最小に保持する。第２図は、理論上は＼゛理想的
な性能を与えられるハイブリッド結合器を用いた回路構
成を示している。この構成はＧ、　　Ｆ、　Ｅｎｇｅｎ
、により、「マイクロ波測定の６ポ一ト手法を実施する
ための改良回路Ｊ　、ＩＥＥ　Ｔｒａｎｓ、　ＭＴＴ−
２５、Ｎｏ、１２．１９８７年１２月　ｐｐ１０８０〜
１０８３で提案された。

第２図には、ＲＦ源３と被テスト装置（ＤＵＴ）２の他
、４つの相互に接続されたハイプリント結合器１１．１
２．１３．１４から成る６ポート回路網が示しである。

各ハイブリッド結合器は、２つの入力ポート１５．１６
と２つの出力ポート１７．１８を有する４ボート装置で
、入力ポート１５に加わる入力信号が等しく分割され、
入力電力の半分が各出力ポート１７．１８から現われる
とともに（内部用は無視する）、出力ポート１８の信号
が出力ポート１７の信号より９０″だけ遅れるように構
成されている。この点は、第３図の上方左隅に模式的に
表わしである。逆に、入力ポート１６に加わる信号は２
つの出力ポート１７と１８の間で等しく分割されるが、
出カポ−１−１７の信号の方が出力ポート１８の信号よ
り９０°だけ遅れる。ハイブリッド結合器を横切って正
味の位相遅れは生じないと通常仮定するが、実際にはそ
うならず、図示のごとき相互に接続されたハイブリッド
結合器の構成において相殺される。

６ポート回路網の４つの出力ポート２１．２２．２３．
２４の各々に、２つの入力ポート２５．２６への信号印
加から生じ、反射波すと入射波ａを図中に示した割合で
含む出力信号値が示しである。但し、ｒ＝ｂ／ａ０５ポ
ート路網の通常の表示Ｐ１〜Ｐ６も第２図に示しである
。

２つの６ポート路網を使えば、２ボートＤＯＴの振巾及
び位相特性を振巾の測定だけから推定可能になる。これ
まで、２型彫６ポート回路網アナライザの使用は重大な
欠点を伴なっていた。、１つの欠点は前述した通りで、
すなわちＤＵＴはその特性が入出力ボートへ同時に加わ
る電力と独立であるようなものでなければならない。別
の欠点は、Ｓ−パラメータを決定する較正手順が、２つ
のテストポート（ＤＵＴが接続されるボート）での２の
電波間に３つ以上でしかも再現可能な関係を与えるため
、切換可能移相器及び切換可能減衰器の使用を含むこと
である。また広帯域の動作では、多（の狭帯域精度の直
線基準器が必要とされる。

さらに、２つの６ポート回路網の間とＤＵＴを通じて電
力が１回より多く循環するのを防くため、狭帯域のアイ
ソレータを設けることが不可欠である。

狭帯域の部品または基準器を用いる必要がな（、上記の
欠点を解消して広帯域の動作を可能とする本発明の一実
施例が第３図に示しである。

第３図を参照すると、２つの６ポート回路網４０．４１
が２つのテストポート４２．４３にそれぞれ接続され、
テスト動作時雨ボート間にＤＩＩＴ２が接続される。各
回路網４０．４１は第２図に示したのと同じ形で、２つ
の６ｄＢ方向性結合器４４．４５が図示のごとく接続さ
れている。これらの方向性結合器４４．４５は別の１６
ｄＢ方向性結合器６０と、スイッチング回路網４８と、
成端発生器４６の一部を形成する電力分割器４９とを介
して、所要周波数の励起信号を発生ずるＲＦ源３に連結
され、成端発生器４６が両回路網４０．４１を較正する
のに使われる。方向性結合器６０で分割された入射電力
の一部が負の帰還信号としてＲＦ源３に戻され、ＲＦ源
３の出力電力レベルを制御する。ＲＦ源の周波数が広帯
域にわたって掃引されるときに生じる電力の変化を補償
するため、帰還ループ内に制御回路（不図示）が含まれ
ている。

スイッチング回路Ｍ４４８は３つの相互に接続されたハ
イブリッド結合器５０．５１．５２で構成され、両結合
器５０．５１の各第４ボートが通常の方法により整合負
荷５３で成端されるとともに、３ｄＢ減衰器５４が結合
器５２の２つの人力ポートの各々に介設されている。ま
たスイッチング回路′！Ａ４８は、結合器５０または５
１のいずれかをＲＦ源３に接続可能なスイッチ装置５５
も具備する。成端発生器４６は可変移相器５６と可変減
衰器５７を有し、これらが出力ポート５８に現われるＲ
Ｆ源信号の位相及び大きさを変えるのに使われる。

テスト動作時、ＲＦｔＡ３からの電力がテストポート４
２または４３のどららかを介して被テスト装置に与えら
れ、入射波と反射波が方向性結合器４４．４５を介して
６ポート回路網４０．４１に導かれる。両回路網４０．
４１の４つの出力ポートに現われる電力がそれぞれ測定
され、（第２図に示した）各式が計算されてＤＵＴ２の
特性を求める。

スイッチング回路網４８は、スイッチ位置に関わりなく
　（つまりテストポート４２．４３のどららがＲＦ源３
から電力を受けているかに関わりなく）２つの６ポート
路網４０．４１が方向性結合器５２を介してＲＦ電力の
サンプルを受は取り、両６ポート回路網が同時に動作す
るように構成されている。スイッチ装置５５の非再現性
による影響を最少限とするためスイッチング回路′ｙ４
４８の後方でサンプルが取り出され、非再現性の影響は
所望のパラメータの計算時に割り出すことができる。ス
イッチング回路網４８の構成は能動装置であるＤＵＴが
整合負荷の下で動作するのを可能とするので、増巾器測
定において何らの問題も生じない。従って、アイソレー
タを必要とせず、広帯域の動作が可能である。

２つの６ポート路網はベクトル電圧計型である；すなわ
ちベクトル電圧計が２つのベクトル電圧のベクトル比を
求める。各６ポート回路網は（第２図の２５．２６に対
応した）２つの入力ポートを有し、そこでの２つの信号
が一緒に割り出される。スイッチ装置５５が第３図に示
した順位置にあるとき、６ポート回路網４０がテストポ
ート４２でＤＵＴ２の反射波を測定し、６ポート路網４
１がテストポート４３でＤＵＴ２の透過波を測定する。

スイッチ装置５５が逆の位置に移動されると、６ポート
路ｍ４１がテストポート４３で反射波を測定し、６ポー
ト路！４４０がテストポート４２で透過波を測定する。

従って、６ポート路網が正確に較正されていれば、４つ
の散乱パラメータ（Ｓ−パラメータ）を全て個々に測定
可能である。

正しい較正を行なうため、任意の成端発生器４６が使わ
れる。

第２及び３図に示した６ポ一ト反射計は４つの検出器２
１．２２．２３．２４を有し、それらの指示は以下の各
式によって被テスト装置（ＤＵＴ）の反射係数と関連付
けられる： 但しＰＩ、２．３．４は電力指示、 ｃ、ｄ２．３．４は６ボートハードウエアに依存した複
素定数、 ｅ２．３．４　　は６ボートハードウエアに依存した実
定数、 Ｆ　　　　　　はＤＵＴの反射係数。

各複素定数は２つの実数から成り、従って合計１１個の
実定数が６ポート回路を記述する。

これらの実定数が判明すれば、４つの検出器応答を観測
することによって１ポート装置の反射係数を決定できる
。４つの検出器応答からｒを評価する幾何的解釈は、「
で交差する３つの円で与えられる。

このような幾何的表示が第４図に示してあり、同図中３
つの円の中心がＱｌ、Ｑ２、Ｑ３である。

これらの円の各中心は、交差点と結ぶそれぞれの線が比
較的大きい角度を成し、Ｆを表わす位置が正確に決定で
きるように選ばれる。

容置の中心と半径は、観測された応答及び６ポート定数
の関数である。つまり、ｒ平面内の各点はそれに対応し
た検出器応答の特有な組み合せを持ち、これは次式で記
述される： 但し弐（２）中の１１個の実定数は式（１）中の１１個
の実定数の関数である。

６ポート回路の較正は、１１個の実定数を用いなければ
測定ができないため、それらの実定数を評価するプロセ
スから成る。一般に、既知の特性、この場合には既知の
ｒを持った装置を６ポート反射計に接続し、そのときの
検出器応答から一組の線形または非線形の連立方程式が
形成され、未知の定数について解かれる。

２型彫６ポート回路網の較正は、２つの段階で実行され
る。第１段階では、６ポート回路網が４ポート回路網に
縮小される、すなわち未知係数の数が４ポート回路網に
対応した数に減少される。

第３図に示した回路において、反射または透過いずれの
測定に使われるかに関わりなく、削減定数は特定の６ポ
ート回路網について一定のま−とななる。

６ポートから４ポートへの縮小を達成するため、理論的
には９種の異なった負荷をテストポートに接続する必要
がある。従来、これらの負荷は可動の短絡回路に続く可
変減衰器をテストポートへ接続することにより実現でき
た。減衰器と短絡回路位置の異なった組み合せが、異な
った負荷をもたらす。尚、これらの組み合せは全て受動
負荷、つまり１「１−≦−１となることに留意されたい
。

しかしながら、受動及び能動両負荷の組み合せを用いる
ことで、もっと有利な条件の縮小が得られる。これは、
６ポートから４ボートへの縮小の反復部分が発散する見
込みの少いことを意味する。

またこれは、「平面内にある負荷の円中心にあるインピ
ーダンスに対する相対位置と関連している。

能動負荷の使用はＦ平面内における任意成端の位置融通
性を高め、この結果縮小上より有利に条件付けられた一
組のデータが得られる。

テストポートに接続されると、入力電力よりも大きい電
力がテストポートへ印加可能でＩＦ＋＞１となるため、
任意成端発生器が能動負荷として機能可能である。発生
し得る最大の１「１は、回路の構成と部品の定格値に依
存する。実施上、１「１χ３までの値が使われ好結果を
得ている。

任意成端発生器の特性上１より大きいｒ値を発生可能で
あり、２型彫６ボート反射計の特性を計算してそれを完
全に較正するのにＦ値を有利に使えるようにしている。

ヘテロダイン式ＡＮＡ　（自動化回路網アナライザ）６
ポート回路網は較正で考慮すべき１２個のエラー路を有
するが、第３図に示した回路はＲＦ源信号の標準サンプ
ルを２つの６ポート路網へ送るのに使われるハイブリッ
ド結合器５０．５１．５２の構成に付随した余分のリー
ク路を有する。

これらのリーク路は成端発生器４６を用いて励起され、
定量化される。電力分割器４９がＲＦ源からの電力を、
一方における２つの６ポート回路網と他方における切換
可能移相器及び切換可能減衰器との間に分割する。

スイッチ装置５５が第３図に示すごとく順位置にある状
態で、任意成端発生器４６がテストポート４３に接続さ
れ、テストポート４２に接続された各標準インピーダン
ス毎に（つまり開回路、短絡回路または整合負荷回路毎
に）、任意成端発生器を順次消勢及び付勢しながら、両
６ボート回路網４０．４１の各検出器２１．２２．２３
．２４を用いて測定を行なう。次にスイッチ装置５５を
反転し、任意成端発生器４６及びインピーダンス基準の
ポートを変えて同様の測定を行なう。最後に、２つのテ
ストポート４２．４３が相互に接続され、第３番目の測
定を行なう。

成端発生器４６は、６ボートから４ボートへの縮小を達
成するのに用いられる。較正プロセスのこの縮小段階中
、成端発生器４６の出力５８が各テストポート４２．４
３に順次接続される。減衰器５６と移相器５７を変化さ
せることにより、能動及び受動両方で広範囲の成端が与
えられる。この較正の構成は任意成端発生器と称され、
反射及び透過両方を発生可能である。６ボートから４ボ
ートへの縮小段階中、成端発生器４６は幾つかの任意反
射を与えるように構成されている。その後、較正の第２
段階では（この期間中に“縮小された”４ポート回路網
が較正される）、幾つかの任意透過を与えるのに成端発
生器４６が使われる。

第５図は、２爪形６ボート回路網用の別の“−通路“構
成を示している。第５図では固定的に、一方の６ポート
路網６１が反射を測定するのに使われ、他方の６ポート
回路網６２が透過を測定するのに使われる。減衰器６３
は、第３同に対応物がある減衰器５４と同じように信号
レベルをバランスさせるのに使われる。６ボートから４
ボートへの縮少は前例と同じく成端発生器４６を使って
行なわれ、その後の“４ボート”回路網の較正は第３図
に示した構成の順モードの場合と同しである。第５図中
のその他の構成部品は第３図と同じ参照番号を持ち、そ
れらと同じ機能を与える。

第５図に示した一通路形回路網アナライザは、測定の進
行につれユーザが連続的にＤＯＴを反転しなければなら
ないので、第３図に示したアナライザはど使うのに便利
でない。しがし、第５図の構成はより安価で、必要な部
品点数が少なく、スイッチ１員や再現性のエラーが存在
しないため精度の向上という利点を持つ。この点は、ス
イッチが主として機械的で常に適切に再現可能とはなら
ないので、テスト機器をガ波管で用いる場合特に重要な
因子である。

成端発生器は、第６図に示したような簡単な反射計回路
にも組み込める。ＲＦ源３と成端発生器４６は第３図に
関連して説明したものに対応しているが、６ポート反射
計６４は単一の反射計だけを使っている点で従来のもの
と同じで、第３及び５図において行なったように畜周波
信号の別の標阜サンプルを与えるのには適さない。第６
図で、成端発生器４６は較正プロセス中の６ボートから
４ボートへの縮小段階でのみ使われる。

【図面の簡単な説明】

第１図は説明系統図； 第２図は６ボートネソトワークの系統図；第３図は発明
の実施例を示す； 第４図は説明図；及び 第５及び６図は発明の別の実施例を示す。 １；４０．４１；６１．６２；６４・・・６ポ一１〜回
路網、２・・・被テスト装置（ＤＵＴ）、３・・・高周
波信号源、２１．２２．２３．２４・・・出力ボート（
検出器）、４２．４３・・・テストポート、４６・・・
成端発生器、４８・・・結合手段（スイッチング回路網
）、５６・・・可変移相器、５７・・・可変減衰器。 ＲＦＪ、 １１ｍ 第４図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、被テスト装置に接続可能なテストポートを有する６
   ポート回路網；テストポート、６ポートネットワーク及
   び成端発生器に接続される高周波信号源；上記成端発生
   器が高周波信号を変更するように可変のインピーダンス
   を含む；及び変更された高周波信号をテストポートに直
   接導きテスト機器の較正を可能とする手段；を具備した
   テスト機器。 ２、テストポートに直接導かれる変更高周波信号が、１
   より大及び小の反射係数を持つ被テスト装置をシミュレ
   ートする特許請求の範囲第１項記載のテスト機器。 ３、高周波信号電力のうち所定の割合が成端発生器に導
   かれる特許請求の範囲第１又は２項記載のテスト機器。 ４、成端発生器が可変の位相減衰器を含む特許請求の範
   囲第１、２又は３項記載のテスト機器。 ５、成端発生器が可変の移相器を含む特許請求の範囲第
   １、２、３又は４項記載のテスト機器。 ６、２つの６ポート回路網が設けられ、共通の高周波信
   号源が各々のテストポートへ切換可能に接続されて、高
   周波信号がテストポートの一方または他方に随意加えら
   れ、さらに高周波信号が標準として両６ポート回路網へ
   同時に供給される前記特許請求の範囲のいずれか１項記
   載のテスト機器。 ７、前記特許請求の範囲のいずれか１項記載のテスト機
   器を較正する方法であって、成端発生器の出力を６ポー
   ト回路網のテストポートに接続し、且つ可変のインピー
   ダンスを複数の異なった値へ連続的に変更しながら、変
   更高周波信号をテストポートに加えるステップ；上記の
   各値毎に６ポート回路網の出力ポートに与えられる電力
   レベルを測定するステップ；及び測定された電力レベル
   からテスト機器の特性を計算するステップ；を含む方法
   。 ８、前記複数の異なった値が振巾と位相の両方における
   変化を含む特許請求の範囲第７項記載の方法。 ９、各々がテストポートを持つ２つの６ポート路網が設
   けられ、変更高周波信号が２つのテストポートに順次加
   えられる特許請求の範囲第７又は８項記載の方法。 １０、変更高周波信号を２つのテストポートの一方に加
   えながら、短絡回路または開回路を含む基準インピーダ
   ンスが他方のテストポートに加えられる特許請求の範囲
   第９項記載の方法。