JPS62240126A - 線材類伸線加工におけるインライン疵検査方法 - Google Patents
線材類伸線加工におけるインライン疵検査方法Info
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- JPS62240126A JPS62240126A JP8278886A JP8278886A JPS62240126A JP S62240126 A JPS62240126 A JP S62240126A JP 8278886 A JP8278886 A JP 8278886A JP 8278886 A JP8278886 A JP 8278886A JP S62240126 A JPS62240126 A JP S62240126A
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Landscapes
- Wire Processing (AREA)
- Metal Extraction Processes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、線材や棒鋼等(以下線材類ともいう)の伸線
加工におけるインラインで疵を検査する方法に関する。
加工におけるインラインで疵を検査する方法に関する。
線材類の製造過程あるいは伸線加工時に由来する疵につ
いて、探傷し、その疵を手入することは、品質保証上き
わめて重要である。
いて、探傷し、その疵を手入することは、品質保証上き
わめて重要である。
そこで、従来から、伸線加工途中において、非破壊探傷
が行われているが、この場合、渦流探傷または超音波探
傷を単独的に行った後、疵相当部分について肉眼検査を
行い、手入れを行っていた。
が行われているが、この場合、渦流探傷または超音波探
傷を単独的に行った後、疵相当部分について肉眼検査を
行い、手入れを行っていた。
しかし、上記従来法では、探傷機を使用するとしても、
その探傷法の限界から、疵の位置、すなわち長手方向お
よび円周方向位置、疵の長さ、深さ等が不明であるため
、最終的には肉眼で探す以外に方法がなく、結局肉眼に
よることが主体となるので、見落しや手入後の疵の手入
れ残りを生じ、品質保証上大きな問題となっている。
その探傷法の限界から、疵の位置、すなわち長手方向お
よび円周方向位置、疵の長さ、深さ等が不明であるため
、最終的には肉眼で探す以外に方法がなく、結局肉眼に
よることが主体となるので、見落しや手入後の疵の手入
れ残りを生じ、品質保証上大きな問題となっている。
また、検査員の負担も大きく、かつかなりの検査時間を
要し、生産性の低下をきたしていた。
要し、生産性の低下をきたしていた。
そこで、本発明の主たる目的は、探傷精度(確率)が著
しく向上し、かつ検査能率も向上する検査方法を提供す
ることにある。
しく向上し、かつ検査能率も向上する検査方法を提供す
ることにある。
c問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するための本発明は、磁性体の線材類
材料をダイスを用いて伸線加工する過程において、 走行中の材料の探傷を渦流探傷法および超音波探傷法の
少くとも1つの探傷法により行う第1次探傷工程と、 探傷によって検出された庇部をマーキングする工程と、 このマーキング部を検出するマーキング部検出工程と、 検出されたマーキング部を下流側配置の磁粉探傷機の所
定位置に位置させるために材料の走行を所定位置で停止
させる工程と、 前記マーキング部分に対して磁粉探傷を行う第2次探傷
工程と、 この磁粉探傷によって検出された庇部を手入れする手入
工程と、 手入完了後、材料を再び走行させ伸線加工しながら巻取
る工程と、 を有することを特徴とするものである。
材料をダイスを用いて伸線加工する過程において、 走行中の材料の探傷を渦流探傷法および超音波探傷法の
少くとも1つの探傷法により行う第1次探傷工程と、 探傷によって検出された庇部をマーキングする工程と、 このマーキング部を検出するマーキング部検出工程と、 検出されたマーキング部を下流側配置の磁粉探傷機の所
定位置に位置させるために材料の走行を所定位置で停止
させる工程と、 前記マーキング部分に対して磁粉探傷を行う第2次探傷
工程と、 この磁粉探傷によって検出された庇部を手入れする手入
工程と、 手入完了後、材料を再び走行させ伸線加工しながら巻取
る工程と、 を有することを特徴とするものである。
本発明では、渦流探傷または超音波探傷による第1次探
傷を行い、これにより検出した疵部分をマーキングし、
これを指標として第2次探傷を行う。したがって、第1
次探傷では、底位置等について正確には不明であるけれ
ども、マーキング部分において何らかの疵があることは
判る。そこで、第2次探傷工程において、磁粉探傷(マ
グナフラックス)を行うこととしたから、マーキング部
分中における疵の位置、長さ、深さ等を正確に把握でき
る。
傷を行い、これにより検出した疵部分をマーキングし、
これを指標として第2次探傷を行う。したがって、第1
次探傷では、底位置等について正確には不明であるけれ
ども、マーキング部分において何らかの疵があることは
判る。そこで、第2次探傷工程において、磁粉探傷(マ
グナフラックス)を行うこととしたから、マーキング部
分中における疵の位置、長さ、深さ等を正確に把握でき
る。
したがって、目視による方法と異って、疵の見落しがな
く、また検査作業能率も向上する。
く、また検査作業能率も向上する。
以下本発明を図面を参照しながらさらに詳説する。
第1図は本発明に係る伸線加工ラインの全体を示したも
ので、ペイオフスタンド2から繰り出された線材1は、
左右および上下のレベラー3によって粗矯正された後、
先の線材と後の線材の後端および先端がフラッシュバッ
ト等による溶接機4により溶接され一体化され搬送され
、その後ショツトブラスト機5.5により脱スケールさ
れる。
ので、ペイオフスタンド2から繰り出された線材1は、
左右および上下のレベラー3によって粗矯正された後、
先の線材と後の線材の後端および先端がフラッシュバッ
ト等による溶接機4により溶接され一体化され搬送され
、その後ショツトブラスト機5.5により脱スケールさ
れる。
次いで、線材1は石灰粉末槽6を通り、潤滑下地処理が
行われた後、潤滑剤槽7において潤滑処理がなれた状態
で、1次ダイス8に至り、1次伸線が行われる。1次ダ
イス8の前には、タッチロールとパルスジェネレータと
の組合せ等による速度検出器9が設けられている。なお
、この速度検出器9は、後続の磁粉探傷機の上流側であ
れば基本的にどこでもよい。
行われた後、潤滑剤槽7において潤滑処理がなれた状態
で、1次ダイス8に至り、1次伸線が行われる。1次ダ
イス8の前には、タッチロールとパルスジェネレータと
の組合せ等による速度検出器9が設けられている。なお
、この速度検出器9は、後続の磁粉探傷機の上流側であ
れば基本的にどこでもよい。
伸線加工後の線材1は、第1次探傷工程を実施するため
の渦流探傷機10によって探傷され、その後、速度検出
器9からの速度信号を受けるマーキング装置11が、庇
部をマーキング12(第5図)する。このマーキング部
12は、明度差検出方式等によるマーク検出器13によ
って把握された後、当該マーキング部12が続く磁粉探
傷機20位置に位置する伸線機16を制御して線材1を
停止させる。
の渦流探傷機10によって探傷され、その後、速度検出
器9からの速度信号を受けるマーキング装置11が、庇
部をマーキング12(第5図)する。このマーキング部
12は、明度差検出方式等によるマーク検出器13によ
って把握された後、当該マーキング部12が続く磁粉探
傷機20位置に位置する伸線機16を制御して線材1を
停止させる。
磁粉探傷機20で探傷を行った後、当該疵部12Aに対
して手入れを完了したならば、伸線機16を再起動させ
、線材1を潤滑剤槽14および2次ダイス15を通して
伸線加工し、巻取機17にコイル状に巻取る。
して手入れを完了したならば、伸線機16を再起動させ
、線材1を潤滑剤槽14および2次ダイス15を通して
伸線加工し、巻取機17にコイル状に巻取る。
ところで、磁粉探傷に当っての制御は、第2図に示すよ
うに行う。すなわち、演算制御装置50は、速度検出器
9およびマーク検出器13からの信号を受けて、それら
の速度信号およびマーキング位置に基いて、予め既知で
あるマーク検出器13と磁粉探傷機20との離隔距離を
参照して、伸線機16のパルスカウンター16aでパル
スカウントさせながら、その直流モータ16bを停止さ
せ、線材1の走行を磁粉探傷機20のセンターに停止さ
せる。同時にあるいはその後速かに磁粉探傷機20から
磁粉液MLを滴下させるべく探傷機20の制御部21を
介して電磁弁22を開かせる。探傷完了時においては、
ブザー23等の表示器により作業員に知らせ、手入れ開
始可能を表示させる。
うに行う。すなわち、演算制御装置50は、速度検出器
9およびマーク検出器13からの信号を受けて、それら
の速度信号およびマーキング位置に基いて、予め既知で
あるマーク検出器13と磁粉探傷機20との離隔距離を
参照して、伸線機16のパルスカウンター16aでパル
スカウントさせながら、その直流モータ16bを停止さ
せ、線材1の走行を磁粉探傷機20のセンターに停止さ
せる。同時にあるいはその後速かに磁粉探傷機20から
磁粉液MLを滴下させるべく探傷機20の制御部21を
介して電磁弁22を開かせる。探傷完了時においては、
ブザー23等の表示器により作業員に知らせ、手入れ開
始可能を表示させる。
さて、磁粉探傷機20の具体例は、第3図および第4図
に示されている。同機20は、ライン方向にたとえば1
,5m移動可能となっており、このために、レール24
上を台車25が移動するようになっている。この移動可
能とした理由は、線材を探傷機20のセンターに常に合
致させることは困難であるため、線材を停止後、探傷機
20を移動させ、マーク部に合致させるためである。こ
の移動は、実施例では手動ハンドル30によるが、モー
タ等を利用して自動化させてもよい。
に示されている。同機20は、ライン方向にたとえば1
,5m移動可能となっており、このために、レール24
上を台車25が移動するようになっている。この移動可
能とした理由は、線材を探傷機20のセンターに常に合
致させることは困難であるため、線材を停止後、探傷機
20を移動させ、マーク部に合致させるためである。こ
の移動は、実施例では手動ハンドル30によるが、モー
タ等を利用して自動化させてもよい。
線材1のパスライン上方には、下向の滴下ノズル26が
多数配置され、磁粉液槽27中の磁粉液がポンプ28に
よりくみ上げられ、各滴下ノズル26.26・・・から
線材1に対して滴下されるようになっている。滴下後残
余の磁粉液はパン29により液槽27に戻され再利用に
供せられる。なお、線材1との接電は、受電極がわばハ
ンドル31でギャップ調整し、押倒ではシリンダー32
により線材を押すことによって行うようにしである。
多数配置され、磁粉液槽27中の磁粉液がポンプ28に
よりくみ上げられ、各滴下ノズル26.26・・・から
線材1に対して滴下されるようになっている。滴下後残
余の磁粉液はパン29により液槽27に戻され再利用に
供せられる。なお、線材1との接電は、受電極がわばハ
ンドル31でギャップ調整し、押倒ではシリンダー32
により線材を押すことによって行うようにしである。
かくして、磁粉探傷機20によって、第6図のように、
本来の庇部12Aを検出したならば、ブザー23が鳴動
し、検査完了を知らせる。作業員は、そこの手入を行う
。その後、底桟なきことを確認後、線材1は走行し、伸
線加工がなされる。
本来の庇部12Aを検出したならば、ブザー23が鳴動
し、検査完了を知らせる。作業員は、そこの手入を行う
。その後、底桟なきことを確認後、線材1は走行し、伸
線加工がなされる。
上記例の検査法によって、多数の27onコイルについ
て、実施したところ、従来法に比して、第1表に示すよ
うに、優れた結果が得られた。
て、実施したところ、従来法に比して、第1表に示すよ
うに、優れた結果が得られた。
第 1 表
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明によれば、探傷精度および検査作業
性がいずれも向上する。
性がいずれも向上する。
第1図は本発明性実施設備の概要図、第2図はその制御
系統の概要図、第3図は磁粉探傷機例の正面図、第4図
はその右側面図、第5図はマーキング状態図、第6図は
磁粉探傷機による疵部検出状態説明図である。 1・・・線材、8・・・1次ダイス、9・・・速度検出
器、10・・・渦流探傷機(1次探傷機)、11・・・
マーキング装置、12・・・マーキング部、12A・・
・庇部、13・・・マーク検出器、15・・・2次ダイ
ス、20・・・磁粉探傷機、ML・・・磁粉液。 特許出願人 住友金属工業株式会社 、10
系統の概要図、第3図は磁粉探傷機例の正面図、第4図
はその右側面図、第5図はマーキング状態図、第6図は
磁粉探傷機による疵部検出状態説明図である。 1・・・線材、8・・・1次ダイス、9・・・速度検出
器、10・・・渦流探傷機(1次探傷機)、11・・・
マーキング装置、12・・・マーキング部、12A・・
・庇部、13・・・マーク検出器、15・・・2次ダイ
ス、20・・・磁粉探傷機、ML・・・磁粉液。 特許出願人 住友金属工業株式会社 、10
Claims (1)
- (1)磁性体の線材類材料をダイスを用いて伸線加工す
る過程において、 走行中の材料の探傷を渦流探傷法および超音波探傷法の
少くとも1つの探傷法により行う第1次探傷工程と、 探傷によって検出された疵部をマーキングする工程と、 このマーキング部を検出するマーキング部検出工程と、 検出されたマーキング部を下流側配置の磁粉探傷機の所
定位置に位置させるために材料の走行を所定位置で停止
させる工程と、 前記マーキング部分に対して磁粉探傷を行う第2次探傷
工程と、 この磁粉探傷によって検出された疵部を手入れする手入
工程と、 手入完了後、材料を再び走行させ伸線加工しながら巻取
る工程と、 を有することを特徴とする線材類伸線加工におけるイン
ライン疵検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8278886A JPS62240126A (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 線材類伸線加工におけるインライン疵検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8278886A JPS62240126A (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 線材類伸線加工におけるインライン疵検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62240126A true JPS62240126A (ja) | 1987-10-20 |
Family
ID=13784145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8278886A Pending JPS62240126A (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 線材類伸線加工におけるインライン疵検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62240126A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009045667A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 表面性状に優れたコイルまたはバーの製造方法 |
-
1986
- 1986-04-10 JP JP8278886A patent/JPS62240126A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009045667A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 表面性状に優れたコイルまたはバーの製造方法 |
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