JPS62237650A - 金属イオン発生装置 - Google Patents

金属イオン発生装置

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JPS62237650A
JPS62237650A JP61079938A JP7993886A JPS62237650A JP S62237650 A JPS62237650 A JP S62237650A JP 61079938 A JP61079938 A JP 61079938A JP 7993886 A JP7993886 A JP 7993886A JP S62237650 A JPS62237650 A JP S62237650A
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JP
Japan
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vapor
cesium
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alkali metal
metallic vapor
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JP61079938A
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Yoshinori Ikebe
池辺 義紀
Hifumi Tamura
田村 一二三
Hiroyasu Shichi
広康 志知
Eiichi Izumi
泉 栄一
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/26Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field effect ion sources, thermionic ion sources

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は金属イオン発生装置、特にイオンマイクロアナ
ライザーなどにおいて用いられるのに適した金属イオン
発生装置に関する。
〔従来の技術〕
イオンマイクロアナライザーなどにおいて用いられる金
属イオン発生装置、特にセシウムイオン発生装置として
は、金属ヤシウl〜をリザーバに入れ、これを加熱、蒸
発させて得られるセシウムガスをイオン化部へ導くタイ
プや金属セシウムをキャピラリーエミッターに液体のま
ま供給し、その先端に強電界を印加して液体セシウムを
蒸発、イオン化させるタイプなどが知られている。
しかし、これらのタイプはいずれも金属セシウムを使用
するものであることから、その取り扱いには十分な注意
が必要である。というのは、金属セシウムは空気に触れ
ると激しく反応し、甚だ危険だからである。
このようなことから、金属セシウムに代えて金属セシウ
ム化合物を用いることが試みられている。
金属セシウム化合物を用いてセシウ11イオンを得る方
法として、電子衝撃加熱下でセシウム化合物と還元剤を
反応させて金属セシウム蒸気を発生させると共にその蒸
気をイオン化させる方法やセシウム化合物と還元剤を高
温下で反応させて金属セシウム蒸気をつくった後これを
凝縮させて液体金属セシウムとし、これを強電界が集中
している針状電極先端に供給してイオン化する方法など
がある。前者は特開昭58−42149号公報に、後者
は特開昭58−158839号公報にそれぞれ記載され
ている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前者の方法は金属セシウム蒸気の生成とその蒸気のイオ
ン化を一つの電子衝撃加熱手段で行っている。しかし、
金属セシウム蒸気の生成温度とそのイオン化温度は異な
り、後者の温度が前者の温度よりも高い。したがって、
電子l179加熱温度が金属セシウム蒸気が生成するの
に適した値に設定されるとその蒸気のイオン化が十分に
行われずイオン引き出し電極側に流出してその電極など
を汚染し、逆に金属セシウム蒸気のイオン化に適当な値
に設定されると蒸気が過度に生成することとなってこの
場合もやはり一部イオン化されずにイオン引出き出し電
極側に流出してその電極などを汚染する。
後者の方法の場合は、セシウム蒸気を液化する手段とし
て熱幅射の大きい補遺にすること、強制的に冷却する手
段を設けることなどが望まれるが、しかし小形、同一イ
オン発生装置内でそれらの条件を満すことは実際上むず
かしい。
したがって1本発明の目的は金属蒸気を液化する必要の
ない金属イオン発生装置であって、かつ汚染の問題から
免れ得る金属イオン発生装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の特徴は、アルカリ金属化合物と還元剤との混合
物を収容する容器と、該容器内の前記アルカリ金属化合
物と前記還元剤とを反応させてアルカリ金属蒸気を発生
させるように前記容器内の前記混合物を加熱する手段と
、前記発生したアルカリ金属蒸気を貯える蒸気溜と、前
記アルカリ金属蒸気を侵透さパ士る性質がありかつ前記
アルカリ金属蒸気のイオン化温度よりも高い融点をもつ
、前記蒸気溜の壁の一部として形成された多孔質体と、
該多孔質体に侵透する前記アルカル金属蒸気をイオン化
してそのイオンを発生するように前記多孔質体を加熱す
る手段と、前記発生したイオンを引き出す手段とを備え
ている点にある。゛〔作用〕 混合物収容容器内では加熱手段によりその中の混合物が
加熱され、アルカリ金属化合物と還元剤が反応してアル
カリ金属蒸気が生成され、そしてこのようにして生成さ
れたアルカリ金属蒸気は蒸気溜に貯えられる。
蒸気溜に貯えられているアルカリ金属蒸気は蒸気溜の壁
の一部として形成されている、アルカリ金属蒸気を侵透
させる性質があると共にアルカリ土類 金属蒸気のイオン化温度よりも高い融点をもつ多、42
←− 質体に侵透する。このようにして多孔質に侵透するアル
カリ金属蒸気は加熱手段を用いて多孔質体を加熱するこ
とによりイオン化され、それによって生じたアルカリ金
属のイオンはイオン引き出し手段によって引き出される
アルカリ金属蒸気生成の場所とその蒸気のイオン化の場
所は独立しており、加えてアルカリ金属蒸気生成のため
の混合物加熱手段とアルカリ金属蒸気のイオンのための
多孔質体加熱乎段は独立していることから、アルカリ金
属蒸気生成温度とそ蒸気が蒸気溜により囲まれてイオン
引き出し手段側に漏洩しないことと相俟って、本発明に
よれば、アルカリ金属蒸気を液化する必要のない金属イ
オン発生装置であって、かつ汚染の問題から免れ得ろ金
属イオン発生装置が提供される。
〔実施例〕
第1図は本発明にもとづく一実施例を示す。アルカリ金
属化合物の一種であるセシウム化合物とその還元剤の混
合物2を充填する原料充填室すなわち容器3と、約10
0μmφの中心孔を有する2段のタンタル製オリフィス
5.5′で区切られ、混合物2の化学反応で生じた金属
セシウム蒸気を貯えろセシウム溜4と、更に、先端に設
けられたイオンエミッタとしての多孔質体6とを有した
タンタル製イオン化原料容器]は、ステンレス製容器支
持体7に取りつけられている。尚、原料充填室3は容器
支持体7で密閉されている。更に、多孔質体6を電子m
y加熱するタングステン製フィラメント8と、随の制御
用のウェネルト9、セシウム化合物とその還元剤の混合
物2を抵抗加熱するヒータ10、多孔質体6で表面電離
により生じたイオンを引き出す、引き出し電極11より
構成される。
多孔質体6はヤシラム金@蒸気を侵透させる性質をもっ
ていると共に、セシウム金属蒸気のイオン化温度よりも
高い融点をもつタングステンでつくられている。
次に1本実施例の動作原理について説明する。
ヤシウ11化合物としてのクロム酸セシウム(Cs z
Cr 04)と、その還元剤であるシリコン(Si)の
混合物2を原料充填室すなオ)ち容器二3に請め込んだ
イオン化原料容器1を容器支持体7に取り付ける。その
後、イオン源を真空排気し、ヒータ10で混合物2を5
00℃以上(たとえば600℃〜800℃程度)に加熱
してやると、下記の化学反応式により、金属セシウムの
蒸気が得られる。
4 C5zCrOa+  5 SJ−+ 8 CF1+
  2CrzOs+  5 S i  02得られた金
属セシウム蒸気は、原料充填室3内の蒸気圧により、オ
リフィス5を通過しセシウム溜4へ拡散する。更に、セ
シウム蒸気はセシウムWI4の蒸気圧により、オリフィ
ス5′を通過し、多孔質体6へ流入する。一方、多孔質
体6はフィラメント8からのt子II7撃により、11
00℃以上に加熱されており、セシウムのイオン化電圧
(T = 3.89 F! V)  とタングステンの
仕事関数(φ=4.5eV)  より、φ〉■の条件が
成立し、セシウ11蒸気は多孔質体6にて、表面電離で
イオン化され、引き出し電極11でイオンビー1112
として引き出される。
本実施例により、次のような効果があることがわかった
。■クロム酸セシウムとシリコンの混合物は、取り招い
が容易である。■クロム酸セシウ11とシリコンとの化
学反応で生じた、CrzOsとS i O2,は原料充
填室3に残り、セシウム蒸気のみがセシウム溜4内に貯
えられ、そしてセシウム蒸気生成温度とそのイオン化温
度を独立に最適温度に設定し得ることから、生じたセシ
ウム蒸気がセシウム溜4の故に四散しないことと相俟っ
て引き出し電極11をはじめイオン源を汚染することは
ない。
次に、もう一つの実施例を第2図を参照して説明する。
先端が約10μmφの微細孔が開いている石英ガラス製
原料充填室すなわち容器3を持ち、他は第1図と同じ構
成である。該原料充填室3にクロム酸セシウムとシリコ
ンの混合物2を詰めこんだ、イオン化原料容器1を容器
支持体7に取りつけろ。その後、イオン源を真空排気し
、ヒータ10で混合物2を500℃以上に加熱してやる
と、セシウム蒸気が得られる。該セシウム蒸気は微細孔
よりセシウム?!?1室4拡散する。以後は、第1図の
実施例と同じ動作原理である。ここで、yK料充填室3
がヒータ10で加熱されない場合は、微細孔は蓋の機能
を持ち、セシウ11蒸気はセシウム溜室へ拡散しない。
一方、ヒータ10による加熱が行オ)れろと微細孔はぼ
うちようにより大きくなってセシウム蒸気が通ることが
できろようになる。したがって、ヒータ10のオン、オ
フあるいはヒータ】Oの温度を適当に切換えることによ
りセシウム蒸気の生成量、したがってセシウム蒸気のセ
シウム溜4への供給量をコントロールすることができろ
、 なお、混合物は前述の例に限られるものではなく、
たとえば C,s M o 十T i Cs Cr+oa+ S i Cs 8COa + M g などでもよい。また、セシウムに限らず、他のアルカリ
金属であってもよい。
〔発明の効果〕
本発明によれば、金属蒸気を液化する必要のない金属イ
オン発生装置であって、かつ汚染の問題から免れ得る金
属イオン発生装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例の断面図である。 第2図は本発明のもう一つの実施例の断面図である。 1・・・イオン化原料容器、2・・・(イオン化原料の
)混合物、3・・・原料充填室、すなわち容量、4・・
・セシウム溜、5,5′オリフイス、6・・・多孔質タ
ングステン、7・・・容器支持体、8・・・フィラメン
ト、9・・・ウェネルト、10・・・ヒータ、11・・
・引き出しも1日 高2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、アルカリ金属化合物と還元剤との混合物を収容する
    容器と、該容器内の前記アルカリ金属化合物と前記還元
    剤とを反応させてアルカリ金属蒸気を発生させるように
    前記容器内の前記混合物を加熱する手段と、前記発生し
    たアルカリ金属蒸気を貯える蒸気溜と、前記アルカリ金
    属蒸気を侵透させる性質がありかつ前記アルカリ金属蒸
    気のイオン化温度よりも高い融点をもつ、前記蒸気溜の
    壁の一部として形成された多孔質体と、該多孔質体に侵
    透する前記アルカリ金属蒸気をイオン化してそのイオン
    を発生するように前記多孔質体を加熱する手段と、前記
    発生したイオンを引き出す手段とを備えている金属イオ
    ン発生装置。 2、特許請求の範囲第1項において、前記混合物収容容
    器と前記蒸気溜は温度によつて大きさが変化する微細孔
    を通して連通するように構成されていることを特徴とす
    る金属イオン発生装置。
JP61079938A 1986-04-09 1986-04-09 金属イオン発生装置 Granted JPS62237650A (ja)

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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3739253A1 (de) * 1987-11-19 1989-06-01 Max Planck Gesellschaft Mit kontaktionisation arbeitende einrichtung zum erzeugen eines strahles beschleunigter ionen
US4902898A (en) * 1988-04-26 1990-02-20 Microelectronics Center Of North Carolina Wand optics column and associated array wand and charged particle source
US5534743A (en) * 1993-03-11 1996-07-09 Fed Corporation Field emission display devices, and field emission electron beam source and isolation structure components therefor
US5561339A (en) * 1993-03-11 1996-10-01 Fed Corporation Field emission array magnetic sensor devices
WO1994020975A1 (en) * 1993-03-11 1994-09-15 Fed Corporation Emitter tip structure and field emission device comprising same, and method of making same
US5903243A (en) * 1993-03-11 1999-05-11 Fed Corporation Compact, body-mountable field emission display device, and display panel having utility for use therewith
US5583393A (en) * 1994-03-24 1996-12-10 Fed Corporation Selectively shaped field emission electron beam source, and phosphor array for use therewith
US5629583A (en) * 1994-07-25 1997-05-13 Fed Corporation Flat panel display assembly comprising photoformed spacer structure, and method of making the same
US5844351A (en) * 1995-08-24 1998-12-01 Fed Corporation Field emitter device, and veil process for THR fabrication thereof
US5828288A (en) * 1995-08-24 1998-10-27 Fed Corporation Pedestal edge emitter and non-linear current limiters for field emitter displays and other electron source applications
US5688158A (en) * 1995-08-24 1997-11-18 Fed Corporation Planarizing process for field emitter displays and other electron source applications
US20030141187A1 (en) * 2002-01-30 2003-07-31 Plasmion Corporation Cesium vapor emitter and method of fabrication the same
US20040118452A1 (en) * 2002-01-30 2004-06-24 Plasmion Corporation Apparatus and method for emitting cesium vapor
US7772771B2 (en) * 2003-01-17 2010-08-10 Hamamatsu Photonics K.K. Alkali metal generating agent, alkali metal generator, photoelectric surface, secondary electron emission surface, electron tube, method for manufacturing photoelectric surface, method for manufacturing secondary electron emission surface, and method for manufacturing electron tube
WO2009036218A1 (en) * 2007-09-13 2009-03-19 Ehd Technology Group, Inc. Apparatus and method for cleaning wafer edge using energetic particle beams

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2715694A (en) * 1947-05-09 1955-08-16 Hubert P Yockey Ion producing apparatus
JPS5830055A (ja) * 1981-08-18 1983-02-22 New Japan Radio Co Ltd イオンビ−ム源
JPS58121536A (ja) * 1982-01-13 1983-07-19 Jeol Ltd 金属イオン源
JPS58163135A (ja) * 1982-03-20 1983-09-27 Nippon Denshi Zairyo Kk イオン源
JPS60180048A (ja) * 1984-02-24 1985-09-13 Fujitsu Ltd 電界型イオン源
JPS61142645A (ja) * 1984-12-17 1986-06-30 Hitachi Ltd 正,負兼用イオン源

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US4774433A (en) 1988-09-27
JPH0572698B2 (ja) 1993-10-12

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