JPS62225901A - 横寸法が小さく極めて長い磁化可能エレメントの変化の測定法及びその実施装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は非磁性材によって任意に被覆される磁化可能な
材料より成り、かつ低伸長帯域と高伸長帯域との間又は
その逆を走行する横寸法が小さくて極めて長いエレメン
トの伸長変化測定方法、及び該方法を実施する装置に関
する。

該方法及び装置は、特に光ファイバを納める溝を有し、
かつ該溝に光ファイバを挿入する以前に心線を弾性で延
ばす張力を受ける光フアイバケーブル心線の伸長変化の
測定に適用される。その後に該溝内に余分な長さの７ア
イ／々を得るために張力が解放され、これＫよってファ
イバは製造後の取扱い作業中及び布設中にケーブルが受
けるような著しい伸長を受けることがない。この種の溝
付心線は仏国特許鍾第２，３１２．７８８号と、本出願
人による仏画特許ＥｔｉｆＸ　２．５４４．８７４号に
記載されている。本発明も製造中のワイヤ又はケーブル
の伸長測定に適用される。

光フアイバケーブル特に海底ケーブルを製造する時、布
設時及び場合によってはケーブル交換時には、著しいけ
ん引力を考慮しなければならない。

なぜならば、光ファイバは破断することなく極く僅かな
伸長に耐えられるが（約１％〜１．５％）、ケーブル心
線及びそれの外装部を構成するプラスチック及び金属材
は、けん引中にはるかに多く伸長する傾向にある。従っ
てケーブルが全体として延びている時ファイバ自体を出
来るだけゆつくシけん引力下に置くように、ケーブル内
に余分な長実際にこの種のケーブルの別置として、高い
弾性限界の鋼で形成した部材を軸方向に補強又は強化と
する金属ケーブルを備えるプラスチック材の心線の周囲
に形成される（＊旋形であることが多い）リセス内に、
光７アイパを個々に配置する。

該リセスの幅及び深さは、心線の長さをはるかに上回る
長さの波形通路を取るようにファイバが自由にかつ均一
に摺動するのに充分なものである。

この余分な長さのファイバは、数十キ四グラムのけん引
力効果で溝付心線を著しく延ばす場所である線製造帯域
にあるリセスにファイバを配置することによって極めて
簡単に得られる。次にこの力は解放され、溝付心線は最
初の長さに戻シ、す七スに配置されるファイバの長さが
ケーブルの長さを上回るようになる。従ってファイバ自
体がけん引力を受ける前に、かかるケーブルを約１．４
％だけ伸長させることは度々可能である。

容易に理解されることではあるが、ケーブル製造中に該
余分な長さを正確に制御可能であるということは極めて
重要である。その理由は、余分な長さが少なすぎればケ
ーブルがけん引力下にある時に光ファイバは破断され、
長すぎれば価格の面、特にファイバに生じがちな微量た
わみの故にケーブルの減衰で問題が生じるからである。

更に、手遅れにならないうちにいかなる欠陥をも補正可
能なように、製造中にケーブルが移動している間に出来
得る限シ多く、心線の伸長測定を実施しなければならな
い。ファイバ自体の長さを測定することは極めて困難で
あるから、張力をほとんど受けない帯域と光ファイバを
受けるために著しい張力を受ける帯域との間にて、溝付
心線を含む中央担持体の伸長変化の測定を実施する。

本発明は、極めて長いエレメントが磁化可能な材料を有
し、それを磁化することによってマークする技術を使用
する。管又は金属ケーブルの如き号に既に量、起重・、
さ訟て１−い・る。しかしこの方法は、心線が低張力下
にある帯域と高張力下にあって張力が解放される帯域に
先行する帯域との間にて伸長変化を測定する時、特に極
めて長いエレメントが移動中に不均一に伸長する時に僅
かな変化を見トに付けた２個の磁気マーク相互間の距離
と、該ヤベルトの望ましからざる伸長を検出する方法が
記載されている。しかしながら、この方法からは概算の
結果しか得られないので、閉鎖ループの周囲を走行する
バンド又は類似の品物にしか適用できない。

本発明の目的は、伸長変化が比較的少なくて不均一な時
、及び極めて長いエレメントが製造ラインの開回路に沿
って走行中の時も、該エレメントの伸長変化を極めて正
確にかつ高頻度で測定可能にする方法及び装置を提供す
ることである。

本発明は、非磁性材によって任意に被覆される磁化可能
な材料よυ成り、低伸長帯域と高伸長帯域との間、又は
その逆を走行する横寸法が小さくて極めて長いエレメン
トの伸長変化測定法にして、該帯域のうちの第１帯域に
て長手方向に所定の距離だけ離れた２個所にて同時に細
長いエレメントを定期的に磁気でマークする階階と、次
に該帯域のうちの他方の帯域に位置する少なくとも１点
において該磁気マークが通過する瞬間を検出する段階と
で構成されることを特徴とする。

本発明は次の特徴のうちの少なくとも１つを有すること
が望ましい。

磁気マークが第２帯域を通過する瞬間は、第１検出器及
び１群の第２検出器によって決定し、該第２検出器の１
つは、第１帯域の２個のマーキング点相互間の距離に等
しい距離だけ該第１検出器から隔設される。

細長いエレメントの磁気マーキングは、２個のマーキン
グ点相互間に位置しかつ該２個のマーキング点のうちの
１つを追跡することによって細長いエレメントに与えら
れるマークの通過に応じるセンサによって制御され、該
追跡マーキング点と該センサとの間の距離が２個のマー
キング点相互間の距離の約数ではなく、相対伸長が予想
され得る最悪条件下にある時に２個のマークが該群の検
出器内に同時に発生することがないような位置に該検出
器を配置する。

磁気マークが該第２帯域を通過する瞬間が複数個所にお
いて検出され、また対を成す磁気マークの２個の磁気マ
ーク相互間の距離が、該帯域を通る走行速度及び該速度
変化とは無関係に、マークが複数個の検出器を通過する
各種瞬間を観察することによって、及び検出器相互間の
距離及び該検出器を該マークが通過する瞬間の相互間隔
に関する非線形方程式を解決して決定される。

検出中のマークの通過を表わす信号が濾過されて次に飽
和状態まで増幅される第１回路に送られて整流され、次
に論理パルスに変えられて第２回路に送られ、そこで僅
かに増幅されいき値電圧と比較され、この場合該第２回
路からの信号が該第１信号からの信号を妥当化するため
に使用され、これによって干渉信号を除外する。

同様に本発明の目的は、非磁性材によって任意に被覆さ
れる磁化可能外材料より成り、低伸長帯域と高伸長帯域
との間、又はその逆を走行する横寸法が小さくて極めて
長いエレメントの伸長変化測定装置を提供するものであ
υ、該帯域のうちの第１帯域にて所定の距離だけ隔設さ
れる２個のマーキング部材と、該磁気マーキング部材を
して極めて長い該ニレメン）Ｋ同時に磁気マークを形成
させるようにした部材と、該マークが該帯域のうちの他
方の帯域を通過する瞬間を観察するための磁気検出装置
とを包含することを特徴とする。

本発明の装置は以下に示す特徴を少なくとも１個有する
ことが望ましい。

磁気マークは該他方の帯域を通過する瞬間を検出するた
めの検出器を包含し、該検出器の１つが固定位置にあシ
、その他の検出器が相互に固定されてマイクロメータね
じによって調節可能な位置・まで１群として可動である
。

２個の磁気マーキング部材を制御するための部材が、他
方のマーカーによって生じるマークと一致するマーカー
の１つＫよってマークが生じる可能性のない点において
該２個のマーキング部材相互間に位置する検出器であり
、予想し得る最悪の伸長変化の状態Ｋかかわらす該群の
検出器相互間に２個のマークが同時に生じることがない
ように該検出器を配置する。

検出中のマークの通過を示す信号をろ過するための部材
と、核濾過信号を飽和状態まで増幅させかつそれらを整
流し、次にアナログ信号におけるゼロ通過に相応する論
理信号を発生させる第１回路と、該信号を比較的低い割
合まで増幅させてそれらをいき値レベルと比較する第２
回路と、第２回路からの信号の関数として第１回路から
の信号を妥当にしたり又は非妥当にしたりするための装
置とを包含する。

一般にマーキング部材は、パルス信号が供給され、かつ
極めて長い走行エレメントの隣接部に配置する誘導コイ
ルによって構成される。又検出器は同様に走行エレメン
トのすぐ近くに配置するピックアップコイルによって構
成される。

（以下余白） 一定の走行速度で作動する最も簡単な例として、低張力
帯域内にあるものとするマーキング部材によって生じる
マーク相互間のエレメント上の距離をｄ　（ＭＡ、　Ｍ
Ｂ　）とし、高張力帯域にある検出器が受けるものとす
るマーク相互間の距離をｄ　（ｍＡ。

ｍＢ）とすると、相対伸長は次の式で表わされる。

マーキング部材が高張力帯域内にて距離ｄ（ＭＡ。

ＭＢ）だけ隔設され、マークがｄ　（ｍＡ、　ｍＢ　）
だけ離れている低張力帯域に検出器がある場合には、以
下の如き同様な式が得られる。

磁気マーキング信号がベル型曲線（第５図参照）を有す
る。Ｑルス信号であれば、ピックアップコイルによって
検出される信号は、磁気マークの通過によって該コイル
内に誘導される磁束変化ｄφ／ｄｔに比例し、第６図に
示す波屋を有する。検出信号のゼロノｑルスは、計算部
材に与えられるノ９ルスをトリガするために使用される
。

同様に本発明による装置は、よシ簡単な先行技術の装置
において生じたような各種のエラー源を除去するような
設計になっている。

先ず検出されて計算部材に送られるパルスは、干渉信号
（電気スノ９−り、不必要なパチノ９チという音又は放
電）と混同可能である。かかる干渉信号を除去するため
に、検出パルスは強増幅された後で、よシ低レベルで作
動する並列回路によって搬送される信号と比較されその
差が求められる（第７図）。

更に複数個のセンサからの検出信号は、走行速度の変化
を考慮するために計算部材によって使用され、該変化は
非線屋項を導入すれば次の如−き等式となる。

ｄ　（Ｌｌ　、　Ｌ２）＝ｅ　（Ｔ２−’ｒｉ　）＋ｆ
　（Ｔ２−ＴＩ　）”＋ｇ　（Ｔ２−ＴＩ）”、、　。

これは２個の読取シ装置を分離する距離と、マークが一
方の読取９装置から次の読取り装置まで通過するのに必
要な時間との関係を示すものである。

容易に理解されることであるが、複数個の（例えば５個
）センサからの情報を組合わせることによって、ケーブ
ルの長手方向の各個所における局部的変化を決定するた
めに必要な全てのパラメータを計算可能のに充分な等式
を設定することが出来る。

マーキングコイルとピックアップコイルは、信号／ノイ
ズの最良な比率を得るために最適なものにすることが出
来る。特に磁気コアを包含してもよく、そのエアギャッ
プは、干渉磁界に比較的感知することのないように寸法
決定される。最大信号を得るようにマークされるか又は
読取られるケーブルのいずれかの側に位置するような、
対を成す磁気コイルも使用可能である。

本発明による低張力入口帯域と、高張力伸長帯域と、更
に低い低張力受容帯域との間にて光７アイノ々ケーブル
心線の伸長変化を測定するための装置の他の特徴及び利
点に関しては、実施例を示す添付の図面を参照して以下
に詳述する。

具体例 第１図において、心線１はドラム２から供給され、キャ
メビラ型リニアキャプスタン３によって駆動される。ド
ラム２とリニアキャプスタン３との間の帯域Ａは、心線
をちょうど前進させるだけの低張力下にある。供給ドラ
ム２と帯域Ａとの間には糸巻き張力調節装置２人が配置
される。

リニアキャプスタン３の後方には帯域Ｂがあって第２リ
ニアキヤプスタン４まで続行し、心線は該帯域Ｂ内にて
高い張力を受け、それの溝内に光ファイバーを配置する
以前に心線を延長させる。

このために、第２リニアキヤプスタン４は第１リニアキ
ヤプスタン３より高速度で作動する。図示しない従来の
装置によって該帯域にて心線の溝内に光ファイバを配置
する。

第２リニアキヤプスタン４の後方にて、テークアツプド
ラム５上に乗せる以前に帯域Ｃを通過する際に心線は再
度低張力を受け、これによって光ファイバは溝内にて幾
分ゆるむ。帯域Ｃとテークアツプドラムとの間には、第
２糸巻き張力調節装置５人を位置決めする。

第１低張力帯域Ａにはマーキング装置を配置する。該装
置は２個の誘導マーキング；イル６．７を包含するが、
該コイルは正確に決定した所定の距離りだけ隔設されて
いる（第２図参照）。該２個のマーキングコイル相互間
に配置する検出コイル８は、マーキングコイル６及び７
からそれぞれ所定の距離！及び（Ｌ−））だけ離れて位
置する。

２個の連続マークが心線の同一位置上に生じないように
するために、距離ノは距離りの約数ではない。

高張力嘩域Ｂには第１検出装置を配置する。該装置は隔
離検出コイル９と１群の検出コイル１゜Ａ、ＩＯＢ、Ｉ
ＯＣ及び１ｏＤを包含する。該群のコイル数は４以下又
は４以上である。

隔離コイル９とコイル群のコイルＩＯＢとの間の距離は
、マーキングコイル６．７相互間の距離りに等しいよう
に選択される。第２低張力帯域Ｃには、高張力帯域Ｂに
設けたものに類似し隔離検出コイル１１と１群の検出コ
イル１２Ａ、１２Ｂ。

１２Ｃ及び１２Ｄを包含する検出装置を設け、この場合
隔離コイル１１とコイル１２Ｂとの間の距離はマーキン
グコイル６．７相互間の距離に等しい。

測定の妨げになる熱膨張効果を回避するために、帯域Ａ
、Ｂ及びＣはその温度がほぼ等しくなることを確実なら
しめるように単一作業場に配置される。

第１低張力帯域Ａにおいて、マーキングコイル６及び７
並びに検出コイル８は、共通の長手方向棒１９Ａヒに取
付けた支持体１２．１３及び１４に配置される（第２図
）。支持体１３は、マイクロメータねじ１６によって位
置が正確に調節可能な摺動板１５上に取付ける。

高張力帯域Ｂにおいては、共通の長手方向棒１９Ｂに取
付けた各支持体１７及び１Ｂに隔離コイル９と１群のコ
イルＩＯＡからＩＯＤを配置する（第３図）。該群のコ
イルＩＯＡからＩＯＤ用の支持体１８は、マイクロメー
タねじ２１によって正確に位置調節可能な摺動板２０に
取付けられる。膨張差から生じるいかなる不正確さをも
回避するために、棒１９Ａ及び１９Ｂの両者は同一材料
より成る。第４図は１群のコイルＩＯＡから１０Ｄと、
支持板２０及び調節用マイクロメータねじ２１を示す拡
大図である。

該群の末端コイルＩＯＡとＩＯＤとの間の距離は、予想
される最大伸長と予想される最小伸長との差（すなわち
帯域Ｂが可能な最大張力下にあつて、一方帯域Ａが可能
な最小張力下にある時に生じるマーク相互間の距離の読
取シと、帯域Ｂが可能な最小張力下にあって、一方帯域
Ａが可能な最大張力下にある時に生じるマーク相互間の
距離の読取シとの差）を上回るもので女ければならない
。

しかしながら、コイル６によって成るマークｍＡが隔離
コイル９によって検出される時、同時にコイル７によっ
て成される相応するマークｍＢは検出器１０ＡとＩＯＤ
との間になければならない。

同一ペアのマークの２個のマークｍＡとｍＢを識別する
１つの方法は、伸長変化における最小及び最大限定条件
とは無関係に、群の検出器１０ＡからＩＯＤに２個のマ
ークが決して同時発生しないように検出器８を位置決め
することである。

第２低張力又はテークアツプ帯域Ｃにおいても同様な条
件が当てはまる。

最初に、群の隔離コイル９と群のコイ＃１０Ｂとの間の
距離は、コイル６及び７相互間の距離と同じ値を有する
ように調節される。

このために、コイルＩＯＡからＩＯＤは所定の相互距離
を有するように隔設され、マイクロメータねじ２１を使
用して移動可能な支持体１８に群として固定される。こ
の場合帯域Ａ及びＢの両方に同一張力が加えられ、例え
ばコイル９からの検出信号と同期化されるオシロスコー
プを使用することによって、１対のマークのうちの１方
のマークｍＢを示すコイルＩＯＢからの検出信号が同一
対の他方のマークｍＡを示すコイル９からの検出信号と
同時に生じるようにマイクロメータねじを調節する。

コイル１０ＡとＩＯＢ、ＩＯＡと１０Ｃ及び１０ＡとＩ
ＯＤとの間の距離を次に測定する。

例えば、マイクロメータねじの位置をコイル１０Ｂに対
して確定し、両帯域Ａ及びＢにおいて心線に加えられる
張力が同一のままである間、マークｍ人がコイルＩＯＡ
によって検出されている相応するマークｍＢと同時にコ
イル９によって検出されるように該ねじを板２０を移動
させるために転回可能である。

この場合コイル相互間の距ｍａ、マイク鴛メータねじ２
１の２個の位置相互間の差に等しい。

コイル９．１ＯＢ、ＩＯＣ及びＩＯＤは、後述の目的で
該コイルと協働するカウンタ（図示せず）をそれぞれ有
する。

伸長変化を測定するための装置は以下の如く作動する。

気マークが同時に発生する。マーキングコイル６によっ
て生じるマークが検出コイル８に到達すると、検出コイ
ルは新たなマーキングツ９ルスヲトリガし、これによっ
てコイル６及び７に新しい対の磁気マークを生じさせる
。

所与の長さＬの場合、距離Ｊが少なければ少ない程、心
線の単位長さに加えることが可能なマークの対の数は増
加する。ケーブルの移動速度に対してマーキング時間が
長すぎる場合に生じる磁気マークの広がりによるいかな
る不確実性をも回避するように、マーキング時間は充分
に短くなければならない。

高張力下にある帯域ＢＩＣおいて、群の第１コイ／Ｉ／
Ｉ　ＯＡと水平なコイル７によって形成されるマークｍ
Ｂが到着することによってコイルＩＯＢ。

１０Ｃ，ＩＯＤ及び９に相応する４個のカウンタはカウ
ンティングを開始する。マークｍＢがコイ／Ｉ／１０Ｂ
を通過する時、相応するカラ／りが停止して時間Ｔ１を
記録する。同様にコイルＩＯＣ及びＩＯＤと協働するカ
ウンタは同一マークｍＢが相応するコイルを通過する時
に停止し、これによって時間Ｔ２及びＴ３がそれぞれ記
録される。対の他方のマークｍＡは該コイルを通過させ
ることによってコイル９に相応するカウンタを停止させ
、これによって時間Ｔ４を記録するが、この場合時間Ｔ
４は前述の如く時間Ｔ３以下でなければならない。次に
マークｍＡとｍＢ相互間の距離ｄ（ｍＡ。

ｍＢ）は次の如き等式を用いて決定可能である。

ｄ（コイ＃１０Ａ、コイル１ＯＢ）＝ｆ　（ＴＩ　）ｄ
（”イル１０Ａ、：ｒイル１Ｏｃ）＝ｆ（Ｔｚ）ｄ（コ
イルＩＯＡ、　コイル１ＯＤ）＝ｆ　（Ｔ３　）ｄ（ｍ
Ａ、ｍＢ）＝ｄ（コイル９．コイルｌ０Ａ）＋Ｘ１この
場合Ｘ１＝ｆ（Ｔ４） これによって以下の如き多項式を用いる時間間隔の関数
として距離を表わすことによって、心線の走行速度の変
化を考慮することが可能になる。

ｄ（コイ＃１０Ａ、コイル１０Ｂ）＝ａＴ１＋υＴ１２
＋ｅ’Ｔ１３ｄ（コイル１０Ａ、　コイル１ＱＣ）＝ａ
Ｔ２＋ｂＴ？＋ｃＴ２”ｄ（コイル１０Ａ、：ｒイルｔ
ＯＤ）＝ａＴ３＋ｂＴ３”＋ｃＴ３”及びｘ　１　＝　
ａＴ４＋ｂＴ４’＋ｃＴ４”これによ９３個の未知数ａ
、　ｂ、　ｃに３種の方程式が与えられる。従って未知
数は決定可能であり、かくてＸｌを推論することができ
る。従ってｄ　（ｍ　Ａ　、　ｍ　Ｂ　）、＞−＝ｉａ
（：ｆｆイル９．コイル１０Ａ）＋Ｘ１である。

当然のことながら特別な検出器を加えることによってＴ
４に条件を用いることも可能であるが、必要に応じて最
終結果の精度を改良するのでなければ計算が更に著しく
複雑になる。

第５図はコイルの１っ６又は７からの磁気マーキング信
号（ベル屋曲線型式の、Ｑルス）の波凰（時間の関数と
しての振幅）を示す。

第６図は検出コイルによって与えられる信号の波型（時
間の関数としての振幅）を示す。該信号は磁気マークの
通過によって該コイルに誘導される磁束変化ｄφ／ｄｔ
に比例する。該信号のゼロ通過は、計算数に加えられる
ノ３ルスをトリガするために使用される。

例えば電気スパーク又は望まないノ９チノｔチ状態又は
放電が原因の妨害電圧によって妨害される磁気マークの
検出によシ生じる信号を回避するために、検出コイルか
らの信号を第７図に示す型式の信号処理回路を包含する
電子回路カード処理えなければならない。

低域フィルタ３０を通過した後、２個の並列回路によっ
て信号が処理される。第１回路は２個の増幅器３１及び
３２を使用して信号を飽和状態まで増幅し、３５にて整
流する。従って各信号のゼロ通過は、回路３５からの出
力にて極めて短いゼロ電圧７９ルスによって表わされる
。

利得は極めて高いので、該信号を送る回路に現°　れる
いかなる干渉信号も、極めて短いゼロ電圧、Ｑルスを生
じさせることに力る。

かかる干渉をなくするために、第２又は「妥当性」回路
が、磁気マークの通過と同時に生じる時のみゼロ電圧パ
ルスを有効にする役割を果す。このために、低域フィル
タ３ｏからの信号は増幅器３２によって増幅するが、並
列回路にてはそうではなく飽和状態に達しない。従って
妥当化部材比較することは簡単であり、これによってマ
ークの通過による信号と干渉による信号とを区別する。

妥当化部材３４によって、ゼロ通過、Ｑルスは、それら
が妥当化される時のみ論理プロセッサ部材３６に到達可
能である。

論理プロセッサ回路３６は、各妥当化アナログ信号のゼ
ロ通過に相応する論理信号を送る。該信号ははね返シ止
め処理部材３７に与えられ、次に伸長変化に関するデー
タで表示されると同時にテープに記録されるデータを得
るために計算部材によって処理される。

第２低張力帯域Ｃに位置する第２検出装置は高張力帯域
Ｂに位置する装置に類似し、該帯域Ｃにて生じる正又は
負の伸長変化を決定する役割を果し、該帯域にて光ファ
イノ９を包含する心線は弛緩可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明装置の全体図、第２図は心線の強度数を
磁気でマークするための組立体を示す図面、第３図はか
かる磁気マークの通路を検出するための組立体を示す図
面、第４図はピックアップコイルとそれらのマイク瞠メ
ータ調節部材を詳細に示す斜視図、第５図は磁気マーキ
ング信号の波型図、第６図は検出信号の波型図、そして
第７図は検出信号からケーブルの伸長変化を決定するた
めの比較及び計算用回路を示すブロック図である。 １・・・細長いエレメント（心線）、３．４・・・リニ
アキャゾスタン、　　５・・・テークアツプドラム、６
．７・・・マーキングコイル、８．ＩＯＡから１０Ｄ１
１２人から１２Ｄ・・・検出コイル、９．１１・・・隔
離検出コイル、１２．１３．１４．１８・・・支持体、
加・・・摺動板、２１・・・マイクロメータねじ、３０
・・・低域フィルタ、３２・・・増幅器、３４・・・妥
当化部材、３６・・・論理プロセッサ回路、３７・・・
処理部材。

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. （１）非磁性材によつて任意に被覆される磁化可能な材
   料より成り、低伸長帯域と高伸長帯域との間、又はその
   逆を走行する横寸法が小さくて極めて長いエレメントの
   伸長変化測定法にして、該方法が、該帯域のうちの第１
   帯域にて長手方向に所定の距離だけ離れた２個所にて同
   時に伸長エレメントを定期的に磁気でマークする段階と
   、次に該帯域のうちの他方の帯域に位置する少なくとも
   １点において該磁気マークが通過する瞬間を検出する段
   階とで構成されることを特徴とする測定方法。
2. （２）磁気マークが該第２帯域を通過する瞬間が第１検
   出器及び１群の第２検出器によつて決定され、該第２検
   出器の１つが第１帯域の２個のマーキング点相互間の距
   離に等しい距離だけ該第１検出器から隔設されることを
   特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の方法。
3. （３）細長いエレメントの磁気マーキングが、２個のマ
   ーキング点相互間に位置しかつ該２個のマーキング点の
   うちの１つを追跡することによつて細長いエレメントに
   与えられるマークの通過に応じるセンサによつて制御さ
   れ、該追跡マーキング点と該センサとの間の距離が２個
   のマーキング点相互間の距離の約数ではなく、相対伸長
   が予想される最悪条件下にある時に２個のマークが該群
   の検出器内に同時に発生することがないような位置に該
   検出器を配置することを特徴とする、特許請求の範囲第
   ２項に記載の方法。
4. （４）磁気マークが該第２帯域を通過する瞬間が複数個
   所において検出され、また対を成す磁気マークの２個の
   磁気マーク相互間の距離が、該帯域を通る走行速度及び
   該速度変化とは無関係に、マークが複数個の検出器を通
   過する各種瞬間を観察することによつて、及び検出器相
   互間の距離及び該検出器を該マークが通過する瞬間の相
   互間隔に関する非線形方程式を解決することにより決定
   されることを特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載
   の方法。
5. （５）検出されているマークの通過を表わす信号がフィ
   ルタを通つて次に飽和状態まで増幅される第１回路に送
   られて整流され、次に論理パルスに変えられて第２回路
   に送られ、そこで僅かに増幅されいき値電圧と比較され
   、この場合該第２回路からの信号が該第１信号からの信
   号を妥当化するために使用され、これによつて干渉信号
   を除外することを特徴とする、特許請求の範囲第１項に
   記載の方法。
6. （６）非磁性材によつて任意に被覆される磁化可能な材
   料より成り、低伸長帯域と高伸長帯域との間、又はその
   逆を走行する横寸法が小さくて極めて長いエレメントの
   伸長変化測定装置にして、該装置が該帯域のうちの第１
   帯域にて所定の距離だけ隔設される２個のマーキング部
   材と、該磁気マーキング部材をして極めて長い該エレメ
   ントに同時に磁気マークを形成させるようにした部材と
   、該マークが該帯域のうちの他方の帯域を通過する瞬間
   を観察するための磁気検出器とを包含することを特徴と
   する測定装置。
7. （７）磁気マークが該他方の帯域を通過する瞬間を検出
   するための検出器を包含し、該検出器の１つが固定位置
   にあり、その他の検出器が相互に固定されてマイクロメ
   ータねじによつて調節可能な位置まで１群として可動で
   あることを特徴とする、特許請求の範囲第６項に記載の
   装置。
8. （８）２個の磁気マーキング部材を制御するための部材
   が、他方のマーカーによつて生じるマークと一致するマ
   ーカーの１つによつてマークが生じる可能性のない点に
   おいて該２個のマーキング部材相互間に位置する検出器
   であり、予想し得る最悪の伸長変化の状態にかかわらず
   該群の検出器相互間に２個のマークが同時に生じること
   がないように該検出器を配置することを特徴とする、特
   許請求の範囲第７項に記載の装置。
9. （９）検出中のマークの通過を示す信号をろ過するため
   の部材と、該ろ過信号を飽和状態まで増幅させかつそれ
   らを整流し、次にアナログ信号におけるゼロ通過に相応
   する論理信号を発生させる第１回路と、該信号を比較的
   低い割合まで増幅させてそれらをいき値レベルと比較す
   る第２回路と、第２回路からの信号の関数として第１回
   路からの信号を妥当にしたり又は非妥当にしたりするた
   めの装置とを包含することを特徴とする、特許請求の範
   囲第６項に記載の装置。