JPS62219150A - コンピユ−タ周辺装置の自動試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、コンピュータ制御装置の試験に関するもので
あり、更に詳しくいえばコンピュータ周辺制ＩＩｌ装置
の一般的な試験装置に関するものである。

（従来の技術〕 典型的なコンピュータ装置、たとえば家庭用のパーソナ
ルコンピュータは、コンピュータの中央処理装置（ＣＰ
Ｕ）の指令の下に種々の周辺装置の動作に責任を持つ高
性能の周辺制ｕ８置をいくつか含む。それらの周辺装置
の例としてはデータを大量に格納するために一般に用い
られているハードディスクドライブおよびフロッピーデ
ィスクドライブがある。それらのディスクドライブの制
御器はそのディスクドライブの動作を指示し、ＣＰＵと
ディスクドライブの間で指令およびデータのための通路
および翻訳器を与える。たとえば格納のためにデータを
与える時は、ＣＰＵは８ビツ１・または１６ビツトを並
列に与える。しかし、ディスクドライブはそのデータを
直列に、すなわち、１度に１ビツトずつ格納できるだけ
である。

周辺制御器の１つの機能は、並列データの８ビツトまた
は１６ビツ１・を一時的に格納し、そのデータをディス
クへ直列に送ることである。それとは逆に、周辺制御器
はディスクからデータを直和に受け、そのデータをＣＰ
Ｕへ並列な８ビツトまたは１６ビツ１・で送ることもあ
る。

（発明が解決しようとする問題点３ 周辺制御器の製作者が自分の製作した製品が正しく動作
するかどうか試験できるための満足できる装置を開発力
ることは困難である。従来は、周辺制御器は、それを使
用することになっているホス１・コンピュータに巾に結
合サるだけで試験していた。しかし、この試験方法には
いくつかの欠点がある。欠陥のある周辺制御器はホスト
コンピュータずなわち試験コンピュータの電子装置に損
傷を与えることがよくある。したがって、行われる試験
においては試験中の周辺制御器と、試験に用いているコ
ンピュータのいずれに欠陥があるのかを判定サることが
必要になることがある。また、このような試験方法では
、被試験制御器に課すことができる《および耐えること
が予測される》いくつかの異常な条件も制限される。ま
た、異常を起した被試験ルリ御器における特定の欠陥に
関連１ｙる情報も不完全である。

周辺制御器は、被試験周辺制御器（　Ｕ　Ｕ　−ｒ　＞
を使用すると予測されるホストコンピュータにより与え
られる指令信号およびデータ信号と同じ信号を与える実
際の周辺装置、および各種の分離された「ブラックボッ
クス」でも試験ざれてきた。被試験制御器が周辺装置に
損傷を与えることが依然としてあり得るから、この試験
方法にもいくつかの欠点があり、したがって、試験に際
しても周辺装置が正しく機能するかどうかを最初に確認
することも必要である。ブラックボックス型コンピュー
タシミュレータは、被試験制御器が遭遇し、かつ耐える
ことが予測される広い範囲の異常な条件にわたって限ら
れた制御を行うだけである。また、そのようなホストコ
ンピュータシミュレータは１つの周辺制御器から別の周
辺制御器へ適応できるものではない。新しいホストコン
ピュータシミュレータを開発するためには通常８個月ま
での期間を必要とする。

したがって、実際の周辺装置またはホストコンピュータ
を用いることなしに制御器製品を試験できる周辺制御器
試験装置に対する需要が依然として存在する。また、異
なる種類の周辺制御器を試験するために迅速に改造でき
る自動試験装置に対づる需要もある。

したがって、本発明の目的は、実際の周辺装置を用いる
ことなしにコンピュータの周辺制御器を試験する自動試
験装置することである。本発明の別の目的は、大きな改
造を必要とせずに各種の周辺制御１１１器に使用できる
自動試験装置することである。本弁明の別の目的は、被
試験制御器が耐えられると予測される、周辺装置の機能
に関連する種々の異常な条件を被試験制御器に課すこと
ができる周辺制ａ器の自動試験装置することである。本
発明の更に別の目的は、動作する被試験側８０器と欠陥
のある被試験制御器を単に選別する製品の「合格／不合
格」試験と、被試験制御器の欠陥の特別な性質の判定を
容易にする故障発見および診断モードでも機能する自動
試験装置することである。

〔□問題点を解決するための手段］ それらの目的およびその他の目的は、試験を行われる特
定の種類の周辺制御器に対してとくに構成された受信機
カード（すなわち、回路）を有するモジュラ−試験装置
を得ることにより達成される。受信機カードは被試験制
御器と自動試験装置の残りの部分との間のインターフェ
イスとして機能する。各種の制ｔｌＩｌ器に特有の受信
機カードを用いることにより、同じ自動試験装置で種々
の周辺制御器を試験できる。

本発明の自動試験装置は、中央処理装置（ＣＰＵ）とし
て機能する従来のパーソナルコンピュータの部品を含む
。ＣＰＵからの信号を受信機カードへ与えるためにドラ
イバーカードも設けられる。

受信機カードは、特定の被試験制御器を受けるためにそ
の被試験制御器に合わせて製作されている、真空で作動
させられる電床取付具（ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｉ　１ｆｉ
ｘｔｕｒｅ　）の内部に装着される。受信機カードは、
被試験器カードを爪床接Ｑ　（ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｉｌ
　ｃｏｎｔａ、ｃｔ）の上に置かせる真空吸引作用によ
り、被試験制御器に電気的に接触する。受信機カードは
ＵＵＴとＣＰＵの間で信号をバッファする。自動試験装
置には周辺エミュレータも含まれる。ここで説明する実
施例においては、エミュレータはハード゛’Ｆイスクド
ライブまたはフロッピーディスクドライブをシミュレー
トできる。電源電圧変動に対するＵＵＴの耐性を試験す
るために、プログラム可能な電源も含まれる。

試験においては、ＵｔＪＴへ信号とデータを送り、それ
から、ＵＵＴによりエミュレータへ送られた対応する信
号とデータを調べるためにＣＰＵが用いられる。ＣＰＵ
はデータと１ｌＩＩＪＷＪ信号もエミュレータへ送り、
データを検索することをエミュレータへ指令する。それ
からＣＰＵはＵＵＴにより検索されたデータをエミュレ
ータへの入力と比較する。このようにして自動試験装置
はＵＬＪＴの使用環境をシミュレートシ、ＬＪＵＴが広
い範囲の条件の下にそのＩＨＭＡにおいて動作している
かのようにしてＵＵＴを動作さＶる。データと制御信号
をエミユレータに与えることにより、ＩＪＬＩＴが遭遇
する可能性のあるほとんどの誤り状態をシミュレートす
ることもでき、意図している周辺装置のため□に最哲な
条件以外の条件に対でるＵＵＴの許容度を評価する。

（実施例） 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

まず、本発明の自動試験装置の好適な実施例が示されて
いる第１図を参照する。この自動試験装置は中央処理装
置１０と、このＣＰＬＪｌｏと試験を行われる特定の種
類の周辺制御器（被試験制御器と呼ぶ）１９の試験を行
うようにとくに構成されている受信・機カード１６の間
で信号をインターフェイスするドライバー（または送出
）回路すなわちカード１３を含む。被試験制御０器１９
は、試験装置によりインターフェイスしなければならな
い特定の物理的構成を有する回路！ｇ製品である。

ここで説明している実施例においては、ＣＰＵは８ピッ
ト装置である。受信機カードは被試験制御器とＣＰＵ　
１０をインターフェイスするために必要な電気的構成の
ものである。試験＠置の動作のために用いられている種
々の周辺装置２０の動作もＣＰＬｌｌｏは制御する。Ｃ
ＰＬＩ　１０から電源制６１１器１１を介して電力レベ
ル命令を受けるプログラムされた線源２１が被試験制御
器１９へ電力を供給する。自動試験装置はＣＰＬｌｌｏ
と周辺エミュレータ２７の間で信号をやりとりするため
に用いる周辺バス２４も含む。ここで説明している実権
例においては、周辺エミュレータ２７はハードディスク
ドライブとフロッピーディスクドライブをシミュレート
することもできる。

本発明の自動試験装置はほぼあらゆる＋１類のパーソナ
ルコンピュータに使用されるほぼあらゆる種類のハード
γイスクドライブとフロッピーディスクドライブを試験
することを意図するものである。ある制御器ファミリイ
ずなわちある種類の制御１ｉがホストインターフェイス
、すなわち、８ビツトバス猿たは１６ビツ１−バスによ
りインターフェイスされる。制御される各種の周辺制御
器に対して、物理的にインターフェイスし、被試験制御
器に電気的に接触するための新しい受信機カードが開発
される。受信機カード１６はＣＰｔＪｌｏを欠陥のある
被試験制御器１９から発生賄れたスプリアス信号から保
護することも行う。後で詳しく説明するように、１６ビ
ツトホストコンピユータとともに動作させられる周辺制
御器もこの自動試験装置で試験できるように、８ピツト
ＣＰＵが１６ビツトＣＰＵの動作をシミュレートできる
ようにするために受信機カード１６を＠成することもで
きる。

特定の各制御器ａ８８器に対して、その製品の独特の物
理的配置に合致させるために、真空により作ｖＪさせら
れる「電床」試験取付具が一品製作により製作される。

真空吸引作用により制御器が試験取付具まで引出された
時に、ボーゴピン（ＰＯ（ＩＱ−ｐｉｎ）型接点が被試
験制御器に対する電気的接続を行う。形状配置の固有の
遅いと、電気的プローブ機能に対する要求とのために、
通常はあらゆるにとって重要な要素は、自動試験装置の
動作を試験するために用いられるソフトウェアである。

第２図に承りように、そのソフトウェアは上位ソフトウ
Ｉ　７　（ＵＰＰＥＲＬＥＶＥＬ　５ＯＦＴ１４ＡＩ（
Ｅ）　、下位ドライバ（ＬＯＷＥＲＬＥＶＥＬ　Ｄ旧Ｖ
ＥＲ８）およびオペレーティング・システム（ＯＰＥＲ
ＡＴＩＮＧ”　ＳＹＳＴＥＭ　）と命づけられた３つの
要素に分けられる。異なる種類の周辺制御器を試験する
から、上位ソフトウェアおよび下位ドライバは変更でき
る。しかし、オペレーティング・システムは変更されな
い。

上位ソフトウェアは複数の試験モジュール（プログラム
）を含む。被試験制御器１９に対して行われる特定の試
験に対して、各試験モジュールはＣＰｔＪｌｏに対する
第４の命令をセットする。上位ソフトウェアの各試験モ
ジュールは独立している。試験を適正に行うためには、
どの試験も以前に行った試験、または後で行う試験に依
存しない。

下位ドライバは、被試験制御器１９が通常動作すること
を意図しているホストコンピュータ装置のプロトコルで
指令信号を被試験制御器１９へどのようにして与えるか
をＣＰＵ１０に指示する複数の命令モジュールを含む。

各命令モジュールも独立している。したがって、上位ソ
フトウェア試験モジュールのいずれかを実行する際には
、正しく内式化された指令を被試験制御器へ送るために
１つまたはそれ以上の下位ドライバ命令モジュールが用
いられる。同じファミリイの周辺制御器、１Ｊなわち、
異なる種類の周辺装置を制御しても同じ種類のコンピュ
ータ装置で正常に動作することを意図する周辺１１ｉ１
Ｊ１１１器を試験する時は、一般に上位ソフトウェア試
験モジュールのみを改訂する必要があるだけである。一
般に、同じファミリー内の２種類以上の周辺制御器にい
くつかの試験モードを用いることもできる。異なるファ
ミリイの周辺制御器（すなわち、異なる種類のホストコ
ンピュータ装置で動作させる周辺制御器）を試験する時
は、上位ソフトウェアと下位ドライバの両方を改訂せね
ば“ならない。

ソフトウェアの第３の要素であるオペレーティング・シ
ステムは自動試験装置動作する態様を支配するＣＰＵ　
１０のための命令セットを含む。ここで説明している実
施例においては、ソフトウェアは２種類の試験手続きの
ための命令セットを含む。第１の試験手続き、生産手続
き、は上位ソフトウェアにおける各試験モードを実現す
る。被試験制御器がそれらの試験の全てに合格した時は
、自動試験装置はそのことを指示するだけである。

しかし、被試験制御器がそれらの試験のいずれかに合格
しなかった時は、自動試験装置は故障を指示する。しか
し、この自動試験装置は「故障発見診断」と呼ばれる第
２の試験モードで動作覆ることもできる。この試＃ｌＴ
ニードにおいては、技術者は自動試験装置と相互作用し
て、１つの試験に不合格となるまで自動試験８置が上位
ソフトウェア試験モードで動作することを自動試験装置
に対して指示でき、かつどの試験モードに被試験制御器
が不合格となったかを指示でき、更に、被試験制御器が
関連Ｊる試験モードの命令をどのようにして正しく実行
できなかったかについての何らかの指示を与えることも
できる。故障発見診断モードにおいては、故障している
部品を見つける゛ために被試験制御Ｉ器を良く検査でき
るように、技術者が被試験制御器に１つの試験モードを
繰返えし行えるようにもする。

第３図は本発明の自動試験装置の好適な実施例の斜視図
である。この実施例においては、１つの匡体内に２台の
完全な自動試験装置が納められる。

通常゛は、生産試験において上位ソフトウェアの全ての
試験モードを被試験制御器で３０秒で行うことができる
。したがって、第１の被試験制御器を試験するために第
１の試験装置を用いている間に、技術者が第２の被試験
制御器を第２の試験装置に絹込むことができる。その後
で、第１の試験装置がそれの試験を終って、技術者がそ
の試験された被試験制御器を除去して適切に保管でき、
その間に第２の試験８＠がそれに組込まれた被試験制御
器の試験を開始する。

第３図に示すように、この自動試験Ｖｔ置は真空試験取
付具（第４図）を受ける万能インターフェイス板３３を
含む。この万能インターフェイス板は被試験制御器に実
際に接触する。万能インターフェイス板には真空試験取
付具上の対応する接点に接触する一連の電気接点３６と
、真空ボート３９が設（プられる。この自動試験装置に
は２個のスタート／取消しスイッチ４２．４５と、別々
の２台のフロッピーディスクドライブ４８Ａ、４８Ｂと
、２台のテーププリンタ５１と、２台の表示器５４も設
けられる。各被試験制御器に付着されているバーコード
を走査および読取るために光学的バーコード読取り器５
７も設けられる。

真空試験取付具５８の例が第４図に示されている。この
真空試験取付具は自動試験装置のインターフェイス板３
３の上にゆるく真空で保持することを意図するものであ
って、２つの浅い壁５９が設Ｃプられる。８壁は被試験
制御器を受け、かつ被試験制御器とゆるい真空取付具を
形成する。各試験取付具の壁は特定の被試験制御器の輪
郭に′合・うように形成される。８壁にはばねにより力
が加えられる複数の′４電ビン６０が設けられる。それ
らの導電ビンは被試験制御器に物理的に接触する。

それらの導電ピンは、自動試験装置と被試験制御器の間
の適当な点に電気的に接続する。′第３図の自動試験装
置は２つの独立した試験装置も実際に含む。動作時には
、試験しようと己ているある特定の種類の周辺制御器に
専用の試験取付具が取付けられ、両方の試験装置が動作
させられる。被試験制御器に対応するソフト−ウェアパ
ッケージが、フロッピーディスクドライブ４８Ａの１つ
のドライブと、フロッピーディスクドライブ４８Ｂの１
つのドライブとにより自動試験装置に組込まれる。各フ
ロッピーディスクドライブ４８Ａ、４８Ｂの第２のドラ
イブは試験結果の格納に用いら些る。ソフトウェアが組
込まれた後で、被試験制御器が試験取付具の１つの壁の
中に置かれ、スタートボタンが押される。そうすると、
自動試験装置はソフトウェアパッケージのオペレーティ
ングシステム部の指令の下に真空を発生し、被試験制御
器を識別することを表示器５４により技術者に指示Ｊる
。それから、識別データを入力するためにバーコード読
取器５７が用いられ、自動試験装置は被試験制御器の種
類を、試験取付具と受信機カード１６およびソフトウェ
アパッケージの種類と比較して、正しい梗類の被試験制
御器が正しく組込まれたことをＴＩＩＰｌ、　する。正
しい種類の被試験ルリ御器が自動試験装置に組込まれる
と、試験が終るか、被試験制御器が壊れるまで、自動試
験装置は被試験制御器がソフトウェアパッケージの上位
ソフトウェアの全ての試験モジュールを被試験制御器に
対して行う。試験が終るか、被試験制御器が壊れるかの
いずれかが起ると、真空が除去され、被試験制御器が自
動試験装置から外され、結果が表示器５４により表示さ
れる。この試験の結果は被試験制御器の識別子とともに
、フロッピーディスクドライブ４８Ａの第２のフロッピ
ーディスクに格納できる。試験結果と、被試験制御器と
、時刻と、日付および技術者のハードコピーをプリンタ
５１によりプリントアウトできる。前記したように、一
方の試験装置により第１の試験が行われている間に、技
術者は第２の試験装置への別の被試験制御器の組込みを
開始できる。試験中の任意の点で試験を中止したい時は
、取消しボタンを押すと被試験制御器は試験装置から直
ちに放される。興なる種類の制ａｌｌ器を試験したい場
合には、その制御Ｉ器に合う試験取付具とソフトウェア
パッケージを用いて上記のようにして試験を行う。

ここで説明している実施例においては、通常のパーソナ
ルコンピュータの部品を自動試験装置の中央処理装置１
０として用いられる。それらのコンピュータの多くは適
切な処理能力を与え、自動試験装置の動作中に用いる全
ての周辺Ｖｔ置を受ける十分な拡張スロットが設けられ
る。うまく機能することが判明したパーソナルコンピュ
ータとしては、８ビツトマイクロコンピータを用いるア
イビーエム（ＩＢＭ＞モデルＰＣがある。必要な時はく
すなわち１６ビツトＣＰＵに使するように被試験制御器
が設計されている時）、その１８ピツＩ・マイクロプロ
セッサが１６ビツトマイクロプロセツサをエミュレート
できるように受信機カードを構成できる。

ＣＰＵ１０の親盤から受信機カード１６へ信号を送るた
めに、ドライバカードすなわち送出カード１３が用いら
れる。ドライバカード１３の一例が第５図に示さ−れて
いる。ドライバカード１３はＣＰＵ１０の親盤内に挿入
され、ＣＰＵ１０のアドレスバスとデータバスおよび制
御信号線に接触する。第５図に示すように、ドライバカ
ード１３はいくつかのエレクトロニック三状態デジタル
ドライバ６３を含む。各デジタルドライバは前記バスお
よび制御線の１本に別々に接触する。デジタルドライバ
６３は故障なしに大きい電流を駆動できる大電流装置で
ある。デジタルドライバ６３を動作可能にするために、
ドライバ制御器６６が設けられる。ドライバ制御器６６
は、ＣＰＵに接続されている制御信号線上で検出された
制御信号を塁にして、デジタルドライバ６３を動作可能
にする。各デジタルドライバ６３には、受信機カードま
で延長するバスが設けられる。そのバスの長さはたとえ
ば約１．２２ｍ（４フイート）である。

第６図に受信機カードの一例のブロック図が示されてい
る。この受信機カードは、自動試験装置には８ピッｌ−
ＣＰＵ１０が現在用いられているから、８ビツト中央処
理装置を有Ｊるホストコンピュータに用いる周辺制御器
に対して適切である。

図示のように、ドライバカード１３のデジタルドライバ
から延びているアドレスバスとデータバスおよび制御信
号に接続されるデジタルドライバ６３を含む。アドレス
バスに接触するデジタルドライバ６３の出力端：子へ復
号器６９が取付けられる。この復号器は、データバスと
制御信号線に接触しているデジタルドライバ６３を、ア
ドレスバスから受けたアドレス信号により、ＣＰＬＪｌ
ｏが指令またはデータを被試験制御器へ送っていること
を示した詩に、動作可能状態にする。被試験制御器１９
からＣＰＬＪｌｏへ接続されている復帰制御信号線がラ
ッチ７５を含む。このラッチは、被試験制御器によりホ
ストコンピュータのＣＰＵへ通７ｉ送られる割込み信号
を格納するために用いられる。これにより、自動試験装
置のＣＰＵが試験シーケンスによって割込まれることが
阻止される。

所期の割込み信号の存否を判定するために、ＣＰＵ１０
は適切な時刻にラッチ７５をボールできる。

第７図は、自動試験装置の８ビツトＣＰＬＩ　１０とは
異って、１６ビツトホストコンピユータ用の周辺制御器
の試験に用いる受信機カードの例を示１Ｊ０この受信は
カードも、ドライバカード１３からのアドレスバスとデ
ータバスおよび制御信号線に接触するデジタルドライバ
６３を含む。データバスと制御信号線に接続されている
デジタルドライバ６３を、適切なアドレス信号がＣＰＵ
　１０により送られた時に、動作可能状態にする復号器
６９も用いられる。しかし、この受信）環カードにおい
ては、デ゛−タバスにランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ
）７８が接続される。直接メモリアクセス制’ｄＯ器８
１がＲＡＭ７８からのデータダンプを可能にするために
含まれる。使用時には、ＣＰＵはデータをＲＡＭ７８に
ロードし、後でそのデータを被試験制御器により高い転
送速度で使用できるようにする。ＲＡＭ７８にデータが
ロードされると、ＣＰＵ　１０は被試験制御器１９がＤ
ＭＡ要求線８４を動作可能状態にする制御信号を制御線
を介して送り、それにより直接メモリアクセス制御器８
１がＲＡＭ７８から出力させることができるようにする
ことを命令できる。データが妥当であることを示す信号
を被試験制御器へ与えるためにＩ１０要求！（７８）が
求められる。その線は被試験制御器の特定の構成の部分
である。被試験制御器からのｖＪ込み信号を検出するた
めにラッチ７５も含まれる。

第８図は周辺エミュレータの一例を示ず。この周辺エミ
ュレータはハードディスクドライブまたはフロッピーデ
ィスクドライブをエミュレートできる。一般的には、デ
ィスクドライブのエミュレータは、ＣＰＵ１０を介して
入力されたエミュレータ２７へ入力される望ましい量の
データ（たとえばディスクドライブの１つのトラック）
、または被試験制御器１９から受けたデータを格納する
メモリを含む。種々の動作状態中に被試験制ｔ１［ｌ器
へディスクドライブが通常送る状態信号または駆動状態
信号を格納するため、および種々の動作を開始さけるこ
とをディスクドライブに通常指令するために被試験制御
器により送られる指令を格納するための一連のラッチ９
１〜９４も設けられる。

エミュレータ２７と被試験制御器１９の間の長い距離を
データ信号を送るためにデジタルドライバ９７．９８も
含まれる。データはトラックメモリ９０に通常並列に格
納され、かつそれから並列に読出され、かつ被試験制御
器１９との間で直列にやりとりされるから、適切なデー
タ出力順序を得るだめに、メモリ９０とデジタルドライ
バ９７゜９８の間にデータ直列化器１０１が設けられる
。

データ格納のためにディスクドライブにおいて用いられ
る最もむつかしい問題の１つは、一般に「ビット・ジッ
タ」と呼ばれる。この現象は、周辺制御器によりディス
クドライブから読出されたデータパルスが一時的に変位
することに関づるものである。このタンミング関係の乱
れは、ディスクドライブの速度の変動、ディスクドライ
ブの読出しヘッドおよび占込みヘッドのヒステリシス効
果、記憶媒体の欠陥、スプリアス電磁ノイズパルス、お
よび互いに磁気反撥または磁気吸引ザる隣接ビットが非
常に接近していることにより記ｆｆｉ媒体上のビット移
動ににりひき起されるのが酋通である。典型的には、制
御器は３９＋１秒までのピッ１〜ジツタに耐えるように
設ｈ１される。しかし、従来の周辺制御器試験装置は、
制御０３のビットジッタに対する許容度を満足に試験す
る手段を一般に有していない。本発明の自動試験装置は
、被試験制御器のビットジッタに対Ｊる許容度を測定す
るだめに遅延メモリ１０４と遅延加算器１０７を含む。

各データビットがメモリ９０に格納されると、対応する
タイミングビットが遅延メモリ１０４に格納される。後
でそのデータビットが被試験制御器へ送られると、メモ
リ９０からの各データビットが、遅延メモリ１０４に格
納されている時間間隔振幅だけ遅延加算器１０７により
遅延させられて、種々のデータビットの間のタイミング
の分解能を１＋１秒にする。したがって、ある種のピッ
１−ジッタが発生することあり、かつ遅延メモリ１０４
にデータを適切に格納することによりしだいに悪くされ
て、データパルスの許容できない変位によりエミュレー
タからのデータの廃棄を被試験制御器が開始する時を決
定する。

いくつかのディスクドライブ制ｗＪ器は、データ格納デ
ィスクの中心近くに出込まれているデータビットの間の
タイミング関係を保存するために、「出込み予備補償コ
ード」として知られている機能を有する。通常は、デー
タを構成している磁区を互いに接近８ｕてゆくと、隣接
する磁区との相互作用により磁区が最初の位置から物理
的に移動さけられるような魚に達する。その物理的な移
動により、隣接するデータビットの間のタイミング関係
がずれることになる。書込まれた磁区がそれの正しい位
置へ移動させられるように、早く、または遅くデータを
出込むことによってひき起されるこの物理的な移動に対
する囚込み予備補償が周辺制御器に備えられる。出込み
予備補償検出器１１０が周辺１ミユレータ１１０に含ま
れて、被試験制御器１９からのよ込みデータをモニタし
、書込み予備補償機能が正しく機能するかどうかを判定
する。囚込み予備補償検出器１１０は隣接するデータパ
ルスの前縁部の間の間隔を測定する。内込み予備補償検
出器１１０が、第１のデータパルスがｄれ、第２のデー
タパルスが早いような２「１のデータパルスを検出する
たびに、カウンタがカウントする。それから、ＣＰＵ１
０は書込み予備補償検出器１１０のカウンタのカウント
を読出し、第１のデータパルスと第２のデータパルスが
それぞれＲく到達した詩刻と、早く到達した時との数に
そのカウントを一致させる。

正常な動作においては、駆動ヘッドが第１のトラック上
に位置させられたことを駆動制御器は決定して、ヘッド
を異なるトラック上に動かすことを指令する。通常、こ
れは向き指令により行われ、ヘッドを各パルスごとに１
トラツクずつ動かずことをディスクドライブに指令する
いくつかのパルスを送る。本発明の自動試験装置の周辺
エミュレータにおいてこの作用をシミュレートするため
に、パルスカウンタ１１３が設けられる。このカウンタ
は被試験制御器により送られたステッピングパルスの数
をカウントするために使用できる。ディスクの１回転が
シミュレートされるたびに適切なインデックス信号を戻
１ｙためのパルス発生器１１６がエミュレータに含まれ
る。

動作時には、ＣＰＵ　１０は種々の指令とデータを被試
験制御器へ受信機カード１６を介して与えることができ
る。それから、ＣＰＵ　１０はトラックメモリ９ｏと周
辺エミュレータ２７のラッチ９３．９４をアクセスして
、適切な制御信号が、被試験制御Ｌｌｌｉ１９へ最初に
与えられたデータの正確な伝送とともに、周辺エミュレ
ータへ送られたか否かを決定できる。ＣＰＵ１０は周辺
エミュレータ２７のラッチ９１．９２に種々の状態信号
を格納づることもでき、それからある特定の動作を開始
することを被試験制御器に指令して、その動作が開始さ
れたか、延期されたかを、周辺エミュレータ２７に存在
する明らかな状態信すに応答して確かめる。種々の異常
状態に対する被試験制御器１９の許容度は、トラックメ
モリ９ｏ内の神々の態様の不正確なデータをＣＰＵに入
力しく遅延メモリ１０４を用いることによりビットジッ
タ許容度を使用することを含む）、それからそのデータ
を周辺エミュレータから検索することを被試験制御器１
９に指令することにより評価できる。試験される特定の
種類の周辺制御器に適するモジュラソフトウェアと受信
機カードを用いることにより、本発明の自動試験装置を
広い範囲の製品に用いるために効率良く使用できる。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば実際の周辺装置を
用いることなしにコンピュータの周辺制御器を試験する
自動試験装置を提供できる。また大きな改造を必要とせ
ずに各種の周辺制御器に使用でき、更に被試験制御器が
耐えられると予測される、周辺装置の機能に関連する種
々の異常な条件を被試験制御器に課し、動作する被試験
制御器と欠陥のある被試験制御器を単に選別する「合格
／不合格」試験および被試験制御器の欠陥の特別な性質
の判定を容易にする故障発見および診断モードでも機能
する自動試験装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の自動試験装置の一実施例の線図、第２
図はその自動試験装置を制御するために用いるソフトウ
ェア＃４造の線図、第３図は本発明の自動試験装置の斜
視図、第４図は本発明の自動試験装置の風詠試験取付具
の斜視図、第５図は本発明のドライバカードの線図、第
６図は本発明の受信５１カードの一実施例の線図、第７
図は本発明の受信別カードの第２の実施例の線図、第８
図はハードディスクドライブとフロッピーディスクドラ
イブをシミュレートする本発明の自動試験装置のエミュ
レータの線図である。 １０・・・ＣＰＬＪ、１１・・・電源制御器、１３・・
・ドライバカード、１４・・・受信機カード、２１・・
・プログラムされる電源、２７・・・周辺エミュレータ
、３３・・・万能インターフェイス板、３６・・・電気
接点、３９・・・真空ボート、６３・・・デジタルドラ
イブ、９０・・・トラックメモリ、１０４・・・遅延メ
モリ、１０７・・・″”！ｉ　ｆｈＯ瞠器、１１０・・
・出込み子猫補償検出器、１１３・・・パルスカウンタ
、１１６・・・信号パルス発生器。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）コンピュータ周辺装置の制御器を試験する自動試
   験装置において、 データ信号と、被試験制御器へ複数の所定の動作を開始
   することを指示する制御信号とを発生する処理手段と、 特定の種類の周辺装置に用いるように構成され、試験装
   置に取外しができるようにして取付けられ、データ信号
   と制御信号を処理手段と被試験制御器の間で交信させる
   受信手段と、 処理手段に接続され、被試験制御器取外しができるよう
   にして結合されて周辺装置が制御器により制御されるよ
   うにその周辺装置をエミュレートしかつ処理手段と被試
   験制御器からデータ信号と状態信号および制御信号を受
   けるエミュレータ手段と、 を備え、このエミュレータ手段は被試験制御器からデー
   タと指令を受け、被試験制御器の性能を試験するために
   、処理手段の指揮の下にデータ信号と状態信号を制御器
   が使用できるようにすることを特徴とするコンピュータ
   周辺装置の自動試験装置。
2. （２）受信手段は被試験制御器からの信号が処理手段の
   動作を停止させることを阻止する電子的錠を含むことを
   特徴とする特許請求の範囲第１項記載の自動試験装置。
3. （３）受信手段は処理手段からのデータを格納する記憶
   装置を更に含み、処理手段は異なる種類の処理手段から
   のデータ信号のタイミングをシミュレートすることがで
   きることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の自動
   試験装置。
4. （４）エミュレータ手段は被試験制御器から受けたデー
   タパルスの間のタイミング関係を測定する手段を更に含
   むことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の自動試
   験装置。
5. （５）エミュレータ手段は処理手段から受け、かつ被試
   験制御器へ送られるデータパルスの間のタイミングを変
   更する手段を更に含むことを特徴とする特許請求の範囲
   第１項記載の自動試験装置。
6. （６）被試験制御器に対して行う試験に対応する制御信
   号を発生し、試験の結果に対応する信号を受信する処理
   手段と、 前記処理手段を試験すべき種々の制御器にインターフェ
   イスする互換性のある複数の受信手段と、処理手段と被
   試験制御器へ接続でき、周辺装置を制御器により制御さ
   れるようエミュレートするエミュレータ手段と、 を備え、各受信手段は処理手段へ接続されるようにされ
   、かつ制御を受けるレセプタクルと、制御器と処理手段
   の間で交信できるようにするために、制御器を処理手段
   へ電気的に結合する通信手段とを含み、 前記エミュレータ手段は処理手段により命令されて指令
   とデータを被試験制御器から受け、前記データと前記指
   令が制御器により正しく発生されたかどうかを示す情報
   を処理手段へ与え、前記エミュレータ手段は制御器の種
   々の動作を開始させる信号も被試験制御器へ与え、制御
   器が正しく動作しているかどうかを判定するために、制
   御器とエミュレータ手段からの信号は処理手段により分
   析されることを特徴とするコンピュータ周辺装置の自動
   試験装置。