JPS62198736A - 反射濃度測定装置 - Google Patents

反射濃度測定装置

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JPS62198736A
JPS62198736A JP4089086A JP4089086A JPS62198736A JP S62198736 A JPS62198736 A JP S62198736A JP 4089086 A JP4089086 A JP 4089086A JP 4089086 A JP4089086 A JP 4089086A JP S62198736 A JPS62198736 A JP S62198736A
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信彦 小倉
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    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の分野) 本発明は、試料の測定面に照射光を照射し、該測定面か
ら反射された反射光を光センサを有する受光器で受光し
て該測定面の反射濃度の測定を行なう反tJ41I度測
定装置に関する。
(従来技術および発明の技術的背景) 近年、例えば血液や尿等の試料液の小滴を点着供給する
だけで該試料液中に含まれている特定の化学成分または
有形成分を定量分析することのできるドライタイプの化
学分析スライドが開発され(特公昭53−21677号
、特開昭55−164356号等)、実用化されている
このような化学分析スライドを用いる試料液中の化学成
分等の分析は、試料液を化学分析スライドに点着供給し
た後、これをインクベータ(恒瀉機)内で所定時間恒温
保持(インクベーシヨン)して呈色反応(色集生成反応
)させ、その呈色光学濃度を光学的に測定し、即ち、試
料液中の被測定成分と化学分析スライドの試薬層に含ま
れる試薬との組み合わせにより予め選定された波長を含
む測定用照射光をこの化学分析スライドに照射してその
反射光学濃度を測定し、これにより主として比色法の原
理により被測定物質の含有量を定量分析することにより
行なわれる。
上記反射光学濃度の測定は反射濃度測定装置により行な
われる。かかる反射濃度測定vtI!tにおいては、該
装置に試料即ち上記化学分析スライドを装着し、この試
料の測定面に上記測定用の照射光を照射し、該測定面か
ら反射された反射光を光センサを有する受光器で受光す
ることにより該測定面の反fJ411度の測定が行なわ
れる。
しかしながら、かかる反射濃度測定装置により反射a度
を測定する場合、上記試料の装着精度、試料自体の寸法
精度あるいは試料のたわみ変形等により試料の測定面が
各測定毎に基準位置からずれる。即ち試料の測定面が基
準位置から−E下方向(till定面に垂直な方向)に
変動する恐れがあり、もしその様に測定面の上下変動が
生じると測定面と光センサとの位置関係が変化し、その
結果測定濃度が変化するという問題がある。
(発明の目的) 本発明の目的は、上記事情に鑑み、試料の測定面が多少
上下変動してもそれによる測定濃度の変動が極めて小さ
い反射濃度測定装置を提供することにある。
(発明の構成) 本発明に係る反射濃度測定vt置は、上記目的を達成す
るため、試料測定面からの反射光を受光する光センサを
有する受光器の測定面側の光学素子の中心から試料を照
射する照射光の光軸までの距1lIltrをro、上記
光学素子の中心から上記試料測定面までの高さhをio
、上記光学素子と上記試料測定面とのく【ス角θを00
とした場合において、上記hoを、上記roと80との
組合せの下でhを変動させた場合の上記光センサの出力
Iの変動を示す出力曲線、即らrがr。、θがθ。の場
合のhと1との関係を示す出力曲線における該出力Iが
ピーク値を取るときの高さh (その^さhの近傍であ
って実質的に高さhであると認められる距離も含む)で
あることを特徴とする。
即ち、本発明は、ある適当な「とθとを選定すればその
rとθとの下におけるhとIとの関係を示す出力曲線は
通常放物線状の曲線となり、所定のhのところで1はピ
ーク値を取るという事実に着目し、実際の装置を構成す
るにあたってその装置にJ3けるr、θ、hを、その様
な適当なr、θおよびその適当なr、θの下においてI
がピーク値を取るhとすることによって、試料測定面が
多少上下動しても、即らhが多少変動してもそれによる
出力■(測定aha>はあまり変動しないように構成し
たことを特徴とするものである。
(実m態様) 以下、図面を参照しながら本発明の実11!態様につい
て詳細に説明する。
第1図は本発明に係る反射濃度測定装置の一実m態様を
示す縦断面概念図である。
図示の装置は、試料10を保持する試料保持部12と、
該試料の測定面10aの反射濃度測定に適した照射光を
発する光源14と、該光源14から発せられた照射光を
導いて上記試料測定面10aに垂直に入射せしめるよう
にする光ファイバ16と、該光フフイバ1Gから出射さ
れた照射光を平行光にするコリメータレンズ18と、試
料測定面10aから反射された反射光を受光するシリコ
ンフォトダイオード等の光センサ20から成る受光器3
0とを備えて成る。
また、図示装置においては、上記光ファイバ16、コリ
メータレンズ18、試料保持台12および光センサ20
を、該試料保持台12上に正規寸法の試料10を正規状
態で保持せしめた場合、上記光センサの中心20aから
試料の測定面10aまでの高さhがho、上記試料の測
定面10aと光センサ20とのなす角θがθ0.上記光
センサの中心20aから上記照射光の光軸22までの距
離rが「0となる様な位置関係にそれぞれ配設して成る
と共に、さらに、上記hOは、上記「Qとθ0との組合
せの下で上記りを変動さ拷た場合の上記光センサ20の
出力Iの変動を表わす出力曲線における該出力Iがピー
ク値を取るときのhであるように配設して成る。
叩ら、第1図に示す様な光学系装置においては、適当な
「とθとを選定すれば、そのrとθとの組合せの下にお
けるhと1との関係を示づ出力曲線が通常アーチ状の曲
線となり、所定のhのところで光センサ20の出力Iが
ピーク値を取るような状態になる。上記IA置における
roとθ0は、その様にhとIとの関係を示す出力曲線
がアーチ状の曲線となる様に適宜選定された値であり、
がっり。はそのアーチ状出力曲線において出力Iがピー
ク値を取るときの値であるように設定されている。
上記の如きアーチ状の出力曲線の一例を第2図に示す。
この第2図に示されている曲線は、第1図に示す様な光
学系装置において、r = 8,75 g、θ−451
の下でhを約5.0mから約6.5mmまでの間で変動
させた場合の光センサ出力■の変動状態を示すものであ
り、hζ5.1履で出力1がピーク値を取る。
本実施態様においては、前述の如(haが、r0、θ0
の下における出力曲線がピーク値を取るときのれである
ように設定されているので、例えば試料保持部による試
料の保持精度や試料自体の寸法精度により各測定毎に上
記りが変化したり、あるいは長時間測定中に試料自体が
たわんで上記りが変化したりした場合においても、その
hの変化による光センサ出力■の変動は第2図に示す如
(Δr!とわずかであり、h、が出力曲線のピーク値に
おけるh以外の場合の1の変動分ΔI2に比べてはるか
に小さい。
なお、上記実施態様におけるroとθGとは、それらの
組合せの下におけるhと1との関係を表わす出力曲線が
アーチ状になるものであったが、本発明における「0と
θ0とは、それらの組合せの下にお【〕る上上記出力線
がピーク値を有する、換言すれば変曲点を有する曲線に
なるようなものであれば良く、必ずしもアーチ状の曲線
を形成する場合に限らない。
第3図、第4図は本発明に係る反射濃度測定装置の他の
実/11!態様を示す縦断面概略図である。これらの図
面において、第1図に示した実IM態様と同一の機能を
有する要素には同じ符号を付し説明は省略する。第3図
に示1実施態様は受光器30を光センサ20と光センサ
20の測定面側に配されたレンズ24によって構成して
いる。この実施態様では、試料の測定面10aとレンズ
24とのなず角θをθ。、レンズ24の中心24aから
照射光の光軸22までの距離「をroとなるように設定
し、さらにこのr。
と00の組合せの下で、レンズ24の中心24aから測
定面10aまでの高ざhを光センサ20の出力Iがピー
ク値をとるときの^ざり、であるように設定して成る。
また、第4図に示す実IA態様は受光器30を光センサ
20と光センサ20の測定面側に配したアパーチャ28
が設けられた光学絞り26によって構成している。この
実施態様では、試料の測定面10aと絞り26とのなす
角θをθ01絞り2Gの中心(アパーチャ28の中心)
26aから照射光の光軸22までの距離「をroとなる
ように設定し、さらにこのroとθ0の組合せの下で、
較り24の中心24aから測定面10aまでの高さhを
光センサ20の出力■がピーク値をとる高ざhaに設定
してなる。
これらの実y11m様においてもレンズ24の中心24
aあるいは絞り2Gの中心26aから測定面10aまで
の高さhをセンサ20の出力■がピーク値をとるhOに
設定しているので、機械精度あるいは経時変化により上
記りが変動しても光センサ20の出力1を変動を最小に
することができる。なお、上記実mB様では光センサの
数が1つであったが、2個以上のセンサを有する場合で
あっても良く、その場合は少なくとも1つのセンサが上
記条件を満足する’O+θOT ” Oの下に位置決め
されているものであれば良い。
本発明に係る反射濃度測定装置は、その要旨を越えない
範囲で種々変更可能であり、上記実施態様に限定される
ものではない。
(j′!明の効果) 本発明に係る反射濃度測定菰dは、上述の如く、その装
置における上記「、h、θが(’01hO+00であり
、それらは、ho$roとθ。との組合せの下における
上記りと1との関係を示す出力曲線の出力1がピーク値
を取るときのhであるように選定されているが、種々の
原因により測定面が上下動してもその上下動による光は
ンサの出力■の変動は極めて小さく、従って測定濃度誤
差の少ないより高精度の測定を行なうことができるとい
う効果を秦する。
【図面の簡単な説明】
第1図は木発圓に係る装置の一尖施態様を承り縦断面概
念図、第2図は第1図に示す実FM態様装置における適
当な「、θの下の出力曲線の一例を示す図、第3図、第
4図は本発明に係る他の実施態様の@置を示す縦断面概
略図である。 10・・・試     料 10a・・・試料測定面1
4・・・光        源  20・・・・・・光
  セ  ン  サ20a・・・光センサの中心 24・・・し   ン   ズ  2G・・・・・・光
  学  較  リ30・・・受  光  器 (自4手続補正書 特許庁長官 殿           昭和61年3月
28日1、事件の表示 特願昭61−40890号 2、発明の名称 反射濃度測定装置 3、補正をする者 事件との関係     特許出願人 任 所   神奈川県南足柄市中沼210番地名 称 
   富士写真フィルム株式会社4、代理人 6、補正により増加する発明の数   な  し7、補
正の対象   明細書の「発明の詳細な説明」の欄8、
補正の内容 1)明細書第3頁第16行 「インクベータ」を「インキュベータ」と訂正する。 2)同頁第17行 「インクベーシヨン」を「インキュベーション」と訂正
する。 3)同第7頁第3行 「平行光にする」を「集光する」と訂正する。 4)周頁第3〜4および8行

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料の測定面に照射光を照射し、該測定面から反
    射された反射光を光センサを有する受光器で受光して該
    測定面の反射濃度の測定を行なう反射濃度測定装置にお
    いて、 上記受光器の測定面側の光学素子の中心から上記照射光
    の光軸までの距離rがr_0、上記光学素子の中心から
    上記測定面までの高さhがh_0、上記光学素子と上記
    測定面とのなす角度θがθ_0であり、 かつ、上記高さh_0は、上記距離r_0と角度θ_0
    との組合せの下で上記高さhを変動させた場合の上記光
    センサの出力 I の変動を表わす出力曲線における該出
    力 I がピーク値を取るときの高さhであることを特徴
    とする反射濃度測定装置。
  2. (2)上記受光器が光センサのみから成る特許請求の範
    囲第1項記載の反射濃度測定装置。
  3. (3)上記受光器が光センサと光センサの測定面側に配
    されたレンズとから成ることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の反射濃度測定装置。
  4. (4)上記受光器が光センサと光センサの測定面側に配
    された光学絞りとから成ることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の反射濃度測定装置。
JP4089086A 1986-02-26 1986-02-26 反射濃度測定装置 Granted JPS62198736A (ja)

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JP4089086A JPS62198736A (ja) 1986-02-26 1986-02-26 反射濃度測定装置
DE3750963T DE3750963T2 (de) 1986-02-26 1987-02-26 Reflektometer.
US07/019,402 US4823169A (en) 1986-02-26 1987-02-26 Reflection density measuring system
EP87102732A EP0234579B1 (en) 1986-02-26 1987-02-26 Reflection density measuring system

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5924236A (ja) * 1982-07-14 1984-02-07 バイエル・ダイアグノステイツク・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 反射率測定用装置
JPS6117046A (ja) * 1984-07-02 1986-01-25 Fuji Photo Film Co Ltd 反射光測定装置における照明光源位置決め方法

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